JPWO2014132973A1 - Electronic component device manufacturing method and electronic component device - Google Patents

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Abstract

電子部品装置の軽量化や製造コストの低減化、製造時間の短縮化などを図ることができるとともに、水分、湿気、ダストなどの悪影響を確実に防止でき、しかも、射出成形により製造する場合でも電子部品の信頼性が低下することのない電子部品装置の製造方法および電子部品装置を提供する。電子部品2を包み込むように、溶融させた封止体6を供給して、電子部品2が封止体6と一体化するように覆う一体化工程を有し、封止体6は、熱可塑性樹脂に発泡剤組成物が加えられて前記一体化工程において発泡されるものであり、前記熱可塑性樹脂の200℃において、せん断速度が1000(1/s)の時の溶融粘度が10dPa・s以上850dPa・s未満かつショアD硬度が60度未満である。It is possible to reduce the weight of electronic component devices, reduce manufacturing costs, shorten manufacturing time, and reliably prevent the adverse effects of moisture, moisture, dust, etc., and even when manufacturing by injection molding Provided are an electronic component device manufacturing method and an electronic component device in which the reliability of components does not deteriorate. The molten sealing body 6 is supplied so as to enclose the electronic component 2, and an integration process is performed so that the electronic component 2 is integrated with the sealing body 6. The sealing body 6 is thermoplastic. A foaming agent composition is added to the resin and foamed in the integration step. The thermoplastic resin has a melt viscosity of 10 dPa · s or more at 200 ° C. and a shear rate of 1000 (1 / s). Less than 850 dPa · s and Shore D hardness is less than 60 degrees.

Description

本発明は、自動車、家庭電化製品等の電子電気機器などに設けられ、電子部品を内部に有する電子部品装置の製造方法と、その電子部品装置に関する。   The present invention relates to a method of manufacturing an electronic component device that is provided in an electronic electrical device such as an automobile or a home appliance and has an electronic component therein, and the electronic component device.

電子部品装置の内部に収納される各種の電子部品は、水分、湿気、ダストなどによって悪影響を受ける。したがって、このような水分、湿気、ダストなどの影響を受け易い環境で使用される電子部品を収納する電子部品装置には密閉構造が必要となる。   Various electronic components housed inside the electronic component device are adversely affected by moisture, moisture, dust, and the like. Therefore, a sealed structure is required for an electronic component device that stores an electronic component that is used in an environment that is susceptible to such moisture, moisture, and dust.

電子部品を湿気等の影響から保護する従来の電子部品装置および電子部品装置の製造方法としては、電子部品を筐体からなる収納体内に収納し、この収納体内に液状の樹脂を充填して固化させ、電子部品を密閉状態で封止するものが特許文献1、2等に開示されている。   As a conventional electronic component device and method for manufacturing an electronic component device that protects electronic components from the influence of moisture, etc., the electronic components are housed in a housing made of a casing, and the housing is filled with a liquid resin and solidified. Patent Documents 1 and 2 disclose an electronic component that is sealed in a sealed state.

この種の電子部品装置によれば、電子部品の周囲が樹脂で封止されるため、電子部品が外部雰囲気に晒されることを防止できて、電子部品が水分、湿気、ダストなどによって悪影響を受けることを低減できる。   According to this type of electronic component device, since the periphery of the electronic component is sealed with resin, the electronic component can be prevented from being exposed to the external atmosphere, and the electronic component is adversely affected by moisture, moisture, dust, and the like. Can be reduced.

特開平9−121090号公報、図2Japanese Patent Laid-Open No. 9-121090, FIG. 特開平7−99279号公報JP-A-7-99279

しかしながら、上記従来の電子部品装置では、電子部品装置と収納体との間に充填されるものが単なる樹脂であるので、樹脂を充填する容積が大きい場合に電子部品装置が重くなったり、樹脂の充填量が多いことによる製造コストの増加を招いたりする課題があった。   However, in the above-described conventional electronic component device, what is filled between the electronic component device and the housing is simply resin, so that the electronic component device becomes heavy when the resin filling volume is large, There has been a problem that the manufacturing cost is increased due to a large filling amount.

また、電子部品を覆う樹脂として、熱硬化性樹脂(エポキシ樹脂)を用いると、硬化工程で比較的多くの時間を要するため、作業効率が悪くなる短所がある。また、熱硬化性樹脂などを用いながら高温に加熱して電子部品装置を製造する場合に、電子部品と樹脂との線膨張率の違いから、樹脂と電子部品との境界面で歪が発生し、この歪を吸収できずに、樹脂と電子部品とがその境界面で離反する可能性がある。このように樹脂と電子部品とがその境界面で離反すると、前記境界面に外部雰囲気が連通する恐れがあり、この場合には、水分、湿気、ダストなどの悪影響を防止できなくなる。さらに硬い樹脂で電子部品が覆われていると、使用時の温度変化による線膨張の違いを吸収できずに歪が生じ、電子部品が破損したり、ハンダ付け部にクラックが生じたりする。   In addition, when a thermosetting resin (epoxy resin) is used as the resin for covering the electronic component, a relatively long time is required in the curing process, and thus there is a disadvantage that the working efficiency is deteriorated. In addition, when an electronic component device is manufactured by heating to a high temperature using a thermosetting resin or the like, distortion occurs at the interface between the resin and the electronic component due to the difference in linear expansion coefficient between the electronic component and the resin. There is a possibility that the resin and the electronic component may be separated from each other at the boundary without being able to absorb this strain. When the resin and the electronic component are separated from each other at the boundary surface, an external atmosphere may be communicated with the boundary surface. In this case, adverse effects such as moisture, moisture, and dust cannot be prevented. Further, if the electronic component is covered with a hard resin, the difference in linear expansion due to temperature change during use cannot be absorbed and distortion occurs, causing damage to the electronic component or cracking in the soldered portion.

また、金型を用いて射出成形により電子部品装置を製造することも考えられるが、この場合に、溶融した樹脂を金型内に充填するに際して、溶融した樹脂の粘度や質量が比較的大きいため、電子部品に溶融樹脂から大きい圧力を受けることがある。そして、これにより電子部品の位置がずれたり電子部品が変形したり損傷したりするなど、電子部品の信頼性が低下する恐れがある。さらに、電子部品装置が自動車などの振動する環境で使用される場合に、樹脂を通じて外部の振動が電子部品にも直接伝わる恐れがあり、これによっても電子部品の信頼性が低下する。   It is also conceivable to manufacture an electronic component device by injection molding using a mold, but in this case, when the molten resin is filled in the mold, the viscosity and mass of the molten resin are relatively large. In some cases, electronic parts are subjected to a large pressure from the molten resin. As a result, the reliability of the electronic component may be reduced, such as the position of the electronic component being shifted or the electronic component being deformed or damaged. Furthermore, when the electronic component device is used in a vibrating environment such as an automobile, external vibration may be directly transmitted to the electronic component through the resin, and this also reduces the reliability of the electronic component.

さらに、上記方法で熱可塑性樹脂を発泡して用いた場合、気泡による熱可塑性樹脂の内部の空洞により封止性が低下したり、電子部品が実装された基板において、空洞ができることなく、複雑な形状に追随して溶融した発泡樹脂が流れ込み、かつ実装された部品または基板と封止層の密着性を高めることは難しかったりした。   Furthermore, when the thermoplastic resin is foamed and used by the above method, the sealing performance is lowered due to the voids inside the thermoplastic resin due to bubbles, or the substrate on which the electronic component is mounted has no complicated cavity. The foamed resin melted following the shape flowed in, and it was difficult to improve the adhesion between the mounted component or substrate and the sealing layer.

本発明は上記課題を解決するもので、電子部品装置の軽量化や製造コストの低減化、製造時間の短縮化などを図ることができるとともに、水分、湿気、ダストなどの悪影響を確実に防止できるように密着性、封止性を向上し、しかも、射出成形により製造する場合でも電子部品の信頼性が低下することのない電子部品装置の製造方法および電子部品装置を提供することを目的とするものである。   The present invention solves the above-described problems, and can reduce the weight of electronic component devices, reduce manufacturing costs, shorten manufacturing time, and can reliably prevent adverse effects such as moisture, moisture, and dust. An object of the present invention is to provide an electronic component device manufacturing method and an electronic component device that improve adhesion and sealing properties and that do not reduce the reliability of electronic components even when manufactured by injection molding. Is.

本発明の電子部品装置の製造方法は、上記課題を解決するもので、電子部品を包み込むように、溶融させた封止体を供給して、前記電子部品が前記封止体と一体化するように覆う一体化工程を有し、前記封止体は、熱可塑性樹脂に発泡剤組成物が加えられて前記一体化工程において発泡されるものであって、熱可塑性樹脂の、200℃でせん断速度が1000(1/s)の時の溶融粘度が10dPa・s以上、850dPa・s未満、かつショアD硬度が60度未満であることを特徴とする。   The method of manufacturing an electronic component device according to the present invention solves the above-described problem, and supplies a molten sealing body so as to enclose the electronic component so that the electronic component is integrated with the sealing body. The sealing body is formed by adding a foaming agent composition to a thermoplastic resin and foamed in the integration step, and the shear rate of the thermoplastic resin at 200 ° C. Is 1000 (1 / s), the melt viscosity is 10 dPa · s or more and less than 850 dPa · s, and the Shore D hardness is less than 60 degrees.

また、本発明の電子部品装置の製造方法は、前記熱可塑性樹脂の伸長粘度が、前記溶融粘度よりも大きいことを特徴とする。
また、本発明の電子部品装置の製造方法は、前記熱可塑性樹脂の伸長粘度が、溶融粘度の3倍以上であることを特徴とする。
Moreover, the manufacturing method of the electronic component device of the present invention is characterized in that an elongational viscosity of the thermoplastic resin is larger than the melt viscosity.
Moreover, the manufacturing method of the electronic component device of the present invention is characterized in that the thermoplastic resin has an extensional viscosity of 3 times or more of a melt viscosity.

また、本発明の電子部品装置は、電子部品と、前記電子部品を覆う封止体とを有し、前記封止体が、発泡された熱可塑性樹脂で形成され、前記熱可塑性樹脂の、200℃でせん断速度が1000(1/s)の時の溶融粘度が10dPa・s以上、850dPa・s未満、かつショアD硬度が60度未満であることを特徴とする。   The electronic component device of the present invention includes an electronic component and a sealing body that covers the electronic component, and the sealing body is formed of a foamed thermoplastic resin. The melt viscosity at a shear rate of 1000 (1 / s) at 10 ° C. is 10 dPa · s or more and less than 850 dPa · s, and the Shore D hardness is less than 60 degrees.

また、本発明の電子部品装置の製造方法は、前記一体化工程において、電子部品を射出成形用の金型のキャビティに配設し、前記キャビティに、前記封止体を溶融状態で射出することを特徴とする。   In the electronic component device manufacturing method of the present invention, in the integration step, the electronic component is disposed in a cavity of a mold for injection molding, and the sealing body is injected into the cavity in a molten state. It is characterized by.

また、前記電子部品装置の製造方法において、電子部品または電子部品が装着された回路基板を、前記電子部品を収納する収納体に取り付けた固定用部品により固定したり、前記封止体の射出開始時には金型のキャビティに突出して前記電子部品および前記回路基板の少なくとも一方を保持するとともに射出終了時にはキャビティから退出する保持用部品により保持したりしてもよい。   Further, in the method of manufacturing the electronic component device, the electronic component or the circuit board on which the electronic component is mounted is fixed by a fixing component attached to a storage body that stores the electronic component, or injection of the sealing body is started. Sometimes, it may protrude into the cavity of the mold to hold at least one of the electronic component and the circuit board, and may be held by a holding component that exits from the cavity at the end of injection.

また、封止体として熱可塑性樹脂に混ぜる発泡剤組成物として、無機粒子、発泡剤およびバインダー成分からなるものを用いてもよい。また、金型を用いて射出成形するに際し、前記金型を、固定金型と可動金型とから構成し、キャビティに電子部品を配設して前記可動金型を閉じた状態で、前記封止体をキャビティに射出し、この後、前記封止体が発泡する際に、可動金型を後退させてもよい。   Moreover, you may use what consists of an inorganic particle, a foaming agent, and a binder component as a foaming agent composition mixed with a thermoplastic resin as a sealing body. In addition, when performing injection molding using a mold, the mold is composed of a fixed mold and a movable mold, electronic parts are disposed in a cavity, and the sealed mold is closed. A stationary body may be injected into the cavity, and then the movable mold may be retracted when the sealing body is foamed.

また、本発明の電子部品装置として、前記電子部品を内部に収納する収納体を設けて、前記収納体内において前記電子部品を覆った状態で、前記封止体を配設してもよい。また、電子部品が回路基板に装着され、前記電子部品または前記回路基板に電線がその接続部で接続され、電線の接続部側も前記封止体により覆われていてもよい。また、前記封止体に、無機粒子、発泡剤およびバインダー成分を有する発泡剤組成物が含まれていてもよい。   In addition, as the electronic component device of the present invention, a storage body that houses the electronic component may be provided, and the sealing body may be disposed in a state where the electronic component is covered in the storage body. Moreover, an electronic component may be mounted on a circuit board, an electric wire may be connected to the electronic component or the circuit board at the connection portion, and the connection portion side of the electric wire may be covered with the sealing body. Moreover, the foaming agent composition which has an inorganic particle, a foaming agent, and a binder component may be contained in the said sealing body.

本発明によれば、電子部品を覆う封止体として、熱可塑性樹脂を発泡させたものを用いることにより、封止体として、発泡されていない熱可塑性樹脂を用いる場合と比較して、熱可塑性樹脂の使用量(質量)を低減できて軽量化や製造コストの低減化を図ることができる。また、電子部品を覆う封止体として熱可塑性樹脂を発泡させたものを用いているので、封止体の弾性や収縮性(クッション性)が大きくなる。これにより、電子部品装置が自動車など振動する場合が多い環境で使用される場合でも、外部の振動が前記熱可塑性樹脂で吸収され易くなって、外部の振動が電子部品に直接伝わり難くなる。したがって、振動による電子部品の応力クラックにより損傷することなどが減少し、信頼性が向上する。   According to the present invention, by using a foamed thermoplastic resin as the sealing body that covers the electronic component, the thermoplastic resin is used in comparison with the case where an unfoamed thermoplastic resin is used as the sealing body. The amount (mass) of resin used can be reduced, and the weight can be reduced and the manufacturing cost can be reduced. Moreover, since the thing which foamed the thermoplastic resin is used as the sealing body which covers an electronic component, the elasticity and contractility (cushion property) of a sealing body become large. As a result, even when the electronic component device is used in an environment such as an automobile that frequently vibrates, external vibration is easily absorbed by the thermoplastic resin, and external vibration is not easily transmitted directly to the electronic component. Therefore, damage due to stress cracks of the electronic component due to vibration is reduced, and reliability is improved.

さらに、熱可塑性樹脂の、200℃でせん断速度が1000(1/s)の時の溶融粘度が10dPa・s以上、850dPa・s未満、かつショアD硬度が60度未満であり、封止体の弾性や収縮性(クッション性)が大きいため、使用時の温度変化による線膨張の違いをうまく吸収し、電子部品が破損したり、ハンダ付け部にクラックが生じたりするような歪を生じさせず、より温度変化の高い環境で使用することができる。また、電子部品を覆う樹脂として熱可塑性樹脂を用いており、溶融した熱可塑性樹脂を冷却して固化させる場合でも比較的短い時間で済み、作業効率がよい利点もある。   Further, the thermoplastic resin has a melt viscosity of 10 dPa · s or more and less than 850 dPa · s at a shear rate of 1000 (1 / s) at 200 ° C. and a Shore D hardness of less than 60 degrees. High elasticity and shrinkage (cushioning), so it absorbs the difference in linear expansion due to temperature changes during use and does not cause distortion that damages electronic components or cracks in soldered parts. It can be used in an environment with a higher temperature change. In addition, a thermoplastic resin is used as the resin for covering the electronic component, and even when the molten thermoplastic resin is cooled and solidified, a relatively short time is required, and there is an advantage that the work efficiency is good.

また、伸長粘度が、前記溶融粘度よりも大きい熱可塑性樹脂を用いることが好ましく、さらには、200℃でせん断速度が1000(1/s)の時の溶融粘度が10dPa・s以上、850dPa・s未満である前記熱可塑性樹脂として、この熱可塑性樹脂の伸長粘度が、溶融粘度の3倍以上であるものを用いることが一層好ましい。   Further, it is preferable to use a thermoplastic resin having an extensional viscosity larger than the melt viscosity. Furthermore, the melt viscosity when the shear rate is 1000 (1 / s) at 200 ° C. is 10 dPa · s or more and 850 dPa · s. It is more preferable to use a thermoplastic resin having an elongation viscosity of 3 or more times the melt viscosity as the thermoplastic resin.

この熱可塑性樹脂を用いることにより、発泡するに際し、発泡剤が分解し生成する分解ガスが、溶融した熱可塑性樹脂を十分に混じった状態で、気泡の形状を保った状態で膨らみ、かつ膨らんだ気泡が破泡せず、1個の気泡がその周囲を取り囲む他の気泡と繋がらず独立した形状を維持することができる。すなわち、発泡時において、気泡を良好に生成することができて、電子部品を覆う封止体としての信頼性が向上する。   By using this thermoplastic resin, when the foaming is performed, the decomposition gas generated by the decomposition of the foaming agent swells and swells while maintaining the shape of the bubbles in a state where the molten thermoplastic resin is sufficiently mixed. The bubbles are not broken, and one bubble is not connected to other bubbles surrounding the periphery, so that an independent shape can be maintained. That is, at the time of foaming, air bubbles can be generated satisfactorily, and the reliability as a sealed body covering the electronic component is improved.

また、前記一体化工程において、電子部品を射出成形用の金型のキャビティに配設し、前記キャビティに、前記封止体を溶融状態で射出することにより、金型のキャビティへの熱可塑性樹脂の充填時における熱可塑性樹脂の粘度や質量を小さくできるため、電子部品に作用する封止体からの圧力が小さくなって電子部品の位置がずれたり変形したり損傷したりすることを防止でき、電子部品の信頼性が向上する。また、上記したように封止体の弾性や収縮性(クッション性)が大きいため、射出成形時における、線膨張率の違いなどによる樹脂と電子部品との離反を防止できる。この結果、水分、湿気、ダストなどが電子部品側に侵入することを防止できて、これによっても信頼性が向上する。   Further, in the integration step, an electronic component is disposed in a cavity of a mold for injection molding, and the sealing body is injected into the cavity in a molten state, whereby a thermoplastic resin into the mold cavity is obtained. Since the viscosity and mass of the thermoplastic resin at the time of filling can be reduced, it is possible to prevent the pressure from the sealing body acting on the electronic component from being reduced and the electronic component from being displaced, deformed or damaged, The reliability of electronic parts is improved. Further, as described above, since the sealing body has a large elasticity and shrinkability (cushioning property), separation between the resin and the electronic component due to a difference in linear expansion coefficient during injection molding can be prevented. As a result, moisture, moisture, dust, and the like can be prevented from entering the electronic component side, which also improves the reliability.

また、前記電子部品装置の製造方法において、電子部品や回路基板を、収納体に取り付けた固定用部品により固定したり、キャビティに突出可能な保持用部品により保持したりすることにより、金型のキャビティに封止体が射出される際に、電子部品や回路基板を良好に位置決めできて、電子部品装置を良好に製造することができる。   Further, in the method of manufacturing the electronic component device, the electronic component or the circuit board is fixed by a fixing component attached to the storage body, or is held by a holding component that can protrude into the cavity. When the sealing body is injected into the cavity, the electronic component and the circuit board can be positioned well, and the electronic component device can be manufactured satisfactorily.

また、封止体として熱可塑性樹脂に混ぜる発泡剤組成物として、無機粒子、発泡剤およびバインダー成分からなるものを用いることで、発泡動作を金型のキャビティ内で良好に行わせることができる。つまり、発泡剤組成物として発泡剤のみを用いたである場合には、射出成形を行うシリンダの内部などで発泡剤が直ぐに分解して発泡することがあるため、射出動作を良好に行えないことがある。これに対して、無機粒子を混ぜることで、射出成形を行うシリンダの内部などで発泡することを阻止して、金型のキャビティ内で良好に発泡させることができる。   In addition, as a foaming agent composition to be mixed with the thermoplastic resin as a sealing body, a foaming operation can be favorably performed in a mold cavity by using a composition composed of inorganic particles, a foaming agent and a binder component. In other words, when only the foaming agent is used as the foaming agent composition, the foaming agent may be immediately decomposed and foamed inside the cylinder where the injection molding is performed, so that the injection operation cannot be performed well. There is. On the other hand, by mixing inorganic particles, it is possible to prevent foaming inside the cylinder for injection molding and the like, and to foam well in the cavity of the mold.

また、金型を用いて射出成形するに際し、キャビティに電子部品を配設して可動金型を閉じた状態で、封止体をキャビティに射出し、この後、前記封止体が発泡する際に、可動金型を後退させることにより、封止体の表層部にスキン層を形成することができて、発泡成形を良好に行うことができるだけでなく、その表面の外観が優れた封止体を形成することができる。   Further, when injection molding is performed using a mold, an electronic component is disposed in the cavity and the movable mold is closed, and the sealing body is injected into the cavity, and then the sealing body is foamed. In addition, by retracting the movable mold, a skin layer can be formed on the surface layer portion of the sealing body, and not only foam molding can be performed well, but also the surface appearance of the sealing body is excellent. Can be formed.

本発明の実施の形態に係る電子部品装置の縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view of the electronic component apparatus which concerns on embodiment of this invention. (a)〜(d)は、それぞれ同実施の形態に係る電子部品装置の製造工程を示す縦断面図である。(A)-(d) is a longitudinal cross-sectional view which shows the manufacturing process of the electronic component apparatus which concerns on the same embodiment, respectively. 本発明の他の実施の形態に係る電子部品装置の縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view of the electronic component apparatus which concerns on other embodiment of this invention. (a)は本発明のその他の実施の形態に係る電子部品装置の縦断面図、(b)、(c)は同電子部品装置の製造工程を示す縦断面図である。(A) is a longitudinal cross-sectional view of the electronic component apparatus which concerns on other embodiment of this invention, (b), (c) is a longitudinal cross-sectional view which shows the manufacturing process of the same electronic component apparatus. (a)〜(d)は、それぞれ本発明のさらに他の実施の形態に係る電子部品装置の製造工程を示す縦断面図である。(A)-(d) is a longitudinal cross-sectional view which shows the manufacturing process of the electronic component apparatus which concerns on further another embodiment of this invention, respectively.

以下、本発明の実施の形態に係る電子部品装置の製造方法および電子部品装置を図面に基づき説明する。   Hereinafter, a method of manufacturing an electronic component device and an electronic component device according to embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

図1に示すように、本発明の実施の形態に係る電子部品装置1は、複数の電子部品2およびこれらの複数の電子部品2が装着(搭載)された回路基板3と、この電子部品2が装着された回路基板3に半田などの接続部7で接続され、塩化ビニルなどの被覆部4aで被覆された電線(被覆電線)4と、電子部品2と、回路基板3および電線4の接続部7の近傍箇所を内部に収納する収納体5と、収納体5の内部に充填(供給)された封止体6と、から構成されている。封止体6は、電子部品2と、回路基板3と、電線4の接続部7側の箇所とを封止して覆っており、封止体6により、電子部品2、回路基板3、電線4の接続部7側の箇所などが一体化されている。   As shown in FIG. 1, an electronic component device 1 according to an embodiment of the present invention includes a plurality of electronic components 2, a circuit board 3 on which these electronic components 2 are mounted (mounted), and the electronic component 2 Is connected to the circuit board 3 to which the circuit board 3 is attached by a connecting part 7 such as solder and is covered with a covering part 4a such as vinyl chloride, the electronic component 2, the circuit board 3 and the electric wire 4 It is comprised from the storage body 5 which accommodates the location near the part 7 inside, and the sealing body 6 with which the inside of the storage body 5 was filled (supplied). The sealing body 6 seals and covers the electronic component 2, the circuit board 3, and the portion on the connection portion 7 side of the electric wire 4. The sealing body 6 covers the electronic component 2, the circuit board 3, and the electric wire. 4 and the like on the connecting portion 7 side are integrated.

この実施の形態では、図2(a)に示すように、収納体5が、例えば上面側が開口された略箱型の樹脂などからなる筐体から構成されている。収納体5の上辺部の一部には下方に窪む窪み部5aが形成され、この窪み部5aから、電線4が挿通されて収納体5の外部に引き出される。   In this embodiment, as shown in FIG. 2A, the storage body 5 is constituted by a housing made of, for example, a substantially box-shaped resin having an upper surface opened. A recess 5 a that is recessed downward is formed in a part of the upper side of the storage body 5, and the electric wire 4 is inserted from the recess 5 a and drawn out of the storage body 5.

ここで、封止体6は、基材としての熱可塑性樹脂を発泡させたものが用いられている。そして、封止体6の基材としての前記熱可塑性樹脂は、いわゆるホットメルト樹脂とも称せられるものが用いられている。前記熱可塑性樹脂としては、例えば、ポリエステル樹脂、共重合ポリエステル樹脂、ポリアミド樹脂、ポリオレフィン樹脂の何れかが用いられており、収納体5や、回路基板3、電線4の被覆部4aに対して密着性がよいものが用いられている。なお、前記熱可塑性樹脂として、ポリエステル樹脂、共重合ポリエステル樹脂、ポリアミド樹脂、ポリオレフィン樹脂の何れか以外のものを用いてもよいが、この場合にも、収納体5や、回路基板3、電線4の被覆部4aに対して密着性がよいものが好ましい。   Here, the sealing body 6 is made of foamed thermoplastic resin as a base material. And what is also called what is called a hot-melt resin is used for the said thermoplastic resin as a base material of the sealing body 6. FIG. As the thermoplastic resin, for example, any one of polyester resin, copolymer polyester resin, polyamide resin, and polyolefin resin is used, and the thermoplastic resin is in close contact with the housing 5, the circuit board 3, and the covering portion 4 a of the electric wire 4. Good quality is used. In addition, as the thermoplastic resin, a resin other than polyester resin, copolymer polyester resin, polyamide resin, or polyolefin resin may be used. In this case as well, the housing 5, the circuit board 3, and the electric wire 4 are used. Those having good adhesion to the covering portion 4a are preferred.

次に、当該電子部品装置1の製造方法について以下に説明する。
まず、図2(b)に示すように、筐体となる収納体5に、電子部品2が装着されるとともに電線4が接続された回路基板3が、収納体5内に配設されて組付けられる(組付工程)。なお、この場合に、図示しないが、回路基板3は、ねじなどの固定用部品により収納体5に固定させていることが好ましい。
Next, a method for manufacturing the electronic component device 1 will be described below.
First, as shown in FIG. 2B, a circuit board 3 on which an electronic component 2 is mounted and an electric wire 4 is connected to a housing 5 serving as a housing is disposed in the housing 5 and assembled. Attached (assembly process). In this case, although not shown, it is preferable that the circuit board 3 is fixed to the housing 5 with a fixing component such as a screw.

次に、図2(c)に示すように、電子部品2や回路基板3などが組みつけられた収容体5を、溶融された封止体6が射出される金型10のキャビティ11に配設する(金型内配設工程)。金型10は、所定位置に固定される固定金型10Aと、固定金型10Aに臨んで移動自在(例えば昇降自在)に配設された可動金型10Bとから構成され、溶融された封止体6をキャビティ11に導入するための導入流路10cが形成されている。また、図示しないが、導入流路10cには、溶融された封止体6を出射する射出シリンダなどを備えた射出成形装置(図示せず)が接続される。   Next, as shown in FIG. 2 (c), the container 5 in which the electronic component 2, the circuit board 3 and the like are assembled is disposed in the cavity 11 of the mold 10 into which the molten sealing body 6 is injected. Install (in-mold arrangement step). The mold 10 is composed of a fixed mold 10A fixed at a predetermined position, and a movable mold 10B disposed so as to be movable (for example, movable up and down) facing the fixed mold 10A, and is melted and sealed. An introduction channel 10 c for introducing the body 6 into the cavity 11 is formed. Although not shown, an injection molding apparatus (not shown) including an injection cylinder for emitting the melted sealing body 6 is connected to the introduction flow path 10c.

そして、図2(d)に示すように、キャビティ11に配設された収容体5内に、溶融された封止体6が出射(供給)される。この後、封止体6が冷却されて固化されることで、電子部品2や回路基板3などが組みつけられた収容体5と、封止体6とが一体化される(一体化工程)ので、製造された電子部品装置1を金型10から取り出す。   Then, as shown in FIG. 2D, the melted sealing body 6 is emitted (supplied) into the housing body 5 disposed in the cavity 11. Thereafter, the sealing body 6 is cooled and solidified, so that the housing body 5 in which the electronic component 2 and the circuit board 3 are assembled and the sealing body 6 are integrated (integration step). Therefore, the manufactured electronic component device 1 is taken out from the mold 10.

上記したように本実施の形態の封止体6は、基材としての熱可塑性樹脂を発泡させたものが用いられる。また、本実施の形態に係る封止体6の基材としての前記熱可塑性樹脂は、いわゆるホットメルト樹脂とも称せられるものが用いられ、溶融状態では、一般の熱可塑性樹脂よりも粘度が低いものが用いられ、さらに発泡されるため、キャビティ11に導入された溶融状態の熱可塑性樹脂は極めて粘度が低いものが用いられる。例えば、一般の熱可塑性樹脂は、例えば、200℃において、せん断速度が1000(1/s)の時の溶融粘度が1000dPa・s(デシパスカル・秒)以上であるが、本実施の形態の熱可塑性樹脂は、発泡されていない状態で、200℃において、せん断速度が1000(1/s)の時の溶融粘度が、10dPa・s以上、850dPa・s未満である必要があり、10dPa・s以上、800dPa・s未満であることが好ましく、10dPa・s以上、720dPa・s未満であることがさらに好ましい。   As described above, the sealing body 6 of the present embodiment uses a foamed thermoplastic resin as a base material. Moreover, what is called so-called hot melt resin is used as the thermoplastic resin as the base material of the sealing body 6 according to the present embodiment, and in the molten state, the viscosity is lower than that of a general thermoplastic resin. Is used, and the foamed thermoplastic resin introduced into the cavity 11 has a very low viscosity. For example, a general thermoplastic resin has a melt viscosity of 1000 dPa · s (decipascal · second) or more at a shear rate of 1000 (1 / s) at 200 ° C., for example. The resin needs to have a melt viscosity of 10 dPa · s or more and less than 850 dPa · s at a shear rate of 1000 (1 / s) at 200 ° C. in an unfoamed state, 10 dPa · s or more, It is preferably less than 800 dPa · s, more preferably 10 dPa · s or more and less than 720 dPa · s.

ここで、前記溶融粘度(200℃において、せん断速度が1000(1/s)の時の溶融粘度)が850dPa・s以上であると、熱可塑性樹脂の溶融時の流動性が悪くなり、射出成形においては射出圧を高める等で流動性を高めることはできるが回路基板に実装された電子部品を破損する等の懸念が高まるが、前記溶融粘度が850dPa・s未満である熱可塑性樹脂を用いることで、良好な流動性を確保しつつ、電子部品2を破損することを確実に防止できる。   Here, when the melt viscosity (melt viscosity when the shear rate is 1000 (1 / s) at 200 ° C.) is 850 dPa · s or more, the fluidity at the time of melting of the thermoplastic resin is deteriorated, and injection molding is performed. Although the fluidity can be increased by increasing the injection pressure, there is a growing concern that the electronic components mounted on the circuit board will be damaged. However, the thermoplastic resin having a melt viscosity of less than 850 dPa · s should be used. Thus, it is possible to reliably prevent the electronic component 2 from being damaged while ensuring good fluidity.

また、熱可塑性樹脂と発泡剤を混合し、射出の際に発泡させる必要があるが、混合した発泡剤が熱可塑性樹脂と均一に混合されないことで、発泡が不均一になったり、発泡しなかったりすることがある。また、不均一な発泡は、形成された封止層の有する封止性能が損なわれたり、実装された電子部品および回路基板との密着性を損ねたりすることになる。封止層の密着性の低下は、封止層と実装された電子部品および回路基板との間に空間ができることにつながり、そのことによっても封止性が低下する。したがって、本発明においては、一般の熱可塑性樹脂よりも、接着性(密着性)に優れた、いわゆるホットメルト樹脂とも称せられる熱可塑性樹脂ものが用いられる。さらにホットメルト樹脂は一般の熱可塑性樹脂よりも、低温で射出成形できる。例えば、一般の熱可塑性樹脂では、射出成形圧力は50MPa〜200MPaだが、本実施の形態の熱可塑性樹脂の射出成形圧力は50MPa未満であるので、封止材を充填中に電子部品2を破壊する恐れが少ない。   Also, it is necessary to mix a thermoplastic resin and a foaming agent and foam it at the time of injection. However, the foaming agent is not mixed uniformly with the thermoplastic resin, resulting in uneven foaming or no foaming. Sometimes. In addition, the non-uniform foaming impairs the sealing performance of the formed sealing layer or impairs the adhesion between the mounted electronic component and the circuit board. The decrease in the adhesiveness of the sealing layer leads to a space between the sealing layer and the mounted electronic component and circuit board, which also reduces the sealing performance. Therefore, in the present invention, a thermoplastic resin, which is also called a so-called hot melt resin, is used which is superior in adhesiveness (adhesiveness) to a general thermoplastic resin. Further, the hot melt resin can be injection molded at a lower temperature than a general thermoplastic resin. For example, in a general thermoplastic resin, the injection molding pressure is 50 MPa to 200 MPa, but since the injection molding pressure of the thermoplastic resin of the present embodiment is less than 50 MPa, the electronic component 2 is destroyed during filling with the sealing material. There is little fear.

なお、前記熱可塑性樹脂の溶融粘度は、例えば島津製作所製の高架式フローテスターCFT500D型等を用いて測定をすることができる。また、用いる熱可塑性樹脂の特性に応じて溶融粘度の測定条件を変更することもできる。例えば、溶融粘度が小さく、正確な測定が難しい場合は、測定温度を下げて溶融粘度を測定することもできる。その場合の一例として、例えば、180℃において、せん断速度が1000(1/s)の時の溶融粘度が1700dPa・s未満である必要があり、1600dPa・s未満であることが好ましく、1400dPa・s未満であることがさらに好ましい。   The melt viscosity of the thermoplastic resin can be measured using, for example, an elevated flow tester CFT500D manufactured by Shimadzu Corporation. Moreover, the measurement conditions of melt viscosity can also be changed according to the characteristic of the thermoplastic resin to be used. For example, when the melt viscosity is small and accurate measurement is difficult, the melt viscosity can be measured by lowering the measurement temperature. As an example in that case, for example, at 180 ° C., the melt viscosity at a shear rate of 1000 (1 / s) needs to be less than 1700 dPa · s, preferably less than 1600 dPa · s. More preferably, it is less than.

さらには、本発明の実施の形態で用いる熱可塑性樹脂は、上記溶融粘度を満たすと同時に、特定の伸長粘度を有することが好ましい。ここで伸長粘度とは、発泡剤が分解し生成する分解ガスが、溶融した熱可塑性樹脂に十分に混じった状態で、気泡の成長を促す際の溶融樹脂が持つ粘りの尺度であり、溶融樹脂に与えられる応力、すなわち気泡の膨らみに対する溶融樹脂の粘りの動的変化を示すものである。本実施の形態の電子部品装置の製造方法においては、前記所定の溶融粘度よりも、伸長粘度の数値が大きい方が好ましい。具体的には、熱可塑性樹脂の200℃において、せん断速度が1000(1/s)の時の伸長粘度が溶融粘度の3倍以上であることが好ましく、溶融粘度の10倍以上であることがより好ましく、溶融粘度の100倍以上であることがさらに好ましい。   Furthermore, it is preferable that the thermoplastic resin used in the embodiment of the present invention satisfies the melt viscosity and at the same time has a specific elongation viscosity. Here, the extensional viscosity is a measure of the viscosity of the molten resin when the cracked gas generated by the decomposition of the foaming agent is sufficiently mixed with the molten thermoplastic resin to promote bubble growth. 3 shows a dynamic change in the viscosity of the molten resin with respect to the stress applied to the liquid, that is, the expansion of the bubbles. In the manufacturing method of the electronic component device of the present embodiment, it is preferable that the numerical value of the extension viscosity is larger than the predetermined melt viscosity. Specifically, at 200 ° C., the thermoplastic resin preferably has an elongational viscosity at a shear rate of 1000 (1 / s) of at least 3 times the melt viscosity, and at least 10 times the melt viscosity. More preferably, it is more preferably 100 times or more the melt viscosity.

前記熱可塑性樹脂が有する伸長粘度を、上記好ましい範囲とすることで、発泡するに際し、発泡剤が分解し生成する分解ガスが、溶融した熱可塑性樹脂を十分に混じった状態で、気泡の形状を保った状態で膨らみ、かつ膨らんだ気泡が破泡せず、1個の気泡がその周囲を取り囲む他の気泡と繋がらず独立した形状を維持することができる。   By setting the elongation viscosity of the thermoplastic resin within the above preferred range, when foaming, the decomposition gas generated by decomposition of the foaming agent is sufficiently mixed with the molten thermoplastic resin, and the shape of the bubbles is reduced. Inflated and kept inflated, bubbles do not break, one bubble is not connected to other bubbles surrounding it, and an independent shape can be maintained.

上記特性を満足することで、用いる熱可塑性樹脂の流動性を向上させながら発泡性が良好なものとすることができる。
以下に、本発明で用いる熱可塑性樹脂の溶融粘度と伸長粘度の関係の一例を示す。
By satisfying the above characteristics, the foamability can be improved while improving the fluidity of the thermoplastic resin used.
Below, an example of the relationship between the melt viscosity and elongation viscosity of the thermoplastic resin used by this invention is shown.

Figure 2014132973
Figure 2014132973

本発明における伸長粘度は、Cogswellの理論に基づき測定することができる。本発明においては、高架式フローテスター(島津製作所社製CFT500D型にて、ダイA(ダイノズル径0.5mm×ダイ長さ10mm)、ダイB(ダイノズル径0.5mm×ダイ長さ1mm)の2種類のダイを用い、測定温度200℃、せん断速度が1000(1/s)条件下、測定を行った。   The elongational viscosity in the present invention can be measured based on the Cogswell theory. In the present invention, an elevated flow tester (CFT500D type manufactured by Shimadzu Corporation), die A (die nozzle diameter 0.5 mm × die length 10 mm), die B (die nozzle diameter 0.5 mm × die length 1 mm) 2 Measurement was performed using a type of die under the conditions of a measurement temperature of 200 ° C. and a shear rate of 1000 (1 / s).

上記のように、電子部品2や回路基板3を覆う封止体6として、熱可塑性樹脂を発泡させたものを用いることにより、封止体6として、発泡されていない熱可塑性樹脂を用いる場合と比較して、熱可塑性樹脂の使用量(質量)を低減できて軽量化や製造コストの低減化を図ることができる。   As described above, by using a foamed thermoplastic resin as the sealing body 6 that covers the electronic component 2 or the circuit board 3, a non-foamed thermoplastic resin is used as the sealing body 6. In comparison, the use amount (mass) of the thermoplastic resin can be reduced, and the weight can be reduced and the manufacturing cost can be reduced.

また、本発明で用いる熱可塑性樹脂のショアD硬度は、JIS K7215に準拠して測定されるショアD硬度が、60度未満である必要があり、55度未満であることが好ましく、50度未満であることがさらに好ましい。ショアD硬度が60度を超えると成形収縮による寸法減少のひずみが電子部品等にかかった状態で封止される。また、使用時の温度変化による基板や電子部品と封止樹脂との線膨張の違いによるひずみが緩衝されずに、電子部品の破損や、ハンダ付け部にクラックが生じることがある。   The Shore D hardness of the thermoplastic resin used in the present invention is such that the Shore D hardness measured in accordance with JIS K7215 needs to be less than 60 degrees, preferably less than 55 degrees, preferably less than 50 degrees. More preferably. When the Shore D hardness exceeds 60 degrees, sealing is performed in a state in which the distortion due to the size reduction due to molding shrinkage is applied to the electronic component or the like. Further, the distortion due to the difference in linear expansion between the substrate or electronic component and the sealing resin due to a temperature change during use is not buffered, and the electronic component may be damaged or a soldered portion may be cracked.

さらに、本発明では、電子部品2や回路基板3を覆う封止体6として熱可塑性樹脂を発泡させたものを用いているので、封止体6の弾性や収縮性(クッション性)が大きくなる。これにより、電子部品装置1が自動車など、振動する場合が多い環境で使用される場合でも、外部の振動が封止体6で吸収され易くなる。この結果、外部の振動が電子部品2や回路基板3や半田などの接続部7に直接伝わり難くなるので、振動による電子部品2や回路基板3、接続部7の応力クラックにより損傷することなどが減少し、これによっても信頼性が向上する。   Furthermore, in this invention, since the thing which foamed the thermoplastic resin is used as the sealing body 6 which covers the electronic component 2 and the circuit board 3, the elasticity and contractility (cushion property) of the sealing body 6 become large. . Thereby, even when the electronic component device 1 is used in an environment such as an automobile where vibrations often occur, external vibrations are easily absorbed by the sealing body 6. As a result, external vibrations are not easily transmitted directly to the connection part 7 such as the electronic component 2, the circuit board 3, or solder, so that the electronic part 2, the circuit board 3, or the connection part 7 can be damaged by vibration due to stress cracks. This also reduces the reliability.

また、封止体6に用いる樹脂として熱可塑性樹脂を使用している。この熱可塑性樹脂は、熱硬化性樹脂(エポキシ樹脂)を用いてポッティングなどにより製造する場合と異なり、溶融した熱可塑性樹脂を冷却して固化させる場合でも比較的短い時間で済むため、製造工程として必要な時間を低減できて作業効率が良好となる。   A thermoplastic resin is used as the resin used for the sealing body 6. This thermoplastic resin is different from the case where it is manufactured by potting using a thermosetting resin (epoxy resin), and even when the molten thermoplastic resin is cooled and solidified, a relatively short time is required. The required time can be reduced and work efficiency is improved.

また、封止体6を金型10のキャビティ11へ溶融状態で射出するに際し、溶融状態では、一般の熱可塑性樹脂よりも粘度が低いいわゆるホットメルト樹脂とも称せられる熱可塑性樹脂(200℃において、せん断速度が1000(1/s)の時の溶融粘度が850dPa・s未満かつショアD硬度が60度未満である熱可塑性樹脂)が用いられ、さらに発泡されるため、溶融状態での粘度が極めて低い。このため、射出成形装置から射出する封止体6の射出圧力も小さくて済み、また、封止体6の粘度が低いため、封止体6がキャビティ11へ導入された際の電子部品2や回路基板3、接続部7に作用する封止体6からの圧力が小さくなって電子部品2や回路基板3の位置がずれたり変形したり損傷したりすることを防止でき、電子部品2や回路基板3、接続部7の信頼性が向上する。また、キャビティ11内の空間に封止体6が収納体5内部の隅々までいきわたり、これによっても、製品としての電子部品装置1に空隙部などがない良好なものを得られる。これにより、電子部品2や回路基板3、接続部7が水分、湿気、ダストなどによって悪影響を受けることを確実に防止できる。   Further, when injecting the sealing body 6 into the cavity 11 of the mold 10 in a molten state, in the molten state, a thermoplastic resin (also referred to as a so-called hot melt resin having a viscosity lower than that of a general thermoplastic resin (at 200 ° C., A thermoplastic resin having a melt viscosity of less than 850 dPa · s and a Shore D hardness of less than 60 degrees at a shear rate of 1000 (1 / s) is used, and the foam is further foamed. Low. For this reason, the injection pressure of the sealing body 6 injected from the injection molding apparatus can be small, and since the viscosity of the sealing body 6 is low, the electronic component 2 when the sealing body 6 is introduced into the cavity 11 or The pressure from the sealing body 6 acting on the circuit board 3 and the connection part 7 can be prevented from being shifted, deformed, or damaged by the position of the electronic component 2 or the circuit board 3. The reliability of the substrate 3 and the connection portion 7 is improved. In addition, the sealing body 6 extends to every corner of the housing body 5 in the space inside the cavity 11, and this also makes it possible to obtain a good product having no voids in the electronic component device 1 as a product. Thereby, it can prevent reliably that the electronic component 2, the circuit board 3, and the connection part 7 are badly affected by a water | moisture content, moisture, dust, etc.

さらに、封止体6として、低温で射出成形できる、いわゆるホットメルト樹脂とも称せられる熱可塑性樹脂ものを用いることで、通常の熱可塑性樹脂を用いる場合よりも低温で射出成形できる。これにより、電子部品2や回路基板3、接続部7への熱による損傷を防止できる。   Further, by using a thermoplastic resin that can be injection-molded at a low temperature, which is also referred to as a so-called hot melt resin, the sealing body 6 can be injection-molded at a lower temperature than when a normal thermoplastic resin is used. Thereby, the electronic component 2, the circuit board 3, and the connection part 7 can be prevented from being damaged by heat.

前記所定の溶融粘度およびショアD硬度を有し、さらに好ましい伸長粘度を有するホットメルト樹脂としては、特に共重合ポリエステル樹脂、ポリアミド樹脂、ポリオレフィン樹脂を好ましく用いることができる。   As the hot melt resin having the predetermined melt viscosity and Shore D hardness and further having a preferable elongation viscosity, particularly, a copolyester resin, a polyamide resin, and a polyolefin resin can be preferably used.

前記共重合ポリエステル樹脂としては、少なくとも多塩基酸成分および多価アルコール成分を用いて得られるポリエステルであって、多塩基酸成分残基または多価アルコール成分残基の少なくとも一方が2種類以上含まれたものである。多塩基酸成分としては、例えば、テレフタル酸、イソフタル酸などの芳香族ジカルボン酸、およびコハク酸、アジピン酸、セバシン酸、ドデカン二酸、ダイマー酸およびそれらの無水物などの脂肪族ジカルボン酸、トリメリット酸、ピロメリット酸等の芳香族多価カルボン酸、ならびにそれらの混合物等を挙げることができる。多価アルコール成分としては、例えば、エチレングリコール、ジエチレングリコール、1,4−ブタンジオール、1,6−ヘキサンジオール、ネオペンチルグリコール、トリメチロールプロパン、ポリエチレングリコール、およびポリブタジエンジオール等の飽和脂肪族グリコール、シクロヘキサンジメタノール等の脂環族グリコール、ならびにそれらの混合物などを挙げることができる。その他成分としては、ペンタエリスリトール等の糖類を挙げることができる。所定の溶融粘度、好ましい伸長粘度を有する共重合ポリエステル樹脂とするためには、特に長鎖の脂肪族ジカルボン酸、飽和脂肪族グリコール、糖類、あるいは芳香族多価カルボン酸を、共重合ポリエステル樹脂を構成する成分として用いることが好ましく、ドデカン二酸、ダイマー酸、トリメリット酸、トリメチロールプロパン、ポリブタジエンジオール、ペンタエリスリトール等をより好ましく用いることができる。   The copolyester resin is a polyester obtained using at least a polybasic acid component and a polyhydric alcohol component, and includes at least one of at least one of a polybasic acid component residue or a polyhydric alcohol component residue. It is a thing. Examples of the polybasic acid component include aromatic dicarboxylic acids such as terephthalic acid and isophthalic acid, and aliphatic dicarboxylic acids such as succinic acid, adipic acid, sebacic acid, dodecanedioic acid, dimer acid and their anhydrides, Mention may be made of aromatic polycarboxylic acids such as merit acid and pyromellitic acid, and mixtures thereof. Examples of the polyhydric alcohol component include ethylene glycol, diethylene glycol, 1,4-butanediol, 1,6-hexanediol, neopentyl glycol, trimethylolpropane, polyethylene glycol, and saturated aliphatic glycol such as polybutadiene diol, cyclohexane. Examples thereof include alicyclic glycols such as dimethanol, and mixtures thereof. Other components include saccharides such as pentaerythritol. In order to obtain a copolymer polyester resin having a predetermined melt viscosity and a preferable elongation viscosity, a long-chain aliphatic dicarboxylic acid, a saturated aliphatic glycol, a saccharide, or an aromatic polyvalent carboxylic acid is used. It is preferably used as a constituent component, and dodecanedioic acid, dimer acid, trimellitic acid, trimethylolpropane, polybutadienediol, pentaerythritol and the like can be more preferably used.

前記共重合ポリエステル樹脂として前記成分を用いる場合には、多塩基酸成分100モル%または多価アルコール成分100モル%に対し、それぞれ1〜10モル%の範囲で用いることが好ましい。   When using the said component as said copolyester resin, it is preferable to use in the range of 1-10 mol% with respect to 100 mol% of polybasic acid components or 100 mol% of polyhydric alcohol components, respectively.

前記ポリアミド樹脂としては、例えば、ダイマー酸とジアミンとからなるポリアミド樹脂を挙げることができ、アミン価3〜30、軟化点が90℃以上のポリアミド樹脂が好ましい。前記ポリアミド樹脂は、具体的には例えば大豆油、桐油、トール油等の脂肪酸の二量体であるダイマー酸と例えばエチレンジアミン、ジエチレントリアミンのようなアルキルジアミン類などの反応生成物が挙げられる。   As said polyamide resin, the polyamide resin which consists of a dimer acid and diamine can be mentioned, for example, A polyamide resin with an amine number of 3-30 and a softening point of 90 degreeC or more is preferable. Specific examples of the polyamide resin include reaction products such as dimer acid, which is a dimer of fatty acids such as soybean oil, tung oil, and tall oil, and alkyldiamines such as ethylenediamine and diethylenetriamine.

前記ポリオレフィン樹脂としては、例えば、エチレン、プロピレン、ブチレン等のオレフィンの単独重合体および共重合体ならびにそれらの混合物を挙げることができ、軟化点が30〜60℃のポリオレフィン樹脂が好ましい。前記ポリオレフィン樹脂は、構成モノマーの一部として他の共重合可能なモノマーを含有してよい。他の共重合可能なモノマーとして、例えば、酢酸ビニル等のビニルエステル系モノマー、およびメチルアクリレート、エチルアクリレート、プロピルアクリレート、メチルメタクリレート、エチルメタクリレートおよびプロピルメタクリレート等のアルキルアクリレート系モノマー等が挙げられる。   Examples of the polyolefin resin include homopolymers and copolymers of olefins such as ethylene, propylene, and butylene, and mixtures thereof. Polyolefin resins having a softening point of 30 to 60 ° C. are preferable. The polyolefin resin may contain another copolymerizable monomer as a part of the constituent monomer. Examples of other copolymerizable monomers include vinyl ester monomers such as vinyl acetate, and alkyl acrylate monomers such as methyl acrylate, ethyl acrylate, propyl acrylate, methyl methacrylate, ethyl methacrylate, and propyl methacrylate.

なお、上記実施の形態では、収納体5として、上面側が開口された略箱型の樹脂などからなる筐体で構成した場合を述べたが、これに限るものではなく、図3に示すように、図1に示す収納体(収納体本体)5を上方から閉鎖する樹脂製などからなる蓋体15をさらに備えたものにも、同様に適用可能である。なお、蓋体15や収納体(収納体本体)5には、溶融状態の封止体6を導入する導入開口部16を設けるとよい。   In the above embodiment, the case has been described in which the housing 5 is configured by a housing made of a substantially box-shaped resin or the like whose upper surface is opened. However, the present invention is not limited to this, and as shown in FIG. 1 is also applicable to the one further provided with a lid 15 made of resin or the like for closing the storage body (storage body main body) 5 shown in FIG. The lid body 15 and the housing body (housing body body) 5 may be provided with an introduction opening 16 through which the molten sealing body 6 is introduced.

また、上記実施の形態では、収容体5の内部に電子部品2や回路基板3を配設して封止体6を射出した場合を述べたが、封止体6により電子部品2や回路基板3を覆うように供給すればよく、収容体5は必ずしも設けなくても差支えない。なお、図4(a)に示すように、収容体5を設けない場合には、図4(b)、(c)に示すように、金型10からキャビティ11内に突出自在のピンなどの保持用部品17、18を設けて、封止体6の射出開始時にはキャビティ11に保持用部品17、18を突出させて電子部品2や回路基板3を保持する(例えば、回路基板3の四隅部を上下から保持する)とともに射出終了時には保持用部品17、18をキャビティ11から退出するように構成すると好適である。この構成によれば、収容体5を設けなくても、キャビティ11に封止体6を射出する際に、保持用部品17、18により電子部品2や回路基板3を良好に位置決めできて、電子部品装置1を良好に製造することができる。   In the above embodiment, the case where the electronic component 2 and the circuit board 3 are arranged inside the housing 5 and the sealing body 6 is injected is described. However, the electronic body 2 and the circuit board are injected by the sealing body 6. 3 may be supplied so that the container 5 is not necessarily provided. As shown in FIG. 4 (a), when the container 5 is not provided, as shown in FIGS. 4 (b) and 4 (c), a pin or the like that can freely protrude from the mold 10 into the cavity 11 is used. Holding parts 17 and 18 are provided, and at the start of injection of the sealing body 6, the holding parts 17 and 18 protrude into the cavity 11 to hold the electronic component 2 and the circuit board 3 (for example, the four corners of the circuit board 3). It is preferable that the holding parts 17 and 18 be withdrawn from the cavity 11 at the end of injection. According to this configuration, the electronic component 2 and the circuit board 3 can be satisfactorily positioned by the holding components 17 and 18 when the sealing body 6 is injected into the cavity 11 without providing the housing body 5. The component device 1 can be manufactured satisfactorily.

また、封止体6として熱可塑性樹脂に混ぜる発泡剤組成物としては、単に発泡剤のみを用いてもよいが、これに限るものではない。例えば、前記発泡剤組成物として無機粒子、発泡剤およびバインダー成分からなるものを用いるとさらに好適である。この場合、前記発泡剤組成物に含有させる無機粒子としては、シリカ粒子、炭酸カルシウムおよびタルクの少なくとも一種を選択するとより好ましい。   Moreover, as a foaming agent composition mixed with a thermoplastic resin as the sealing body 6, although only a foaming agent may be used, it is not restricted to this. For example, it is more preferable to use a composition comprising inorganic particles, a foaming agent and a binder component as the foaming agent composition. In this case, it is more preferable to select at least one of silica particles, calcium carbonate, and talc as the inorganic particles to be contained in the foaming agent composition.

つまり、成形用樹脂としての熱可塑性樹脂に対して、発泡剤を直接混合すると、射出成形装置(図示せず)へ熱可塑性樹脂と発泡剤とを混合しながら投入した際に、射出成形装置に設けられたスクリュ圧縮部に至る前の、供給部あるいはホッパ口付近で、少なからず発泡剤の分解が起きて、本来の発泡剤の効果を、金型10(10A、10B)のキャビティ11内、つまり、収容体5に充填した封止体6では発揮させることが難しくなることがある。   That is, if the foaming agent is directly mixed with the thermoplastic resin as the molding resin, when the thermoplastic resin and the foaming agent are mixed and introduced into the injection molding apparatus (not shown), Before reaching the screw compression section provided, the foaming agent is decomposed not a little in the vicinity of the supply part or the hopper mouth, and the effect of the original foaming agent is obtained in the cavity 11 of the mold 10 (10A, 10B), In other words, it may be difficult to exhibit with the sealing body 6 filled in the container 5.

これに対処する方法として、封止体6の熱可塑性樹脂に混ぜる発泡剤組成物として、無機粒子、発泡剤およびバインダー成分からなるものを用いることで、射出成形を行うシリンダの内部などで発泡することを阻止して、発泡動作を金型10(10A、10B)のキャビティ11内で良好に行わせることができる。これにより、封止体6の、上記した発泡による作用効果を良好に得ることができる。   As a method for coping with this, as a foaming agent composition to be mixed with the thermoplastic resin of the sealing body 6, foaming is performed inside a cylinder for performing injection molding by using a composition composed of inorganic particles, a foaming agent and a binder component. This can be prevented and the foaming operation can be performed well in the cavity 11 of the mold 10 (10A, 10B). Thereby, the effect by the above-mentioned foaming of the sealing body 6 can be acquired favorably.

また、無機粒子の平均粒子径は特に限定されるものではないが、0.1μm以上、20μm以下であることが好ましく、0.5μm以上、15μm以下であることがより好ましく、1μm以上、10μm以下であることがさらに好ましい。平均粒子径が0.1μm未満であると分散性が劣り発泡成形体(封止体6)の衝撃強度が低下することがあり、20μmを超えると発泡成形体(封止体6)の表面外観が低下することがある。   The average particle diameter of the inorganic particles is not particularly limited, but is preferably 0.1 μm or more and 20 μm or less, more preferably 0.5 μm or more and 15 μm or less, and more preferably 1 μm or more and 10 μm or less. More preferably. When the average particle size is less than 0.1 μm, the dispersibility is poor and the impact strength of the foamed molded product (sealed body 6) may be reduced. When the average particle diameter exceeds 20 μm, the surface appearance of the foamed molded body (sealed body 6). May decrease.

無機粒子は、必要に応じてシランカップリング剤、チタネートカップリング剤、オルガノシロキサン等の反応性化合物によって表面処理をしてもよい。特にシランカップリング剤を好適に用いることができ、例えばピニルトリメトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、γ−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、γ−アミノプロピルトリメトキシシラン、γ−メノレカプトプロピルトリメトキシシラン等が挙げられる。   The inorganic particles may be surface-treated with a reactive compound such as a silane coupling agent, a titanate coupling agent, or an organosiloxane as necessary. In particular, a silane coupling agent can be preferably used. For example, pinyltrimethoxysilane, γ-glycidoxypropyltrimethoxysilane, γ-methacryloxypropyltrimethoxysilane, γ-aminopropyltrimethoxysilane, γ-menole. Examples include captopropyltrimethoxysilane.

なお、前記シリカ粒子は、SiOで表される二酸化ケイ素を主成分とするものであり、その製造方法により大別して、湿式法シリカと乾式法シリカの2つに分けられるが、何れも用いることができる。また、シリカ粒子のJ1SK5101で測定される吸油量は200ml/100g以下であることが好ましく、150ml/100gであることがより好ましく、100ml/100gであることがさらに好ましい。吸油量が200ml/l00gを超えると、発泡剤組成物をペレットに加工する際にバインダー成分がシリカ粒子に吸収され、バインダー成分の添加量を多くしなくてはならない。バインダー成分の配合が多くなることで、発泡剤組成物のペレットの扱いが悪くなったり、得られる発泡成形体(封止体6)の外観が損なわれたりすることがある。The silica particles are mainly composed of silicon dioxide represented by SiO 2 , and are roughly classified into two types, that is, wet method silica and dry method silica, depending on the production method. Can do. The oil absorption of the silica particles measured with J1SK5101 is preferably 200 ml / 100 g or less, more preferably 150 ml / 100 g, and even more preferably 100 ml / 100 g. When the oil absorption exceeds 200 ml / 100 g, the binder component is absorbed by the silica particles when the foaming agent composition is processed into pellets, and the amount of binder component added must be increased. When the amount of the binder component is increased, the handling of the pellet of the foaming agent composition may be deteriorated, or the appearance of the obtained foamed molded body (sealed body 6) may be impaired.

また、シリカ粒子のJ1S K6220で測定される嵩比重は0.2以上であることが好ましく、0.3以上であることがより好ましく、0.4以上であることがさらに好ましい。嵩比重が0.2未満であると、シリカ粒子の嵩が高すぎるため、発泡剤組成物のペレットとするときの加工性に問題が生じることがあり、また、発泡剤組成物のペレットそのもの硬さが不十分になることがあり、成形用樹脂と混合した時に壊れやすく、成形安定性が劣ることがある。   Further, the bulk specific gravity of silica particles measured by J1S K6220 is preferably 0.2 or more, more preferably 0.3 or more, and further preferably 0.4 or more. When the bulk specific gravity is less than 0.2, the bulk of the silica particles is too high, which may cause problems in workability when the foaming agent composition pellets are used, and the foaming agent composition pellets themselves are hard. May be insufficient, may be fragile when mixed with a molding resin, and may have poor molding stability.

また、発泡剤組成物のペレット中の上記無機粒子の配合割合は30〜80質量%である必要があり、35〜75質量%であることが好ましく、40〜60質量%であることがさらに好ましい。これにより、射出成形を行うシリンダの内部などで発泡することを阻止して、発泡動作を金型10(10A、10B)のキャビティ11内で良好に行わせることができる。   Further, the blending ratio of the inorganic particles in the pellet of the foaming agent composition needs to be 30 to 80% by mass, preferably 35 to 75% by mass, and more preferably 40 to 60% by mass. . Thereby, it is possible to prevent foaming inside the cylinder for injection molding and the like, and to perform the foaming operation well in the cavity 11 of the mold 10 (10A, 10B).

また、前記発泡剤としては、それ自体公知の無機発泡剤または有機発泡剤を用いることができる。発泡剤の具体例としては、重炭酸ナトリウム、重炭酸アンモニウム、炭酸ナトリウム、炭酸アンモニウム、アゾジカルボンアミド、N,N’−ジニトロソペンタメチレンテトラミン、ジニトロソテレフタルアミド、アゾビスイソブチロニトリル、アゾジカルボン酸バリウム、4,4’−オキシビスベンゼンスルホニルヒドラジド、トルエンスルホニルヒドラジド、またそれらの混合物などを挙げることができる。ただし、発泡時に分解ガスとして水蒸気を発生するものは、電子部品2に対し水分の影響を与えてしまうため好ましくない。したがって、分解ガスとして窒素ガス等不活性なガスを発生するものが好ましい。そのような発泡剤としては、アゾジカルボンアミド、4,4’−オキシビスベンゼンスルホニルヒドラジド等を用いることができる。 In addition, as the foaming agent, an inorganic foaming agent or an organic foaming agent known per se can be used. Specific examples of blowing agents include sodium bicarbonate, ammonium bicarbonate, sodium carbonate, ammonium carbonate, azodicarbonamide, N, N′-dinitrosopentamethylenetetramine, dinitrosotephthalamide, azobisisobutyronitrile, azo Examples thereof include barium dicarboxylate, 4,4′-oxybisbenzenesulfonyl hydrazide, toluenesulfonyl hydrazide, and mixtures thereof. However, it is not preferable that water vapor is generated as a decomposition gas at the time of foaming because the electronic component 2 is affected by moisture. Therefore, what generates inert gas, such as nitrogen gas, as decomposition gas is preferable. As such a foaming agent, azodicarbonamide, 4,4'-oxybisbenzenesulfonyl hydrazide, or the like can be used.

また、発泡剤を選択する上で重要なことは、発泡剤の分解温度を十分に考慮することである。発泡剤は所定の温度に達することで、発泡剤が分解し分解ガスが発生、発泡することになるが、封止層6を形成する熱可塑性樹脂として、所定の温度で所定の溶融粘度特性を有するものを用いる必要があるが、例えば、射出成形において射出時に特定の樹脂温度となるよう設定して熱可塑性樹脂を溶融させて成形を行う際に、含有する発泡剤が十分に分解し、分解ガスが発生していることが重要である。つまり、前記特定の樹脂温度が、発泡剤の分解温度よりも0〜70℃高いことが好ましく、5〜60℃高いことがより好ましく、10〜50℃高いことがさらに好ましい。樹脂温度が発泡剤の分解温度よりも低かった場合、発泡剤が分解せず熱可塑性樹脂を発泡させることができない。樹脂温度が(発泡剤の分解温度+70℃)よりも高かった場合、熱可塑性樹脂の熱劣化等が起き好ましくない。   Also, in selecting a foaming agent, it is important to fully consider the decomposition temperature of the foaming agent. When the foaming agent reaches a predetermined temperature, the foaming agent is decomposed and decomposed gas is generated and foamed. However, as a thermoplastic resin forming the sealing layer 6, the foaming agent has a predetermined melt viscosity characteristic at a predetermined temperature. It is necessary to use what has, but for example, when molding is performed by setting a specific resin temperature at the time of injection in injection molding to melt the thermoplastic resin, the foaming agent contained is sufficiently decomposed and decomposed It is important that gas is generated. That is, the specific resin temperature is preferably 0 to 70 ° C. higher than the decomposition temperature of the foaming agent, more preferably 5 to 60 ° C., and further preferably 10 to 50 ° C. When the resin temperature is lower than the decomposition temperature of the foaming agent, the foaming agent is not decomposed and the thermoplastic resin cannot be foamed. When the resin temperature is higher than (decomposition temperature of the foaming agent + 70 ° C.), the thermoplastic resin is thermally deteriorated, which is not preferable.

例えば、熱可塑性樹脂として共重合ポリエステルを用いた場合、樹脂温度は210〜260℃とし、発泡剤として前記アゾジカルボンアミド(分解温度:200〜220℃)を組み合わせて用いた場合は、熱可塑性樹脂の溶融粘度、発泡性、密着性、封止性、さらには配線被覆材との密着性をそれぞれバランス良く満足することができ、特に好ましく用いることができる。   For example, when a copolyester is used as the thermoplastic resin, the resin temperature is 210 to 260 ° C., and when the azodicarbonamide (decomposition temperature: 200 to 220 ° C.) is used in combination as a foaming agent, the thermoplastic resin is used. The melt viscosity, foamability, adhesion, sealing properties, and adhesion to the wiring coating material can be satisfied in a well-balanced manner, and can be particularly preferably used.

発泡剤の平均粒子径は、特には限定されないが、平均粒子径1〜40μmが好ましく、2〜30μmがより好ましい。また、発泡剤の粒度分布において、粒子径4μm以下の微粒子を実質的に含む場合に特に有効であり、粒子径2μm以下の微粒子を実質的に含む場合にさらに有効である。   The average particle diameter of the foaming agent is not particularly limited, but the average particle diameter is preferably 1 to 40 μm, and more preferably 2 to 30 μm. Further, in the particle size distribution of the foaming agent, it is particularly effective when it substantially contains fine particles having a particle diameter of 4 μm or less, and further effective when it substantially contains fine particles having a particle diameter of 2 μm or less.

発泡剤組成物のペレット中の上記発泡剤の配合割合は3〜30質量%である必要があり、5〜25質量%であることが好ましく、10〜20質量%であることがさらに好ましい。配合割合が3質量%未満であると、発泡体を成形する際にこの発抱剤組成物のペレットの添加量が多くなるため、得られる発泡成形体(封止体6)の衝撃強度が低下することがある。一方、30質量%を超えると、所定の発泡性能を得るためには、発泡剤組成物のペレットの添加量を少なくして用いる必要があり、これによって成形安定性が劣ることがある。また、スワールマーク、アパタ状凹凸が多く見られ表面外観が劣ることがある。   The blending ratio of the foaming agent in the pellet of the foaming agent composition needs to be 3 to 30% by mass, preferably 5 to 25% by mass, and more preferably 10 to 20% by mass. When the blending ratio is less than 3% by mass, the amount of pellets added to the emulsifier composition increases when the foam is molded, so that the impact strength of the resulting foam molded body (sealing body 6) decreases. There are things to do. On the other hand, when it exceeds 30 mass%, in order to obtain a predetermined foaming performance, it is necessary to reduce the amount of pellets added to the foaming agent composition, and this may result in poor molding stability. In addition, swirl marks and apatial irregularities are often seen, and the surface appearance may be inferior.

本発明で用いるバインダー成分としては、水、エタノール、エチレングリコール、グリセリン、流動パラフィン、パラフィンワックス、ポリオレブインワックス、ポリアルキレングリコールの末端変性物、リン酸エステルもしくは亜リン酸エステル類、高級脂肪酸エステル、高級脂肪酸金属塩、高級脂肪酸ビスアミド、高級脂肪族アミン類からなる群より選ばれる1種以上の化合物が挙げられる。特に、パラフィンワックス、ポリオレフィンワックス、高級脂肪酸エステル、高級脂肪酸金属塩、高級脂肪酸ビスアミドを好適に用いることができる。   Examples of the binder component used in the present invention include water, ethanol, ethylene glycol, glycerin, liquid paraffin, paraffin wax, polyolefin wax, polyalkylene glycol terminal modified product, phosphate ester or phosphite ester, higher fatty acid ester , One or more compounds selected from the group consisting of higher fatty acid metal salts, higher fatty acid bisamides, and higher aliphatic amines. In particular, paraffin wax, polyolefin wax, higher fatty acid ester, higher fatty acid metal salt, and higher fatty acid bisamide can be suitably used.

また、前記発泡剤組成物とはせず、発泡剤を単独で用いる場合には、さらに無機粒子を含有することができる。無機粒子の種類は特に制限はされないが、例えば、タルク、炭酸カルシウム、シリカ、マイカ、ハイドロタルサイド等が挙げられる。中でも、タルク、炭酸カルシウムは、発泡剤の分解および微細で気泡径がそろった独立気泡の生成をうながすために効果的であり、特に好ましい。   Moreover, when not using the said foaming agent composition but using a foaming agent independently, an inorganic particle can be contained further. The type of inorganic particles is not particularly limited, and examples thereof include talc, calcium carbonate, silica, mica, hydrotalcide and the like. Among these, talc and calcium carbonate are particularly preferable because they are effective in promoting the decomposition of the foaming agent and the generation of closed cells having fine and uniform cell diameters.

また、封止層6を形成する樹脂には、熱伝導性粒子も含有してもよい。熱伝導性粒子の種類は特に制限はされないが、例えば、天然黒鉛、カーボンブラック、ケッチェンブラック、アルミナ、シリカ、窒化ホウ素、炭化ケイ素、窒化アルミニウム等が挙げられる。この内、カーボン等導電性を有するものは、封止する回路基板3で短絡等の問題を引き起こすため好ましくない。一方でアルミナ等、非導電性であって熱伝導性を有するものは特に好ましく使用ができる。このような処方を行うことで、電子部品2が発熱を伴った場合、効果的に放熱ができる。このような処方が難しい場合は、回路基板3にヒートシンクを接合し、ヒートシンクの他端が露出するようにして封止を行うこともできる。   Further, the resin forming the sealing layer 6 may also contain thermally conductive particles. The kind of the heat conductive particles is not particularly limited, and examples thereof include natural graphite, carbon black, ketjen black, alumina, silica, boron nitride, silicon carbide, and aluminum nitride. Of these, carbon and other conductive materials are not preferable because they cause problems such as short circuits in the circuit board 3 to be sealed. On the other hand, non-conductive and heat conductive materials such as alumina can be used particularly preferably. By performing such a prescription, when the electronic component 2 generates heat, heat can be effectively dissipated. When such prescription is difficult, sealing can be performed by joining a heat sink to the circuit board 3 and exposing the other end of the heat sink.

また、上記実施の形態では、封止体6を金型10のキャビティ11へ溶融状態で射出する際および、この後、封止体6がキャビティ11内で発泡する際の何れの期間においても、図2(c)、図2(d)に示すように、固定金型10Aに可動金型10Bを常に合わせて閉じた状態に保持した場合を述べたが、これに限るものではない。   In the above embodiment, when the sealing body 6 is injected into the cavity 11 of the mold 10 in a molten state, and thereafter, in any period when the sealing body 6 foams in the cavity 11, As shown in FIGS. 2C and 2D, the case where the movable mold 10 </ b> B is always aligned with the fixed mold 10 </ b> A and held in the closed state is described, but the present invention is not limited to this.

例えば、図5(c)に示すように、封止体6をキャビティ11に射出する際は、可動金型10Bを固定金型10Aに合わせて閉じた状態に維持する一方、この後、図5(d)に示すように、封止体6が発泡する際には、可動金型10Bを後退させ(図5(d)に示す場合においては上昇させる)、いわゆる射出コアバック動作を行わせる。   For example, as shown in FIG. 5C, when the sealing body 6 is injected into the cavity 11, the movable mold 10B is kept closed in accordance with the fixed mold 10A. As shown in (d), when the sealing body 6 is foamed, the movable mold 10B is retracted (in the case shown in FIG. 5 (d), raised) to perform a so-called injection core back operation.

このように、封止体6が発泡する際に、可動金型10Bを後退させて、発泡した気体が封止体6の表面部から外部に放散可能な状態とすると、封止体6の表層部にスキン層6aを形成することができて、発泡成形を良好に行うことができるだけでなく、その表面の外観が優れた封止体6を形成することができる利点がある。   Thus, when the sealing body 6 is foamed, the movable mold 10B is retracted so that the foamed gas can be dissipated from the surface portion of the sealing body 6 to the outside. The skin layer 6a can be formed on the portion, and not only foam molding can be performed satisfactorily but also the sealing body 6 having an excellent surface appearance can be formed.

また、上記実施の形態では、電子部品装置1に回路基板3や電線4が設けられている場合を述べたが、これに限るものではなく、回路基板3や電線4が設けられていないものにも同様の製造方法で電子部品装置1を良好に製造可能であることはもちろんである。   Moreover, in the said embodiment, although the case where the circuit board 3 and the electric wire 4 were provided in the electronic component apparatus 1 was described, it is not restricted to this, The circuit board 3 and the electric wire 4 are not provided. Of course, the electronic component device 1 can be satisfactorily manufactured by the same manufacturing method.

本発明の電子部品装置の製造方法は、上記課題を解決するもので、電子部品を包み込むように、溶融させた封止体を供給して、前記電子部品が前記封止体と一体化するように覆う一体化工程を有し、前記封止体は、熱可塑性樹脂に発泡剤組成物が加えられて前記一体化工程において発泡されるものであって、前記熱可塑性樹脂は、ポリアミド系樹脂またはポリエステル系樹脂であり、温度200℃せん断速度1000(1/s)における溶融粘度ηAが10dPa・s以上850dPa・s未満であり温度200℃、せん断速度1000(1/s)における伸長粘度ηBとの関係(ηB/ηA)が、3倍以上であることを特徴とする。 The method of manufacturing an electronic component device according to the present invention solves the above-described problem, and supplies a molten sealing body so as to enclose the electronic component so that the electronic component is integrated with the sealing body. And the sealing body is foamed in the integration step by adding a foaming agent composition to a thermoplastic resin, and the thermoplastic resin is a polyamide resin or a polyester resin, a temperature 200 ° C., shear speed 1 000 (1 / s) a melt viscosity at ηA is 10dPa · s or more and less than 850dPa · s, the temperature 200 ° C., at a shear rate of 1000 (1 / s) The relationship (ηB / ηA) with the extensional viscosity ηB is 3 times or more .

また、本発明の電子部品装置は、電子部品と、前記電子部品を覆う封止体とを有し、
前記封止体が、発泡された熱可塑性樹脂で形成され、前記熱可塑性樹脂は、ポリアミド系樹脂またはポリエステル系樹脂であり、温度200℃せん断速度1000(1/s)における溶融粘度ηAが10dPa・s以上850dPa・s未満であり温度200℃、せん断速度1000(1/s)における伸長粘度ηBとの関係(ηB/ηA)が、3倍以上であることを特徴とする。
The electronic component device of the present invention has an electronic component and a sealing body that covers the electronic component,
The sealing body is formed of a foamed thermoplastic resin, the thermoplastic resin is a polyamide resin or a polyester resin, the melt viscosity at 200 ° C., shear speed 1 000 (1 / s) ηA Is 10 dPa · s or more and less than 850 dPa · s , and the relationship (ηB / ηA) with the elongational viscosity ηB at a temperature of 200 ° C. and a shear rate of 1000 (1 / s) is 3 times or more .

また、本発明の前記熱可塑性樹脂は、ポリアミド系樹脂またはポリエステル系樹脂であり、温度200℃せん断速度1000(1/s)における溶融粘度ηAが10dPa・s以上850dPa・s未満であり温度200℃、せん断速度1000(1/s)における伸長粘度ηBとの関係(ηB/ηA)が、3倍以上であることを特徴とする。 Further, the thermoplastic resin of the present invention is a polyamide resin or a polyester resin, a temperature 200 ° C., shear speed 1 000 (1 / s) a melt viscosity at ηA is 10dPa · s or more, less than 850dPa · s There, the temperature 200 ° C., the relationship between the elongational viscosity ItaB at a shear rate of 1000 (1 / s) (ηB / ηA) , characterized in that at least three times.

Claims (12)

電子部品を包み込むように、溶融させた封止体を供給して、前記電子部品が前記封止体と一体化するように覆う一体化工程を有し、
前記封止体は、熱可塑性樹脂に発泡剤組成物が加えられて前記一体化工程において発泡されるものであって、熱可塑性樹脂の、200℃でせん断速度が1000(1/s)の時の溶融粘度が10dPa・s以上850dPa・s未満、かつショアD硬度が60度未満であることを特徴とする電子部品装置の製造方法。
Supplying a melted sealing body so as to enclose the electronic component, and having an integration step of covering the electronic component so as to be integrated with the sealing body,
The sealing body is obtained by adding a foaming agent composition to a thermoplastic resin and foaming in the integration step. When the thermoplastic resin has a shear rate of 1000 (1 / s) at 200 ° C. The melt viscosity is 10 dPa · s or more and less than 850 dPa · s, and the Shore D hardness is less than 60 degrees.
前記熱可塑性樹脂の伸長粘度が、前記溶融粘度よりも大きいことを特徴とする請求項1記載の電子部品装置の製造方法。   2. The method of manufacturing an electronic component device according to claim 1, wherein the thermoplastic resin has an extensional viscosity higher than the melt viscosity. 前記熱可塑性樹脂の伸長粘度が、溶融粘度の3倍以上であることを特徴とする請求項2記載の電子部品装置の製造方法。   3. The method of manufacturing an electronic component device according to claim 2, wherein the thermoplastic resin has an extensional viscosity of 3 times or more of a melt viscosity. 前記電子部品を収納体に収納し、
前記一体化工程において、前記電子部品を収納した収納体に、前記封止体を溶融状態で供給して前記電子部品を覆うことを特徴とする請求項1〜3の何れか1項に記載の電子部品装置の製造方法。
Storing the electronic component in a storage body;
The said integration process WHEREIN: The said sealing body is supplied in the molten state to the storage body which accommodated the said electronic component, and the said electronic component is covered, The any one of Claims 1-3 characterized by the above-mentioned. Manufacturing method of electronic component device.
前記一体化工程において、電子部品を射出成形用の金型のキャビティに配設し、前記キャビティに、前記封止体を溶融状態で射出することを特徴とする請求項1〜4の何れか1項に記載の電子部品装置の製造方法。   The electronic component is disposed in a cavity of a mold for injection molding in the integration step, and the sealing body is injected into the cavity in a molten state. The manufacturing method of the electronic component apparatus of description. 電子部品または電子部品が装着された回路基板を、前記電子部品を収納する収納体に取り付けた固定用部品により固定し、または、前記封止体の射出開始時には金型のキャビティに突出して前記電子部品および前記回路基板の少なくとも一方を保持するとともに射出終了時にはキャビティから退出する保持用部品により保持することを特徴とする請求項5に記載の電子部品装置の製造方法。   An electronic component or a circuit board on which the electronic component is mounted is fixed by a fixing component attached to a housing for storing the electronic component, or protrudes into a mold cavity at the start of injection of the sealing body and the electronic component 6. The method of manufacturing an electronic component device according to claim 5, wherein at least one of the component and the circuit board is held and held by a holding component that exits from the cavity at the end of injection. 前記発泡剤組成物が、無機粒子、発泡剤およびバインダー成分からなることを特徴とする請求項1〜6の何れか1項に記載の電子部品装置の製造方法。   The said foaming agent composition consists of an inorganic particle, a foaming agent, and a binder component, The manufacturing method of the electronic component apparatus of any one of Claims 1-6 characterized by the above-mentioned. 前記金型が、固定金型と可動金型とから構成され、
キャビティに電子部品を配設して前記可動金型を閉じた状態で、前記封止体をキャビティに射出し、
この後、前記封止体が発泡する際に、可動金型を後退させることを特徴とする請求項5に記載の電子部品装置の製造方法。
The mold is composed of a fixed mold and a movable mold,
In a state where electronic parts are arranged in the cavity and the movable mold is closed, the sealing body is injected into the cavity,
6. The method of manufacturing an electronic component device according to claim 5, wherein the movable mold is moved backward when the sealing body is foamed.
電子部品と、前記電子部品を覆う封止体とを有し、
前記封止体が、発泡された熱可塑性樹脂で形成され、
前記熱可塑性樹脂の、200℃でせん断速度が1000(1/s)の時の溶融粘度が10dPa・s以上850dPa・s未満、かつショアD硬度が60度未満である
ことを特徴とする電子部品装置。
An electronic component and a sealing body covering the electronic component;
The sealing body is formed of a foamed thermoplastic resin;
An electronic component characterized in that the thermoplastic resin has a melt viscosity of 10 dPa · s or more and less than 850 dPa · s at a shear rate of 1000 (1 / s) at 200 ° C. and a Shore D hardness of less than 60 degrees. apparatus.
前記電子部品を内部に収納する収納体を有し、
前記収納体内において前記電子部品を覆った状態で、前記封止体が配設されていることを特徴とする請求項9に記載の電子部品装置。
A storage body for storing the electronic component therein;
The electronic component device according to claim 9, wherein the sealing body is disposed in a state in which the electronic component is covered in the storage body.
電子部品が回路基板に装着され、前記電子部品または前記回路基板に電線がその接続部で接続され、電線の接続部側も前記封止体により覆われていることを特徴とする請求項9または10に記載の電子部品装置。   The electronic component is mounted on a circuit board, an electric wire is connected to the electronic component or the circuit board at a connecting portion, and the connecting portion side of the electric wire is also covered with the sealing body. The electronic component device according to 10. 前記封止体に、無機粒子、発泡剤およびバインダー成分を有する発泡剤組成物が含まれていることを特徴とする請求項9〜11の何れか1項に記載の電子部品装置。   The electronic component device according to claim 9, wherein the sealing body includes a foaming agent composition having inorganic particles, a foaming agent, and a binder component.
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Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR3046903B1 (en) * 2016-01-19 2019-08-16 Valeo Comfort And Driving Assistance ELECTRONIC SEALED DEVICE AND METHOD FOR OBTAINING THE SAME
JP6495368B2 (en) 2017-04-19 2019-04-03 立山科学工業株式会社 Electronic module
JP6844455B2 (en) 2017-07-04 2021-03-17 株式会社オートネットワーク技術研究所 Circuit equipment
JP6883260B2 (en) * 2017-07-04 2021-06-09 株式会社オートネットワーク技術研究所 Circuit equipment
DE102018206977A1 (en) * 2018-05-04 2019-11-07 Robert Bosch Gmbh Control housing for a control unit
US20210015512A1 (en) * 2019-07-16 2021-01-21 Covidien Lp Sensor encapsulating assembly
JP7331570B2 (en) * 2019-09-12 2023-08-23 オムロン株式会社 Electronics, contactless switches, and photoelectric sensors
FR3103972B1 (en) * 2019-12-03 2022-07-15 Jtekt Europe Sas Electrical connection device with waterproof material

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3204277B2 (en) * 1992-12-22 2001-09-04 共同印刷株式会社 IC card manufacturing method and IC card
JP3238693B2 (en) * 1995-06-14 2001-12-17 パイオニア株式会社 Speaker diaphragm by injection foam molding
JPH10270602A (en) * 1997-03-27 1998-10-09 Fujitsu Ten Ltd Electronic circuit device, method of forming sealing layer thereof, circuit board and die for forming the sealing layer
JP3553559B2 (en) * 2001-09-18 2004-08-11 東洋紡績株式会社   Polyester resin composition for molding and molded article using the same

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