JPWO2009084539A1 - 荷重センサ - Google Patents

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良一 前田
義春 寺内
義春 寺内
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孝幸 乗松
健太郎 西川
健太郎 西川
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Abstract

歪み検出部材を直接的に取り付けることが困難な検出対象に発生する歪みを適切に検出すること。検出対象としてのフレーム部材(20)に対する少なくとも2箇所の固定部としての孔(12a、12b)を有するベース基板(11)と、ベース基板(11)の表面に設けられる一対の歪み検出素子(15a、15b)とを具備し、これらの歪み検出素子(15a、15b)を孔(12a、12b)の間の領域に配置したことを特徴とする。ベース基板(11)の表面に設けられ、一対の歪み検出素子(15a、15b)と共にブリッジ回路を構成する参照抵抗素子(16a、16b)を具備し、参照抵抗素子(16a、16b)を孔(12a、12b)の外側の領域に配置したことを特徴とする。

Description

本発明は、荷重センサに関し、特に、歪みゲージ等の歪み検出部材を直接的に取り付けることが困難な検出対象に印加される荷重の検出に好適な荷重センサに関する。
従来、荷重センサにおいては、印加荷重を受けて弾性変形するセンサ板と、その表面に固着された複数の歪み検出素子(ストレインゲージ)とを備え、センサに対する印加荷重に応じてセンサ板を弾性変形させることで歪み検出素子に加わる引張応力及び圧縮応力を判断し、当該印加荷重を検出するものが知られている(例えば、特許文献1参照)。
また、受圧部に接合された受圧柱の側面に、垂直方向の荷重を検出するための歪みゲージと、水平方向の荷重を検出するための歪みゲージとを直接的に取り付け、3次元の荷重分布を検出する荷重分布センサが提案されている(例えば、特許文献2参照)。
このような荷重センサにおいては、近年、検出対象の小型化や複雑な形状が選択されることに伴って、センサ自体の構成を小型化することが要請されている。また、検出される荷重に基づいて行われる制御が高度化されることに伴って、検出対象に印加される荷重を高い精度で検出することも要請されている。
特開2003−294520号公報 特開2000−162054号公報
しかしながら、上述のような従来の荷重分布センサにおいては、歪みゲージを受圧柱の側面に直接的に取り付ける構成を採るため、例えば、特殊な材料で形成され、或いは、特殊な形状を有するなど、歪みゲージ等の歪み検出部材を直接的に取り付けることが困難な検出対象に発生する歪みを検出することができないという問題がある。
また、上述したような従来の荷重センサにおいて、小型化を実現するためには、センサ板を縮小することが必要となるが、このようにセンサ板を縮小する場合には、センサ板上に形成される入出力端子と、歪み検出素子との間の距離を確保できない場合が生じ得る。この場合、配線作業等により入出力端子に加えられる応力の影響によって歪み検出素子の検出精度を劣化させることが考えられる。
本発明はかかる問題点に鑑みて為されたものであり、歪み検出部材を直接的に取り付けることが困難な検出対象に発生する歪みを適切に検出することができ、また、センサ自体の小型化を図りつつ、入出力端子に加わる応力に基づいて発生し得る検出精度の劣化を防止して高度の検出精度を確保することができる荷重センサを提供することを目的とする。
本発明の荷重センサ、検出対象に対する少なくとも2箇所の固定部を有するベース基板と、前記ベース基板の表面に設けられる歪み検出素子とを具備し、前記歪み検出素子を前記固定部の間の領域に配置することを特徴とする。
この構成によれば、ベース基板が2箇所で検出対象に固定されると共に、歪み検出素子を2箇所の固定部の間の領域に配置している。このため、検出対象における歪みを検出したい箇所(歪み検出箇所)が固定部の間に配置されるようにベース基板を固定することにより、検出対象における歪み検出箇所に発生した歪みと同様にベース基板に歪みを発生させると共に、当該ベース基板の歪みを歪み検出素子で検出することができるので、歪み検出部材を検出対象に直接的に取り付けることが困難な場合であっても、検出対象に発生する歪みを適切に検出することが可能となる。
特に、上記荷重センサにおいては、前記ベース基板の表面に設けられ、前記歪み検出素子と共にブリッジ回路を構成する参照抵抗素子を具備し、前記参照抵抗素子を前記固定部の外側の領域に配置することが好ましい。この場合には、検出対象における歪みを検出したい箇所(歪み検出箇所)が固定部の間に配置されるようにベース基板を固定することにより、検出対象における歪み検出箇所に発生した歪みと同様にベース基板に歪みを発生させると共に、当該ベース基板の歪みに応じた出力電圧をブリッジ回路から出力することができるので、歪み検出部材を検出対象に直接的に取り付けることが困難な場合であっても、検出対象に発生する歪みを適切に検出することが可能となる。特に、固定部の外側の領域に参照抵抗素子が配置されていることから、検出対象に発生した歪みの影響を受けることなく、基準となる抵抗値を得ることが可能となる。
また、上記荷重センサおいて、前記ベース基板における前記歪み検出素子が設けられる部分の幅を他の部分に比べて細幅にすることが好ましい。この場合には、ベース基板を検出対象に発生した歪みに応じて歪み易くすることができるので、より高い精度で検出対象に発生する歪みを検出することが可能となる。
さらに、上記荷重センサにおいては、前記歪み検出素子及び参照抵抗素子を前記ベース基板にスクリーン印刷により形成することが好ましい。この場合には、ベース基板上に簡単に歪み検出素子及び参照抵抗素子を含むブリッジ回路を形成することが可能となる。
また、上記荷重センサにおいて、前記ベース基板は、曲げ部を挟んで前記検出対象に対向する2面を有し、双方の面に前記固定部を少なくとも1つ設けることも可能である。この場合には、曲げ部を挟んだ2面を有するベース基板が検出対象に固定されることから、検出対象に発生した歪みと同様にベース基板に歪みを発生させると共に、当該ベース基板の歪みを歪み検出素子で検出することができるので、歪み検出部材を直接的に取り付けることが困難な屈曲した形状を有する検出対象においても、当該検出対象に発生する歪みを適切に検出することが可能となる。
例えば、上記荷重センサにおいて、前記ベース基板は、略L字形状を有するようにしても良い。この場合には、略L字形状を有する検出対象にベース基板を固定することができるので、当該L字形状を有する検出対象に発生する歪みを適切に検出することが可能となる。
本発明の荷重センサは、検出対象に対する少なくとも2箇所の固定部を有するベース基板と、前記ベース基板の表面に設けられる歪み検出素子及び入出力端子とを具備し、前記歪み検出素子を、前記固定部の間の領域に配置する一方、前記固定部を挟んで前記入出力端子と反対側の領域に配置したことを特徴とする。
この構成によれば、ベース基板が少なくとも2箇所で検出対象に固定されると共に、歪み検出素子を固定部の間の領域に配置したことから、検出対象における歪みを検出したい箇所(歪み検出箇所)が固定部の間に配置されるようにベース基板を固定することにより、検出対象における歪み検出箇所に印加された荷重と同等の荷重をベース基板に印加させると共に、当該ベース基板に対する荷重を歪み検出素子で検出することができる。また、入出力端子を、固定部を挟んで歪み検出素子と反対側の領域に配置している。このため、入出力端子に対する応力の影響を受けることなく、ベース基板に対する荷重を歪み検出素子で検出することができる。この結果、入出力端子と歪み検出素子との距離を縮小することができると共に、入出力端子に加わる応力に基づいて発生し得る検出精度の劣化を防止することができるので、センサ自体の小型化を図りつつ、高度の検出精度を確保することが可能となる。
特に、上記荷重センサにおいては、前記ベース基板の表面に設けられ、前記歪み検出素子と共にブリッジ回路を構成する参照抵抗素子を具備し、前記参照抵抗素子を、前記固定部の外側の領域に配置する一方、前記固定部を挟んで前記入出力端子と反対側の領域に配置することが好ましい。この場合には、検出対象における歪みを検出したい箇所(歪み検出箇所)が固定部の間に配置されるようにベース基板を固定することにより、検出対象における歪み検出箇所に印加された荷重と同等の荷重をベース基板に印加させると共に、ブリッジ回路で検出対象に印加された荷重に応じた出力電圧を出力することができる。この場合において、参照抵抗素子が固定部の外側の領域に配置されていることから、検出対象に印加された荷重の影響を受けることなく、基準となる抵抗値を得ることが可能となる。また、固定部を挟んで入出力端子と反対側の領域に配置していることから、入出力端子に対する応力の影響を受けることなく、基準となる抵抗値を得ることが可能となる。
さらに、上記荷重センサにおいては、前記歪み検出素子、入出力端子及び参照抵抗素子を前記ベース基板にスクリーン印刷により形成することが好ましい。この場合には、ベース基板上に簡単に歪み検出素子及び参照抵抗素子を含むブリッジ回路を形成することが可能となる。
また、上記荷重センサにおいて、前記ベース基板は、曲げ部を有すると共に当該曲げ部を挟んで前記検出対象に対向する2面を有し、双方の面に前記固定部を少なくとも1つ設けると共に、一方の面の表面に前記歪み検出素子、入出力端子及び参照抵抗素子を設けることも可能である。この場合には、曲げ部を挟んだ2面を有するベース基板が双方の面で検出対象に固定されることから、屈曲した形状を有する検出対象に印加された荷重と同等の荷重をベース基板に印加発生させると共に、当該ベース基板に対する荷重を歪み検出素子で検出することが可能となる。
例えば、上記荷重センサにおいては、前記歪み検出素子を前記曲げ部の近傍の領域に配置する一方、前記参照抵抗素子は前記固定部を挟んで前記曲げ部と反対側の領域に配置することが考えられる。この場合には、歪み検出素子が曲げ部の近傍の領域に配置されることから、当該歪み検出素子等が設けられる面を検出対象における歪みを検出したい箇所(歪み検出箇所)に固定することにより、高い精度で検出対象における歪み検出箇所に印加される荷重をベース基板に伝達させることが可能となる。また、参照抵抗素子は固定部を挟んで曲げ部と反対側の領域に配置されていることから、検出対象に対する荷重の影響を受けることなくブリッジ回路における基準となる抵抗値を得ることが可能となる。
また、上記荷重センサにおいて、前記ベース基板は、略L字形状を有することも可能である。この場合には、略L字形状を有する検出対象にベース基板を固定することができるので、当該L字形状を有する検出対象に印加される荷重を適切に検出することが可能となる。
なお、上記荷重センサにおいては、前記歪み検出素子、入出力端子及び参照抵抗素子と同一の面にサーミスタを設けるようにしても良い。この場合には、検出対象に対する荷重を検出する歪み検出素子等と同一の面に設けられたサーミスタで検出した温度に応じて荷重の補正計算を行うことができるので、より高い精度で検出対象に印加された荷重を検出することが可能となる。
本発明によれば、ベース基板が2箇所で検出対象に固定されると共に、歪み検出素子を2箇所の固定部の間の領域に配置したことから、検出対象における歪みを検出したい箇所(歪み検出箇所)が固定部の間に配置されるようにベース基板を固定することにより、検出対象における歪み検出箇所に発生した歪みと同様にベース基板に歪みを発生させると共に、当該ベース基板の歪みを歪み検出素子で検出することができるので、歪み検出部材を直接的に取り付けることが困難な構造物体に発生する歪みを検出することが可能となる。
また、本発明によれば、ベース基板が少なくとも2箇所で検出対象に固定されると共に、歪み検出素子を固定部の間の領域に配置すると共に、入出力端子を、固定部を挟んで歪み検出素子と反対側の領域に配置したことから、検出対象に印加された荷重と同等の荷重をベース基板に印加させると共に、入出力端子に対する応力の影響を受けることなく、ベース基板に対する荷重を歪み検出素子で検出することができる。この結果、入出力端子と歪み検出素子との距離を縮小することができると共に、入出力端子に加わる応力に基づいて発生し得る検出精度の劣化を防止することができるので、センサ自体の小型化を図りつつ、高度の検出精度を確保することが可能となる。
本発明の実施の形態1に係る歪み検出センサの構成を示す斜視図である。 実施の形態1に係る歪み検出センサの上面図(a)及び側断面図(b)である。 実施の形態1に係る歪み検出センサのベース基板に形成されるブリッジ回路の構成図である。 実施の形態1に係る歪み検出センサの構成を変更した場合の斜視図である。 図4に示す歪み検出センサの上面図(a)及び側断面図(b)である。 本発明の実施の形態2に係る歪み検出センサが有するベース基板の斜視図(a)及び正面図(b)である。 実施の形態2に係る歪み検出センサの側断面図である。 本発明の実施の形態3に係る荷重センサの構成を示す斜視図である。 実施の形態3に係る荷重センサの上面図(a)及び側断面図(b)である。 実施の形態3に係る荷重センサのベース基板に形成されるブリッジ回路の構成図である。 実施の形態3に係る荷重センサの構成を変更した場合の上面図である。 本発明の実施の形態4に係る荷重センサが有するベース基板の斜視図(a)及び正面図(b)である。 実施の形態4に係る荷重センサの側断面図である。
以下、本発明の実施の形態について添付図面を参照して詳細に説明する。本実施の形態に係る荷重センサは、例えば、車両等の内部に配置される各種フレーム等の荷重が印加され易い箇所に配設され、そこに印加される荷重を検出するものである。なお、本実施の形態に係る荷重センサが配設される検出対象については、特定の分野に限定されるものではなく適宜変更が可能である。
(実施の形態1)
図1は、本発明の実施の形態1に係る荷重センサ10の構成を示す斜視図であり、図2は、実施の形態1に係る荷重センサ10の上面図(a)及び側断面図(b)である。なお、図1及び図2(b)においては、説明の便宜上、荷重センサ10が固定される検出対象としてのフレーム部材20を示している。また、図2(b)においては、後述するビス13a、13bの中央で切断した断面について示している。
図1に示すように、本実施の形態に係る荷重センサ10は、フレーム部材20に固定されるベース基板11を備えている。ベース基板11は、例えば、平板状のステンレス(SUS)材料を所定形状に加工すると共に、その表面をガラスコーティングすることで形成される。ベース基板11には、フレーム部材20に対する固定部としての2つの孔12a、12b(図1に不図示、図2(b)参照)が形成されている。これらの孔12a、12bは、ベース基板11の長辺に沿って短辺の中央近傍の同一直線上に形成されている。
孔12aは、ベース基板11の図2(a)に示す左方側端部よりも内側に形成され、孔12bは、同図に示す右方側端部近傍に形成されている。このため、ベース基板11においては、孔12bの外側部分よりも孔12aの外側部分の寸法が長く構成されている。また、ベース基板11において、孔12a、12bの間には、他の部分よりも細幅にされたくびれ部11aが形成されている。このくびれ部11aは、フレーム部材20に発生した歪みに応じてベース基板11を歪み易くするために形成されている。
このような構成を有するベース基板11は、孔12a、12bを介してビス13a、13bによりフレーム部材20に2箇所の位置で固定されている。なお、ベース基板11とフレーム部材20との間、並びに、ベース基板11とビス13a、13bのヘッド部分との間には、スペーサ14a、14bが配設されている。スペーサ14a、14bは、ベース基板11とフレーム部材20とを一定距離だけ離間させるため、或いは、ベース基板11をビス13a、13bにより損傷させないために配設されている。なお、ベース基板11とビス13a、13bのヘッド部分との間のスペーサ14bは省略しても良い。
例えば、本実施の形態に係る荷重センサ10において、ベース基板11は、フレーム部材20における歪みを検出したい箇所(以下、「歪み検出箇所」という)が固定部の間(すなわち、孔12aと、孔12bとの間)に配置されるように固定される。このようにフレーム部材20における歪み検出箇所が固定部の間に配置されるように固定されることにより、ベース基板11は、フレーム部材20における歪み検出箇所の近傍の状態を反映してフレーム部材20と一体的に変形する。このため、フレーム部材20に歪み検出箇所に歪みが発生した場合、ベース基板11は、当該歪み検出箇所の歪み量に応じて歪みが発生することとなる。
ベース基板11の表面(図1及び図2に示すフレーム部材20と反対側の表面)には、一対の歪み検出素子15a、15b、並びに、一対の参照抵抗素子16a、16bが設けられている。一対の歪み検出素子15a、15bは、ベース基板11の孔12aと12bとの間の領域であって、くびれ部11aによる細幅部に対応する位置に図2(a)に示す上下方向に並べて配置されている。一方、一対の参照抵抗素子16a、16bは、孔12a、12bの外側の領域、具体的には、孔12aの図2(a)に示す左方側の領域に同図に示す上下方向に並べて配置されている。
これらの一対の歪み検出素子15a、15b、並びに、一対の参照抵抗素子16a、16bは、図3に示すように、ブリッジ接続されてブリッジ回路を構成している。すなわち、直列接続された歪み検出素子15a及び参照抵抗素子16bと、直列接続された歪み検出素子15b及び参照抵抗素子16aとが並列接続され、電源電圧VccとアースGNDとの間に接続されている。そして、歪み検出素子15bと参照抵抗素子16aとの間の接続点から出力端子Out1が引き出され、歪み検出素子15aと参照抵抗素子16bとの間の接続点から出力端子Out2が引き出されている。
このようなブリッジ回路の構成要素及び配線が、ベース基板11に形成されている。特に、本実施の形態に係る荷重センサ10においては、これらのブリッジ回路の構成要素及び配線を、ベース基板11に対するスクリーン印刷により形成している。このようにスクリーン印刷でベース基板11にブリッジ回路の構成要素及び配線を形成することにより、ベース基板11上に簡単にブリッジ回路を形成することが可能となる。
このような構成を有する荷重センサ10において、例えば、外部要因によってフレーム部材20に歪みが発生すると、これに応じてベース基板11にも歪みが発生する。この場合において、一対の歪み検出素子15a、15bは、孔12a、12bの間の領域に配置されていることから、フレーム部材20の歪みに応じた圧縮応力又は引張応力が加わることとなる。一方、一対の参照抵抗素子16a、16bは、孔12a、12bの外側(孔12aの図2(b)に示す左方側)の領域に配置されていることから、フレーム部材20の歪みに応じた圧縮応力又は引張応力が加わることはない。このため、図3に示すブリッジ回路の出力端子Out1、Out2からの出力電圧は、一対の歪み検出素子15a、15bに対して加わった圧縮応力又は引張応力に応じて変化する。すなわち、ブリッジ回路からの出力電圧は、荷重センサ10が固定されるフレーム部材20に発生した歪みに応じて変化することとなる。
このように実施の形態1に係る荷重センサ10においては、ベース基板11が2箇所でフレーム部材20に固定されると共に、一対の歪み検出素子15a、15bを孔12a、12bの間の領域に配置している。このため、フレーム部材20における歪み検出箇所が固定部の間(すなわち、孔12aと、孔12bとの間)に配置されるようにベース基板11を固定することにより、フレーム部材20における歪み検出箇所に発生した歪みと同様にベース基板11に歪みを発生させると共に、当該ベース基板11の歪みを一対の歪み検出素子15a、15bで検出することができるので、歪み検出部材をフレーム部材20に直接的に取り付けることが困難な場合であっても、フレーム部材20に発生する歪みを適切に検出することが可能となる。
また、このように歪み検出素子15a、15bが設けられるベース基板11を検出対象としてのフレーム部材20に固定するだけで済むことから、歪み検出部材を直接的に取り付ける場合と比べて作業効率を向上することができるので、作業に要する時間及びコストを低減することが可能となる。
特に、実施の形態1に係る荷重センサ10においては、一対の歪み検出素子15a、15bを、ベース基板11に形成された固定部としての孔12a、12bの間の領域に配置すると共に、参照抵抗素子16a、16bを孔12a、12bの外側の領域に配置している。このため、フレーム部材20における歪み検出箇所が固定部の間(すなわち、孔12aと、孔12bとの間)に配置されるようにベース基板11を固定することにより、フレーム部材20における歪み検出箇所に発生した歪みと同様にベース基板11に歪みを発生させると共に、ベース基板11に形成されたブリッジ回路でフレーム部材20に発生した歪みに応じた出力電圧を出力することができるので、歪み検出部材をフレーム部材20に直接的に取り付けることが困難な場合であっても、フレーム部材20に発生する歪みを適切に検出することが可能となる。特に、孔12a、12bの外側の領域に参照抵抗素子16a、16bが配置されていることから、フレーム部材20に発生した歪みの影響を受けることなく、基準となる抵抗値を得ることが可能となる。
特に、実施の形態1に係る荷重センサ10においては、一対の歪み検出素子15a、15bは、ベース基板11に形成されたくびれ部11aの細幅部に配置させていることから、フレーム部材20の歪みに応じた圧縮応力又は引張応力を精度良く一対の歪み検出素子15a、15bに伝達することができるので、より高い精度でフレーム部材20に発生する歪みを検出することが可能となる。
なお、以上の説明においては、フレーム部材20に対して2箇所でベース基板11を固定する場合について説明しているが、ベース基板11におけるフレーム部材20に対する固定箇所は、これに限定されるものではない。例えば、図4及び図5に示すように、3箇所でフレーム部材20に対して固定するようにしても良い。図4は、実施の形態1に係る荷重センサ10の構成を変更した場合の斜視図であり、図5は、図4に示す荷重センサ10´の上面図(a)及び側断面図(b)である。なお、図4及び図5において、図1及び図2と同一の構成については同一の符号を付してその説明を省略する。
図4及び図5に示す荷重センサ10´においては、ベース基板11がより長尺とされ、2つのくびれ部11a、11bを有する点、2つのくびれ部11a、11bの細幅部にそれぞれ歪み検出素子15a、15bが配置されている点、並びに、くびれ部11a、11bの間に固定部としての孔12cが形成され、この孔12cを含めた孔12a〜12cを介してビス13a〜13cによりフレーム部材20に対して3箇所の位置で固定される点で、上述した荷重センサ10と相違する。
なお、図4及び図5に示す荷重センサ10´における一対の歪み検出素子15a、15b、並びに、一対の参照抵抗素子16a、16bは、上述した荷重センサ10と同様に、図3に示すブリッジ回路を構成している。また、このブリッジ回路の構成要素及び配線は、上述した荷重センサ10と同様に、ベース基板11に対するスクリーン印刷により形成されている。
このように変形した場合においても、フレーム部材20に歪みが発生すると、これに応じてベース基板11にも歪みが発生する。一対の歪み検出素子15a、15bは、それぞれ孔12a、12cの間の領域、並びに、孔12c、12bの間の領域に配置されていることから、フレーム部材20の歪みに応じた圧縮応力又は引張応力が加わることとなる。一方、一対の参照抵抗素子16a、16bは、孔12a〜12cの外側(孔12aの図5(b)に示す左方側)の領域に配置されていることから、フレーム部材20の歪みに応じた圧縮応力又は引張応力が加わることはない。このため、ブリッジ回路からの出力電圧は、上述した荷重センサ10と同様に、荷重センサ10´が固定されるフレーム部材20に発生した歪みに応じて変化することとなる。すなわち、ベース基板11を介してフレーム部材20の歪みに応じた出力電圧を出力することができるので、歪み検出部材をフレーム部材20に直接的に取り付けることが困難な場合であっても、フレーム部材20に発生する歪みを適切に検出することが可能となる。
(実施の形態2)
実施の形態2に係る荷重センサ30は、ベース基板11が曲げ部を挟んで屈曲した形状を有する点で、ベース基板11が平板形状を有する実施の形態1に係る荷重センサ10と相違する。このように屈曲した形状を有することで、実施の形態2に係る荷重センサ30は、例えば、L字形状を有する検出対象に発生する歪みを検出可能とするものである。
以下、実施の形態2に係る荷重センサ30の構成について説明する。図6は、実施の形態2に係る荷重センサ30が有するベース基板31の斜視図(a)及び正面図(b)である。図7は、実施の形態2に係る荷重センサ30の側断面図である。なお、図6において、実施の形態1に係る荷重センサ10と同一の構成については同一の符号を付してその説明を省略する。また、図7においては、説明の便宜上、荷重センサ30が固定される検出対象としてのフレーム部材20を示している。
図6(a)に示すように、実施の形態2に係る荷重センサ30が有するベース基板31においては、一対の歪み検出素子15a、15bと、孔12bとの間の位置で配置された曲げ部32にて略直角に折り曲げられている点で、実施の形態1に係るベース基板11と相違する。実施の形態2に係るベース基板31においては、一対の歪み検出素子15a、15bと、孔12bとの間の位置に曲げ部32が配置されており、曲げ部32を挟んでフレーム部材20に対向する2つの平面を有している。具体的には、ベース基板31は、曲げ部32から上方側に垂直に延出する平面と、曲げ部32から図7に示す右方側に水平に延出する平面とで略L字形状を有している。
曲げ部32から垂直に上方側に延出する平面には、図6に示すように、一対の歪み検出素子15a、15b、並びに、一対の参照抵抗素子16a、16bが設けられている。これらの一対の歪み検出素子15a、15b、並びに、一対の参照抵抗素子16a、16bは、実施の形態1に係る荷重センサ10と同様に、図3に示すブリッジ回路を構成している。また、このブリッジ回路の構成要素及び配線は、実施の形態1に係る荷重センサ10と同様に、ベース基板31に対するスクリーン印刷により形成されている。
なお、実施の形態2に係る荷重センサ30においても、ベース基板31が、フレーム部材20における歪み検出箇所が固定部の間(すなわち、孔12aと、孔12bとの間)に配置されるように固定される点は、実施の形態1に係る荷重センサ10と同様である。
このような構成を有する荷重センサ30において、例えば、外部要因によってフレーム部材20に歪みが発生すると、これに応じてベース基板31にも歪みが発生する。この場合において、一対の歪み検出素子15a、15bは、孔12a、12bの間の領域に配置されていることから、フレーム部材20の歪みに応じた圧縮応力又は引張応力が加わることとなる。一方、一対の参照抵抗素子16a、16bは、孔12a、12bの外側(孔12aの図7に示す上方側)の領域に配置されていることから、フレーム部材20の歪みに応じた圧縮応力又は引張応力が加わることはない。このため、図3に示すブリッジ回路の出力端子Out1、Out2からの出力電圧は、一対の歪み検出素子15a、15bに対して加わった圧縮応力又は引張応力に応じて変化する。すなわち、ブリッジ回路からの出力電圧は、荷重センサ30が固定されるフレーム部材20に発生した歪みに応じて変化することとなる。
このように実施の形態2に係る荷重センサ30においては、曲げ部32を挟んでフレーム部材20に対向する2つの平面を有し、双方の平面にそれぞれ固定部としての孔12a、12b設けると共に、一対の歪み検出素子15a、15bを孔12a、12bの間の領域に配置すると共に、参照抵抗素子16a、16bを孔12a、12bの外側の領域に配置している。従って、フレーム部材20における歪み検出箇所が固定部の間(すなわち、孔12aと、孔12bとの間)に配置されるようにベース基板31を固定することにより、フレーム部材20における歪み検出箇所に発生した歪みと同様にベース基板11に歪みを発生させると共に、ベース基板11に形成されたブリッジ回路でフレーム部材20に発生した歪みに応じた出力電圧を出力することができるので、歪み検出部材を直接的に取り付けることが困難な屈曲した形状を有するフレーム部材20においても、当該フレーム部材20に発生する歪みを適切に検出することが可能となる。
(実施の形態3)
図8は、本発明の実施の形態3に係る荷重センサ40の構成を示す斜視図であり、図9は、実施の形態3に係る荷重センサ40の上面図(a)及び側断面図(b)である。なお、図8及び図9(b)においては、説明の便宜上、荷重センサ40が固定される検出対象としてのフレーム部材20を示している。また、図9(b)においては、後述するビス13a、13bの中央で切断した断面について示している。
図8に示すように、本実施の形態に係る荷重センサ40は、フレーム部材20に固定されるベース基板11を備えている。ベース基板11は、例えば、平板状のステンレス(SUS)材料を所定形状に加工すると共に、その表面をガラスコーティングすることで形成される。このようにステンレス材料の表面をガラスコーティングすることにより、弾性を確保しつつ、耐高熱性に優れたベース基板11を得ることができる。ベース基板11には、フレーム部材20に対する固定部としての3つの孔12a〜c(図8に不図示、図9(b)参照)が形成されている。これらの孔12a〜cは、ベース基板11の長辺に沿って短辺の中央近傍の同一直線上に形成されている。
孔12aは、ベース基板11の図9(a)に示す左方側端部よりも内側に形成され、孔12bは、同図に示す右方側端部よりも内側に形成され、孔12cは、ベース基板11の中央近傍に形成されている。また、ベース基板11において、孔12aと孔12cとの間、並びに、孔12cと孔12bとの間には、それぞれ他の部分よりも細幅にされたくびれ部11a、11bが形成されている。このくびれ部11a、11bは、フレーム部材20に印加された荷重に応じてベース基板11を歪み易くするために形成されている。
このような構成を有するベース基板11は、孔12a〜12cを介してビス13a〜13cによりフレーム部材20に3箇所の位置で固定されている。なお、ベース基板11とフレーム部材20との間、並びに、ベース基板11とビス13a〜13cのヘッド部分との間には、図9(b)に示すように、スペーサ14a〜14cが配設されている。スペーサ14a〜14cは、ベース基板11とフレーム部材20とを一定距離だけ離間させるため、或いは、ベース基板11をビス13a〜13cにより損傷させないために配設されている。
例えば、本実施の形態に係る荷重センサ40において、ベース基板11は、フレーム部材20における歪みを検出したい箇所(以下、「歪み検出箇所」という)が固定部の間(すなわち、孔12aと、孔12c及び12bとの間)に配置されるように固定される。このようにフレーム部材20における歪み検出箇所が固定部の間に配置されるように固定することにより、ベース基板11は、フレーム部材20における歪み検出箇所の近傍の状態を反映して一体的に変形する。このため、フレーム部材20における歪み検出箇所に荷重が印加された場合、ベース基板11には、当該歪み検出箇所に対する荷重と同等の荷重が印加されることとなる。
ベース基板11の表面(図8及び図9に示すフレーム部材20と反対側の表面)には、一対の歪み検出素子15a、15b、一対の参照抵抗素子16a、16b、並びに、4つの入出力端子17a〜17dが設けられている。歪み検出素子15aは、ベース基板11の孔12aと孔12cとの間の領域であって、くびれ部11aによる細幅部に対応する位置に配置されている。また、歪み検出素子15bは、ベース基板11の孔12cと孔12bとの間の領域であって、くびれ部11bによる細幅部に対応する位置に配置されている。一方、一対の参照抵抗素子16a、16bは、孔12a〜12cの外側の領域、具体的には、孔12aの図9(a)に示す左方側の領域に同図に示す上下方向に並べて配置されている。さらに、入出力端子17a〜17dは、孔12a〜12cを挟んで一対の歪み検出素子15a、15b、並びに、一対の参照抵抗素子16a、16bと反対側の領域、具体的には、孔12bの図9(a)に示す右方側の領域に同図に示す上下方向に並べて配置されている。
これらの一対の歪み検出素子15a、15b、一対の参照抵抗素子16a、16b、並びに、入出力端子17a〜17dは、図10に示すように、ブリッジ接続されてブリッジ回路を構成している。すなわち、直列接続された歪み検出素子15a及び参照抵抗素子16bと、直列接続された歪み検出素子15b及び参照抵抗素子16aとが並列接続され、電源電圧VccとアースGNDとの間に接続されている。そして、歪み検出素子15bと参照抵抗素子16aとの間の接続点から出力端子Out1が引き出され、歪み検出素子15aと参照抵抗素子16bとの間の接続点から出力端子Out2が引き出されている。ここでは、入出力端子17a、17bがそれぞれ電源電圧Vcc、アースGNDに対応し、入出力端子17c、17dがそれぞれ出力端子Out1、出力端子Out2に対応するものとする。
このようなブリッジ回路の構成要素及び配線が、ベース基板11に形成されている。特に、本実施の形態に係る荷重センサ40においては、これらのブリッジ回路の構成要素及び配線を、ベース基板11に対するスクリーン印刷により形成している。このようにスクリーン印刷でベース基板11にブリッジ回路の構成要素及び配線を形成することにより、ベース基板11上に簡単にブリッジ回路を形成することが可能となる。
このような構成を有する荷重センサ40において、例えば、フレーム部材20に荷重が印加されると、当該荷重がビス13b、13cを介してベース基板11に伝達される。この場合において、一対の歪み検出素子15a、15bは、それぞれ孔12aと孔12cとの間、孔12cと孔12bとの間の領域に配置されていることから、フレーム部材20に対する荷重に応じた圧縮応力又は引張応力が加わることとなる。一方、一対の参照抵抗素子16a、16bは、孔12a〜12cの外側(孔12aの図9(a)に示す左方側)の領域に配置されていることから、フレーム部材20に対する荷重に応じた圧縮応力又は引張応力が加わることはない。このため、図10に示すブリッジ回路の出力端子Out1、Out2からの出力電圧は、一対の歪み検出素子15a、15bに対して加わった圧縮応力又は引張応力に応じて変化する。すなわち、ブリッジ回路からの出力電圧は、荷重センサ40が固定されるフレーム部材20に印加された荷重に応じて変化することとなる。
なお、入出力端子17a〜17dは、孔12a〜12cを挟んで一対の歪み検出素子15a、15b、並びに、一対の参照抵抗素子16a、16bと反対側(孔12cの図9(a)に示す右方側)の領域に配置されている。このため、配線作業等により入出力端子17a〜17dに加えられる応力が歪み検出素子15a、15b、並びに、一対の参照抵抗素子16a、16bに影響を与えることはない。
このように実施の形態3に係る荷重センサ40においては、ベース基板11が3箇所でフレーム部材20に固定されると共に、一対の歪み検出素子15a、15bをそれぞれ孔12aと孔12cとの間、孔12cと孔12bとの間の領域に配置している。このため、フレーム部材20における歪み検出箇所が固定部の間(すなわち、孔12aと、孔12c及び12bとの間)に配置されるようにベース基板11を固定することにより、フレーム部材20における歪み検出箇所に印加された荷重と同等の荷重をベース基板11に印加させると共に、当該ベース基板11に対する荷重を一対の歪み検出素子15a、15bで検出することができる。
また、実施の形態3に係る荷重センサ40においては、入出力端子17a〜17dを、孔12b、12cを挟んで一対の歪み検出素子15a、15bと反対側の領域に配置している。このため、入出力端子17a〜17dに対する応力の影響を受けることなく、ベース基板11に対する荷重を一対の歪み検出素子15a、15bで検出することができる。この結果、入出力端子17a〜17dと一対の歪み検出素子15a、15bとの距離を縮小することができると共に、入出力端子17a〜17dに加わる応力に基づいて発生し得る検出精度の劣化を防止することができるので、センサ自体の小型化を図りつつ、高度の検出精度を確保することが可能となる。
さらに、実施の形態3に係る荷重センサ40においては、一対の歪み検出素子15a、15bと共にブリッジ回路を構成する一対の参照抵抗素子16a、16bを孔12a〜12cの外側の領域に配置している。このため、フレーム部材20における歪み検出箇所が固定部の間(すなわち、孔12aと、孔12c及び12bとの間)に配置されるようにベース基板11を固定することにより、フレーム部材20における歪み検出箇所に印加された荷重と同等の荷重をベース基板11に印加させると共に、ブリッジ回路でフレーム部材20に印加された荷重に応じた出力電圧を出力することができる。この場合において、一対の参照抵抗素子16a、16bが孔12a〜12cの外側の領域に配置されていることから、フレーム部材20に印加された荷重の影響を受けることなく、基準となる抵抗値を得ることが可能となる。また、孔12aを挟んで入出力端子17a〜17dと反対側の領域に配置していることから、入出力端子17a〜17dに対する応力の影響を受けることなく、基準となる抵抗値を得ることが可能となる。
なお、以上の説明においては、一対の参照抵抗素子16a、16bを孔12aの図9(a)に示す左方側の領域に配置した場合について説明しているが、一対の参照抵抗素子16a、16bが配置される位置については、これに限定されるものではなく適宜変更が可能である。検出対象としてのフレーム部材20に印加される荷重、並びに、入出力端子17a〜17dに対する応力の影響を受けない位置であれば、いかなる位置に配置しても良い。例えば、図11に示すように、ベース基板11の長辺から延出する補助片11cを設け、この補助片11cの表面に一対の参照抵抗素子16a、16bを配置するようにしても良い。このように変形した場合においても、上述した実施の形態と同様に、一対の参照抵抗素子16a、16bが、フレーム部材20に印加される荷重、並びに、入出力端子17a〜17dに対する応力の影響を受けることがないことから、ブリッジ回路において基準となる抵抗値を得ることができるので、当該ブリッジ回路でフレーム部材20に印加された荷重に応じた出力電圧を出力することができ、高度の検出精度を確保することが可能となる。
(実施の形態4)
実施の形態4に係る荷重センサ60は、ベース基板31が曲げ部を有し、この曲げ部を挟んで屈曲した形状を有する点で、ベース基板11が平板形状を有する実施の形態3に係る荷重センサ40と相違する。このように屈曲した形状を有するベース基板31を備えることで、実施の形態4に係る荷重センサ60は、例えば、L字形状を有する検出対象に印加された荷重を適切に検出可能とするものである。
以下、実施の形態4に係る荷重センサ60の構成について説明する。図12は、実施の形態4に係る荷重センサ60が有するベース基板31の斜視図(a)及び正面図(b)である。図13は、実施の形態4に係る荷重センサ60の側断面図である。なお、図12及び図13において、実施の形態3に係る荷重センサ40と同一の構成については同一の符号を付してその説明を省略する。また、図6においては、図5(b)に示す鎖線における断面図を示している。さらに、図13においては、説明の便宜上、荷重センサ60が固定される検出対象としてのフレーム部材20を示している。
図12(a)に示すように、実施の形態4に係る荷重センサ60が有するベース基板31には、所定位置に曲げ部32が形成されている。ベース基板31は、曲げ部32により略直角に折り曲げられており、曲げ部32を挟んでフレーム部材20に対向する2つの平面を有している。具体的には、ベース基板31は、曲げ部32から上方側に垂直に延出する平面31aと、曲げ部32から図13に示す右方側に水平に延出する平面31bとで略L字形状を有している。固定部としての孔12a、12bは、それぞれの平面31a、31bの略中央部分に形成されている。また、ベース基板31には、図12に示す左方側に突出する突出部33が形成されている。なお、ベース基板31の構成材料及びコーティング材料は、実施の形態3に係るベース基板11と同様である。
このような構成を有するベース基板31は、図13に示すように、孔12a、12bを介してビス13a、13bによりフレーム部材20に2箇所の位置で固定されている。なお、ベース基板31とフレーム部材20との間には、スペーサ14a、14bが配設されている。これらのスペーサ14a、14bは、ベース基板31とフレーム部材20とを一定距離だけ離間させるために配置されている。なお、図13に示す荷重センサ60においては、ベース基板31とビス13a、13bのヘッド部分との間に配置されるスペーサを省略している。
例えば、実施の形態4に係る荷重センサ60において、ベース基板31は、フレーム部材20における歪み検出箇所が固定部の間(すなわち、孔12aと、孔12bとの間)に配置されるように固定される。このようにフレーム部材20における歪み検出箇所が固定部の間に配置されるように固定することにより、ベース基板31は、フレーム部材20における歪み検出箇所の近傍の状態を反映してフレーム部材20と一体的に変形する。このため、フレーム部材20における歪み検出箇所に荷重が印加された場合、ベース基板31には、フレーム部材20に対する荷重と同等の荷重が印加されることとなる。
平面31aの表面(図13に示すフレーム部材20側の表面)には、一対の歪み検出素子15a、15b、一対の参照抵抗素子16a、16b、並びに、5つの入出力端子17a〜17eが設けられている。一対の歪み検出素子15a、15bは、孔12aと孔12bとの間であって、曲げ部32の近傍の領域に配置されている。一方、一対の参照抵抗素子16a、16bは、孔12aを挟んで曲げ部32と反対側の領域に配置されている。また、一対の歪み検出素子15a、15b、並びに、一対の参照抵抗素子16a、16bは、それぞれ孔12aよりも図12に示す右方側の領域に、同図に示す左右方向に並べて配置されている。入出力端子17a〜17eは、突出部33に設けられ、孔12aを挟んで一対の歪み検出素子15a、15b、並びに、一対の参照抵抗素子16a、16bと反対側に配置されている。なお、入出力端子17eは、後述するサーミスタ18に対応する入出力端子を構成する。
このように一対の歪み検出素子15a、15bが曲げ部32の近傍の領域に配置されることから、フレーム部材20における歪み検出箇所が固定部の間(すなわち、孔12aと、孔12bとの間)に配置されるようにベース基板31を固定することにより、高い精度でフレーム部材20における歪み検出箇所に印加される荷重をベース基板31に伝達させることが可能となる。また、一対の参照抵抗素子16a、16bを孔12aを挟んで曲げ部32と反対側の領域に配置したことから、フレーム部材20に対する荷重の影響を受けることなく、後述するブリッジ回路における基準となる抵抗値を得ることが可能となる。
このように平面31に設けられる一対の歪み検出素子15a、15b、一対の参照抵抗素子16a、16b、並びに、入出力端子17a〜17eは、実施の形態3に係る荷重センサ40と同様に、図10に示すブリッジ回路を構成している。また、このブリッジ回路の構成要素及び配線は、実施の形態3に係る荷重センサ40と同様に、ベース基板31に対するスクリーン印刷により形成されている。このようにスクリーン印刷でベース基板31の平面31aにブリッジ回路の構成要素及び配線を形成することにより、曲げ部32で屈曲する構成を有する場合においても、ベース基板31上に簡単にブリッジ回路を形成することが可能となる。
また、平面31には、実施の形態4に係る荷重センサ60が配設される温度変化に応じて温度補正を行うためのサーミスタ18が設けられている。サーミスタ18は、参照抵抗素子16aの図12に示す左方側の領域、具体的には、孔12aと入出力端子17a〜17eとの間であって、孔12aを挟んで曲げ部32と反対側の領域に配置されている。このように参照抵抗素子16aの側方側の領域に配置したのは、フレーム部材20に対する荷重の影響を受けることなく適切に温度検出を可能とするためである。サーミスタ18で検出された温度は、外部の制御部に渡され、この制御部によって荷重センサ60が検出した荷重の補正計算に用いられる。このようにフレーム部材20に対する荷重を検出する歪み検出素子15a、15b等と同一面に設けられたサーミスタ18で検出した温度に応じて荷重の補正計算を行うことにより、より高い精度でフレーム部材20に対する荷重を検出することが可能となる。
このような構成を有する荷重センサ60において、例えば、フレーム部材20に荷重が印加されると、当該荷重がビス13aを介してベース基板31に伝達される。この場合において、一対の歪み検出素子15a、15bは、孔12aと孔12bとの間であって曲げ部32近傍の領域に配置されていることから、フレーム部材20に対する荷重に応じた圧縮応力又は引張応力が加わることとなる。一方、一対の参照抵抗素子16a、16bは、孔12aを挟んで曲げ部32と反対側の領域に配置されていることから、フレーム部材20に対する荷重に応じた圧縮応力又は引張応力が加わることはない。このため、図10に示すブリッジ回路の出力端子Out1、Out2からの出力電圧は、一対の歪み検出素子15a、15bに対して加わった圧縮応力又は引張応力に応じて変化する。すなわち、ブリッジ回路からの出力電圧は、荷重センサ60が固定されるフレーム部材20に印加された荷重に応じて変化することとなる。
なお、入出力端子17a〜17dは、孔12aを挟んで一対の歪み検出素子15a、15b、並びに、一対の参照抵抗素子16a、16bと反対側(孔12aの図12に示す左方側)の領域に配置されていることから、配線作業等により入出力端子17a〜17eに加えられる応力が歪み検出素子15a、15b、並びに、一対の参照抵抗素子16a、16bに影響を与えることはない。
このように実施の形態4に係る荷重センサ60においては、曲げ部32を挟んでフレーム部材31に対向する2つの平面31a、31bを有し、双方の平面31a、31bの孔12a、12bを介して2箇所に固定されると共に、一対の歪み検出素子15a、15bを孔12a、12bの間であって曲げ部32近傍の領域に配置している。従って、フレーム部材20における歪み検出箇所が固定部の間(すなわち、孔12aと、孔12bとの間)に配置されるようにベース基板31を固定することにより、フレーム部材20の歪み検出箇所に印加された荷重と同等の荷重をベース基板31に印加させると共に、当該ベース基板31に対する荷重を一対の歪み検出素子15a、15bで検出することができる。
また、実施の形態4に係る荷重センサ60においては、入出力端子17a〜17eを、孔12aを挟んで一対の歪み検出素子15a、15bと反対側の領域に配置している。このため、入出力端子17a〜17eに対する応力の影響を受けることなく、ベース基板31に対する荷重を一対の歪み検出素子15a、15bで検出することができる。この結果、入出力端子17a〜17dと一対の歪み検出素子15a、15bとの距離を縮小することができると共に、入出力端子17a〜17eに加わる応力に基づいて発生し得る検出精度の劣化を防止することができるので、センサ自体の小型化を図りつつ、高度の検出精度を確保することが可能となる。
さらに、実施の形態4に係る荷重センサ60においては、一対の歪み検出素子15a、15bと共にブリッジ回路を構成する参照抵抗素子16a、16bを孔12aを挟んで曲げ部32の反対側の領域に配置している。従って、フレーム部材20における歪み検出箇所が固定部の間(すなわち、孔12aと、孔12bとの間)に配置されるようにベース基板31を固定することにより、フレーム部材20における歪み検出箇所に印加された荷重と同等の荷重をベース基板31に印加させると共に、当該ブリッジ回路でフレーム部材20に印加された荷重に応じた出力電圧を出力することができる。この場合において、参照抵抗素子16a、16bが孔12aを挟んで曲げ部32の反対側の領域に配置されていることから、フレーム部材20に印加された荷重の影響を受けることなく、基準となる抵抗値を得ることが可能となる。また、一対の参照抵抗素子16a、16bは、孔12aを挟んで入出力端子17a〜17dと反対側の領域に配置していることから、入出力端子17a〜17dに対する応力の影響を受けることなく、基準となる抵抗値を得ることが可能となる。
なお、本発明は上記実施の形態に限定されず、種々変更して実施することが可能である。上記実施の形態において、添付図面に図示されている大きさや形状などについては、これに限定されず、本発明の効果を発揮する範囲内で適宜変更することが可能である。その他、本発明の目的の範囲を逸脱しない限りにおいて適宜変更して実施することが可能である。

Claims (13)

  1. 検出対象に対する少なくとも2箇所の固定部を有するベース基板と、前記ベース基板の表面に設けられる歪み検出素子とを具備し、前記歪み検出素子を前記固定部の間の領域に配置したことを特徴とする荷重センサ。
  2. 前記ベース基板の表面に設けられ、前記歪み検出素子と共にブリッジ回路を構成する参照抵抗素子を具備し、前記参照抵抗素子を前記固定部の外側の領域に配置したことを特徴とする請求項1記載の荷重センサ。
  3. 前記ベース基板における前記歪み検出素子が設けられる部分の幅を他の部分に比べて細幅にしたことを特徴とする請求項1又は請求項2記載の荷重センサ。
  4. 前記歪み検出素子及び参照抵抗素子を前記ベース基板にスクリーン印刷により形成したことを特徴とする請求項2記載の荷重センサ。
  5. 前記ベース基板は、曲げ部を挟んで前記検出対象に対向する2面を有し、双方の面に前記固定部を少なくとも1つ設けたことを特徴とする請求項1記載の荷重センサ。
  6. 前記ベース基板は、略L字形状を有することを特徴とする請求項5記載の荷重センサ。
  7. 前記ベース基板の表面には歪み検出素子とともに入出力端子を設け、前記歪み検出素子を、前記固定部の間の領域に配置する一方、前記固定部を挟んで前記入出力端子と反対側の領域に配置したことを特徴とする請求項1記載の荷重センサ。
  8. 前記ベース基板の表面に設けられ、前記歪み検出素子と共にブリッジ回路を構成する参照抵抗素子を具備し、前記参照抵抗素子を、前記固定部の外側の領域に配置する一方、前記固定部を挟んで前記入出力端子と反対側の領域に配置したことを特徴とする請求項7記載の荷重センサ。
  9. 前記歪み検出素子、入出力端子及び参照抵抗素子を前記ベース基板にスクリーン印刷により形成したことを特徴とする請求項8記載の荷重センサ。
  10. 前記ベース基板は、曲げ部を有すると共に当該曲げ部を挟んで前記検出対象に対向する2面を有し、双方の面に前記固定部を少なくとも1つ設けると共に、一方の面の表面に前記歪み検出素子、入出力端子及び参照抵抗素子を設けたことを特徴とする請求項8記載の荷重センサ。
  11. 前記歪み検出素子を前記曲げ部の近傍の領域に配置する一方、前記参照抵抗素子は前記固定部を挟んで前記曲げ部と反対側の領域に配置されていることを特徴とする請求項10記載の荷重センサ。
  12. 前記ベース基板は、略L字形状を有することを特徴とする請求項10記載の荷重センサ。
  13. 前記歪み検出素子、入出力端子及び参照抵抗素子と同一の面にサーミスタを設けたことを特徴とする請求項10記載の荷重センサ。
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