JPS627511B2 - - Google Patents

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JPS627511B2
JPS627511B2 JP15885076A JP15885076A JPS627511B2 JP S627511 B2 JPS627511 B2 JP S627511B2 JP 15885076 A JP15885076 A JP 15885076A JP 15885076 A JP15885076 A JP 15885076A JP S627511 B2 JPS627511 B2 JP S627511B2
Authority
JP
Japan
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circuit
pulse
frequency
output
phase
Prior art date
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Expired
Application number
JP15885076A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5381277A (en
Inventor
Hideo Morita
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
Nippon Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Electric Co Ltd filed Critical Nippon Electric Co Ltd
Priority to JP15885076A priority Critical patent/JPS5381277A/ja
Publication of JPS5381277A publication Critical patent/JPS5381277A/ja
Publication of JPS627511B2 publication Critical patent/JPS627511B2/ja
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Description

【発明の詳細な説明】 この発明は電波の位相を測定するための位相測
定回路に関するものである。従来、電波の位相乃
至位相差を測定する方法として、例えばバランス
トミキサの如き位相検波器を用い位相差に対応し
たアナログ電圧値を得て、これで位相差を測定す
る方法があるが、この方法では位相検波器やその
周辺回路の位相のゆらぎから高々数十度の測定精
度しか得られない。さらにまたヒユーレツトパツ
カード社製ベクトルボルトメータHP−8405の如
く測定精度を高めるためミキサー用パルス発振器
のクロツクパルス毎に基準波並びに被測定波をサ
ンプルホールドする方法もある。すなわちサンプ
ルホールドすることにより基準波並びに被測定波
を低い周波数波に変換して位相検波器にかけるこ
とにより、もとの周波数波の位相差に対応する時
間差を拡大し、この時間差に対応して定電流回路
の出力ゲートを開閉し、積分回路を通して出力メ
ータを振らしている。この場合の測定精度は数度
となる。しかし、更に高い測定精度を得ることは
上記のアナログ的な方法では電源変動に起因する
定電流回路や積分回路の不安定性等から困難であ
つた。
本発明の目的は比較的簡単な回路で高い測定精
度を得る位相測定回路を提供することにある。
以下、図面を用いて本発明を詳細に説明する。
第1図は本発明に関連した回路例である。例えば
端子13には基準波sin(Wst+φ)が、端子
14には被測定波sin(Wst+φ)が接続さ
れ、局発波SINWLtの発振源(以下局発源と略称
する)7からの出力と周波数混合器1および2に
てそれぞれ混合されて後、低域波器3および4
を通り、各々の差周波数波sin{(Ws−WL)t+
φ}、sin{(Ws−WL)t+φ}となる。こ
こで基準波と被測定波の位相差(φ+φ)に
対応する時間差はφ−φ/Wからφ−φ/W
−Wへと W/W−W倍に拡大されている。(第3図a,b
を 参照されたい。) 5は波形変換回路で第2図のごとくリミツタア
ンプ15、シユミツト回路16、立上り検出回路
17より例えば第3図cの如き立上り検出パルス
を作る。同様にもう一つの波形変換回路6は第3
図fの如き立上り検出パルスを作る。この2つの
立上り検出パルスはセツト・リセツト・フリツプ
フロツプ(FF)8のS端子およびR端子にそれ
ぞれ供給されて第3図gに示す如く位相差(φ
−φ)に対応する時間差|φ−φ/W−W
をパルス 巾とするパルス列をつくる。パルス発生器9は第
3図hのごとく所望の測定精度τ(sec)より充
分狭いパルス間隔Δt(sec)を有するパルス列
を発生し、第3図gの時間差パルス列とアンド回
路10で論理積をとられて第3図iに示すバース
ト状のパルス列群を得る。パルス計数回路11は
第3図cに示すパルスでリセツトを受け第3図i
に示すパルス列を各群毎に計数する。この計数結
果は出力部12にて数表示又はグラフイツク表示
もしくはアナログ出力される。
かくして位相差φ−φに対応する出力波が
得られる。位相差を表示する単位として、時間
(sec)、ラジアル、度、等のどれを用いるかによ
つて表示出力部の表示部分のスチール単位や回路
構成定数は変化する。次に被測定周波数が可変の
場合の本発明第1の実施例を第4図に示す。周波
数混合器1または2の出力波周波数が一定周波数
となるようフエイズロツクループ(PLL)型局部
発振器を使用することにより複数な較正回路なし
に容易にラジアル、度単位の位相差を算出でき
る。すなわち第4図において基準周波数の発振源
21、位相比較回路19、位相比較回路19の出
力に比例して被測定周波数との差周波数を発生す
る電圧制御発振器20と、周波数混合器1または
2とから成るPLL回路により周波数混合器1また
は2の出力周波数を常に一定にすることが可能
で、この場合には被測定周波数が変化しても第3
図gに示す位相差に対応するパルス時間巾
φ−φ/Wはφ−φが一定ならば一定となる
の で、位相差をラジアン乃至度単位で出力すること
が可能である。次に本発明に関連した回路例を第
5図に示す。第5図では第1図の局発源7の代り
に被測定波Wsに比例する周波数WL=n/mWsの局 発波をつくる周波数変換回路23を用いている。
この場合には時間拡大率n/m−nが常に一定とな り、被測定波と基準波の位相差を時間の単位で出
力する場合には出力部12の回路は簡単になる。
第6図は、本発明に関連した回路例であり、位
相差をラジアン乃至度単位で出力する場合に用い
られ、これにより出力部12の回路は簡単にな
る。すなわち第6図に示す回路においては第5図
の9の代りに被測定周波数に応じた電圧を出力す
るデイスクリミネータ18と電圧制御型のパルス
発振器22を用いることにより1/Δt=αWsなるパ ルス間隔のパルス列を得ることができ、位相差に
対応する時間差φ−φB/W−W=(φ−φ
)1/W n/m−n(但し第5図の場合と同様にWL=n/mWs
が 成立つている。)をこのパルス列で計数すれば計
数結果は(φ−φ)n/m−nαとなり、ラジア ン乃至度単位での位相差出力が簡単に得られるこ
とになる。また、第6図では第4図と同様に被測
定周波数が可変の場合に用いることができる。
なお、以上の説明では周波数混合器1および2
は例えばバランストミキサのごときものとして説
明したが、sinWLtの局発源7の代りにパルス間
隔1/Wのパルス発生器を用い、周波数混合器1お よび2の代りにサンプルホールド回路を用いても
抵域波器3および4の出力には第3図aおよび
dに示すビートダウン出力波が得られる。またそ
のパルス発生器として入力周波数Wsから周波数
変換して得られたものを使用すれば出力部12に
おいて時間単位の換算回路は簡単になる。
このようにして得られた高精度の位相測定回路
は単に室内における計測だけではなく例えば移動
物体(車輛、船舶、航空機等)の位置検知システ
ムにおいても大変有用である。
【図面の簡単な説明】
第1図、第5図および第6図は本発明に関連し
た回路例、第4図は本発明の位相測定回路の実施
例である。第2図は第1図、第4図乃至第6図の
波形変換回路5の詳細図である。第3図は第1図
の回路例のタイムチヤート図である。なお図にお
いて、1,2……周波数混合器、3,4……低域
波器、5,6……波形変換回路、7……局発
源、8……セツトリセツトフリツプフロツプ回
路、9……パルス発生器、10……アンド回路、
11……パルスカウンタ、12……出力部、1
3,14……入力端子、15……リミツタアン
プ、16……シユミツト回路、17……立上り検
出回路、18……デイスクリミネータ、19……
位相比較回路、20……電圧制御発振器、21…
…発振源、22……電圧制御パルス発振器、23
……周波数変換回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 位相測定回路において、制御電圧に応答する
    電圧制御発振器と、前記電圧制御発振器の出力波
    と基準波との差周波数波および前記局部発振器の
    出力波と被測定波との差周波数を得るための2つ
    の周波数混合器と、発振源と、前記発振源の出力
    波と前記2つの周波数混合器の一方の出力波との
    位相差を検出し前記制御電圧を発生する位相比較
    回路と、前記2つの差周波数波の位相差に相当す
    るパルス巾をもつパルスを作る回路と、パルス発
    振器と、前記回路の出力パルスで前記パルス発振
    器の出力パルスの通過あるいは阻止を制御する制
    御回路と、前記制御回路の出力パルス数を計測す
    るデジタル計数回路を含むことを特徴とする位相
    測定回路。
JP15885076A 1976-12-27 1976-12-27 Phase measuring circuit Granted JPS5381277A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15885076A JPS5381277A (en) 1976-12-27 1976-12-27 Phase measuring circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15885076A JPS5381277A (en) 1976-12-27 1976-12-27 Phase measuring circuit

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3611486A Division JPS61240168A (ja) 1986-02-20 1986-02-20 位相測定回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5381277A JPS5381277A (en) 1978-07-18
JPS627511B2 true JPS627511B2 (ja) 1987-02-17

Family

ID=15680764

Family Applications (1)

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JP15885076A Granted JPS5381277A (en) 1976-12-27 1976-12-27 Phase measuring circuit

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JPS5381277A (en) 1978-07-18

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