JPS647334B2 - - Google Patents
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- JPS647334B2 JPS647334B2 JP10970480A JP10970480A JPS647334B2 JP S647334 B2 JPS647334 B2 JP S647334B2 JP 10970480 A JP10970480 A JP 10970480A JP 10970480 A JP10970480 A JP 10970480A JP S647334 B2 JPS647334 B2 JP S647334B2
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- counter circuit
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- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/02—Food
- G01N33/10—Starch-containing substances, e.g. dough
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は籾粒子または脱粒子等の亀裂粒子計
数装置の改良に関する。
数装置の改良に関する。
従来の技術
近時の稲作作業の機械化に伴い、収穫後の籾乾
燥に乾燥機が用いられ、天候に左右されることな
く、一定条件でしかも能率良く作業できるが、籾
の温度、乾燥率が高くなると胴割粒（亀裂粒子）
が多発することになる。
燥に乾燥機が用いられ、天候に左右されることな
く、一定条件でしかも能率良く作業できるが、籾
の温度、乾燥率が高くなると胴割粒（亀裂粒子）
が多発することになる。
この胴割粒を検出するために、本出願人は、一
組の調車によつて回転可能に横架した無端ベルト
に、米粒を嵌入する多数の透孔を縦横に整列して
穿設し、無端ベルトの上方或いは下方に前記米粒
を照射する光源を設け、光源の反対側には米粒か
らの透過光線を受光する受光素子を設け、この受
光素子を、基準値の設定器を備えた比較器を介し
て胴割米用の計数回路に連絡し、さらに総粒数用
の計数回路を設けて総粒数用の計数回路と前記胴
割米用の計数回路とを除算回路に連絡した胴割米
の検出装置を特願昭54−89572号（特公昭62−
43130号）として提供した。
組の調車によつて回転可能に横架した無端ベルト
に、米粒を嵌入する多数の透孔を縦横に整列して
穿設し、無端ベルトの上方或いは下方に前記米粒
を照射する光源を設け、光源の反対側には米粒か
らの透過光線を受光する受光素子を設け、この受
光素子を、基準値の設定器を備えた比較器を介し
て胴割米用の計数回路に連絡し、さらに総粒数用
の計数回路を設けて総粒数用の計数回路と前記胴
割米用の計数回路とを除算回路に連絡した胴割米
の検出装置を特願昭54−89572号（特公昭62−
43130号）として提供した。
発明が解決すべき課題
本発明は前記特願昭54−89572号の発明をさら
に改良したもので、同一の受光素子によつて総粒
数と亀裂粒数とを計算できると共に、精密なカウ
ント走査による粒子暗影の光量変化の比較識別に
よつて、亀裂粒子数を正確に、かつ円滑迅速に計
数できる米粒の亀裂粒子計数装置を提供すること
を目的とするものである。
に改良したもので、同一の受光素子によつて総粒
数と亀裂粒数とを計算できると共に、精密なカウ
ント走査による粒子暗影の光量変化の比較識別に
よつて、亀裂粒子数を正確に、かつ円滑迅速に計
数できる米粒の亀裂粒子計数装置を提供すること
を目的とするものである。
課題を解決するための手段
本発明の米粒の亀裂粒子計数装置は、樋底部に
透光窓を設けた送米樋を横または緩傾斜状に装架
し、前記透光窓の上下位置に光源と受光素子をほ
ぼ対向状に配置して前記透光窓を通過する米粒の
透過光線によつて亀裂粒子を検出する装置におい
て、透光窓を通過する米粒の透過光線を受光して
基準明暗度の透過光線の検出時間から米粒の総数
を計算する粒数用カウンタ回路を設けると共に、
前記基準明暗度より暗い所定明暗度の透過光線の
検出時間から前記所定明暗度の線状の暗影が複数
個ある亀裂粒子の総数を計算する亀裂粒用カウン
タ回路を設けることを特徴とする構成を有する。
透光窓を設けた送米樋を横または緩傾斜状に装架
し、前記透光窓の上下位置に光源と受光素子をほ
ぼ対向状に配置して前記透光窓を通過する米粒の
透過光線によつて亀裂粒子を検出する装置におい
て、透光窓を通過する米粒の透過光線を受光して
基準明暗度の透過光線の検出時間から米粒の総数
を計算する粒数用カウンタ回路を設けると共に、
前記基準明暗度より暗い所定明暗度の透過光線の
検出時間から前記所定明暗度の線状の暗影が複数
個ある亀裂粒子の総数を計算する亀裂粒用カウン
タ回路を設けることを特徴とする構成を有する。
実施例
本発明を実施例図について説明する。
図中、符号１は箱形機枠で、該機枠１内に振動
装置２を備えた送米樋３を緩傾斜状に装架し、そ
の供給側の受入部４の上部に供給ホツパー５を装
架すると共に、排出側の樋端を機枠壁部の開口部
６から１外部に突出し、送米樋３の樋底部に設け
た透光窓７の上下位置に光量検出装置の自熱電球
等からなる光源８と、フオートダイオードなどか
らなる受光素子９とをほぼ対向状に配置すると共
に、受光素子９を機枠１上部の亀裂粒子検出器１
０に関連的に、かつ電気的に連結し、前記透光窓
７を通過する穀粒の透過光線によつて亀裂粒子を
検出するように形成してある。ほぼ対向状とは、
前記光源と前記受光素子の関係位置が傾斜線、曲
折線または最短線等種々の角度をなすことを意味
する。
装置２を備えた送米樋３を緩傾斜状に装架し、そ
の供給側の受入部４の上部に供給ホツパー５を装
架すると共に、排出側の樋端を機枠壁部の開口部
６から１外部に突出し、送米樋３の樋底部に設け
た透光窓７の上下位置に光量検出装置の自熱電球
等からなる光源８と、フオートダイオードなどか
らなる受光素子９とをほぼ対向状に配置すると共
に、受光素子９を機枠１上部の亀裂粒子検出器１
０に関連的に、かつ電気的に連結し、前記透光窓
７を通過する穀粒の透過光線によつて亀裂粒子を
検出するように形成してある。ほぼ対向状とは、
前記光源と前記受光素子の関係位置が傾斜線、曲
折線または最短線等種々の角度をなすことを意味
する。
前記亀裂粒子検出器１０は、粒数用カウンタ回
路１１、亀裂粒用カウンタ回路１２、デジタル表
示器１３，１４，１５などからなり、これを第３
図の電気回路図によつてその構成を説明すると、
受光素子９の出力側は分岐してその一方を粒数用
カウンタ回路１１に、また、他方を亀裂粒用カウ
ンタ回路１２にそれぞれ連結し、粒数用カウンタ
回路１１は受光素子９の出力側を分岐したその一
方を増幅器１６を介して比較器１８の入力側の一
端子に接続すると共に、比較器１８の入力側の他
の端子に粒数を検出するための基準明暗度Ａを設
定する設定器１９を接続し、比較器１８の出力側
を計数器２０に接続すると共に、該計数器２０に
基準クロツク回路２１を接続して計数器２０の出
力側を粒数用表示器２２に接続してある。また、
亀裂粒用カウンタ回路１２は受光素子９の出力側
を分岐した他方を増幅器１７を介して比較器２３
の入力側の一端子に接続すると共に、比較器２３
の入力側の他の端子に亀裂粒子等を検出するため
の任意の所定明暗度Ｂを設定する設定器２４を接
続し、比較器２３の出力側を計数器２５に接続す
ると共に、該計数器２５に基準クロツク回路２６
を接続して計数器２５の出力側を亀裂粒用表示器
２９に接続する。そして、前記比較器２３の出力
側から分岐した回路を補正用計数器２７に接続
し、該補正用計数器２７に補正用クロツク回路２
８を接続すると共に、補正用計数器２７の出力側
を亀裂粒用表示器２９に接続して計数器２５で計
算された数値を減算するようにし、前記粒数用表
示器２２と前記亀裂粒用表示器２９は比率用デジ
タル表示器１５にそれぞれ連結されて亀裂粒率を
表示するように形成してある。
路１１、亀裂粒用カウンタ回路１２、デジタル表
示器１３，１４，１５などからなり、これを第３
図の電気回路図によつてその構成を説明すると、
受光素子９の出力側は分岐してその一方を粒数用
カウンタ回路１１に、また、他方を亀裂粒用カウ
ンタ回路１２にそれぞれ連結し、粒数用カウンタ
回路１１は受光素子９の出力側を分岐したその一
方を増幅器１６を介して比較器１８の入力側の一
端子に接続すると共に、比較器１８の入力側の他
の端子に粒数を検出するための基準明暗度Ａを設
定する設定器１９を接続し、比較器１８の出力側
を計数器２０に接続すると共に、該計数器２０に
基準クロツク回路２１を接続して計数器２０の出
力側を粒数用表示器２２に接続してある。また、
亀裂粒用カウンタ回路１２は受光素子９の出力側
を分岐した他方を増幅器１７を介して比較器２３
の入力側の一端子に接続すると共に、比較器２３
の入力側の他の端子に亀裂粒子等を検出するため
の任意の所定明暗度Ｂを設定する設定器２４を接
続し、比較器２３の出力側を計数器２５に接続す
ると共に、該計数器２５に基準クロツク回路２６
を接続して計数器２５の出力側を亀裂粒用表示器
２９に接続する。そして、前記比較器２３の出力
側から分岐した回路を補正用計数器２７に接続
し、該補正用計数器２７に補正用クロツク回路２
８を接続すると共に、補正用計数器２７の出力側
を亀裂粒用表示器２９に接続して計数器２５で計
算された数値を減算するようにし、前記粒数用表
示器２２と前記亀裂粒用表示器２９は比率用デジ
タル表示器１５にそれぞれ連結されて亀裂粒率を
表示するように形成してある。
次に、第２図は、玄米（脱粒子）・整粒籾、・
砕粒・胴割粒（亀裂粒子）・未熟米・死米をそれ
ぞれ横置し、各粒子を上部の光源から照射して下
部の受光素子に対して各粒子面の明暗影をカウン
ト状に走査し、各部位の明暗影状態の変化をそれ
ぞれ実線で表わした説明図である。図中、Ａ−Ａ
線は整粒籾の中央透明部分の基準明暗度Ａを、ま
た、Ｂ−Ｂ線は玄米及び整粒籾の基部にある胚芽
及び未熟米・死米等の白色不透明部分の任意の所
定明暗度Ｂを、また、Ｃ−Ｃ線は脱粒子の任意
の所定明暗度Ｃをそれぞれ基線（レベル）で表わ
したものであり、所定明暗度Ｂは基準明暗度Ａよ
り暗く、所定明暗度Ｃは基準明暗度Ａより明る
い。Ｘは胚芽の白色不透明部分、Ｙは胴割面、Ｚ
は未熟米・死米等の白色不透明部分のそれぞれの
暗影である。そして、米粒の胴割面（亀裂面）は
透過光線が該面で散乱してその位置の粒子裏面に
線状の暗影を生ずると共に、その暗影は胴割面毎
に表われることになる。また、胚芽の白色不透明
部分はその暗影が線状に、未熟米・死米等の白色
不透明部分はその暗影が面状にそれぞれ表わされ
るので、粒子面を精密に、かつカウント状に走査
することによつて、前記各粒子の識別及び粒子数
の算定が可能となる。
砕粒・胴割粒（亀裂粒子）・未熟米・死米をそれ
ぞれ横置し、各粒子を上部の光源から照射して下
部の受光素子に対して各粒子面の明暗影をカウン
ト状に走査し、各部位の明暗影状態の変化をそれ
ぞれ実線で表わした説明図である。図中、Ａ−Ａ
線は整粒籾の中央透明部分の基準明暗度Ａを、ま
た、Ｂ−Ｂ線は玄米及び整粒籾の基部にある胚芽
及び未熟米・死米等の白色不透明部分の任意の所
定明暗度Ｂを、また、Ｃ−Ｃ線は脱粒子の任意
の所定明暗度Ｃをそれぞれ基線（レベル）で表わ
したものであり、所定明暗度Ｂは基準明暗度Ａよ
り暗く、所定明暗度Ｃは基準明暗度Ａより明る
い。Ｘは胚芽の白色不透明部分、Ｙは胴割面、Ｚ
は未熟米・死米等の白色不透明部分のそれぞれの
暗影である。そして、米粒の胴割面（亀裂面）は
透過光線が該面で散乱してその位置の粒子裏面に
線状の暗影を生ずると共に、その暗影は胴割面毎
に表われることになる。また、胚芽の白色不透明
部分はその暗影が線状に、未熟米・死米等の白色
不透明部分はその暗影が面状にそれぞれ表わされ
るので、粒子面を精密に、かつカウント状に走査
することによつて、前記各粒子の識別及び粒子数
の算定が可能となる。
上述の構成において、粒数用カウンタ回路１１
に設けた比較器１８の設定器１９に基準明暗度Ａ
を、また、亀裂粒用カウンタ回路１２に設けた比
較器２３の設定器２４に基準明暗度Ａより暗い任
意の所定明暗度Ｂをそれぞれ設定し、また、供給
ホツパー５に米粒を投入して該装置を起動する
と、供給ホツパー５から流下した米粒は、振動装
置２の振動作用によつて送米樋３内を縦列状に配
列して樋底部に設けた透光窓７を通過する。該透
光窓７上の米粒は下部位置の光源８から照射さ
れ、その透過光線は明暗影を生じてその明暗度は
上部位置の受光素子９によつて受光され、その検
出信号は粒数用カウンタ回路１１及び亀裂粒用カ
ウンタ回路１２にそれぞれ入力される。粒数用カ
ウンタ回路１１では、受光素子９の検出信号を増
幅器１６で増幅して比較器１８に入力し、該入力
信号は設定器１９からの基準明暗度Ａの設定信号
と比較され、その一致信号を計数信号として計数
器２０に入力する。該計数器２０は計数信号が検
出されている間、基準クロツク回路２１からのク
ロツクを計数し、即ちその検出時間を計数し、任
意に定めた所定数（１粒子の通過時間）を計数す
るとその都度１粒子の信号として表示器２２に入
力して前記透光窓を通過した基準明暗度Ａの米粒
（整粒籾・砕粒・胴割粒・未熟米・死米）の総数
を表示する。また、亀裂粒用カウンタ回路１２で
は、受光素子９の検出信号を増幅器１７で増幅し
て比較器２３に入力し、該入力信号は設定器２４
からの任意の所定明暗度Ｂの設定信号と比較さ
れ、その一致信号を計数信号として計数器２５に
入力する。そして、計数器２５は計数信号が検出
されている間基準クロツク回路２６からのクロツ
クを計数し、即ちその検出時間を計数し、任意に
定めた所定数を計数すると、その都合信号を表示
器２９に入力して前記透光窓を通過した任意の所
定明暗度Ｂ以下の米粒（整粒籾・亀裂粒子・未熟
米・死米）の総数を表示する。また、その間、前
記比較器２３から分岐した出力は補正用計数器２
７に入力し、該補正用計数器２７は計数信号が出
ている間補正用基準クロツク回路２８からのクロ
ツクを計数してその計数時間によつて単一の線状
または単一の面状であることを識別すると共に、
その都度識別信号を表示器２９に入力して上記の
計数器２５によつて計数された所定明暗度Ｂの穀
粒総数から整粒籾・未熟米・死米の粒数を減算し
て亀裂粒子の総数を表示する。そして、前記粒数
用カウンタ回路１１側の表示器２２と前記亀裂粒
用カウンタ回路１２側の表示器２９の各数値はデ
ジタル表示器１５に入力され、演算してその亀裂
粒率が表示される。
に設けた比較器１８の設定器１９に基準明暗度Ａ
を、また、亀裂粒用カウンタ回路１２に設けた比
較器２３の設定器２４に基準明暗度Ａより暗い任
意の所定明暗度Ｂをそれぞれ設定し、また、供給
ホツパー５に米粒を投入して該装置を起動する
と、供給ホツパー５から流下した米粒は、振動装
置２の振動作用によつて送米樋３内を縦列状に配
列して樋底部に設けた透光窓７を通過する。該透
光窓７上の米粒は下部位置の光源８から照射さ
れ、その透過光線は明暗影を生じてその明暗度は
上部位置の受光素子９によつて受光され、その検
出信号は粒数用カウンタ回路１１及び亀裂粒用カ
ウンタ回路１２にそれぞれ入力される。粒数用カ
ウンタ回路１１では、受光素子９の検出信号を増
幅器１６で増幅して比較器１８に入力し、該入力
信号は設定器１９からの基準明暗度Ａの設定信号
と比較され、その一致信号を計数信号として計数
器２０に入力する。該計数器２０は計数信号が検
出されている間、基準クロツク回路２１からのク
ロツクを計数し、即ちその検出時間を計数し、任
意に定めた所定数（１粒子の通過時間）を計数す
るとその都度１粒子の信号として表示器２２に入
力して前記透光窓を通過した基準明暗度Ａの米粒
（整粒籾・砕粒・胴割粒・未熟米・死米）の総数
を表示する。また、亀裂粒用カウンタ回路１２で
は、受光素子９の検出信号を増幅器１７で増幅し
て比較器２３に入力し、該入力信号は設定器２４
からの任意の所定明暗度Ｂの設定信号と比較さ
れ、その一致信号を計数信号として計数器２５に
入力する。そして、計数器２５は計数信号が検出
されている間基準クロツク回路２６からのクロツ
クを計数し、即ちその検出時間を計数し、任意に
定めた所定数を計数すると、その都合信号を表示
器２９に入力して前記透光窓を通過した任意の所
定明暗度Ｂ以下の米粒（整粒籾・亀裂粒子・未熟
米・死米）の総数を表示する。また、その間、前
記比較器２３から分岐した出力は補正用計数器２
７に入力し、該補正用計数器２７は計数信号が出
ている間補正用基準クロツク回路２８からのクロ
ツクを計数してその計数時間によつて単一の線状
または単一の面状であることを識別すると共に、
その都度識別信号を表示器２９に入力して上記の
計数器２５によつて計数された所定明暗度Ｂの穀
粒総数から整粒籾・未熟米・死米の粒数を減算し
て亀裂粒子の総数を表示する。そして、前記粒数
用カウンタ回路１１側の表示器２２と前記亀裂粒
用カウンタ回路１２側の表示器２９の各数値はデ
ジタル表示器１５に入力され、演算してその亀裂
粒率が表示される。
なお、脱粒子（玄米）に混在する胴割粒（亀
裂粒子）の検出の場合は、前記粒数用カウンタ回
路１１及び前記亀裂粒用カウンタ回路１２に設け
た各比較器１８，２３の基準明暗度及び任意の所
定明暗度の各数値（設定電圧）を切換変更するだ
けで簡単にこれを実施することができる。
裂粒子）の検出の場合は、前記粒数用カウンタ回
路１１及び前記亀裂粒用カウンタ回路１２に設け
た各比較器１８，２３の基準明暗度及び任意の所
定明暗度の各数値（設定電圧）を切換変更するだ
けで簡単にこれを実施することができる。
発明の効果
本発明の米粒の亀裂粒子計数装置によると、各
穀粒の粒面をカウント状に走査してその都度通過
時間と穀粒の透過光線の明暗度を検出して前記透
光窓を通過する米粒総数を算定すると共に、所定
明暗度の粒子暗影を検出し、線状の暗影が複数個
ある亀裂粒子を検出して亀裂粒子数を算定するか
ら、亀裂粒子の検出作用の自動化を完成してその
検出作業の省力化を達成でき、同一の受光素子に
よつて総粒数と亀裂粒数とを計数することが可能
で、また、精密なカウント状の走査による粒子暗
影の光量変化の比較識別によつて、亀裂粒子数を
正確に、かつ円滑迅速に計数できる等の効果を奏
するものである。
穀粒の粒面をカウント状に走査してその都度通過
時間と穀粒の透過光線の明暗度を検出して前記透
光窓を通過する米粒総数を算定すると共に、所定
明暗度の粒子暗影を検出し、線状の暗影が複数個
ある亀裂粒子を検出して亀裂粒子数を算定するか
ら、亀裂粒子の検出作用の自動化を完成してその
検出作業の省力化を達成でき、同一の受光素子に
よつて総粒数と亀裂粒数とを計数することが可能
で、また、精密なカウント状の走査による粒子暗
影の光量変化の比較識別によつて、亀裂粒子数を
正確に、かつ円滑迅速に計数できる等の効果を奏
するものである。
図面は本発明の実施例図である。第１図は本装
置の側断面図、第２図は説明図、第３図はその電
気回路図である。 １……箱形機枠、２……振動装置、３……送米
樋、４……受入部、５……供給ホツパー、６……
開口、７……透光窓、８……光源、９……受光素
子、１０……亀裂粒子検出器、１１……粒数用カ
ウンタ回路、１２……亀裂粒用カウンタ回路、１
３，１４，１５……デジタル表示器、１６，１７
……増幅器、１８……比較器、１９……設定器、
２０……計数器、２１……基準クロツク回路、２
２……粒数用表示器、２３……比較器、２４……
設定器、２５……計数器、２６……基準クロツク
回路、２７……補正用計数器、２８……補正用ク
ロツク回路、２９……亀裂粒用表示器、Ａ……基
準明暗度、Ｂ，Ｃ……任意の所定明暗度。
置の側断面図、第２図は説明図、第３図はその電
気回路図である。 １……箱形機枠、２……振動装置、３……送米
樋、４……受入部、５……供給ホツパー、６……
開口、７……透光窓、８……光源、９……受光素
子、１０……亀裂粒子検出器、１１……粒数用カ
ウンタ回路、１２……亀裂粒用カウンタ回路、１
３，１４，１５……デジタル表示器、１６，１７
……増幅器、１８……比較器、１９……設定器、
２０……計数器、２１……基準クロツク回路、２
２……粒数用表示器、２３……比較器、２４……
設定器、２５……計数器、２６……基準クロツク
回路、２７……補正用計数器、２８……補正用ク
ロツク回路、２９……亀裂粒用表示器、Ａ……基
準明暗度、Ｂ，Ｃ……任意の所定明暗度。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 樋底部に透光窓を設けた送米樋を横または緩
傾斜状に装架し、前記透光窓の上下位置に光源と
受光素子をほぼ対向状に配置して前記透光窓を通
過する米粒の透過光線によつて亀裂粒子を検出す
る装置において、透光窓を通過する米粒の透過光
線を受光して基準明暗度の透過光線の検出時間か
ら米粒の総数を計算する粒数用カウンタ回路を設
けると共に、前記基準明暗度より暗い所定明暗度
の透過光線の検出時間から前記所定明暗度の線状
の暗影が複数個ある亀裂粒子の総数を計算する亀
裂粒用カウンタ回路を設けることを特徴とする米
粒の亀裂粒子計数装置。 ２ 前記粒数用カウンタ回路と前記亀裂粒用カウ
ンタ回路をそれぞれデジタル表示器に連結して亀
裂粒子率を表示するようにした特許請求の範囲第
１項記載の米粒の亀裂粒子計数装置。 ３ 前記粒数用カウンタ回路と前記亀裂粒用カウ
ンタ回路が共に、微粒子または脱粒子に混在す
る亀裂粒子の検出を設定明暗度の各数値の切換変
更によつて実施できる比較器を備えたものである
特許請求の範囲第１項または第２項記載の米粒の
亀裂粒子計数装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10970480A JPS5734450A (en) | 1980-08-09 | 1980-08-09 | Cracked rice detector for unhulled rice or brancleared rice |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10970480A JPS5734450A (en) | 1980-08-09 | 1980-08-09 | Cracked rice detector for unhulled rice or brancleared rice |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5734450A JPS5734450A (en) | 1982-02-24 |
| JPS647334B2 true JPS647334B2 (ja) | 1989-02-08 |
Family
ID=14517091
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10970480A Granted JPS5734450A (en) | 1980-08-09 | 1980-08-09 | Cracked rice detector for unhulled rice or brancleared rice |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5734450A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS593354A (ja) * | 1982-06-30 | 1984-01-10 | Satake Eng Co Ltd | 胴割粒検出装置 |
| JPH0515563Y2 (ja) * | 1986-09-16 | 1993-04-23 | ||
| JPH07921Y2 (ja) * | 1988-02-05 | 1995-01-11 | 株式会社ケット科学研究所 | 米粒の状態検出装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6243130A (ja) * | 1985-08-20 | 1987-02-25 | Nec Corp | 半導体装置の製造方法 |
-
1980
- 1980-08-09 JP JP10970480A patent/JPS5734450A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5734450A (en) | 1982-02-24 |
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