JPWO2005104159A1 - 熱動式引き外し装置及びそれを用いた回路遮断器 - Google Patents
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Abstract
Description
引き外し特性を調整・検査するためには、その特性値を正確に測定する必要がある。熱動式引き外し装置では、所定電流を通電して通電開始から引き外し完了までの時間(トリップ時間)やバイメタル変位量を計測することにより引き外し特性を測定することが多い。一方、バイメタルの湾曲係数は既知であるため、バイメタル温度を測定することでバイメタル変位量を求めることができる。従って、バイメタル温度を測定することによって引き外し特性を把握することができる。
バイメタル温度を計測するにあたっては、計測によってバイメタル湾曲量に影響を及ぼさないために、非接触で測定する方法が望ましい。接触式温度計による計測では、測定子を介してバイメタルに外部から荷重が加わるためバイメタルに撓みが生じ、引き外し特性を変化させてしまう。非接触温度測定方法としては、赤外線吸収素子を組み込んた放射温度計を用いるのが一般的である。
しかし、通常のバイメタル表面は、金属光沢面であるため正確な温度計測が難しいという問題がある。また、漏電検出回路を組み込んだ漏電回路遮断器や、小型化された回路遮断器においては、バイメタル周囲の隙間が少ないため、バイメタル表面温度を外部から測定するのは困難である。
本発明は、かかる課題を解決するためになされたものであり、非接触式温度計を用いて、バイメタル温度を高精度に計測することが可能な熱動式引き外し装置及びそれを用いた回路遮断器の提供を目的としている。
このことによって、非接触式温度計を用いて、バイメタル温度を高精度に計測することが可能になる。
また、本発明は、バイメタルの温度計測部の表面を黒色又はつや消しの黒色としたものである。
また、本発明は、バイメタルの温度計測部に、バイメタルの長手方向にほぼ直角に曲げた曲げ加工部を設け、その表面を黒色又はつや消しの黒色としたものである。
このことによって、バイメタル面のほぼ垂直方向から計測が困難な機種でも安定して高精度な温度計測が可能となる。
また、本発明は、バイメタルの温度計測部に、バイメタルの長手方向にほぼ直角に曲げた曲げ加工部を設けたものである。
このことによって、バイメタルの長手方向から計測ができ、安定して高精度な温度計測が可能となる。
第2図は、実施の形態2における熱動式引き外し装置のバイメタル部を示す斜視図である。
第3図は、実施の形態3における熱動式引き外し装置のバイメタル部を示す斜視図である。
第4図は、実施の形態4における熱動式引き外し装置のバイメタル部を示す斜視図である。
第5図は、実施の形態2に係わるバイメタルの素材加工段階を示す平面図である。
第6図は、実施の形態3に係わるバイメタルの素材加工段階を示す平面図である。
第7図は、非接触温度計を用いて実施の形態3のバイメタルの温度を計測する様子を示す図である。
第8図は、非接触温度計を用いて実施の形態4のバイメタルの温度を計測する様子を示す図である。
第9図は、熱動式引き外し装置を有する回路遮断器の構造を示す一部切り正面図である。
回路遮断器は定格以上の過電流が流れた時に回路を遮断し、事故を防ぐための安全装置である。回路遮断器において、過電流を検出する機構を引き外し機構といい、その検出手段の一つにバイメタルを用いた熱動式がある。これはバイメタルが温度変化によって湾曲する特性を利用したものである。第9図は熱動式引き外し機構、即ち、熱動式引き外し機構装置を備えた回路遮断器の構造を示す一部切り正面図である。
定格電流以上の過電流が流れたときの動作は以下のとおりである。
(1)ヒータ1あるいはバイメタル2に過電流が流れることにより、ヒータ1あるいはバイメタル2の温度が上昇する。
(2)バイメタル2の温度の上昇に伴ってバイメタル2が湾曲する。
(3)バイメタル2の湾曲量が大きくなり、トリップバー3を押す。
(4)機構部4が作動して主回路5を瞬時に遮断する(トリップする)。
過電流が流れはじめてからトリップするまでの時間は、JIS等の規格により範囲が定められており、製品のトリップ時間は、その範囲を満足しなければならない。しかし、引き外し機構の作動点、すなわち、バイメタル2がトリップバー3を押す位置が、引き外し機構を構成する各部品の加工・組立誤差、材料特性のばらつき等、製造ばらつきの累積によりばらついて、通電開始からトリップするまでの時間(トリップ時間)にばらつきが生じる。そこで、このような製造ばらつきを吸収するために、バイメタル2先端やトリップバー3に調整機構6を設け、組立工程において調整・検査作業を行っている。
調整・検査作業では、ワーク毎の引き外し特性を正確に測定する必要がある。通常は所定の電流値を通電してトリップ時間を計測したり、その間のバイメタル変位量を計測することにより、引き外し特性を測定することが多い。しかしトリップ時間やバイメタル変位量は、通電開始時のワーク温度や測定環境温度に大きく影響されるため、一定温度に管理された状態で計測するか、もしくはワーク温度や周囲温度に基づいて計測値を補正しなければならない。
一方、バイメタルはその温度と湾曲係数によって湾曲量(変位量)が決定するが、湾曲係数は既知であるため、バイメタル温度を計測することにより変位量を求めることができる。従って、バイメタル温度を計測することによって、引き外し特性を測定することが可能である。
バイメタル温度を計測するには、一般的には非接触式の放射温度計を用いる。これは接触式温度計を用いると測定子の接触荷重によってバイメタルのたわみが生じて引き外し特性が変わってしまい、正確な引き外し特性の測定ができないためである。
非接触式温度計は物体から放射される赤外線の放射エネルギー量を検知することで物体の温度を測定する。物体から放射される赤外線の放射量は、材質やその表面状態により違いがあり、同一温度であっても放射する赤外線エネルギー量(放射率)は異なる。非接触温度計では理想黒体(放射率100%の理論的な物体)を基準に温度を算出しており、それ以外の物体では個々の放射率に合わせて補正を行わなければならない。
放射率は通常実験的に得られるもので、測定物の放射率を短時間で求めることは困難なため、量産工程でワーク毎に放射率を求めることはできない。従って、バイメタルの放射率がばらついている場合には、そのばらつきが温度計測のばらつきとなってしまう。さらに、バイメタル表面は一般には金属光沢面となっているため、ヒータ等のバイメタル近傍にある他の熱源から放射される赤外線がバイメタル表面で反射され易い。その反射光が放射温度計に入射してしまうと測定誤差となってしまう。
また、放射率が低い場合でも放射率に応じて補正をかけることで温度の測定は可能であるが、赤外線の絶対量が少なくなるので測定でのノイズ成分が多くなり、温度測定精度が低下してしまう。よって、高精度な温度計測のためには放射率が高くかつ一定であることが望ましい。
そこで、本発明ではバイメタル2の温度計測部となる表面を黒色、望ましくは、つや消し黒色7(第1図参照)とすることにより放射率を高くしかつ一定にした。これにより異なるワークでも一定の高い放射率となるため、バイメタル温度を高精度に安定して測定できる。また、つや消し塗装とすることで他の熱源からの反射を抑えることができ、計測誤差を少なくできる。第1図は本発明の実施の形態1における熱動式引き外し装置のバイメタル部を示す斜視図である。黒色とするには例えば塗装やエッチングによる方法がある。つや消し黒色にするには、つや消し用の黒色塗料を使用すれば良い。また、エッチングと共に酸化させることによりつや消し黒色にしても良い。この場合、エッチング液としては、バイメタル2が鉄系の素材のときは、例えば水酸化ナトリウム溶液や燐酸塩溶液を用い、銅系の素材のときは、例えばセレンを含有する酸性水溶液を用いる。
実施の形態2.
バイメタル温度を高精度に計測するためには、バイメタル内での温度測定位置、即ち温度計測部8(第2図参照)を固定しておく必要がある。これはヒータによるバイメタル2の加熱においては、バイメタル全体を均一に加熱することは難しいので、バイメタル2内で温度分布が存在するためである。従って、実施の形態1に記載したバイメタル2の表面の黒化処理を温度計測部に施せばよい。第2図は実施の形態2における熱動式引き外し装置のバイメタル部を示す斜視図である。
通常、回路遮断器に用いるバイメタル2は細長いバイメタル素材9からプレス加工により製造される(第5図参照)。従って素材9の段階で温度計測部になる箇所のみを黒色、望ましくは、つや消し黒色7としておき、それをプレス加工することで必要な箇所のみを黒色化したバイメタル片を得ることができる。第5図は実施の形態2に係わるバイメタルの素材加工段階を示す平面図である。バイメタル片の状態で黒色化処理するよりも素材状態で一括して処理した方が加工工程が簡略化でき、加工費の低減となる。また、実施の形態2のように処理部分を最小限とすることによって、さらに加工費の低減となる。
実施の形態3.
バイメタル素材9に2箇所の黒色部を設けた例を図6に示す。バイメタルの形状には先端に向けて徐々に幅が狭くなっているものもあり、その場合はバイメタル片の向きを交互に組み合わせてプレス加工することで素材9の歩留まりを上げることができる。ロール状素材からバイメタル素材9を引出し2本の黒色部を設けておき、それから図のようにプレス加工される。実施の形態3で形成されたバイメタルを用いた熱動式引き外し装置の主要部の斜視図を第3図に示す。
実施の形態4.
非接触温度計を用いて、バイメタルの温度を計測するには、バイメタルの温度計測部8から概垂直方向に温度計を設置し、その間に赤外線を遮る障害物の無い空間が必要である。第7図は非接触温度計10を用いて実施の形態3のバイメタル2の温度を計測する様子を示す図である。
しかし、例えば漏電回路遮断器ではバイメタルに隣接して漏電検出部が組み込まれており、上記空間が確保できない場合が多い。また、回路遮断器においても製品の小型化によってバイメタル温度を測定できる箇所が限られてきており、バイメタル上の理想的な温度計測点を計測するのが不可能な場合がある。実施の形態4はこのような場合でも所望の場所での温度計測を可能とするものである。
実施の形態4における熱動式引き外し装置のバイメタル部の斜視図を第4図に示す。バイメタルの温度計測部8となる箇所に曲げ加工部11を設ける。
第8図のようにバイメタルの長手方向から温度測定できるように、バイメタルの温度計測部8に、バイメタル2の長手方向とぼぼ直角に曲げ加工部11を設ける。熱動式引き外し装置ではバイメタル2が湾曲するためのスペースが必要なことと、引き外し特性を調整する必要があることから、バイメタル2の長手方向には計測可能な空間があることが多い。しかし、従来のバイメタルではこの方向からは板厚分しか測定できる部分が無いため温度計測が非常に困難である。
そこでバイメタル2の温度計測部8となる箇所に曲げ加工を施して曲げ加工部11を設け、温度計測に必要な面積を確保することで、第8図のように、上方からバイメタル2の長手方向に並行に非接触温度計10による温度計測が可能となる。曲げ加工を施す位置を変えることで、バイメタルの任意の場所での温度計測が可能である。
さらに、その曲げ加工部の表面で温度計測が行われる箇所には、曲げ加工後又は曲げ加工前に黒色、望ましくは、つや消しの黒色にすると、より一層、バイメタル温度を高精度に計測することが可能になる。
Claims (8)
- 過電流によりバイメタルが加熱され、加熱されたバイメタルの湾曲により回路の引き外し動作を行う熱動式引き外し装置において、バイメタルの表面の少なくとも1部を黒色としたことを特徴とする熱動式引き外し装置。
- バイメタルの表面の少なくとも1部をつや消しの黒色としたことを特徴とする請求項1記載の熱動式引き外し装置。
- バイメタルの温度計測部の表面を黒色としたことを特徴とする請求項1記載の熱動式引き外し装置。
- バイメタルの上記温度計測部の表面をつや消しの黒色としたことを特徴とする請求項3記載の熱動式引き外し装置。
- バイメタルの上記温度計測部に、バイメタルの長手方向にほぼ直角に曲げた曲げ加工部を設け、その表面を黒色としたことを特徴とする請求項3記載の熱動式引き外し装置。
- バイメタルの上記温度計測部に、バイメタルの長手方向にほぼ直角に曲げた曲げ加工部を設け、その表面をつや消しの黒色としたことを特徴とする請求項4記載の熱動式引き外し装置。
- 過電流によりバイメタルが加熱され、加熱されたバイメタルの湾曲により回路の引き外し動作を行う熱動式引き外し装置において、バイメタルの温度計測部に、バイメタルの長手方向にほぼ直角に曲げた曲げ加工部を設けたことを特徴とする熱動式引き外し装置。
- 過電流によりバイメタルが加熱され、加熱されたバイメタルの湾曲により回路の引き外し動作を行う熱動式引き外し装置を有する回路遮断器において、バイメタルの温度計測部の表面を黒色としたことを特徴とする回路遮断器。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2004/005705 WO2005104159A1 (ja) | 2004-04-21 | 2004-04-21 | 熱動式引き外し装置及びそれを用いた回路遮断器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2005104159A1 true JPWO2005104159A1 (ja) | 2008-03-13 |
JP4369475B2 JP4369475B2 (ja) | 2009-11-18 |
Family
ID=35197250
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006512453A Expired - Fee Related JP4369475B2 (ja) | 2004-04-21 | 2004-04-21 | 熱動式引き外し装置及びそれを用いた回路遮断器 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7498913B2 (ja) |
EP (1) | EP1739703B1 (ja) |
JP (1) | JP4369475B2 (ja) |
CN (1) | CN100521031C (ja) |
HK (1) | HK1099843A1 (ja) |
TW (1) | TWI234795B (ja) |
WO (1) | WO2005104159A1 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009176655A (ja) * | 2008-01-28 | 2009-08-06 | Kawamura Electric Inc | 回路遮断器の過電流引き外し装置 |
US8203816B2 (en) * | 2010-03-03 | 2012-06-19 | Walter Michael Pitio | Circuit breaker |
Family Cites Families (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
BE442165A (ja) * | 1940-07-27 | |||
US3261947A (en) * | 1963-04-03 | 1966-07-19 | Philips Corp | Bimetallic switch cutout |
DE7147384U (de) * | 1971-12-16 | 1972-08-17 | Bosch R Gmbh | Ueberwachungsgeraet fuer die heizung der gluehkerzen einer brennkraftmaschine |
CA1064347A (en) * | 1976-04-27 | 1979-10-16 | Fred L. Savage | Autonomic solar panel |
US4630019A (en) * | 1984-09-28 | 1986-12-16 | Westinghouse Electric Corp. | Molded case circuit breaker with calibration adjusting means for a bimetal |
JPH01286213A (ja) * | 1988-05-12 | 1989-11-17 | Toshiba Corp | Sf↓6ガス絶縁電力機器の赤外線温度検出システム |
FR2683675B1 (fr) * | 1991-11-13 | 1993-12-31 | Merlin Gerin | Procede et dispositif de reglage d'un declencheur technique a bilame. |
US6030114A (en) * | 1997-09-30 | 2000-02-29 | Siemens Energy & Automation, Inc. | Method for thermally calibrating circuit breaker trip mechanism and associated trip mechanism |
JP3948093B2 (ja) * | 1998-01-30 | 2007-07-25 | 松下電工株式会社 | ハイブリッドリレー |
US6246241B1 (en) * | 1998-02-06 | 2001-06-12 | Siemens Energy & Automation, Inc. | Testing of bimetallic actuators with radio frequency induction heating |
US6215379B1 (en) * | 1999-12-23 | 2001-04-10 | General Electric Company | Shunt for indirectly heated bimetallic strip |
US6466424B1 (en) * | 1999-12-29 | 2002-10-15 | General Electric Company | Circuit protective device with temperature sensing |
US6580351B2 (en) * | 2000-10-13 | 2003-06-17 | George D. Davis | Laser adjusted set-point of bimetallic thermal disc |
ATE368935T1 (de) * | 2001-01-31 | 2007-08-15 | Siemens Ag | Justiervorrichtung für einen thermischen auslöser |
JP3948212B2 (ja) | 2001-02-14 | 2007-07-25 | 松下電工株式会社 | 回路遮断器のバイメタル固定装置 |
JP3849450B2 (ja) | 2001-04-24 | 2006-11-22 | 松下電工株式会社 | 回路遮断器の調整方法及び調整装置 |
WO2003005395A1 (de) * | 2001-07-02 | 2003-01-16 | Siemens Aktiengesellschaft | Justiervorrichtung für einen thermischen auslöser |
US6813131B2 (en) * | 2001-08-27 | 2004-11-02 | Eaton Corporation | Circuit breaker, trip assembly, bimetal compensation circuit and method including compensation for bimetal temperature coefficient |
US6803850B2 (en) * | 2002-10-10 | 2004-10-12 | Square D Company | Thermal trip assembly and method for producing same |
US7279218B2 (en) * | 2004-01-23 | 2007-10-09 | Kobe Steel, Ltd. | Coated body having excellent thermal radiation property used for members of electronic device |
US7400482B2 (en) * | 2006-01-17 | 2008-07-15 | Eaton Corporation | Circuit breaker and method for sensing current indirectly from bimetal voltage and determining bimetal temperature and corrected temperature dependent bimetal resistance |
-
2004
- 2004-04-21 EP EP04728657A patent/EP1739703B1/en not_active Expired - Fee Related
- 2004-04-21 CN CNB2004800424427A patent/CN100521031C/zh not_active Expired - Fee Related
- 2004-04-21 JP JP2006512453A patent/JP4369475B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2004-04-21 US US10/592,003 patent/US7498913B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2004-04-21 WO PCT/JP2004/005705 patent/WO2005104159A1/ja not_active Application Discontinuation
- 2004-06-30 TW TW093119464A patent/TWI234795B/zh not_active IP Right Cessation
-
2007
- 2007-05-29 HK HK07105635.3A patent/HK1099843A1/xx not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN1926654A (zh) | 2007-03-07 |
EP1739703A4 (en) | 2009-10-21 |
EP1739703A1 (en) | 2007-01-03 |
WO2005104159A1 (ja) | 2005-11-03 |
US7498913B2 (en) | 2009-03-03 |
CN100521031C (zh) | 2009-07-29 |
HK1099843A1 (en) | 2007-08-24 |
JP4369475B2 (ja) | 2009-11-18 |
US20070195478A1 (en) | 2007-08-23 |
TWI234795B (en) | 2005-06-21 |
TW200535888A (en) | 2005-11-01 |
EP1739703B1 (en) | 2012-07-11 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090707 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120904 Year of fee payment: 3 |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130904 Year of fee payment: 4 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
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R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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