JPWO2014042221A1 - 成分分析装置 - Google Patents

成分分析装置 Download PDF

Info

Publication number
JPWO2014042221A1
JPWO2014042221A1 JP2014535593A JP2014535593A JPWO2014042221A1 JP WO2014042221 A1 JPWO2014042221 A1 JP WO2014042221A1 JP 2014535593 A JP2014535593 A JP 2014535593A JP 2014535593 A JP2014535593 A JP 2014535593A JP WO2014042221 A1 JPWO2014042221 A1 JP WO2014042221A1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical system
fiber
sample
system head
pressure
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2014535593A
Other languages
English (en)
Inventor
ブレア ソーントン
ブレア ソーントン
哲夫 作花
哲夫 作花
孝一 大木
孝一 大木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
OK LAB. CO. LTD.
Kyoto University
University of Tokyo NUC
Original Assignee
OK LAB. CO. LTD.
Kyoto University
University of Tokyo NUC
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by OK LAB. CO. LTD., Kyoto University, University of Tokyo NUC filed Critical OK LAB. CO. LTD.
Publication of JPWO2014042221A1 publication Critical patent/JPWO2014042221A1/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/71Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited
    • G01N21/718Laser microanalysis, i.e. with formation of sample plasma
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06Illumination; Optics
    • G01N2201/061Sources
    • G01N2201/06113Coherent sources; lasers
    • G01N2201/0612Laser diodes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/08Optical fibres; light guides
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/08Optical fibres; light guides
    • G01N2201/0833Fibre array at detector, resolving

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)

Abstract

成分分析装置は、試料の成分を分析する装置であって、レーザ光源、成分分析手段及び収容部を含む本体と、試料に対向するように配置される光学系ヘッドと、レーザ光源から出射されたレーザ光を光学系ヘッドに導くために、収容部から光学系ヘッドにまで延設された貫通耐圧機構付ファイバとを有する。収容部は、耐圧機能を有すると共にレーザ光源及び成分分析手段が収められる。光学系ヘッドは、貫通耐圧機構付ファイバから出射されるレーザ光を試料に照射すると共にレーザ光の照射により試料において発生したプラズマ発光光を貫通耐圧機構付ファイバに再入射させるミラー系を含む。成分分析手段は、貫通耐圧機構付ファイバに再入射したプラズマ発光光を分光分析する。

Description

本発明は、特に海底、湖底又は川底等の水中環境において試料の成分分析をより効率的に行える成分分析装置に関する。
地球表層の7割以上は水に覆われており、水中環境は私たちの生活と密接な関わりをもっている。我々が利用できるエネルギー資源や鉱物資源、及び環境汚染などの問題を把握する上で、海底、湖底及び川底の調査を実施することが重要である。
多くの分野では水及び水中の固体物質の成分分析が必要とされており、現状では調査域からサンプルを取得し、陸上で分析を行う事によってサンプルの成分分析が実施されている。しかし、このような手法では時間及びコストがかかり、リアルタイムに分析の結果が得られないうえ、サンプルを水中から陸上に引き揚げる際に不純物がサンプルに混合するおそれも懸念される。
そこで、水中で探査を行うことが必要となるが、この水中探査は以下の理由による困難性を伴なう。
困難性1:深い水中環境では水圧が高いので、防水及び耐圧性が要求される。また、深い水中環境における物理条件は、高い水圧がかかっているので地上とは異なる物理条件となるため、深い水中環境における測定方法や装置の仕様を地上のそれらと変えなければならない場合が発生する。
困難性2:水中では、人間が直接探査できる範囲が限られるため、多くの場合は、潜水艇を用いて探査を行うことになる。装置や機器の操作や情報収集を、遠隔操作により行うことができたり、ロボットの直接操作によりできたりしなければならない。
困難性3:海底等の水中環境では電波は伝達しにくいので通信手段がケーブルや音波になるため、ある程度、探査装置内で自律的に動作、測定、及びデータの収集ができなければならない。
従来は、水や、水中の堆積物又は岩石等をサンプルとして陸上に持ち帰り、陸上において質量分析器等を用いてサンプルの成分を分析するのが一般的であった。陸上では、ICP(Inductively Coupled Plasma)発光分光分析及び質量分析等の高精度の成分分析を行うことができるため、サンプルの成分分析を詳細に行うことが可能である。
しかし、サンプルを陸に上げるため、調査域が限られ、時間と費用も掛かる。また、採取時にはサンプルの成分が未知のため、調査計画への情報のフィードバックができないので、効率的に調査を行う事が困難となる。さらに、サンプルを陸上に引き揚げる際に不純物がサンプルに混合するおそれも懸念される。
そこで、サンプリング手法に代替する分析技術として、LIBS(Laser Induced Breakdown Spectroscopy)の手法を用い、水等の液体及び液体中の固体物に含まれる複数の元素成分を In situで測定可能な装置が提起されている。
LIBSを用いた成分分析には、以下のような利点がある。発光分光分析に基づいているため、複数の元素を同時に検出することが可能であり、液体及び固体物質を直接分析することが可能であるため、サンプルの前処理が不要である。また、分析測定機器そのものもコンパクトにできる。よって、水中での探査でもその場で成分分析ができるのがLIBSの大きな利点である。しかしながら、海底、湖底又は川底などの水中環境では、水中探査の困難性の要因を克服しないと、実測できない問題が多々存在する。
図1に従来の典型的なLIBS分析装置(後記の非特許文献1に基づく装置)を示す。
パルスレーザ1から出たパルスのレーザビーム(パルスレーザのビーム発光時間は凡そ10nsec)は、ハーフミラー7を通り、集光レンズ8によって集められ、窓9を通過して試料10に照射され、試料10においてプラズマ状の発光が起きる。その発光した光は窓9を通り、集光レンズ8でほぼ平行になり、ハーフミラー7で一部反射され、入射レンズ11で集められて分光器4に入る。分光器4でスペクトル分解が行われ、スペクトル分解された光は分光器4に取り付けられているICCDカメラ5に入り、コンピュータ6でICCDカメラ5から信号の読み出しが行われ、試料10のプラズマ発光に伴うスペクトル情報が得られる。
本明細書では、LIBS分析装置(成分分析装置)によって、試料へのレーザ光照射によるプラズマ発光に伴い得られるスペクトル情報のことをLIBS信号と呼ぶ。
パルスレーザの発光時間は10nsecと非常に短いので、通常、タイミング信号発生器3はQスイッチONの信号をパルスレーザ1に出し、その後、コンピュータ6はある時間遅延させてから、ICCDカメラ5から信号を読み出す。
"Development of a portableLIBS-device for quality assurance in concrete repair", A. Taffe et al., Pages547-549, Concrete Repair, Rehabilitation and Retrofitting ll-Alexander etal.(eds) 2009 Taylor & Francis Group, London, ISBN 978-0-415-46850-3(http://dicata.ing.unibs.it/plizzari/CD/Pdf/075.pdf)
しかしながら、これまで知られているLIBS分析装置には、次のような問題点がある。
問題点1:水中環境、特に深海では水圧が高く、LIBS分析装置を耐圧容器に入れる必要がある。また、ケーブル及び窓部には耐圧機構を付与する必要がある。従来のLIBS装置ではそのような対策が採られていなかった。
問題点2:図1のような従来のLIBS分析装置では、試料にLIBS分析装置を近づけてレーザ光の焦点距離で静止させ、レーザを発光させねばならなかった。しかし、図1のようなLIBS分析装置を海底又は、深海における垂直の岩等に向けるのは容易でない。また、従来のLIBS分析装置は深海における穴の中の試料の探査にも向いていない。潜水艇等によって掴まれた試料にレーザ光を向けられるような機構が必要だが、従来のLIBS分析装置はその機構を有していない。
問題点3:LIBS信号を得るには、海底等の試料にレーザ光の焦点を合わせる必要があるが、図1のような従来のLIBS分析装置は、潜水艇のマニピュレータなどで焦点を合わせる機構を有していない。
問題点4:海底では、プランクトンやヘドロ等の堆積物がサンプルに積もっていてレーザ光がサンプルに届きにくい場合が多く、その場合、良好なLIBS信号が得られない。図1のような従来のLIBS分析装置では、それらへの対策が採られていない。
問題点5:岩石や堆積物に含まれる金属のLIBS信号は、例えばAuでは286nm、Agでは328nm、Siでは199nm、Alでは396nm、及びCuでは324nmなどであって、紫外光領域に多い。一方、励起レーザはYAGレーザ波長1064nmのように、近赤外光なので、図1のような従来のLIBS分析装置ではレンズを使用しているために、レンズ系では色収差が大き過ぎて、収差を補正しきれない。
問題点6:図1のような従来のLIBS分析装置ではシングルパルスレーザを使用しており、レーザ発光のパルス幅は10nsec程度である。このようなパルス幅のレーザ1台を使用している場合では、高圧下で元素特有のスペクトルは取得できるが、LIBS信号のバックグラウンド光(迷光になる)が強く、LIBS信号の発光強度は弱い。また、水中の液体試料に対しては、比較的安定したLIBS信号が得られるが、固体試料に対しては、信号は弱く、ばらつきが大きく、不安定である。
本発明の目的は、サンプルを取得しなくても、特に水中環境において、その場で成分を分析することによって、水中環境での調査の困難さを克服し、海底、湖底又は川底の調査をより効率的に実施する装置を提供することにある。
本発明のある態様の成分分析装置は、試料の成分を分析する装置であって、レーザ光源、成分分析手段及び収容部を含む本体と、試料に対向するように配置される光学系ヘッドと、レーザ光源から出射されたレーザ光を光学系ヘッドに導くために、収容部から光学系ヘッドにまで延設された貫通耐圧機構付ファイバとを有する。収容部は、耐圧機能を有すると共にレーザ光源及び成分分析手段が収められる。光学系ヘッドは、貫通耐圧機構付ファイバから出射されるレーザ光を試料に照射すると共にレーザ光の照射により試料において発生したプラズマ発光光を貫通耐圧機構付ファイバに再入射させるミラー系を含む。成分分析手段は、貫通耐圧機構付ファイバに再入射したプラズマ発光光を分光分析する。
貫通耐圧機構付ファイバは、単芯の光ファイバと、単芯の光ファイバの周囲に配置されたバンドルファイバとを有してもよい。レーザ光源は、発光時間が200から400nsecであるロングパルスレーザ光を発してもよい。光学系ヘッドは、レーザ光を通過させると共にプラズマ発光光からなるLIBS信号光を通過させる窓を有し、窓は、光の入射面及び出射面として、二つの同心球の球面のそれぞれの一部を有してもよい。光学系ヘッドは、試料の近傍を清浄化するための液体を放出する手段を更に含んでもよい。上記液体を放出する手段は、光学系ヘッドの外部の液体を汲み上げるポンプと、ポンプによって汲み上げられた液体から不純物を除去して濾過水を生成するフィルタと、フィルタによって生成された濾過水を試料の近傍に放出する放出部とを有してもよい。成分分析装置は、レーザ光の焦点を試料に合わせるために、光学系ヘッドを移動させる制御機構を更に有してもよい。光学系ヘッドは、カセグレン光学系を有してもよい。
本発明の別のある態様の成分分析装置は、試料の成分を分析する装置であって、耐圧機能を持つと共に成分分析手段が収められる収容部と、レーザ光源を有しかつレーザ光源から出射されたレーザ光を試料に照射してプラズマ発光を生じさせるために試料に対向するように配置される光学系ヘッドと、収容部から光学系ヘッドにまで延設されたレーザコントロール用ケーブルと、プラズマ発光によるプラズマ発光光を入射させて成分分析手段に導くために光学系ヘッドから収容部にまで延設された光ファイバとを有する。成分分析手段は、光ファイバからのプラズマ発光光を分光分析する。
本発明の更に別のある態様の成分分析装置は、試料(特に液体中に存在する試料)の成分分析を行うための装置であって、
レーザ光源及びレーザコントローラと成分分析手段とを収容した収容部(以下、収容部本体と呼ぶ(特に、耐圧容器。但し、液体中に設置しない場合は、耐圧容器でなくてよい))と、
前記レーザ光源から出射されたレーザ光を入射させ、前記試料に対向する光学系ヘッドに導くために、特に液体中を前記収容部本体から前記光学系ヘッドにまで延設された光ファイバと、
前記光ファイバから出射されるレーザ光を前記試料に照射してプラズマ発光を生じさせ、このプラズマ発光光を前記光ファイバに再入射させる前記光学系ヘッドと、
前記光ファイバからの前記プラズマ発光光を分光分析する前記成分分析手段と
を有する、成分分析装置である。
本発明の更に別のある態様の成分分析装置は、試料(特に液体中に存在する試料)の成分分析を行うための装置であって、
レーザ光源及びレーザコントローラと成分分析手段とを収容した収容部本体(特に、耐圧容器)と、
前記レーザ光源から出射されたレーザ光を入射させ、前記試料に対向する光学系ヘッドに導くために、特に前記液体中を前記収容部本体から前記光学系ヘッドにまで延設された第1の光ファイバと、
前記第1の光ファイバから出射されるレーザ光を前記試料に照射してプラズマ発光を生じさせる前記光学系ヘッドと、
前記プラズマ発光によるプラズマ発光光を入射させて前記成分分析手段に導くために、特に前記液体中を前記光学系ヘッドから前記収容部本体にまで延設された第2の光ファイバと、
前記第2の光ファイバからの前記プラズマ発光光を分光分析する前記成分分析手段と
を有する、成分分析装置である。
本発明の更に別のある態様の成分分析装置は、試料(特に液体中に存在する試料)の成分分析を行うための装置であって、
レーザコントローラと成分分析手段とを収容した収容部本体(特に、耐圧容器)と、
レーザ光源を収容し、このレーザ光源から出射されたレーザ光を前記試料に照射してプラズマ発光を生じさせるために、前記試料に対向配置される光学系ヘッドと、
特に液体中を前記収容部本体から前記光学系ヘッドにまで延設されたレーザコントロール用ケーブルと、
前記プラズマ発光によるプラズマ発光光を入射させて前記成分分析手段に導くために、特に前記液体中を前記光学系ヘッドから前記収容部本体にまで延設された光ファイバと、
前記光ファイバからの前記プラズマ発光光を分光分析する前記成分分析手段と
を有する、成分分析装置である。
本発明の成分分析装置によれば、水中等の液体中の環境における調査について既述した困難さを克服し、液体中の環境において、その場で試料の成分を分析することができ、ひいては海底、湖底又は川底(更には海中、湖中又は川中)の調査をより効率的に実施することができる。
従来のLIBS分析装置の概略図である。 100〜400nsecのパルス幅のロングパルスレーザーを、銅、亜鉛の混合物に照射した時の、測定したLIBS信号の誤差のグラフである。 100〜400nsecのパルス幅のロングパルスレーザーを、試料に照射した時の、測定したプラズマ温度のグラフである。 ロングパルスレーザによるLIBS分析で得られたLIBS信号のスペクトル図である。 ダブルパルスレーザによるLIBS分析で得られた各種LIBS信号のスペクトル図である。 ダブルパルスレーザによるLIBS分析で得られた各種LIBS信号のスペクトル図である。 ダブルパルスレーザによるLIBS分析で得られた各種LIBS信号のスペクトル図である。 第1の成分分析装置としてのLIBS分析装置の構成例の概略図である。 第1の成分分析装置としてのLIBS分析装置の構成例の概略図である。 第1貫通耐圧機構付ファイバを説明するための図である。 第2貫通耐圧機構付ファイバを説明するための図である。 従来の光学系ヘッドの窓の概略図である。 実施の形態の光学系ヘッドの球形窓の概略図である。 光学系ヘッドの構成例の断面図である。 光学系ヘッドの他の構成例の断面図である。 光学系ヘッドの他の構成例の断面図である。 第2の成分分析装置としてのLIBS分析装置の構成例の概略図である。 貫通耐圧機構付ファイババンドルの構成図である。 LIBS分析装置に使用可能な光学系ヘッドの構成例の断面図である。 LIBS分析装置に使用可能な光学系ヘッドの構成例の断面図である。 他の光学系ヘッドの構成例の断面図である。 レーザ光源の構成図である。 他の光学系ヘッドの構成例の断面図である。 第3の成分分析装置としてのLIBS分析装置の構成例の概略図である。 液中の溶存Caの0.1MPa、10MPa、20MPa及び30MPaにおけるLIBS信号を示す図である。 液中の溶存Mgの0.1MPa、10MPa、20MPa及び30MPaにおけるLIBS信号を示す図である。 液中の溶存Kの0.1MPa、10MPa、20MPa及び30MPaにおけるLIBS信号を示す図である。 液中の溶存Liの0.1MPa、10MPa、20MPa及び30MPaにおけるLIBS信号を示す図である。 液中に沈めた固体物Znの0.1MPa、10MPa、20MPa及び30MPaにおけるLIBS信号を示す図である。 液中に沈めた固体物Cuの0.1MPa、10MPa、20MPa及び30MPaにおけるLIBS信号を示す図である。 液中に沈めた固体物真ちゅうの0.1MPa、10MPa、20MPa及び30MPaにおけるLIBS信号を示す図である。 LIBS分析装置の光学系を示す写真である。 LIBS分析装置の光学系を示す写真である。 LIBS分析装置の装置内部を示す写真である。 他のLIBS分析装置による海水の分析の状況を示す写真である。 他のLIBS分析装置による岩石の分析の状況を示す写真である。
本発明の成分分析装置は、次に示す具体的な複数の解決手段の全部又は一部により課題を解決する。
解決手段1:水圧が高いので、耐圧容器に測定器等が収容されている。また、光学系ヘッドにおいてレーザ光が出る窓は耐圧を考慮した厚さを有し、窓は平板状のものではなく、二つの同心球の球面のそれぞれの一部からなる。同心球は、同心球に類似する物を含む。耐圧容器におけるケーブルや光ファイバの出入り口には、ファイバが通せると共に水圧に耐えられる耐圧機能を有し、更に耐水機能を有する機構が設けられる。
解決手段2:潜水艇のマニピュレータで操作するため、ロボットなどがレーザ光を試料に向けられる構造になっている必要がある。本発明のある態様の成分分析装置では、光ファイバを用いて、レーザ光の伝送や、LIBS信号光の伝送を好ましくは同軸にて行う。これにより、光投受光部をコンパクトに構成でき、海底等の試料にレーザ光を当てやすくなる。
解決手段3:光学系ヘッドは潜水艇のマニピュレータで操作して、ロボットなどがレーザ光を試料に向けるが、良好なLIBS信号を得るには、レーザ光を、試料に焦点が合うように照射しなければならない。これには焦点合わせの機構が必要になる。本発明のある態様の成分分析装置は、レーザ投光部を試料に向かって前後移動など移動できる機構を有し、焦点を合せることができる。また、本発明のある態様の成分分析装置は、励起レーザ光の戻り光を測定し、焦点を合せられる、オートフォーカス機能を有する。これにより、レーザ光を試料に焦点を合せて集めることができる。
解決手段4:本発明のある態様の成分分析装置は、ポンプ及びフィルタを有し、試料に直接又は試料の上部に綺麗な海水を放出し、海中又は海底のプランクトン又はヘドロ等の堆積物等がレーザ光及び/又はLIBS信号を遮らないように試料の周囲の環境を清浄化する。清浄化は、タンクに水等をいれて、放出することにより行ってもよい。
解決手段5:LIBS信号の測定には、レンズ系ではなく、ミラー系を使用してレーザ光及びLIBS信号光を導く。それにより、色収差による信号のボケや光の拡散を防ぐことができる。励起レーザ波長が近赤外で、LIBS光が紫外光でも測定できる。
解決手段6:レーザの発光が10nsec程度と短いシングルパルスレーザの替りに、発光時間が200〜400nsec程度(特に250nsec付近)と長いロングパルスレーザを使用すると、海中の液体及び固体の両方の試料から、発光強度が強く、安定したLIBS信号が得られる。特にパルス幅が250nsec付近のロングパルスレーザを使用した場合、図2及び3に示すように、測定誤差が小さく、プラズマ温度が高いので、安定したLIBS信号が得られる。図4のように圧力によらず(深海及び浅海に拘わらず)、液体及び固体の試料を測定できる。又、深度500m以下の浅海又は水中では、レーザの発光が10nsec程度と短いシングルパルスレーザを2台同期して用いる、ダブルパルスレーザが有効である。このダブルパルスレーザを使用すると、液体及び固体の両方の試料でシングルパルスレーザに比べ、図5A、5B及び5Cに示すように安定した、綺麗な(迷光となるバックグラウンド信号が少ない)信号が得られる。なお、得られる信号は圧力によって強く影響される。図4、並びに図5A、5B及び5Cのそれぞれの内容については後にも説明する。
(実施の形態)
以下、本発明の実施の形態を詳細に説明する。
まず、図6A及び6Bを用いて、第1の実施の形態の成分分析装置を説明する。
第1の実施の形態の成分分析装置は、図1に示したパルスレーザ1に代わって、ロングパルスレーザ21を有し、光ファイバにて集光及びLIBS信号の収集を行うのが特徴である。
図6Aの成分分析装置は、本体80と、第1貫通耐圧機構付ファイバ13と、光学系ヘッド60とを有している。本体80は、海水中に設置される耐圧容器12aを有している。耐圧容器12aの内部のロングパルスレーザ21から出たレーザ光は集光レンズ8で集められ、孔が形成されている楕円ミラー18の孔を通り、第1貫通耐圧機構付ファイバ13に入射し、海水中では、第1貫通耐圧機構付ファイバ13を通過して光学系ヘッド60に伝送される。
光学系ヘッド60は筐体として耐圧容器12bを有しており、第1貫通耐圧機構付ファイバ13より出たレーザ光はコリメートミラー15にてほぼ平行になる。その後、レーザ光は、集光ミラー16にて集められ、球形窓17を通り、更に海水中を通り試料10に照射される。よいLIBS信号を得るには、目的の試料10にレーザ光の焦点を合せる必要がある。ロボットアーム24に載せられている光学系ヘッド60は、フォーカス用ステージ22にて焦点合わせ方向Xにおいて移動され、それにより試料10にレーザ光の焦点を合せることができる。
図6Aと図6Bとで異なる点は、図6Aの成分分析装置が第1貫通耐圧機構付ファイバ13を有しているのに対し、図6Bの成分分析装置が第2貫通耐圧機構付ファイバ72を有している点である。第1貫通耐圧機構付ファイバ13については、図7Aを用いて後に詳述する。第2貫通耐圧機構付ファイバ72については、図7Bを用いて後に説明する。なお、図6Aの成分分析装置は、第1貫通耐圧機構付ファイバ13に代えて第2貫通耐圧機構付ファイバ72を有してもよい。図6Bの成分分析装置は、第2貫通耐圧機構付ファイバ72に代えて第1貫通耐圧機構付ファイバ13を有してもよい。
加えて、図6Aと図6Bとで異なる点は、図6Bの成分分析装置における光学系ヘッド60がカセグレン光学系を有する点である。第1貫通耐圧機構付ファイバ13及び第2貫通耐圧機構付ファイバ72はいずれも、耐圧ファイバを有すると共に、深海などの水圧に耐える構造を有し、光学系ヘッド60はミラー系で構成されている。そのため、図6A及び6Bの成分分析装置はいずれも、紫外から赤外の、波長に依存しない広い範囲のスペクトル測定を行うことが出来る。
また、試料10にはプランクトン又はヘドロ等の堆積物が積って試料10が堆積物により覆われている場合が多いので、濾過水供給部23は、試料10の近傍に濾過水WAまたはタンクにためている濾過水WAを放出する。それにより、レーザ光を試料10に効率的に照射することができ、かつ良好なLIBS信号を得ることができる。濾過水供給部23は、例えばポンプ23a、フィルタ23b及び放出部23cを有しており、ポンプ23aにより海水を汲み上げ、フィルタ23bにより汲み上げた海水から不純物を除去して濾過水WAを生成し、生成した濾過水WAを放出部23cから試料10の近傍に放出する。一例としての放出部23cはノズルを有する。
試料10がレーザ光に照射されることにより、試料10でプラズマ発光が起き、プラズマ発光による信号光は逆のルートを通り、第1貫通耐圧機構付ファイバ13又は第2貫通耐圧機構付ファイバ72に入射する。第1貫通耐圧機構付ファイバ13又は第2貫通耐圧機構付ファイバ72を出た光はファイバ固有のNA値で拡がり、本体80において、楕円ミラー18で反射され、ダイクロイックミラー19にて更に反射されて、分光器用光ファイバ20に集められる。
なお、楕円ミラー18の替りに、孔が形成された球面ミラーを用いてもよい。孔が形成された球面ミラーを僅かに傾けると、収差はそれ程大きくないので、楕円ミラー18を用いなくとも、第1貫通耐圧機構付ファイバ13又は第2貫通耐圧機構付ファイバ72から出た光を分光器用光ファイバ20に集めることができる。
図7Aは、第1貫通耐圧機構付ファイバ13を説明するための図である。図7Aに示すように、第1貫通耐圧機構付ファイバ13は、本体80側のファイバ貫通耐圧機構71aと、光学系ヘッド60側のファイバ貫通耐圧機構71bと、耐圧光ファイバ13aとを有している。本体80側のファイバ貫通耐圧機構71a及び光学系ヘッド60側のファイバ貫通耐圧機構71bにはいずれも、貫通孔が形成されている。本体80側のファイバ貫通耐圧機構71a及び光学系ヘッド60側のファイバ貫通耐圧機構71bはいずれも、それぞれの側の耐圧容器12a,12bの貫通孔が形成されている部位に取り付けられており、耐圧光ファイバ13aが各貫通孔を貫いている。
本体80側のファイバ貫通耐圧機構71a及び光学系ヘッド60側のファイバ貫通耐圧機構71bはいずれも、深海における水圧に耐えることができる機構であり、かつ深海における海水が耐圧容器12a,12bの内部に侵入しないように耐圧容器12a,12bに取り付けられている。耐圧光ファイバ13aは、図7Aのa矢視図及びb矢視図が示すように、単芯の光ファイバである。本体80側のファイバ貫通耐圧機構71aと光学系ヘッド60側のファイバ貫通耐圧機構71bとの間の耐圧光ファイバ13aは、深海における水圧に耐えることができる機能を有すると共に、深海における海水を耐圧容器12a,12bの内部に侵入させない防水機能を有するスリーブで覆われている。耐圧光ファイバ13aは、本体80側においては分光器側スリーブ34の内部に挿入され、光学系ヘッド60側においては光学系ヘッド側スリーブ35の内部に挿入されている。
図7Bは、第2貫通耐圧機構付ファイバ72を説明するための図である。図7Bに示すように、第2貫通耐圧機構付ファイバ72は、本体側のファイバ貫通耐圧機構71aと、光学系ヘッド60側のファイバ貫通耐圧機構71bと、耐圧光ファイバ72aとを有している。図7Bの第2貫通耐圧機構付ファイバ72と図7Aの第1貫通耐圧機構付ファイバ13との相違点は、第1貫通耐圧機構付ファイバ13が耐圧光ファイバ13aを有しているのに対し、第2貫通耐圧機構付ファイバ72が耐圧光ファイバ72aを有している点である。
耐圧光ファイバ72aは、図7Bのb矢視図が示すように、単芯の光ファイバ72bと、単芯の光ファイバ72bの周囲に配置されたバンドルファイバ72cとを有する。単芯の光ファイバ72bは、レーザ光が通過すると共に、試料10からのプラズマ光が通過するファイバである。バンドルファイバ72cは、試料10からのプラズマ光のうちの単芯の光ファイバ72bを通過しない光が通過するファイバである。すなわち、耐圧光ファイバ72aは、試料10からのプラズマ光(LIBS信号光)が拡がりを持っている場合であっても、バンドルファイバ72cにより、LIBS信号光のうちの単芯の光ファイバ72bで伝送することができない光を本体80の分光器4に伝送することができる。
本体80側のファイバ貫通耐圧機構71aと光学系ヘッド60側のファイバ貫通耐圧機構71bとの間の耐圧光ファイバ72aは、深海における水圧に耐えることができる機能を有すると共に、深海における海水を耐圧容器12a,12bの内部に侵入させない防水機能を有するスリーブで覆われている。
上述した実施の形態では、ロングパルスレーザ21が用いられているので、水の深度によらず、液体及び固体の両方の試料で強度の強い、安定したLIBS信号が得られる。なお、ロングパルスレーザ21は、発光時間が200から400nsecであるロングパルスレーザ光を発する。
第1貫通耐圧機構付ファイバ13又は第2貫通耐圧機構付ファイバ72が使用されているので、海底に又は海底近傍の穴内の側面の試料に容易にレーザ光を照射できる。
また、投光系及び受光系にミラーが用いられているので、波長による色収差がなく、紫外光の測定もできる。
フォーカス用ステージ22が用いられているので、潜水艇のマニピュレータでもレーザ光の焦点合わせが容易にできる。また、濾過水供給部23が用いられているので、濁った水中でも良好なLIBS信号を得ることができる。
また、球形窓17が用いられているので、投光レーザ光の反射光が窓内で集光し、窓を破壊することが無い。更に、球形窓17は球形なので、集光光が屈折せず、集光及び受光時に収差の問題が発生しない利点を持つ。
図8Aに従来の平板状の窓9を示し、図8Bに本実施の形態の球形窓17を示す。図8A及び8Bを用いて、従来の平板状の窓9と本実施の形態の球形窓17とを比較する。図8Aに示す従来の平板状の窓9ではレーザ光Lは屈折する。このため収差が発生し、焦点がぼける等の弊害がでる。また、形状が平板状なので、窓9の表面からの反射光25が発生し、反射光25が焦点Fに集中することにより窓9は加熱され、窓9は熱によって破壊される可能性がある。図8Bに示すように、本実施の形態の球形窓17は、長さr1の第1の半径26を持つ第1の面26aと、長さr1より長い長さr2の第2の半径27を持つ第2の面27aとを有する。第1の面26a及び第2の面27aは、同心球の一部であるか、または必ずしも中心は一致しないが、同心球に近い面で構成されている。第2の面27aは、面27aからの戻り光が手前にあるミラーやレンズ系内に焦点を結ばないような曲率半径を持つ面である。これにより、面27aからの戻り光によりにミラーやレンズ系が損傷するのを防ぐと同時に集光するレーザ光が大きく屈折するのを防ぐ役目を持っている。球形窓17は、球形窓17を通過したレーザ光が試料10の一点に集められるように配置される。その場合、集光光には収差が発生しないか、発生しても収差は小さく、近赤外のレーザ励起光と紫外波長のプラズマ光のLIBS信号は同軸にて同じ光路を通る。
図9を用いて、光学系ヘッドがレンズ系で構成されている例を説明する。
第1貫通耐圧機構付ファイバ13又は第2貫通耐圧機構付ファイバ72は、図6A及び6Bに示されるロングパルスレーザ21、分光器4、ICCDカメラ5及びコンピュータ6等が設置されている耐圧容器12aから延設されている。図6A及び6Bでは光学系ヘッド60はミラー系で構成されているが、図9の例では光学系ヘッド60はレンズ系で構成されている。
LIBS信号の波長帯が紫外光でなく、収差補正しやすい場合は、光学系ヘッドにおける光学系をレンズ系で構成できる場合がある。レンズ系では波長による色収差が発生するが、色収差を小さくできる場合はレンズ系を利用できる。なによりも、レンズはミラーに比べ、ポピュラーで入手し易く、かつ系をコンパクトにできる利点がある。
第1貫通耐圧機構付ファイバ13又は第2貫通耐圧機構付ファイバ72から出たレーザ光はレンズ系28及び耐圧窓兼レンズ29を通して試料10に集められ、LIBS信号光は逆の経路を通り、第1貫通耐圧機構付ファイバ13又は第2貫通耐圧機構付ファイバ72に入射する。この時、LIBS信号光は波長によっては、色収差のため、第1貫通耐圧機構付ファイバ13に全ては入らないかもしれないが、LIBS信号光が強い場合や、収差が小さく、第1貫通耐圧機構付ファイバ13のコアのまわりに光が集まっている場合は図9の光学系ヘッド60も利用できる。
図9の光学系ヘッド60では、耐圧窓兼レンズ29は耐圧窓と集光レンズを兼ねている。
図10A及び10Bは、光学系ヘッド60がカセグレン光学系で構成されている例を示す。
図9の光学系ヘッド60と同様に、図10A及び10Bの光学系ヘッド60でも、第1貫通耐圧機構付ファイバ13又は第2貫通耐圧機構付ファイバ72は、図6A及び6Bに示される、ロングパルスレーザ21、分光器4、ICCDカメラ5及びコンピュータ6等が設置されている耐圧容器12aから延設されている。光学系ヘッド60がカセグレン光学系で構成されている例では、第1貫通耐圧機構付ファイバ13又は第2貫通耐圧機構付ファイバ72から出たレーザ光は、図10Aの光学系ヘッド60ではコリメートレンズ30でほぼ平行になり、カセグレン光学系31に入り、球形窓17を通り、試料10に照射される。LIBS光は逆光路で第1貫通耐圧機構付ファイバ13又は第2貫通耐圧機構付ファイバ72に戻る。図10Bの光学系ヘッド60では、第1貫通耐圧機構付ファイバ13又は第2貫通耐圧機構付ファイバ72から出たレーザ光は、カセグレン光学系31に直接入り、球形窓17を通り、試料10に照射される。LIBS光は逆光路で第1貫通耐圧機構付ファイバ13又は第2貫通耐圧機構付ファイバ72に戻る。
図11は、第2の実施に形態の成分分析装置を示す図である。
レーザ光は、第1貫通耐圧機構付ファイバ13を通り光学系ヘッド60の内部のコリメートレンズ30でほぼ平行光になり、反射ミラー38で反射された後、集光ミラー16で集められ、球形窓17を通り、試料10に照射される。LIBS信号光は逆光路を通り、ダイクロイックミラー19でLIBS信号光の波長帯の光のみが反射され、集光ミラー33にて貫通耐圧機構付ファイババンドル32に入射する。貫通耐圧機構付ファイババンドル32は、本体80の分光器4のスリットへ導かれている。
貫通耐圧機構付ファイババンドル32は、図12のように構成されている。
貫通耐圧機構付ファイババンドル32は何本かの光ファイバ素線を束ねたものである。光学系ヘッド側スリーブ35の構造は、b矢視図に示されるように複数の光ファイバ素線32bが中心付近に並べられていて、図11の集光ミラー33で集められたLIBS信号光が貫通耐圧機構付ファイババンドル32に入りやすい構造になっている。一方、分光器側スリーブ34では、a矢視図に示されているように、複数本の光ファイバ素線32cは一列に整列されている。これは、分光器4のスリットが細長く開いているためである。
図13Aは、ミラー系を使用した細長い光学系ヘッドの例を示す。
第1貫通耐圧機構付ファイバ13のつながっている先は図11と同様にレーザ光が入射する部分であり、貫通耐圧機構付ファイババンドル32の先は図11と同様に分光器4につながっている。第1貫通耐圧機構付ファイバ13から出た光はコリメートレンズ30で平行になり、細長い耐圧容器内を進み、集光ミラー16で集められつつ、球形窓17を通り、試料10に焦点を合せられる。光学系ヘッドがこのように細長いのは、海底等に掘削穴39を形成し、堆積物40等を除去して、目的の岩石層等の試料10のLIBS信号を得やすくする為である。図13Aの光学系ヘッドにより、掘削穴の側面の試料を測定できる。図13Bはミラー系とコリメートレンズを使用した細長い光学系ヘッドの例を示す。図13Bの光学系ヘッドでは、第1貫通耐圧機構付ファイバ13又は第2貫通耐圧機構付ファイバ72が用いられる。
図14は光学系ヘッドがカセグレン光学系で構成されている例を示す。
図10A及び10Bのように光学系ヘッドがカセグレン光学系で構成されている例と同様に、図14では光学系ヘッドがカセグレン光学系で構成されているが、途中にダイクロイックミラー19が挿入されており、反射されたLIBS信号光が集光ミラー33で貫通耐圧機構付ファイババンドル32に集められて、伝送される。
一般にレーザ光はYAGレーザの基本波(1064nm)のように、近赤外光であり、LIBS信号光の波長帯は紫外光の場合、図10A及び10Bのような場合では、第1貫通耐圧機構付ファイバ13がLIBS信号光を伝送する役目も担っているので、コリメートレンズ30だけでは色収差を取りきれず、LIBS信号光は第1貫通耐圧機構付ファイバ13に入っていかない。他方、図14のように、ダイクロイックミラー19でLIBS信号光を分離すれば、LIBS信号光はミラー系のみを通るので、色収差の影響を受けない。もちろん、集光には球形窓17を用いているので色収差の影響を受けない。
図15は、ダブルパルスレーザを用いた例を示す。
第1パルスレーザ41と第2パルスレーザ42の2台のパルスレーザが使用される。各々のレーザから出た光はλ/2波長板43で互いに直交する偏光を持つように調整される。第1パルスレーザ41からのレーザ光はその後反射ミラー44で反射され、偏光ビームスプリッタ45で合成される。偏光ビームスプリッタ45は、第1パルスレーザ41のレーザ光を反射し、それに直交する偏光を持つ第2パルスレーザ42のレーザ光を透過する性質を持つ。よって、2台のレーザ光のエネルギーを殆ど減衰させる事なしに、光軸を一致させることができる。このダブルパルスレーザを、上述したシングルパルスレーザやロングパルスレーザに置き換えてもよい。
ダブルパルスレーザが用いられる場合、第1パルスレーザ41はレーザ光を発射し、ある適当な遅延時間後に第2パルスレーザ42もレーザ光を発射する。すると、深度が500m以下の大陸棚などの浅海中、川の底や湖の底に於いては、シングルのレーザのみよりも、液体試料及び固体試料を問わず、安定した、良好なLIBS信号光が得られる。
図16は、焦点合わせにカメラを用いた例を示す。
図16の例では、光学系ヘッド60の内部に一部反射ミラー46が配置されており、試料10に集められたレーザ光の一部は戻ってきて、一部反射ミラー46で反射してカメラ47に入る。カメラ47による検出をフォーカス用ステージ22と連動すれば、レーザ光の自動焦点合わせ(オートフォーカス)に利用できる。すなわち、レーザ光の焦点が試料10に合うとレーザ光の試料上での像がスポットになり、輝度も高くなるので、カメラ47による検出とフォーカス用ステージ22とを連動させることにより、焦点合わせを行うことができる。この構成は他の光学系ヘッドに対しても設置して、利用できる。
次に、図17を用いて、第3の実施の形態の成分分析装置を説明する。第3の実施の形態の成分分析装置では、レーザが光学系ヘッドに実装されている。
小型レーザ49が光学系ヘッド70に実装され、小型レーザ49は、耐圧容器12aから延びるレーザコントロール用ケーブル48を通してコントロールされる。小型レーザ49を出たレーザ光はレーザビームエキスパンダ50でビーム径を拡大されて、反射ミラー38で反射された後、集光ミラー16で集められつつ、球形窓17を通り、試料10に照射される。
LIBS信号光は逆光路を通り、ダイクロイックミラー19で反射され、集光ミラー33で集められ、貫通耐圧機構付ファイババンドル32に入り、本体80の分光器4に送られる。この場合、レーザが小型化され、光学系ヘッド70がコンパクトに構成できる場合は、試料10上の集光点のビーム径を、ファイバを用いる場合に比較して、小さくできる等の利点がある。
なお、以上の各例において、図6Aで説明した濾過水供給部23やフォーカス用ステージ22などの焦点合わせ機構は省かれている例があるが、必要な場合は実装できる。また、ロングパルスレーザ21はシングルパルス又はダブルパルスレーザで置き換えて用いることができる。
次に、上述した例による液中LIBS分析の結果を述べる。
図18Aから18Eに、シングルパルスレーザを使った、高圧の液体と高圧液中の固体物質のLIBS信号を示す。図18Aは、液中の溶存Caの0.1MPa、10MPa、20MPa及び30MPaにおけるLIBS信号を示す。図18Bは、液中の溶存Mgの0.1MPa、10MPa、20MPa及び30MPaにおけるLIBS信号を示す。図18Cは、液中の溶存Kの0.1MPa、10MPa、20MPa及び30MPaにおけるLIBS信号を示す。図18Dは、液中の溶存Liの0.1MPa、10MPa、20MPa及び30MPaにおけるLIBS信号を示す。図18Eは、液中に沈めた固体物Znの0.1MPa、10MPa、20MPa及び30MPaにおけるLIBS信号を示す。図18Fは、液中に沈めた固体物Cuの0.1MPa、10MPa、20MPa及び30MPaにおけるLIBS信号を示す。図18Gは、液中に沈めた固体物真ちゅう(Zn(35%),Cu(65%))の0.1MPa、10MPa、20MPa及び30MPaにおけるLIBS信号を示す。外圧によって大きな信号の変化が無い事がシングルパルスの特徴である。
上述した図4は、ロングパルスレーザを使った、高圧液中の真ちゅうの0.1MPaと30MPaでのLIBS信号を示す。ロングパルスは、外圧によって大きな信号の変化が無い事と、特に液中の固体物に関してはシングルパルスと比較してLIBS信号のピークが細いのが特徴である。
上述した図5A、5B及び5Cは、ダブルパルスレーザを使った、高圧液中の真ちゅうの0.1MPa、2MPa及び5MPaでのLIBS信号を示す。低い圧力では、シングルパルスと比較してLIBS信号が強く、ピークが細いのが特徴である。圧力が高くなると信号の強度が低下するが、5MPaまではシングルパルスより良好な信号が得られる。
図19A、19B及び19Cに、3000mの高圧水中環境で適応可能な現場型LIBS分析装置を示す。図19Aは、図1に示したシステム(直接光学系)のようにレーザを直接水中に集光し、液体の成分を計測する装置を示す。図19Bは、図6Aに示すシステム(ファイバ光学系)のようにレーザの光を光ファイバに入れて、ロボットのマニピュレータなどを使って固体物に焦点を合わせる装置を示す。図19Cは、図19Aと図19Bの装置の本体の耐圧容器の内部構成を示す。
図20Aは、図19A、19B及び19Cに示す装置を用いて、遠隔操縦式の潜水艇を用いて実海域において200mの深さにおける直接光学系を用いた海水の成分分析を行っている様子を示す。図20Bは、図19A、19B及び19Cに示す装置を用いて、ファイバ光学系を用いた海底の岩石の成分分析を行っている様子を示す。
以上に説明した各例は、本発明の技術的思想に基づいて種々に変形可能である。
本発明は、すでに実用試作機を開発し、実海域でその有効性を実証している。海底鉱物資源調査、学術調査など、水中環境における調査の大幅な効率化が期待できる。また、水中及び濡れている固体物質の元素レベルの分析を可能とするため、大気中の環境汚染調査、液体を伝送するパイプラインの内壁の状態の検査、坑内観測、また工場の生産ラインでの材料の検定への応用が考えられる。さらに、ファイバを通して信号を伝達するため、装置本体をターゲットに近づけないでも計測できるため、原子炉内部などの極限環境での応用も考えられ、具体的な検討も進められている。
1.パルスレーザ
2.レーザコントローラ
3.タイミング信号発生器
4.分光器
5.ICCDカメラ
6.コンピュータ
7.ハーフミラー
8.集光レンズ
9.窓
10.試料
11.入射レンズ
12a,12b.耐圧容器
13.第1貫通耐圧機構付ファイバ
15.コリメートミラー
16.集光ミラー
17.球形窓
18.楕円ミラー
19.ダイクロイックミラー
20.分光器用光ファイバ
21.ロングパルスレーザ
22.フォーカス用ステージ
23.濾過水供給部
24.ロボットアーム
25.反射光
26.半径r1
27.半径r2
28.レンズ系
29.耐圧窓兼レンズ
30.コリメートレンズ
31.カセグレン光学系
32.貫通耐圧機構付ファイババンドル
33.集光ミラー
34.分光器側スリーブ
35.光学系ヘッド側スリーブ
38.反射ミラー
39.掘削穴
40.堆積物
41.第1パルスレーザ
42.第2パルスレーザ
43.λ/2波長板
44.反射ミラー
45.偏光ビームスプリッタ
46.一部反射ミラー
47.カメラ
48.レーザコントロール用ケーブル
49.小型レーザ
50.レーザビームエキスパンダ
60.光学系ヘッド
70.光学系ヘッド
71a,71b.ファイバ貫通耐圧機構
72.第2貫通耐圧機構付ファイバ

Claims (9)

  1. 試料の成分を分析する成分分析装置であって、
    レーザ光源、成分分析手段、並びに、耐圧機能を有すると共に前記レーザ光源及び前記成分分析手段が収められる収容部、を含む本体と、
    前記試料に対向するように配置される光学系ヘッドと、
    前記レーザ光源から出射されたレーザ光を前記光学系ヘッドに導くために、前記収容部から前記光学系ヘッドにまで延設された貫通耐圧機構付ファイバとを備え、
    前記光学系ヘッドは、前記貫通耐圧機構付ファイバから出射されるレーザ光を前記試料に照射すると共に前記レーザ光の照射により前記試料において発生したプラズマ発光光を前記貫通耐圧機構付ファイバに再入射させるミラー系を含み、
    前記成分分析手段は、前記貫通耐圧機構付ファイバに再入射した前記プラズマ発光光を分光分析する、
    成分分析装置。
  2. 前記貫通耐圧機構付ファイバは、単芯の光ファイバと、前記単芯の光ファイバの周囲に配置されたバンドルファイバとを有する、請求項1に記載の成分分析装置。
  3. 前記レーザ光源は、発光時間が200から400nsecであるロングパルスレーザ光を発する、請求項1又は2に記載の成分分析装置。
  4. 前記光学系ヘッドは、前記レーザ光を通過させると共に前記プラズマ発光光からなるLIBS信号光を通過させる窓を有し、
    前記窓は、光の入射面及び出射面として、二つの同心球の球面または同心球に近い中心を持つ二つの面の、それぞれの一部を有する、
    請求項1から3のいずれかに記載の成分分析装置。
  5. 前記光学系ヘッドは、前記試料の近傍を清浄化するための液体を放出する手段を更に含む、請求項1から4の何れかに記載の成分分析装置。
  6. 前記液体を放出する手段は、前記光学系ヘッドの外部の液体を汲み上げるポンプと、前記ポンプによって汲み上げられた液体から不純物を除去して濾過水を生成するフィルタと、前記フィルタによって生成された濾過水を前記試料の近傍に放出する放出部とを有する、請求項5に記載の成分分析装置。
  7. 前記レーザ光の焦点を前記試料に合わせるために、前記光学系ヘッドを前記移動させる制御機構を更に備える、請求項1から6の何れかに記載の成分分析装置。
  8. 前記光学系ヘッドは、カセグレン光学系を有する、請求項1から7のいずれかに記載の成分分析装置。
  9. 試料の成分を分析する成分分析装置であって、
    耐圧機能を有すると共に成分分析手段が収められる収容部と、
    レーザ光源を有し、前記レーザ光源から出射されたレーザ光を前記試料に照射してプラズマ発光を生じさせるために、前記試料に対向するように配置される光学系ヘッドと、
    前記収容部から前記光学系ヘッドにまで延設されたレーザコントロール用ケーブルと、
    前記プラズマ発光によるプラズマ発光光を入射させて前記成分分析手段に導くために、前記光学系ヘッドから前記収容部にまで延設された光ファイバとを備え、
    前記成分分析手段は、前記光ファイバからの前記プラズマ発光光を分光分析する、
    成分分析装置。
JP2014535593A 2012-09-13 2013-09-12 成分分析装置 Pending JPWO2014042221A1 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012201421 2012-09-13
JP2012201421 2012-09-13
PCT/JP2013/074729 WO2014042221A1 (ja) 2012-09-13 2013-09-12 成分分析装置

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018038720A Division JP6730551B2 (ja) 2012-09-13 2018-03-05 成分分析装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPWO2014042221A1 true JPWO2014042221A1 (ja) 2016-08-18

Family

ID=50278330

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014535593A Pending JPWO2014042221A1 (ja) 2012-09-13 2013-09-12 成分分析装置
JP2018038720A Active JP6730551B2 (ja) 2012-09-13 2018-03-05 成分分析装置

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018038720A Active JP6730551B2 (ja) 2012-09-13 2018-03-05 成分分析装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US9267895B2 (ja)
JP (2) JPWO2014042221A1 (ja)
WO (1) WO2014042221A1 (ja)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6442945B1 (en) 2000-08-04 2002-09-03 Alm Development, Inc. Gas turbine engine
JP6901145B2 (ja) * 2016-05-17 2021-07-14 国立大学法人徳島大学 成分組成計測システム及び成分組成計測方法
CN106468660B (zh) * 2016-10-28 2024-03-22 河钢股份有限公司 一种用于废钢及金属的在线快速检测装置
JP6796521B2 (ja) * 2017-03-14 2020-12-09 古河機械金属株式会社 成分分析装置
RU2719637C1 (ru) * 2019-07-09 2020-04-21 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Морской государственный университет имени адмирала Г.И. Невельского" Способ подводного спектрального анализа морской воды и донных пород
JP7357489B2 (ja) * 2019-09-05 2023-10-06 株式会社小松製作所 計測システム及び計測方法
CN110529761A (zh) * 2019-09-29 2019-12-03 浙江光塔节能科技有限公司 一种光纤控制系统
GB2593456B (en) * 2020-03-18 2024-02-28 Thermo Fisher Scient Ecublens Sarl Double-pulse laser system

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6244652A (ja) * 1985-08-22 1987-02-26 Nobuo Mikoshiba 結晶欠陥分析装置
JP2614765B2 (ja) * 1989-05-09 1997-05-28 石油公団 水中油・ガス漏洩検知面への油・ガス誘導装置
JP2000338264A (ja) * 1999-05-28 2000-12-08 Kawasaki Heavy Ind Ltd 液中対象物モニタリング方法
JP2002116146A (ja) * 2000-10-10 2002-04-19 Suido Kiko Kaisha Ltd 水質計
JP2003526079A (ja) * 1998-02-06 2003-09-02 ディスクエアード・デベロップメント・インコーポレーテッド 穀物粒品質モニター
JP2004028824A (ja) * 2002-06-26 2004-01-29 Hitachi Ltd 地殻変動モニタリング装置と地殻変動モニタリングシステム
JP2005140529A (ja) * 2003-11-04 2005-06-02 Toshiba Corp 元素分析装置および元素分析方法
JP2009510439A (ja) * 2005-09-26 2009-03-12 ベイカー ヒューズ インコーポレイテッド 坑井内で流体の元素分析を行う方法及び装置
JP2009097976A (ja) * 2007-10-16 2009-05-07 Imagineering Kk 光計測装置及び計測システム
JP2009236902A (ja) * 2008-03-05 2009-10-15 Japan Agengy For Marine-Earth Science & Technology 観測装置
US20100085567A1 (en) * 2007-04-27 2010-04-08 Ed Dottery Laser spectroscopy system

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH032884Y2 (ja) 1980-11-01 1991-01-25
US5121398A (en) * 1989-09-26 1992-06-09 Excel Technology, Inc. Broadly tunable, high repetition rate solid state lasers and uses thereof
WO2003083458A2 (de) * 2002-04-03 2003-10-09 Johann Wolfgang Goethe-Universität Frankfurt am Main Infrarotmessvorrichtung, insbesondere für die spektrometrie wässriger systeme, vorzugsweise von mehrkomponentensystemen
JP4724831B2 (ja) * 2005-09-06 2011-07-13 国立大学法人京都大学 液体中固体表面の元素分析方法
JP4890124B2 (ja) * 2006-07-06 2012-03-07 鹿島建設株式会社 土壌汚染測定方法及び装置
US8319964B2 (en) * 2009-07-10 2012-11-27 University Of Florida Research Foundation, Inc. Method and apparatus to laser ablation—laser induced breakdown spectroscopy

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6244652A (ja) * 1985-08-22 1987-02-26 Nobuo Mikoshiba 結晶欠陥分析装置
JP2614765B2 (ja) * 1989-05-09 1997-05-28 石油公団 水中油・ガス漏洩検知面への油・ガス誘導装置
JP2003526079A (ja) * 1998-02-06 2003-09-02 ディスクエアード・デベロップメント・インコーポレーテッド 穀物粒品質モニター
JP2000338264A (ja) * 1999-05-28 2000-12-08 Kawasaki Heavy Ind Ltd 液中対象物モニタリング方法
JP2002116146A (ja) * 2000-10-10 2002-04-19 Suido Kiko Kaisha Ltd 水質計
JP2004028824A (ja) * 2002-06-26 2004-01-29 Hitachi Ltd 地殻変動モニタリング装置と地殻変動モニタリングシステム
JP2005140529A (ja) * 2003-11-04 2005-06-02 Toshiba Corp 元素分析装置および元素分析方法
JP2009510439A (ja) * 2005-09-26 2009-03-12 ベイカー ヒューズ インコーポレイテッド 坑井内で流体の元素分析を行う方法及び装置
US20100085567A1 (en) * 2007-04-27 2010-04-08 Ed Dottery Laser spectroscopy system
JP2009097976A (ja) * 2007-10-16 2009-05-07 Imagineering Kk 光計測装置及び計測システム
JP2009236902A (ja) * 2008-03-05 2009-10-15 Japan Agengy For Marine-Earth Science & Technology 観測装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
作花哲夫 他: "琵琶湖の湖水および湖底環境のその場元素分析法の開発", 生存基盤科学研究ユニット 平成20-21年度 研究成果報告書, JPN6013064590, 10 September 2010 (2010-09-10), pages 117 - 120, ISSN: 0003711535 *

Also Published As

Publication number Publication date
JP2018109642A (ja) 2018-07-12
JP6730551B2 (ja) 2020-07-29
US9267895B2 (en) 2016-02-23
WO2014042221A1 (ja) 2014-03-20
US20150268168A1 (en) 2015-09-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6730551B2 (ja) 成分分析装置
Thornton et al. Development of a deep-sea laser-induced breakdown spectrometer for in situ multi-element chemical analysis
Lazic et al. Laser induced breakdown spectroscopy inside liquids: processes and analytical aspects
US8675451B2 (en) Acoustic and optical illumination technique for underwater characterization of objects/environment
CN101493416B (zh) 水下激光拉曼/激光诱导击穿光谱联合探测装置与方法
EP1728066B1 (en) Fluorometer
Guirado et al. Chemical analysis of archeological materials in submarine environments using laser-induced breakdown spectroscopy. On-site trials in the Mediterranean Sea
US7728291B2 (en) Detection of heavy oil using fluorescence polarization
CN105044052A (zh) 一种液体中元素激光光谱分析装置及方法
AU2020210250A1 (en) Laser-induced breakdown spectroscopy equipment in deep-sea in-situ detection
CN209911230U (zh) 一种激光拉曼分析装置
Mullen et al. Optical modulation techniques for underwater detection, ranging and imaging
RU2719637C1 (ru) Способ подводного спектрального анализа морской воды и донных пород
CN114609099A (zh) 一种水下原位荧光成像探测仪
CN219285417U (zh) 一种水下高重频激光测距与libs联合探测系统
Thornton et al. Laser-induced breakdown spectroscopy for in situ chemical analysis at sea
CN104614363A (zh) 一种基于液芯波导的拉曼光谱测试系统
JP6494934B2 (ja) 光音響効果を用いた硫化鉱物微粒子の検出装置、硫化鉱物微粒子の検出方法、及び硫化鉱物を探査又は監視する方法
Emde et al. Double pulse laser induced breakdown spectroscopy at 600 bar water pressure
Bi et al. Common transceiver LIF-lidar based on Y-type optical fiber for marine oil spill detection
Metoyer et al. Underwater laser imaging
Silva et al. Underwater determination of calcium and strontium ions in oilfield produced water by laser-induced breakdown spectroscopy (LIBS)
CN207650399U (zh) 基于y型光纤的透射式收发合置激光雷达系统
CN205280584U (zh) 一种液体中元素激光光谱分析装置
Bhatt et al. LIBS Applications to Liquids and Solids in Liquids

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20160826

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20160826

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20170605

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20170804

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20180105

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20180626