JPS6484U - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS6484U JPS6484U JP9408487U JP9408487U JPS6484U JP S6484 U JPS6484 U JP S6484U JP 9408487 U JP9408487 U JP 9408487U JP 9408487 U JP9408487 U JP 9408487U JP S6484 U JPS6484 U JP S6484U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor
- radiation
- detects
- rays
- gamma
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 12
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 6
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
Description
第1図は本考案に係る半導体放射線測定器の実
施例の概略構成を示すブロツク図、第2図は半導
体検出器を示し、図aは半導体荷電粒子線センサ
を、図bは半導体γX線センサを示す構成図、第
3図は半導体検出器による放射線の検出原理を示
すための説明図である。 14……半導体荷電粒子線センサ、14a,1
6b……n型の半導体、14b……金の蒸着膜、
16……半導体γX線センサ、16a……p型の
半導体、18,20……前置増幅器、28……波
高弁別器、30……計数表示部。
施例の概略構成を示すブロツク図、第2図は半導
体検出器を示し、図aは半導体荷電粒子線センサ
を、図bは半導体γX線センサを示す構成図、第
3図は半導体検出器による放射線の検出原理を示
すための説明図である。 14……半導体荷電粒子線センサ、14a,1
6b……n型の半導体、14b……金の蒸着膜、
16……半導体γX線センサ、16a……p型の
半導体、18,20……前置増幅器、28……波
高弁別器、30……計数表示部。
Claims (1)
- 放射線を検出・測定する放射線測定器において
、荷電粒子を検出する半導体荷電粒子線センサと
、γ線及びX線を検出する半導体γX線センサと
、この両センサを切換え動作するための切換え手
段と、を有し、各種の放射線を検出可能としたこ
とを特徴とする半導体放射線検出器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9408487U JPS6484U (ja) | 1987-06-19 | 1987-06-19 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9408487U JPS6484U (ja) | 1987-06-19 | 1987-06-19 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6484U true JPS6484U (ja) | 1989-01-05 |
Family
ID=30957208
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9408487U Pending JPS6484U (ja) | 1987-06-19 | 1987-06-19 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6484U (ja) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6161485B2 (ja) * | 1981-11-10 | 1986-12-25 | Yazaki Corp |
-
1987
- 1987-06-19 JP JP9408487U patent/JPS6484U/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6161485B2 (ja) * | 1981-11-10 | 1986-12-25 | Yazaki Corp |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH0574794B2 (ja) | ||
DE3569025D1 (en) | Detecting arrangement of a charged particle beam's target point | |
JPS5953010U (ja) | X線断層撮影装置 | |
JPS6484U (ja) | ||
JPS6282010U (ja) | ||
JPH0220159U (ja) | ||
JPS6312179A (ja) | 放射線検出器 | |
JPS58133237A (ja) | 診断用x線ct装置 | |
JPS61235782A (ja) | エミツシヨンct装置 | |
JPH0330856U (ja) | ||
JPH0181559U (ja) | ||
JPH07111433B2 (ja) | レーザ磁気免疫測定方法及び測定装置 | |
JPH0376200U (ja) | ||
JPH0616092B2 (ja) | ポジトロンct装置のシールド装置 | |
JPS6292486U (ja) | ||
JPH03113152U (ja) | ||
JPS58112909U (ja) | X線膜厚装置 | |
JPH0627856B2 (ja) | 放射線位置検出器 | |
JP3358830B2 (ja) | 放射線画像構成装置 | |
JPH02195292A (ja) | 半導体放射線検出器 | |
JPS61129185U (ja) | ||
JPS6249779U (ja) | ||
JPS61206811U (ja) | ||
JPH0641981B2 (ja) | 放射線線量測定装置 | |
JPH0433166U (ja) |