JPWO2008123248A1 - Insulating sheet with substrate, multilayer printed wiring board, semiconductor device, and method for manufacturing multilayer printed wiring board - Google Patents

Insulating sheet with substrate, multilayer printed wiring board, semiconductor device, and method for manufacturing multilayer printed wiring board Download PDF

Info

Publication number
JPWO2008123248A1
JPWO2008123248A1 JP2009509114A JP2009509114A JPWO2008123248A1 JP WO2008123248 A1 JPWO2008123248 A1 JP WO2008123248A1 JP 2009509114 A JP2009509114 A JP 2009509114A JP 2009509114 A JP2009509114 A JP 2009509114A JP WO2008123248 A1 JPWO2008123248 A1 JP WO2008123248A1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
base material
insulating layer
insulating sheet
printed wiring
wiring board
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2009509114A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
木村 道生
道生 木村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Bakelite Co Ltd
Original Assignee
Sumitomo Bakelite Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Bakelite Co Ltd filed Critical Sumitomo Bakelite Co Ltd
Publication of JPWO2008123248A1 publication Critical patent/JPWO2008123248A1/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/22Secondary treatment of printed circuits
    • H05K3/28Applying non-metallic protective coatings
    • H05K3/281Applying non-metallic protective coatings by means of a preformed insulating foil
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/46Manufacturing multilayer circuits
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B37/00Methods or apparatus for laminating, e.g. by curing or by ultrasonic bonding
    • B32B37/02Methods or apparatus for laminating, e.g. by curing or by ultrasonic bonding characterised by a sequence of laminating steps, e.g. by adding new layers at consecutive laminating stations
    • B32B37/025Transfer laminating
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/46Manufacturing multilayer circuits
    • H05K3/4644Manufacturing multilayer circuits by building the multilayer layer by layer, i.e. build-up multilayer circuits
    • H05K3/4673Application methods or materials of intermediate insulating layers not specially adapted to any one of the previous methods of adding a circuit layer
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B2309/00Parameters for the laminating or treatment process; Apparatus details
    • B32B2309/02Temperature
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B2309/00Parameters for the laminating or treatment process; Apparatus details
    • B32B2309/12Pressure
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B2457/00Electrical equipment
    • B32B2457/08PCBs, i.e. printed circuit boards
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/02Details related to mechanical or acoustic processing, e.g. drilling, punching, cutting, using ultrasound
    • H05K2203/0264Peeling insulating layer, e.g. foil, or separating mask
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/06Lamination
    • H05K2203/066Transfer laminating of insulating material, e.g. resist as a whole layer, not as a pattern

Abstract

多層プリント配線板の絶縁層に用いた場合に、基材を絶縁シートから無理なく剥離することができ、絶縁層のひび割れや脱落などを引き起こすことのない基材付絶縁シート、多層プリント配線板、及び、半導体装置を提供する。多層プリント配線板の絶縁層を形成するために用いられる基材付絶縁シートであって、樹脂組成物からなる絶縁層が基材上に設けられてなり、該絶縁層を被接着面に加熱加圧して接着し、且つ、上記絶縁層を加熱硬化させた後に、上記絶縁層から上記基材を剥離する剥離強度が、0.2kN/m以下であり、絶縁層を加熱硬化後に基材から剥離して用いられるものであることを特徴とする基材付絶縁シート、並びに、樹脂組成物からなる絶縁層が基材上に設けられてなり、該絶縁層を被接着面に60〜160℃、0.2〜5MPaで0.5〜15分間、加熱加圧した時に、20℃において、上記絶縁層から上記基材を剥離する剥離強度が、0.05kN/m以下であることを特徴とする基材付絶縁シート。When used for an insulating layer of a multilayer printed wiring board, the base material can be easily peeled from the insulating sheet, and the insulating sheet with the base material that does not cause cracking or falling off of the insulating layer, the multilayer printed wiring board, A semiconductor device is provided. An insulating sheet with a base material used for forming an insulating layer of a multilayer printed wiring board, wherein an insulating layer made of a resin composition is provided on a base material, and the insulating layer is heated on an adherend surface. After the adhesive layer is pressed and bonded, and the insulating layer is heated and cured, the peel strength for peeling the substrate from the insulating layer is 0.2 kN / m or less, and the insulating layer is peeled from the substrate after heat curing. An insulating sheet with a base material characterized by being used as a base material, and an insulating layer made of a resin composition is provided on the base material, and the insulating layer is attached to the adherend surface at 60 to 160 ° C., When heated and pressurized at 0.2 to 5 MPa for 0.5 to 15 minutes, the peeling strength for peeling the substrate from the insulating layer at 20 ° C. is 0.05 kN / m or less. Insulating sheet with substrate.

Description

本発明は、基材付絶縁シート、多層プリント配線板、半導体装置および多層プリント配線板の製造方法に関するものである。   The present invention relates to an insulating sheet with a substrate, a multilayer printed wiring board, a semiconductor device, and a method for producing a multilayer printed wiring board.

近年、電子機器の高機能化等の要求に伴い、電子部品の高密度集積化、更には高密度実装化等が進んでおり、これらに使用される高密度実装対応のプリント配線板等は、従来にも増して、小型化かつ高密度化が進んでいる。このプリント配線板等の高密度化への対応として、ビルドアップ方式による多層プリント配線板が多く採用されている(例えば、特許文献1参照。)。   In recent years, with the demand for higher functionality of electronic devices, etc., high-density integration of electronic components, and further high-density mounting, etc. are progressing. Compared to the conventional technology, miniaturization and high density are progressing. As a measure for increasing the density of printed wiring boards and the like, a multilayer printed wiring board using a build-up method is often employed (for example, see Patent Document 1).

ビルドアップ方式による多層プリント配線板は、通常、樹脂組成物で構成される厚さ100μm以下の絶縁シートと導体回路層とを積層成形して製造される。また、導体回路層間の接続方法としては、従来のドリル加工に代わって、レーザー法、フォト法等の加工により、ビアホールの形成し、金属メッキ処理等により絶縁層間の導通を図る等の方法が挙げられる。これらの方法は、小径のビアホールを自由に配置することで高密度化を達成するものであり、各々の方法に対応した各種ビルドアップ用層間絶縁材料が提案されている。   A multilayer printed wiring board by a build-up method is usually manufactured by laminating an insulating sheet made of a resin composition and having a thickness of 100 μm or less and a conductor circuit layer. In addition, as a connection method between conductor circuit layers, a method such as forming a via hole by processing such as a laser method or a photo method instead of conventional drilling, and conducting conduction between insulating layers by a metal plating process, etc. It is done. These methods achieve high density by freely arranging small-diameter via holes, and various build-up interlayer insulating materials corresponding to each method have been proposed.

これらのビルドアップ方式用の基材付絶縁シートは、導体回路層に加熱圧着し、絶縁層を半硬化させる前または半硬化させた後または硬化させた後、ビアホール形成の前に基材を絶縁シートから剥離することになるが、絶縁シートと基材との密着力が強すぎると、剥離のプロセスが困難になる上、絶縁層のひび割れや脱落などを引き起こすという問題があった。特に、基材を剥離せずに絶縁層の硬化を行い、その後に基材を剥離する場合、絶縁層の硬化が均一に進み、絶縁層の平坦性が向上するというメリットがあるが、硬化時の加熱により、絶縁シートと基材との密着力が強くなりすぎ、剥離のプロセスが困難になる上、絶縁層のひび割れや基材の付着残りなどを引き起こすという問題があった。   These insulating sheets with base materials for build-up systems are heat-bonded to the conductor circuit layer, insulating the base material before semi-curing the insulating layer, after semi-curing or after curing, and before forming via holes. Although it peels from a sheet | seat, when the adhesive force of an insulating sheet and a base material was too strong, there existed a problem that the process of peeling will become difficult and the crack of an insulating layer, or dropping off would be caused. In particular, when the insulating layer is cured without peeling off the substrate, and then the substrate is peeled off, there is an advantage that the curing of the insulating layer proceeds uniformly and the flatness of the insulating layer is improved. Due to this heating, the adhesion between the insulating sheet and the substrate becomes too strong, making the peeling process difficult, and causing problems such as cracking of the insulating layer and residual adhesion of the substrate.

特開平07-106767号公報Japanese Patent Laid-Open No. 07-106767

本発明は、多層プリント配線板の絶縁層に用いた場合に、作業性が良く、信頼性の高い多層プリント配線板を製造することができる基材付絶縁シート、多層プリント配線板、半導体装置および多層プリント配線板の製造方法を提供するものである。   The present invention provides an insulating sheet with a base material, a multilayer printed wiring board, a semiconductor device, and a semiconductor device capable of producing a multilayer printed wiring board having good workability and high reliability when used for an insulating layer of a multilayer printed wiring board A method for producing a multilayer printed wiring board is provided.

このような目的は、下記の本発明[1]〜[26]により達成される。
[1]多層プリント配線板の絶縁層を形成するために用いられる基材付絶縁シートであって、樹脂組成物からなる絶縁層が基材上に設けられてなり、該絶縁層を被接着面に加熱加圧して接着し、且つ、上記絶縁層を加熱硬化させた後に、20℃において、上記絶縁層から上記基材を剥離する剥離強度が、0.2kN/m以下であり、絶縁層を加熱硬化後に基材から剥離して用いられるものであることを特徴とする基材付絶縁シート。
[2]上記絶縁層を被接着面に60〜160℃、0.2〜5MPaで、0.5〜15分間、加熱加圧することで、上記絶縁層を上記被接着面に接着し、且つ、140〜240℃で30〜120分間加熱することで、上記絶縁層を加熱硬化させた後に、上記絶縁層から上記基材を剥離する剥離強度が、0.2kN/m以下である、[1]項に記載の基材付絶縁シート。
[3]上記基材は、剥離処理剤により剥離処理が施されたものである[1]または[2]項に記載の基材付絶縁シート。
[4]上記剥離処理剤は、非シリコーン系の剥離処理剤である[3]項に記載の基材付絶縁シート。
[5]上記剥離処理剤は、ウレタン結合を持つ化合物を含むものである[3]または[4]項に記載の基材付絶縁シート。
[6]上記基材は、ポリエステル樹脂フィルムである[1]から[5]項のいずれかに記載の基材付絶縁シート。
[7]上記ポリエステル樹脂フィルムは、ポリエチレンテレフタレートフィルムまたはポリエチレンナフタレートフィルムである、[6]項に記載の基材付絶縁シート。
[8]上記樹脂組成物は、エポキシ樹脂を含有するものである[1]から[7]項のいずれかに記載の基材付絶縁シート。
[9]上記樹脂組成物は、無機充填材を含有するものである[1]から[8]項のいずれかに記載の基材付絶縁シート。
[10]上記樹脂組成物は、イミダゾール化合物を含有するものである[1]から[9]項のいずれかに記載の基材付絶縁シート。
Such an object is achieved by the following present inventions [1] to [26].
[1] An insulating sheet with a base material used for forming an insulating layer of a multilayer printed wiring board, wherein an insulating layer made of a resin composition is provided on a base material, and the insulating layer is attached to a surface to be bonded After being heated and pressed to adhere and the insulating layer is heat-cured, the peel strength for peeling the substrate from the insulating layer at 20 ° C. is 0.2 kN / m or less, and the insulating layer is An insulating sheet with a base material, which is used after peeling from the base material after heat curing.
[2] The insulating layer is adhered to the adherend surface by heating and pressing the adherend surface at 60 to 160 ° C. and 0.2 to 5 MPa for 0.5 to 15 minutes, and [1] The peel strength at which the base material is peeled off from the insulating layer after heating and curing the insulating layer by heating at 140 to 240 ° C. for 30 to 120 minutes is 0.2 kN / m or less. The insulating sheet with a base material according to Item.
[3] The insulating sheet with a base material according to [1] or [2], wherein the base material is subjected to a peeling treatment with a peeling treatment agent.
[4] The insulating sheet with a base material according to [3], wherein the release treatment agent is a non-silicone release treatment agent.
[5] The insulating sheet with a base material according to [3] or [4], wherein the release treatment agent includes a compound having a urethane bond.
[6] The insulating sheet with a base material according to any one of [1] to [5], wherein the base material is a polyester resin film.
[7] The insulating sheet with base material according to [6], wherein the polyester resin film is a polyethylene terephthalate film or a polyethylene naphthalate film.
[8] The insulating sheet with base material according to any one of [1] to [7], wherein the resin composition contains an epoxy resin.
[9] The insulating sheet with a base material according to any one of [1] to [8], wherein the resin composition contains an inorganic filler.
[10] The insulating sheet with a base material according to any one of [1] to [9], wherein the resin composition contains an imidazole compound.

[11] [1]から[10]項のいずれかに記載の基材付絶縁シートを、内層回路板の片面または両面に重ね合わせて加熱加圧成形してなる多層プリント配線板。   [11] A multilayer printed wiring board formed by heating and press-molding the insulating sheet with base material according to any one of items [1] to [10] on one or both surfaces of the inner layer circuit board.

[12] [11]項に記載の多層プリント配線板をパッケージ用基板として用いてなる半導体装置。   [12] A semiconductor device using the multilayer printed wiring board according to the item [11] as a package substrate.

[13] [1]から[10]項のいずれかに記載の基材付絶縁シートと、内層回路板とを、該基材付絶縁シートの絶縁層を該内層回路板側にして重ね合わせ、上記樹脂組成物の硬化温度未満で加熱加圧し、多層プリント配線板前駆体を作製する工程と、上記多層プリント配線板前駆体を、上記樹脂組成物の硬化温度以上に加熱して上記絶縁層を硬化させた後、上記基材を剥離して多層プリント配線板を作製する工程と、を備える、多層プリント配線板の作製方法。
[14]多層プリント配線板の絶縁層を形成するために用いられる基材付絶縁シートであって、樹脂組成物からなる絶縁層が基材上に設けられてなり、該絶縁層を被接着面に60〜160℃、0.2〜5MPaで0.5〜15分間、加熱加圧した時に、20℃において、上記絶縁層から上記基材を剥離する剥離強度が、0.05kN/m以下であることを特徴とする基材付絶縁シート。
[15]上記基材は、剥離処理剤により剥離処理が施されたものである[14]項に記載の基材付絶縁シート。
[16]上記剥離処理剤は、非シリコーン系の剥離処理剤である[15]項に記載の基材付絶縁シート。
[17]上記剥離処理剤は、ウレタン結合を持つ化合物を含むものである[15]または[16]項に記載の基材付絶縁シート。
[18]上記基材は、ポリエステル樹脂フィルムである[14]ないし[17]項のいずれかに記載の基材付絶縁シート。
[19]上記ポリエステル樹脂フィルムは、ポリエチレンテレフタレートフィルムまたはポリエチレンナフタレートフィルムである、[18]項に記載の基材付絶縁シート。
[20]上記樹脂組成物は、エポキシ樹脂を含有するものである[14]ないし[19]項のいずれかに記載の基材付絶縁シート。
[21]上記樹脂組成物は、無機充填材を含有するものである[14]ないし[20]項のいずれかに記載の基材付絶縁シート。
[22]上記樹脂組成物は、イミダゾール化合物を含有するものである[14]ないし[21]項のいずれかに記載の基材付絶縁シート。
[23]上記絶縁層を硬化させる前の上記剥離強度が0.05kN/m以下であり、絶縁層の硬化前に基材から剥離して用いられるものである[14]ないし[22]項のいずれかに記載の基材付絶縁シート。
[13] The insulating sheet with base material according to any one of items [1] to [10] and an inner layer circuit board are overlapped with the insulating layer of the insulating sheet with base material facing the inner layer circuit board, Heating and pressurizing at a temperature lower than the curing temperature of the resin composition to produce a multilayer printed wiring board precursor, and heating the multilayer printed wiring board precursor to a temperature equal to or higher than the curing temperature of the resin composition to form the insulating layer. A method of producing a multilayer printed wiring board, comprising: a step of peeling the substrate and producing a multilayer printed wiring board after curing.
[14] An insulating sheet with a base material used for forming an insulating layer of a multilayer printed wiring board, wherein an insulating layer made of a resin composition is provided on the base material, and the insulating layer is attached to the surface to be bonded When the film is heated and pressurized at 60 to 160 ° C. and 0.2 to 5 MPa for 0.5 to 15 minutes, the peel strength at which the substrate is peeled from the insulating layer at 20 ° C. is 0.05 kN / m or less. An insulating sheet with a base material, characterized in that there is.
[15] The insulating sheet with a base material according to item [14], wherein the base material has been subjected to a release treatment with a release treatment agent.
[16] The insulating sheet with base material according to [15], wherein the release treatment agent is a non-silicone release treatment agent.
[17] The insulating sheet with base material according to [15] or [16], wherein the release treatment agent includes a compound having a urethane bond.
[18] The insulating sheet with a base material according to any one of [14] to [17], wherein the base material is a polyester resin film.
[19] The insulating sheet with base material according to [18], wherein the polyester resin film is a polyethylene terephthalate film or a polyethylene naphthalate film.
[20] The insulating sheet with a base material according to any one of [14] to [19], wherein the resin composition contains an epoxy resin.
[21] The insulating sheet with base material according to any one of [14] to [20], wherein the resin composition contains an inorganic filler.
[22] The insulating sheet with base material according to any one of [14] to [21], wherein the resin composition contains an imidazole compound.
[23] The item according to items [14] to [22], wherein the peel strength before curing the insulating layer is 0.05 kN / m or less, and the layer is peeled off from the base material before curing the insulating layer. The insulating sheet with a base material according to any one of the above.

[24] [14]から[23]項のいずれかに記載の基材付絶縁シートを、内層回路板の片面または両面に重ね合わせて加熱加圧成形してなる多層プリント配線板。   [24] A multilayer printed wiring board obtained by heating and press-molding the insulating sheet with a base material according to any one of items [14] to [23] on one or both surfaces of the inner circuit board.

[25] [24]項に記載の多層プリント配線板をパッケージ用基板として用いてなる半導体装置。   [25] A semiconductor device using the multilayer printed wiring board according to the item [24] as a package substrate.

[26] [14]から[23]項のいずれかに記載の基材付絶縁シートと、内層回路板とを、該基材付絶縁シートの絶縁層を該内層回路板側にして重ね合わせ、上記樹脂組成物の硬化温度未満で加熱加圧し、多層プリント配線板前駆体を作製する工程と、上記多層プリント配線板前駆体において、上記基材を上記絶縁層から剥離した後、上記樹脂組成物の硬化温度以上に加熱して上記絶縁層を硬化させ、多層プリント配線板を作製する工程と、を備える、多層プリント配線板の作製方法。   [26] The insulating sheet with base material according to any one of items [14] to [23] and the inner layer circuit board are overlapped with the insulating layer of the insulating sheet with base material facing the inner layer circuit board, In the step of producing a multilayer printed wiring board precursor by heating and pressing at a temperature lower than the curing temperature of the resin composition, and in the multilayer printed wiring board precursor, after peeling the substrate from the insulating layer, the resin composition A method of producing a multilayer printed wiring board, comprising: heating the above-described curing temperature to cure the insulating layer to produce a multilayer printed wiring board.

本発明は、多層プリント配線板の絶縁層を形成するために用いられる基材付絶縁シートであって、樹脂組成物からなる絶縁層が基材上に設けられてなり、該絶縁層を被接着面に加熱加圧して接着し、且つ、上記絶縁層を加熱硬化させた後に、上記絶縁層から上記基材を剥離する剥離強度が、0.2kN/m以下であり、絶縁層を加熱硬化後に基材から剥離して用いられるものであることを特徴とする基材付絶縁シート、並びに、多層プリント配線板の絶縁層を形成するために用いられる基材付絶縁シートであって、樹脂組成物からなる絶縁層が基材上に設けられてなり、該絶縁層を被接着面に60〜160℃、0.2〜5MPaで0.5〜15分間、加熱加圧した時に、20℃において、上記絶縁層から上記基材を剥離する剥離強度が、0.05kN/m以下であることを特徴とする基材付絶縁シートを提供するものである。
本発明の基材付絶縁シートを多層プリント配線板の絶縁層に用いることにより、作業性が良く、不具合を起こすことなく、高密度で微細な回路形成が可能な多層プリント配線板を製造することができる。また特に、システム・イン・パッケージ(SiP)等に用いられるパッケージ基板と呼ばれる基板に好適に用いることができる。パッケージ基板は、プリント配線板と半導体素子との間で、プリント配線板と半導体素子との信号伝達の仲介役として働くため、高密度な微細回路形成が要求されるが、本発明の基材付絶縁シートを用いることでパッケージ基板に要求される高密度な微細回路形成が可能となる。さらに本発明の基材付絶縁シートを用い製造されたパッケージ基板に半導体素子を搭載してなる半導体装置は信頼性に優れる。
The present invention is an insulating sheet with a base material used for forming an insulating layer of a multilayer printed wiring board, wherein an insulating layer made of a resin composition is provided on the base material, and the insulating layer is adhered After the surface is heated and pressed to adhere and the insulating layer is heat-cured, the peel strength for peeling the substrate from the insulating layer is 0.2 kN / m or less, and the insulating layer is heat-cured An insulating sheet with a base material, which is used by being peeled from the base material, and an insulating sheet with a base material used for forming an insulating layer of a multilayer printed wiring board, wherein the resin composition When the insulating layer is provided on a base material, and the insulating layer is heated and pressed at 60 to 160 ° C. and 0.2 to 5 MPa for 0.5 to 15 minutes at 20 ° C., The peel strength at which the substrate is peeled from the insulating layer is 0. There is provided an insulating sheet with the substrate to equal to or less than 5 kN / m.
By using the insulating sheet with a substrate of the present invention for an insulating layer of a multilayer printed wiring board, a multi-layer printed wiring board capable of forming a high-density and fine circuit without causing troubles and having good workability is manufactured. Can do. In particular, it can be suitably used for a substrate called a package substrate used for system-in-package (SiP) or the like. Since the package substrate serves as an intermediary for signal transmission between the printed wiring board and the semiconductor element between the printed wiring board and the semiconductor element, high-density fine circuit formation is required. By using the insulating sheet, it is possible to form a high-density fine circuit required for the package substrate. Furthermore, a semiconductor device in which a semiconductor element is mounted on a package substrate manufactured using the insulating sheet with a base material of the present invention is excellent in reliability.

以下に、本発明の基材付絶縁シート、多層プリント配線板及び半導体装置について詳細に説明する。
本発明の第1の基材付絶縁シートは、多層プリント配線板の絶縁層を形成するために用いられる基材付絶縁シートであって、樹脂組成物からなる絶縁層が基材上に設けられてなり、該絶縁層を被接着面に加熱加圧して接着し、且つ、上記絶縁層を加熱硬化させた後に、20℃において、上記絶縁層から上記基材を剥離する剥離強度が、0.2kN/m以下であり、絶縁層を加熱硬化後に基材から剥離して用いられるものであることを特徴とするものである。
Below, the insulating sheet with a base material of the present invention, a multilayer printed wiring board, and a semiconductor device are explained in detail.
The first insulating sheet with a base material of the present invention is an insulating sheet with a base material used for forming an insulating layer of a multilayer printed wiring board, and an insulating layer made of a resin composition is provided on the base material. The peel strength at which the base material is peeled off from the insulating layer at 20 ° C. after the insulating layer is heated and pressurized to adhere to the adherend surface and the insulating layer is heat-cured is 0.degree. It is 2 kN / m or less, and the insulating layer is used after being heat-cured and peeled off from the base material.

また、本発明の第1の多層プリント配線板は、上記本発明の第1の基材付絶縁シートを、内層回路板の片面または両面に重ね合わせて加熱加圧成形してなるものである。
さらに、本発明の第1の半導体装置は、上記本発明の第1の多層プリント配線板をシステム・イン・パッケージ等の半導体装置を構成するパッケージ用基板として好適に使用することができるものであり、該パッケージ用基板に半導体素子を実装してなる半導体装置は信頼性に優れる。
また、本発明の第1の多層プリント配線板の製造方法は、上記本発明の第1の基材付絶縁シートと、内層回路板とを、該基材付絶縁シートの絶縁層を該内層回路板側にして重ね合わせ、上記樹脂組成物の硬化温度未満で加熱加圧し、多層プリント配線板前駆体を作製する工程と、上記多層プリント配線板前駆体を、上記樹脂組成物の硬化温度以上に加熱して上記絶縁層を硬化させた後、上記基材を剥離して多層プリント配線板を作製する工程と、を備えるものである。
Moreover, the 1st multilayer printed wiring board of this invention superposes the said 1st insulating sheet with a base material of this invention on one side or both surfaces of an inner-layer circuit board, and heat-press-molds it.
Further, in the first semiconductor device of the present invention, the first multilayer printed wiring board of the present invention can be suitably used as a package substrate constituting a semiconductor device such as a system-in-package. A semiconductor device in which a semiconductor element is mounted on the package substrate is excellent in reliability.
Moreover, the manufacturing method of the 1st multilayer printed wiring board of this invention WHEREIN: The said 1st insulating sheet with a base material of this invention and an inner-layer circuit board are used for the insulating layer of this insulating sheet with a base material, and this inner-layer circuit. Overlaying on the board side, heating and pressing below the curing temperature of the resin composition to produce a multilayer printed wiring board precursor, and the multilayer printed wiring board precursor at a temperature equal to or higher than the curing temperature of the resin composition Heating and curing the insulating layer, and then peeling the base material to produce a multilayer printed wiring board.

本発明の第2の基材付絶縁シートは、多層プリント配線板の絶縁層を形成するために用いられる基材付絶縁シートであって、樹脂組成物からなる絶縁層が基材上に設けられてなり、該絶縁層を被接着面に60〜160℃、0.2〜5MPaで0.5〜15分間、加熱加圧した時に、20℃において、上記絶縁層から上記基材を剥離する剥離強度が、0.05kN/m以下であることを特徴とするものである。   The second insulating sheet with a base material of the present invention is an insulating sheet with a base material used for forming an insulating layer of a multilayer printed wiring board, and an insulating layer made of a resin composition is provided on the base material. Peeling that peels off the substrate from the insulating layer at 20 ° C. when the insulating layer is heated and pressed at 60 to 160 ° C. and 0.2 to 5 MPa for 0.5 to 15 minutes on the surface to be bonded. The strength is 0.05 kN / m or less.

また、本発明の第2の多層プリント配線板は、上記本発明の第2の基材付絶縁シートを、内層回路板の片面または両面に重ね合わせて加熱加圧成形してなるものである。
さらに、本発明の第2の半導体装置は、上記本発明の第2の多層プリント配線板をシステム・イン・パッケージ等の半導体装置を構成するパッケージ用基板として好適に使用することができるものであり、該パッケージ用基板に半導体素子を実装してなる半導体装置は信頼性に優れる。
また、本発明の第2の多層プリント配線板の製造方法は、上記本発明の第2の基材付絶縁シートと、内層回路板とを、該基材付絶縁シートの絶縁層を該内層回路板側にして重ね合わせ、上記樹脂組成物の硬化温度未満で加熱加圧し、多層プリント配線板前駆体を作製する工程と、上記多層プリント配線板前駆体において、上記基材を上記絶縁層から剥離した後、上記樹脂組成物の硬化温度以上に加熱して上記絶縁層を硬化させ、多層プリント配線板を作製する工程と、を備えるものである。
Moreover, the second multilayer printed wiring board of the present invention is formed by heating and press-molding the above-mentioned second insulating sheet with a base material of the present invention on one side or both sides of the inner layer circuit board.
Furthermore, in the second semiconductor device of the present invention, the second multilayer printed wiring board of the present invention can be suitably used as a package substrate constituting a semiconductor device such as a system-in-package. A semiconductor device in which a semiconductor element is mounted on the package substrate is excellent in reliability.
The second multilayer printed wiring board manufacturing method of the present invention includes the second insulating sheet with a base material of the present invention and an inner layer circuit board, and the insulating layer of the insulating sheet with a base material of the inner layer circuit. Laminating on the board side, heating and pressing below the curing temperature of the resin composition to produce a multilayer printed wiring board precursor, and peeling the substrate from the insulating layer in the multilayer printed wiring board precursor And then heating to a temperature equal to or higher than the curing temperature of the resin composition to cure the insulating layer and producing a multilayer printed wiring board.

まず、本発明の基材付絶縁シートについて説明する。
本発明の基材付絶縁シートは、基材上に樹脂組成物よりなる絶縁層を形成することで得られる。なお本発明に用いる「基材」とは金属箔または樹脂フィルムを意味し、後に具体例を挙げて説明する。
また、本発明において、剥離強度の測定は、例えば、精密万能試験機(オートグラフAG−IS、島津製作所製)を用い測定することができる。剥離強度は、20℃において、幅1cmの基材の端を一部引き剥がして、その先端をつかみ具でつかみ、引っ張り方向が被接着面に接着した絶縁層に対して垂直になる方向に、5mm/minの速さで連続的に30mm剥がしたときの平均値(n=2以上)とした。
また、本発明において、被接着面とは、基材付絶縁シートの絶縁層と接着させる面であり、絶縁層と基材とを剥離する際に、絶縁層と剥離しない剥離強度で該絶縁層を接着する。被接着面を提供するものとしては、多層プリント配線板を構成する内層回路板の他、特に限定されず用いることができる。絶縁層と基材の剥離強度を測定するために、上記条件を満たす被接着面を提供する試験用ピース基板を用いることもできる。
First, the insulating sheet with a base material of the present invention will be described.
The insulating sheet with a substrate of the present invention can be obtained by forming an insulating layer made of a resin composition on a substrate. The “base material” used in the present invention means a metal foil or a resin film, which will be described later with specific examples.
In the present invention, the peel strength can be measured using, for example, a precision universal testing machine (Autograph AG-IS, manufactured by Shimadzu Corporation). Peel strength is a direction in which the end of the substrate having a width of 1 cm is partially peeled off at 20 ° C., the tip is held with a gripping tool, and the pulling direction is perpendicular to the insulating layer bonded to the adherend surface. The average value (n = 2 or more) when peeling 30 mm continuously at a speed of 5 mm / min was used.
Further, in the present invention, the bonded surface is a surface to be bonded to the insulating layer of the insulating sheet with a base material, and the insulating layer has a peeling strength that does not peel from the insulating layer when the insulating layer and the base material are peeled off. Glue. In addition to the inner layer circuit board constituting the multilayer printed wiring board, the surface to be bonded can be used without particular limitation. In order to measure the peel strength between the insulating layer and the base material, a test piece substrate that provides an adherend surface that satisfies the above conditions can also be used.

本発明の第1の基材付絶縁シートは、多層プリント配線板の絶縁層を形成するために用いられる基材付絶縁シートであって、樹脂組成物からなる絶縁層が基材上に設けられてなり、該絶縁層を被接着面に加熱加圧して接着し、且つ、上記絶縁層を加熱硬化させた後に、20℃において、上記絶縁層から上記基材を剥離する剥離強度が、0.2kN/m以下であり、絶縁層を加熱硬化後に基材から剥離して用いられるものであることを特徴とするものである。   The first insulating sheet with a base material of the present invention is an insulating sheet with a base material used for forming an insulating layer of a multilayer printed wiring board, and an insulating layer made of a resin composition is provided on the base material. The peel strength at which the base material is peeled off from the insulating layer at 20 ° C. after the insulating layer is heated and pressurized to adhere to the adherend surface and the insulating layer is heat-cured is 0.degree. It is 2 kN / m or less, and the insulating layer is used after being heat-cured and peeled off from the base material.

樹脂組成物からなる絶縁層が基材上に設けられてなる基材付絶縁シートにおいて、該絶縁層を被接着面に加熱加圧して接着し、且つ、上記絶縁層を加熱硬化させた後、該絶縁層から基材を剥離する場合、上記剥離強度が上記上限値(0.2kN/m)を超えると、多層プリント配線板製造時において、基材と絶縁層とを剥離することが非常に困難で、基材を絶縁層から剥離することができない場合や、剥離の際に絶縁層にひび割れが発生する場合がある。
これに対して本発明の第1の基材付絶縁シートは、該絶縁層を被接着面に加熱加圧して接着し、且つ、上記絶縁層を加熱硬化させた後においても、絶縁層から基材を無理なく剥離することができるため、作業性に優れると共に、絶縁層のひび割れや脱落などが生じにくい。すなわち、表面平滑性の高い絶縁層を提供することができる。ゆえに、本発明により提供される絶縁層の表面には、微細な配線回路を精度よく形成することができ、また、後述の粗化処理工程においてその表面に微細な凹凸形状を高い均一性で多数形成することができる。
In an insulating sheet with a base material in which an insulating layer made of a resin composition is provided on a base material, the insulating layer is bonded to the surface to be bonded by heating and pressing, and the insulating layer is heated and cured, When the substrate is peeled from the insulating layer, if the peel strength exceeds the upper limit (0.2 kN / m), the substrate and the insulating layer can be peeled off when the multilayer printed wiring board is manufactured. It may be difficult to peel the substrate from the insulating layer, or the insulating layer may be cracked during peeling.
On the other hand, the first insulating sheet with a base material of the present invention adheres the insulating layer to the adherend surface by heating and pressurization, and after the insulating layer is heat-cured, the insulating layer is formed from the insulating layer. Since the material can be peeled without difficulty, the workability is excellent and the insulating layer is not easily cracked or dropped off. That is, an insulating layer with high surface smoothness can be provided. Therefore, a fine wiring circuit can be accurately formed on the surface of the insulating layer provided by the present invention, and a large number of fine concavo-convex shapes can be formed on the surface in a roughening process described later with high uniformity. Can be formed.

本発明の第1の基材付絶縁シートにおいて、上記剥離強度は、0.001〜0.1kN/mの範囲であることが好ましく、0.005〜0.05kN/mの範囲であることが最も好ましい。上記剥離強度が上記下限値未満であると、基材と絶縁層との密着力が弱く、例えば、多層プリント配線板製造時において、内層回路基板に基材付絶縁シートを積層後、加熱硬化を行う前に、基材が剥離して、絶縁層の表面に異物が付着し、不具合が生じる場合がある。
本発明の第1の基材付絶縁シートにおいて、絶縁層を被接着面に60〜160℃、0.2〜5MPaで0.5〜15分間、加熱加圧した後であって、絶縁層の加熱硬化前における、絶縁層と基材との剥離強度は、0.001〜0.05kN/mの範囲、特に0.005〜0.03kN/mの範囲であることが好ましい。
In the first insulating sheet with a base material of the present invention, the peel strength is preferably in the range of 0.001 to 0.1 kN / m, and preferably in the range of 0.005 to 0.05 kN / m. Most preferred. When the peel strength is less than the lower limit, the adhesion between the base material and the insulating layer is weak.For example, when manufacturing a multilayer printed wiring board, an insulating sheet with a base material is laminated on the inner layer circuit board and then heat-cured. Before performing, a base material peels and a foreign material adheres to the surface of an insulating layer, and a malfunction may arise.
In the first insulating sheet with a base material of the present invention, the insulating layer is heated and pressed on the adherend surface at 60 to 160 ° C. and 0.2 to 5 MPa for 0.5 to 15 minutes. The peel strength between the insulating layer and the substrate before heat curing is preferably in the range of 0.001 to 0.05 kN / m, and more preferably in the range of 0.005 to 0.03 kN / m.

本発明の第1の基材付絶縁シートにおいて、絶縁層を被接着面に加圧加熱して接着させる条件は特に限定されないが、加熱温度60〜160℃、加圧0.2〜5MPaで、0.5〜15分間保持することが好ましく、特に加熱温度80〜120℃、加圧1〜3MPaで、1〜5分間保持することが好ましい。
また、絶縁層を加熱硬化させる硬化温度条件は、特に限定されないが、140℃〜240℃で絶縁層を硬化させることが好ましく、更に好ましくは150℃〜200℃、最も好ましくは160℃〜180℃である。加熱時間は、特に限定されないが、30〜120分間が好ましく、特に、45〜90分間が好ましい。
In the first insulating sheet with a substrate of the present invention, the conditions for pressurizing and heating the insulating layer to the adherend surface are not particularly limited, but at a heating temperature of 60 to 160 ° C. and a pressure of 0.2 to 5 MPa, It is preferable to hold for 0.5 to 15 minutes, and it is particularly preferable to hold for 1 to 5 minutes at a heating temperature of 80 to 120 ° C. and a pressure of 1 to 3 MPa.
Moreover, the curing temperature condition for heat-curing the insulating layer is not particularly limited, but it is preferable to cure the insulating layer at 140 to 240 ° C, more preferably 150 to 200 ° C, and most preferably 160 to 180 ° C. It is. The heating time is not particularly limited, but is preferably 30 to 120 minutes, and particularly preferably 45 to 90 minutes.

一方、本発明の第2の基材付絶縁シートは、多層プリント配線板の絶縁層を形成するために用いられる基材付絶縁シートであって、樹脂組成物からなる絶縁層が基材上に設けられてなり、該絶縁層を被接着面に60〜160℃、0.2〜5MPaで0.5〜15分間、加熱加圧した時に、20℃において、上記絶縁層から上記基材を剥離する剥離強度が、0.05kN/m以下であることを特徴とするものである。第2の基材付絶縁シートは、典型的には、絶縁層の硬化前において、上記剥離強度が0.05kN/m以下であり、絶縁層を硬化前に基材から剥離して用いられるものである。   On the other hand, the second insulating sheet with a base material of the present invention is an insulating sheet with a base material used for forming an insulating layer of a multilayer printed wiring board, and the insulating layer made of a resin composition is formed on the base material. When the insulating layer is heated and pressed at 60 to 160 ° C. and 0.2 to 5 MPa for 0.5 to 15 minutes at 20 ° C., the base material is peeled from the insulating layer. The peel strength to be applied is 0.05 kN / m or less. The second insulating sheet with a substrate typically has a peel strength of 0.05 kN / m or less before the insulating layer is cured, and is used by peeling the insulating layer from the substrate before curing. It is.

樹脂組成物からなる絶縁層が基材上に設けられてなる基材付絶縁シートにおいて、絶縁層を被接着面に60〜160℃、0.2〜5MPaで0.5〜15分間、加熱加圧した時の上記剥離強度、特に、硬化前の絶縁層から基材を剥離する剥離強度が、上記上限値(0.05kN/m)を超えると、多層プリント配線板製造時において、基材と絶縁層とを剥離することが非常に困難で、基材を絶縁層から剥離することができない場合や、剥離の際に絶縁層にひび割れが発生する場合がある。
これに対して本発明の第2の基材付絶縁シートは、絶縁層を被接着面に60〜160℃、0.2〜5MPaで0.5〜15分間、加熱加圧した後、絶縁層から基材を無理なく剥離することができるため、作業性に優れると共に、絶縁層のひび割れや脱落などが生じにくい。すなわち、表面平滑性の高い絶縁層を提供することができる。ゆえに、本発明により提供される絶縁層の表面には、微細な配線回路を精度よく形成することができ、また、後述の粗化処理工程においてその表面に微細な凹凸形状を高い均一性で多数形成することができる。
In the insulating sheet with a base material in which the insulating layer made of the resin composition is provided on the base material, the insulating layer is heated on the surface to be bonded at 60 to 160 ° C. and 0.2 to 5 MPa for 0.5 to 15 minutes. When the peel strength when pressed, in particular, the peel strength for peeling the substrate from the insulating layer before curing exceeds the upper limit (0.05 kN / m), the substrate and It is very difficult to peel off the insulating layer, and the base material cannot be peeled from the insulating layer, or cracks may occur in the insulating layer during peeling.
On the other hand, the second insulating sheet with a base material of the present invention is such that the insulating layer is heated and pressed on the adherend surface at 60 to 160 ° C. and 0.2 to 5 MPa for 0.5 to 15 minutes, and then the insulating layer. Since the base material can be peeled off without difficulty, the workability is excellent and the insulating layer is not easily cracked or dropped off. That is, an insulating layer with high surface smoothness can be provided. Therefore, a fine wiring circuit can be accurately formed on the surface of the insulating layer provided by the present invention, and a large number of fine concavo-convex shapes can be formed on the surface in a roughening process described later with high uniformity. Can be formed.

本発明の第2の基材付絶縁シートにおいて、上記剥離強度は、0.001〜0.03kN/mの範囲であることが好ましく、0.005〜0.02kN/mの範囲であることが最も好ましい。また、第2の基材付絶縁シートは、絶縁層と被接触面との加熱加圧条件が、80〜120℃、1〜3MPaで1〜5分間の場合でも、上記剥離強度が上記範囲内であることが好ましい。
剥離強度が上記下限値未満であると、基材と絶縁層との密着力が弱く、例えば、多層プリント配線板製造時において、内層回路基板に基材付絶縁シートを積層後、絶縁層の加熱硬化前に、基材が剥離して、絶縁層の表面に異物が付着し、不具合が生じる場合がある。また、剥離強度が上記下限値未満であると、基材付絶縁シートの保管時などに基材が以前剥離し、取り扱い性の低下や絶縁層の表面に異物が付着するという問題が生じ易い。
In the second insulating sheet with a base material of the present invention, the peel strength is preferably in the range of 0.001 to 0.03 kN / m, and preferably in the range of 0.005 to 0.02 kN / m. Most preferred. In addition, the second insulating sheet with a base material has the above peel strength within the above range even when the heating and pressing conditions between the insulating layer and the contacted surface are 80 to 120 ° C. and 1 to 3 MPa for 1 to 5 minutes. It is preferable that
When the peel strength is less than the above lower limit, the adhesion between the base material and the insulating layer is weak. For example, when a multilayer printed wiring board is manufactured, the insulating layer is heated on the inner layer circuit board after being laminated. Prior to curing, the substrate may be peeled off, and foreign matter may adhere to the surface of the insulating layer, causing problems. Moreover, when the peel strength is less than the above lower limit value, the base material is peeled off before storage of the insulating sheet with the base material, and problems such as deterioration in handleability and adhesion of foreign matter to the surface of the insulating layer are likely to occur.

以下、本発明の第1及び第2の基材付絶縁シートを構成する基材及び絶縁層について説明していく。
本発明の基材付絶縁シートに用いる基材は、剥離処理剤により剥離処理が施されていることが好ましい。剥離処理が施されていない場合、絶縁層を構成する樹脂組成物によっては、基材と絶縁層との剥離強度が大きくなりすぎる場合があり、基材を絶縁層から剥離することができないことや、剥離の際に絶縁層にひび割れが発生することがある。
Hereinafter, the base material and the insulating layer constituting the first and second insulating sheets with base material of the present invention will be described.
It is preferable that the base material used for the insulating sheet with a base material of the present invention is subjected to release treatment with a release treatment agent. When the peeling treatment is not performed, depending on the resin composition constituting the insulating layer, the peeling strength between the base material and the insulating layer may become too large, and the base material cannot be peeled from the insulating layer. In the case of peeling, the insulating layer may crack.

上記剥離処理剤は、特に限定されないが、例えば、非シリコーン系の剥離処理剤を好適に用いることができる。非シリコーン系の剥離処理剤は剥離強度が大きくなりすぎることが無く、また小さくなりすぎることもないため好適である。非シリコーン系の剥離処理剤としては熱硬化型ポリエステル樹脂、アミノアルキレッド樹脂、ウレタン系樹脂等が挙げられる。   The release treatment agent is not particularly limited. For example, a non-silicone release treatment agent can be suitably used. Non-silicone release treatment agents are preferred because the peel strength does not increase too much and does not become too small. Non-silicone release treatment agents include thermosetting polyester resins, aminoalkyl red resins, urethane resins and the like.

中でも、非シリコーン系の剥離処理剤として、ウレタン結合を持つ化合物を含むことが好ましい。ウレタン結合を持つ化合物は絶縁シートの成分と反応して不具合を起こすことがなく、時間の経過による密着力の変化が小さい。ウレタン結合を持つ化合物としてはエチレン/ビニルアルコール共重合体とアルキルイソシアネートの反応生成物やエチレンオキシド付加ポリエチレンイミンとアルキルイソシアネートの反応生成物等が挙げられる。   Among these, it is preferable to include a compound having a urethane bond as the non-silicone release treatment agent. A compound having a urethane bond does not react with the components of the insulating sheet to cause a problem, and the change in adhesion with time is small. Examples of the compound having a urethane bond include a reaction product of an ethylene / vinyl alcohol copolymer and an alkyl isocyanate, a reaction product of an ethylene oxide-added polyethyleneimine and an alkyl isocyanate, and the like.

基材を上記剥離処理剤で剥離処理する方法としては、特に限定されないが、例えば、剥離処理剤を適当な有機溶媒に溶解または分散させた塗工液を調製し、該塗工液をロールコーター、キスコーター、グラビアコーター、スロットダイコーター、スクイズコーターなどの適宜の塗工手段で、剥離処理すべき面に塗工し乾燥する方法が挙げられる。
剥離処理層の処理量は、特に制限されないが、例えば、0.01〜5g/m、好ましくは0.1〜2g/mの範囲である。この範囲であれば、剥離処理層を均一に形成しやすく、またべたつきも防止でき、取扱いが容易である。
The method for releasing the substrate with the release agent is not particularly limited. For example, a coating solution in which the release agent is dissolved or dispersed in an appropriate organic solvent is prepared, and the coating solution is applied to a roll coater. And a method of coating and drying on the surface to be peeled by an appropriate coating means such as a kiss coater, a gravure coater, a slot die coater, or a squeeze coater.
Processing amount of release treatment layer is not particularly limited, for example, 0.01-5 g / m 2, preferably in the range of 0.1-2 g / m 2. If it is this range, it is easy to form a peeling process layer uniformly, can also prevent stickiness, and is easy to handle.

本発明の基材付絶縁シートに用いられる基材は、特に限定されないが、例えば、ポリエステル樹脂、フッ素系樹脂、ポリイミド樹脂などの耐熱性を有した熱可塑性樹脂フィルム、あるいは、銅及び/又は銅系合金、アルミ及び/又はアルミ系合金、鉄及び/又は鉄系合金、銀及び/又は銀系合金等の金属箔などを用いることが出来る。これらの中でもポリエステル樹脂フィルムが最も好ましい。ポリエステル樹脂は強度や耐熱性が高く、吸湿性が少ないなど、絶縁シートの基材として適した特性を持つ。ポリエステル樹脂フィルムとしてはポリエチレンテレフタレート、ポリブチレンテレフタレート、ポリトリメチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリブチレンナフタレート等が挙げられる。
上記基材の厚みは、特に限定されないが、10〜70μmのものを用いると、基材付絶縁シートを製造する際の取扱い性が良好であり好ましい。
なお、本発明の基材付絶縁シートを製造するにあたっては、絶縁シートと接合される側の絶縁基材表面の凹凸は極力小さいものであることが好ましい。これにより、本発明の作用を効果的に発現させることができる。
Although the base material used for the insulating sheet with a base material of the present invention is not particularly limited, for example, a thermoplastic resin film having heat resistance such as a polyester resin, a fluororesin, a polyimide resin, or copper and / or copper Metal foils such as aluminum alloys, aluminum and / or aluminum alloys, iron and / or iron alloys, silver and / or silver alloys, and the like can be used. Among these, a polyester resin film is most preferable. Polyester resin has properties suitable as a base material for insulating sheets, such as high strength and heat resistance, and low hygroscopicity. Examples of the polyester resin film include polyethylene terephthalate, polybutylene terephthalate, polytrimethylene terephthalate, polyethylene naphthalate, and polybutylene naphthalate.
Although the thickness of the said base material is not specifically limited, When the thing of 10-70 micrometers is used, the handleability at the time of manufacturing an insulating sheet with a base material is favorable, and is preferable.
In manufacturing the insulating sheet with a substrate of the present invention, it is preferable that the unevenness on the surface of the insulating substrate on the side to be joined to the insulating sheet is as small as possible. Thereby, the effect | action of this invention can be expressed effectively.

本発明の基材付絶縁シートの絶縁層を形成する樹脂組成物は、エポキシ樹脂を1種以上含有することが好ましい。これにより、耐熱性、熱分解性を付与することができるとともに、基材付絶縁シートを製造する時の製膜性や、多層プリント配線板製造時に内層回路基板への密着性を向上させることができる。   The resin composition forming the insulating layer of the insulating sheet with a substrate of the present invention preferably contains one or more epoxy resins. As a result, heat resistance and thermal decomposability can be imparted, and film formability when manufacturing an insulating sheet with a base material and adhesion to an inner circuit board when manufacturing a multilayer printed wiring board can be improved. it can.

上記エポキシ樹脂は、特に限定されないが、例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、アルキルフェノールノボラック型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、フェノール類とフェノール性水酸基を有する芳香族アルデヒドとの縮合物のエポキシ化物、トリグリシジルイソシアヌレート、脂環式エポキシ樹脂など公知慣用のものを、単独あるいは2種以上組み合わせて使用することができる。また、反応性希釈剤としての単官能エポキシ樹脂を含有していてもよい。これらの中でも特にフェノールノボラック型エポキシ樹脂、アルキルフェノールノボラック型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂が好ましい。これにより、難燃性、吸湿半田耐熱性を向上させることができる。   The epoxy resin is not particularly limited. For example, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, phenol novolac type epoxy resin, alkylphenol novolac type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, naphthalene type epoxy Resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, epoxidized product of condensate of phenol and aromatic aldehyde having phenolic hydroxyl group, triglycidyl isocyanurate, alicyclic epoxy resin, etc., one or more known ones Can be used in combination. Moreover, you may contain the monofunctional epoxy resin as a reactive diluent. Among these, phenol novolac type epoxy resins, alkylphenol novolac type epoxy resins, biphenyl type epoxy resins, and naphthalene type epoxy resins are particularly preferable. Thereby, a flame retardance and moisture absorption solder heat resistance can be improved.

上記エポキシ樹脂の含有量としては、特に限定されないが、樹脂組成物全体に対して5〜80重量%であることが好ましい。さらに好ましくは10〜60重量%である。
エポキシ樹脂の含有量が上記下限値未満であると、吸湿半田耐熱性、密着性を向上させる効果が小さい場合がある。また、上記上限値を超えると、分散性が悪くなることがあるため好ましくない。エポキシ樹脂の含有量を上記範囲内とすることにより、これらの特性のバランスに優れたものとすることができる。
Although it does not specifically limit as content of the said epoxy resin, It is preferable that it is 5 to 80 weight% with respect to the whole resin composition. More preferably, it is 10 to 60% by weight.
If the content of the epoxy resin is less than the lower limit, the effect of improving moisture-absorbing solder heat resistance and adhesion may be small. Moreover, since the dispersibility may worsen when the said upper limit is exceeded, it is unpreferable. By setting the content of the epoxy resin within the above range, it is possible to achieve an excellent balance of these characteristics.

本発明の基材付絶縁シートの絶縁層を形成する樹脂組成物は、一種類以上の無機充填材を含有することが好ましい。無機充填材としては、特に限定されないが、例えば、シリカ、タルク、アルミナ、ガラス、マイカ、水酸化アルミニウム等があげられる。無機充填材としては、これらの中の1種類を単独で用いることもできるし、2種類以上を併用したりすることもできる。中でもシリカが好ましい。さらに好ましくは溶融シリカである。溶融シリカは他の無機充填材と比較して低膨張性に優れている。シリカの形状としては例えば、破砕状、球状などがあるが、球状であるものが好ましい。球状であると樹脂組成物中における無機充填材含有量を多くすることができ、その場合でも流動性に優れている。また、必要に応じて他の無機充填材も含有させることができる。   It is preferable that the resin composition which forms the insulating layer of the insulating sheet with a substrate of the present invention contains one or more kinds of inorganic fillers. The inorganic filler is not particularly limited, and examples thereof include silica, talc, alumina, glass, mica, and aluminum hydroxide. As the inorganic filler, one of these can be used alone, or two or more can be used in combination. Of these, silica is preferable. More preferred is fused silica. Fused silica is superior in low expansion compared to other inorganic fillers. Examples of the shape of silica include a crushed shape and a spherical shape, and a spherical shape is preferable. When it is spherical, the content of the inorganic filler in the resin composition can be increased, and even in that case, the fluidity is excellent. Moreover, another inorganic filler can also be contained as needed.

上記無機充填材の含有量は特に限定されないが、樹脂組成物中に20重量%以上80重量%以下の割合であることが好ましい。さらに好ましい含有量は、25重量%以上70重量%以下であり、最も好ましくは30重量%以上60重量%以下である。無機充填材含有量が上記上限値を超えると樹脂組成物の流動性が極めて悪くなるため好ましくない場合があり、上記下限値未満であると樹脂組成物からなる絶縁層の強度が十分でなく、好ましくない場合がある。   Although content of the said inorganic filler is not specifically limited, It is preferable that it is a ratio of 20 to 80 weight% in a resin composition. A more preferable content is 25% by weight or more and 70% by weight or less, and most preferably 30% by weight or more and 60% by weight or less. If the inorganic filler content exceeds the above upper limit, the fluidity of the resin composition may be extremely poor, which may be undesirable, and if it is less than the lower limit, the strength of the insulating layer made of the resin composition is not sufficient, It may not be preferable.

本発明の基材付絶縁シートの絶縁層を形成する樹脂組成物は、硬化促進剤としてイミダゾール化合物を含有することが好ましい。さらに好ましくは、樹脂組成物に含有される樹脂成分と相溶性のあるイミダゾール化合物である。このようなイミダゾール化合物を用いることにより、エポキシ樹脂の反応を効果的に促進させることができ、また、イミダゾール化合物の配合量を少なくしても同等の特性を付与することができる。
さらに、このようなイミダゾール化合物を用いた樹脂組成物は、樹脂成分との間で微小なマトリックス単位から高い均一性で硬化させることができる。これにより、多層プリント配線板に形成された樹脂層の絶縁性、耐熱性を高めることができる。
The resin composition forming the insulating layer of the insulating sheet with a substrate of the present invention preferably contains an imidazole compound as a curing accelerator. More preferably, it is an imidazole compound compatible with the resin component contained in the resin composition. By using such an imidazole compound, the reaction of the epoxy resin can be effectively promoted, and equivalent characteristics can be imparted even if the amount of the imidazole compound is reduced.
Furthermore, a resin composition using such an imidazole compound can be cured with high uniformity from a minute matrix unit with a resin component. Thereby, the insulation of the resin layer formed in the multilayer printed wiring board, and heat resistance can be improved.

上記イミダゾール化合物としては、特に限定されないが、例えば、1‐ベンジル‐2‐メチルイミダゾール、1‐ベンジル‐2-フェニルイミダゾール、2-フェニル-4-メチルイミダゾール、2‐エチル‐4‐メチルイミダゾール、2,4‐ジアミノ‐6‐[2'‐メチルイミダゾリル‐(1')]‐エチル‐s‐トリアジン、2,4‐ジアミノ‐6‐(2'‐ウンデシルイミダゾリル)‐エチル‐s‐トリアジン、2,4‐ジアミノ‐6‐[2'‐エチル‐4‐メチルイミダゾリル‐(1')]‐エチル‐s‐トリアジン等を挙げることができる。   The imidazole compound is not particularly limited, but examples thereof include 1-benzyl-2-methylimidazole, 1-benzyl-2-phenylimidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2 , 4-Diamino-6- [2'-methylimidazolyl- (1 ')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- (2'-undecylimidazolyl) -ethyl-s-triazine, 2, , 4-diamino-6- [2′-ethyl-4-methylimidazolyl- (1 ′)]-ethyl-s-triazine and the like.

これらの中でも、1‐ベンジル‐2‐メチルイミダゾール、1‐ベンジル‐2‐フェニルイミダゾール、及び、2‐エチル‐4‐メチルイミダゾールから選ばれるイミダゾール化合物であることが好ましい。これらのイミダゾール化合物は、特に優れた相溶性を有することで、均一性の高い硬化物が得られるとともに、絶縁層表面に微細かつ均一な粗化面を形成することができるので、絶縁層表面に微細な導体回路を容易に形成することができるとともに、多層プリント配線板に高い耐熱性を発現させることができる。イミダゾール化合物の含有量としては特に限定されないが、絶縁層中の樹脂成分の合計に対して、0.01〜5重量%が好ましく、特に0.05〜3重量%が好ましい。これにより、特に耐熱性を向上させることができる。   Among these, an imidazole compound selected from 1-benzyl-2-methylimidazole, 1-benzyl-2-phenylimidazole, and 2-ethyl-4-methylimidazole is preferable. These imidazole compounds have a particularly excellent compatibility, so that a highly uniform cured product can be obtained and a fine and uniform roughened surface can be formed on the surface of the insulating layer. A fine conductor circuit can be easily formed, and high heat resistance can be expressed in the multilayer printed wiring board. Although it does not specifically limit as content of an imidazole compound, 0.01 to 5 weight% is preferable with respect to the sum total of the resin component in an insulating layer, and 0.05 to 3 weight% is especially preferable. Thereby, especially heat resistance can be improved.

本発明の基材付絶縁シートの絶縁層を形成する樹脂組成物は、必要に応じてフェノキシ樹脂を含有することができる。フェノキシ樹脂は、分子量が1.0×10以上の高分子量エポキシ樹脂であり、エポキシ樹脂と構造が似ているため相溶性が良く、また接着性も良好な特徴を有する。分子量が大きいほどフィルム形成性が容易に得られ、また接着時の流動性に影響する溶融粘度を広範囲に設定できる。分子量は1.0×10〜7.0×10の範囲のものが好ましい。分子量が上限値を超えると溶剤への溶解性が悪くなり、樹脂ワニスの調製が困難になるため好ましくない。
フェノキシ樹脂の含有量としては特に限定されないが、樹脂組成物全体の1〜40重量%であることが好ましい。さらに好ましくは5〜30重量%である。これにより、製膜性が良く、外観上も均一な絶縁シートを得ることができる。
The resin composition forming the insulating layer of the insulating sheet with a substrate of the present invention can contain a phenoxy resin as necessary. The phenoxy resin is a high molecular weight epoxy resin having a molecular weight of 1.0 × 10 4 or more, and has a good compatibility and a good adhesive property because the structure is similar to that of the epoxy resin. As the molecular weight increases, film formability can be obtained more easily, and the melt viscosity that affects the fluidity during bonding can be set in a wide range. The molecular weight is preferably in the range of 1.0 × 10 4 to 7.0 × 10 4 . When the molecular weight exceeds the upper limit, the solubility in a solvent is deteriorated, and it becomes difficult to prepare a resin varnish, which is not preferable.
Although it does not specifically limit as content of a phenoxy resin, It is preferable that it is 1 to 40 weight% of the whole resin composition. More preferably, it is 5 to 30% by weight. Thereby, a film-forming property is good and an insulating sheet that is uniform in appearance can be obtained.

本発明の基材付絶縁シートの絶縁層を形成する樹脂組成物は、必要に応じてシアネート樹脂及び/又はそのプレポリマーを含有することができる。これらの成分は、樹脂組成物の難燃性を向上させるのに有効である。シアネート樹脂及び/又はそのプレポリマーの入手方法としては特に限定されないが、例えば、ハロゲン化シアン化合物とフェノール類とを反応させ、必要に応じて加熱等の方法でプレポリマー化することにより得ることができる。また、このようにして調製された市販品を用いることもできる。   The resin composition which forms the insulating layer of the insulating sheet with a base material of the present invention can contain a cyanate resin and / or a prepolymer thereof as necessary. These components are effective for improving the flame retardancy of the resin composition. The method for obtaining the cyanate resin and / or its prepolymer is not particularly limited. For example, the cyanate resin can be obtained by reacting a cyanogen halide with a phenol and prepolymerizing it by a method such as heating as necessary. it can. Moreover, the commercial item prepared in this way can also be used.

上記シアネート樹脂及び/又はそのプレポリマーは、特に限定されないが、例えば、ノボラック型シアネート樹脂、ビスフェノールA型シアネート樹脂、ビスフェノールE型シアネート樹脂、テトラメチルビスフェノールF型シアネート樹脂等のビスフェノール型シアネート樹脂などを挙げることができる。
本発明の基材付絶縁シートにおいて、上記シアネート樹脂の含有量は特に限定されないが、樹脂組成物全体に対して5〜50重量%であることが好ましい。さらに好ましくは10〜40重量%である。これにより、シアネート樹脂が有する耐熱性、難燃性をより効果的に発現させることができる。
The cyanate resin and / or prepolymer thereof is not particularly limited, and examples thereof include novolak type cyanate resin, bisphenol A type cyanate resin, bisphenol E type cyanate resin, and bisphenol type cyanate resin such as tetramethylbisphenol F type cyanate resin. Can be mentioned.
In the insulating sheet with a substrate of the present invention, the content of the cyanate resin is not particularly limited, but is preferably 5 to 50% by weight with respect to the entire resin composition. More preferably, it is 10 to 40% by weight. Thereby, the heat resistance and flame retardance of the cyanate resin can be expressed more effectively.

本発明の基材付絶縁シートの絶縁層を形成する樹脂組成物は、必要に応じてフェノール系硬化剤を含有することができる。フェノール系硬化剤としては、特に限定されないが、例えばフェノールノボラック樹脂、アルキルフェノールノボラック樹脂、ビスフェノールAノボラック樹脂、ジシクロペンタジエン型フェノール樹脂、テルペン変性フェノール樹脂、ポリビニルフェノール類など公知慣用のものを、単独あるいは2種以上組み合わせて使用することができる。フェノール系硬化剤を使用すれば難燃性、接着性が向上する。   The resin composition which forms the insulating layer of the insulating sheet with a base material of the present invention can contain a phenolic curing agent as necessary. The phenolic curing agent is not particularly limited. For example, a phenolic novolak resin, an alkylphenol novolak resin, a bisphenol A novolak resin, a dicyclopentadiene type phenol resin, a terpene-modified phenol resin, a polyvinylphenol, or the like can be used alone or Two or more types can be used in combination. Use of a phenolic curing agent improves flame retardancy and adhesion.

本発明の基材付絶縁シートの絶縁層を形成する樹脂組成物は、以上に説明した成分のほか、必要に応じて、イミダゾール系、チアゾール系、トリアゾール系、シランカップリング剤等の密着性付与剤、シリコーン系、フッ素系、高分子系の消泡剤及び/又はレベリング剤、酸化チタン、カーボンブラック等の着色剤といった添加剤を含有することができる。   In addition to the components described above, the resin composition forming the insulating layer of the insulating sheet with a substrate of the present invention provides adhesion as required, such as imidazole, thiazole, triazole, and silane coupling agents. Additives such as colorants such as agents, silicone-based, fluorine-based, polymer-based antifoaming agents and / or leveling agents, titanium oxide, and carbon black can be contained.

ここで、樹脂組成物からなる絶縁層を基材上に形成する方法としては特に限定されないが、例えば、樹脂組成物を溶剤などに溶解・分散させて樹脂ワニスを調製して、各種コーター装置を用いて樹脂ワニスを基材に塗工した後、これを乾燥する方法、樹脂ワニスをスプレー装置により基材に噴霧塗工した後、これを乾燥する方法、などが挙げられる。
樹脂ワニスを調製する方法としては、例えば、超音波分散方式、高圧衝突式分散方式、高速回転分散方式、ビーズミル方式、高速せん断分散方式、および自転公転式分散方式などの各種混合機を用いて、樹脂組成物と溶剤を混合、攪拌する方法が挙げられる。また、上記コーター装置は、特に限定されないが、例えば、ロールコーター、バーコーター、ナイフコーター、グラビアコーター、ダイコーター、コンマコーターおよびカーテンコーターなどを用いることができる。中でも、ダイコーター、ナイフコーター、およびコンマコーターを用いることが好ましい。これにより、ボイドがなく、均一な絶縁樹脂層の厚みを有する基材付絶縁シートを効率よく製造することができる。
Here, the method for forming the insulating layer made of the resin composition on the substrate is not particularly limited. For example, the resin composition is dissolved and dispersed in a solvent to prepare a resin varnish, and various coater apparatuses are used. Examples thereof include a method in which a resin varnish is applied to a substrate and then dried, and a method in which the resin varnish is spray-coated on a substrate with a spray device and then dried.
As a method of preparing the resin varnish, for example, using various mixers such as an ultrasonic dispersion method, a high-pressure collision dispersion method, a high-speed rotation dispersion method, a bead mill method, a high-speed shear dispersion method, and a rotation and revolution dispersion method, The method of mixing and stirring a resin composition and a solvent is mentioned. The coater is not particularly limited, and for example, a roll coater, a bar coater, a knife coater, a gravure coater, a die coater, a comma coater, a curtain coater, or the like can be used. Among these, it is preferable to use a die coater, a knife coater, and a comma coater. Thereby, the insulating sheet with a base material which does not have a void and has a uniform thickness of the insulating resin layer can be efficiently produced.

上記樹脂ワニスの調製に用いられる溶剤としては特に限定されないが、例えば、アルコール類、エーテル類、アセタール類、ケトン類、エステル類、アルコールエステル類、ケトンアルコール類、エーテルアルコール類、ケトンエーテル類、ケトンエステル類、及び、エステルエーテル類などを用いることができる。
上記樹脂ワニス中の固形分含有量としては特に限定されないが、30〜80重量%が好ましく、特に40〜70重量%が好ましい。
The solvent used for the preparation of the resin varnish is not particularly limited. For example, alcohols, ethers, acetals, ketones, esters, alcohol esters, ketone alcohols, ether alcohols, ketone ethers, ketones Esters and ester ethers can be used.
Although it does not specifically limit as solid content in the said resin varnish, 30 to 80 weight% is preferable and especially 40 to 70 weight% is preferable.

本発明の基材付絶縁シートにおいて、樹脂組成物から構成される絶縁層の厚さとしては特に限定されないが、10〜100μmであることが好ましい。さらに好ましくは20〜80μmである。これにより、この基材付絶縁シートを用いて多層プリント配線板を製造する際に、内層回路の凹凸を充填して成形することができるとともに、好適な絶縁層厚みを確保することができる。また、基材付絶縁シートにおいては、絶縁層の割れ発生を抑え、裁断時の粉落ちを少なくすることができる。   In the insulating sheet with a substrate of the present invention, the thickness of the insulating layer composed of the resin composition is not particularly limited, but is preferably 10 to 100 μm. More preferably, it is 20-80 micrometers. Thereby, when manufacturing a multilayer printed wiring board using this insulating sheet with a base material, while being able to fill and shape the unevenness | corrugation of an inner-layer circuit, suitable insulation layer thickness can be ensured. Moreover, in an insulating sheet with a base material, generation | occurrence | production of the crack of an insulating layer can be suppressed and powder fall at the time of cutting can be decreased.

次に、本発明の基材付絶縁シートを用いた多層プリント配線板について説明する。
上記多層プリント配線板は、上記基材付絶縁シートを内層回路板の片面又は両面に重ね合わせて加熱加圧成形してなるものである。
Next, the multilayer printed wiring board using the insulating sheet with a substrate of the present invention will be described.
The multilayer printed wiring board is formed by heating and press-molding the insulating sheet with a base material on one or both surfaces of the inner layer circuit board.

具体的には、上記本発明の第1または第2の基材付絶縁シートの絶縁層側と内層回路板とを合わせて、真空加圧式ラミネーター装置などを用いて真空加熱加圧成形させ、その後、熱風乾燥装置等で絶縁層を加熱硬化させることにより多層プリント配線板を得ることができる。
ここで加熱加圧成形する条件としては特に限定されないが、一例を挙げると、温度60〜160℃、圧力0.2〜5MPaで実施することができる。このとき、加熱加圧保持時間としては、例えば、0.5〜15分間程度でよい。また、絶縁層を加熱硬化させる条件としては特に限定されないが、一例を挙げると、温度140〜240℃、時間30〜120分間で実施することができる。
尚、上記のように、多層プリント配線板の製造工程において、基材付絶縁シートと内層回路板とを真空加熱加圧成形した後、絶縁層を加熱硬化する場合、第2の基材付絶縁シートを用いる場合には、典型的には、真空加熱加圧成形後であって、絶縁層の加熱硬化前に、絶縁層から基材を剥離することになる。
Specifically, the insulating layer side of the first or second insulating sheet with a base material of the present invention and the inner layer circuit board are combined and vacuum-heated and pressure-molded using a vacuum-pressurizing laminator apparatus or the like, and then A multilayer printed wiring board can be obtained by heat-curing the insulating layer with a hot air dryer or the like.
Although it does not specifically limit as conditions to heat-press form here, if an example is given, it can implement at the temperature of 60-160 degreeC, and the pressure of 0.2-5 MPa. At this time, the heating and pressing time may be, for example, about 0.5 to 15 minutes. Moreover, it is although it does not specifically limit as conditions for heat-hardening an insulating layer, If an example is given, it can implement in temperature 140-240 degreeC and time 30-120 minutes.
As described above, in the manufacturing process of a multilayer printed wiring board, when the insulating layer is heated and cured after the insulating sheet with the base material and the inner circuit board are vacuum-heated and pressed, the second insulating material with the base material is used. In the case of using a sheet, typically, the substrate is peeled from the insulating layer after the vacuum heating and pressure forming and before the heat curing of the insulating layer.

あるいは、上記本発明の第1または第2の基材付絶縁シート(第2の基材付絶縁シートを用いる場合には、典型的には、基材付絶縁シートから基材を剥離したもの)の絶縁層側を内層回路板に重ね合わせ、これを平板プレス装置などを用いて加熱加圧成形することにより、絶縁層を硬化させ、多層プリント配線板を得ることができる。ここで加熱加圧成形する条件としては特に限定されないが、一例を挙げると、温度140〜240℃、圧力1〜4MPaで実施することができる。   Or the 1st or 2nd insulating sheet with a base material of the present invention (when the second insulating sheet with a base material is used, typically, the base material is peeled from the insulating sheet with a base material) The insulating layer side is superimposed on the inner circuit board, and this is heated and pressed using a flat plate press or the like, whereby the insulating layer is cured and a multilayer printed wiring board can be obtained. Although it does not specifically limit as conditions to heat-press form here, For example, it can implement at the temperature of 140-240 degreeC, and the pressure of 1-4 MPa.

上記多層プリント配線板を得る際に用いられる内層回路板は、例えば、銅張積層板の両面に、エッチング等により所定の導体回路を形成し、導体回路部分を黒化処理したものを好適に用いることができる。   As the inner circuit board used when obtaining the multilayer printed wiring board, for example, a predetermined conductor circuit is formed on both surfaces of a copper clad laminate by etching or the like, and the conductor circuit portion is blackened. be able to.

上記で得られた多層プリント配線板は、さらに、絶縁層の硬化前又は硬化後、基材を剥離除去して、絶縁樹脂層表面を過マンガン酸塩、重クロム酸塩等の酸化剤などにより粗化処理した後、金属メッキにより新たな導電配線回路を形成することができる。本発明の基材付絶縁シートから形成された絶縁樹脂層は、上記粗化処理工程において、その表面に微細な凹凸形状を高い均一性で多数形成することができ、また、絶縁樹脂層表面の平滑性が高いため、微細な配線回路を精度よく形成することができるものである。   The multilayer printed wiring board obtained above further peels and removes the substrate before or after the insulating layer is cured, and the insulating resin layer surface is oxidized with an oxidizing agent such as permanganate or dichromate. After the roughening treatment, a new conductive wiring circuit can be formed by metal plating. The insulating resin layer formed from the insulating sheet with a base material of the present invention can form a large number of fine irregularities on the surface thereof with high uniformity in the roughening treatment step. Since the smoothness is high, a fine wiring circuit can be formed with high accuracy.

次に、本発明の多層プリント配線板をパッケージ用基板として用いた半導体装置について説明する。
上記半導体装置は、上記にて得られた多層プリント配線板に配線回路を形成したパッケージ用基板に半導体チップを実装し、封止樹脂によって封止することによって製造する。半導体チップの実装方法、封止方法は特に限定されない。例えば、半導体素子とパッケージ用基板とを用い、フリップチップボンダーなどを用いて基板上の接続用電極部と半導体素子の金属バンプの位置合わせを行ったあと、IRリフロー装置、熱板、その他加熱装置を用いて半田バンプを融点以上に加熱し、基板上の多層プリント配線板と半田バンプとを溶融接合することにより接続し、基板と半導体素子との間に液状封止樹脂を充填し、硬化させることで半導体装置を得ることができる。
本発明の多層プリント配線板は、製造時、微細配線加工が容易なためパッケージ用基板として使用することにより、実装信頼性に優れ、且つ熱衝撃性に優れた半導体装置を製造することができる。
Next, a semiconductor device using the multilayer printed wiring board of the present invention as a package substrate will be described.
The semiconductor device is manufactured by mounting a semiconductor chip on a package substrate in which a wiring circuit is formed on the multilayer printed wiring board obtained above, and sealing with a sealing resin. The semiconductor chip mounting method and sealing method are not particularly limited. For example, using a semiconductor element and a package substrate, and using a flip chip bonder or the like to align the connection electrode portion on the substrate and the metal bump of the semiconductor element, an IR reflow device, a hot plate, and other heating devices The solder bumps are heated to the melting point or higher by using, and the multilayer printed wiring board on the substrate and the solder bumps are connected by fusion bonding, and a liquid sealing resin is filled between the substrate and the semiconductor element and cured. Thus, a semiconductor device can be obtained.
Since the multilayer printed wiring board of the present invention can be easily processed into fine wiring during production, a semiconductor device having excellent mounting reliability and thermal shock resistance can be manufactured by using it as a package substrate.

以下、本発明を実施例および比較例により詳細に説明する。
実施例及び比較例において用いた原材料は以下の通りである。
(1)剥離処理剤A/非シリコーン系剥離処理剤:一方社油脂工業株式会社製・「ピーロイル1050」
(2)剥離処理剤B/シリコーン系剥離処理剤:信越化学工業株式会社製・「KS−776A」
(3)無機充填材/アドマテックス社製・「SO-25H」、平均粒子径0.5μm
(4)エポキシ樹脂A/ビフェニルジメチレン型エポキシ樹脂:日本化薬株式会社製・「NC-3000」、エポキシ当量275、重量平均分子量1000
(5)エポキシ樹脂B/テトラメチルビフェニル型エポキシ樹脂:ジャパンエポキシレジン株式会社製・「YX−4000」、エポキシ当量185、重量平均分子量700
(6)フェノキシ樹脂/ビスフェノールA型エポキシ樹脂とビスフェノールF型エポキシ樹脂との共重合体であり、末端部はエポキシ基を有している:ジャパンエポキシレジン株式会社製・「jER4275」重量平均分子量60000
(7)シアネート樹脂/ノボラック型シアネート樹脂:ロンザジャパン株式会社製・「プリマセットPT‐30」、重量平均分子量700
(8)フェノール系硬化剤/ビフェニルアルキレン型ノボラック樹脂:明和化成株式会社製「MEH−7851−3H」、水酸基当量220
(9)硬化促進剤/イミダゾール化合物:四国化成工業株式会社製・「キュアゾール1B2PZ(1‐ベンジル‐2‐フェニルイミダゾール)」
(10)カップリング剤A:エポキシシラン型カップリング剤(GE東芝シリコーン株式会社製、A−187)
Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to Examples and Comparative Examples.
The raw materials used in Examples and Comparative Examples are as follows.
(1) Release treatment agent A / non-silicone release treatment agent: manufactured by Otsuka Kogyo Co., Ltd., “Pyroyl 1050”
(2) Release agent B / silicone release agent: Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. “KS-776A”
(3) Inorganic filler / manufactured by Admatechs Co., Ltd. “SO-25H”, average particle size 0.5 μm
(4) Epoxy resin A / Biphenyldimethylene type epoxy resin: Nippon Kayaku Co., Ltd. “NC-3000”, epoxy equivalent 275, weight average molecular weight 1000
(5) Epoxy resin B / tetramethylbiphenyl type epoxy resin: “YX-4000” manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd., epoxy equivalent 185, weight average molecular weight 700
(6) A copolymer of phenoxy resin / bisphenol A type epoxy resin and bisphenol F type epoxy resin, and the terminal part has an epoxy group: Japan Epoxy Resin Co., Ltd. “jER4275” weight average molecular weight 60000
(7) Cyanate resin / Novolac type cyanate resin: Lonza Japan Co., Ltd. “Primerset PT-30”, weight average molecular weight 700
(8) Phenol-based curing agent / biphenylalkylene type novolak resin: “MEH-7851-3H” manufactured by Meiwa Kasei Co., Ltd., hydroxyl equivalent 220
(9) Curing Accelerator / Imidazole Compound: “Corazole 1B2PZ (1-benzyl-2-phenylimidazole)” manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd.
(10) Coupling agent A: Epoxysilane type coupling agent (GE Toshiba Silicone Co., Ltd., A-187)

<実施例1>
(1)基材の剥離処理
アセトンで希釈した剥離処理剤Aの溶液を、基材であるポリエチレンテレフタレート(PET)フィルム(三菱化学ポリエステルフィルム製、厚さ38μm)の片面に、グラビアコーターを用いて0.5g/mとなるよう塗工し、90℃の乾燥装置で1分間乾燥して、基材の剥離処理を行った。
<Example 1>
(1) Exfoliation treatment of substrate Using a gravure coater, a solution of exfoliation treatment agent A diluted with acetone is applied to one side of a polyethylene terephthalate (PET) film (Mitsubishi Chemical Polyester Film, thickness 38 μm) as a substrate. It applied so that it might become 0.5 g / m < 2 >, and it dried for 1 minute with the 90 degreeC drying apparatus, and performed the peeling process of the base material.

(2)樹脂ワニスの調製
エポキシ樹脂A40.0重量部、フェノキシ樹脂19.8重量部、硬化促進剤0.2重量部をメチルエチルケトンに溶解、分散させた。さらに、無機充填材40.0重量部とカップリング剤A0.2重量部を添加して、高速攪拌装置を用いて10分間攪拌して、固形分50重量%の樹脂ワニスを調製した。
(2) Preparation of resin varnish 40.0 parts by weight of epoxy resin A, 19.8 parts by weight of phenoxy resin, and 0.2 parts by weight of a curing accelerator were dissolved and dispersed in methyl ethyl ketone. Furthermore, 40.0 parts by weight of the inorganic filler and 0.2 part by weight of the coupling agent A were added and stirred for 10 minutes using a high-speed stirrer to prepare a resin varnish having a solid content of 50% by weight.

(3)基材付絶縁シートの製造
上記で表面処理した基材の剥離処理面に、上記で得られた樹脂ワニスを、コンマコーター装置を用いて乾燥後の絶縁フィルムの厚さが40μmとなるように塗工し、これを150℃の乾燥装置で5分間乾燥して、基材付絶縁シートを製造した。
(3) Production of Insulating Sheet with Substrate The thickness of the insulating film after drying the resin varnish obtained above on the release-treated surface of the substrate surface-treated above using a comma coater device is 40 μm. Then, this was dried with a drying apparatus at 150 ° C. for 5 minutes to produce an insulating sheet with a substrate.

(4)多層プリント配線板の製造
所定の内層回路が両面に形成された内層回路基板の表裏に、上記で得られた基材付絶縁シートの絶縁層面を内側にして重ね合わせ、これを、真空加圧式ラミネーター装置を用いて、温度100℃、圧力1MPaにて1分間真空加熱加圧成形させ、絶縁シートから基材を剥離した。これを、熱風乾燥装置にて170℃で60分間加熱し絶縁層を硬化させた。
なお、内層回路基板としては、下記のものを使用した。
・絶縁層:ハロゲンフリー FR-4材、厚さ0.4mm
・導体層:銅箔厚み18μm、L/S=120/180μm、クリアランスホール1mmφ、3mmφ、スリット2mm
(4) Manufacture of multilayer printed wiring board Overlaid on the front and back of the inner layer circuit board on which the predetermined inner layer circuit is formed on both sides with the insulating layer surface of the insulating sheet with the base material obtained above inside, Using a pressurizing laminator apparatus, vacuum heating and pressing were performed for 1 minute at a temperature of 100 ° C. and a pressure of 1 MPa, and the substrate was peeled from the insulating sheet. This was heated at 170 ° C. for 60 minutes with a hot air dryer to cure the insulating layer.
In addition, the following were used as the inner layer circuit board.
-Insulating layer: Halogen-free FR-4 material, thickness 0.4mm
Conductor layer: copper foil thickness 18 μm, L / S = 120/180 μm, clearance holes 1 mmφ, 3 mmφ, slit 2 mm

(5)パッケージ基板の製造
上記多層プリント配線板の絶縁層に炭酸レーザー装置を用いて開口部を設け、電解銅めっきにより絶縁層表面に外層回路形成を行い、外層回路と内層回路との導通を図った。なお、外層回路は、半導体素子を実装するための接続用電極部を設けた。
その後、最外層にソルダーレジスト(太陽インキ社製PSR4000/AUS308)を形成し、露光・現像により半導体素子が実装できるよう接続用電極部を露出させ、ニッケル金メッキ処理を施し、50mm×50mmの大きさに切断し、パッケージ基板を得た。
(5) Manufacture of package substrate An opening is provided in the insulating layer of the multilayer printed wiring board using a carbonic acid laser device, and an outer layer circuit is formed on the surface of the insulating layer by electrolytic copper plating, so that the outer layer circuit and the inner layer circuit are electrically connected. planned. Note that the outer layer circuit was provided with a connection electrode part for mounting a semiconductor element.
After that, a solder resist (PSR4000 / AUS308 manufactured by Taiyo Ink Co., Ltd.) is formed on the outermost layer, the connection electrode part is exposed so that a semiconductor element can be mounted by exposure and development, and nickel gold plating is performed, and the size is 50 mm × 50 mm. To obtain a package substrate.

(6)半導体装置の製造
半導体素子(TEGチップ、サイズ15mm×15mm、厚み0.8mm)は、半田バンプはSn/Pb組成の共晶で形成され、回路保護膜はポジ型感光性樹脂(住友ベークライト社製CRC−8300)で形成されたものを使用した。半導体装置の組み立ては、まず、半田バンプにフラックス材を転写法により均一に塗布し、次にフリップチップボンダー装置を用い、上記パッケージ基板上に加熱圧着により搭載した。次に、IRリフロー炉で半田バンプを溶融接合した後、液状封止樹脂(住友ベークライト社製、CRP−4152S)を充填し、液状封止樹脂を硬化させることで半導体装置を得た。尚、液状封止樹脂は、温度150℃、120分の条件で硬化させた。
(6) Manufacture of Semiconductor Device A semiconductor element (TEG chip, size 15 mm × 15 mm, thickness 0.8 mm) has a solder bump formed of an eutectic of Sn / Pb composition, and a circuit protective film formed of a positive photosensitive resin (Sumitomo). What was formed by Bakelite CRC-8300) was used. In assembling the semiconductor device, first, a flux material was uniformly applied to the solder bumps by a transfer method, and then mounted on the package substrate by thermocompression bonding using a flip chip bonder device. Next, after solder bumps were melt-bonded in an IR reflow furnace, a liquid sealing resin (manufactured by Sumitomo Bakelite Co., Ltd., CRP-4152S) was filled and the liquid sealing resin was cured to obtain a semiconductor device. The liquid sealing resin was cured at a temperature of 150 ° C. for 120 minutes.

<実施例2>
エポキシ樹脂A35.0重量部、エポキシ樹脂B15.0重量部、フェノール硬化剤14.9重量部、硬化促進剤0.1重量部をメチルエチルケトンに溶解、分散させた。さらに、無機充填材35.0重量部を添加して、高速攪拌装置を用いて10分間攪拌して、固形分50重量%の樹脂ワニスを調製した。
この樹脂ワニスを用い、実施例1と同様にして、基材付絶縁シート、多層プリント配線板及び半導体装置を得た。
<Example 2>
35.0 parts by weight of epoxy resin A, 15.0 parts by weight of epoxy resin B, 14.9 parts by weight of phenol curing agent and 0.1 part by weight of curing accelerator were dissolved and dispersed in methyl ethyl ketone. Furthermore, 35.0 parts by weight of an inorganic filler was added and stirred for 10 minutes using a high-speed stirrer to prepare a resin varnish having a solid content of 50% by weight.
Using this resin varnish, an insulating sheet with a substrate, a multilayer printed wiring board, and a semiconductor device were obtained in the same manner as in Example 1.

<実施例3>
アセトンで希釈した剥離処理剤Aの溶液を、基材であるポリエチレンナフタレート(PEN)フィルム(帝人デュポンフィルム製、厚さ38μm)の片面に、グラビアコーターを用いて0.5g/mとなるよう塗工し、90℃の乾燥装置で1分間乾燥して、基材の剥離処理を行った。
エポキシ樹脂A50.0重量部、フェノキシ樹脂15.0重量部、フェノール硬化剤4.7重量部、硬化促進剤0.3重量部をメチルエチルケトンに溶解、分散させた。さらに、無機充填材30.0重量部を添加して、高速攪拌装置を用いて10分間攪拌して、固形分50重量%の樹脂ワニスを調製した。
その後、この樹脂ワニスと上記剥離処理剤Aによって剥離処理された基材を用い、実施例1と同様にして、基材付絶縁シート、多層プリント配線板及び半導体装置を得た。
<Example 3>
The solution of the release treatment agent A diluted with acetone is 0.5 g / m 2 using a gravure coater on one side of a polyethylene naphthalate (PEN) film (made by Teijin DuPont Film, thickness 38 μm) as a base material. The substrate was peeled off by drying at 90 ° C. for 1 minute.
50.0 parts by weight of epoxy resin A, 15.0 parts by weight of phenoxy resin, 4.7 parts by weight of phenol curing agent, and 0.3 parts by weight of curing accelerator were dissolved and dispersed in methyl ethyl ketone. Further, 30.0 parts by weight of an inorganic filler was added and stirred for 10 minutes using a high-speed stirring device to prepare a resin varnish having a solid content of 50% by weight.
Thereafter, an insulating sheet with a substrate, a multilayer printed wiring board, and a semiconductor device were obtained in the same manner as in Example 1 using the resin varnish and the substrate subjected to the release treatment with the release treatment agent A.

<実施例4>
アセトンで希釈した剥離処理剤Bの溶液を、基材であるポリエチレンテレフタレートフィルム(三菱化学ポリエステルフィルム製、厚さ38μm)の片面に、グラビアコーターを用いて0.5g/mとなるよう塗工し、90℃の乾燥装置で1分間乾燥して、基材の剥離処理を行った。
その後、実施例1の樹脂ワニスと、上記剥離処理剤Bによって剥離処理された基材を用い、実施例1と同様にして、基材付絶縁シート、多層プリント配線板及び半導体装置を得た。
<Example 4>
Coating the solution of release treatment agent B diluted with acetone on one side of a polyethylene terephthalate film (Mitsubishi Chemical Polyester Film, thickness 38 μm) as a base material using a gravure coater to 0.5 g / m 2 Then, the substrate was dried for 1 minute with a drying apparatus at 90 ° C., and the substrate was peeled off.
Thereafter, using the resin varnish of Example 1 and the base material subjected to the release treatment with the release agent B, an insulating sheet with a base material, a multilayer printed wiring board, and a semiconductor device were obtained in the same manner as in Example 1.

<実施例5>
アセトンで希釈した剥離処理剤Bの溶液を、基材であるポリエチレンナフタレートフィルム(帝人デュポンフィルム製、厚さ38μm)の片面に、グラビアコーターを用いて0.5g/mとなるよう塗工し、90℃の乾燥装置で1分間乾燥して、基材の剥離処理を行った。
エポキシ樹脂A15.0重量部、フェノキシ樹脂5.0重量部、シアネート樹脂14.9重量部、硬化促進剤0.1重量部をメチルエチルケトンに溶解、分散させた。さらに、無機充填材65.0重量部を添加して、高速攪拌装置を用いて10分間攪拌して、固形分50重量%の樹脂ワニスを調製した。
この樹脂ワニスと、上記剥離処理剤Bによって剥離処理された基材を用い、実施例1と同様にして、基材付絶縁シート、多層プリント配線板及び半導体装置を得た。
<Example 5>
A solution of release treatment agent B diluted with acetone is applied to one side of a polyethylene naphthalate film (made by Teijin DuPont Film, thickness 38 μm) as a substrate using a gravure coater so as to be 0.5 g / m 2. Then, the substrate was dried for 1 minute with a drying apparatus at 90 ° C., and the substrate was peeled off.
15.0 parts by weight of epoxy resin A, 5.0 parts by weight of phenoxy resin, 14.9 parts by weight of cyanate resin, and 0.1 parts by weight of a curing accelerator were dissolved and dispersed in methyl ethyl ketone. Furthermore, 65.0 parts by weight of an inorganic filler was added and stirred for 10 minutes using a high-speed stirrer to prepare a resin varnish having a solid content of 50% by weight.
Using this resin varnish and the base material subjected to the release treatment with the release treatment agent B, an insulating sheet with a base material, a multilayer printed wiring board, and a semiconductor device were obtained in the same manner as in Example 1.

<比較例1>
実施例1の樹脂ワニスと、剥離処理されていない基材(ポリエチレンテレフタレートフィルム、三菱化学ポリエステルフィルム製、厚さ38μm)を用い、実施例1と同様にして、基材付絶縁シート、多層プリント配線板及び半導体装置を得た。
<Comparative Example 1>
Using the resin varnish of Example 1 and a base material (polyethylene terephthalate film, manufactured by Mitsubishi Chemical Polyester Film, thickness 38 μm) that has not been subjected to a release treatment, in the same manner as Example 1, an insulating sheet with a base material and a multilayer printed wiring A plate and a semiconductor device were obtained.

<比較例2>
実施例2の樹脂ワニスと、剥離処理されていない基材(ポリエチレンテレフタレートフィルム、三菱化学ポリエステルフィルム製、厚さ38μm)を用い、実施例1と同様にして、基材付絶縁シート、多層プリント配線板及び半導体装置を得た。
<Comparative example 2>
Using the resin varnish of Example 2 and a base material (polyethylene terephthalate film, manufactured by Mitsubishi Chemical Polyester Film, 38 μm in thickness) that has not been subjected to a release treatment, in the same manner as in Example 1, an insulating sheet with a base material and a multilayer printed wiring A plate and a semiconductor device were obtained.

<比較例3>
実施例3の樹脂ワニスと、剥離処理されていない基材(ポリエチレンナフタレートフィルム、帝人デュポンフィルム製、厚さ38μm)を用い、実施例1と同様にして、基材付絶縁シート、多層プリント配線板及び半導体装置を得た。
<Comparative Example 3>
Using the resin varnish of Example 3 and a base material (polyethylene naphthalate film, made by Teijin DuPont Film, thickness 38 μm) that has not been subjected to a release treatment, the insulating sheet with the base material and the multilayer printed wiring are the same as in Example 1. A plate and a semiconductor device were obtained.

実施例1〜5および比較例1〜3で得られた基材付絶縁シート、及び、多層プリント配線板、半導体装置について、特性の評価を行った。結果を表1に示す。   The characteristics of the insulating sheets with base materials, multilayer printed wiring boards, and semiconductor devices obtained in Examples 1 to 5 and Comparative Examples 1 to 3 were evaluated. The results are shown in Table 1.

Figure 2008123248
Figure 2008123248

評価方法は下記のとおりである。
(1)基材の剥離強度
上記多層プリント配線板の製造工程において、基材付絶縁シートを内層回路基板に積層し、絶縁層から基材を引き剥がす際の引き剥がし強度を精密万能試験機(オートグラフAG−IS、島津製作所製)を用い、20℃の環境において、幅1cmの基材の先端を一部引き剥がして、つかみ具でつかみ、引っ張り方向が試料面(内層回路基板に接着した絶縁層)に垂直になる方向に、5mm/minの速さで連続的に30mm剥がして、その平均値を取ることにより測定した。
(2)基材への樹脂転写
上記多層プリント配線板の製造工程において、基材を剥離後に、顕微鏡にて基材表面を観察し、基材への樹脂転写の有無を確認した。
各符号は以下の通りである。
○:樹脂の転写が観察されなかったもの
×:転写が観察されたもの
The evaluation method is as follows.
(1) Peel strength of base material In the manufacturing process of the above multilayer printed wiring board, an insulating sheet with a base material is laminated on an inner layer circuit board, and the peeling strength when peeling the base material from the insulating layer is a precision universal testing machine ( Using an autograph AG-IS (manufactured by Shimadzu Corporation), in a 20 ° C. environment, part of the tip of a 1 cm wide base material is peeled off and gripped with a gripper, and the tensile direction is adhered to the sample surface (inner circuit board) It was measured by peeling 30 mm continuously at a speed of 5 mm / min in a direction perpendicular to the insulating layer and taking the average value.
(2) Resin transfer to substrate In the manufacturing process of the multilayer printed wiring board, after peeling the substrate, the surface of the substrate was observed with a microscope to confirm the presence or absence of resin transfer to the substrate.
Each code is as follows.
○: Resin transfer not observed ×: Transfer observed

(3)絶縁層の外観評価
上記多層プリント配線板の絶縁層について、顕微鏡にて観察を行った。
各符号は以下の通りである。
○:外観の良好なもの
×:ひび割れや欠損などの不良が観察されたもの
(4)実装信頼性試験
実装信頼性は、上記半導体装置を、温度85℃、湿度85%の雰囲気下で100時間放置後、260℃リフローを3回行い、超音波深傷検査装置で半導体素子裏面の剥離、および半田バンプの欠損を評価した。
各符号は以下の通りである。
◎:良好 剥離、バンプ欠損なし
○:実質上問題なし アンダーフィル周辺に微小剥離のみ、バンプ欠損なし
△:実質上使用不可 10%以上の剥離およびバンプ欠損
×:使用不可 80%以上の剥離、およびバンプ欠損
(3) Appearance evaluation of insulating layer The insulating layer of the multilayer printed wiring board was observed with a microscope.
Each code is as follows.
○: Appearance is good ×: Defects such as cracks and defects are observed (4) Mounting reliability test The mounting reliability is 100 hours in an atmosphere at a temperature of 85 ° C. and a humidity of 85%. After leaving, 260 ° C. reflow was performed three times, and peeling of the back surface of the semiconductor element and chipping of the solder bumps were evaluated with an ultrasonic deep flaw inspection apparatus.
Each code is as follows.
◎: Good peeling, no bump defect ○: Virtually no problem Only minute peeling around the underfill, no bump defect △: Virtually unusable 10% or more peeling and bump defect ×: Unusable 80% peeling or more Bump defect

(5)熱衝撃性試験
上記半導体装置をフロリナート中で−55℃10分、125℃10分、−55℃10分を1サイクルとして、1000サイクル処理し、テストピースにクラックが発生していないか目視で観察した。
各符号は以下の通りである。
○:クラック発生なし
×:クラック発生
(5) Thermal shock test The above-mentioned semiconductor device is treated in 1000 cycles for 1 cycle at −55 ° C. for 10 minutes, 125 ° C. for 10 minutes, and −55 ° C. for 10 minutes in Fluorinert. It was observed visually.
Each code is as follows.
○: No crack occurrence ×: Crack occurrence

実施例1〜5は、絶縁層と基材との剥離強度が0.05kN/m以下である本発明の基材付絶縁シートと、これを用いた多層プリント配線板、半導体装置である。
実施例1〜5はいずれも、基材への樹脂転写がなく、絶縁層の外観が良好であり、信頼性の高い半導体装置の作製が可能なものであった。
比較例1〜3は、絶縁層と基材との剥離強度が0.05kN/mを超えるため、絶縁シートがひび割れたり、基材へ樹脂転写が起こったりするという問題があり、半導体装置の評価において、(4)実装信頼性試験、(5)熱衝撃性試験ともに不良が見られた。
Examples 1-5 are the insulating sheet with a base material of this invention whose peeling strength of an insulating layer and a base material is 0.05 kN / m or less, a multilayer printed wiring board using this, and a semiconductor device.
In each of Examples 1 to 5, there was no resin transfer to the substrate, the appearance of the insulating layer was good, and a highly reliable semiconductor device could be manufactured.
In Comparative Examples 1 to 3, since the peel strength between the insulating layer and the base material exceeds 0.05 kN / m, there is a problem that the insulating sheet is cracked or resin transfer occurs to the base material. In (4) mounting reliability test and (5) thermal shock test, defects were observed.

<実施例6>
(1)基材の剥離処理
アセトンで希釈した剥離処理剤Aの溶液を、ポリエチレンテレフタレートフィルム(三菱化学ポリエステルフィルム製、厚さ38μm)の片面に、グラビアコーターを用いて0.5g/mとなるよう塗工し、90℃の乾燥装置で1分間乾燥して、基材の剥離処理を行った。
<Example 6>
(1) Exfoliation treatment of base material A solution of exfoliation treatment agent A diluted with acetone is 0.5 g / m 2 on one side of a polyethylene terephthalate film (Mitsubishi Chemical Polyester Film, thickness 38 μm) using a gravure coater. The substrate was coated and dried with a drying apparatus at 90 ° C. for 1 minute, and the substrate was peeled off.

(2)樹脂ワニスの調製
エポキシ樹脂A35.0重量部、シアネート樹脂24.8重量部、硬化促進剤0.2重量部をメチルエチルケトンに溶解、分散させた。さらに、無機充填材40.0重量部を添加して、高速攪拌装置を用いて10分間攪拌して、固形分50重量%の樹脂ワニスを調製した。
(2) Preparation of resin varnish 35.0 parts by weight of epoxy resin A, 24.8 parts by weight of cyanate resin, and 0.2 parts by weight of a curing accelerator were dissolved and dispersed in methyl ethyl ketone. Further, 40.0 parts by weight of an inorganic filler was added and stirred for 10 minutes using a high-speed stirring device to prepare a resin varnish having a solid content of 50% by weight.

(3)基材付絶縁シートの製造
上記で表面処理した基材の剥離処理面に、上記で得られた樹脂ワニスを、コンマコーター装置を用いて乾燥後の絶縁フィルムの厚さが40μmとなるように塗工し、これを150℃の乾燥装置で5分間乾燥して、基材付絶縁シートを製造した。
(3) Production of Insulating Sheet with Substrate The thickness of the insulating film after drying the resin varnish obtained above on the release-treated surface of the substrate surface-treated above using a comma coater device is 40 μm. Then, this was dried with a drying apparatus at 150 ° C. for 5 minutes to produce an insulating sheet with a substrate.

(4)多層プリント配線板の製造
所定の内層回路が両面に形成された内層回路基板の表裏に、上記で得られた基材付絶縁シートの絶縁シート面を内側にして重ね合わせ、これを、真空加圧式ラミネーター装置を用いて、温度100℃、圧力1MPaにて1分間、真空加熱加圧成形させた。これを、熱風乾燥装置にて170℃で60分間加熱し硬化させた後、絶縁シートから基材を剥離し、評価用の多層プリント配線板を得た。
なお、内層回路基板としては、下記のものを使用した。
絶縁層:ハロゲンフリー FR-4材、厚さ0.4mm
導体層:銅箔厚み18μm、L/S=120/180μm、クリアランスホール1mmφ、3mmφ、スリット2mm
(4) Manufacture of multilayer printed wiring board On the front and back of the inner layer circuit board on which the predetermined inner layer circuit is formed on both sides, the insulating sheet surface of the insulating sheet with the base material obtained above is overlaid, Using a vacuum pressurizing laminator, vacuum heating and press molding was performed at a temperature of 100 ° C. and a pressure of 1 MPa for 1 minute. This was heated and cured at 170 ° C. for 60 minutes in a hot air dryer, and then the substrate was peeled from the insulating sheet to obtain a multilayer printed wiring board for evaluation.
In addition, the following were used as the inner layer circuit board.
Insulation layer: Halogen-free FR-4 material, thickness 0.4mm
Conductor layer: copper foil thickness 18 μm, L / S = 120/180 μm, clearance holes 1 mmφ, 3 mmφ, slit 2 mm

(5)パッケージ基板の製造
上記多層プリント配線板の絶縁層に炭酸レーザー装置を用いて開口部を設け、電解銅めっきにより絶縁層表面に外層回路形成を行い、外層回路と内層回路との導通を図った。なお、外層回路は、半導体素子を実装するための接続用電極部を設けた。
その後、最外層にソルダーレジスト(太陽インキ社製PSR4000/AUS308)を形成し、露光・現像により半導体素子が実装できるよう接続用電極部を露出させ、ニッケル金メッキ処理を施し、50mm×50mmの大きさに切断し、パッケージ基板を得た。
(5) Manufacture of package substrate An opening is provided in the insulating layer of the multilayer printed wiring board using a carbonic acid laser device, and an outer layer circuit is formed on the surface of the insulating layer by electrolytic copper plating, so that the outer layer circuit and the inner layer circuit are electrically connected. planned. Note that the outer layer circuit was provided with a connection electrode part for mounting a semiconductor element.
After that, a solder resist (PSR4000 / AUS308 manufactured by Taiyo Ink Co., Ltd.) is formed on the outermost layer, the connection electrode part is exposed so that a semiconductor element can be mounted by exposure and development, and nickel gold plating is performed, and the size is 50 mm × 50 mm. To obtain a package substrate.

(6)半導体装置の製造
半導体素子(TEGチップ、サイズ15mm×15mm、厚み0.8mm)は、半田バンプはSn/Pb組成の共晶で形成され、回路保護膜はポジ型感光性樹脂(住友ベークライト社製CRC−8300)で形成されたものを使用した。半導体装置の組み立ては、まず、半田バンプにフラックス材を転写法により均一に塗布し、次にフリップチップボンダー装置を用い、上記パッケージ基板上に加熱圧着により搭載した。次に、IRリフロー炉で半田バンプを溶融接合した後、液状封止樹脂(住友ベークライト社製、CRP−4152S)を充填し、液状封止樹脂を硬化させることで半導体装置を得た。尚、液状封止樹脂は、温度150℃、120分の条件で硬化させた。
(6) Manufacture of Semiconductor Device A semiconductor element (TEG chip, size 15 mm × 15 mm, thickness 0.8 mm) has a solder bump formed of an eutectic of Sn / Pb composition, and a circuit protective film formed of a positive photosensitive resin (Sumitomo). What was formed by Bakelite CRC-8300) was used. In assembling the semiconductor device, first, a flux material was uniformly applied to the solder bumps by a transfer method, and then mounted on the package substrate by thermocompression bonding using a flip chip bonder device. Next, after solder bumps were melt-bonded in an IR reflow furnace, a liquid sealing resin (manufactured by Sumitomo Bakelite Co., Ltd., CRP-4152S) was filled and the liquid sealing resin was cured to obtain a semiconductor device. The liquid sealing resin was cured at a temperature of 150 ° C. for 120 minutes.

<実施例7>
エポキシ樹脂A30.0重量部、エポキシ樹脂B20.0重量部、フェノール硬化剤14.9重量部、硬化促進剤0.1重量部をメチルエチルケトンに溶解、分散させた。さらに、無機充填材35.0重量部を添加して、高速攪拌装置を用いて10分間攪拌して、固形分50重量%の樹脂ワニスを調製した。
この樹脂ワニスを用い、実施例6と同様にして、基材付絶縁シート、多層プリント配線板及び半導体装置を得た。
<Example 7>
30.0 parts by weight of epoxy resin A, 20.0 parts by weight of epoxy resin B, 14.9 parts by weight of phenol curing agent and 0.1 part by weight of curing accelerator were dissolved and dispersed in methyl ethyl ketone. Furthermore, 35.0 parts by weight of an inorganic filler was added and stirred for 10 minutes using a high-speed stirrer to prepare a resin varnish having a solid content of 50% by weight.
Using this resin varnish, an insulating sheet with a substrate, a multilayer printed wiring board, and a semiconductor device were obtained in the same manner as in Example 6.

<実施例8>
アセトンで希釈した剥離処理剤Aの溶液を、基材であるポリエチレンナフタレートフィルム(帝人デュポンフィルム製、厚さ38μm)の片面に、グラビアコーターを用いて0.5g/mとなるよう塗工し、90℃の乾燥装置で1分間乾燥して、基材の剥離処理を行った。
エポキシ樹脂A50.0重量部、フェノキシ樹脂10.0重量部、フェノール硬化剤9.7重量部、硬化促進剤0.3重量部をメチルエチルケトンに溶解、分散させた。さらに、無機充填材30.0重量部を添加して、高速攪拌装置を用いて10分間攪拌して、固形分50重量%の樹脂ワニスを調製した。
この樹脂ワニスと、上記剥離処理剤Aによって剥離処理された基材を用い、実施例6と同様にして、基材付絶縁シート、多層プリント配線板及び半導体装置を得た。
<Example 8>
Coating the solution of the release treatment agent A diluted with acetone on one side of a polyethylene naphthalate film (made by Teijin DuPont Film, thickness 38 μm) as a substrate, using a gravure coater, so as to be 0.5 g / m 2. Then, the substrate was dried for 1 minute with a drying apparatus at 90 ° C., and the substrate was peeled off.
50.0 parts by weight of epoxy resin A, 10.0 parts by weight of phenoxy resin, 9.7 parts by weight of phenol curing agent and 0.3 part by weight of curing accelerator were dissolved and dispersed in methyl ethyl ketone. Further, 30.0 parts by weight of an inorganic filler was added and stirred for 10 minutes using a high-speed stirring device to prepare a resin varnish having a solid content of 50% by weight.
Using this resin varnish and the base material subjected to the release treatment with the release treatment agent A, an insulating sheet with a base material, a multilayer printed wiring board, and a semiconductor device were obtained in the same manner as in Example 6.

<実施例9>
アセトンで希釈した剥離処理剤Bの溶液を、ポリエチレンテレフタレートフィルム(三菱化学ポリエステルフィルム製、厚さ38μm)の片面に、グラビアコーターを用いて0.5g/mとなるよう塗工し、90℃の乾燥装置で1分間乾燥して、基材の剥離処理を行った。
その後、実施例6の樹脂ワニスと、上記剥離処理剤Bによって剥離処理された基材を用い、実施例6と同様にして、基材付絶縁シート、多層プリント配線板及び半導体装置を得た。
<Example 9>
The solution of the release treatment agent B diluted with acetone was applied to one side of a polyethylene terephthalate film (Mitsubishi Chemical Polyester Film, thickness 38 μm) to 0.5 g / m 2 using a gravure coater, and 90 ° C. The substrate was dried for 1 minute using a drying apparatus, and the substrate was peeled off.
Thereafter, using the resin varnish of Example 6 and the base material subjected to the release treatment by the release treatment agent B, an insulating sheet with a base material, a multilayer printed wiring board, and a semiconductor device were obtained in the same manner as in Example 6.

<実施例10>
アセトンで希釈した剥離処理剤Bの溶液を、基材であるポリエチレンナフタレートフィルム(帝人デュポンフィルム製、厚さ38μm)の片面に、グラビアコーターを用いて0.5g/mとなるよう塗工し、90℃の乾燥装置で1分間乾燥して、基材の剥離処理を行った。
エポキシ樹脂A15.0重量部、フェノキシ樹脂10.0重量部、シアネート樹脂9.9重量部、硬化促進剤0.1重量部をメチルエチルケトンに溶解、分散させた。さらに、無機充填材65.0重量部を添加して、高速攪拌装置を用いて10分間攪拌して、固形分50重量%の樹脂ワニスを調製した。
この樹脂ワニスと、上記剥離処理剤Bによって剥離処理された基材を用い、実施例6と同様にして、基材付絶縁シート、多層プリント配線板及び半導体装置を得た。
<Example 10>
A solution of release treatment agent B diluted with acetone is applied to one side of a polyethylene naphthalate film (made by Teijin DuPont Film, thickness 38 μm) as a substrate using a gravure coater so as to be 0.5 g / m 2. Then, the substrate was dried for 1 minute with a drying apparatus at 90 ° C., and the substrate was peeled off.
15.0 parts by weight of epoxy resin A, 10.0 parts by weight of phenoxy resin, 9.9 parts by weight of cyanate resin, and 0.1 parts by weight of a curing accelerator were dissolved and dispersed in methyl ethyl ketone. Furthermore, 65.0 parts by weight of an inorganic filler was added and stirred for 10 minutes using a high-speed stirrer to prepare a resin varnish having a solid content of 50% by weight.
Using this resin varnish and the base material subjected to the release treatment with the release treatment agent B, an insulating sheet with a base material, a multilayer printed wiring board, and a semiconductor device were obtained in the same manner as in Example 6.

<比較例4>
実施例6の樹脂ワニスと、剥離処理されていない基材(ポリエチレンテレフタレートフィルム、三菱化学ポリエステルフィルム製、厚さ38μm)とを用い、実施例6と同様にして、基材付絶縁シート、多層プリント配線板及び半導体装置を得た。
<Comparative example 4>
Using the resin varnish of Example 6 and a non-peeled base material (polyethylene terephthalate film, manufactured by Mitsubishi Chemical Polyester Film, thickness 38 μm), in the same manner as in Example 6, an insulating sheet with a base material and a multilayer print A wiring board and a semiconductor device were obtained.

<比較例5>
実施例7の樹脂ワニスと、剥離処理されていない基材(ポリエチレンテレフタレートフィルム、三菱化学ポリエステルフィルム製、厚さ38μm)とを用い、実施例6と同様にして、基材付絶縁シート、多層プリント配線板及び半導体装置を得た。
<Comparative Example 5>
Using the resin varnish of Example 7 and a base material (polyethylene terephthalate film, manufactured by Mitsubishi Chemical Polyester Film, thickness 38 μm) that has not been subjected to a release treatment, in the same manner as in Example 6, an insulating sheet with a base material and a multilayer print A wiring board and a semiconductor device were obtained.

<比較例6>
実施例8の樹脂ワニスと、剥離処理されていない基材(ポリエチレンナフタレートフィルム、帝人デュポンフィルム製、厚さ38μm)とを用い、実施例6と同様にして、基材付絶縁シート、多層プリント配線板及び半導体装置を得た。
<Comparative Example 6>
Using the resin varnish of Example 8 and a base material (polyethylene naphthalate film, made by Teijin DuPont Film, 38 μm in thickness) that has not been subjected to a release treatment, an insulating sheet with a base material and a multilayer print are obtained in the same manner as in Example 6. A wiring board and a semiconductor device were obtained.

実施例6〜10および比較例4〜6で得られた基材付絶縁シート、多層プリント配線板及び半導体装置について、特性の評価を行った。結果を表2に示す。   The characteristics of the insulating sheets with base materials, multilayer printed wiring boards, and semiconductor devices obtained in Examples 6 to 10 and Comparative Examples 4 to 6 were evaluated. The results are shown in Table 2.

Figure 2008123248
Figure 2008123248

評価方法は下記のとおりである。
(1)基材の剥離強度
上記多層プリント配線板の製造工程において、基材付絶縁シートを内層回路基板に積層し、絶縁層を硬化させた後、絶縁層から基材を引き剥がす際の引き剥がし強度を精密万能試験機(オートグラフAG−IS、島津製作所製)を用い、20℃の環境において、幅1cmの基材の先端を一部引き剥がして、つかみ具でつかみ、引っ張り方向が試料面(内層回路基板に接着した絶縁層)に垂直になる方向に、5mm/minの速さで連続的に30mm剥がして、その平均値を取ることにより測定した。
(2)回路上の平坦性
上記多層プリント配線板の絶縁層表面の凹凸を表面粗さ測定装置で計測した。
各符号は以下の通りである。
○:段差が1μm未満のもの
×:段差が1μm以上のもの
なお、段差とは絶縁層下に内層回路がある部分と絶縁層下に内層回路のない部分に生じる高さの差である。
The evaluation method is as follows.
(1) Peeling strength of base material In the manufacturing process of the multilayer printed wiring board, the insulating sheet with a base material is laminated on the inner layer circuit board, the insulating layer is cured, and then pulled when the base material is peeled off from the insulating layer. Using a precision universal testing machine (Autograph AG-IS, manufactured by Shimadzu Corporation) for peeling strength, in a 20 ° C environment, part of the 1 cm wide base material is peeled off and gripped with a gripper. The measurement was performed by stripping 30 mm continuously at a speed of 5 mm / min in a direction perpendicular to the surface (insulating layer bonded to the inner layer circuit board) and taking the average value.
(2) Flatness on circuit The unevenness | corrugation of the insulating layer surface of the said multilayer printed wiring board was measured with the surface roughness measuring apparatus.
Each code is as follows.
○: Step is less than 1 μm ×: Step is 1 μm or more Note that the step is a difference in height generated between a portion where the inner layer circuit is located under the insulating layer and a portion where the inner layer circuit is not located under the insulating layer.

(3)基材の付着
基材を剥離した後、顕微鏡にて、剥離後の基材表面を観察し、基材の付着残りの有無を確認した。
各符号は以下の通りである。
○:付着残りの無いもの
×:付着残りが見られたもの
(4)リフロー耐熱性試験
上記半導体装置の半導体素子を実装する前のパッケージ用基板を用い、260℃リフロー炉に通し、パッケージ基板の膨れの有無を目視にて確認した。パッケージ用基板は、リフロー炉に10回通した。
各符号は以下の通りである。
◎:10回繰り返しても膨れなし
○:7〜9回目で膨れ発生
△:4〜6回目で膨れ発生
×:3回目までに膨れ発生
(3) Adhesion of base material After peeling off the base material, the surface of the base material after peeling was observed with a microscope, and the presence or absence of the residual adhesion of the base material was confirmed.
Each code is as follows.
○: No sticking residue ×: No sticking residue (4) Reflow heat resistance test Using a package substrate before mounting the semiconductor element of the semiconductor device, passing it through a 260 ° C. reflow furnace, The presence or absence of swelling was confirmed visually. The package substrate was passed through a reflow furnace 10 times.
Each code is as follows.
◎: No swelling even after repeated 10 times ○: Bulging occurs at the 7th to 9th times △: Bulging occurs at the 4th to 6th times ×: Bulging occurs by the 3rd time

(5)実装信頼性試験
実装信頼性は、上記半導体装置を、温度85℃、湿度85%の雰囲気下で100時間放置後、260℃リフローを3回行い、超音波深傷検査装置で半導体素子裏面の剥離、および半田バンプの欠損を評価した。
各符号は以下の通りである。
◎:良好 剥離、バンプ欠損なし
○:実質上問題なし アンダーフィル周辺に微小剥離のみ、バンプ欠損なし
△:実質上使用不可 10%以上の剥離およびバンプ欠損
×:使用不可 80%以上の剥離、およびバンプ欠損
(6)熱衝撃性試験
上記半導体装置をフロリナート中で−55℃10分、125℃10分、−55℃10分を1サイクルとして、1000サイクル処理し、テストピースにクラックが発生していないか目視で確認した。
各符号は以下の通りである。
○:クラック発生なし
×:クラック発生
(5) Mounting reliability test For mounting reliability, the semiconductor device was left in an atmosphere of 85 ° C. and 85% humidity for 100 hours, and then reflowed at 260 ° C. three times. The back surface peeling and solder bump defects were evaluated.
Each code is as follows.
◎: Good peeling, no bump defect ○: Virtually no problem Only minute peeling around the underfill, no bump defect △: Virtually unusable 10% or more peeling and bump defect ×: Unusable 80% peeling or more Bump defect (6) Thermal shock test The above semiconductor device was subjected to 1000 cycles in Fluorinert at −55 ° C. for 10 minutes, 125 ° C. for 10 minutes, and −55 ° C. for 10 minutes, and cracks occurred in the test piece. It was confirmed visually.
Each code is as follows.
○: No crack occurrence ×: Crack occurrence

実施例6〜10は、絶縁層を加熱硬化後に、絶縁層から基材を剥離する際の剥離強度が0.2kN/m以下である本発明の基材付絶縁シートと、これを用いた多層プリント配線板及び半導体装置である。
実施例6〜10はいずれも、回路上の平坦性が良好であり、基材の付着残りがなく、リフロー耐熱性にも優れ、信頼性の高い半導体装置の作製が可能なものであった。
比較例4〜6は、絶縁層を加熱硬化させた後に、絶縁層から基材を剥離する際の剥離強度が0.2kN/mを超えるため、基材の付着残りが起こるという問題があり、リフロー耐熱性試験において膨れが見られた。また半導体装置の評価において、(5)実装信頼性試験、(6)熱衝撃性試験ともに不良が見られた。
In Examples 6 to 10, the insulating sheet with a base material of the present invention having a peel strength of 0.2 kN / m or less when the base material is peeled from the insulating layer after the insulating layer is heat-cured, and a multilayer using the same A printed wiring board and a semiconductor device.
In each of Examples 6 to 10, the flatness on the circuit was good, there was no adhesion residue of the base material, the reflow heat resistance was excellent, and a highly reliable semiconductor device could be manufactured.
In Comparative Examples 4 to 6, after the insulating layer is heated and cured, the peeling strength when peeling the substrate from the insulating layer exceeds 0.2 kN / m, and thus there is a problem that the remaining adhesion of the substrate occurs. Swelling was observed in the reflow heat resistance test. Further, in the evaluation of the semiconductor device, defects were found in both (5) mounting reliability test and (6) thermal shock test.

本発明の基材付絶縁シートによれば、小型化、薄型化要求へ対応し、かつ低コストで取扱いに優れたプリント配線板を提供でき、また高密度で微細配線が要求される半導体パッケージ用基板を提供することもできる。   INDUSTRIAL APPLICABILITY According to the insulating sheet with a substrate of the present invention, it is possible to provide a printed wiring board excellent in handling at a low cost, meeting the demand for downsizing and thinning, and for semiconductor packages that require high density and fine wiring. A substrate can also be provided.

Claims (26)

多層プリント配線板の絶縁層を形成するために用いられる基材付絶縁シートであって、
樹脂組成物からなる絶縁層が基材上に設けられてなり、該絶縁層を被接着面に加熱加圧して接着し、且つ、上記絶縁層を加熱硬化させた後に、20℃において、上記絶縁層から上記基材を剥離する剥離強度が、0.2kN/m以下であり、絶縁層を加熱硬化後に基材から剥離して用いられるものであることを特徴とする基材付絶縁シート。
An insulating sheet with a base material used for forming an insulating layer of a multilayer printed wiring board,
An insulating layer made of a resin composition is provided on a base material. The insulating layer is bonded to the surface to be bonded by heating and pressing, and the insulating layer is heated and cured. An insulating sheet with a base material, wherein a peeling strength for peeling the base material from the layer is 0.2 kN / m or less, and the insulating layer is used by being peeled from the base material after heat curing.
上記絶縁層を被接着面に60〜160℃、0.2〜5MPaで、0.5〜15分間、加熱加圧することで、上記絶縁層を上記被接着面に接着し、且つ、140〜240℃で30〜120分間加熱することで、上記絶縁層を加熱硬化させた後に、上記絶縁層から上記基材を剥離する剥離強度が、0.2kN/m以下である、請求の範囲第1項に記載の基材付絶縁シート。   The insulating layer is bonded to the adherend surface by heating and pressing the adherend surface at 60 to 160 ° C. and 0.2 to 5 MPa for 0.5 to 15 minutes, and 140 to 240 The peeling strength which peels the said base material from the said insulating layer after heating and hardening the said insulating layer by heating at 30 degreeC for 30 to 120 minutes is 0.2 kN / m or less. An insulating sheet with a substrate as described in 1. 上記基材は、剥離処理剤により剥離処理が施されたものである請求の範囲第1項または第2項に記載の基材付絶縁シート。   The insulating sheet with a base material according to claim 1 or 2, wherein the base material has been subjected to a release treatment with a release treatment agent. 上記剥離処理剤は、非シリコーン系の剥離処理剤である請求の範囲第3項に記載の基材付絶縁シート。   The insulating sheet with base material according to claim 3, wherein the release treatment agent is a non-silicone release treatment agent. 上記剥離処理剤は、ウレタン結合を持つ化合物を含むものである請求の範囲第3項または第4項に記載の基材付絶縁シート。   The insulating sheet with a base material according to claim 3 or 4, wherein the release treatment agent contains a compound having a urethane bond. 上記基材は、ポリエステル樹脂フィルムである請求の範囲第1項ないし第5項のいずれかに記載の基材付絶縁シート。   The insulating sheet with a base material according to any one of claims 1 to 5, wherein the base material is a polyester resin film. 上記ポリエステル樹脂フィルムは、ポリエチレンテレフタレートフィルムまたはポリエチレンナフタレートフィルムである、請求の範囲第6項に記載の基材付絶縁シート。   The insulating sheet with base material according to claim 6, wherein the polyester resin film is a polyethylene terephthalate film or a polyethylene naphthalate film. 上記樹脂組成物は、エポキシ樹脂を含有するものである請求の範囲第1項ないし第7項のいずれかに記載の基材付絶縁シート。   The insulating sheet with a base material according to any one of claims 1 to 7, wherein the resin composition contains an epoxy resin. 上記樹脂組成物は、無機充填材を含有するものである請求の範囲第1項ないし第8項のいずれかに記載の基材付絶縁シート。   The insulating sheet with a base material according to any one of claims 1 to 8, wherein the resin composition contains an inorganic filler. 上記樹脂組成物は、イミダゾール化合物を含有するものである請求の範囲第1項ないし第9項のいずれかに記載の基材付絶縁シート。   The insulating sheet with a substrate according to any one of claims 1 to 9, wherein the resin composition contains an imidazole compound. 請求の範囲第1項ないし第10項のいずれかに記載の基材付絶縁シートを、内層回路板の片面または両面に重ね合わせて加熱加圧成形してなる多層プリント配線板。   A multilayer printed wiring board obtained by superposing the insulating sheet with a base material according to any one of claims 1 to 10 on one side or both sides of an inner layer circuit board and heating and pressing. 請求の範囲第11項に記載の多層プリント配線板をパッケージ用基板として用いてなる半導体装置。   A semiconductor device using the multilayer printed wiring board according to claim 11 as a package substrate. 請求の範囲第1項ないし第10項のいずれかに記載の基材付絶縁シートと、内層回路板とを、該基材付絶縁シートの絶縁層を該内層回路板側にして重ね合わせ、上記樹脂組成物の硬化温度未満で加熱加圧し、多層プリント配線板前駆体を作製する工程と、
上記多層プリント配線板前駆体を、上記樹脂組成物の硬化温度以上に加熱して上記絶縁層を硬化させた後、上記基材を剥離して多層プリント配線板を作製する工程と、
を備える、多層プリント配線板の作製方法。
The insulating sheet with a base material according to any one of claims 1 to 10 and an inner layer circuit board are overlaid with the insulating layer of the insulating sheet with a base material on the inner layer circuit board side, Heating and pressing at a temperature lower than the curing temperature of the resin composition to produce a multilayer printed wiring board precursor; and
After the multilayer printed wiring board precursor is heated to a temperature equal to or higher than the curing temperature of the resin composition to cure the insulating layer, the base material is peeled off to produce a multilayer printed wiring board;
A method for producing a multilayer printed wiring board, comprising:
多層プリント配線板の絶縁層を形成するために用いられる基材付絶縁シートであって、
樹脂組成物からなる絶縁層が基材上に設けられてなり、該絶縁層を被接着面に60〜160℃、0.2〜5MPaで0.5〜15分間、加熱加圧した時に、20℃において上記絶縁層から上記基材を剥離する剥離強度が、0.05kN/m以下であることを特徴とする基材付絶縁シート。
An insulating sheet with a base material used for forming an insulating layer of a multilayer printed wiring board,
An insulating layer made of a resin composition is provided on a substrate, and when the insulating layer is heated and pressed at 60 to 160 ° C. and 0.2 to 5 MPa for 0.5 to 15 minutes on the adherend surface, 20 An insulating sheet with a base material, wherein a peel strength at which the base material is peeled from the insulating layer at 0 ° C. is 0.05 kN / m or less.
上記基材は、剥離処理剤により剥離処理が施されたものである請求の範囲第14項に記載の基材付絶縁シート。   The insulating sheet with a base material according to claim 14, wherein the base material has been subjected to a release treatment with a release treatment agent. 上記剥離処理剤は、非シリコーン系の剥離処理剤である請求の範囲第15項に記載の基材付絶縁シート。   The insulating sheet with base material according to claim 15, wherein the release treatment agent is a non-silicone release treatment agent. 上記剥離処理剤は、ウレタン結合を持つ化合物を含むものである請求の範囲第15項または第16項に記載の基材付絶縁シート。   The insulating sheet with a base material according to claim 15 or 16, wherein the release agent contains a compound having a urethane bond. 上記基材は、ポリエステル樹脂フィルムである請求の範囲第14項ないし第17項のいずれかに記載の基材付絶縁シート。   The insulating sheet with a base material according to any one of claims 14 to 17, wherein the base material is a polyester resin film. 上記ポリエステル樹脂フィルムは、ポリエチレンテレフタレートフィルムまたはポリエチレンナフタレートフィルムである、請求の範囲第18項に記載の基材付絶縁シート。   The insulating sheet with a substrate according to claim 18, wherein the polyester resin film is a polyethylene terephthalate film or a polyethylene naphthalate film. 上記樹脂組成物は、エポキシ樹脂を含有するものである請求の範囲第14項ないし第19項のいずれかに記載の基材付絶縁シート。   The insulating sheet with base material according to any one of claims 14 to 19, wherein the resin composition contains an epoxy resin. 上記樹脂組成物は、無機充填材を含有するものである請求の範囲第14項ないし第20項のいずれかに記載の基材付絶縁シート。   The insulating sheet with a base material according to any one of claims 14 to 20, wherein the resin composition contains an inorganic filler. 上記樹脂組成物は、イミダゾール化合物を含有するものである請求の範囲第14項ないし第21項のいずれかに記載の基材付絶縁シート。   The insulating sheet with a base material according to any one of claims 14 to 21, wherein the resin composition contains an imidazole compound. 上記絶縁層を硬化させる前の上記剥離強度が0.05kN/m以下であり、絶縁層の硬化前に基材から剥離して用いられるものである、請求の範囲第14項ないし第22項のいずれかに記載の基材付絶縁シート。   23. The method according to claim 14, wherein the peel strength before curing the insulating layer is 0.05 kN / m or less and is used by being peeled off from the base material before curing the insulating layer. The insulating sheet with a base material according to any one of the above. 請求の範囲第14項ないし第23項のいずれかに記載の基材付絶縁シートを、内層回路板の片面または両面に重ね合わせて加熱加圧成形してなる多層プリント配線板。   A multilayer printed wiring board obtained by superposing the insulating sheet with a base material according to any one of claims 14 to 23 on one side or both sides of an inner layer circuit board and heating and pressing. 請求の範囲第24項に記載の多層プリント配線板をパッケージ用基板として用いてなる半導体装置。   A semiconductor device using the multilayer printed wiring board according to claim 24 as a package substrate. 請求の範囲第14項ないし第23項のいずれかに記載の基材付絶縁シートと、内層回路板とを、該基材付絶縁シートの絶縁層を該内層回路板側にして重ね合わせ、上記樹脂組成物の硬化温度未満で加熱加圧し、多層プリント配線板前駆体を作製する工程と、
上記多層プリント配線板前駆体において、上記基材を上記絶縁層から剥離した後、上記樹脂組成物の硬化温度以上に加熱して上記絶縁層を硬化させ、多層プリント配線板を作製する工程と、
を備える、多層プリント配線板の作製方法。
The insulating sheet with a base material according to any one of claims 14 to 23 and the inner layer circuit board are overlapped with the insulating layer of the insulating sheet with a base material facing the inner layer circuit board, Heating and pressing at a temperature lower than the curing temperature of the resin composition to produce a multilayer printed wiring board precursor; and
In the multilayer printed wiring board precursor, after the substrate is peeled from the insulating layer, the insulating layer is cured by heating above the curing temperature of the resin composition, and a multilayer printed wiring board is produced;
A method for producing a multilayer printed wiring board, comprising:
JP2009509114A 2007-03-29 2008-03-25 Insulating sheet with substrate, multilayer printed wiring board, semiconductor device, and method for manufacturing multilayer printed wiring board Pending JPWO2008123248A1 (en)

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007089223 2007-03-29
JP2007089244 2007-03-29
JP2007089244 2007-03-29
JP2007089223 2007-03-29
PCT/JP2008/055576 WO2008123248A1 (en) 2007-03-29 2008-03-25 Base-equipped insulating sheet, multi-layer printed circuit board, semiconductor device, and multi-layer printed circuit board manufacturing method

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPWO2008123248A1 true JPWO2008123248A1 (en) 2010-07-15

Family

ID=39830741

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009509114A Pending JPWO2008123248A1 (en) 2007-03-29 2008-03-25 Insulating sheet with substrate, multilayer printed wiring board, semiconductor device, and method for manufacturing multilayer printed wiring board

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JPWO2008123248A1 (en)
KR (1) KR20090123944A (en)
CN (1) CN101637070B (en)
WO (1) WO2008123248A1 (en)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6503633B2 (en) * 2014-04-24 2019-04-24 味の素株式会社 Method of manufacturing circuit board
JP6709669B2 (en) * 2016-04-20 2020-06-17 信越ポリマー株式会社 Electromagnetic wave shield film and printed wiring board with electromagnetic wave shield film
JP6627944B2 (en) * 2018-10-09 2020-01-08 味の素株式会社 Circuit board manufacturing method
US20230212384A1 (en) * 2019-09-10 2023-07-06 Shenzhen Institutes Of Advanced Technology Chinese Academy Of Sciences High-temperature-resistant insulating coating material and preparation method thereof
CN113141702A (en) * 2020-01-17 2021-07-20 广东生益科技股份有限公司 Insulating sheet, printed circuit board comprising insulating sheet, semiconductor device and embedded component

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1187927A (en) * 1996-12-26 1999-03-30 Ajinomoto Co Inc Inter-layer adhesive film for multilayered printed wiring board and multilayered printed wiring board using the same
JP2001196743A (en) * 1999-10-28 2001-07-19 Ajinomoto Co Inc Method for manufacturing multilayer printed wiring substrate using adhesive film
JP2005286089A (en) * 2004-03-30 2005-10-13 Sumitomo Bakelite Co Ltd Method for manufacturing multilayer printed wiring board
JP2005307110A (en) * 2004-04-26 2005-11-04 Mitsubishi Chemicals Corp Mold-release resin composition
JP2006028275A (en) * 2004-07-14 2006-02-02 Tokai Rubber Ind Ltd Prepreg sheet with protective film and method for producing the same
JP2006124433A (en) * 2004-10-26 2006-05-18 Matsushita Electric Works Ltd Resin sheet and molded product

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA1298451C (en) * 1985-08-02 1992-04-07 Hiromi Shigemoto Surface-roughened film and sheet, and process for production and use thereof
JP4202509B2 (en) * 1999-02-03 2008-12-24 株式会社巴川製紙所 Laminate for circuit
JP2004249557A (en) * 2003-02-19 2004-09-09 Sumitomo Bakelite Co Ltd Method for producing laminated plate
JP4308690B2 (en) * 2004-03-16 2009-08-05 サンスター技研株式会社 One-component moisture-curable urethane composition that can be easily thermally decomposed
JP2006274218A (en) * 2005-03-30 2006-10-12 Sumitomo Bakelite Co Ltd Resin composition, resin layer and carrier material and circuit board each having resin layer

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1187927A (en) * 1996-12-26 1999-03-30 Ajinomoto Co Inc Inter-layer adhesive film for multilayered printed wiring board and multilayered printed wiring board using the same
JP2001196743A (en) * 1999-10-28 2001-07-19 Ajinomoto Co Inc Method for manufacturing multilayer printed wiring substrate using adhesive film
JP2005286089A (en) * 2004-03-30 2005-10-13 Sumitomo Bakelite Co Ltd Method for manufacturing multilayer printed wiring board
JP2005307110A (en) * 2004-04-26 2005-11-04 Mitsubishi Chemicals Corp Mold-release resin composition
JP2006028275A (en) * 2004-07-14 2006-02-02 Tokai Rubber Ind Ltd Prepreg sheet with protective film and method for producing the same
JP2006124433A (en) * 2004-10-26 2006-05-18 Matsushita Electric Works Ltd Resin sheet and molded product

Also Published As

Publication number Publication date
CN101637070A (en) 2010-01-27
WO2008123248A1 (en) 2008-10-16
KR20090123944A (en) 2009-12-02
CN101637070B (en) 2012-02-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5228908B2 (en) Semiconductor device
KR101103451B1 (en) Multilayer body, method for producing substrate, substrate and semiconductor device
JP5771987B2 (en) Multilayer circuit board, insulating sheet, and semiconductor package using multilayer circuit board
JP5344022B2 (en) Epoxy resin composition, prepreg, laminate, resin sheet, printed wiring board, and semiconductor device
JP5446864B2 (en) Insulating resin composition for multilayer printed wiring board, insulating resin sheet with substrate, multilayer printed wiring board and semiconductor device
WO2010050472A1 (en) Resin composition, resin sheet, prepreg, laminate board, multilayer printed wiring board, and semiconductor device
JP5428232B2 (en) Prepreg, laminated board, multilayer printed wiring board, and semiconductor device
JP2011026419A (en) Resin composition, prepreg, laminated board, multilayer printed wiring, and semiconductor device
JP5533657B2 (en) Laminate board, circuit board and semiconductor device
JPWO2003018675A1 (en) Resin composition, prepreg, laminate and semiconductor package
JP2008198774A (en) Resin composition, insulating resin sheet with film or metal foil, multilayer printed wiring board, method of manufacturing multilayer printed wiring board, and semiconductor device
JP2012153752A (en) Resin composition, prepreg, laminate, resin sheet, printed wiring board and semiconductor device
JPH09298369A (en) Multilayer wiring board and its manufacture
JPWO2008123248A1 (en) Insulating sheet with substrate, multilayer printed wiring board, semiconductor device, and method for manufacturing multilayer printed wiring board
JP5256681B2 (en) Semiconductor device, printed wiring board for semiconductor device, and copper-clad laminate
JP2011126963A (en) Resin sheet, printed-wiring board and semiconductor device
JP2010087013A (en) Method for manufacturing inter-layer insulating sheet, built-up multilayer substrate, and circuit board
JP2008143971A (en) Insulation resin composition, insulation resin sheet with substrate, multi-layer printed wiring board and semiconductor device
JP2009067852A (en) Insulation resin sheet impregnated with glass fiber woven fabric, laminated plate, multilayered printed wiring board, and semiconductor device
JP2004202895A (en) Insulation sheet, insulation sheet having metal foil, and multi-layer printed wiring board
JP2017183376A (en) Flexible substrate, flexible circuit board, and method of manufacturing support-less flexible circuit board
JP5163279B2 (en) LAMINATED MANUFACTURING METHOD, LAMINATED PLATE, CIRCUIT BOARD, SEMICONDUCTOR PACKAGE SUBSTRATE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE
JP4976719B2 (en) Insulation sheet, insulation sheet with metal foil and multilayer printed wiring board
JP2012156385A (en) Resin composition, semiconductor device, multilayer circuit board and electronic component
JP2004256822A (en) Resin composition, prepreg, laminated sheet and semiconductor package

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20101215

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120605

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20120703

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20120802

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20120809

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120824

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130402

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20130730