JPS648413B2 - - Google Patents
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- JPS648413B2 JPS648413B2 JP55070330A JP7033080A JPS648413B2 JP S648413 B2 JPS648413 B2 JP S648413B2 JP 55070330 A JP55070330 A JP 55070330A JP 7033080 A JP7033080 A JP 7033080A JP S648413 B2 JPS648413 B2 JP S648413B2
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- vacuum
- light
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- capacitor
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Links
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01H—ELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
- H01H33/00—High-tension or heavy-current switches with arc-extinguishing or arc-preventing means
- H01H33/60—Switches wherein the means for extinguishing or preventing the arc do not include separate means for obtaining or increasing flow of arc-extinguishing fluid
- H01H33/66—Vacuum switches
- H01H33/668—Means for obtaining or monitoring the vacuum
Landscapes
- Measuring Fluid Pressure (AREA)
- High-Tension Arc-Extinguishing Switches Without Spraying Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は真空開閉器の真空度監視装置に関し、
特に真空しや断器に分担電圧均一用コンデンサを
並列接続して、該コンデンサの電圧から真空度を
検出する真空度監視装置に関する。
特に真空しや断器に分担電圧均一用コンデンサを
並列接続して、該コンデンサの電圧から真空度を
検出する真空度監視装置に関する。
一般に真空しや断器などの真空電気機器は、内
部の真空部の良否によつて能力が大きく左右され
るため真空度を監視することが必要となる。
部の真空部の良否によつて能力が大きく左右され
るため真空度を監視することが必要となる。
本出願人は既にこの種の真空電気機器の真空度
監視装置を、特願昭55−37098号にて提案してお
り、この内容の概略を簡述する。この真空度監視
装置は光源と、該光源からの光を直線偏光する偏
光子と、該偏光子からの光の偏光面角度を真空し
や断器の真空度により変化する電界に応じて変化
させるポツケルス素子と、前記偏光子の偏光面と
所定の関係にある偏光面を有すると共に前記ポツ
ケルス素子からの光を受ける検光子と、該検光子
からの光を受けとる受光部とから構成されてい
る。この種の真空度監視装置を使つた場合には、
真空しや断器の真空度と真空しや断器近傍の電界
強度には、大略比例関係が成立し、真空しや断器
近傍(但し真空度により電界強度が変化するとこ
ろ)に、上述の真空度監視装置を設置することに
より、真空度の劣化状態を非接触状態で監視する
ことができる。
監視装置を、特願昭55−37098号にて提案してお
り、この内容の概略を簡述する。この真空度監視
装置は光源と、該光源からの光を直線偏光する偏
光子と、該偏光子からの光の偏光面角度を真空し
や断器の真空度により変化する電界に応じて変化
させるポツケルス素子と、前記偏光子の偏光面と
所定の関係にある偏光面を有すると共に前記ポツ
ケルス素子からの光を受ける検光子と、該検光子
からの光を受けとる受光部とから構成されてい
る。この種の真空度監視装置を使つた場合には、
真空しや断器の真空度と真空しや断器近傍の電界
強度には、大略比例関係が成立し、真空しや断器
近傍(但し真空度により電界強度が変化するとこ
ろ)に、上述の真空度監視装置を設置することに
より、真空度の劣化状態を非接触状態で監視する
ことができる。
ところで電圧階級の高い大型の真空しや断器の
場合、真空しや断器の周辺にコンデンサを接続
し、分担電圧の均等化を計つている。こうした真
空しや断器の真空度の監視には従来コンデンサを
並列接続した真空開閉器の構造を変更するなどし
て内部の真空度の測定を行わざるを得なかつたた
め、容易に真空度の自動監視を行うことは困難で
あつた。
場合、真空しや断器の周辺にコンデンサを接続
し、分担電圧の均等化を計つている。こうした真
空しや断器の真空度の監視には従来コンデンサを
並列接続した真空開閉器の構造を変更するなどし
て内部の真空度の測定を行わざるを得なかつたた
め、容易に真空度の自動監視を行うことは困難で
あつた。
本発明は上記の点に鑑みてなされたもので、電
圧分担均一用コンデンサを有する真空開閉器の真
空度の監視に、既に本出願人によつて提案されて
いる上述の真空度監視装置を使うことにより上述
の問題点を解決した真空開閉器の真空度監視装置
を提供することを目的としている。
圧分担均一用コンデンサを有する真空開閉器の真
空度の監視に、既に本出願人によつて提案されて
いる上述の真空度監視装置を使うことにより上述
の問題点を解決した真空開閉器の真空度監視装置
を提供することを目的としている。
以下本発明の一実施例を添附された図面と共に
説明する。
説明する。
電圧階級の高い真空しや断器では第1図に示さ
れるように真空しや断器の周辺にコンデンサを接
続し、分担電圧の均等化を計つている。第1図に
おいて、1は固定電極、2は可動電極、3はベロ
ーズ、4は固定フランジ板、5は可動フランジ
板、6はシールド板、7は絶縁筒、8は分担電圧
均一化コンデンサである。
れるように真空しや断器の周辺にコンデンサを接
続し、分担電圧の均等化を計つている。第1図に
おいて、1は固定電極、2は可動電極、3はベロ
ーズ、4は固定フランジ板、5は可動フランジ
板、6はシールド板、7は絶縁筒、8は分担電圧
均一化コンデンサである。
第2図は第1図に示される周囲に分担電圧均一
化コンデンサを設けた真空しや断器の閉極時の等
価回路を示している。第2図において、9は商用
電源、10は負荷、11は電極―シールド間抵
抗、12は電極―シールド間コンデンサ、13は
絶縁筒抵抗、14はシールドアース間の浮遊容量
である。
化コンデンサを設けた真空しや断器の閉極時の等
価回路を示している。第2図において、9は商用
電源、10は負荷、11は電極―シールド間抵
抗、12は電極―シールド間コンデンサ、13は
絶縁筒抵抗、14はシールドアース間の浮遊容量
である。
ところで電極―シールド間静電容量12は真空
度によらず一定(ε真空=ε大気=1、εは比誘
電率)であるが、電極―シールド間抵抗11は真
空度に対して依存性があり、真空度が低下し放電
電流が流れ始めると急激に抵抗11は小さくな
り、真空しや断器各部の分担電圧は変化する。即
ち真空度が良い状態では略第2図のAB間で電圧
分担しているが、真空度が低下し放電が開始する
とBC間の電圧分担が大きくなる。従つて真空し
や断器に並列に接続されているコンデンサの分担
電圧(VBD)は大きくなる。この関係は閉極状態
のみならず、開極状態に於いても大略同様な関係
が成立し、分担電圧均一用コンデンサの電圧を監
視することにより真空度の監視を行うことができ
る。
度によらず一定(ε真空=ε大気=1、εは比誘
電率)であるが、電極―シールド間抵抗11は真
空度に対して依存性があり、真空度が低下し放電
電流が流れ始めると急激に抵抗11は小さくな
り、真空しや断器各部の分担電圧は変化する。即
ち真空度が良い状態では略第2図のAB間で電圧
分担しているが、真空度が低下し放電が開始する
とBC間の電圧分担が大きくなる。従つて真空し
や断器に並列に接続されているコンデンサの分担
電圧(VBD)は大きくなる。この関係は閉極状態
のみならず、開極状態に於いても大略同様な関係
が成立し、分担電圧均一用コンデンサの電圧を監
視することにより真空度の監視を行うことができ
る。
第3図は上述の真空度監視装置の基本構成を示
しており、15は光源、16は該光源からの光を
直線偏光する偏光子、17は該偏光子16からの
光の偏光面角度を真空しや断器の真空度により変
化する電界に応じて変化させるポツケルス素子、
18は前記偏光子の偏光面と所定の関係にある偏
光面を有すると共に前記ポツケルス素子からの光
を受ける検光子、19は該検光子18からの光を
受けとり所定の電気信号に変換する光―電気変換
部を兼ねた受光部である。上述のように構成され
ているので、ポツケルス素子17に光路と並行
(縦型構造)又は垂直方向(横型構造)に電圧
(電界)を印加することにより、検光子18の出
力光量が変化し、光―電気信号変換部で電気信号
として出力される。第3図の構成では偏光子の偏
光面と検光子の偏光面が垂直になるように配設さ
れているので、電圧が印加されると検光子出力が
大きくなる。
しており、15は光源、16は該光源からの光を
直線偏光する偏光子、17は該偏光子16からの
光の偏光面角度を真空しや断器の真空度により変
化する電界に応じて変化させるポツケルス素子、
18は前記偏光子の偏光面と所定の関係にある偏
光面を有すると共に前記ポツケルス素子からの光
を受ける検光子、19は該検光子18からの光を
受けとり所定の電気信号に変換する光―電気変換
部を兼ねた受光部である。上述のように構成され
ているので、ポツケルス素子17に光路と並行
(縦型構造)又は垂直方向(横型構造)に電圧
(電界)を印加することにより、検光子18の出
力光量が変化し、光―電気信号変換部で電気信号
として出力される。第3図の構成では偏光子の偏
光面と検光子の偏光面が垂直になるように配設さ
れているので、電圧が印加されると検光子出力が
大きくなる。
すなわち、光源15より発せられた光は偏光子
16に送られ、偏光子16により水平方向又は垂
直方向に直線偏光される。17は真空しや断器の
外部側近傍の電界を水平方向又は垂直方向に加え
られたポツケルス素子(電界Eの方向はポツケル
ス素子の結晶軸により定める。)で、ポツケルス
素子17は電界の大きさに応じて偏光子16から
の光の偏光面角度を変化させる。次にポツケルス
素子17からの光は偏光面が偏光子16の偏光面
と直角又は平行な関係にある検光子18に加えら
れ、この検光子18を通過した光は光の量に応じ
た電気信号を出す光―電気変換部19に加えられ
る。真空しや断器の真空度が良好な場合には電界
が小さく、真空度が不良即ち劣化すると電界が上
昇する。従つて、ポツケルス素子17における光
の偏光面の変化角は真空度が良好な場合は小さ
く、真空度が不良になると大きくなる。このた
め、検光子18の偏光面と偏光子16の偏光面が
直角な場合には真空度が不良になると検光子18
を通過する光の量は大きくなり、光―電気変換部
19の出力が変化する。又、検光子18の偏光面
と偏光子16の偏光面が平行な場合には真空度が
不良になると検光子18を経過する光の量は小さ
くなり、光―電気変換部の出力が小さくなる。こ
のため、光―電気変換部25の出力を受けた真空
度判定部19の出力が急激に大きく又は小さくな
つたことにより真空度劣化を検知して警報や表示
のための出力を出す。
16に送られ、偏光子16により水平方向又は垂
直方向に直線偏光される。17は真空しや断器の
外部側近傍の電界を水平方向又は垂直方向に加え
られたポツケルス素子(電界Eの方向はポツケル
ス素子の結晶軸により定める。)で、ポツケルス
素子17は電界の大きさに応じて偏光子16から
の光の偏光面角度を変化させる。次にポツケルス
素子17からの光は偏光面が偏光子16の偏光面
と直角又は平行な関係にある検光子18に加えら
れ、この検光子18を通過した光は光の量に応じ
た電気信号を出す光―電気変換部19に加えられ
る。真空しや断器の真空度が良好な場合には電界
が小さく、真空度が不良即ち劣化すると電界が上
昇する。従つて、ポツケルス素子17における光
の偏光面の変化角は真空度が良好な場合は小さ
く、真空度が不良になると大きくなる。このた
め、検光子18の偏光面と偏光子16の偏光面が
直角な場合には真空度が不良になると検光子18
を通過する光の量は大きくなり、光―電気変換部
19の出力が変化する。又、検光子18の偏光面
と偏光子16の偏光面が平行な場合には真空度が
不良になると検光子18を経過する光の量は小さ
くなり、光―電気変換部の出力が小さくなる。こ
のため、光―電気変換部25の出力を受けた真空
度判定部19の出力が急激に大きく又は小さくな
つたことにより真空度劣化を検知して警報や表示
のための出力を出す。
なお、実際には光を空気中に伝送させると、空
気中では空気の揺らぎなどにより偏光面が変化し
てしまい、安定した測定が出来ないこと及び光路
を自由にとることが難しい為光フアイバーを用い
て行う。具体例として横型構造の一例の電界検出
部24が第4図に示されており、同図において第
3図と同一符号は同一物を示しており、20はタ
ツプ、21は電極、22は光フアイバー、23は
常温硬化型又は熱硬化型高分子材料であつて、ポ
ツケルス素子17を偏光子16、検光子18でサ
ンドイツチにし、光フアイバー22が偏光子1
6、検光子18に密着されている。又、ポツケル
ス素子17の電極21が光路と直角方向に取り付
けられ、これら全体を高分子材料23でモールド
成形している。
気中では空気の揺らぎなどにより偏光面が変化し
てしまい、安定した測定が出来ないこと及び光路
を自由にとることが難しい為光フアイバーを用い
て行う。具体例として横型構造の一例の電界検出
部24が第4図に示されており、同図において第
3図と同一符号は同一物を示しており、20はタ
ツプ、21は電極、22は光フアイバー、23は
常温硬化型又は熱硬化型高分子材料であつて、ポ
ツケルス素子17を偏光子16、検光子18でサ
ンドイツチにし、光フアイバー22が偏光子1
6、検光子18に密着されている。又、ポツケル
ス素子17の電極21が光路と直角方向に取り付
けられ、これら全体を高分子材料23でモールド
成形している。
次に実際にコンデンサ分担電圧を測定する具体
的な構成を第5図及び第6図に示す。これらの図
において第3図、第4図と同一符号は同一物を示
している。第5図に示される場合は、コンデンサ
と並列に電界検出部24を接続する方式で、この
方式に於いては分担用コンデンサ容量と電界検出
部24の静電容量の比は電界検出部24に印加さ
れる電圧と検出部の絶縁強度との関係から最適な
値になるように選ばれている。真空しや断器の沿
面電圧は各分担電圧均一化コンデンサによつて電
界検出部の耐電圧に見合つた電圧に分担される。
前述のように、真空しや断器の真空度が低下する
とコンデンサの分担電圧(VBD)が大きくなる。
電圧検出部24はコンデンサの分担電圧の変化を
光量の変化として検出し、この検出信号を光フア
イバー24を介して光―電気変換部19に入力す
る。光―電気変換部24は光信号を電気信号に変
換し、この電気信号を真空度良否判定部25に入
力する。
的な構成を第5図及び第6図に示す。これらの図
において第3図、第4図と同一符号は同一物を示
している。第5図に示される場合は、コンデンサ
と並列に電界検出部24を接続する方式で、この
方式に於いては分担用コンデンサ容量と電界検出
部24の静電容量の比は電界検出部24に印加さ
れる電圧と検出部の絶縁強度との関係から最適な
値になるように選ばれている。真空しや断器の沿
面電圧は各分担電圧均一化コンデンサによつて電
界検出部の耐電圧に見合つた電圧に分担される。
前述のように、真空しや断器の真空度が低下する
とコンデンサの分担電圧(VBD)が大きくなる。
電圧検出部24はコンデンサの分担電圧の変化を
光量の変化として検出し、この検出信号を光フア
イバー24を介して光―電気変換部19に入力す
る。光―電気変換部24は光信号を電気信号に変
換し、この電気信号を真空度良否判定部25に入
力する。
第7図は複数本直列接続して使用する場合につ
いての実施例を示しており、1相分が2本で構成
されている開閉器を2本一括して真空度の監視を
行う方式が示されており、この実施例では電界検
出部24の偏光子16と検光子18の偏光面は一
致している。又この第7図の例では電界検出部2
4がコンデンサと並列に接続されているが、上述
したようにコンデンサと直列に接続してもよい。
なお、上記第5図〜第7図に示される実施例と
も、電界検出部24で真空度に対応した電界変化
としてとりだし、光―電気変換部19で所要の電
気出力に変換して、この電気出力に基づいて真空
度良否判定部25で真空度の判定を行い、この判
定結果に基づいて警報したり、表示を行つて真空
度の監視を行つている。
いての実施例を示しており、1相分が2本で構成
されている開閉器を2本一括して真空度の監視を
行う方式が示されており、この実施例では電界検
出部24の偏光子16と検光子18の偏光面は一
致している。又この第7図の例では電界検出部2
4がコンデンサと並列に接続されているが、上述
したようにコンデンサと直列に接続してもよい。
なお、上記第5図〜第7図に示される実施例と
も、電界検出部24で真空度に対応した電界変化
としてとりだし、光―電気変換部19で所要の電
気出力に変換して、この電気出力に基づいて真空
度良否判定部25で真空度の判定を行い、この判
定結果に基づいて警報したり、表示を行つて真空
度の監視を行つている。
第8図は本発明を2本直列に接続された分担電
圧均一化コンデンサ付真空しや断器26の3相分
(U、V、W)に実施した例を示しており、第9
図は第8図における真空度監視装置のブロツク構
成図であり、上述した実施例で使用した符号と同
一符号は同一物を示している。
圧均一化コンデンサ付真空しや断器26の3相分
(U、V、W)に実施した例を示しており、第9
図は第8図における真空度監視装置のブロツク構
成図であり、上述した実施例で使用した符号と同
一符号は同一物を示している。
入力側の偏光子付ポツケルス素子電界検出部2
7と出力側の検光子付ポツケルス素子電界検出部
29及び中間のポツケルス素子電界検出部28
が、夫々真空しや断器の図示されない電極と光フ
アイバー22と共に一体にモールド成形されてい
る。この実施例においても前述した実施例と同様
に偏光子16と検光子18の偏光面は直角又は並
行のいずれでも良く、6本の真空しや断器の開閉
極のいずれの時でも真空度の監視ができる。
7と出力側の検光子付ポツケルス素子電界検出部
29及び中間のポツケルス素子電界検出部28
が、夫々真空しや断器の図示されない電極と光フ
アイバー22と共に一体にモールド成形されてい
る。この実施例においても前述した実施例と同様
に偏光子16と検光子18の偏光面は直角又は並
行のいずれでも良く、6本の真空しや断器の開閉
極のいずれの時でも真空度の監視ができる。
本発明に係る実施例は上記のように構成されて
いるので以下のような効果を有する。
いるので以下のような効果を有する。
(1) 電圧分担均一用コンデンサを有する真空開閉
器の構造を変更することなく、真空度の自動監
視ができる。
器の構造を変更することなく、真空度の自動監
視ができる。
(2) 光フアイバーで接地側と高圧部である真空し
や断器近傍に設置される電界検出部との絶縁が
容易にとれるので、電圧階級に関係なく真空度
の監視ができる。
や断器近傍に設置される電界検出部との絶縁が
容易にとれるので、電圧階級に関係なく真空度
の監視ができる。
(3) 電界検出部は従来の高電圧用セラミツクコン
デンサと同様な構造にできるので、この電界検
出部を分担電圧均一用のコンデンサに直列もし
くは並列に取付けることは極めて容易である。
デンサと同様な構造にできるので、この電界検
出部を分担電圧均一用のコンデンサに直列もし
くは並列に取付けることは極めて容易である。
(4) 高圧部である真空しや断器近傍に配設される
部品は、すべて受動素子であり、特にポツケル
ス素子へ採用により真空度の変化を光/電気変
換して読みとれるので、良好な絶縁性及び耐ノ
イズ性により信頼性を高くとれる。
部品は、すべて受動素子であり、特にポツケル
ス素子へ採用により真空度の変化を光/電気変
換して読みとれるので、良好な絶縁性及び耐ノ
イズ性により信頼性を高くとれる。
(5) 本発明に係る真空度監視装置によれば、真空
しや断器の開極、閉極のいずれの場合も常時監
視ができる。
しや断器の開極、閉極のいずれの場合も常時監
視ができる。
(6) 一相分が複数本直列に接続構成されている真
空開閉器を1閉路、即ち複数本一括監視するこ
とにより監視システムが簡略化され経済的に有
利である。
空開閉器を1閉路、即ち複数本一括監視するこ
とにより監視システムが簡略化され経済的に有
利である。
以上説明してきたように本発明に係る真空開閉
器の真空度監視装置は、真空しや断器に分担電圧
均一用コンデンサを並列接続し、該コンデンサの
電圧から前記真空しや断器の真空度を検出する装
置において、光源と受光部との間に光フアイバー
を介して少くとも2個の偏光板を介在し、該偏光
板間にポツケルス素子を配置したので、電圧分担
均一用コンデンサを設けた真空開閉器の構造を変
更することなく非接触状態で真空度の自動監視で
きる。又真空度の劣化をポツケルス素子で光/電
気変換しているので信頼性が極めて高い。
器の真空度監視装置は、真空しや断器に分担電圧
均一用コンデンサを並列接続し、該コンデンサの
電圧から前記真空しや断器の真空度を検出する装
置において、光源と受光部との間に光フアイバー
を介して少くとも2個の偏光板を介在し、該偏光
板間にポツケルス素子を配置したので、電圧分担
均一用コンデンサを設けた真空開閉器の構造を変
更することなく非接触状態で真空度の自動監視で
きる。又真空度の劣化をポツケルス素子で光/電
気変換しているので信頼性が極めて高い。
第1図は分担電圧均一化コンデンサを備えた真
空しや断器の概略図であり、第2図は第1図の等
価回路図であり、第3図は本発明に係る真空度監
視装置の基本構成図であり、第4図は本発明を具
体的な横型構造に適用した概略断面図であり、第
5図は分担電圧均一化コンデンサと並列に本発明
に係る真空度監視装置の電界検出部を接続した場
合の概略図であり、第6図は分担電圧均一化コン
デンサと直列に本発明に係る真空度監視装置の電
界検出部を接続した場合の概略図であり、第7図
は1相分が2本で構成されている真空しや断器を
2本一括して真空度の監視を行う場合の概略図で
あり、第8図は真空しや断器を2本直列に接続さ
れた真空しや断器3相分に本発明を実施した場合
の概略図であり、第9図は第8図における真空度
監視装置のブロツク構成図である。 8……分担電圧均一化コンデンサ、15……光
源、16……偏光子、17……ポツケルス素子、
18……検光子、19……受光部(光―電気変換
部)、22……光フアイバー、24……電界検出
部、25……真空度良否判定部。
空しや断器の概略図であり、第2図は第1図の等
価回路図であり、第3図は本発明に係る真空度監
視装置の基本構成図であり、第4図は本発明を具
体的な横型構造に適用した概略断面図であり、第
5図は分担電圧均一化コンデンサと並列に本発明
に係る真空度監視装置の電界検出部を接続した場
合の概略図であり、第6図は分担電圧均一化コン
デンサと直列に本発明に係る真空度監視装置の電
界検出部を接続した場合の概略図であり、第7図
は1相分が2本で構成されている真空しや断器を
2本一括して真空度の監視を行う場合の概略図で
あり、第8図は真空しや断器を2本直列に接続さ
れた真空しや断器3相分に本発明を実施した場合
の概略図であり、第9図は第8図における真空度
監視装置のブロツク構成図である。 8……分担電圧均一化コンデンサ、15……光
源、16……偏光子、17……ポツケルス素子、
18……検光子、19……受光部(光―電気変換
部)、22……光フアイバー、24……電界検出
部、25……真空度良否判定部。
Claims (1)
- 1 真空部内に電圧電流が印加される導体を備
え、この導体と絶縁されているとともに真空ギヤ
ツプを介して対向する金属部材を有する真空しや
断器の該導体と金属部材間に分担電圧均一化用の
コンデンサを電気的に接続して、前記真空しや断
器の外部沿面電圧を均一化するようにした真空開
閉器において、前記コンデンサと電気的に接続さ
れ、該コンデンサの分担電圧の大きさに応じて偏
光角度を変化させるポツケル素子と、該ポツケル
素子の光源側の面に接合され光源から光フアイバ
ーを通して入光する光を直接偏光する偏光子と、
該偏光子の光出力側の面に接合された検光子と、
該検光子に光フアイバーを介して光学的に接続さ
れた光―電気変換部と、該光―電気変換部の電気
出力信号を入力として前記真空部の真空度の良否
を判定する真空度良否判定部によつて構成したこ
とを特徴とする真空開閉器の真空度監視装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7033080A JPS56167221A (en) | 1980-05-27 | 1980-05-27 | Vacuum degree monitor for vacuum switch |
EP81301994A EP0040918B1 (en) | 1980-05-27 | 1981-05-06 | A vacuum circuit interrupter with a pressure monitoring system |
DE8181301994T DE3165826D1 (en) | 1980-05-27 | 1981-05-06 | A vacuum circuit interrupter with a pressure monitoring system |
US06/267,331 US4398187A (en) | 1980-05-27 | 1981-05-26 | Pressure monitoring system for a vacuum circuit interrupter |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7033080A JPS56167221A (en) | 1980-05-27 | 1980-05-27 | Vacuum degree monitor for vacuum switch |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS56167221A JPS56167221A (en) | 1981-12-22 |
JPS648413B2 true JPS648413B2 (ja) | 1989-02-14 |
Family
ID=13428305
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7033080A Granted JPS56167221A (en) | 1980-05-27 | 1980-05-27 | Vacuum degree monitor for vacuum switch |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
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EP (1) | EP0040918B1 (ja) |
JP (1) | JPS56167221A (ja) |
DE (1) | DE3165826D1 (ja) |
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US4616215A (en) * | 1984-07-31 | 1986-10-07 | Maddalena's, Inc. | Vacuum monitoring and signaling apparatus |
US4737775A (en) * | 1984-12-14 | 1988-04-12 | Kabushiki Kaisha Meidensha | Insulation deterioration monitoring apparatus |
US5093657A (en) * | 1989-11-29 | 1992-03-03 | Abb Power T&D Company | Distribution cutout condition sensor |
US5502435A (en) * | 1994-04-06 | 1996-03-26 | Ralston; Douglas E. | Method and system for monitoring circuit breaker gas pressure |
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CN102324337A (zh) * | 2011-08-05 | 2012-01-18 | 安徽鑫龙电器股份有限公司 | 一种具有真空度在线监测功能的断路器及其监测方法 |
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FR1484684A (fr) * | 1966-03-16 | 1967-06-16 | Merlin Gerin | Réducteurs de tension électro-optiques |
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US3411038A (en) * | 1966-07-22 | 1968-11-12 | Gen Electric | Vacuum-type circuit interrupter |
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DE2002685A1 (de) * | 1969-07-30 | 1971-03-25 | Inst Prueffeld Fuer Elek Sche | Verfahren und Vorrichtung zur Pruefung des Gasdruckes in Vakuumschaltkammern |
US3680071A (en) * | 1970-12-24 | 1972-07-25 | Westinghouse Electric Corp | Voltage indicator for high voltage switchgear |
SE410067B (sv) * | 1974-04-02 | 1979-09-17 | Siemens Ag | Anordning for detektering av bristande driftsduglighet for vakuum-brytkamrar |
US4021702A (en) * | 1974-04-02 | 1977-05-03 | Siemens Aktiengesellschaft | Arrangement for detecting deficient operational capability of vacuum switching vessels |
US4163130A (en) * | 1975-07-25 | 1979-07-31 | Hitachi, Ltd. | Vacuum interrupter with pressure monitoring means |
US4103291A (en) * | 1976-09-30 | 1978-07-25 | Howe Francis M | Leak sensor and indicating system for vacuum circuit interrupters |
US4096366A (en) * | 1976-11-01 | 1978-06-20 | General Electric Company | Means for detecting a loss of vacuum in vacuum-type circuit interrupters used in polyphase a.c. vacuum circuit breaker |
-
1980
- 1980-05-27 JP JP7033080A patent/JPS56167221A/ja active Granted
-
1981
- 1981-05-06 DE DE8181301994T patent/DE3165826D1/de not_active Expired
- 1981-05-06 EP EP81301994A patent/EP0040918B1/en not_active Expired
- 1981-05-26 US US06/267,331 patent/US4398187A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS56167221A (en) | 1981-12-22 |
US4398187A (en) | 1983-08-09 |
DE3165826D1 (en) | 1984-10-11 |
EP0040918A1 (en) | 1981-12-02 |
EP0040918B1 (en) | 1984-09-05 |
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