JPWO2007122665A1 - 固体撮像素子及び撮像方法 - Google Patents

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Abstract

水平ラインごとに暗電流成分がばらついても適切に黒レベルを調整して暗電流成分を除去する。画素アレイ(101)には、各水平ラインに遮光画素素子を含むように、受光画素素子及び遮光画素素子が配置されており、読み出し回路部(102)は、画素アレイ(101)から水平ラインごとに画素信号を読み出し、画素信号をADC回路(カラムADC回路部(103))に入力するとともに、遮光画素素子の画素信号を出力し、ランプ信号発生回路(107a)は、読み出し回路部(102)から出力された遮光画素素子の画素信号を取得し、取得した遮光画素素子の画素信号に応じて、水平ラインごとにAD変換の基準レベルを調整したランプ信号を生成し、ランプ信号をADC回路(カラムADC回路部(103))に入力する。

Description

本発明は固体撮像素子及び撮像方法に関し、特に画素アレイの列ごとに設けられたアナログ・デジタル変換器を用いた固体撮像素子及びそのような固体撮像素子を用いた撮像方法に関する。
CMOS(Complementary Metal-Oxide Semiconductor)イメージセンサなどの固体撮像素子において、画素アレイの列(カラム)ごとに設けられたアナログ・デジタル変換器、いわゆるカラムADC(Analogue Digital Converter)回路を搭載したものが知られている。
図8は、カラムADC回路を搭載した従来の固体撮像素子の構成図である。
従来の固体撮像素子500は、画素アレイ501、読み出し回路部502、カラムADC回路部503、ラッチ/シリアルパラレル変換回路504、DAC(Digital Analogue Converter)回路505、コンパレータ506、タイミング発生回路507、ランプ信号発生回路508を有する。
画素アレイ501は、複数の受光画素素子(図示せず)がマトリクス状に配置された受光画素領域501aと、複数の遮光画素素子(図示せず)からなる遮光画素領域501bを有している。遮光画素素子から読み出された画素信号は、受光画素素子の画素信号から暗電流成分によるオフセットを除去するために用いられる。遮光画素領域501bは、例えば受光画素領域501aを囲うように配置されている。
読み出し回路部502は、画素アレイ501から画素信号を、読み出し行(以下水平ラインという。)ごとに読み出す。読み出し回路部502は、読み出した画素信号を増幅するカラムアンプ回路部502aと、ノイズ除去のためのカラムCDS(Correlated Double Sampling)回路部502bを有する。カラムアンプ回路部502aは、カラムごとに設けられたアンプ回路からなる。カラムCDS回路部502bは、カラムごとに設けられたCDS回路からなる。
カラムADC回路部503は、カラムごとに設けられたADC回路からなり、読み出し回路部502で読み出されたアナログの画素信号をデジタル値に変換する。
ラッチ/シリアルパラレル変換回路504は、カラムADC回路部503で得られたデジタル値の画素信号をラッチして、シリアルパラレル変換を行い、パラレルデータとして出力する。
DAC回路505は、ラッチ/シリアルパラレル変換回路504から出力される画素信号のうち、遮光画素素子から読み出した画素信号をDA変換して電圧値(黒レベル)を得る。
コンパレータ506は、DAC回路505から出力された黒レベルと、読み出し回路部502及びカラムADC回路部503の理想黒レベルである基準電圧VREFとを比較して、その差に応じて読み出し回路部502に供給する基準電圧VREFaを調整する。
タイミング発生回路507は、タイミング信号を発生し、読み出し回路部502、カラムADC回路部503、ラッチ/シリアルパラレル変換回路504、DAC回路505、ランプ信号発生回路508に入力する。
ランプ信号発生回路508は、アンプ回路5081、定電流源5082、スイッチS10、キャパシタC10を有している。アンプ回路5081は、基準電圧VREFを一方の入力端子に入力し、他方の入力端子に自身の出力端子を接続しており、バッファとして機能している。アンプ回路5081の出力端子は、スイッチS10を介してキャパシタC10及び定電流源5082の一方の端子と接続されている。キャパシタC10及び定電流源5082の他方の端子は接地されている。
このようなランプ信号発生回路508において、タイミング発生回路507からのタイミング信号によりスイッチS10がオンすると、キャパシタC10に基準電圧VREFが保持され、その後スイッチS10をオフすることにより、定電流源5082の一方の端子から基準電圧VREFを基準レベルとして一定の傾きで増加するランプ波形が出力され、カラムADC回路部503に入力される。
図9は、従来のカラムCDS回路の構成図である。
ここでは、カラムCDS回路部502bにおいて、1つのカラムに設けられたカラムCDS回路510を示している。
カラムCDS回路510は、アンプ回路511、512、スイッチS11、S12、キャパシタC11、C12を有している。アンプ回路511の一方の入力端子には、スイッチS11を介してカラムアンプ回路部502aから出力された画素信号が入力される。スイッチS11とアンプ回路511の一方の入力端子との間には、キャパシタC11の一方の端子が接続されており、キャパシタC11の他方の端子は接地されている。また、アンプ回路511は、他方の入力端子に自身の出力端子を接続し、バッファとして機能している。
アンプ回路512の一方の入力端子は、キャパシタC12を介して、アンプ回路511の出力端子と接続されている。キャパシタC12とアンプ回路512の一方の入力端子の間にはスイッチS12を介して基準電圧VREFaが印加される。また、アンプ回路512は、他方の入力端子に自身の出力端子を接続し、バッファとして機能している。また、アンプ回路512の出力端子は、カラムADC回路部503と接続される。
このようなカラムCDS回路510において、タイミング発生回路507からのタイミング信号によりスイッチS11、S12をオンし、キャパシタC12に、画素素子(フォトダイオード)のリセット時に読み出されるリセット信号(ノイズ)を、基準電圧VREFaを基準とした電圧値として保持させる。次に、タイミング信号によりスイッチS12をオフすると、積分時間(露光時間)に応じて蓄積された信号電荷が画素信号として、カラムアンプ回路部502aを介してキャパシタC11に保持される。このノイズ成分を含む画素信号は、キャパシタC12に保持された電圧値と減算されノイズ成分が除去される。そして、アンプ回路512からは、ノイズ成分が除去された画素信号と基準電圧VREFaの和が出力される。
図10は、従来の固体撮像素子における読み出し時の画素信号とAD変換範囲を示す図である。
ここでは、図8で示した画素アレイ501の連続する水平ラインH1、H2における画素素子から読み出された画素信号を示しており、上図が読み出し回路部502に入力される画素信号、下図がカラムADC回路部503に入力される画素信号を示している。
水平ラインH1の読み出し期間では、読み出し回路部502には、左から遮光画素領域501bからの画素信号、受光画素領域501aからの画素信号が入力され、再び遮光画素領域501bからの画素信号が入力される。各領域からの画素信号は、タイミング信号に応じて並列に同時入力される。その後ブランキング期間(BK)を経た後、次の水平ラインH2からも同様に画素信号が読み出し回路部502に入力される。
カラムADC回路部503には、読み出し回路部502にて増幅処理やノイズ除去処理が施された画素信号(図10下図)が入力される。水平ラインH1において、カラムADC回路部503に入力された画素信号は、基準電圧VREFを基準レベルとしたランプ信号をもとにAD変換され、ラッチ/シリアルパラレル変換回路504にてラッチされ、パラレルデータに変換されて出力される。このとき遮光画素領域501bからの画素信号はDAC回路505にてアナログの電圧値(黒レベル)に変換され、コンパレータ506にて基準電圧VREFと比較される。図10の場合、水平ラインH1の平均黒レベルVba1は基準電圧VREFよりも低くなっている。そのため、コンパレータ506は、基準電圧VREFa1を水平ラインH1のオフセット分上昇させた基準電圧VREFa2を、読み出し回路部502に入力する。
このように、従来の固体撮像素子500では、AD変換後に遮光画素素子の画素信号を用い、読み出し回路部502の基準電圧VREFaを調整することで黒レベルの調整を行い、暗電流成分を除去しようとしていた(例えば、特許文献1参照。)。
特開2005−101985号公報
しかし、暗電流成分は水平ラインごと一定ではないため、1水平ライン前のオフセットと、今回読み出した水平ラインの画素信号のオフセットとの誤差により、黒レベルを完全に調整することができないという問題があった。
例えば、図10のような場合、水平ラインH2において、読み出し回路部502に入力される画素信号の平均黒レベルVba2は基準電圧VREFと等しいにも拘らず、水平ラインH1のオフセットで黒レベルを調整している。そのため、水平ラインH2ではオフセットが発生してしまう。これにより、出力画像に横縞が発生してしまう問題があった。
また、図10のように、オフセット分が除去されないため、AD変換時において実データの量子化数がオフセット分少なくなり、分解能が低下して解像度の低下による画質の低下を招くという問題もあった。
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、水平ラインごとに暗電流成分がばらついても適切に黒レベルを調整して暗電流成分を除去可能な固体撮像素子を提供することを目的とする。
また、本発明の他の目的は、水平ラインごとに暗電流成分がばらついても適切に黒レベルを調整して暗電流成分を除去可能な撮像方法を提供することである。
本発明では上記問題を解決するために、画素アレイのカラムごとに設けられたADC回路を用いた固体撮像素子において、図1に示すように、各水平ラインに遮光画素素子を含むように、受光画素素子及び遮光画素素子が配置された画素アレイ101と、画素アレイ101から水平ラインごとに画素信号を読み出し、画素信号をADC回路(カラムADC回路部103)に入力するとともに、遮光画素素子の画素信号を出力する読み出し回路部102と、読み出し回路部102から出力された遮光画素素子の画素信号を取得し、取得した遮光画素素子の画素信号に応じて、水平ラインごとにAD変換の基準レベルを調整したランプ信号を生成し、ランプ信号をADC回路(カラムADC回路部103)に入力するランプ信号発生回路107aと、を有することを特徴とする固体撮像素子100aが提供される。
上記の構成によれば、画素アレイ101には、各水平ラインに遮光画素素子を含むように、受光画素素子及び遮光画素素子が配置されており、読み出し回路部102は、画素アレイ101から水平ラインごとに画素信号を読み出し、画素信号をADC回路(カラムADC回路部103)に入力するとともに、遮光画素素子の画素信号を出力し、ランプ信号発生回路107aは、読み出し回路部102から出力された遮光画素素子の画素信号を取得し、取得した遮光画素素子の画素信号に応じて、水平ラインごとにAD変換の基準レベルを調整したランプ信号を生成し、ランプ信号をADC回路(カラムADC回路部103)に入力する。
また、画素アレイの列ごとに設けられたADC回路を用いた固体撮像素子の撮像方法において、各水平ラインに遮光画素素子を含むように、受光画素素子及び前記遮光画素素子が配置された画素アレイから前記水平ラインごとに画素信号を読み出し、前記画素信号を前記ADC回路に入力するとともに、前記遮光画素素子の画素信号に応じて、前記水平ラインごとにAD変換の基準レベルを調整したランプ信号を生成し、前記ランプ信号を前記ADC回路に入力することを特徴とする撮像方法が提供される。
上記の方法によれば、各水平ラインに遮光画素素子を含むように、受光画素素子及び遮光画素素子が配置された画素アレイから水平ラインごとに画素信号が読み出され、画素信号がADC回路に入力されるとともに、遮光画素素子の画素信号に応じて、水平ラインごとにAD変換の基準レベルを調整したランプ信号が生成され、そのランプ信号がADC回路に入力される。
また、画素アレイの列ごとに設けられたアナログ・デジタル変換器を用いた固体撮像素子において、各水平ラインに遮光画素素子を含むように、受光画素素子及び前記遮光画素素子が配置された画素アレイと、前記画素アレイから前記水平ラインごとに画素信号を読み出し、前記画素信号を前記アナログ・デジタル変換器に入力するとともに、前記遮光画素素子の画素信号を出力する読み出し回路部と、を有し、前記アナログ・デジタル変換器は、前記読み出し回路部から出力された前記遮光画素素子の画素信号に応じて、前記水平ラインごとに基準レベルが調整されていること、を特徴とする固体撮像素子が提供される。
上記の構成によれば、画素アレイには、各水平ラインに遮光画素素子を含むように、受光画素素子及び遮光画素素子が配置されており、読み出し回路部は、画素アレイから水平ラインごとに画素信号を読み出し、画素信号をアナログ・デジタル変換器に入力するとともに、遮光画素素子の画素信号を出力する。アナログ・デジタル変換器は、読み出し回路部から出力された遮光画素素子の画素信号に応じて、水平ラインごとに基準レベルが調整される。
本発明によれば、ある水平ラインの画素素子から画素信号を読み出したときに、その水平ラインに含まれる遮光画素素子の画素信号に応じて、その水平ラインの画素信号のAD変換で用いるランプ信号の基準レベルを調整するので、水平ラインごとに暗電流成分がばらついても適切に黒レベルを調整することができる。これにより、AD変換時の分解能を下げることなく、暗電流成分を除去することができる。
また、これにより、温度変化などによる暗電流成分の変動があっても解像度が落ちず、画質の劣化を防止することができる。
本発明の上記および他の目的、特徴および利点は本発明の例として好ましい実施の形態を表す添付の図面と関連した以下の説明により明らかになるであろう。
第1の実施の形態の固体撮像素子の構成を示す図である。 カラムCDS回路の構成図である。 第1の実施の形態の固体撮像素子における読み出し時の画素信号とAD変換範囲を示す図である。 第1の実施の形態の固体撮像素子における各スイッチの動作タイミングの一例を示す図である。 第2の実施の形態の固体撮像素子の構成図である。 第2の実施の形態の固体撮像素子における読み出し時の画素信号とAD変換範囲を示す図である。 画素アレイの他の例を示す図である。 カラムADC回路を搭載した従来の固体撮像素子の構成図である。 従来のカラムCDS回路の構成図である。 従来の固体撮像素子における読み出し時の画素信号とAD変換範囲を示す図である。
以下、本発明の実施の形態を図面を参照して詳細に説明する。
図1は、第1の実施の形態の固体撮像素子の構成を示す図である。
第1の実施の形態の固体撮像素子100aは、画素アレイ101、読み出し回路部102、カラムADC回路部103、ラッチ/シリアルパラレル変換回路104、アンプ回路105、タイミング発生回路106、ランプ信号発生回路107aを有する。
画素アレイ101は、複数の受光画素素子(図示せず)がマトリクス状に配置された受光画素領域101aと、複数の遮光画素素子(図示せず)からなる遮光画素領域101bを有している。遮光画素素子から読み出された画素信号は、受光画素素子の画素信号から暗電流成分によるオフセットを除去するために用いられる。ここで、遮光画素領域101bは、各水平ラインに遮光画素素子を含むように、例えば受光画素領域101aを囲うように配置されている。
読み出し回路部102は、画素アレイ101から画素信号を1水平ラインごとに読み出す。読み出し回路部102は、読み出した画素信号を増幅するカラムアンプ回路部102aと、ノイズ除去のためのカラムCDS回路部102bを有する。カラムアンプ回路部102aは、カラムごとに設けられたアンプ回路からなる。カラムCDS回路部102bは、カラムごとに設けられたCDS回路からなる。カラムアンプ回路部102aの各アンプ回路は図示しないカラム信号線に接続されている。そしてそのカラム信号線に接続した画素素子のうち、選択された画素素子からの画素信号を入力して増幅処理する。カラムCDS回路部102bの詳細は後述する。
カラムADC回路部103は、カラムごとに設けられたADCからなり、読み出し回路部102で読み出された画素信号をデジタル値に変換する。
ラッチ/シリアルパラレル変換回路104は、カラムADC回路部103で得られたデジタル値の画素信号をラッチして、シリアルパラレル変換を行い、パラレルデータとして出力する。
アンプ回路105は、一方の入力端子に基準電圧VREFを入力している。他方の入力端子は、自身の出力端子と接続し、バッファとして機能している。出力端子は読み出し回路部102のカラムアンプ回路部102aと、カラムCDS回路部102b及びランプ信号発生回路107aと接続し、これらに基準電圧VREFを供給している。
タイミング発生回路106は、タイミング信号を発生し、読み出し回路部102、カラムADC回路部103、ラッチ/シリアルパラレル変換回路104、ランプ信号発生回路107aに入力する。
ランプ信号発生回路107aは、アンプ回路1071、定電流源1072、スイッチS1、S2、S3、S4、キャパシタC1、C2を有している。アンプ回路1071の一方の入力端子はスイッチS1を介してアンプ回路105の出力端子、スイッチS2を介してカラムCDS回路部102bと接続されている。また、アンプ回路1071の他方の入力端子はスイッチS4を介して自身の出力端子、さらにはキャパシタC1の一方の端子と接続している。キャパシタC1の他方の端子は接地されている。アンプ回路1071の出力端子は、スイッチS3を介してキャパシタC2及び定電流源1072の一方の端子と接続されている。キャパシタC2及び定電流源1072の他方の端子は接地されている。
図2は、カラムCDS回路の構成図である。
ここでは、カラムCDS回路部102bにおいて、1つのカラムに設けられたカラムCDS回路110を示している。
カラムCDS回路110は、アンプ回路111、112、スイッチS5、S6、S7、S8、キャパシタC3、C4、C5を有している。アンプ回路111の一方の入力端子には、スイッチS5を介してカラムアンプ回路部102aから出力された画素信号が入力される。スイッチS5とアンプ回路111の一方の入力端子との間には、キャパシタC3の一方の端子が接続されており、キャパシタC3の他方の端子は接地されている。また、アンプ回路111は、他方の入力端子に自身の出力端子を接続し、バッファとして機能している。
アンプ回路111の出力端子は、キャパシタC4を介して、アンプ回路112の一方の入力端子と接続されている。キャパシタC4とアンプ回路112の一方の入力端子との間にはスイッチS6を介して基準電圧VREFが印加される。また、アンプ回路112は、他方の入力端子に自身の出力端子を接続し、バッファとして機能している。また、アンプ回路112の出力端子は、カラムADC回路部103と接続される。さらに、アンプ回路112の出力端子は、スイッチS7を介してキャパシタC5の一方の端子と接続されている。キャパシタC5の他方の端子には基準電圧VREFが印加される。また、スイッチS7とキャパシタC5の間のノードには、スイッチS8を介してランプ信号発生回路107aが接続される。
以下、第1の実施の形態の固体撮像素子100aの動作を説明する。
読み出し回路部102は、図1の画素アレイ101の画素信号を、例えば上から下方向の走査方向で1水平ラインごとに読み出す。
図3は、第1の実施の形態の固体撮像素子における読み出し時の画素信号とAD変換範囲を示す図である。
ここでは、図1で示した画素アレイ101の連続する水平ラインH1、H2における画素素子から読み出された画素信号を示しており、上図が読み出し回路部102に入力される画素信号、下図がカラムADC回路部103に入力される画素信号を示している。
水平ラインH1の読み出し期間では、読み出し回路部102には、左から遮光画素領域101bからの画素信号、受光画素領域101aからの画素信号が入力され、再び遮光画素領域101bからの画素信号が入力される。各領域からの画素信号は、タイミング信号に応じて並列に同時入力される。
入力された画素信号は、カラムアンプ回路部102aにて増幅処理が行われた後、図2で示したカラムCDS回路110がカラムごとに設けられたカラムCDS回路部102bに入力される。このとき、カラムCDS回路部102bの各カラムCDS回路110及びランプ信号発生回路107aでは、タイミング発生回路106からのタイミング信号に応じて以下の動作を行う。
図4は、第1の実施の形態の固体撮像素子における各スイッチの動作タイミングの一例を示す図である。
タイミングT1において、ランプ信号発生回路107aのスイッチS1、S4と、カラムCDS回路110のスイッチS5、S6をオンする。このときカラムCDS回路110のキャパシタC4に、画素素子(フォトダイオード)のリセット時に読み出されるリセット信号(ノイズ)を、基準電圧VREFを基準とした電圧値として保持させる。次に、タイミング信号によりスイッチS6をオフすると(タイミングT2)、積分時間(露光時間)に応じて蓄積された信号電荷が画素信号として、カラムアンプ回路部102aを介してキャパシタC3に保持される。このノイズ成分を含む画素信号は、キャパシタC4に保持された電圧値と減算され、ノイズ成分が除去される。そして、アンプ回路112からは、ノイズ成分が除去された画素信号と基準電圧VREFの和が出力され、カラムADC回路部103に入力される。
このとき、遮光画素領域101bのカラム信号線に接続したカラムCDS回路110では、タイミング信号により、スイッチS7がオンされる。これにより、ノイズが除去された遮光画素素子の画素信号と基準電圧VREFの和がキャパシタC5に蓄積される。但し、受光画素領域101aのカラム信号線に接続したカラムCDS回路110については、スイッチS7をオンしない。
タイミング信号によりカラムCDS回路110のスイッチS5をオフした後(タイミングT3)、スイッチS7をオフすると同時にスイッチS8をオンする(タイミングT4)。これにより、キャパシタC5に蓄積された遮光画素素子の画素信号と基準電圧VREFの和がランプ信号発生回路107aに出力される。なお、タイミングT4において、ランプ信号発生回路107aのスイッチS1、S4はオン、スイッチS2、S3はオフであるので、キャパシタC1には、基準電圧VREFとアンプ回路1071のオフセット電圧の和が蓄積されている。
次にタイミング信号により、スイッチS1、S4をオフ、スイッチS2、S3をオンする(タイミングT5)。このとき、遮光画素領域101bのカラム信号線に接続した複数のカラムCDS回路110において、キャパシタC5に蓄積された遮光画素素子の画素信号と基準電圧VREFの和がランプ信号発生回路107aで取得される。なお、複数のカラムCDS回路110から取得した遮光画素素子の画素信号において、その信号レベル(黒レベル)は平均化される。アンプ回路1071は、キャパシタC1に蓄積されている電圧(基準電圧VREFとアンプ回路1071のオフセット電圧との和)と、平均化された黒レベル(以下平均黒レベルVba1と表記する。)と基準電圧VREFの和とを比較する。アンプ回路1071のオフセット成分は除去され、差分である平均黒レベルVba1がキャパシタC2に蓄積される。これによって、ランプ信号の基準レベルが、水平ラインH1の遮光画素素子の画素信号の平均黒レベルVba1に調整される。そして、タイミングT6にてスイッチS3をオフすると、定電流源1072により、調整された基準レベルから一定の傾きで増加するランプ波形が生成され、カラムADC回路部103に入力される。
以上の処理によって、カラムADC回路部103は、図3の下図に示しているように、水平ラインH1の遮光画素素子の平均黒レベルVba1を基準レベルとしたAD変換を行う。
その後ブランキング期間(BK)を経た後、次の水平ラインH2からも同様に画素信号が読み出し回路部102に入力される。このとき、カラムCDS回路部102b及びランプ信号発生回路107aは、図4で示したようなタイミングで各スイッチS1〜S8をオンまたはオフすることで、キャパシタC2には、水平ラインH2の遮光画素素子の平均黒レベルVba2が蓄積される。そして、スイッチS3をオフすることによって、定電流源1072により、平均黒レベルVba2を基準レベルとしたランプ波形が生成され、カラムADC回路部103に入力される。
これによって、カラムADC回路部103は、図3の下図に示しているように、水平ラインH2の遮光画素素子の平均黒レベルVba2からAD変換を行う。
以上のように、第1の実施の形態の固体撮像素子100aは、1水平ライン前の遮光画素素子の画素信号で黒レベルを調整するのではなく、読み出した水平ラインの遮光画素素子の画素信号でAD変換の基準レベルを調整するので、水平ラインごとに暗電流成分がばらついても適切に黒レベルを調整し、暗電流成分を除去することができる。これにより、画像に横縞が発生することを防止することができる。また、実データを確実にAD変換することができ、解像度の低下による画質の低下を防止することができる。
次に、第2の実施の形態の固体撮像素子を説明する。
図5は、第2の実施の形態の固体撮像素子の構成図である。
第1の実施の形態の固体撮像素子100aと同様の構成要素については、同一符号とし説明を省略する。
第2の実施の形態の固体撮像素子100bにおいて、ランプ信号発生回路107bのアンプ回路1071の一方の入力端子には、第1の実施の形態の固体撮像素子100aと異なり、キャパシタC6を介してオフセット回路1073が接続されている。オフセット回路1073は、所定のオフセット電圧ΔVoffを発生する。
このような、第2の実施の形態の固体撮像素子100bでは、スイッチS1、スイッチS4がオフ、スイッチS2、S3がオンの状態のとき、カラムCDS回路部102bから遮光画素素子の画素信号と基準電圧VREFの和がランプ信号発生回路107bで取得される。このときキャパシタC6には、遮光画素素子の画素信号の平均黒レベルVbaと基準電圧VREFの和と、オフセット回路1073で発生したオフセット電圧ΔVoffとの差電圧(Vba+VREF−ΔVoff)が保持される。その後スイッチS2をオフする。このとき、キャパシタC1には基準電圧VREFとアンプ回路1071のオフセット電圧との和が蓄積されている。アンプ回路1071は、キャパシタC1に蓄積された電圧値と、キャパシタC6に蓄積された電圧値とを比較する。アンプ回路1071のオフセット電圧はキャンセルされ、キャパシタC2には、平均黒レベルVba−オフセット電圧ΔVoffが蓄積され、この電圧が、AD変換の基準レベルとなる。
図6は、第2の実施の形態の固体撮像素子における読み出し時の画素信号とAD変換範囲を示す図である。
ここでは、図6で示した画素アレイ101の連続する水平ラインH1、H2における画素素子から読み出された画素信号を示しており、上図が読み出し回路部102に入力される画素信号、下図がカラムADC回路部103に入力される画素信号とAD変換範囲を示している。
第2の実施の形態の固体撮像素子100bでは、水平ラインH1、H2ごとに、遮光画素素子の画素信号の平均黒レベルVba1、Vba2からオフセット電圧ΔVoff分ずらした電圧を、AD変換の基準レベルとしている。
そして、このオフセット電圧ΔVoffを、オフセット回路1073にて可変することによって、水平ラインごとに黒レベルの調整を行うことができ、明るさの調整が可能になる。
なお、図1、図5の画素アレイ101では、遮光画素領域101bが、受光画素領域101aを囲うように配置されている場合について説明したが、これに限定されず、例えば、以下のような構成でもよい。
図7は、画素アレイの他の例を示す図である。
このような画素アレイ201において、遮光画素領域201bは、水平ラインHの走査方向Aに対し、受光画素領域201aの左右に配置されている。このとき図1、図5で示したカラムCDS回路部102bからは、左右に配置された遮光画素領域201bにおける複数の遮光画素素子の画素信号の平均値が、ランプ信号発生回路107a、107bに入力され、ランプ信号発生回路107a、107bは、その平均値に応じてランプ信号の基準レベルを調整する。なお、左右どちらか一方の遮光画素領域201bの遮光画素素子の画素信号の平均値をランプ信号発生回路107a、107bに入力するようにしてもよい。
また、遮光画素領域201bは左右両方でなく、左または右のどちらか一方に配置して、その遮光画素領域201bの遮光画素素子の画素信号の平均値を、ランプ信号発生回路107a、107bに入力するようにしてもよい。
上記については単に本発明の原理を示すものである。さらに、多数の変形、変更が当業者にとって可能であり、本発明は上記に示し、説明した正確な構成および応用例に限定されるものではなく、対応するすべての変形例および均等物は、添付の請求項およびその均等物による本発明の範囲とみなされる。
符号の説明
100a 固体撮像素子
101 画素アレイ
101a 受光画素領域
101b 遮光画素領域
102 読み出し回路部
102a カラムアンプ回路部
102b カラムCDS回路部
103 カラムADC回路部
104 ラッチ/シリアルパラレル変換回路
105、1071 アンプ回路
106 タイミング発生回路
107a ランプ信号発生回路
1072 定電流源

Claims (11)

  1. 画素アレイの列ごとに設けられたアナログ・デジタル変換器を用いた固体撮像素子において、
    各読み出し行に遮光画素素子を含むように、受光画素素子及び前記遮光画素素子が配置された画素アレイと、
    前記画素アレイから前記読み出し行ごとに画素信号を読み出し、前記画素信号を前記アナログ・デジタル変換器に入力するとともに、前記遮光画素素子の画素信号を出力する読み出し回路部と、
    前記読み出し回路部から出力された前記遮光画素素子の画素信号を取得し、取得した前記遮光画素素子の画素信号に応じて、前記読み出し行ごとにアナログ・デジタル変換の基準レベルを調整したランプ信号を生成し、前記ランプ信号を前記アナログ・デジタル変換器に入力するランプ信号発生回路と、
    を有することを特徴とする固体撮像素子。
  2. 前記ランプ信号発生回路は、前記読み出し回路部から出力される複数の前記遮光画素素子の画素信号の平均値を取得することを特徴とする請求の範囲第1項記載の固体撮像素子。
  3. 前記読み出し回路部は、前記画素アレイの列ごとに設けられたCDS回路を有し、前記CDS回路は、ノイズ除去後の前記遮光画素素子の画素信号を前記ランプ信号発生回路に出力することを特徴とする請求の範囲第1項記載の固体撮像素子。
  4. 前記CDS回路は、ノイズ除去後の前記遮光画素素子の画素信号を保持するキャパシタを有し、
    前記ランプ信号発生回路は、複数の前記CDS回路の前記キャパシタから平均化された前記遮光画素素子の画素信号を取得することを特徴とする請求の範囲第3項記載の固体撮像素子。
  5. 複数の前記遮光画素素子からなる遮光画素領域は、前記読み出し行の走査方向に対し、複数の前記受光画素素子からなる受光画素領域の左右に配置され、
    前記読み出し回路部は、左右両方または、左または右のどちらか一方の前記遮光画素領域の前記遮光画素素子の画素信号を出力し、
    前記ランプ信号発生回路は、複数の前記遮光画素素子の画素信号の平均値を取得し、前記平均値に応じて前記基準レベルを調整することを特徴とする請求の範囲第1項記載の固体撮像素子。
  6. 複数の前記遮光画素素子からなる遮光画素領域は、前記読み出し行の走査方向に対し、複数の前記受光画素素子からなる受光画素領域の左または右のどちらか一方に配置され、
    前記読み出し回路部は、前記遮光画素領域の前記遮光画素素子の画素信号を出力し、
    前記ランプ信号発生回路は、複数の前記遮光画素素子の画素信号の平均値を取得し、前記平均値に応じて前記基準レベルを調整することを特徴とする請求の範囲第1項記載の固体撮像素子。
  7. 前記ランプ信号発生回路は、前記遮光画素素子の画素信号にオフセット電圧を加えることで、前記基準レベルを調整するオフセット回路を有することを特徴とする請求の範囲第1項記載の固体撮像素子。
  8. 画素アレイの列ごとに設けられたアナログ・デジタル変換器を用いた固体撮像素子の撮像方法において、
    各読み出し行に遮光画素素子を含むように、受光画素素子及び前記遮光画素素子が配置された画素アレイから前記読み出し行ごとに画素信号を読み出し、
    前記画素信号を前記アナログ・デジタル変換器に入力するとともに、前記遮光画素素子の画素信号に応じて、前記読み出し行ごとにアナログ・デジタル変換の基準レベルを調整したランプ信号を生成し、
    前記ランプ信号を前記アナログ・デジタル変換器に入力することを特徴とする撮像方法。
  9. 読み出した複数の前記遮光画素素子の画素信号の平均値に応じて、前記基準レベルを調整することを特徴とする請求の範囲第8項記載の撮像方法。
  10. 前記遮光画素素子の画素信号にオフセット電圧を加えることで、前記基準レベルを調整することを特徴とする請求の範囲第8項記載の撮像方法。
  11. 画素アレイの列ごとに設けられたアナログ・デジタル変換器を用いた固体撮像素子において、
    各読み出し行に遮光画素素子を含むように、受光画素素子及び前記遮光画素素子が配置された画素アレイと、
    前記画素アレイから前記読み出し行ごとに画素信号を読み出し、前記画素信号を前記アナログ・デジタル変換器に入力するとともに、前記遮光画素素子の画素信号を出力する読み出し回路部と、を有し、
    前記アナログ・デジタル変換器は、前記読み出し回路部から出力された前記遮光画素素子の画素信号に応じて、前記読み出し行ごとに基準レベルが調整されていること、を特徴とする固体撮像素子。
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