JPS647344B2 - - Google Patents
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- JPS647344B2 JPS647344B2 JP3611486A JP3611486A JPS647344B2 JP S647344 B2 JPS647344 B2 JP S647344B2 JP 3611486 A JP3611486 A JP 3611486A JP 3611486 A JP3611486 A JP 3611486A JP S647344 B2 JPS647344 B2 JP S647344B2
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- Japan
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- wave
- frequency
- circuit
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- pulse
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 10
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 claims 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 8
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 4
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000003708 edge detection Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Measuring Phase Differences (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は電波の位相を測定するための位相測
定回路に関するものである。従来、電波の位相乃
至位相差を測定する方法として、例えばバランス
トミキサの如き位相検波器を用い位相差に対応し
たアナログ電圧値を得て、これで位相差を測定す
る方法があるが、この方法では位相検波器やその
周辺回路の位相のゆらぎから高々数十度の測定精
度した得られない。さらにまたヒユーレツトパツ
カード社製ベクトルボルトメータHP−8405の如
く測定精度を高めるためミキサー用パルス発振器
のクロツクパルス毎に基準波並びに被測定波をサ
ンプルホールドする方法もある。すなわちサンプ
ルホールドすることにより基準波並びに被測定波
を底い周波数波に変換して位相検波器にかけるこ
とにより、もとの周波数波の位相差に対応する時
間差を拡大し、この時間差に対応して定電流回路
の出力ゲートを開閉し、積分回路を通して出力メ
ータを振らしている。この場合の測定精度は数度
となる。しかし、更に高い測定精度を得ることは
上記のアナログ的な方法では電源変動に起因する
定電流回路や積分回路の不安定性等から困難であ
つた。
定回路に関するものである。従来、電波の位相乃
至位相差を測定する方法として、例えばバランス
トミキサの如き位相検波器を用い位相差に対応し
たアナログ電圧値を得て、これで位相差を測定す
る方法があるが、この方法では位相検波器やその
周辺回路の位相のゆらぎから高々数十度の測定精
度した得られない。さらにまたヒユーレツトパツ
カード社製ベクトルボルトメータHP−8405の如
く測定精度を高めるためミキサー用パルス発振器
のクロツクパルス毎に基準波並びに被測定波をサ
ンプルホールドする方法もある。すなわちサンプ
ルホールドすることにより基準波並びに被測定波
を底い周波数波に変換して位相検波器にかけるこ
とにより、もとの周波数波の位相差に対応する時
間差を拡大し、この時間差に対応して定電流回路
の出力ゲートを開閉し、積分回路を通して出力メ
ータを振らしている。この場合の測定精度は数度
となる。しかし、更に高い測定精度を得ることは
上記のアナログ的な方法では電源変動に起因する
定電流回路や積分回路の不安定性等から困難であ
つた。
本発明の目的は比較的簡単な回路で高い測定精
度を得る位相測定回路を提供することにある。
度を得る位相測定回路を提供することにある。
以下、図面を用いて本発明を詳細に説明する。
第1図は本発明に関連した回路例である。例えば
端子13には基準波sin(ωst+φ1)が、端子14
には被測定波sin(ωst+φ2)が接続され、局発波
SINωLtの発振源(以下局発源と略称する)7か
らの出力と周波数混合器1および2にてそれぞれ
混合されて後、底域波器3および4を通り、
各々の差周波数波sin{(ωs−ωL)t+φ1}、sin
{(ωs−ωL)t+φ2}となる。ここで基準波と被
測定波の位相差(φ1−φ2)に対応する時間差は
φ1−φ2/ωsからφ1−φ2/ωs−ωLへとωs/ωs−
ωL倍に拡大さ れている。(第3図a,bを参照されたい。) 5は波形変換回路で第2図のごとくリミツタア
ンプ15、シユミツト回路16、立上り検出回路
17より例えば第3図cの如き立上り検出パルス
を作る。同様にもう一つの波形変換回路6は第3
図fの如き立上り検出パルスを作る。この2つの
立上がり検出パルスはセツト・リセツト・フリツ
プフロツプ(FF)8のS端子およびR端子にそ
れぞれ供給されて第3図gに示す如く位相差
(φ1−φ2)に対応する時間差|φ1−φ2/ωs−ωL|
をパル ス巾とするパルス列つくる。パルス発生器9は第
3図hのごとく所望の測定精度τ(sec)より充分
狭いパルス間隔Δt(sec)を有するパルス列を発
生し、第3図gの時間差パルス列とアンド回路1
0で論理積をとられて第3図iに示すバースト状
のパルス列群を得る。パルス計数回路11は第3
図cに示すパルスでリセツトを受け第3図iに示
すパルス列を各群毎に計数する。この計数結果は
出力部12にて数表示又はグラフイツク表示もし
くはアナログ出力される。
第1図は本発明に関連した回路例である。例えば
端子13には基準波sin(ωst+φ1)が、端子14
には被測定波sin(ωst+φ2)が接続され、局発波
SINωLtの発振源(以下局発源と略称する)7か
らの出力と周波数混合器1および2にてそれぞれ
混合されて後、底域波器3および4を通り、
各々の差周波数波sin{(ωs−ωL)t+φ1}、sin
{(ωs−ωL)t+φ2}となる。ここで基準波と被
測定波の位相差(φ1−φ2)に対応する時間差は
φ1−φ2/ωsからφ1−φ2/ωs−ωLへとωs/ωs−
ωL倍に拡大さ れている。(第3図a,bを参照されたい。) 5は波形変換回路で第2図のごとくリミツタア
ンプ15、シユミツト回路16、立上り検出回路
17より例えば第3図cの如き立上り検出パルス
を作る。同様にもう一つの波形変換回路6は第3
図fの如き立上り検出パルスを作る。この2つの
立上がり検出パルスはセツト・リセツト・フリツ
プフロツプ(FF)8のS端子およびR端子にそ
れぞれ供給されて第3図gに示す如く位相差
(φ1−φ2)に対応する時間差|φ1−φ2/ωs−ωL|
をパル ス巾とするパルス列つくる。パルス発生器9は第
3図hのごとく所望の測定精度τ(sec)より充分
狭いパルス間隔Δt(sec)を有するパルス列を発
生し、第3図gの時間差パルス列とアンド回路1
0で論理積をとられて第3図iに示すバースト状
のパルス列群を得る。パルス計数回路11は第3
図cに示すパルスでリセツトを受け第3図iに示
すパルス列を各群毎に計数する。この計数結果は
出力部12にて数表示又はグラフイツク表示もし
くはアナログ出力される。
かくして位相差φ1−φ2に対応する出力が得ら
れる。位相差を表示する単位として、時間
(sec)、ラジアル、度、等のどれを用いるかによ
つて表示出力部の表示部分のスケールおよび単位
や回路構成定数は変化する。次に被測定周波数が
可変の場合の本発明に関連した回路例を第4図に
示す。周波数混合器1および2の出力周波数が一
定周波数となるようフエイズロツクループ
(PLL)型局部発振器を使用することにより複雑
な較正回路なしに容易にラジアン、度単位の位相
差を算出できる。すなわち第4図において基準周
波数の発振源21、位相比較回路19の出力に比
例して被測定周波数との差周波数を発生する電圧
制御発振器20と、周波数混合器1または2とか
ら成るPLL回路により周波数混合器1または2
の出力周波数を常に一定にすることが可能で、こ
の場合には被測定周波数が変化しても第3図gに
示す位相差に対応するパルス時間巾φ1−φ2/ω0は φ1−φ2が一定ならば一定となるので、位相差を
ラジアン乃至度単位で出力することが可能であ
る。
れる。位相差を表示する単位として、時間
(sec)、ラジアル、度、等のどれを用いるかによ
つて表示出力部の表示部分のスケールおよび単位
や回路構成定数は変化する。次に被測定周波数が
可変の場合の本発明に関連した回路例を第4図に
示す。周波数混合器1および2の出力周波数が一
定周波数となるようフエイズロツクループ
(PLL)型局部発振器を使用することにより複雑
な較正回路なしに容易にラジアン、度単位の位相
差を算出できる。すなわち第4図において基準周
波数の発振源21、位相比較回路19の出力に比
例して被測定周波数との差周波数を発生する電圧
制御発振器20と、周波数混合器1または2とか
ら成るPLL回路により周波数混合器1または2
の出力周波数を常に一定にすることが可能で、こ
の場合には被測定周波数が変化しても第3図gに
示す位相差に対応するパルス時間巾φ1−φ2/ω0は φ1−φ2が一定ならば一定となるので、位相差を
ラジアン乃至度単位で出力することが可能であ
る。
次に本発明の第1の実施例を第5図に示す。第
5図では第1図の局発源7の代りに被測定波ωs
に比例する周波数ωL=n/mωsの局発波をつくる 周波数変換回路23を用いている。この場合には
時間拡大率m/m−nが常に一定となり、被測定波 と基準波の位相差を時間の単位で出力する場合に
は出力部12の回路は簡単になる。
5図では第1図の局発源7の代りに被測定波ωs
に比例する周波数ωL=n/mωsの局発波をつくる 周波数変換回路23を用いている。この場合には
時間拡大率m/m−nが常に一定となり、被測定波 と基準波の位相差を時間の単位で出力する場合に
は出力部12の回路は簡単になる。
第6図は、本発明の第2の実施例であり、位相
差をラジアン乃至度単位で出力する場合に用いら
れ、これにより出力部12の回路は簡単になる。
すなわち第6図に示す回路においては第5図の9
の代りに被測定周波数に応じた電圧を出力するデ
イスクリミネータ18と電圧制御型のパルス発振
器22を用いることにより1/Δt=αωsなるパルス 間隔のパルス列を得ることができ、位相差に対応
する時間差φ1−φ2/ωs−ωL=(φ1−φ2)1/ωs
m/m−n (但し第5図の場合と同様にωL=n/mωsが成立つ ている。)をこのパルス列で計数すれば計数結果
は(φ1−φ2)m/m−nαとなり、ラジアン乃至度 単位での位相差出力が簡単に得られることとな
る。また、第6図では第4図と同様に被測定周波
数が可変の場合に用いることができる。
差をラジアン乃至度単位で出力する場合に用いら
れ、これにより出力部12の回路は簡単になる。
すなわち第6図に示す回路においては第5図の9
の代りに被測定周波数に応じた電圧を出力するデ
イスクリミネータ18と電圧制御型のパルス発振
器22を用いることにより1/Δt=αωsなるパルス 間隔のパルス列を得ることができ、位相差に対応
する時間差φ1−φ2/ωs−ωL=(φ1−φ2)1/ωs
m/m−n (但し第5図の場合と同様にωL=n/mωsが成立つ ている。)をこのパルス列で計数すれば計数結果
は(φ1−φ2)m/m−nαとなり、ラジアン乃至度 単位での位相差出力が簡単に得られることとな
る。また、第6図では第4図と同様に被測定周波
数が可変の場合に用いることができる。
なお、以上の説明では周波数混合器1および2
は例えばバランストミキサのごときものとして説
明したが、sinωLtの局発源7の代りにパルス間
隔1/ωLのパルス発振器を用い、周波数混合器1お よび2の代りにサンプルホールド回路を用いても
低域波器3および4の出力には第3図aおよび
dに示すビートダウン出力が得られる。またその
パルス発生器として入力周波数ωsから周波数変
換して得られたものを使用すれば出力部12にお
いて時間単位の換算回路は簡単になる。
は例えばバランストミキサのごときものとして説
明したが、sinωLtの局発源7の代りにパルス間
隔1/ωLのパルス発振器を用い、周波数混合器1お よび2の代りにサンプルホールド回路を用いても
低域波器3および4の出力には第3図aおよび
dに示すビートダウン出力が得られる。またその
パルス発生器として入力周波数ωsから周波数変
換して得られたものを使用すれば出力部12にお
いて時間単位の換算回路は簡単になる。
このようにして得られた高精度の位相測定回路
は単に室内における計測だけではなく、例えば移
動物体(車輛、船舶、航空機等)の位置検知シス
テムにおいても大変有用である。
は単に室内における計測だけではなく、例えば移
動物体(車輛、船舶、航空機等)の位置検知シス
テムにおいても大変有用である。
第1図および第4図は本発明に関連した回路
例、第5図および第6図は本発明の位相測定回路
の実施例である。第2図は第1図、第4図乃至第
6図の波形変換回路5の詳細図である。第3図は
第1図の回路例のタイムチヤート図である。なお
図において、1,2……周波数混合器、3,4…
…低域波器、5,6……波形変換回路、7……
局発源、8……セツトリセツトフリツプフロツプ
回路、9……パルス発生器、10……アンド回
路、11……パルスカウンタ、12……出力部、
13,14……入力端子、15……リミツタアン
プ、16……シユミツト回路、17……立上り検
出回路、18……デイスクリミネータ、19……
位相比較回路、20……電圧制御発振器、21…
…発振源、22……電圧制御パルス発振器、23
……周波数変換回路。
例、第5図および第6図は本発明の位相測定回路
の実施例である。第2図は第1図、第4図乃至第
6図の波形変換回路5の詳細図である。第3図は
第1図の回路例のタイムチヤート図である。なお
図において、1,2……周波数混合器、3,4…
…低域波器、5,6……波形変換回路、7……
局発源、8……セツトリセツトフリツプフロツプ
回路、9……パルス発生器、10……アンド回
路、11……パルスカウンタ、12……出力部、
13,14……入力端子、15……リミツタアン
プ、16……シユミツト回路、17……立上り検
出回路、18……デイスクリミネータ、19……
位相比較回路、20……電圧制御発振器、21…
…発振源、22……電圧制御パルス発振器、23
……周波数変換回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 同一周波数の基準波と被測定波の位相差を測
定する位相測定回路において、前記基準波に応答
し前記周波数のn/m倍(n、mは整数)の周波数
を出力とする局部発振器と、前記局部発振器の出
力波と前記基準波との差周波数及び前記局部発振
器の出力波と被測定波の差周波数波を得るための
2つの周波数混合器と、前記2つの差周波数波の
位相差に相当するパルス巾をもつパルスを作る回
路と、パルス発振器と、前記回路の出力パルスで
前記パルス発振器の出力パルスの通過あるいは阻
止を制御する制御回路と、前記制御回路の出力パ
ルス数を計測するデジタル計数回路を含むことを
特徴とする位相測定回路。 2 同一周波数の基準波と被測定波の位相差を測
定する位相測定回路において、前記基本波に応答
し前記周波数のn/m倍(n、mは整数)の周波数
を出力とする局部発振器と、前記局部発振器の出
力波と前記基準波との差周波数波及びその局部発
振器の出力波と被測定波の差周波数波を得るため
の2つの周波数混合器と、前記2つの差周波数波
の位相差に相当するパルス巾をもつパルスを作る
回路と、前記被測定波の周波数に比例した出力を
出すデイスクリミネータと、前記デイスクリミネ
ータの出力によりパルス間隔が変化可能な電圧制
御パルス発振器と、前記回路の出力パルスで前記
パルス発振器の出力パルスの通過あるいは阻止を
制御する制御回路と、前記制御回路の出力パルス
数を計測するデジタル計数回路を含むことを特徴
とする位相測定回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3611486A JPS61240168A (ja) | 1986-02-20 | 1986-02-20 | 位相測定回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3611486A JPS61240168A (ja) | 1986-02-20 | 1986-02-20 | 位相測定回路 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15885076A Division JPS5381277A (en) | 1976-12-27 | 1976-12-27 | Phase measuring circuit |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61240168A JPS61240168A (ja) | 1986-10-25 |
JPS647344B2 true JPS647344B2 (ja) | 1989-02-08 |
Family
ID=12460750
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3611486A Granted JPS61240168A (ja) | 1986-02-20 | 1986-02-20 | 位相測定回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61240168A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0324616A (ja) * | 1989-06-22 | 1991-02-01 | Mitsubishi Electric Corp | データ処理装置 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3986113A (en) * | 1973-11-23 | 1976-10-12 | Hewlett-Packard Company | Two channel test instrument with active electronicphase shift means |
-
1986
- 1986-02-20 JP JP3611486A patent/JPS61240168A/ja active Granted
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0324616A (ja) * | 1989-06-22 | 1991-02-01 | Mitsubishi Electric Corp | データ処理装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS61240168A (ja) | 1986-10-25 |
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