JPWO2007111251A1 - Surface treatment equipment - Google Patents

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英則 高橋
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Abstract

【課題】被処理物が大型であっても簡易な構成で表面処理できるようにする。【解決手段】表面処理装置1の処理ヘッド10を第1ユニット11Lと第2ユニット11Rで構成する。これらユニット11には、処理ガスを噴き出すための孔列34が、第1方向に延在されている。第1方向は、被処理物の移動される第2方向と直交している。2つのユニット11は、互いに第1方向にずれ、かつ第2方向にずれて配置されている。2つのユニット11の孔列34どうしは、第2方向から見てオーバーラップしている。【選択図】図1An object of the present invention is to enable surface treatment with a simple configuration even when a workpiece is large. A processing head 10 of a surface processing apparatus 1 includes a first unit 11L and a second unit 11R. In these units 11, hole rows 34 for ejecting the processing gas are extended in the first direction. The first direction is orthogonal to the second direction in which the workpiece is moved. The two units 11 are displaced from each other in the first direction and in the second direction. The hole rows 34 of the two units 11 overlap when viewed from the second direction. [Selection] Figure 1

Description

この発明は、処理ガスを被処理物に吹き付け、被処理物の洗浄、表面改質、エッチング、アッシング、成膜等の表面処理を行なう装置に関し、プラズマ表面処理装置や熱CVD装置等を含む。特に、プラズマ処理においては、被処理物を電極間空間の外部に配置し、これに向けて電極間で形成したプラズマを噴出す所謂リモート式のプラズマ処理装置に関する。   The present invention relates to an apparatus for spraying a processing gas on an object to be processed and performing surface treatment such as cleaning, surface modification, etching, ashing, film formation, etc. of the object to be processed, and includes a plasma surface processing apparatus and a thermal CVD apparatus. In particular, in plasma processing, the present invention relates to a so-called remote type plasma processing apparatus in which an object to be processed is disposed outside an interelectrode space and a plasma formed between the electrodes is ejected toward the object.

液晶パネル等のフラットディスプレイの製造分野等では、近年、被処理物が大型化の傾向にあり、表面処理装置も大型被処理物への対応が求められている。
特許文献1、2には、複数の電極を長手方向と平行に並べてなる電極列を2列設け、これら2つの電極列の間にスリット状の放電空間を形成したプラズマ表面処理装置が記載されている。各電極は短くても、スリット状放電空間を大型被処理物の幅寸法に対応する長さにすることができる。このスリット状放電空間でプラズマ化した処理ガスを被処理物に吹き付けることにより、被処理物の全幅を一度に処理することができる。被処理物は電極の長手方向(スリット状放電空間の延び方向)と直交する方向に搬送される。
特許文献3、4には、複数の電極を長手方向と直交する方向に並べてなる電極モジュールを前記長手方向に沿って前後2段設けることが記載されている。各電極モジュールの隣り合う電極間にスリット状の放電空間が形成されるようになっている。前段の電極モジュールと後段の電極モジュールは、上記電極の並設方向に並設ピッチの半分だけずれている。したがって、前段と後段のスリット状放電空間も半ピッチずれている。被処理物は、各電極の長手方向ひいては各スリット状放電空間の長手方向に搬送されるようになっている。
特開2005−302685号公報 特開2005−302686号公報 特開2005−135892号公報 特開2005−333096号公報
In the field of manufacturing flat displays such as liquid crystal panels, the objects to be processed have been increasing in size in recent years, and surface treatment apparatuses are also required to support large objects to be processed.
Patent Documents 1 and 2 describe a plasma surface treatment apparatus in which two electrode rows each having a plurality of electrodes arranged in parallel with the longitudinal direction are provided, and a slit-like discharge space is formed between the two electrode rows. Yes. Even if each electrode is short, the slit-shaped discharge space can be made to have a length corresponding to the width dimension of the large workpiece. The entire width of the object to be processed can be processed at a time by spraying the processing gas that has been converted into plasma in the slit-shaped discharge space onto the object to be processed. The object to be processed is transported in a direction orthogonal to the longitudinal direction of the electrode (the extending direction of the slit-shaped discharge space).
Patent Documents 3 and 4 describe that an electrode module in which a plurality of electrodes are arranged in a direction perpendicular to the longitudinal direction is provided in two front and rear stages along the longitudinal direction. A slit-shaped discharge space is formed between adjacent electrodes of each electrode module. The front-stage electrode module and the rear-stage electrode module are shifted by a half of the parallel arrangement pitch in the parallel arrangement direction of the electrodes. Therefore, the slit-like discharge spaces at the front stage and the rear stage are also shifted by a half pitch. The object to be processed is conveyed in the longitudinal direction of each electrode and thus in the longitudinal direction of each slit-like discharge space.
Japanese Patent Laid-Open No. 2005-302585 Japanese Patent Laying-Open No. 2005-302686 Japanese Patent Laid-Open No. 2005-135892 JP 2005-333096 A

電極モジュール等を含む複数のユニットを一直線に並べるには、隣のユニットに面する端部に配線や配管を設けないようにしたり、前記端部以外の部分に架台との支持部を設けたりする必要があり、通常のユニットを単に複数並べるわけにはいかない。
本発明は、大型の被処理物にも簡易な構成で対応できる表面処理装置を提供することを目的とする。
To align a plurality of units including electrode modules etc. in a straight line, do not provide wiring or piping at the end facing the adjacent unit, or provide a support for the gantry at a portion other than the end It is necessary, and it is not possible to simply arrange a plurality of normal units.
An object of this invention is to provide the surface treatment apparatus which can respond also to a large to-be-processed object with a simple structure.

上記問題点を解決するため、本発明は、処理ガスを被処理物の表面に吹き付け、該表面を処理する装置において、
前記処理ガスを噴き出すための第1孔列を有し、この第1孔列が第1方向に延在する第1ユニットと、
前記処理ガスを噴き出すための第2孔列を有し、この第2孔列が前記第1孔列と同方向に延在する第2ユニットと、
前記被処理物を前記第1、第2ユニットに対し前記第1方向と直交する第2方向に相対移動させる移動機構と、
を備え、
前記第1ユニットと第2ユニットが、互いに前記第1方向にずれ、かつ前記第2方向にずれて配置されていることを特徴とする。
これによって、被処理物が大型であっても簡易な構成で表面処理することができる。
In order to solve the above problems, the present invention is directed to an apparatus for spraying a processing gas on the surface of an object to be processed and processing the surface.
A first unit having a first hole row for ejecting the processing gas, the first hole row extending in a first direction;
A second unit having a second hole row for ejecting the processing gas, the second hole row extending in the same direction as the first hole row;
A moving mechanism for moving the object to be processed relative to the first and second units in a second direction orthogonal to the first direction;
With
The first unit and the second unit are arranged so as to be displaced from each other in the first direction and in the second direction.
Thereby, even if a to-be-processed object is large sized, it can surface-treat with a simple structure.

前記第1孔列の長手方向の第2ユニット側の端部と前記第2孔列の長手方向の第1ユニット側の端部とが、前記第2方向から見て前記第1方向にオーバーラップしていることが望ましい。
これによって、各ユニットの孔列端部では処理ガスの減速や失活等で処理能力が孔列中央部より低くなったとしても、2つのユニットをオーバーラップさせることにより、このオーバーラップ部分での処理能力を2つの低い処理能力を合わせた大きさにでき、各ユニットの孔列中央部と同等の処理能力を得ることができる。
The end on the second unit side in the longitudinal direction of the first hole row and the end on the first unit side in the longitudinal direction of the second hole row overlap in the first direction when viewed from the second direction. It is desirable that
As a result, even if the processing capacity at the end of the hole row of each unit is lower than that at the center of the hole row due to the deceleration or deactivation of the processing gas, by overlapping the two units, The processing capacity can be sized to be a combination of two low processing capacities, and a processing capacity equivalent to the center of the hole row of each unit can be obtained.

架台と、
この架台に前記第1ユニットを、前記第1方向に位置調節可能に連結する連結機構と、
を更に備えるのが好ましい。
これによって、第1方向に沿う組み付け誤差を吸収したり、上記オーバーラップの幅を調節したりすることができる。
A frame,
A connection mechanism for connecting the first unit to the gantry so as to be positionally adjustable in the first direction;
Is preferably further provided.
As a result, it is possible to absorb assembly errors along the first direction and adjust the width of the overlap.

架台と、
この架台に前記第1ユニットを、前記第1方向及び第2方向と直交する第3方向に位置調節可能に連結する連結機構と、
を更に備えるのが好ましい。
これによって、第3方向に沿う組み付け誤差を吸収したり、ユニットと被処理物との間の距離(ワーキングディスタンス)を調節したり、ユニット間の個体差等による第1処理領域の処理度合いと第2処理領域の処理度合いの不均一を矯正したりすることができる。
A frame,
A connection mechanism for connecting the first unit to the frame so that the position of the first unit can be adjusted in a third direction orthogonal to the first direction and the second direction;
Is preferably further provided.
As a result, the assembly error along the third direction is absorbed, the distance between the unit and the object to be processed (working distance) is adjusted, the degree of processing in the first processing region due to individual differences between the units, and the like. It is possible to correct the non-uniformity of the processing degree of the two processing areas.

架台と、
この架台に前記第1ユニットを、前記第1方向から見た角度を調節可能に連結する連結機構と、
を更に備えるのが好ましい。
これによって、第1方向から見た角度誤差を吸収したり、被処理物へのガスの吹付け方向を調節したり、ユニット間の個体差等による第1処理領域の処理状態と第2処理領域の処理状態との不均一を矯正したりすることができる。
A frame,
A coupling mechanism for coupling the first unit to the gantry so that the angle seen from the first direction is adjustable;
Is preferably further provided.
As a result, the angle error seen from the first direction is absorbed, the gas blowing direction to the object to be processed is adjusted, the processing state of the first processing region and the second processing region due to individual differences between units, etc. It is possible to correct non-uniformity with the processing state.

架台と、
この架台に前記第1ユニットを、前記第2方向から見た角度を調節可能に連結する連結機構と、
を更に備えるのが好ましい。
これによって、第2方向から見た角度誤差を吸収したり、被処理物へのガスの吹付け方向を調節したり、ユニット間の個体差等による第1処理領域の処理状態と第2処理領域の処理状態との不均一を矯正したりすることができる。
A frame,
A coupling mechanism for coupling the first unit to the gantry so as to adjust an angle of the first unit viewed from the second direction;
Is preferably further provided.
As a result, the angle error seen from the second direction is absorbed, the gas blowing direction to the object to be processed is adjusted, the processing state of the first processing region and the second processing region due to individual differences between units, etc. It is possible to correct non-uniformity with the processing state.

架台と、
前記第1ユニットの前記第1方向の両端部にそれぞれ設けられ、前記架台に前記第1ユニットを前記第1方向及び第2方向と直交する第3方向に位置調節可能に連結する一対の連結機構と、
を更に備えるのが好ましい。
これによって、第1ユニットを第3方向に位置調節できるだけでなく、第2方向から見た角度を調節することもできる。
A frame,
A pair of connection mechanisms provided at both ends of the first unit in the first direction, respectively, to connect the first unit to the mount so that the position of the first unit can be adjusted in a third direction orthogonal to the first direction and the second direction. When,
Is preferably further provided.
Accordingly, not only can the position of the first unit be adjusted in the third direction, but also the angle viewed from the second direction can be adjusted.

架台と、
前記第1ユニットの前記第1方向及び第2方向と直交する第3方向から見た四隅にそれぞれ設けられ、前記架台に前記第1ユニットを前記第1方向及び第2方向と直交する第3方向に位置調節可能に連結する4つの連結機構と、
を更に備えるのが好ましい。
これによって、第1ユニットを第3方向に位置調節できるだけでなく、第1方向から見た角度及び第2方向から見た角度を調節することもできる。
A frame,
Third directions of the first unit are provided at four corners as viewed from a third direction orthogonal to the first direction and the second direction, respectively, and the first unit is mounted on the gantry in a third direction orthogonal to the first direction and the second direction. Four coupling mechanisms coupled to each other in an adjustable manner,
Is preferably further provided.
Accordingly, not only the position of the first unit can be adjusted in the third direction, but also the angle viewed from the first direction and the angle viewed from the second direction can be adjusted.

架台と、
この架台に前記第1ユニットを連結する連結機構と、
を更に備え、前記連結機構が、
前記第1ユニットに設けられた被支持部と、
前記架台に設けられ、前記被支持部と前記第1方向及び第2方向と直交する第3方向に対向するユニット支持部と、
前記被支持部とユニット支持部との間に前記第3方向に延びるようにして設けられた第1、第2の連結軸と、
前記第1連結軸に設けられ、前記被支持部が前記ユニット支持部に対し前記第3方向に沿って遠ざかるのを許容し接近するのを規制する第1規制部と、
前記第2連結軸に設けられ、前記被支持部が前記ユニット支持部に対し前記第3方向に沿って接近するのを許容し遠ざかるのを規制する第2規制部と、
を有していることが好ましい。
これによって、第1ユニットを第1方向と第3方向に位置調節可能に支持することができ、第1方向及び第3方向への取り付け誤差を吸収することができる。
A frame,
A coupling mechanism for coupling the first unit to the gantry;
The connecting mechanism further comprises:
A supported portion provided in the first unit;
A unit support portion provided on the gantry and facing the supported portion in a third direction orthogonal to the first direction and the second direction;
First and second connecting shafts provided so as to extend in the third direction between the supported portion and the unit supporting portion;
A first restricting portion which is provided on the first connecting shaft and restricts the supported portion from moving away from the unit supporting portion along the third direction;
A second restricting portion that is provided on the second connecting shaft and restricts the supported portion from approaching and moving away from the unit support portion along the third direction;
It is preferable to have.
Accordingly, the first unit can be supported so that the position of the first unit can be adjusted in the first direction and the third direction, and an attachment error in the first direction and the third direction can be absorbed.

前記被支持部とユニット支持部のうち一方には、前記第1連結軸又は第2連結軸を挿通して連結するための挿通孔が形成され、この挿通孔が、長軸を前記第1方向に向けた長孔になっていることが好ましい。
これによって、第1ユニットを架台に対し第1方向に位置調節でき、第1ユニットの第1方向に沿う組み付け誤差を吸収したり、第1ユニットを第2ユニットに対し第1方向に位置調節し上記オーバーラップの幅を調節したりすることができる。
One of the supported portion and the unit support portion is formed with an insertion hole for inserting and connecting the first connection shaft or the second connection shaft, and the insertion hole has a long axis in the first direction. It is preferable that it is a long hole toward the surface.
As a result, the position of the first unit can be adjusted in the first direction with respect to the gantry, the assembly error along the first direction of the first unit can be absorbed, and the position of the first unit can be adjusted in the first direction with respect to the second unit. The width of the overlap can be adjusted.

前記第1連結軸が、軸線を前記第3方向に向けたネジ部材であり、
前記第1連結軸の前記被支持部側の端部に前記第1規制部が螺合され、前記第1連結軸の前記ユニット支持部側の端部が前記ユニット支持部に突き当てられ、
前記第1規制部が、前記被支持部の前記ユニット支持部を向く面に当接又は接合されるのが好ましい。
これによって、簡易な構成で、前記被支持部が前記ユニット支持部に対し前記第3方向に沿って遠ざかるのを許容し接近するのを規制することができる。
The first connecting shaft is a screw member whose axis is directed in the third direction;
The first restricting portion is screwed into an end portion of the first connection shaft on the supported portion side, and an end portion of the first connection shaft on the unit support portion side is abutted against the unit support portion,
It is preferable that the first restricting portion abuts or is joined to a surface of the supported portion facing the unit support portion.
Accordingly, with a simple configuration, the supported portion can be allowed to move away from the unit support portion along the third direction and can be restricted from approaching.

前記第2連結軸が、軸線を前記第3方向に向けたネジ部材であり、
前記第2連結軸の前記被支持部側の端部に前記第2規制部が設けられ、前記第2連結軸の前記ユニット支持部側の端部が前記ユニット支持部に螺合されたネジ部材であり、
前記第2規制部が、前記被支持部の前記ユニット支持部とは逆側を向く面に当接されるのが好ましい。
これによって、簡易な構成で、前記被支持部が前記ユニット支持部に対し前記第3方向に沿って接近するのを許容し遠ざかるのを規制することができる。
The second connecting shaft is a screw member whose axis is directed in the third direction;
A screw member in which the second restricting portion is provided at an end portion of the second connecting shaft on the supported portion side, and an end portion of the second connecting shaft on the unit supporting portion side is screwed to the unit supporting portion. And
It is preferable that the second restricting portion is in contact with a surface of the supported portion that faces away from the unit support portion.
Accordingly, it is possible to allow the supported portion to be allowed to approach and move away from the unit support portion along the third direction with a simple configuration.

第1ユニットだけでなく、第2ユニットも第1ユニットと同様の連結機構で架台に連結されているのが好ましい。   It is preferable that not only the first unit but also the second unit is connected to the gantry by a connection mechanism similar to that of the first unit.

前記第1ユニットが、前記第1方向にそれぞれ延びる一対の電極を含み、これら電極が前記第2方向に対向して互いの間に放電空間を形成するようになっており、この放電空間の下流端が前記第1孔列に連なっていてもよい。第2ユニットも同様に構成されているのが好ましい
これによって、プラズマ表面処理を行なうことができる。
本発明は、大気圧近傍下でプラズマを生成し表面処理するのに好適である。大気圧近傍(略常圧)とは、1.013×104〜50.663×104Paの範囲を言い、圧力調整の容易化や装置構成の簡便化を考慮すると、1.333×104〜10.664×104Pa(100〜800Torr)が好ましく、9.331×104〜10.397×104Pa(700〜780Torr)がより好ましい。
The first unit includes a pair of electrodes each extending in the first direction, and these electrodes are opposed to the second direction so as to form a discharge space therebetween, and downstream of the discharge space. An end may be continuous with the first hole row. It is preferable that the second unit is configured in the same manner. Thus, plasma surface treatment can be performed.
The present invention is suitable for generating plasma and performing surface treatment near atmospheric pressure. Near atmospheric pressure (substantially normal pressure) refers to a range of 1.013 × 10 4 to 50.663 × 10 4 Pa, and considering the ease of pressure adjustment and the simplification of the apparatus configuration, 1.333 × 10 6. 4 to 10.664 × 10 4 Pa (100 to 800 Torr) is preferable, and 9.331 × 10 4 to 10.9797 × 10 4 Pa (700 to 780 Torr) is more preferable.

また、本発明は、処理ガスを被処理物の表面に吹き付け、該表面を処理する装置において、
第1方向に延びる複数のユニットを含む処理ヘッドと、
前記被処理物を前記処理ヘッドに対し前記第1方向と直交する第2方向に相対移動させる移動機構と、
を備え、
前記複数のユニットの各々が、前記処理ガスを噴き出すための前記第1方向に延在された孔列を有し、
前記複数のユニットのうちの一部のユニットが、前記第1方向に離間して一定ピッチで並べられて
第1ユニット列を構成し、
前記複数のユニットのうちの他の一部のユニットが、前記第1方向に離間して前記第1ユニット列
と同一ピッチで並べられて第2ユニット列を構成し、
前記第1ユニット列と前記第2ユニット列が前記第2方向に並ぶとともに、前記第1ユニット列のユニットと前記第2ユニット列のユニットが、前記第1方向に前記ピッチの約半分ずれていることを特徴とする。
これによって、被処理物が大型であっても簡易な構成で表面処理することができる。各ユニットの長手方向の端部にスペースを確保でき、ユニットの支持構造(架台への連結機構)や配管や配線を容易に配置することができる。
Further, the present invention is an apparatus for spraying a processing gas on the surface of an object to be processed and processing the surface.
A processing head including a plurality of units extending in a first direction;
A moving mechanism for moving the object to be processed relative to the processing head in a second direction orthogonal to the first direction;
With
Each of the plurality of units has a row of holes extending in the first direction for ejecting the processing gas;
Some of the plurality of units are arranged in a fixed pitch apart from each other in the first direction to form a first unit row,
The other part of the plurality of units are separated in the first direction and arranged at the same pitch as the first unit row to form a second unit row,
The first unit row and the second unit row are arranged in the second direction, and the unit of the first unit row and the unit of the second unit row are shifted by about half of the pitch in the first direction. It is characterized by that.
Thereby, even if a to-be-processed object is large sized, it can surface-treat with a simple structure. A space can be secured at the end in the longitudinal direction of each unit, and the support structure (connecting mechanism to the gantry), piping, and wiring can be easily arranged.

本発明によれば、被処理物が大型であっても簡易な構成で表面処理することができる。   According to the present invention, surface treatment can be performed with a simple configuration even if the workpiece is large.

本発明の第1実施形態に係る大気圧プラズマ表面処理装置の平面図である。1 is a plan view of an atmospheric pressure plasma surface treatment apparatus according to a first embodiment of the present invention. 図1のII−II線に沿う上記表面処理装置の正面図である。It is a front view of the said surface treatment apparatus which follows the II-II line | wire of FIG. 上記表面処理装置の電極及び噴出し口を示す平面図と、前記噴出し口の各位置におけるガス噴出量ないしは処理レートのグラフとの合成図である。It is a synthetic | combination figure of the top view which shows the electrode and ejection opening of the said surface treatment apparatus, and the graph of the gas ejection amount or processing rate in each position of the said ejection opening. 上記表面処理装置のユニットの連結機構を示す側面断面図である。It is side surface sectional drawing which shows the connection mechanism of the unit of the said surface treatment apparatus. (a)は、図4のVA−VA線に沿う上記連結機構の正面断面図であり、(b)は、図4のVB−VB線に沿う上記連結機構の正面断面図である。(A) is front sectional drawing of the said connection mechanism in alignment with the VA-VA line of FIG. 4, (b) is front sectional drawing of the said connection mechanism in alignment with the VB-VB line of FIG. ユニットを変位させた状態を示す正面断面図であり、(a)は、図5(a)に対応し、(b)は、図5(b)に対応し、実線はユニットを右に変位させた状態、二点鎖線はユニットを左に変位させた状態、三点鎖線はユニットを上に変位させた状態である。It is front sectional drawing which shows the state which displaced the unit, (a) respond | corresponds to Fig.5 (a), (b) respond | corresponds to FIG.5 (b), and a continuous line displaces a unit to the right. The two-dot chain line is the state in which the unit is displaced to the left, and the three-dot chain line is the state in which the unit is displaced upward. 第1ユニットを正面(第2方向)から見て傾けた状態を示す正面図である。It is a front view which shows the state which inclined the 1st unit seeing from the front (2nd direction). 第1ユニットを側面(第1方向)から見て傾けた状態を示す側面図である。It is a side view which shows the state which inclined the 1st unit seeing from the side surface (1st direction). 連結機構の変形例を示す正面断面図であり、(a)は、図5(a)に対応し、(b)は、図5(b)に対応する。It is front sectional drawing which shows the modification of a connection mechanism, (a) respond | corresponds to Fig.5 (a), (b) respond | corresponds to FIG.5 (b). 図9において、ユニットを変位させた状態を示す正面断面図であり、(a)は、図9(a)に対応し、(b)は、図9(b)に対応し、実線はユニットを右に変位させた状態、二点鎖線はユニットを左に変位させた状態、三点鎖線はユニットを上に変位させた状態である。9 is a front sectional view showing a state in which the unit is displaced, (a) corresponds to FIG. 9 (a), (b) corresponds to FIG. 9 (b), and the solid line indicates the unit. The state displaced to the right, the two-dot chain line is the state where the unit is displaced to the left, and the three-dot chain line is the state where the unit is displaced upward. 左右のユニットのスリット状噴出し口がオーバーラップしていない変形例を示し、平面図と、噴出し口の各位置における処理レートのグラフとの合成図である。The slit-like ejection opening of the right and left units shows a modification in which they do not overlap, and is a composite diagram of a plan view and a graph of a processing rate at each position of the ejection opening. 4つのユニットで2列のユニット列を構成した変形例を示す平面図である。It is a top view which shows the modification which comprised the unit row | line | column of 2 rows by four units. ユニット列を4列にした変形例を示す平面図である。It is a top view which shows the modification which made the unit row | line into 4 rows. 処理ヘッド構造の変形例を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the modification of a process head structure. 孔列構造の他の態様を図14の処理ヘッド構造に適用した変形例を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the modification which applied the other aspect of the hole row structure to the processing head structure of FIG. 孔列構造の他の態様を図14の処理ヘッド構造に適用した変形例を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the modification which applied the other aspect of the hole row structure to the processing head structure of FIG. 孔列構造の他の態様を図14の処理ヘッド構造に適用した変形例を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the modification which applied the other aspect of the hole row structure to the processing head structure of FIG.

符号の説明Explanation of symbols

W 被処理物
1 大気圧プラズマ表面処理装置
2 処理ガス源
2a 供給路
3 電源回路
10 処理ヘッド
11 ユニット
11L 第1ユニット
11R 第2ユニット
12 整流モジュール
13 放電モジュール
20 ローラコンベア(移動機構)
21 ローラコンベアのフレーム
31,32 電極
33 電極間空間
34 噴出し口
34L 第1噴出し口(第1孔列)
34R 第2噴出し口(第2孔列)
34a 小孔
340L 小孔からなる第1孔列
340R 小孔からなる第2孔列
40 架台
41 支持梁
50 連結機構
51 ベースブロック(ユニット支持部)
51b ベースブロックの雌ネジ孔
52 支持ブロック(第1規制部)
52a 支持ブロックの雌ネジ孔
52b 支持ブロックの挿通孔
53 ブラケット
53v 側板部
53h 上板部(被支持部)
53a,53b 挿通孔(長孔)
54 第1連結軸(ネジ部材)
55 第2連結軸(ネジ部材)
55a 第2連結軸の頭部(第2規制部)
110 ユニット列
110A 第1ユニット列
110B 第2ユニット列
W Workpiece 1 Atmospheric pressure plasma surface treatment apparatus 2 Processing gas source 2a Supply path 3 Power supply circuit 10 Processing head 11 Unit 11L First unit 11R Second unit 12 Rectification module 13 Discharge module 20 Roller conveyor (moving mechanism)
21 Frames 31 and 32 of roller conveyor Electrode 33 Inter-electrode space 34 Ejection port 34L First ejection port (first hole row)
34R Second outlet (second hole array)
34a Small hole 340L First hole row 340R made of small holes Second hole row 40 made of small holes Base 41 Support beam 50 Connection mechanism 51 Base block (unit support portion)
51b Female threaded hole 52 of base block Support block (first restricting portion)
52a Female block hole 52b of support block Insertion hole 53 of support block Bracket 53v Side plate part 53h Upper plate part (supported part)
53a, 53b Insertion hole (long hole)
54 First connecting shaft (screw member)
55 Second connecting shaft (screw member)
55a Head of second connecting shaft (second restricting portion)
110 unit row 110A first unit row 110B second unit row

以下、本発明の実施形態を説明する。
図1及び図2は、被処理物Wを処理するための大気圧プラズマ表面処理装置1を示したものである。被処理物Wは、例えば液晶テレビやプラズマテレビのフラットパネル等として用いられる大面積のガラス基板である。表面処理装置1は、このガラス基板Wの表面を例えば親水化処理する。
Embodiments of the present invention will be described below.
1 and 2 show an atmospheric pressure plasma surface treatment apparatus 1 for treating an object W to be processed. The workpiece W is a large-area glass substrate used as a flat panel of a liquid crystal television or a plasma television, for example. The surface treatment apparatus 1 hydrophilizes the surface of the glass substrate W, for example.

表面処理装置1は、処理ヘッド10と、移動機構20を備えている。
図2に示すように、移動機構20は、ローラコンベアにて構成されている。ローラコンベア20は、被処理物Wを前後方向(第2方向、図2において紙面に対し直交する方向)に移動させるようになっている。
The surface treatment apparatus 1 includes a treatment head 10 and a moving mechanism 20.
As shown in FIG. 2, the moving mechanism 20 is configured by a roller conveyor. The roller conveyor 20 moves the workpiece W in the front-rear direction (second direction, a direction orthogonal to the paper surface in FIG. 2).

移動機構20は、ローラコンベア20に代えてベルトコンベアであってもよく、被処理物Wをセットするステージとこのステージを移動させる駆動部とで構成されていてもよい。ステージが固定され、これに対し処理ヘッド10が移動するようになっていてもよい。   The moving mechanism 20 may be a belt conveyor instead of the roller conveyor 20, and may be configured by a stage for setting the workpiece W and a drive unit for moving the stage. The stage may be fixed, and the processing head 10 may move relative thereto.

ローラコンベア20の左右のフレーム21の上側に架台40が組まれ、この架台40に処理ヘッド10が設置されている。処理ヘッド11は、ローラコンベア20の上方に配置され、処理ヘッド10と被処理物Wが上下(第3方向)に対向されている。被処理物Wは、処理ヘッド10の下方に通されるようになっている。   A frame 40 is assembled above the left and right frames 21 of the roller conveyor 20, and the processing head 10 is installed on the frame 40. The processing head 11 is disposed above the roller conveyor 20, and the processing head 10 and the workpiece W are vertically opposed (third direction). The workpiece W is passed under the processing head 10.

図1に示すように、処理ヘッド10は、2つ(複数)のユニット11,11を備えている。これらユニット11,11は、互いに同一構成をなしている。以下、これら2つのユニット11,11及びその構成要素を互いに区別するときは、左側のユニット11及びその構成要素の符号に「L」を付し、右側のユニット11及びその構成要素の符号に「R」を付す。左右何れか一方のユニット11(例えば左側のユニット11L)が「第1ユニット」を構成し、他方のユニット11が「第2ユニット」を構成する。   As shown in FIG. 1, the processing head 10 includes two (plural) units 11 and 11. These units 11 and 11 have the same configuration. Hereinafter, when distinguishing these two units 11 and 11 and their constituent elements from each other, “L” is added to the reference numerals of the left unit 11 and its constituent elements, and “L” is attached to the reference signs of the right unit 11 and its constituent elements. “R” is attached. One of the left and right units 11 (for example, the left unit 11L) constitutes a “first unit”, and the other unit 11 constitutes a “second unit”.

図2に示すように、各ユニット11は、上側の整流モジュール12と下側の放電モジュール13とで構成されている。これらモジュール12,13は、それぞれ左右(第1方向)に延びている。処理ガス源2から供給路2aが延び、この供給路2aが分岐して左右のユニット11L,11Rの整流モジュール12L,12Rにそれぞれ接続されている。図示は省略するが、整流モジュール12は、スリット、小孔、チャンバ等からなる整流路を有し、供給路2aからの処理ガスを整流路において左右方向に均一化するようになっている。
親水化用の処理ガスとしては、例えば窒素が用いられる。
As shown in FIG. 2, each unit 11 includes an upper rectification module 12 and a lower discharge module 13. These modules 12 and 13 extend in the left-right direction (first direction). A supply path 2a extends from the processing gas source 2, and the supply path 2a is branched and connected to the rectifying modules 12L and 12R of the left and right units 11L and 11R, respectively. Although not shown, the rectification module 12 has a rectification path composed of slits, small holes, chambers, and the like, and uniformizes the processing gas from the supply path 2a in the left-right direction in the rectification path.
For example, nitrogen is used as the treatment gas for hydrophilization.

図3に示すように、放電モジュール13には、一対の電極31,32が収容されている。各電極31,32は、左右に延びている。一対の電極31,32は前後に対向するように平行に配置されている。一方の電極31は電源回路3に接続されている。他方の電極32は電気的に接地されている。これら電極31,32の少なくとも一方の対向面には、固体誘電体(図示せず)が設けられている。   As shown in FIG. 3, the discharge module 13 accommodates a pair of electrodes 31 and 32. Each electrode 31 and 32 extends to the left and right. The pair of electrodes 31 and 32 are arranged in parallel so as to face each other in the front-rear direction. One electrode 31 is connected to the power supply circuit 3. The other electrode 32 is electrically grounded. A solid dielectric (not shown) is provided on at least one opposing surface of the electrodes 31 and 32.

一対の電極31,32どうしの間に左右に延びるスリット状の電極間空間33が形成されている。電源回路3から電極31への電圧供給によって電極31,32間に大気圧グロー放電が形成され、電極間空間33が放電空間になるようになっている。   A slit-like inter-electrode space 33 extending left and right is formed between the pair of electrodes 31 and 32. By supplying a voltage from the power supply circuit 3 to the electrode 31, an atmospheric pressure glow discharge is formed between the electrodes 31 and 32, and the interelectrode space 33 becomes a discharge space.

電極間空間33の上端部は、整流モジュール12の整流路に連なっている。整流モジュール12にて左右に均一化された処理ガスが、電極間空間33の長手方向に均一に導入されるようになっている。そして、上記大気圧グロー放電によりプラズマ化されるようになっている。   The upper end portion of the interelectrode space 33 is connected to the rectifying path of the rectifying module 12. The processing gas that is made uniform left and right by the rectifying module 12 is introduced uniformly in the longitudinal direction of the interelectrode space 33. The plasma is generated by the atmospheric pressure glow discharge.

図2に示すように、放電モジュール13の底部には、電極間空間33の下端部に連なる噴出し口34(孔列)が設けられている。図2及び図3に示すように、噴出し口34は、左右に延びるスリット状をなしている。電極間空間33の下端部が、噴出し口34を構成していてもよい。電極間空間33に導入された処理ガスは、下端の噴出し口34から噴き出されるようになっている。
左右何れか一方のユニット11のスリット状噴出し口34(例えば左側のユニット11Lのスリット状噴出し口34L)が、「第1孔列」を構成し、他方のユニット11のスリット状噴出し口34が「第2孔列」を構成している。
As shown in FIG. 2, at the bottom of the discharge module 13, an ejection port 34 (hole array) that is continuous with the lower end of the interelectrode space 33 is provided. As shown in FIGS. 2 and 3, the ejection port 34 has a slit shape extending in the left-right direction. The lower end portion of the interelectrode space 33 may constitute the ejection port 34. The processing gas introduced into the interelectrode space 33 is ejected from the ejection port 34 at the lower end.
The slit-shaped ejection port 34 of one of the left and right units 11 (for example, the slit-shaped ejection port 34L of the left unit 11L) constitutes the “first hole row”, and the slit-shaped ejection port of the other unit 11 34 constitutes a “second hole row”.

図1及び図3に示すように2つのユニット11,11ひいてはスリット状噴出し口34,34は、互いに左右にずれ、かつ前後にずれて配置されている。
左側の噴出し口34Lと右側の噴出し口34Rの前後方向のずれ量は、0を越え、約200mm以下にするのが好ましく、約150mm程度とするのがより好ましい。
As shown in FIGS. 1 and 3, the two units 11, 11, and consequently the slit-shaped ejection ports 34, 34 are arranged so as to be shifted from side to side and from side to side.
The amount of deviation in the front-rear direction of the left ejection port 34L and the right ejection port 34R exceeds 0, preferably about 200 mm or less, and more preferably about 150 mm.

左側のユニット11Lの右端部と右側のユニット11Rの左端部とは、前後方向から見て左右にオーバーラップされている。ひいては、左側のスリット状噴出し口34Lの右端部と右側のスリット状噴出し口34Rの左端部とは、前後方向から見て左右にオーバーラップされている。   The right end of the left unit 11L and the left end of the right unit 11R overlap in the left-right direction when viewed from the front-rear direction. As a result, the right end portion of the left slit-shaped ejection port 34L and the left end portion of the right slit-shaped ejection port 34R overlap in the left-right direction when viewed from the front-rear direction.

各噴出し口34の全長に対するオーバーラップ量の割合は、約5%以下であるのが好ましく、約3%以下であることがより好ましい。
各噴出し口34の長さは、例えば100〜2000mm程度である。この場合、左右の噴出し口34L,34Rどうしのオーバーラップ量は、約50mm以下であるのが好ましい。
The ratio of the overlap amount with respect to the total length of each ejection port 34 is preferably about 5% or less, and more preferably about 3% or less.
The length of each ejection port 34 is, for example, about 100 to 2000 mm. In this case, the overlap amount between the left and right ejection ports 34L and 34R is preferably about 50 mm or less.

図3のグラフは、左右のスリット状噴出し口34L,34Rの各位置からの噴出量を示したものである。各スリット状噴出し口34の長手方向の中間部(両端を除く部分)では、それぞれ噴出量がほぼ一定になっている。噴出し口34の長手方向の両端部では噴出量が急激に減少している。したがって、各噴出し口34による噴出曲線は、ほぼ台形を描くようになっている。左右の噴出し口34L,34Rをオーバーラップさせて配置することによって、左側の噴出曲線の右端部のスロープと右側の噴出曲線の左端部のスロープとが互いに交差している。この交差位置は、左右それぞれの噴出量が最大値(台形の上辺)の約2〜8割になる位置になるようにするのが好ましく、約5割になる位置になるようにするのがより好ましい。
左側の噴出し口34Lの噴出量一定の部分の左端付近から右側の噴出し口34Rの噴出量一定の部分の右端付近までの距離が、被処理物Wの幅とほぼ同じなるようにするのが好ましい。
The graph of FIG. 3 shows the amount of ejection from each position of the left and right slit-shaped ejection ports 34L, 34R. In the middle part (the part excluding both ends) in the longitudinal direction of each slit-like ejection port 34, the ejection amount is substantially constant. At the both ends of the ejection port 34 in the longitudinal direction, the ejection amount decreases rapidly. Therefore, the ejection curve by each ejection opening 34 draws a substantially trapezoid. By arranging the left and right ejection ports 34L and 34R to overlap, the slope of the right end of the left ejection curve and the slope of the left end of the right ejection curve intersect each other. This intersection position is preferably located at a position where the left and right ejection amounts are about 20 to 80% of the maximum value (upper side of the trapezoid), more preferably about 50%. preferable.
The distance from the vicinity of the left end of the portion with the constant ejection amount of the left ejection port 34L to the vicinity of the right end of the portion with the constant ejection amount of the right ejection port 34R is set to be substantially the same as the width of the workpiece W. Is preferred.

上記の噴出量は処理レートに対応する。親水化処理においては、処理後の被処理物表面の接触角に対応する。同グラフにおいて、左側の噴出し口34Lからの噴出ガスによる第1処理領域R1の両端部を除く中央部分の処理レートはほぼ一定であり、両端部では急激に減少している。右側の噴出し口34Rからの噴出ガスによる第2処理領域R2の両端部を除く中央部分の処理レートはほぼ一定であり、両端部では急激に減少している。左側の処理領域R1の右端部の処理レートが急減少している部分と、右側の処理領域R2の左端部の処理レートが急減少している部分とがちょうどオーバーラップするようになっている。オーバーラップ領域を「R3」で示す。   The above-mentioned ejection amount corresponds to the processing rate. In the hydrophilization treatment, it corresponds to the contact angle of the treated object surface after the treatment. In the graph, the processing rate of the central portion excluding both ends of the first processing region R1 due to the gas ejected from the left ejection port 34L is substantially constant, and rapidly decreases at both ends. The processing rate of the central portion excluding both ends of the second processing region R2 due to the gas ejected from the right ejection port 34R is substantially constant, and rapidly decreases at both ends. The portion where the processing rate at the right end of the left processing region R1 is rapidly decreasing and the portion where the processing rate at the left end of the right processing region R2 is rapidly decreasing are just overlapped. The overlap region is indicated by “R3”.

ユニット11の支持構造について説明する。
図1に示すように、架台40の複数の所定箇所には、前後に延びる短い支持梁41が設けられている。支持梁41に各ユニット11の左右端部が支持されている。図2に示すように、支持梁41と各ユニット11の左右端部とは、連結機構50を介して連結されている。
The support structure of the unit 11 will be described.
As shown in FIG. 1, short support beams 41 extending in the front-rear direction are provided at a plurality of predetermined positions of the gantry 40. The left and right ends of each unit 11 are supported by the support beam 41. As shown in FIG. 2, the support beam 41 and the left and right ends of each unit 11 are connected via a connection mechanism 50.

連結機構50は次のように構成されている。
図1に示すように、ユニット11の左右両端部にはそれぞれブラケット53が設けられている。図4及び図5に示すように、各ブラケット53は、ユニット11の端面に固定された側板部53vと、この側板部53vの上端から水平に突出された上板部53h(被支持部)を有し、逆L字状断面をなして前後に延びている。図1に示すように、上板部53hの長手方向の両端部には、それぞれ一対の挿通孔53a,53bが形成されている。これら挿通孔53a,53bは、それぞれ長軸を左右に向けた長孔になっている。一対の挿通孔53a,53bは、前後に並んでいる。
The coupling mechanism 50 is configured as follows.
As shown in FIG. 1, brackets 53 are provided at both left and right ends of the unit 11. As shown in FIGS. 4 and 5, each bracket 53 includes a side plate portion 53v fixed to the end surface of the unit 11, and an upper plate portion 53h (supported portion) protruding horizontally from the upper end of the side plate portion 53v. And has an inverted L-shaped cross section and extends back and forth. As shown in FIG. 1, a pair of insertion holes 53a and 53b are formed at both ends in the longitudinal direction of the upper plate portion 53h. Each of these insertion holes 53a and 53b is a long hole whose major axis is directed to the left and right. The pair of insertion holes 53a and 53b are arranged side by side.

図4及び図5に示すように、各支持梁41の上面にはベースブロック51(ユニット支持部)が固定されている。ベースブロック51は、四角形の断面をなし、支持梁41と同方向に延びている。ベースブロック51の上面の長手方向の両端部には、それぞれ雌ネジ孔51bが形成されている。ベースブロック51は、ブラケット53の上板部53hの下側に離れて上板部53hと対向している。   As shown in FIGS. 4 and 5, a base block 51 (unit support portion) is fixed to the upper surface of each support beam 41. The base block 51 has a rectangular cross section and extends in the same direction as the support beam 41. Female screw holes 51b are formed at both ends of the upper surface of the base block 51 in the longitudinal direction. The base block 51 is separated from the lower side of the upper plate portion 53h of the bracket 53 and faces the upper plate portion 53h.

各ベースブロック51とブラケット53の上板部53hとの間には、支持ブロック52(第1規制部)が配置されている。支持ブロック52は、四角形の断面をなし、ベースブロック51と同方向に延びている。支持ブロック52の長手方向の両端部には、雌ネジ孔52aと挿通孔52bが対をなすように並んで形成されている。これら孔52a,52bは、それぞれ支持ブロック52を上下方向に貫通している。   A support block 52 (first restricting portion) is disposed between each base block 51 and the upper plate portion 53h of the bracket 53. The support block 52 has a rectangular cross section and extends in the same direction as the base block 51. At both ends in the longitudinal direction of the support block 52, female screw holes 52a and insertion holes 52b are formed side by side so as to form a pair. These holes 52a and 52b respectively penetrate the support block 52 in the vertical direction.

図4及び図5(a)に示すように、ブラケット53の一方の長孔53aと支持ブロック52の雌ネジ孔52aとが上下に並んでいる。これら孔53a,52a内に、上下に延びる第1連結軸54が配置されている。第1連結軸54は、ボルト(ネジ部材)にて構成されている。ボルト54の頭部は、ブラケット53の上板部53hより上に少し離れている。ボルト54の脚部は、ブラケット53の長孔53aを貫通し、支持ブロック52の雌ネジ孔52aにねじ込まれている。ボルト54の先端部(下端部)は、支持ブロック52の下面から突出してベースブロック51の上端面に突き当てられている。このボルト54によって、支持ブロック52が、ベースブロック51から上に離れた状態で支持されている。この支持ブロック52の上面にブラケット53の上板部53hが載せられている。ひいては、ユニット11L,11Rが、上方への変位を許容され下方への変位を規制されるようにして支持されている。   As shown in FIGS. 4 and 5 (a), one long hole 53a of the bracket 53 and the female screw hole 52a of the support block 52 are arranged vertically. A first connecting shaft 54 extending vertically is disposed in the holes 53a and 52a. The 1st connecting shaft 54 is comprised with the volt | bolt (screw member). The head of the bolt 54 is slightly separated above the upper plate portion 53 h of the bracket 53. The leg portion of the bolt 54 passes through the long hole 53 a of the bracket 53 and is screwed into the female screw hole 52 a of the support block 52. The front end (lower end) of the bolt 54 protrudes from the lower surface of the support block 52 and abuts against the upper end surface of the base block 51. The support block 52 is supported by the bolt 54 in a state of being separated from the base block 51 upward. An upper plate portion 53 h of the bracket 53 is placed on the upper surface of the support block 52. As a result, the units 11L and 11R are supported so that upward displacement is permitted and downward displacement is restricted.

図4及び図5(b)に示すように、ブラケット53のもう一方の長孔53bと支持ブロック52の挿通孔52bとベースブロック51の雌ネジ孔51bとが、上下に並んでいる。これら孔53b,52b、51b内に、上下に延びる第2連結軸55が配置されている。第2連結軸55は、第1連結軸54より長めのボルト(ネジ部材)にて構成されている。ボルト55は、ブラケット53の長孔53bと支持ブロック52の挿通孔52bに挿通され、先端部(下端部)がベースブロック51の雌ネジ孔51bにねじ込まれている。図4に示すように、ボルト55の頭部55a(第2規制部)は、長孔53bの短手方向の両側のブラケット53上面に当たっている。これにより、ボルト55は、ユニット11の下方への変位を許容しつつ上方への変移を規制している。   As shown in FIGS. 4 and 5B, the other elongated hole 53b of the bracket 53, the insertion hole 52b of the support block 52, and the female screw hole 51b of the base block 51 are arranged vertically. A second connecting shaft 55 extending vertically is disposed in the holes 53b, 52b, 51b. The second connecting shaft 55 is configured by a bolt (screw member) longer than the first connecting shaft 54. The bolt 55 is inserted into the long hole 53 b of the bracket 53 and the insertion hole 52 b of the support block 52, and the tip (lower end) is screwed into the female screw hole 51 b of the base block 51. As shown in FIG. 4, the head portion 55a (second restricting portion) of the bolt 55 is in contact with the upper surface of the bracket 53 on both sides in the short direction of the long hole 53b. As a result, the bolt 55 restricts upward displacement while allowing downward displacement of the unit 11.

ボルト頭部55aと支持ブロック52とが、ブラケット53の上板部53hを上下から挟持している。これにより、ユニット11が位置決めされ、固定されている。   The bolt head 55a and the support block 52 sandwich the upper plate portion 53h of the bracket 53 from above and below. Thereby, the unit 11 is positioned and fixed.

図1に示すように、ボルトすなわち第1、第2連結軸54,55を含む連結機構50は、各ユニット11の前後左右の四隅にそれぞれ配置されている。   As shown in FIG. 1, the coupling mechanisms 50 including the bolts, that is, the first and second coupling shafts 54 and 55, are arranged at the four front and rear, right and left corners of each unit 11.

上記のように構成された表面処理装置1によれば、処理ガス源2の処理ガスが、供給路2aを経て、各ユニット11の整流モジュール12で左右に均一化された後、各放電モジュール13の電極間空間33に導入される。併せて、電源回路3から各放電モジュール13の電極31に電圧が供給され、これにより、電極間空間33がプラズマ放電空間となり、処理ガスがプラズマ化される。このプラズマ化された処理ガスが、各スリット状噴出し口34から噴き出され、ローラコンベア20にて搬送されて来た被処理物Wに吹き付けられる。これにより、被処理物Wの親水化等の表面処理を行なうことができる。   According to the surface treatment apparatus 1 configured as described above, after the processing gas of the processing gas source 2 is made uniform left and right by the rectifying module 12 of each unit 11 through the supply path 2a, each discharge module 13 The interelectrode space 33 is introduced. In addition, a voltage is supplied from the power supply circuit 3 to the electrode 31 of each discharge module 13, whereby the interelectrode space 33 becomes a plasma discharge space, and the processing gas is turned into plasma. This plasma-ized processing gas is ejected from each slit-shaped ejection port 34 and blown to the workpiece W conveyed by the roller conveyor 20. Thereby, surface treatments such as hydrophilization of the workpiece W can be performed.

複数のユニット11を左右に並べることにより、被処理物Wの全幅を処理することが出来る。一方、1つ1つのユニット11の電極31,32の長さを短くすることができ、クーロン力や熱膨張による変形量を抑制することができる。
ユニット11,11どうしを前後にずらすことにより、各ユニット11の長手方向の端部どうしが干渉するのを避けることができ、配線や配管やユニット11の支持構造の自由度を高めることができ、構成の簡易化を図ることができる。
By arranging a plurality of units 11 on the left and right, the entire width of the workpiece W can be processed. On the other hand, the length of the electrodes 31 and 32 of each unit 11 can be shortened, and the deformation due to Coulomb force or thermal expansion can be suppressed.
By shifting the units 11 and 11 back and forth, it is possible to avoid interference between the end portions in the longitudinal direction of each unit 11, and the degree of freedom of the support structure of the wiring and piping and the unit 11 can be increased. The configuration can be simplified.

図3に示すように、左右の噴出し口34L,34Rの端部どうしを被処理物Wの搬送方向から見てオーバーラップさせることにより、左側の噴出し口34Lの右端部(噴出量が急減少している部分)と、右側の噴出し口34Rの左端部(噴出量が急減少している部分)とを、オーバーラップさせることができる。これにより、左側の処理領域R1と右側の処理領域R2の間に処理抜け領域が出来るのを防止できるのは勿論のこと、左側の処理領域R1の右端部の処理不十分な部分R3と、右側の処理領域R2の左端部の処理不十分な部分R3とを互いに重ね合わせることができ、この部分R3の処理レートが各処理領域R1,R2の中央部の処理レートと同等になるように調節することができる。これによって、処理の均一性を確保することができる。
左右のガス噴出量のグラフがそれぞれ中央のフラットな部分の50%のところで交わるようにすることにより、理想的には均一の処理を行なうことができる。
As shown in FIG. 3, by overlapping the ends of the left and right ejection ports 34L and 34R as viewed from the conveying direction of the workpiece W, the right end of the left ejection port 34L (the amount of ejection decreases rapidly). It is possible to overlap the portion that is a little) and the left end portion of the right ejection port 34R (the portion where the ejection amount is suddenly decreased). As a result, it is possible to prevent a process omission area from being formed between the left process area R1 and the right process area R2, as well as an insufficiently processed part R3 at the right end of the left process area R1 and the right process area R2. The insufficiently processed portion R3 at the left end of the processing region R2 can be overlapped with each other, and the processing rate of this portion R3 is adjusted to be equal to the processing rate of the central portion of each processing region R1, R2. be able to. Thereby, processing uniformity can be ensured.
By making the left and right gas ejection amount graphs intersect at 50% of the flat portion in the center, ideally uniform processing can be performed.

図6(a)、(b)の実線及び二点鎖線に示すように、ブラケット53は、長孔53a,53bの長手方向すなわち左右方向に位置調節することができる。ひいては、第1ユニット11Lを第2ユニット11Rに対し左右方向に位置調節することができる。これにより、2つのユニット11L,11Rの左右方向の組み付け誤差を吸収することができる。さらには、左右の処理領域R1,R2がオーバーラップする領域R3を増減させることができ、該オーバーラップ領域R3での処理が過不足ないように調節することができる。この結果、処理の一層の均一化を図ることができる。   6A and 6B, the position of the bracket 53 can be adjusted in the longitudinal direction of the long holes 53a and 53b, that is, in the left-right direction. As a result, the position of the first unit 11L can be adjusted in the left-right direction with respect to the second unit 11R. Thereby, the assembly | attachment error of the left-right direction of the two units 11L and 11R can be absorbed. Furthermore, the region R3 where the left and right processing regions R1, R2 overlap can be increased or decreased, and the processing in the overlap region R3 can be adjusted so as not to be excessive or insufficient. As a result, the processing can be made more uniform.

また、図6(a)の三点鎖線に示すように、ボルト54と支持ブロック52の螺合量調節により、支持ブロック52を高さ調節することができる。このとき、図6(b)の三点鎖線に示すように、ボルト55の螺合量も調節し、該ボルト55の頭部55aがブラケット53の上板部53hの上面に当たるようにする。これにより、各ユニット11を上下方向へも位置調節することができ、2つのユニット11L,11Rの上下方向の組み付け誤差を吸収することができる。   6A, the height of the support block 52 can be adjusted by adjusting the amount of screwing between the bolt 54 and the support block 52. As shown in FIG. At this time, as shown by a three-dot chain line in FIG. 6B, the screwing amount of the bolt 55 is also adjusted so that the head portion 55a of the bolt 55 comes into contact with the upper surface of the upper plate portion 53h of the bracket 53. Thereby, the position of each unit 11 can be adjusted also in the up-down direction, and the assembly errors in the up-down direction of the two units 11L, 11R can be absorbed.

さらに、ユニット11の左右両端のボルト54,54と支持ブロック52,52の螺合量を相互に調節することによって、両端の支持ブロック52,52の高さを相互に調節できる。これにより、ユニット11の左右方向の水平度を確保することができ、組み付け誤差を吸収することができる。例えば、図7に示すように、第1ユニット11Lが前後方向から見て(左右の水平方向に対し)傾いている場合、これを矯正し水平にすることができる。   Furthermore, the height of the support blocks 52 and 52 at both ends can be adjusted to each other by mutually adjusting the screwing amounts of the bolts 54 and 54 and the support blocks 52 and 52 at both left and right ends of the unit 11. Thereby, the levelness of the unit 11 in the left-right direction can be ensured, and assembly errors can be absorbed. For example, as shown in FIG. 7, when the first unit 11L is tilted when viewed from the front-rear direction (relative to the horizontal direction on the left and right), this can be corrected and leveled.

さらに、ユニット11の前後(ブラケット53の長手方向両端)のボルト54,54と支持ブロック52の螺合量を相互に調節することによって、該支持ブロック52の水平度ないしは傾き角度を調節することができる。これにより、ユニット11の前後方向の水平度を確保することができ、組み付け誤差を吸収することができる。例えば、図8に示すように、第1ユニット11Lが左右方向から見て(前後の水平方向に対し)傾いている場合、これを矯正し水平にすることができる。
なお、通常、ユニット11の角度調節量は微小であり、図7及び図8のユニット11Lの傾きは誇張してある。
Further, by adjusting the screwing amounts of the bolts 54 and 54 and the support block 52 before and after the unit 11 (both ends in the longitudinal direction of the bracket 53), the level or inclination angle of the support block 52 can be adjusted. it can. Thereby, the levelness of the unit 11 in the front-rear direction can be ensured, and assembly errors can be absorbed. For example, as shown in FIG. 8, when the first unit 11L is inclined when viewed from the left-right direction (relative to the front-rear horizontal direction), this can be corrected and leveled.
Normally, the angle adjustment amount of the unit 11 is very small, and the inclination of the unit 11L in FIGS. 7 and 8 is exaggerated.

各ユニット11の四隅の連結機構50は、ユニット11の水平度を確保するためだけでなく、第1、第2ユニットによる処理レートを互いに均一化するのにも用いることができる。
例えば、図3のグラフの二点鎖線に示すように、左側ユニット11Lの噴出量(処理レート)が右側ユニット11Rのものより大きい場合には、左側ユニット11Lの高さを上げる。これにより、左側ユニット11Lからのガスが被処理物Wの表面に当たる量を低減でき、左側の処理領域R1の処理レートを図3の実線に示す所定レベルにすることができる。または、右側ユニット11Rの高さを下げることにしてもよい。これにより、右側ユニット11Rからのガスが被処理物Wの表面に当たる量を増大でき、右側の処理領域R2の処理レートを高めることができる。この結果、左右の処理領域R1,R2の処理レートを互いに均一化することができ、左右のユニット11L,11Rの個体差を吸収することができる。
The coupling mechanisms 50 at the four corners of each unit 11 can be used not only to ensure the level of the unit 11 but also to equalize the processing rates of the first and second units.
For example, as shown by the two-dot chain line in the graph of FIG. 3, when the ejection amount (processing rate) of the left unit 11L is larger than that of the right unit 11R, the height of the left unit 11L is increased. Thereby, the amount of the gas from the left unit 11L hitting the surface of the workpiece W can be reduced, and the processing rate of the left processing region R1 can be set to a predetermined level shown by the solid line in FIG. Alternatively, the height of the right unit 11R may be lowered. As a result, the amount of gas from the right unit 11R hitting the surface of the workpiece W can be increased, and the processing rate of the right processing region R2 can be increased. As a result, the processing rates of the left and right processing regions R1, R2 can be made uniform, and individual differences between the left and right units 11L, 11R can be absorbed.

或いは、図8に示すように、左側のユニット11Lを左右方向から見て斜めになるように角度調節することにしてもよい。これにより、右側ユニット11Rからはガスが垂直に噴き出される一方、左側ユニット11Lからはガスが下に向かうにしたがって前後に偏るように斜めに噴き出されるようにすることができる。これにより、ユニットを高さ調節したのと同様に、左側ユニット11Lからのガスが被処理物Wの表面に当たる量を低減でき、左側の処理領域R1の処理レートを図3の実線に示す所定レベルにすることができる。この結果、左右の処理領域R1,R2の処理レートを互いに均一化することができ、左右のユニット11L,11Rの個体差を吸収することができる。   Alternatively, as shown in FIG. 8, the angle of the left unit 11 </ b> L may be adjusted so as to be inclined when viewed from the left-right direction. Thereby, while the gas is ejected vertically from the right unit 11R, the gas can be ejected obliquely from the left unit 11L so as to be biased back and forth as it goes downward. As a result, the amount of the gas from the left unit 11L hitting the surface of the workpiece W can be reduced in the same manner as the height of the unit is adjusted, and the processing rate of the left processing region R1 is a predetermined level indicated by the solid line in FIG. Can be. As a result, the processing rates of the left and right processing regions R1, R2 can be made uniform, and individual differences between the left and right units 11L, 11R can be absorbed.

図3のグラフの破線に示すように、例えば、左側ユニット11Lの噴出量(処理レート)が右側ユニット11Rのものより大きく、かつ該左側ユニット11Lの噴出量(処理レート)自体が右側ほど大きくなるように不均衡になっている場合には、左側ユニット11Lを全体的に上昇させながら、該左側ユニット11Lの右端部の上昇量が左端部の上昇量より大きくなるようにして、該左側ユニット11Lの左右方向の水平度を調節する(図7参照)。これにより、左側の処理領域R1の処理レートが全体的に低減されるとともに、該処理領域R1の右側部の処理レートが左側部より大きく低減される。この結果、左側の処理領域R1の処理レートを図3の実線に示すように所定の均一状態にすることができ、ひいては左右の処理領域R1,R2の処理レートを互いに均一化することができ、左右のユニット11L,11Rの個体差を吸収することができる。
勿論、この場合においても、上述したように、左側ユニット11Lを上げる代わりに、右側ユニット11Rを下げたり、左側ユニット11Lを図8に示すように前後に傾けたりしながら、左側ユニット11Lの左右方向の水平度を調節することにしてもよい。
As shown by the broken line in the graph of FIG. 3, for example, the ejection amount (processing rate) of the left unit 11L is larger than that of the right unit 11R, and the ejection amount (processing rate) of the left unit 11L itself increases toward the right side. When the left unit 11L is lifted as a whole, the left unit 11L is lifted as a whole so that the rising amount at the right end of the left unit 11L is larger than the rising amount at the left end. Is adjusted in the horizontal direction (see FIG. 7). As a result, the processing rate of the left processing region R1 is reduced as a whole, and the processing rate of the right side of the processing region R1 is greatly reduced from that of the left side. As a result, the processing rate of the left processing region R1 can be set to a predetermined uniform state as shown by the solid line in FIG. 3, and the processing rates of the left and right processing regions R1, R2 can be made uniform to each other. Individual differences between the left and right units 11L and 11R can be absorbed.
Of course, in this case, as described above, instead of raising the left unit 11L, the right unit 11R is lowered or the left unit 11L is tilted back and forth as shown in FIG. You may decide to adjust the level of.

次に、本発明の他の実施形態を説明する。以下の実施形態において既述の実施形態と重複する構成に関しては図面に同一符号を付して説明を適宜省略する。
図9は、連結機構50の変形例を示したものである。図9(a)に示すように、ブラケット53の第1連結軸54用の挿通孔53aは、真円断面の孔になっており、長孔になっていない。一方、図9(b)に示すように、支持ブロック52の第2連結軸55用の挿通孔52bは、長軸を左右方向に向けた長孔になっている。この支持ブロック52の長孔52bの断面(長軸及び短軸)は、ブラケット53の長孔53bと同一にするとよい。支持ブロック52の長孔52bとブラケット53の長孔53bは、ストレートに連なっている。
Next, another embodiment of the present invention will be described. In the following embodiments, the same reference numerals are given to the drawings for the same configurations as those of the above-described embodiments, and the description thereof is omitted as appropriate.
FIG. 9 shows a modification of the coupling mechanism 50. As shown in FIG. 9A, the insertion hole 53a for the first connecting shaft 54 of the bracket 53 is a hole having a perfect circular cross section, and is not a long hole. On the other hand, as shown in FIG. 9B, the insertion hole 52b for the second connecting shaft 55 of the support block 52 is a long hole with the long axis in the left-right direction. The cross section (long axis and short axis) of the long hole 52 b of the support block 52 may be the same as the long hole 53 b of the bracket 53. The long hole 52b of the support block 52 and the long hole 53b of the bracket 53 are connected in a straight line.

この変形例によれば、図10の実線及び二点鎖線に示すように、ユニット11の左右位
置調節の際、第1連結軸54と支持ブロック52が、ブラケット53と一緒に左右に変位
可能である。
According to this modification, as shown by the solid line and the alternate long and two short dashes line in FIG. 10, the first connecting shaft 54 and the support block 52 can be displaced left and right together with the bracket 53 when the left and right positions of the unit 11 are adjusted. is there.

図11に示すように、各ユニット11の噴出し口34からのガスが左右に拡散しながら被処理物Wに当たる等により、各処理領域R1,R2が噴出し口34の長さより大きくなる場合もある。そのような場合、左右のユニット11L,11Rの噴出し口34L,34Rどうしは、前後方向から見て左右にオーバーラップさせなくてもよく、逆に左右の噴出し口34L,34Rどうしを左右に離し、左側の噴出し口34Lの右端部が右側の噴出し口34Rの左端部より左側に位置するようにしてもよい。左側の処理領域R1の右端のスロープと右側の処理領域R2の左端のスロープとがオーバーラップしていればよい。
この場合の左右の噴出し口34L,34Rの離間距離R4は、10mm以内とするのが好ましい。
As shown in FIG. 11, the processing regions R <b> 1 and R <b> 2 may be larger than the length of the ejection port 34 due to the gas from the ejection port 34 of each unit 11 striking the workpiece W while diffusing left and right. is there. In such a case, the ejection ports 34L and 34R of the left and right units 11L and 11R do not need to overlap each other when viewed from the front-rear direction, and conversely, the left and right ejection ports 34L and 34R are left and right. And the right end of the left outlet 34L may be positioned on the left side of the left end of the right outlet 34R. It is only necessary that the slope at the right end of the left processing region R1 and the slope at the left end of the right processing region R2 overlap.
In this case, the separation distance R4 between the left and right ejection ports 34L, 34R is preferably within 10 mm.

処理ヘッド10のユニット11の数は、2つに限られず、被処理物Wの幅や各ユニット11の長さによって適宜設定できる。例えば、図12に示す処理ヘッド10は、4つのユニット11で構成されていている。これらユニット11は、隣り合うものどうしが左右にずれ、かつ前後にずれ、互い違いに配置されている。   The number of units 11 of the processing head 10 is not limited to two, and can be set as appropriate depending on the width of the workpiece W and the length of each unit 11. For example, the processing head 10 shown in FIG. 12 includes four units 11. These units 11 are alternately arranged such that adjacent ones are shifted from side to side and back and forth.

詳述すると、図12の処理ヘッド10は、後側(図12において上側)のユニット列100Aと、前側(図12において下側)のユニット列110Bを備えている。2つのユニット列110のうち何れか一方(例えばユニット列110A)が「第1ユニット列」を構成し、他方が「第2ユニット列」を構成する。   More specifically, the processing head 10 of FIG. 12 includes a rear (upper side in FIG. 12) unit row 100A and a front (lower side in FIG. 12) unit row 110B. One of the two unit rows 110 (for example, the unit row 110A) constitutes a “first unit row”, and the other constitutes a “second unit row”.

各ユニット列110は、左右に並べられた2つ(複数)のユニット11,11を含んでいる。これら左右のユニット11,11のピッチpは、各ユニット11の長さより大きく、両者の間に間隔(スペースs)が形成されている。   Each unit row 110 includes two (plural) units 11 and 11 arranged on the left and right. The pitch p of these left and right units 11 and 11 is larger than the length of each unit 11, and an interval (space s) is formed between them.

一方のユニット列110Aのユニット11,11と、他方のユニット列110Bのユニット11,11とは、左右方向に半ピッチ(p/2)だけずれている。   The units 11 and 11 in one unit row 110A and the units 11 and 11 in the other unit row 110B are shifted by a half pitch (p / 2) in the left-right direction.

一方のユニット列110Aの1つのユニット11が「第1ユニット」を構成するものとすると、この第1ユニットと半ピッチずれた他方のユニット列110Bのユニット11が「第2ユニット」を構成する。   Assuming that one unit 11 in one unit row 110A constitutes a “first unit”, the unit 11 in the other unit row 110B shifted by a half pitch from this first unit constitutes a “second unit”.

ユニット列110は、2列に限られず、3列以上設けてもよい。例えば、図13に示す処理ヘッド10では、4列のユニット列110が設けられている。前後に隣り合うユニット列110,110のユニット11,11どうしは、左右に半ピッチずれている。これら前後に隣り合うユニット列110,110の一方が「第1ユニット列」を構成し、他方が「第2ユニット列」を構成する。
各ユニット11の長手方向の両側にはスペースsが設けられるので、連結機構50等の支持構造をはじめ、配線や配管が干渉するのを容易に回避することができる。
The unit rows 110 are not limited to two rows, and three or more rows may be provided. For example, the processing head 10 shown in FIG. 13 is provided with four unit rows 110. The units 11 and 11 of the unit rows 110 and 110 adjacent to each other in the front and rear are shifted by a half pitch left and right. One of the unit rows 110 and 110 adjacent to each other in the front and rear forms a “first unit row”, and the other forms a “second unit row”.
Since the spaces s are provided on both sides in the longitudinal direction of each unit 11, it is possible to easily avoid interference of wiring and piping including the support structure such as the coupling mechanism 50.

図14は、処理ヘッド11の変形例を示したものである。各処理ヘッド11L,11Rの一対の電極31,32が上下に対向して配置されている。上側の電極31が電源回路3に接続され、下側の電極32が電気的に接地されている。下側の電極32の下方に被処理物Wが配置されている。下側の接地電極32の上面(一方の面)が、電源電極31を向いて電極31との間に放電空間33を形成する面となり、電極32の下面(他方の面)が被処理物Wの配置部を向く面となっている。電源電極31の下面と接地電極32の上面の少なくとも一方には、大気圧グロー放電を安定化させるための固体誘電体層(図示省略)が設けられている。   FIG. 14 shows a modification of the processing head 11. A pair of electrodes 31 and 32 of each processing head 11L and 11R are arranged to face each other in the vertical direction. The upper electrode 31 is connected to the power supply circuit 3, and the lower electrode 32 is electrically grounded. A workpiece W is disposed below the lower electrode 32. The upper surface (one surface) of the lower ground electrode 32 is a surface that faces the power supply electrode 31 and forms the discharge space 33 with the electrode 31, and the lower surface (the other surface) of the electrode 32 is the workpiece W. It is the surface which faces the arrangement part. A solid dielectric layer (not shown) for stabilizing the atmospheric pressure glow discharge is provided on at least one of the lower surface of the power electrode 31 and the upper surface of the ground electrode 32.

下側の接地電極32の第2方向の中央部に、第1方向に延びるスリット状の噴出し口34(孔列)が形成されている。第1処理ヘッド11Lの噴出し口34Lと第2処理ヘッド11Rの噴出し口34Rとは、第1方向にオーバーラップしている。   A slit-like ejection port 34 (hole array) extending in the first direction is formed at the center of the lower ground electrode 32 in the second direction. The ejection port 34L of the first processing head 11L and the ejection port 34R of the second processing head 11R overlap in the first direction.

処理ガス源2(図14において省略)からの供給路2aが、電極間空間33の第2方向の両側部にそれぞれ接続されている。処理ガスは、各処理ヘッド11の電極間空間33の第2方向の両側からそれぞれ電極間空間33内に導入されてプラズマ化され、噴出し口34から下方へ噴出され、被処理物Wに噴き付けられるようになっている。
この処理ヘッド構造によれば、接地電極32が電源電極31と被処理物Wとの間に配置されるので、電源電極31から被処理物Wに向かう電界を遮蔽でき、被処理物Wにアーク等の異常放電が落ちるのを確実に防止することができる。
Supply paths 2a from the processing gas source 2 (omitted in FIG. 14) are respectively connected to both side portions of the interelectrode space 33 in the second direction. The processing gas is introduced into the inter-electrode space 33 from both sides in the second direction of the inter-electrode space 33 of each processing head 11 to be converted into plasma, and is ejected downward from the ejection port 34 to be ejected onto the workpiece W. It has come to be attached.
According to this processing head structure, since the ground electrode 32 is disposed between the power supply electrode 31 and the workpiece W, an electric field from the power supply electrode 31 toward the workpiece W can be shielded, and an arc is generated on the workpiece W. Thus, it is possible to reliably prevent the abnormal discharge such as falling.

この発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、種々の改変をなすことができる。
例えば、第1ユニットの架台と第2ユニットの架台が、別体になっていてもよい。
孔列は、第1方向に延びる1つのスリットのみならず、点状又は短いスリット状の孔が、複数、第1方向に沿って一列に並んでいるものも含む。例えば、図15に示すように、図14の処理ヘッド構造において、接地電極32にスリット状の噴出し口34に代えて、複数の小孔34aが第1方向に一列に並んで配置されていてもよい。第1処理ヘッド11Lにおけるこれら小孔34aからなる列が、第1孔列340Lを構成している。第2処理ヘッド11Rにおけるこれら小孔34aからなる列が、第2孔列340Rを構成している。
第1、第2の各処理ヘッドにおいて、第1方向に延在された孔列が、複数、第2方向に並んで配置されていてもよい。例えば、図16に示すように、図14の処理ヘッド構造の接地電極32に、複数(ここでは3つ)のスリット状の噴出し口34(34L,34R)が、各々第1方向に延びるとともに、互いに第2方向に並んで設けられていてもよい。或いは、図17に示すように、第1方向に並べられた小孔34aの列340(340L,340R)が、第2方向に複数列(ここでは3列)設けられていてもよい。
The present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications can be made.
For example, the base of the first unit and the base of the second unit may be separate.
The hole array includes not only one slit extending in the first direction but also a plurality of dot-shaped or short slit-shaped holes arranged in a line along the first direction. For example, as shown in FIG. 15, in the processing head structure of FIG. 14, a plurality of small holes 34a are arranged in a line in the first direction in the ground electrode 32 instead of the slit-shaped ejection openings 34. Also good. The row of the small holes 34a in the first processing head 11L constitutes the first hole row 340L. A row composed of these small holes 34a in the second processing head 11R constitutes a second hole row 340R.
In each of the first and second processing heads, a plurality of hole rows extending in the first direction may be arranged side by side in the second direction. For example, as shown in FIG. 16, a plurality (three in this case) of slit-shaped ejection ports 34 (34 </ b> L and 34 </ b> R) extend in the first direction on the ground electrode 32 of the processing head structure of FIG. 14. , May be provided side by side in the second direction. Alternatively, as shown in FIG. 17, a plurality of rows (340 rows in this case) of rows 340 (340L, 340R) of small holes 34a arranged in the first direction may be provided in the second direction.

実施形態では、一対をなすボルト54,55のうち第1連結軸54がユニット11の幅方向(前後方向)の内側に配置され、第2連結軸55が外側に配置されていたが、第1連結軸54をユニット11の幅方向の外側に配置し、第2連結軸55を外側に配置することにしてもよい。
図9及び図10の連結機構50の変形例において、ブラケット53と支持ブロック52は、一体になっていてもよい。または、支持ブロック52を省略し、ブラケット52に第1連結軸54が直接螺合されるようになっていてもよい。この場合、第1連結軸54が「第1規制部」をも兼ねる。
架台40とユニット支持部に、長軸を左右(第1方向)に向けた長孔を形成し、この長孔に第1連結軸又は第2連結軸を第1方向に変位可能に挿通することにしてもよい。
ボルトからなる第1、第2連結軸にナットを螺合することにより、第1、第2連結軸と被支持部又はユニット支持部とを連結することにしてもよい。
第1規制部として、支持ブロック52に代えてナットを用いてもよい。
第1、第2連結軸が、1本の共通のボルト(ネジ部材)にて構成され、この1本のボルトにナットからなる第1規制部と第2規制部を設けてもよい。
第1、第2ユニット間の処理レートを均一化する場合、上記の連結機構50によるユニットの高さ及び角度調節だけでなく、それと併行して、ユニットごとにガス供給量を調節したり、ガスレシピを調節したり、電極31への投入パワーを調節したりすることにしてもよい。
In the embodiment, of the pair of bolts 54, 55, the first connection shaft 54 is disposed inside the unit 11 in the width direction (front-rear direction), and the second connection shaft 55 is disposed outside. The connecting shaft 54 may be disposed outside the unit 11 in the width direction, and the second connecting shaft 55 may be disposed outside.
In the modification of the coupling mechanism 50 in FIGS. 9 and 10, the bracket 53 and the support block 52 may be integrated. Alternatively, the support block 52 may be omitted, and the first connecting shaft 54 may be directly screwed to the bracket 52. In this case, the first connecting shaft 54 also serves as the “first regulating portion”.
A long hole with the long axis directed to the left and right (first direction) is formed in the gantry 40 and the unit support portion, and the first connecting shaft or the second connecting shaft is inserted into the long hole so as to be displaceable in the first direction. It may be.
You may decide to connect a 1st, 2nd connection shaft, and a to-be-supported part or a unit support part by screwing a nut to the 1st, 2nd connection shaft which consists of a volt | bolt.
A nut may be used in place of the support block 52 as the first restricting portion.
The first and second connecting shafts may be configured by a single common bolt (screw member), and a first restricting portion and a second restricting portion made of nuts may be provided on the one bolt.
When the processing rate between the first and second units is equalized, not only the height and angle of the units are adjusted by the connecting mechanism 50, but also the gas supply amount is adjusted for each unit, The recipe may be adjusted, or the input power to the electrode 31 may be adjusted.

本発明は、処理ガスをスリット等の孔列の群から噴出して被処理物に当てるものであればよく、プラズマ表面処理に限られず、熱CVDやHF(フッ酸)ベーパ等によるエッチングのような電極の無い表面処理にも適用できる。また、オゾン等によるアッシング、CF等によるエッチング、その他、成膜(CVD)、洗浄、表面改質(親水処理、撥水処理等)等の種々の表面処理に遍く適用できる。
処理の圧力条件は、略常圧に限らず、減圧環境でもよい。
The present invention is not limited to the plasma surface treatment as long as the processing gas is ejected from a group of hole arrays such as slits and applied to the object to be processed, such as etching by thermal CVD, HF (hydrofluoric acid) vapor, or the like. It can also be applied to surface treatments without any electrodes. Further, it can be applied to various surface treatments such as ashing with ozone, etc., etching with CF 4, etc., film formation (CVD), cleaning, surface modification (hydrophilic treatment, water repellent treatment, etc.).
The pressure condition of the process is not limited to a substantially normal pressure but may be a reduced pressure environment.

本発明は、例えば液晶テレビやプラズマテレビ等のフラットパネル用ガラスの表面処理や半導体製造における基板のプラズマ表面処理に利用可能である。   The present invention can be used for surface treatment of glass for flat panels such as liquid crystal televisions and plasma televisions, and plasma surface treatment of substrates in semiconductor manufacturing.

Claims (14)

処理ガスを被処理物の表面に吹き付け、該表面を処理する装置において、
前記処理ガスを噴き出すための第1孔列を有し、この第1孔列が第1方向に延在する第1ユニットと、
前記処理ガスを噴き出すための第2孔列を有し、この第2孔列が前記第1孔列と同方向に延在する第2ユニットと、
前記被処理物を前記第1、第2ユニットに対し前記第1方向と直交する第2方向に相対移動させる移動機構と、
を備え、
前記第1ユニットと第2ユニットが、互いに前記第1方向にずれ、かつ前記第2方向にずれて配置されていることを特徴とする表面処理装置。
In an apparatus for spraying a processing gas on the surface of an object to be processed and processing the surface,
A first unit having a first hole row for ejecting the processing gas, the first hole row extending in a first direction;
A second unit having a second hole row for ejecting the processing gas, the second hole row extending in the same direction as the first hole row;
A moving mechanism for moving the object to be processed relative to the first and second units in a second direction orthogonal to the first direction;
With
The surface treatment apparatus, wherein the first unit and the second unit are arranged so as to be displaced from each other in the first direction and in the second direction.
前記第1孔列の長手方向の第2ユニット側の端部と前記第2孔列の長手方向の第1ユニット側の端部とが、前記第2方向から見て前記第1方向にオーバーラップしていることを特徴とする請求項1に記載の表面処理装置。   The end on the second unit side in the longitudinal direction of the first hole row and the end on the first unit side in the longitudinal direction of the second hole row overlap in the first direction when viewed from the second direction. The surface treatment apparatus according to claim 1, wherein: 架台と、
この架台に前記第1ユニットを、前記第1方向に位置調節可能に連結する連結機構と、
を更に備えたことを特徴とする請求項1又は2に記載の表面処理装置。
A frame,
A connection mechanism for connecting the first unit to the gantry so as to be positionally adjustable in the first direction;
The surface treatment apparatus according to claim 1, further comprising:
架台と、
この架台に前記第1ユニットを、前記第1方向及び第2方向と直交する第3方向に位置調節可能に連結する連結機構と、
を更に備えたことを特徴とする請求項1又は2に記載の表面処理装置。
A frame,
A connection mechanism for connecting the first unit to the frame so that the position of the first unit can be adjusted in a third direction orthogonal to the first direction and the second direction;
The surface treatment apparatus according to claim 1, further comprising:
架台と、
この架台に前記第1ユニットを、前記第1方向から見た角度を調節可能に連結する連結機構と、
を更に備えたことを特徴とする請求項1又は2に記載の表面処理装置。
A frame,
A coupling mechanism for coupling the first unit to the gantry so that the angle seen from the first direction is adjustable;
The surface treatment apparatus according to claim 1, further comprising:
架台と、
この架台に前記第1ユニットを、前記第2方向から見た角度を調節可能に連結する連結機構と、
を更に備えたことを特徴とする請求項1又は2に記載の表面処理装置。
A frame,
A coupling mechanism for coupling the first unit to the gantry so as to adjust an angle of the first unit viewed from the second direction;
The surface treatment apparatus according to claim 1, further comprising:
架台と、
前記第1ユニットの前記第1方向の両端部にそれぞれ設けられ、前記架台に前記第1ユニットを前記第1方向及び第2方向と直交する第3方向に位置調節可能に連結する一対の連結機構と、
を更に備えたことを特徴とする請求項1又は2に記載の表面処理装置。
A frame,
A pair of connection mechanisms provided at both ends of the first unit in the first direction, respectively, to connect the first unit to the mount so that the position of the first unit can be adjusted in a third direction orthogonal to the first direction and the second direction. When,
The surface treatment apparatus according to claim 1, further comprising:
架台と、
前記第1ユニットの前記第1方向及び第2方向と直交する第3方向から見た四隅にそれぞれ設けられ、前記架台に前記第1ユニットを前記第1方向及び第2方向と直交する第3方向に位置調節可能に連結する4つの連結機構と、
を更に備えたことを特徴とする請求項1又は2に記載の表面処理装置。
A frame,
Third directions of the first unit are provided at four corners as viewed from a third direction orthogonal to the first direction and the second direction, respectively, and the first unit is mounted on the gantry in a third direction orthogonal to the first direction and the second direction. Four coupling mechanisms coupled to each other in an adjustable manner,
The surface treatment apparatus according to claim 1, further comprising:
架台と、
この架台に前記第1ユニットを連結する連結機構と、
を更に備え、前記連結機構が、
前記第1ユニットに設けられた被支持部と、
前記架台に設けられ、前記被支持部と前記第1方向及び第2方向と直交する第3方向に対向するユニット支持部と、
前記被支持部とユニット支持部との間に前記第3方向に延びるようにして設けられた第1、第2の連結軸と、
前記第1連結軸に設けられ、前記被支持部が前記ユニット支持部に対し前記第3方向に沿って遠ざかるのを許容し接近するのを規制する第1規制部と、
前記第2連結軸に設けられ、前記被支持部が前記ユニット支持部に対し前記第3方向に沿って接近するのを許容し遠ざかるのを規制する第2規制部と、
を有していることを特徴とする請求項1又は2に記載の表面処理装置。
A frame,
A coupling mechanism for coupling the first unit to the gantry;
The connecting mechanism further comprises:
A supported portion provided in the first unit;
A unit support portion provided on the gantry and facing the supported portion in a third direction orthogonal to the first direction and the second direction;
First and second connecting shafts provided so as to extend in the third direction between the supported portion and the unit supporting portion;
A first restricting portion which is provided on the first connecting shaft and restricts the supported portion from moving away from the unit supporting portion along the third direction;
A second restricting portion that is provided on the second connecting shaft and restricts the supported portion from approaching and moving away from the unit support portion along the third direction;
The surface treatment apparatus according to claim 1, wherein the surface treatment apparatus comprises:
前記被支持部とユニット支持部のうち一方には、前記第1連結軸又は第2連結軸を挿通して連結するための挿通孔が形成され、この挿通孔が、長軸を前記第1方向に向けた長孔になっていることを特徴とする請求項9に記載の表面処理装置。   One of the supported portion and the unit support portion is formed with an insertion hole for inserting and connecting the first connection shaft or the second connection shaft, and the insertion hole has a long axis in the first direction. The surface treatment apparatus according to claim 9, wherein the surface treatment apparatus is a long hole toward the surface. 前記第1連結軸が、軸線を前記第3方向に向けたネジ部材であり、
前記第1連結軸の前記被支持部側の端部に前記第1規制部が螺合され、前記第1連結軸の前記ユニット支持部側の端部が前記ユニット支持部に突き当てられ、
前記第1規制部が、前記被支持部の前記ユニット支持部を向く面に当接又は接合されることを特徴とする請求項9に記載の表面処理装置。
The first connecting shaft is a screw member whose axis is directed in the third direction;
The first restricting portion is screwed into an end portion of the first connection shaft on the supported portion side, and an end portion of the first connection shaft on the unit support portion side is abutted against the unit support portion,
The surface treatment apparatus according to claim 9, wherein the first restricting portion is in contact with or joined to a surface of the supported portion facing the unit support portion.
前記第2連結軸が、軸線を前記第3方向に向けたネジ部材であり、
前記第2連結軸の前記被支持部側の端部に前記第2規制部が設けられ、前記第2連結軸の前記ユニット支持部側の端部が前記ユニット支持部に螺合され、
前記第2規制部が、前記被支持部の前記ユニット支持部とは逆側を向く面に当接されることを特徴とする請求項9に記載の表面処理装置。
The second connecting shaft is a screw member whose axis is directed in the third direction;
The second restricting portion is provided at an end portion of the second connection shaft on the supported portion side, and an end portion of the second connection shaft on the unit support portion side is screwed to the unit support portion,
The surface treatment apparatus according to claim 9, wherein the second restricting portion is brought into contact with a surface of the supported portion that faces away from the unit support portion.
前記第1ユニットが、前記第1方向にそれぞれ延びる一対の電極を含み、これら電極が前記第2方向に対向して互いの間に放電空間を形成するようになっており、この放電空間の下流端が前記第1孔列に連なっていることを特徴とする請求項1に記載の表面処理装置。   The first unit includes a pair of electrodes each extending in the first direction, and these electrodes are opposed to the second direction so as to form a discharge space therebetween, and downstream of the discharge space. The surface treatment apparatus according to claim 1, wherein an end is connected to the first hole row. 処理ガスを被処理物の表面に吹き付け、該表面を処理する装置において、
第1方向に延びる複数のユニットを含む処理ヘッドと、
前記被処理物を前記処理ヘッドに対し前記第1方向と直交する第2方向に相対移動させる移動機構と、
を備え、
前記複数のユニットの各々が、前記処理ガスを噴き出すための前記第1方向に延在された孔列を有し、
前記複数のユニットのうちの一部のユニットが、前記第1方向に離間して一定ピッチで並べられて第1ユニット列を構成し、
前記複数のユニットのうちの他の一部のユニットが、前記第1方向に離間して前記第1ユニット列と同一ピッチで並べられて第2ユニット列を構成し、
前記第1ユニット列と前記第2ユニット列が前記第2方向に並ぶとともに、前記第1ユニット列のユニットと前記第2ユニット列のユニットが、前記第1方向に前記ピッチの約半分ずれていることを特徴とする表面処理装置。
In an apparatus for spraying a processing gas on the surface of an object to be processed and processing the surface,
A processing head including a plurality of units extending in a first direction;
A moving mechanism for moving the object to be processed relative to the processing head in a second direction orthogonal to the first direction;
With
Each of the plurality of units has a row of holes extending in the first direction for ejecting the processing gas;
Some of the plurality of units are arranged in a fixed pitch apart from each other in the first direction to form a first unit row,
The other part of the plurality of units are separated in the first direction and arranged at the same pitch as the first unit row to form a second unit row,
The first unit row and the second unit row are arranged in the second direction, and the unit of the first unit row and the unit of the second unit row are shifted by about half of the pitch in the first direction. The surface treatment apparatus characterized by the above-mentioned.
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