JPWO2014125815A1 - 散乱トモグラフィ方法および散乱トモグラフィ装置 - Google Patents
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Abstract
Description
本発明に係る実施の形態について説明する前に、本発明の基礎となった技術について説明する。
<センサアレイの構成>
実施の形態1では、散乱トモグラフィ方法を行うためのセンサとして、一次元センサアレイを用いる場合について説明する。一次元センサアレイは、一次元的に配置された送信アンテナ素子および受信アンテナ素子(リニアアレイアンテナ)で構成されるセンサアレイである。
図4は、図3に係るマルチパスアレイレーダ20の動作を示すフローチャート図である。
図5および図6は、本実施の形態に係る散乱トモグラフィ方法の原理を説明するための解析モデルである。以下、図5および図6に示すモデルを解析モデルとして、センサ部30が一次元センサアレイである場合の映像化関数の導出について説明する。
図5により、r1から出た波動が点ξで反射して点r2へ戻ってくる状況を考える。周波数ωが一定という条件で、波動の送信点r1と受信点r2がある拘束条件を満たしながらx断面Dの内部を自由に動く。このとき得られるデータをG(r1,r2,ω)と書くと、この関数は領域内の反射点の分布に関係したものとなる。ここで、ωは角周波数であり、ω=2πfである。G(r1,r2,ω)は、全ての点ξからの反射信号の和であり、領域内には多くの反射点があるので、G(r1,r2,ω)は次の(式1)のように書くことができる。
次に、上記した微分作用素を求める方法について説明する。図6〜図8は、微分作用素を求める方法について説明するための解析モデルである。
次に、上記した(式24)の解を求める。すなわち、図8に示すように、断面曲面S上の点PI,PJで測定されたデータからxy面(平面z=0)上の点での近似データを求める。
次に、上記した散乱トモグラフィ方法により得られる再構成画像について説明する。ここでは、図9に示すモデルを解析モデルとした再構成画像について説明する。
次に、本発明の第2の実施の形態について説明する。
図14および図15は、本実施の形態に係る散乱トモグラフィ方法の原理を説明するための解析モデルである。以下、図14および図15に示すモデルを解析モデルとして、マルチパスアレイレーダのセンサ部が二次元センサアレイである場合の映像化関数の導出について説明する。
図14により、r1から出た波動が点ξで反射して点r2へ戻ってくる状況を考える。周波数ωが一定という条件で、波動の送信点r1と受信点r2がある拘束条件を満たしながら曲面上を自由に動く。このとき得られるデータをG(r1,r2,ω)と書くと、この関数は領域内の反射点の分布に関係したものとなる。このとき、ωは角周波数=2πfである。G(r1,r2,ω)は、全ての点ξからの反射信号の和であり、領域内に多くの反射点があるので、G(r1,r2,ω)は、実施の形態1に示した(式1)と同様に考えることができる。
以下、この微分作用素を求める方法について述べる。本実施の形態に係る解析モデルでは、実施の形態1の解析モデルとは異なり、送信点および受信点がある曲面上を動くということである。曲線上ではr1、r2のx,y,z座標が必ずしも等しくない。具体的にはr1=(x1,y1,z1)、r2=(x2,y2,z2)である。関数Gは実施の形態1に示した(式4)と同様に定義され、r1=(x1,y1,z1)、r2=(x2,y2,z2)から関数G(r1,r2,ω)の満たす方程式を求めると、以下の(式37)のようになる。なお、(式37)に示すφは、本発明における物体の内部情報に関する画像を再構成するための関数(解)、すなわち、本発明における(式D)に定義される関数に相当する。
次に、上記した(式50)の解を求める。すなわち、曲面S上の点PI,PJで測定されたデータから平面z=0上の任意の点での近似データを求める。
20 マルチパスアレイレーダ(散乱トモグラフィ装置)
30 センサ部
31 送信部
32 受信部
36 送信アンテナ素子
37 受信アンテナ素子
40 画像再構成部
50 モニタ
特開2009−288129号公報
特開2004−512117号公報
次に、上記した(式22)の解を求める。すなわち、図8に示すように、断面曲線S上の点PI,PJで測定されたデータからxy面(平面z=0)上の点での近似データを求める。
以下、この微分作用素を求める方法について述べる。本実施の形態に係る解析モデルでは、実施の形態1の解析モデルとは異なり、送信点および受信点がある曲面上を動くということである。曲面上ではr1、r2のx,y,z座標が必ずしも等しくない。具体的にはr1=(x1,y1,z1)、r2=(x2,y2,z2)である。関数Gは実施の形態1に示した(式4)と同様に定義され、r1=(x1,y1,z1)、r2=(x2,y2,z2)から関数G(r1,r2,ω)の満たす方程式を求めると、以下の(式37)のようになる。なお、(式37)に示すφは、本発明における物体の内部情報に関する画像を再構成するための関数(解)、すなわち、本発明における(式D)に定義される関数に相当する。
Claims (10)
- 物体に放射した波動の散乱波を解析する散乱トモグラフィ方法であって、
前記波動を、曲面上に配置された複数の送信アンテナ素子から前記物体に放射するステップと、
前記散乱波を、曲面上に配置された複数の受信アンテナ素子により受信するステップと、
前記受信アンテナ素子により受信した散乱波を示す散乱波データを境界条件として用い、前記物体の内部情報に関する画像を再構成するステップとを含み、
前記画像を再構成するステップにおいて、
前記物体の内部情報に関する画像を再構成するための、(式A)に定義される関数φをあらかじめ設定し、
前記関数φの漸近式が満たす、(式B)に定義される方程式を構築し、
測定により得られた前記散乱波データから、前記方程式を解くことにより得られる、(式C)に定義される映像化関数ρを導出し、
前記映像化関数ρにより、前記物体の内部情報に関する画像を再構成する
散乱トモグラフィ方法。
- 物体に放射した波動の散乱波を解析する散乱トモグラフィ方法であって、
前記波動を、曲面上に配置された複数の送信アンテナ素子から前記物体に放射するステップと、
前記散乱波を、曲面上に配置された複数の受信アンテナ素子により受信するステップと、
前記受信アンテナ素子により受信した散乱波を示す散乱波データから、前記物体の内部情報に関する画像を再構成するステップとを含み、
前記画像を再構成するステップにおいて、
前記物体の内部情報に関する画像を再構成するための、(式D)に定義される関数φをあらかじめ設定し、
前記関数φの漸近式が満たす、(式E)に定義される方程式を構築し、
測定により得られた前記散乱波データから、前記方程式を解くことにより得られる、(式F)に定義される映像化関数ρを導出し、
前記映像化関数ρにより、前記物体の内部情報に関する画像を再構成する
散乱トモグラフィ方法。
- 前記映像化関数は、高速フーリエ変換を用いて導出される
請求項1または2に記載の散乱トモグラフィ方法。 - 前記波動は、電磁波または超音波である
請求項1〜3のいずれか1項に記載の散乱トモグラフィ方法。 - 前記波動は、パルス波または所定の周波数を有する周期波である
請求項1〜4のいずれか1項に記載の散乱トモグラフィ方法。 - 物体に放射した波動の散乱波を解析する散乱トモグラフィ装置であって、
曲面上に配置され、物体に波動を放射する複数の送信アンテナ素子と、
曲面上に配置され、前記放射された波動が前記物体において散乱した散乱波を受信する複数の受信アンテナ素子と、
前記受信した散乱波を示す散乱波データから、前記物体の内部情報に関する画像を再構成する画像再構成部とを備え、
前記画像再構成部は、
前記物体の内部情報に関する画像を再構成するための、(式A)に定義される関数φをあらかじめ設定し、
前記関数φの漸近式が満たす、(式B)に定義される方程式を構築し、
測定により得られた前記散乱波データから、前記方程式を解くことにより得られる、(式C)に定義される映像化関数ρを導出し、
前記映像化関数ρにより、前記物体の内部情報に関する画像を再構成する
散乱トモグラフィ装置。
- 物体に放射した波動の散乱波を解析する散乱トモグラフィ装置であって、
曲面上に配置され、物体に波動を放射する複数の送信アンテナ素子と、
曲面上に配置され、前記放射された波動が前記物体において散乱した散乱波を受信する複数の受信アンテナ素子と、
前記受信した散乱波を示す散乱波データから、前記物体の内部情報に関する画像を再構成する画像再構成部とを備え、
前記画像再構成部は、
前記物体の内部情報に関する画像を再構成するための、(式D)に定義される関数φをあらかじめ設定し、
前記関数φの漸近式が満たす、(式E)に定義される方程式を構築し、
測定により得られた前記散乱波データから、前記方程式を解くことにより得られる、(式F)に定義される映像化関数ρを導出し、
前記映像化関数ρにより、前記物体の内部情報に関する画像を再構成する
散乱トモグラフィ装置。
- 前記画像再構成部は、高速フーリエ変換を用いて前記映像化関数を導出する
請求項6または7に記載の散乱トモグラフィ装置。 - 前記波動は、電磁波または超音波である
請求項6〜8のいずれか1項に記載の散乱トモグラフィ装置。 - 前記波動は、パルス波または所定の周波数を有する周期波である
請求項6〜9のいずれか1項に記載の散乱トモグラフィ装置。
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WO2019059632A1 (ko) * | 2017-09-25 | 2019-03-28 | 한국과학기술원 | 프리즘을 이용한 초분광 영상 재구성 방법 및 시스템 |
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EP4033228A4 (en) | 2019-09-17 | 2023-10-18 | Integral Geometry Science Inc. | DIFFUSION TOMOGRAPHY DEVICE AND DIFFUSION TOMOGRAPHY METHOD |
CN112763516A (zh) * | 2020-12-23 | 2021-05-07 | 铁科润诚成都工程技术咨询有限公司 | 一种隧道立体重建成像方法、系统及其应用 |
KR20240019106A (ko) | 2021-06-11 | 2024-02-14 | 가부시키가이샤 인테그랄 지오메트리 사이언스 | 영상화 장치 및 영상화 방법 |
JPWO2022265017A1 (ja) | 2021-06-17 | 2022-12-22 | ||
CN115144856B (zh) * | 2022-09-05 | 2022-11-18 | 中国人民解放军国防科技大学 | 极化雷达空间目标抛物面天线参数反演方法与装置 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0854379A (ja) * | 1994-08-12 | 1996-02-27 | Yukio Kagawa | 画像信号処理方法及び装置 |
JPH08304538A (ja) * | 1995-05-12 | 1996-11-22 | Oki Electric Ind Co Ltd | 音波伝搬時間測定値の補正方法 |
JPH10504893A (ja) * | 1994-05-26 | 1998-05-12 | ザ・カロライナス・ハート・インスティテュート | マイクロウェーブ断層撮影法の分光学のシステムおよび方法 |
US6005916A (en) * | 1992-10-14 | 1999-12-21 | Techniscan, Inc. | Apparatus and method for imaging with wavefields using inverse scattering techniques |
JP2004141447A (ja) * | 2002-10-25 | 2004-05-20 | Japan Science & Technology Agency | 反射透過型超音波逆散乱ct装置 |
US20060241409A1 (en) * | 2005-02-11 | 2006-10-26 | Winters David W | Time domain inverse scattering techniques for use in microwave imaging |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4598366A (en) * | 1982-11-12 | 1986-07-01 | Schlumberger Technology Corporation | Diffraction tomography systems and methods with arbitrary source and detector array surfaces |
WO1995028883A1 (en) | 1994-04-25 | 1995-11-02 | Thermotrex Corporation | Acoustic imaging device |
DE69726869T2 (de) | 1996-06-26 | 2004-10-28 | The University Of Utah Research Foundation, Salt Lake City | Verfahren und apparat zur bilderzeugung mittels breitbandiger elektromagnetischer holographie |
US6876878B2 (en) | 1996-06-26 | 2005-04-05 | University Of Utah Research Foundation | Medical broad band electromagnetic holographic imaging |
US7550969B2 (en) | 1997-06-26 | 2009-06-23 | University Of Utah Research Foundation | Security screening and inspection based on broadband electromagnetic holographic imaging |
FR2815723B1 (fr) | 2000-10-24 | 2004-04-30 | Thomson Csf | Procede systeme et sonde pour l'obtention d'images par l'intermediaire d'ondes emises par une antenne apres reflexion de ces ondes au niveau d'un ensemble servant de cible |
US20040167396A1 (en) * | 2003-02-25 | 2004-08-26 | The Regents Of The University Of California | Quantitative full aperture tomography imaging system and method |
JP2007177656A (ja) | 2005-12-27 | 2007-07-12 | Toyota Motor Corp | 内燃機関 |
JP2009276319A (ja) | 2008-05-19 | 2009-11-26 | Choonpa Zairyo Shindan Kenkyusho:Kk | 空気超音波診断装置 |
JP4839338B2 (ja) | 2008-05-30 | 2011-12-21 | 株式会社日立製作所 | 超音波探傷装置及び方法 |
US9724010B2 (en) * | 2010-07-08 | 2017-08-08 | Emtensor Gmbh | Systems and methods of 4D electromagnetic tomographic (EMT) differential (dynamic) fused imaging |
-
2014
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-
2018
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Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6005916A (en) * | 1992-10-14 | 1999-12-21 | Techniscan, Inc. | Apparatus and method for imaging with wavefields using inverse scattering techniques |
JPH10504893A (ja) * | 1994-05-26 | 1998-05-12 | ザ・カロライナス・ハート・インスティテュート | マイクロウェーブ断層撮影法の分光学のシステムおよび方法 |
JPH0854379A (ja) * | 1994-08-12 | 1996-02-27 | Yukio Kagawa | 画像信号処理方法及び装置 |
JPH08304538A (ja) * | 1995-05-12 | 1996-11-22 | Oki Electric Ind Co Ltd | 音波伝搬時間測定値の補正方法 |
JP2004141447A (ja) * | 2002-10-25 | 2004-05-20 | Japan Science & Technology Agency | 反射透過型超音波逆散乱ct装置 |
US20060241409A1 (en) * | 2005-02-11 | 2006-10-26 | Winters David W | Time domain inverse scattering techniques for use in microwave imaging |
Non-Patent Citations (3)
Title |
---|
木村建次郎、美馬勇輝、大藪範昭、稲男健、木村憲明: ""トンネル磁気抵抗効果素子を用いた高分解能コンクリート内部鉄筋検査技術に関する研究"", 日本非破壊検査協会講演大会講演概要集, vol. 平成24年度春期, JPN6014019805, 22 May 2012 (2012-05-22), JP, pages 89 - 92, ISSN: 0003671092 * |
竹中 隆: ""マイクロ波トモグラフィ"", 電子情報通信学会技術研究報告, vol. 111, no. 341, JPN6017041252, 2011, JP, pages 49 - 54, ISSN: 0003671094 * |
竹中 隆: ""最適化手法にもとづく逆散乱解析"", 電子情報通信学会2011年エレクトロニクスソサイエティ大会講演論文集1, JPN6017041250, 2011, JP, pages 1 - 2, ISSN: 0003671093 * |
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