JPWO2010082339A1 - 光伝送システム、送信装置および受信装置 - Google Patents

光伝送システム、送信装置および受信装置 Download PDF

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Abstract

送信部101は、強度情報および位相情報を生成する4ビット/5ビット変換部2を備え、4ビット/5ビット変換部2は、符号系列がビット変換された入力信号の所定のビットと遅延後の強度情報に基づいて強度情報を生成する排他的論理和演算部3と、強度情報を遅延させる1タイムスロット遅延部4と、強度情報と遅延後の強度情報に基づいて遅延検波後に信号点が配置される同心円の半径を計算する遅延検波後半径計算部5と、予め設定した入力信号のビットを位相情報の一部として出力する場合に、ダミービット付与数を決定し、所定のビット以外のビットとダミービット付与数に基づいて残りの位相情報を生成するダミービット生成部6を備え、受信部301は、ダミービットを切り捨て、入力信号を構成するビット列を出力するダミービット切捨部53と、ビット列を所定の数だけ蓄積後、符号系列の信号として出力する記憶部54を備える。

Description

本発明は、雑音耐性を向上させる光伝送システムに関する。
近年、光ファイバ通信の需要が増えており、大容量通信を行うため、占有帯域を広げることなく、1波長当たりのビットレートを高速化する技術が求められている。このような技術として、1シンボル当たりのビット数を増やす多値変復調方式が注目されている。このうち、受信装置で信号光と遅延させた信号光とを干渉させることで元符号を復元する遅延検波方式は、受信装置が局部発振光源を備える同期検波方式と比較して、受信装置の構成、制御が簡素となる利点がある。
光多値変調方式に遅延検波方式を組み合わせる場合、変調方式は差動振幅位相変調(APSK:Amplitude Phase-Shift Keying)が望ましい。APSKは、強度変調と位相変調を直列接続して得られる同心円状の信号点配置を持つ変調方式である。光ファイバ通信における遅延検波では、通常、MZ(Mach-Zehnder)型遅延干渉計とツイン光子検出器(Twin-PD:Twin-Photodetector)が用いられる。APSKでは、遅延検波後の強度と位相の組み合わせにより符号識別が行えるように、差動強度変調と差動位相変調を組み合わせて複素信号を生成する。具体的には、下記特許文献1において、16値(4ビット)APSKにおいて、位相方向に前タイムスロットからの位相差として3ビットの情報を割り当てて通常の差動8相位相変調を行い、強度方向に1ビットを割り当てて差動強度変調を行う技術が開示されている。
国際公開07/132503号パンフレット
しかしながら、上記従来の技術では、遅延検波後の信号点間の距離が同心円毎に異なり、半径の小さい円上の信号点ほど信号点間の距離が近くなる。そのため、各信号点で雑音耐性が平準化されている場合と比べて雑音耐性が悪くなる、という問題があった。
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、遅延検波後の信号点の雑音耐性を平準化し、全体として雑音耐性の向上が可能な光伝送システムを得ることを目的とする。
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明は、伝送路を介し、送信装置および受信装置が差動振幅位相変調方式を採用した光信号通信を行う光伝送システムであって、前記送信装置は、所定の符号系列がビット変換された入力信号に基づいて、振幅の大きさを示す強度情報および位相の大きさを示す位相情報を生成するビット数変換手段と、前記強度情報および前記位相情報を光信号に変換して前記受信装置へ送信する送信手段と、を備え、前記ビット数変換手段は、前記入力信号の所定のビットと、所定時間だけ遅延された過去の強度情報とに基づいて、現時点における強度情報を生成し、当該強度情報を出力する強度情報生成手段と、前記強度情報生成手段から出力された強度情報を前記所定時間分だけ遅延させる遅延手段と、前記強度情報生成手段から出力された強度情報および前記遅延後の強度情報に基づいて、遅延検波後に信号点が配置される同心円の半径を計算する遅延検波後半径計算手段と、前記ビット変換された信号における前記所定のビットを除く予め設定されたビットを前記位相情報の一部として出力する場合に、前記半径の計算結果に基づいてダミービットを付与する数を決定し、前記所定のビット以外のビットおよび前記ダミービットの付与数に基づいて、ダミービットを含む残りの位相情報を生成して出力するダミービット生成手段と、を備え、前記受信装置は、位相情報にダミービットが含まれている場合にダミービットを切り捨て、前記入力信号を構成するビット列を出力するダミービット切捨手段と、前記ダミービット切捨手段から出力されたビット列を蓄積し、所定のビット数を蓄積した後、符号系列の信号として出力する記憶手段と、を備えることを特徴とする。
本発明にかかる光伝送システムは、雑音耐性を向上させることができる、という効果を奏する。
図1は、強度についての状態遷移と割り当て位相数を示す図である。 図2は、強度ビット入力に基づく状態遷移を示す図である。 図3は、遅延検波前の信号点配置を示す図である。 図4は、遅延検波後の信号点配置を示す図である。 図5は、強度についての状態遷移と割り当て位相数を示す図である。 図6は、遅延検波前の信号点配置を示す図である。 図7は、遅延検波後の信号点配置を示す図である。 図8は、光伝送システムの構成例を示す図である。 図9は、信号点生成部102の構成例を示す図である。 図10は、遅延検波後の信号点配置を示す図である。 図11は、ダミービットの挿入方法を示す図である。 図12は、ダミービットの論理の割り当て方法を示す図である。 図13は、1ビット/強度変換部7の対応を示す図である。 図14は、4ビット/位相変換部8の対応を示す図である。 図15は、光信号生成部103の構成例を示す図である。 図16は、フロントエンド302の構成例を示す図である。 図17は、後処理部303の構成例を示す図である。 図18は、記憶部54の記憶領域を示す図である。 図19は、記憶部54の記憶領域を示す図である。 図20は、光伝送システムの構成例を示す図である。 図21は、後処理部303aの構成例を示す図である。
符号の説明
1 4ビット変換部
2 4ビット/5ビット変換部
3 排他的論理和演算部
4 1タイムスロット遅延部
5 遅延検波後半径計算部
6 ダミービット生成部
7 1ビット/強度変換部
8 4ビット/位相変換部
9 加算部
10 1タイムスロット遅延部
11 直交座標変換部
21 アップサンプラ
22,24 DA変換器
23,25 ドライバ
26 光源
27 変調器
31 光分岐部
32,42 MZ型遅延干渉計
33,43 光分岐部
34,44 遅延線
35,45 移相器
36,46 光分岐部
37,47 Twin-PD部
38,48 AD変換器
50 極座標変換部
51 強度復元部
52 位相復元部
53 ダミービット切捨部
54 記憶部
60 Viterbi復号部
61 遅延部
62 正規化位相復元部
101 送信部
102 信号点生成部
103 光信号生成部
201 伝送部
301,301a 受信部
302 フロントエンド
303,303a 後処理部
以下に、本発明にかかる光伝送システムの実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、この実施の形態によりこの発明が限定されるものではない。
実施の形態1.
最初に、従来の技術における16値(4ビット)APSKについて説明する。図1は、従来の技術における強度の状態遷移と割り当て位相数を示す図である。位相方向には前タイムスロットからの位相差として3ビット分の情報を割り当て、通常の差動8相位相変調を行う。また、強度方向には1ビットを割り当て、図1に示す状態遷移図に従って強度が定められる差動強度変調を行う。
図2は、強度ビット入力に基づく状態遷移を示す図である。強度はRSとRL(0<RS<RL)の2値をとる。状態SSと状態SLは、出力中の強度に対応する。状態SSにおいて、強度ビット入力「0」があった場合の出力強度はRSであり、状態遷移先はSSである。同様に、状態SSにおいて、強度ビット入力「1」のとき、出力強度はRL、状態遷移先はSLである。状態SLにおいて、強度ビット入力「0」のとき、出力強度はRL、状態遷移先はSLである。状態SLにおいて、強度ビット入力「1」のとき、出力強度はRS、状態遷移先はSSである。強度ビット入力「0」の場合は2タイムスロット間で出力強度は変わらず、強度ビット入力「1」の場合は2タイムスロット間で出力強度が変わることを示す。
このようなアルゴリズムによって遅延検波したときの信号点の配置について説明する。図3は、遅延検波前の信号点配置を示す図である。また、図4は、遅延検波後の同相(I)成分と直交(Q)成分を平面に配置した信号点配置を示す図である。強度ビット「0」に対応する信号点を「◆」で示し、強度ビット「1」に対応する信号点を「□」で示す。遅延検波後は、2タイムスロット間の強度の組合せに応じて、強度レベルは3値をとる。(RS,RS)の場合には半径が最小(半径RSS∝RSS 2)の円上の点をとり、(RS,RL)および(RL,RS)の場合には半径が中央値(半径RSL∝RSL 2)の円上の点をとり、(RL,RL)の場合には半径が最大(半径RLL∝RLL 2)の円上の点をとる(0<RSS<RSL<RLL)。差動強度変調を行うことにより、「◆」は半径RSSの円上の点または半径RLLの円上の点をとり、「□」は半径RSL上の点をとることになるため、符号識別が可能である。
送信装置は、遅延検波により、光信号の複素電界r(t)と1タイムスロットT遅延させた光信号の電界の複素共役r*(t−T)との積に比例する電気信号を出力する。すなわち、遅延検波後の強度は|r(t)|と|r(t−T)|の積から得ることができ、また、位相は「arg{r(t)}−arg{r(t−T)}」から得ることができる。
つぎに、本実施の形態の光伝送システムにおいて実現するアルゴリズムについて説明する。図5は本実施の形態における強度の状態遷移と割り当て位相数を示す図である。16値変調(うち強度2値)の場合を示す図である。遅延検波後の信号点は3つの同心円(半径RSS,RSL,RLL(0<RSS<RSL<RLL))に配置され、どの円上に配置されるかは、図5に示す状態遷移図により決まる。
従来の技術では、遅延検波後のすべての同心円において位相方向に8値(=3ビット)をとるように位相ビットを割り当てていたが、本実施の形態では、遅延検波後の信号点が半径RSSの円上の点をとる場合には位相方向に4値(=2ビット)を割り当て、遅延検波後の信号点が半径RSLの円上の点をとる場合には従来どおりの8値(=3ビット)を割り当て、遅延検波後の信号点が、半径RLLの円上の点をとる場合には位相方向に16値(=4ビット)を割り当てる。図6は、遅延検波前の信号点配置を示す図である。また、図7は、遅延検波後の同相(I)成分と直交(Q)成分を平面に配置した信号点配置を示す図である。図7の遅延検波後の半径RSSの円上の点をとる信号点は、図4の遅延検波後の半径RSSの円上の点と比較して信号点間の距離が広くなるため雑音耐性が向上する。
ここで、遅延検波後のすべての信号点が均等な確率で生じると、半径RLLの円上の信号点の出現確率が大きくなり、信号点間の距離が広がっても平均電力が高くなる可能性がある。本実施の形態では、遅延検波後の信号点がいずれの半径の円上の点をとるかは強度ビットのみに依存し、遅延検波後の信号点が半径RSS,RSL,RLLの円上に出現する確率はそれぞれ、1/4,1/2(1/4+1/4),1/4である。そのため、平均電力は従来と比較して変化せず、平均電力上昇に起因する雑音耐力の低下は生じない。
なお、図7に示すように半径RSLの円上の信号点に位相オフセットをπ/8与えて、半径RSSの円上の信号点と半径RSLの円上の信号点との距離を大きくし、雑音耐性を向上させることが可能である。ただし、位相オフセット量はπ/8に限定するものではない。
このように、位相変調のアルゴリズムに修正を加えるだけで雑音耐性を向上させることが可能であるため、送受信装置の構成を過度に複雑にする必要がない。以下、具体的に上記アルゴリズムを実現する光伝送システムについて説明する。なお、16値変調の場合について説明するが、これに限定するものではない。
図8は、光伝送システムの構成例を示す図である。光伝送システムは、送信部101と、伝送部201と、受信部301を備える。送信部101は、信号点生成部102と、光信号生成部103を備える。送信部101では、符号系列が入力されると、信号点生成部102が符号系列に従って電気領域での信号点を生成し、光信号生成部103へ出力する。光信号生成部103は、入力された信号点情報に従って光を変調し、光信号を生成して伝送部201へ入力する。伝送部201は、光信号生成部103から入力された光信号を伝送し、受信部301へ出力する。伝送部201は、たとえば、伝送媒体としてシングルモード光ファイバを用いる。受信部301は、フロントエンド302と、後処理部303を備える。受信部301では、光信号が入力されると、フロントエンド部302が、光信号に従って遅延検波を行ってから電気信号に変換し、さらにデジタル値に変換して後処理部303へ出力する。後処理部303は、入力された電気信号に従って符号系列を復元し、外部へ出力する。
つづいて、光伝送システムにおける変調および復調処理について説明する。光伝送システムでは、符号系列の信号が入力されると、まず、受信部101の信号点生成部102が、入力された符号系列に基づいて信号点の生成を行う。図9は、信号点生成部102の構成例を示す図である。信号点生成部102は、4ビット変換部1と、4ビット/5ビット変換部2と、1ビット/強度変換部7と、4ビット/位相変換部8と、加算部9と、1タイムスロット遅延部10と、直交座標変換部11と、を備える。4ビット/5ビット変換部2は、排他的論理和演算部3と、1タイムスロット遅延部4と、遅延検波後半径計算部5と、ダミービット生成部6と、を備える。
4ビット変換部1は、入力された符号系列を、16値変調のために4つのトリビュータリei,fi,gi,hi(4ビット系列)に変換する。4ビット/5ビット変換部2は、4ビット変換部1から入力された4ビット系列ei,fi,gi,hiを、強度1ビットAiと位相4ビットP1i〜P4iに変換して出力する。排他的論理和演算部3は、トリビュータリの1つであるeiと強度1ビットAiを1タイムスロット分遅延させたAi-1に基づいて強度1ビットAiを出力する。1タイムスロット遅延部4は、排他的論理和演算部3から出力されたAiを1タイムスロット分遅延させる。遅延検波後半径計算部5は、AiおよびAi-1を入力し、Riの情報を3値で出力する。ダミービット生成部6は、遅延検波後半径計算部5からのRiおよびトリビュータリfi,gi,hiに基づいて、ダミービットを挿入する。
1ビット/強度変換部7は、強度1ビットAiを強度a(t)に変換する。4ビット/位相変換部8は、P1i〜P4iを位相φ(t)に変換する。加算部9は、4ビット/位相変換部8から出力されたφ(t)とφ(t)を1タイムスロット分遅延させたφ(t−T)との和を算出して位相方向に差動符号化する。1タイムスロット遅延部10は、φ(t)を1タイムスロット分遅延させる。直交座標変換部11は、1ビット/強度変換部7からの強度a(t)および加算部9からの位相和Σφ(t)について直交座標変換を行い、I成分IT(t)およびQ成分QT(t)を出力する。なお、遅延時間は1シンボル継続時間でなく、複数シンボル、たとえばN(N≧2)シンボル継続時間分遅延させてもよい。
つづいて、信号点生成部102の信号点の生成処理について説明する。4ビット変換部1において、たとえば、LAN/PHY(Local Area Network/PHYsical sublayer)4チャネル分に相当する41.25Gb/sの速度で入力された符号系列を、16値変調のために4つのトリビュータリei,fi,gi,hi(4ビット系列)に変換する。4ビット/5ビット変換部2は、4ビット変換部1から入力された4ビット系列ei,fi,gi,hiを、図5の状態遷移図に従って、強度1ビットAiと位相4ビットP1i〜P4iとに変換して出力する。たとえば、遅延検波後の信号点配置が図7に示す信号点を生成する際、強度方向に1ビットを割り当て、遅延検波後の信号点が半径RSSの円上に配置される場合には位相方向に2ビットを割り当て、遅延検波後の信号点が半径RSLの円上に配置される場合には位相方向に3ビットを割り当て、遅延検波後の信号点が半径RLLの円上に配置される場合には位相方向に4ビットを割り当てる。すなわち、位相方向に最大4ビットを割り当てる。
強度1ビットAiは、排他的論理和演算部3が、4ビット/5ビット変換部2に入力されたトリビュータリの1つであるeiと、1タイムスロット遅延部4によって1タイムスロット分遅延されたAi-1との排他的論理和をとることにより算出する(下記(1)式参照)。
Figure 2010082339
i=0の場合にはAi=Ai-1となり、ei=1の場合にはAi≠Ai-1となる。なお、排他的論理和の演算を行う際、Aiの初期値を決めておく必要がある。ここでは、一例として、Aiの初期値を「0」とする。
つぎに、4ビット/5ビット変換部2では、前記位相方向のビット割り当てを実現するために、位相方向に2ビットを割り当てる場合と、位相方向に3ビットを割り当てる場合においても、図10に示すように、4ビット表現しておくことが簡易である。図10は、遅延検波後の信号点配置を示す図である。図10において、下線を付していないビットは位相方向に割り当てられる情報ビットを示す。遅延検波後の信号点が半径RSSの円上に配置される場合には2ビットが割り当てられている。同様に、遅延検波後の信号点が半径RSLの円上に配置される場合には3ビットが割り当てられており、遅延検波後の信号点が半径RLLの円上に配置される場合には4ビットが割り当てられている。
一方、下線を付したビットは位相方向に割り当てられるダミービットを示す。遅延検波後の信号点が半径RSSの円上に配置される場合に、ダミービットを2ビット割り当てる。同様に、遅延検波後の信号点が半径RSLの円上に配置される場合に、ダミービットを1ビット割り当てる。なお、遅延検波後の信号点が半径RLLの円上に配置される場合は、ダミービットを割り当てない。図10においては、位相と4ビット表現は遅延検波後の信号点配置の半径RSS,RSL,RLLに依存せず、一対一に対応するように定めている。これにより、後述する4ビット/位相変換部8における処理が簡易となる。
i,fi,gi,hiに基づく位相ビットP1i〜P4iの割り当てには、図11に示す対応関係を用いる。図11は、ダミービットの挿入方法を示す図である。P1i,P2iについては、それぞれfi,giをそのまま割り当て、P3i,P4iにはhj,hj+1またはダミービットを割り当てる。ここで、hj,hj-1の添え字をiではなくjとしているのは、ダミービット挿入によりタイミングがずれている場合が多いためである。jは出力待機している先頭のビット番号を示す。dummy1〜dummy3はダミービットを示す。挿入すべきダミービットの数は、遅延検波後の信号点が配置される円の半径Ri(RSS,RSL,RLL)により決まる。ここで、半径Riは、Ai,Ai-1の組合せにより決まる。遅延検波後半径計算部5は、Ai,Ai-1を入力とし、Riについての情報を3値で出力する。
図12は、ダミービットの論理の割り当て方法を示す図である。ダミービット生成部6は、ダミービット生成の際、この対応関係に従い、fi,giおよびhjに基づいてダミービットの論理の割り当てを行う。ダミービット生成部6は、fi,gi,hiおよびRiの3値情報を入力とし、図11および図12に示す対応関係に基づいてP3i,P4iを出力する。
4ビット/5ビット変換部2は、上記処理により、4ビット系列ei,fi,gi,hiを、強度1ビットAiと位相4ビットP1i〜P4iとに変換して出力する。
なお、ダミービットとはいえ、ダミービット生成部6から出力されるP3i,P4iには信号情報が含まれることに注意を要する。ダミービット数は、1タイムスロットにつき0〜2ビットである。Riの並びによっては、ダミービット数2の場合が続き、hiを出力待機させ続けなければならない。また、ダミービット数0の場合が続き、hiを2ビットずつ出力させ続けなければならない。eiがランダムの場合、シンボル系列長を十分長くとれば、挿入されるダミービット数の1タイムスロット平均は1ビットになり、平均すればhiは1ビットずつ出力されることになる。ここで、シンボル系列はフレーム単位で取り扱うため、このフレーム単位で、位相割り当てビット数の増減をキャンセルすることが望ましい。また、ダミービット数の1タイムスロット平均が1となることが望ましい。
その後、1ビット/強度変換部7は、Aiを強度a(t)に変換する。図13は、1ビット/強度変換部7の対応を示す図である。Ai=「0」のときa(t)=RSとし、Ai=「1」のときa(t)=RLとする。この対応に基づいて変換することにより、差動強度変調を実現できる。一方、4ビット/位相変換部8は、P1i〜P4iを位相φ(t)に変換する。図14は、4ビット/位相変換部8の対応を示す図である。たとえば、P1i〜P4iが全て「0」の場合、φ(t)は「0」となる。この対応に基づいて変換することにより、位相方向において16値変調を実現できる。
加算部9は、4ビット/位相変換部8から出力されるφ(t)と、1タイムスロット遅延部10において1タイムスロット分遅延されたφ(t−T)との和をとることで、位相方向に差動符号化する。加算を行う際、初期値を決めておく必要がある。ここでは、一例として、初期値を「0」とする。直交座標変換部11は、1ビット/強度変換部7から出力された強度a(t)と、加算部9から出力された位相和Σφ(t)について直交座標変換を行い、I成分IT(t)およびQ成分QT(t)に変換し、光信号生成部103へ出力する。
つぎに、信号点生成部102から出力されたI成分IT(t)およびQ成分QT(t)は、光信号生成部103が光信号に変換して伝送部201へ出力する。図15は、光信号生成部103の構成例を示す図である。光信号生成部103は、アップサンプラ21と、DA(Digital Analogue)変換器22と、ドライバ23と、DA変換器24と、ドライバ25と、光源26と、変調器27と、を備える。アップサンプラ21は、入力したI成分IT(t)およびQ成分QT(t)について2倍アップサンプリングを行う。DA変換器22は、デジタル値であるI成分をアナログ値に変換する。ドライバ23は、アナログ信号を増幅して変調器27へ出力する。DA変換器24は、デジタル値であるQ成分をアナログ値に変換する。ドライバ25は、アナログ信号を増幅して変調器27へ出力する。光源26は、無変調(CW:Continuous Wave)光を出力する。変調器27は、光信号を生成し伝送部201へ出力する。
DA変換器22,24におけるDA変換は、一例として、6ビット分解能で行う。変調器27はDPMZ(Dual Parallel MZ)変調器を用い、光源26には、DFB(Distributed Feed Back)アレイ型波長可変光源を、たとえば、1550nmで発振するよう制御する。ただし、分解能、変調器、光源の種類や出力波長を限定するものではない。
つづいて、光信号生成部103の光信号の生成処理について説明する。光信号生成部103にI成分IT(t)およびQ成分QT(t)が入力されると、アップサンプラ21は、I成分IT(t)を2倍アップサンプリングしてDA変換器22へ出力する。また、Q成分QT(t)を2倍アップサンプリングしてDA変換器24へ出力する。DA変換器22は、デジタル値であるI成分をアナログ値に変換してドライバ23へ出力する。ドライバ23は、入力されたアナログ信号を変調器駆動に十分な振幅まで増幅し、変調器27へ出力する。DA変換器24は、デジタル値であるQ成分をアナログ値に変換してドライバ25へ出力する。ドライバ25は、入力されたアナログ信号を変調器駆動に十分な振幅まで増幅し、変調器27へ出力する。変調器27は、光源26からの無変調光を、ドライバ23およびドライバ25から入力された電気信号に基づいて変調し、光信号を生成して伝送部201へ出力する。
伝送部201については、シングルモードファイバを用いるとしたが、分散シフトファイバ、または非零分散シフトファイバを用いてもよい。また、伝送部201は、伝送距離が数100km以上に及ぶ長距離伝送を行う場合、波長分散を補償する分散補償ファイバ、伝送損失を補償するエルビウム添加ファイバ増幅器(EDFA:Erbium Doped Fiber Amplifier)、分布ラマン増幅器(DRA:Distributed Raman Amplifier)、雑音成分を除去したり任意の波長を取り出したりするための光学的帯域通過フィルタ(たとえば、帯域0.3nmのもの)等を含むものとする。
つぎに、受信部301のフロントエンド302が、伝送部201を経由して、光信号生成部103からの光信号を受信する。図16は、フロントエンド302の構成例を示す図である。フロントエンド302は、光分岐部31と、MZ(Mach-Zehnder)型遅延干渉計32と、Twin-PD部37と、AD(Analogue Digital)変換器38と、MZ型遅延干渉計42と、Twin-PD部47と、AD変換器48と、を備える。MZ型遅延干渉計32は、光分岐部33と、遅延線34と、移相器35と、光分岐部36を備える。MZ型遅延干渉計42は、光分岐部43と、遅延線44と、移相器45と、光分岐部46を備える。
光分岐部31は、伝送部201から入力された光信号(複素電界r(t))を二分岐して出力する。MZ型遅延干渉計32は、入力された複素電界の和成分と差成分を出力する。光分岐部33は、入力された複素電界を二分岐する。遅延線34は、1タイムスロット分、光信号を遅延させる。移相器35は、位相をシフトさせるが、I成分における移相器35では、位相シフト量を0とする。光分岐部36は、入力された2つの光信号の和成分と差成分を出力する。Twin-PD部37は、複素電界と1タイムスロット遅延させた光信号の複素電界の複素共役との複素積の実数成分に比例した大きさの電気信号を出力する。AD変換器38は、電気信号のアナログ値をデジタル値IR(t)に変換する。
MZ型遅延干渉計42は、入力された複素電界の和成分と差成分を出力する。光分岐部43は、入力された複素電界を二分岐する。遅延線44は、1タイムスロット分、光信号を遅延させる。移相器45は、Q成分において位相を−π/2シフトする。光分岐部46は、入力された2つの光信号の和成分と差成分を出力する。Twin-PD部47は、複素電界と1タイムスロット遅延させた光信号の複素電界の複素共役との複素積の虚数成分に比例した大きさの電気信号を出力する。AD変換器48は、電気信号のアナログ値をデジタル値QR(t)に変換する。AD変換器38,48におけるAD変換の分解能は、一例として、6ビットとする。
つづいて、フロントエンド302の信号処理について説明する。受信部301が光信号を受信すると、フロントエンド302の光分岐部31が、光信号(複素電界r(t))を二分岐して、MZ型遅延干渉計32(I成分)およびMZ型遅延干渉計42(Q成分)へ、複素電界r(t)/sqrt(2)の光信号を出力する。なお、「sqrt」は「√」を表すものとする。
MZ型遅延干渉計32(I成分)は、一般的に、入力された光信号の複素電界r(t)とすると、1タイムスロット遅延させた光信号の複素電界r(t−T)の複素共役r*(t−T)との複素積「r(t)×r*(t−T)」の実数成分「Re{r(t)×r*(t−T)}」に比例した大きさの電気信号EI(t)を出力する。ここでは、光分岐部33が、入力された光信号(複素電界r(t)/sqrt(2))を更に二分岐して、遅延線34と移相器35へ、複素電界r(t)/2の信号を出力する。
遅延線34は、1タイムスロット、すなわち1シンボル継続時間T(=ビットレート/変調方式の多値度、41.25Gb/sで16値変調を行う場合97ps)分、光信号を遅延させる。光分岐部36へ出力する光信号の複素電界はr(t−T)/2である。移相器35は、位相をシフトさせるが、MZ型遅延干渉計32(I成分)においては位相シフト量を0とする。光分岐部36へ出力する光信号の複素電界はr(t)/2である。
光分岐部36は、入力された2つの光信号の和成分と差成分を出力する。図16において、上側のポートからは和成分(複素電界{r(t−T)+r(t)}/2sqrt(2))を出力し、下側のポートからは差成分(複素電界{r(t−T)−r(t)}/2sqrt(2))を出力する。
Twin-PD部37は、2つの光子検出器を備え、それぞれの光電変換の感度が等しくなるように作られている。感度をRsensと表す。2つの光子検出器に入力する光信号をE1(t),E2(t)とすると、E1(t)は下記式(2)で、E2(t)は下記式(3)で表される。
Figure 2010082339
Figure 2010082339
Twin-PD部37が出力する電気信号は、「EI(t)=Rsens{|E1(t)|2−|E2(t)|2}」と表され、これを計算すると、理想的には、下記式(4)で表す値が得られる。
Figure 2010082339
このEI(t)をAD変換器38へ出力する。ここで、上記式(4)においては、下記式(5)〜式(7)の関係となる。AD変換器38では、電気信号のアナログ値EI(t)をデジタル値IR(t)に変換し、受信部301の後処理部303へ出力する。
Figure 2010082339
Figure 2010082339
Figure 2010082339
同様に、MZ型遅延干渉計42(Q成分)は、一般的に、入力された光信号の複素電界r(t)とすると、1タイムスロット遅延させた光信号の複素電界r(t−T)の複素共役r*(t−T)との複素積「r(t)×r*(t−T)」の虚数成分「Im{r(t)×r*(t−T)}」に比例した大きさの電気信号EQ(t)を出力する。ここでは、光分岐部43が、入力された光信号(複素電界r(t)/sqrt(2))を更に二分岐して、遅延線44と移相器45へ、複素電界r(t)/2の信号を出力する。
遅延線44は、1タイムスロット、すなわち1シンボル継続時間T分、光信号を遅延させる。光分岐部46へ出力する光信号の複素電界はr(t−T)/2である。移相器45は、位相をシフトさせる。MZ型遅延干渉計42(Q成分)においては位相シフト量を−π/2とする。光分岐部46へ出力する光信号の複素電界はr(t)exp(−jπ/2)/2である。
光分岐部46は、入力された2つの光信号の和成分と差成分を出力する。図16において、上側のポートからは和成分(複素電界{r(t−T)+r(t)exp(−jπ/2)}/2sqrt(2))を出力し、下側のポートからは差成分(複素電界{r(t−T)−r(t)exp(−jπ/2)}/2sqrt(2))を出力する。
Twin-PD部47は、2つの光子検出器を備え、それぞれの光電変換の感度はTwin-PD部37のRsensと同一とする。2つの光子検出器に入力する光信号をE3(t),E4(t)とすると、E3(t)は下記式(8)で、E4(t)は下記式(9)で表される。
Figure 2010082339
Figure 2010082339
Twin-PD部47が出力する電気信号は、「EQ(t)=Rsens{|E3(t)|2−|E4(t)|2}」と表され、これを計算すると、理想的には、下記式(10)で表す値が得られる。
Figure 2010082339
このEQ(t)をAD変換器48へ出力する。AD変換器48では、電気信号のアナログ値EQ(t)をデジタル値QR(t)に変換し、受信部301の後処理部303へ出力する。
なお、MZ型遅延干渉計32,42については、ある光信号とそれを1シンボル継続時間遅延させた光信号との干渉成分が出力できればよく、MZ型の干渉計に限定するものではない。また、フロントエンド302の構成については、2組のMZ型遅延干渉計とTwin-PD部に加えて、強度検出部を別途設けることも可能である。
また、移相器35の位相シフト量を0とし、移相器45の位相シフト量を−π/2としたが、位相シフト量はその差が±π/2であれば、複素平面上における直交する二軸分の情報が得られるため、位相シフト量はいかなる値に設定してもよい。たとえば、π/4と−π/4の組合せにすることも可能である。
つぎに、後処理部303が、フロントエンド302から出力されたIR(t)およびQR(t)を受信する。図17は、後処理部303の構成例を示す図である。後処理部303は、極座標変換部50と、強度復元部51と、位相復元部52と、ダミービット切捨部53と、記憶部54と、を備える。
極座標変換部50は、入力されたI成分IR(t)とQ成分QR(t)の直交座標表現を変換して、強度情報と位相情報に分解する。強度復元部51は、強度積a(t)a(t−T)に基づいて強度ビット情報(遅延検波後の信号点が配置される円の半径)Riを復元する。位相復元部52は、位相φ(t)に基づいて、位相ビットを4ビット情報P1i〜P4iとして復元する。ダミービット切捨部53は、送信部101のダミービット生成部6が挿入したダミービットを破棄する。記憶部54は、ビット情報の記憶を行い、また、外部へ符号系列を出力する際のタイミング制御を行う。
つづいて、後処理部303の復元処理について説明する。後処理部303では、極座標変換部50が、直交座標表現されたI成分IR(t)とQ成分QR(t)を受信すると強度情報と位相情報とに分解する。I成分IR(t)とQ成分QR(t)を平面上にプロットした場合、強度については、理想的には、送信側での2タイムスロット間の強度積であるa(t)a(t−T)に比例する値を得る。同じく、位相については、理想的には、φ(t)を得る。
つぎに、強度復元部51が、強度積a(t)a(t−T)に基づいて、強度ビット情報Riを復元し、ダミービット切捨部53へ出力する。強度積a(t)a(t−T)は、理想的には、図7に示すように3値(RSS,RSL,RLL)をとる。Ri=RSSまたはRi=RLLとなる場合には差動化前の強度ビットeiとして「0」を復元し、Ri=RSLとなる場合にはeiとして「1」を復元しなければならない。
なお、後段のダミービット切捨部53は、Riに応じて位相ビットに含まれる情報ビットとダミービットを判別する。そのため、強度復元部51は、ダミービット切捨部53に対して、eiではなくRiの3値情報として出力する。ただし、強度復元部51からはeiを出力し、ダミービット切捨部53においてRiの3値情報を復元してもよい。
位相復元部52は、位相φ(t)に基づいて、位相ビットを4ビット情報P1i〜P4iとして復元し、ダミービット切捨部53へ出力する。
ダミービット切捨部53の動作について説明する。位相φ(t)は、理想的には、図7に示すように16値をとる。ダミービット切捨部53は、Ri=RSSとなる場合には、図10および図11に従い、P1i〜P4iのうち、後方2ビット(P3i,P4i)をダミービットと認識して破棄し、前方2ビット(P1i,P2i)のみを有効とし、fi,giとeiの3ビット情報を記憶部54へ出力する。同様に、Ri=RSLとなる場合は、P1i〜P4iのうち、後方1ビット(P4i)をダミービットと認識して破棄し、前方3ビット(P1i〜P3i)のみを有効とし、fi,gi,hjとeiの4ビット情報を記憶部54へ出力する。Ri=RLLとなる場合は、P1i〜P4iには、ダミービットは含まれないと認識し、fi,gi,hj,hj+1とeiの5ビット情報を記憶部54へ出力する。
ここで、記憶部54の必要性について説明する。ダミービット数に応じて、1タイムスロット間に入力される情報ビット数が異なる。1タイムスロット間に伝送される情報ビット数は、平均4ビットであるが、後続のビットが到着を待って外部へ出力しなければならない場合がある。出力待機のためにはビット情報を記憶しておく必要がある。また、外部へ符号系列を出力する際にタイミング制御を行う必要もある。記憶部54は、ビット情報の記憶を行うとともに、外部へ符号系列を出力する際のタイミング制御を行う。
記憶部54の動作について説明する。図18は、記憶部54の記憶領域を示す図である。記憶部54は、図18に示す記憶領域を備える。右側に示す格子が記憶領域を示し、幅4(W1〜W4)、深さm(d1,d2,…,dm)からなる。記憶部54には、「A」で示す強度ビット、「1」,「2」,「3」,「4」で示す位相ビットが格納される。「○」,「□」,「△」はそれぞれ、記憶部54の記憶領域に上記符号系列が入力されるタイミングを区別するためのものである。強度ビットはW1の行に格納され、位相ビットはW2〜W4の行に格納される。入力する系列は、あるタイミングにおいて、3ビット、4ビットまたは5ビットである。図18において、「A」,「1」,「2」はすべてのタイミングで入力されるため、W1〜W3の領域にそのまま記憶する。「3」,「4」はタイミングによって入力の有無が変化するため、W4の領域に随時直列に記憶する。そして、1ブロック(特定のフレーム数)分蓄積された時点で、符号系列を外部へ出力する。
ここで、ダミービット切捨部53において、図5に示す状態遷移の推定を誤った場合、すなわち、強度ビットの判定を誤ることが原因でダミービットの破棄を誤った場合の、記憶部54への符号系列の収容状態を図19に示す。図19は、記憶部54の記憶領域を示す図である。図18が正しい収容状態を示すのに対し、図19は、最初のタイミングで入力されるビットの破棄を1ビット分少なく行った場合を示す。この場合、後続の系列を収容するタイミングが一つずつ後ろにずれる。すなわち、破棄すべきビット数を誤った場合、タイミングの誤りが伝播する可能性がある。タイミング誤りの伝播長を有限に抑えるため、一定の符号長内では記憶部54のW1〜W4に収容される深さが全て等しくなるよう、ある長さのブロック(特定のフレーム数)で保護し、タイミング誤りが蓄積して伝播しないようにする。
なお、後処理部303において、極座標変換部50による極座標変換を使用せず、直交座標のまま取り扱って復号する方法を用いてもよい。
以上説明したように、本実施の形態では、送信部101において、信号点生成部102が、入力された符号系列をビット変換した後、変換後のビット情報に基づいて遅延検波後の信号点の配置に対応したダミービットを挿入し、光信号生成部103が、ダミービットを挿入した状態で変調処理後に光信号を送信する。光信号を受信した受信部301では、フロントエンド302が、ダミービットが挿入された状態で復調処理を行い、後処理部303が、ダミービットを破棄して符号系列を復元することとした。これにより、遅延検波後の信号点において雑音耐性を平準化し、システム全体として雑音耐性を向上させることができる。
なお、本実施の形態では、入力論理と位相割り当てはグレイ符号化等を利用し、適宜最適化を行うものとする。また、4ビット変換部1に入力する符号系列は、冗長度25%のUltra FECなど、誤り訂正符号(FEC:Forward Error Correction code)等により冗長化されていてもよい。また、波長多重(WDM:Wavelength Division Multiplexing)システムや再構成可能光アド・ドロップ(ROADM:Reconfigurable Optical Add-Drop Multiplexer)システムに適用することも可能である。
なお、一般的に使用されている送受信部の電気特性を含む光伝送システム全体における信号歪みを補償する構成を、送信部101、伝送部201および受信部301に適用することも可能である。
実施の形態2.
本実施の形態では、後処理部においてViterbi復号を行う。実施の形態1と異なる部分について説明する。
図20は、本実施の形態の光伝送システムの構成例を示す図である。光伝送システムは、送信部101と、伝送部201と、受信部301aを備える。受信部301aは、フロントエンド302と、後処理部303aを備える。受信部301aでは、光信号が入力されると、フロントエンド302が、入力された光信号に従って遅延検波を行ってから電気信号に変換し、さらにデジタル値に変換して後処理部303aへ出力する。後処理部303aは、入力された電気信号に従って符号系列を復元し、外部へ出力する。
図21は、後処理部303aの構成例を示す図である。後処理部303aは、Viterbi復号部60と、遅延部61と、正規化位相復元部62と、ダミービット切捨部53と、記憶部54と、を備える。Viterbi復号部60は、I成分IR(t)とQ成分QR(t)について、軟判定Viterbi復号を用いて送信側の状態遷移を追跡し情報を復元する。遅延部61は、Viterbi復号による計算を行っている間I成分IR(t)とQ成分QR(t)を保持する。正規化位相復元部62は、入力されたI成分IR(t)とQ成分QR(t)を、入力されたRiに基づいて強度方向に正規化して位相方向にのみ識別を行い、P1i〜P4iを復元して出力する。
つづいて、後処理部303aの復号処理について説明する。後処理部303aでは、Viterbi復号部60が、入力されたI成分IR(t)とQ成分QR(t)に従い、無線通信で一般に用いられる軟判定Viterbi復号を用いて送信側の状態遷移(図5)を追跡し、一連のRiについての情報を復元する。まず、強度のみについて、たとえば、1フレーム分の情報をすべて復元する。Viterbi復号部60の復号処理と平行して、遅延部61は、Viterbi復号による計算を行っている間、I成分IR(t)とQ成分QR(t)を保持する。Viterbi復号部60におけるViterbi復号結果Riは1ビットずつ随時出力されるため、タイミングを合わせて正規化位相復元部62へIR(t)とQR(t)を出力する。正規化位相復元部62は、入力されたIR(t)とQR(t)を、入力されたRiに基づいて強度方向に正規化し、位相方向にのみ識別を行い、P1i〜P4iを復元して出力する。ダミービット切捨部53以降の処理については実施の形態1と同様である。
以上説明したように、本実施の形態では、後処理部303aにおいて、軟判定Viterbi復号による処理を行うこととした。これにより、実施の形態1と比べて、さらに雑音耐性を向上させることができる。
なお、本実施の形態では、Viterbi復号を軟判定に基づいて行うものとしたが、硬判定で行っても良い。
以上のように、本発明にかかる光伝送システムは、光ファイバ通信に有用であり、特に、雑音耐性の向上に適している。

Claims (12)

  1. 伝送路を介し、送信装置および受信装置が差動振幅位相変調方式を採用した光信号通信を行う光伝送システムであって、
    前記送信装置は、
    所定の符号系列がビット変換された入力信号に基づいて、振幅の大きさを示す強度情報および位相の大きさを示す位相情報を生成するビット数変換手段と、
    前記強度情報および前記位相情報を光信号に変換して前記受信装置へ送信する送信手段と、
    を備え、
    前記ビット数変換手段は、
    前記入力信号の所定のビットと、所定時間だけ遅延された過去の強度情報とに基づいて、現時点における強度情報を生成し、当該強度情報を出力する強度情報生成手段と、
    前記強度情報生成手段から出力された強度情報を前記所定時間分だけ遅延させる遅延手段と、
    前記強度情報生成手段から出力された強度情報および前記遅延後の強度情報に基づいて、遅延検波後に信号点が配置される同心円の半径を計算する遅延検波後半径計算手段と、
    前記ビット変換された信号における前記所定のビットを除く予め設定されたビットを前記位相情報の一部として出力する場合に、前記半径の計算結果に基づいてダミービットを付与する数を決定し、前記所定のビット以外のビットおよび前記ダミービットの付与数に基づいて、ダミービットを含む残りの位相情報を生成して出力するダミービット生成手段と、
    を備え、
    前記受信装置は、
    位相情報にダミービットが含まれている場合にダミービットを切り捨て、前記入力信号を構成するビット列を出力するダミービット切捨手段と、
    前記ダミービット切捨手段から出力されたビット列を蓄積し、所定のビット数を蓄積した後、符号系列の信号として出力する記憶手段と、
    を備えることを特徴とする光伝送システム。
  2. 前記受信装置は、さらに、
    前記送信装置からの光信号を受信し、当該光信号を遅延検波した後に、光電変換およびAD変換を行い、同相成分および直交成分の電気信号を出力するフロントエンドと、
    前記フロントエンドから出力された電気信号を極座標変換し、当該変換結果に基づいて強度情報および位相情報を復元して前記ダミービット切捨手段へ出力する復元手段と、
    を備えることを特徴とする請求項1に記載の光伝送システム。
  3. 前記受信装置は、さらに、
    前記送信装置からの光信号を受信し、当該光信号を遅延検波した後に、光電変換およびAD変換を行い、同相成分および直交成分の電気信号を出力するフロントエンドと、
    前記電気信号に対するViterbi復号により、強度情報を復元して前記ダミービット切捨手段へ出力するViterbi復号手段と、
    前記電気信号に対して、前記Viterbi復号手段における処理時間分の遅延時間を付加する受信信号遅延手段と、
    前記遅延手段により遅延付加後の電気信号と、前記Viterbi復号手段により復元された強度情報に基づいて、位相情報を復元して前記ダミービット切捨手段へ出力する正規化位相復元手段と、
    を備えることを特徴とする請求項1に記載の光伝送システム。
  4. 前記遅延手段は、前記所定時間として、1タイムスロット分だけ遅延させることを特徴とする請求項1に記載の光伝送システム。
  5. 前記送信装置は、
    前記遅延検波後半径計算手段による計算の結果、前記同心円が複数存在する場合に、遅延検波後の信号点が配置される同心円の半径の大きさによって、配置する信号点の数を適宜変更することを特徴とする請求項1に記載の光伝送システム。
  6. 前記ダミービット生成手段は、
    前記遅延検波後半径計算手段による計算の結果、前記同心円が複数存在する場合に、遅延検波後の信号点が配置される同心円の半径の大きさによって、位相情報へ割り当てるビット数を適宜変更することを特徴とする請求項1に記載の光伝送システム。
  7. 前記ダミービット生成手段は、
    しきい値よりも大きい半径の同心円に配置される信号点に対して位相情報へ割り当てるビット数を増やし、前記しきい値よりも小さい半径の同心円に配置される信号点に対して位相情報へ割り当てるビット数を減らすことを特徴とする請求項6に記載の光伝送システム。
  8. 前記ダミービット生成手段は、
    位相情報へ割り当てるビット数として設定した上限のビット数を割り当てられた信号点以外の信号点に対して、前記上限のビット数との差分だけダミービットを生成して付与することを特徴とする請求項1に記載の光伝送システム。
  9. 前記ダミービット生成手段は、
    遅延検波後の信号点が配置される同心円の半径に基づいて、あらかじめ設定した半径の同心円に配置される信号点の位相をオフセットすることを特徴とする請求項1に記載の光伝送システム。
  10. 前記記憶手段は、
    所定の符号系列数を1ブロックとして出力するための1ブロック分の記憶領域を備え、
    前記記憶領域が埋まった場合に、1ブロック単位で符号系列を外部へ出力することを特徴とする請求項1〜9のいずれか1つに記載の光伝送システム。
  11. 伝送路を介し、送信装置および受信装置が差動振幅位相変調方式を採用した光信号通信を行う光伝送システムにおける前記送信装置であって、
    所定の符号系列がビット変換された入力信号に基づいて、振幅の大きさを示す強度情報および位相の大きさを示す位相情報を生成するビット数変換手段と、
    前記強度情報および前記位相情報を光信号に変換して前記受信装置へ送信する送信手段と、
    を備え、
    前記ビット数変換手段は、
    前記入力信号の所定のビットと、所定時間だけ遅延された過去の強度情報とに基づいて、現時点における強度情報を生成し、当該強度情報を出力する強度情報生成手段と、
    前記強度情報生成手段から出力された強度情報を前記所定時間分だけ遅延させる遅延手段と、
    前記強度情報生成手段から出力された強度情報および前記遅延後の強度情報に基づいて、遅延検波後に信号点が配置される同心円の半径を計算する遅延検波後半径計算手段と、
    前記ビット変換された信号における前記所定のビットを除く予め設定されたビットを前記位相情報の一部として出力する場合に、前記半径の計算結果に基づいてダミービットを付与する数を決定し、前記所定のビット以外のビットおよび前記ダミービットの付与数に基づいて、ダミービットを含む残りの位相情報を生成して出力するダミービット生成手段と、
    を備えることを特徴とする送信装置。
  12. 請求項11に記載の送信装置と差動振幅位相変調方式による光信号通信を行う受信装置であって、
    位相情報にダミービットが含まれている場合にダミービットを切り捨て、前記入力信号を構成するビット列を出力するダミービット切捨手段と、
    前記ダミービット切捨手段から出力されたビット列を蓄積し、所定のビット数を蓄積した後、符号系列の信号として出力する記憶手段と、
    を備えることを特徴とする受信装置。
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