JPWO2014184910A1 - プラズマ処理装置 - Google Patents
プラズマ処理装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JPWO2014184910A1 JPWO2014184910A1 JP2015516823A JP2015516823A JPWO2014184910A1 JP WO2014184910 A1 JPWO2014184910 A1 JP WO2014184910A1 JP 2015516823 A JP2015516823 A JP 2015516823A JP 2015516823 A JP2015516823 A JP 2015516823A JP WO2014184910 A1 JPWO2014184910 A1 JP WO2014184910A1
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- processing gas
- gas
- processing
- generation
- spouting
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic System or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/302—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
- H01L21/306—Chemical or electrical treatment, e.g. electrolytic etching
- H01L21/3065—Plasma etching; Reactive-ion etching
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32431—Constructional details of the reactor
- H01J37/3244—Gas supply means
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32431—Constructional details of the reactor
- H01J37/3244—Gas supply means
- H01J37/32449—Gas control, e.g. control of the gas flow
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32431—Constructional details of the reactor
- H01J37/32458—Vessel
- H01J37/32522—Temperature
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67017—Apparatus for fluid treatment
- H01L21/67063—Apparatus for fluid treatment for etching
- H01L21/67069—Apparatus for fluid treatment for etching for drying etching
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67098—Apparatus for thermal treatment
- H01L21/67109—Apparatus for thermal treatment mainly by convection
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67739—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
- H01L21/6776—Continuous loading and unloading into and out of a processing chamber, e.g. transporting belts within processing chambers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Plasma Technology (AREA)
- Drying Of Semiconductors (AREA)
Abstract
Description
被処理物は、例えば、金属製,樹脂製,セラミックス製とされ、処理ガスの噴付けにより、例えば、被処理面の改質,洗浄が行われる。改質は、例えば、被処理面の接合強度の向上,親水性あるいは撥水性の向上であり、洗浄は、例えば、減菌,滅菌,有機物等の除去である。
相対移動装置は、生成・噴出部保持体を移動させる装置としてもよく、被処理物保持体を移動させる装置としてもよく、両方を移動させる装置としてもよい。
共通の生成・噴出部保持体により保持された処理ガス生成・噴出部と加熱気体生成・噴出部とは互いに近接しており、被処理物の被処理面が処理ガスが噴き付けられる直前に加熱されることが望ましい。そのようにすれば、加熱から処理までの時間が短く、被処理面の温度低下が少なくて済み、加熱による処理向上効果、すなわち反応速度の増大、それによる化学反応の促進効果がより有効に得られる。
本実施形態の大気圧プラズマ処理装置(以後、プラズマ処理装置と略称する)は、図13に概略的に示すように、生成・噴出装置昇降装置200の生成・噴出部保持体たる昇降部材201に処理ガス生成・噴出装置202が設けられるとともに、その両側にそれぞれ加熱空気生成・噴出装置204,206が設けられている。
Claims (15)
- 放電空間に供給されるガスを、少なくともプラズマ内に生成された反応種を含む処理ガスとし、その処理ガスを処理ガス噴出口から噴出させる処理ガス生成・噴出部と、
ヒータにより加熱した加熱気体を加熱気体噴出口から噴出させる加熱気体生成・噴出部と、
それら処理ガス生成・噴出部および加熱気体生成・噴出部を、前記処理ガス噴出口と前記加熱気体噴出口とが一方向に並ぶ状態で保持する生成・噴出部保持体と、
前記処理ガスにより被処理面を処理されるべき被処理物を保持する被処理物保持体と、
前記処理ガス噴出口および前記加熱気体噴出口が前記被処理物保持体に保持された被処理物の被処理面に対向する状態で、前記生成・噴出部保持体と前記被処理物保持体とを前記処理ガス噴出口と前記加熱気体噴出口との並び方向に、かつ、前記加熱気体噴出口が前記処理ガス噴出口に先行して被処理面に対向することとなる向きに相対移動させる相対移動装置と
を含み、加熱気体により加熱した被処理面を処理ガスにより処理するプラズマ処理装置。 - 前記処理ガス噴出口および前記加熱気体噴出口が、前者から噴出した処理ガスと後者から噴出した加熱気体とがそれぞれ被処理面に到達する両到達領域の中心間距離が25mm以下となる状態に互いに近接させられた請求項1に記載のプラズマ処理装置。
- 前記加熱気体生成・噴出部が前記加熱気体噴出口から加熱気体を噴出させる方向と、前記処理ガス生成・噴出部が前記処理ガス噴出口から処理ガスを噴出させる方向とが、両噴出口の中心間距離より処理ガスと加熱気体とが被処理面にそれぞれ到達する両到達領域の中心間距離が小さくなる向きに、互いに交差させられた請求項1または2に記載のプラズマ処理装置。
- 前記加熱気体生成・噴出部が前記加熱気体噴出口から噴出させる加熱気体の流量が、前記処理ガス生成・噴出部が前記処理ガス噴出口から噴出させる処理ガスの流量より少ない請求項1ないし3のいずれかに記載のプラズマ処理装置。
- 前記処理ガス生成・噴出部と前記加熱気体生成・噴出部とが互いに別体に構成され、互いに分離可能である請求項1ないし4のいずれかに記載のプラズマ処理装置。
- 前記処理ガス生成・噴出部および前記加熱気体生成・噴出部が前記生成・噴出部保持体に対して着脱可能である請求項1ないし5のいずれかに記載のプラズマ処理装置。
- さらに、前記生成・噴出部保持体と前記被処理物保持体とを、前記相対移動装置による相対移動方向と交差する方向に互いに接近・離間させる接近・離間装置を含む請求項1ないし6のいずれかに記載のプラズマ処理装置。
- 前記接近・離間装置が、駆動源を備え、その駆動源の制御により前記生成・噴出部保持体と前記被処理物保持体とを接近・離間させるものである請求項7に記載のプラズマ処理装置。
- 前記相対移動装置が、前記生成・噴出部保持体と前記被処理物保持体とを、概して被処理物の被処理面に平行な平面上において、互いに交差する2方向に相対移動可能なものである請求項1ないし8のいずれかに記載のプラズマ処理装置。
- 前記処理ガス噴出口として、互いに独立した複数の開口が一線上に互いに間隔を隔てて並んだ独立開口列を有する独立開口型処理ガス生成・噴出部と、一線に沿って延びるスリット状の開口を有するスリット型処理ガス生成・噴出部との少なくとも一方を含む請求項1ないし9のいずれかに記載のプラズマ処理装置。
- 前記独立開口型処理ガス生成・噴出部と前記スリット型処理ガス生成・噴出部との両方を含む請求項10に記載のプラズマ処理装置。
- 前記独立開口型処理ガス生成・噴出部と前記スリット型処理ガス生成・噴出部とが、供給されるガスを処理ガスとする処理ガス生成部を共通とし、その共通の処理ガス生成部に対して、前記独立開口列を有する独立開口型噴出部と、前記スリット状開口を有するスリット型噴出部とが択一的に取り付けられることにより構成される請求項11に記載のプラズマ処理装置。
- 前記独立開口型処理ガス生成・噴出部と前記スリット型処理ガス生成・噴出部とが択一的に前記生成・噴出部保持体に取り付け可能である請求項11に記載のプラズマ処理装置。
- 加熱気体生成・噴出部の前記加熱気体噴出口が前記処理ガス生成・噴出部の前記処理ガス噴出口の両側に設けられ、それら両側に設けられた加熱気体噴出口の各々が前記処理ガス噴出口に先行して被処理面に対向することとなる向きに、前記相対移動装置が前記生成・噴出部保持体と前記被処理物保持体とを選択的に移動させる請求項1ないし13のいずれかに記載のプラズマ処理装置。
- プラズマ処理が大気圧雰囲気中において行われる請求項1ないし14のいずれかに記載のプラズマ処理装置。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2013/063594 WO2014184910A1 (ja) | 2013-05-15 | 2013-05-15 | プラズマ処理装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2014184910A1 true JPWO2014184910A1 (ja) | 2017-02-23 |
JP6360045B2 JP6360045B2 (ja) | 2018-07-18 |
Family
ID=51897923
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015516823A Active JP6360045B2 (ja) | 2013-05-15 | 2013-05-15 | プラズマ処理装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6360045B2 (ja) |
WO (1) | WO2014184910A1 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2017056185A1 (ja) * | 2015-09-29 | 2017-04-06 | 富士機械製造株式会社 | プラズマ発生装置 |
WO2017056184A1 (ja) * | 2015-09-29 | 2017-04-06 | 富士機械製造株式会社 | プラズマ照射方法、およびプラズマ照射システム |
JP6713532B2 (ja) * | 2016-05-13 | 2020-06-24 | 株式会社Fuji | 医療用プラズマ発生装置、およびプラズマ照射方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0629264A (ja) * | 1992-07-09 | 1994-02-04 | Toshiba Corp | 表面処理方法 |
JP2005095744A (ja) * | 2003-09-24 | 2005-04-14 | Matsushita Electric Works Ltd | 絶縁部材の表面処理方法及び絶縁部材の表面処理装置 |
JP2006005315A (ja) * | 2004-06-21 | 2006-01-05 | Seiko Epson Corp | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 |
JP2010129198A (ja) * | 2008-11-25 | 2010-06-10 | Panasonic Electric Works Co Ltd | プラズマ処理装置 |
JP2012049139A (ja) * | 2011-10-05 | 2012-03-08 | Shinkawa Ltd | プラズマ点火装置、プラズマ点火方法、およびプラズマ発生装置 |
-
2013
- 2013-05-15 WO PCT/JP2013/063594 patent/WO2014184910A1/ja active Application Filing
- 2013-05-15 JP JP2015516823A patent/JP6360045B2/ja active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0629264A (ja) * | 1992-07-09 | 1994-02-04 | Toshiba Corp | 表面処理方法 |
JP2005095744A (ja) * | 2003-09-24 | 2005-04-14 | Matsushita Electric Works Ltd | 絶縁部材の表面処理方法及び絶縁部材の表面処理装置 |
JP2006005315A (ja) * | 2004-06-21 | 2006-01-05 | Seiko Epson Corp | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 |
JP2010129198A (ja) * | 2008-11-25 | 2010-06-10 | Panasonic Electric Works Co Ltd | プラズマ処理装置 |
JP2012049139A (ja) * | 2011-10-05 | 2012-03-08 | Shinkawa Ltd | プラズマ点火装置、プラズマ点火方法、およびプラズマ発生装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2014184910A1 (ja) | 2014-11-20 |
JP6360045B2 (ja) | 2018-07-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR102105235B1 (ko) | 플라스마 가스 조사 장치 | |
CN110718487B (zh) | 基板处理装置 | |
TWI405617B (zh) | 塗佈方法及塗佈裝置 | |
KR20140103072A (ko) | 기판 처리 장치 | |
JP6360045B2 (ja) | プラズマ処理装置 | |
KR101666093B1 (ko) | 할단 장치 | |
KR102415177B1 (ko) | 건조 장치 | |
KR20160106257A (ko) | 웨이퍼 처리 장치 | |
KR20150043667A (ko) | 기판 처리 장치 | |
KR101557021B1 (ko) | 평판표시패널 건조 장치 | |
KR20170096242A (ko) | 레이저 가공장치 및 레이저 가공방법 | |
CN111580355A (zh) | 液体处理装置及液体处理方法 | |
JP2003505881A (ja) | 基板を処理するための装置 | |
KR101485986B1 (ko) | 플로우 코팅 장치 | |
KR20170098782A (ko) | 레이저 가공장치 및 레이저 가공방법 | |
JP7232710B2 (ja) | 基板処理方法および基板処理装置 | |
JP2014038915A (ja) | 基板の乾燥装置、及びその方法 | |
JP6417103B2 (ja) | 表面処理装置および表面処理方法 | |
JP6016330B2 (ja) | 基板処理装置 | |
KR102275817B1 (ko) | 지지 장치 및 이를 포함하는 레이저 가공 장치 | |
JP7449203B2 (ja) | 熱処理炉 | |
US20160118241A1 (en) | Substrate treating apparatus and substrate cleaning method | |
JP2006035173A (ja) | インクジェット装置およびパターン修正装置 | |
KR20160116457A (ko) | 웨이퍼 처리 장치 | |
KR101315337B1 (ko) | 기판 처리 방법 및 기판 처리 장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20170411 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20170605 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20171205 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20180130 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20180605 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20180621 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6360045 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |