JPS63172943U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS63172943U JPS63172943U JP6674987U JP6674987U JPS63172943U JP S63172943 U JPS63172943 U JP S63172943U JP 6674987 U JP6674987 U JP 6674987U JP 6674987 U JP6674987 U JP 6674987U JP S63172943 U JPS63172943 U JP S63172943U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- scattered light
- cell
- turbidity
- scattered
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 6
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 3
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims 8
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims 3
- 239000007787 solid Substances 0.000 claims 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
第1図は、この考案の濁度測定装置を概念的に
示す図である。 1……測定光用光源、2……コリメータ、3…
…セル、4……投射ウインドー、5……濁質粒子
、6……光路、7……90度散乱光、8……前方
散乱光、9……後方散乱光、10a,10b,1
0c……セルウインドー、12a,12b,12
c……光フアイバーケーブル、13a,13b,
13c……光遮断バルブ、14……光センサー、
15……演算手段、16……透過光ウインドー、
17……透過光セル。
示す図である。 1……測定光用光源、2……コリメータ、3…
…セル、4……投射ウインドー、5……濁質粒子
、6……光路、7……90度散乱光、8……前方
散乱光、9……後方散乱光、10a,10b,1
0c……セルウインドー、12a,12b,12
c……光フアイバーケーブル、13a,13b,
13c……光遮断バルブ、14……光センサー、
15……演算手段、16……透過光ウインドー、
17……透過光セル。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 濁質を含有する液体を収容するセル、前記
セル中に測定光を照射する光照射手段、濁質を含
有する液体を収容するセル、液体中を透過した透
過光量を検出する透過光検出手段、濁質で散乱し
た散乱光量を検出する散乱光検出手段、前記透過
光検出手段から出力される透過光量検知信号と前
記散乱光検出手段から出力される散乱光量検知信
号とから濁度を演算する演算手段とを備えた濁度
測定装置において、前記散乱光検出手段を、該濁
質による後方散乱光、90度散乱光および前方散
乱光を測定し得る位置に少なくとも一個づつ設け
てなることを特徴とする濁度測定装置。 (2) 前記90度散乱光の測定手段を測定光の直
進光路に対して直交する位置に設け、後方散乱光
の測定位置をセルの測定光投射位置と90度散乱
光測定位置との間に設け、そして、前方散乱光測
定位置を該90度散乱光測定位置と透過光の光量
の測定位置との間に設けてなる実用新案登録請求
の範囲第1項に記載の濁度測定装置。 (3) 前記測定手段が、セルに設けられたセルウ
インドー、一端が該セルウインドーに接続してい
る光フアイバーケーブルおよび該光フアイバーケ
ーブルの他端と接続している光センサーを含んで
なる実用新案登録請求の範囲第1項に記載の濁度
測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1987066749U JP2570804Y2 (ja) | 1987-05-01 | 1987-05-01 | 濁度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1987066749U JP2570804Y2 (ja) | 1987-05-01 | 1987-05-01 | 濁度測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63172943U true JPS63172943U (ja) | 1988-11-10 |
JP2570804Y2 JP2570804Y2 (ja) | 1998-05-13 |
Family
ID=30905037
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1987066749U Expired - Lifetime JP2570804Y2 (ja) | 1987-05-01 | 1987-05-01 | 濁度測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2570804Y2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02193041A (ja) * | 1989-01-21 | 1990-07-30 | Shimadzu Corp | 粒度分布測定装置 |
US11965900B2 (en) | 2018-11-09 | 2024-04-23 | Wyatt Technology, Llc | Indicating a status of an analytical instrument on a screen of the analytical instrument |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5057483A (ja) * | 1973-09-20 | 1975-05-19 | ||
JPS61139747A (ja) * | 1984-12-12 | 1986-06-27 | Canon Inc | 粒子解析装置 |
JPS61148349A (ja) * | 1984-12-22 | 1986-07-07 | Shizuoka Pref Gov | 懸濁状パルプの状態測定方法 |
-
1987
- 1987-05-01 JP JP1987066749U patent/JP2570804Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5057483A (ja) * | 1973-09-20 | 1975-05-19 | ||
JPS61139747A (ja) * | 1984-12-12 | 1986-06-27 | Canon Inc | 粒子解析装置 |
JPS61148349A (ja) * | 1984-12-22 | 1986-07-07 | Shizuoka Pref Gov | 懸濁状パルプの状態測定方法 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02193041A (ja) * | 1989-01-21 | 1990-07-30 | Shimadzu Corp | 粒度分布測定装置 |
US11965900B2 (en) | 2018-11-09 | 2024-04-23 | Wyatt Technology, Llc | Indicating a status of an analytical instrument on a screen of the analytical instrument |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2570804Y2 (ja) | 1998-05-13 |
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