JPS641744B2 - - Google Patents

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JPS641744B2
JPS641744B2 JP3224784A JP3224784A JPS641744B2 JP S641744 B2 JPS641744 B2 JP S641744B2 JP 3224784 A JP3224784 A JP 3224784A JP 3224784 A JP3224784 A JP 3224784A JP S641744 B2 JPS641744 B2 JP S641744B2
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JP
Japan
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clock signal
signal
time
counter
clock
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JP3224784A
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Japanese (ja)
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JPS60177270A (en
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Rikichi Murooka
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Tektronix Japan Ltd
Original Assignee
Sony Tektronix Corp
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Publication date
Application filed by Sony Tektronix Corp filed Critical Sony Tektronix Corp
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Publication of JPS60177270A publication Critical patent/JPS60177270A/en
Publication of JPS641744B2 publication Critical patent/JPS641744B2/ja
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  • Measuring Frequencies, Analyzing Spectra (AREA)
  • Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は書込みクロツク信号に同期して入力信
号を記憶回路に記憶する信号記憶装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field of the Invention] The present invention relates to a signal storage device that stores input signals in a storage circuit in synchronization with a write clock signal.

〔発明の背景〕[Background of the invention]

信号記憶装置には波形記憶装置(別名 トラン
ジエント・デジタイザ、トランジエント・レコー
ダ又は波形デジタイザ)やロジツク・アナライザ
がある。波形記憶装置は、アナログ入力信号をア
ナログ・デジタル(A/D)変換器でデジタル信
号に変換し、書込みクロツク信号に同期してこの
デジタル信号をデジタル記憶回路に記憶し、記憶
したデジタル信号をデジタル・アナログ(D/
A)変換器でアナログ信号に変換するものであ
る。なお、波形記憶装置には、アナログ入力信号
を書込みクロツク信号に同期してCCD等のアナ
ログ記憶回路に記憶する型式もある。また、ロジ
ツク・アナイザはロジツク(デジタル)信号を書
込みクロツク信号に同期してデジタル記憶回路に
記憶するものであり、A/D変換器及びD/A変
換器を除けば、原理的には波形記憶装置と類似し
ている。これら信号記憶装置はトリガ信号発生以
前の信号も測定できるため、非常に便利である。
また、トリガ信号の発生に応じて、書込みクロツ
ク信号の周波数を切替ることにより、入力信号の
関心のある部分を詳細に、またその他の部分を大
ざつぱに効率良く測定することもできる。
Signal storage devices include waveform storage devices (also known as transient digitizers, transient recorders, or waveform digitizers) and logic analyzers. A waveform storage device converts an analog input signal into a digital signal using an analog-to-digital (A/D) converter, stores this digital signal in a digital storage circuit in synchronization with a write clock signal, and converts the stored digital signal into a digital signal.・Analog (D/
A) It is converted into an analog signal using a converter. Note that there is also a type of waveform storage device that stores an analog input signal in an analog storage circuit such as a CCD in synchronization with a write clock signal. In addition, a logic analyzer stores logic (digital) signals in a digital storage circuit in synchronization with a write clock signal, and in principle, except for the A/D converter and D/A converter, it is a waveform memory. Similar to equipment. These signal storage devices are very convenient because they can measure signals even before the trigger signal is generated.
Furthermore, by switching the frequency of the write clock signal in response to the occurrence of a trigger signal, it is also possible to efficiently measure the portions of interest in the input signal in detail and the other portions in general.

〔従来技術とその問題点〕[Prior art and its problems]

信号記憶装置として波形記憶装置を例とし、そ
の従来例と問題点とを次に説明する。第1図は従
来の波形記憶装置のブロツク図である。入力回路
12は、入力端子10のアナログ入力信号を適当
に振幅に増幅又は減衰して、A/D変換器14及
び比較器16に供給する。クロツク発生器18は
メイン・バス20(データ線、アドレス線及び制
御線から構成される)からの命令に応じた周波数
の第1及び第2書込みクロツク信号を発生する。
これらクロツク信号の内、高周波信号は端子H
に、また低周波信号は端子Lに夫々供給される。
なお、クロツク発生器18は水晶発振器の如き高
周波基準クロツク発生器と、この発生器からの基
準クロツク信号を分周する分周器(カウンタ)
と、この分周器の複数の出力信号から所望周波数
のものを選択するマルチプレクサとから構成され
ている。電子スイツチ21により選択されたクロ
ツク信号により、A/D変換器14はアナログ入
力信号をデジタル信号に変換し、ランダム・アク
セス・メモリ等のデジタル記憶回路22に供給す
る。書込み(W)アドレス発生器24はカウンタ
であり、スイツチ21からのクロツク信号をクロ
ツク端子Cに受ける。
Taking a waveform storage device as an example of a signal storage device, a conventional example and problems thereof will be described next. FIG. 1 is a block diagram of a conventional waveform storage device. The input circuit 12 amplifies or attenuates the analog input signal at the input terminal 10 to an appropriate amplitude and supplies it to the A/D converter 14 and the comparator 16. Clock generator 18 generates first and second write clock signals at frequencies responsive to commands from main bus 20 (comprised of data lines, address lines and control lines).
Among these clock signals, the high frequency signal is
, and a low frequency signal is supplied to terminal L, respectively.
Note that the clock generator 18 includes a high-frequency reference clock generator such as a crystal oscillator, and a frequency divider (counter) that divides the frequency of the reference clock signal from this generator.
and a multiplexer for selecting a desired frequency from a plurality of output signals of the frequency divider. Depending on the clock signal selected by electronic switch 21, A/D converter 14 converts the analog input signal into a digital signal and supplies it to a digital storage circuit 22, such as a random access memory. Write (W) address generator 24 is a counter and receives the clock signal from switch 21 at clock terminal C.

今、バス20から書込み開始命令が書込み/読
出し(W/R)制御回路26に供給されると、こ
の制御回路26はラツチ回路28をリセツトす
る。よつて、ラツチ回路28の出力は「低」レベ
ルとなるので、スイツチ21は端子Lを選択し、
ゲート30はオフとなる。また、制御回路26は
アドレス発生器24をイネーブル(動作可能)と
し、記憶回路22を書込みモードにし、マルチプ
レクサ(MUX)32がアドレス発生器24を選
択するようにする。即ち、低速書込みクロツク信
号に同期して、A/D変換器14からのデジタル
信号が、アドレス発生器24からのアドレス信号
により記憶回路22に記憶される。入力アナログ
信号がポテンシヨンメータ34で設定されたトリ
ガ・レベルを超すと、比較器16がトリガ信号を
発生し、即ちその出力が「高」レベルとなり、ラ
ツチ回路28にラツチされる。よつて、ラツチ回
路28の出力が「高」レベルとなり、スイツチ2
1を切替えるので、トリガ時点以後は高速書込み
クロツク信号に同期して入力信号が記憶回路22
に記憶される。またラツチ回路34はトリガ時点
のアドレス信号をラツチする。更にアンド・ゲー
ト30はオンとなるので、プログラマブル・カウ
ンタであるデジタル遅延回路36はスイツチ21
及びゲート30を介した高速書込みクロツク信号
の計数を開始する。遅延回路36がバス20から
のデータにより設定された値までクロツク信号を
計数すると、制御回路26は書込みモードを停止
して、アドレス発生器24の計数動作及び記憶回
路22の書込み動作を止める。このときのアドレ
ス発生器24のアドレス出力をオフセツト回路3
8にロードする。よつて、記憶回路22は第2図
Aに示すアナログ入力信号に対応するデジタル値
をBに示す書込みクロツク信号により記憶したこ
とになる。なお、第2図において、時点T2はト
リガ時点であり、この時点以後、クロツク信号が
高周波に切替えられている。
Now, when a write start command is supplied from bus 20 to write/read (W/R) control circuit 26, control circuit 26 resets latch circuit 28. Therefore, the output of the latch circuit 28 becomes "low" level, so the switch 21 selects the terminal L,
Gate 30 is turned off. Control circuit 26 also enables address generator 24, places storage circuit 22 in write mode, and causes multiplexer (MUX) 32 to select address generator 24. That is, the digital signal from the A/D converter 14 is stored in the storage circuit 22 by the address signal from the address generator 24 in synchronization with the low speed write clock signal. When the input analog signal exceeds the trigger level set by potentiometer 34, comparator 16 generates a trigger signal, ie, its output goes high and is latched into latch circuit 28. Therefore, the output of the latch circuit 28 becomes "high" level, and the switch 2
1, the input signal is switched to the memory circuit 22 in synchronization with the high-speed write clock signal after the trigger point.
is memorized. Further, the latch circuit 34 latches the address signal at the trigger time. Further, since the AND gate 30 is turned on, the digital delay circuit 36, which is a programmable counter, is turned on by the switch 21.
and begins counting the fast write clock signal through gate 30. Once the delay circuit 36 has counted the clock signal to the value set by the data from the bus 20, the control circuit 26 discontinues the write mode and stops the counting operation of the address generator 24 and the write operation of the storage circuit 22. The address output of the address generator 24 at this time is transferred to the offset circuit 3.
Load into 8. Therefore, the storage circuit 22 stores the digital value corresponding to the analog input signal shown in FIG. 2A using the write clock signal shown in FIG. In FIG. 2, time T2 is the trigger time, and after this time the clock signal is switched to a high frequency.

バス20から読出しモードが制御回路26に命
令されると、記憶回路22は読出しモードにな
る。また、カウンタである読出し(R)アドレス
発生器40はクロツク発生器42からのクロツク
信号を計数し、アドレス信号を発生する。このア
ドレス信号をD/A変換器44に供給して、表示
の際の水平掃引信号を発生する。記憶回路22の
最も古いデータ(デジタル信号)のアドレスは最
初のアドレス(0000)とは限らないので、アドレ
ス発生器40からのアドレス信号をオフセツト回
路によりオフセツトしてから、マルチプレクサ3
2を介して記憶回路22に供給する。よつて、掃
引信号の開始レベルが、記憶回路22の最も古い
データに対応する。記憶回路22からのデジタル
信号をD/A変換器46によりアナログ信号に戻
し、出力回路48及び出力端子50を介して表示
器52の垂直偏向手段に供給する。また、D/A
変換器44からの掃引信号は、出力回路54及び
出力端子56を介して表示器52の水平偏向手段
に供給する。第1図において表示器52は静電偏
向型陰極線管であるが、D/A変換器46の出力
信号をビデオ信号に変換すれば、ラスタ走査型表
示器を用いてもよい。表示器52には再生された
波形が第3図のように表示される。
When the read mode is commanded from the bus 20 to the control circuit 26, the storage circuit 22 is placed in the read mode. Further, a read (R) address generator 40, which is a counter, counts the clock signal from the clock generator 42 and generates an address signal. This address signal is supplied to a D/A converter 44 to generate a horizontal sweep signal for display. Since the address of the oldest data (digital signal) in the storage circuit 22 is not necessarily the first address (0000), the address signal from the address generator 40 is offset by the offset circuit before being sent to the multiplexer 3.
2 to the storage circuit 22. Therefore, the start level of the sweep signal corresponds to the oldest data in the storage circuit 22. The digital signal from the storage circuit 22 is converted back into an analog signal by the D/A converter 46 and supplied to the vertical deflection means of the display 52 via the output circuit 48 and the output terminal 50. Also, D/A
The sweep signal from transducer 44 is applied via output circuit 54 and output terminal 56 to the horizontal deflection means of display 52. In FIG. 1, the display 52 is an electrostatic deflection type cathode ray tube, but a raster scanning type display may be used if the output signal of the D/A converter 46 is converted into a video signal. The reproduced waveform is displayed on the display 52 as shown in FIG.

なお、バス20には、入力装置としてのキーボ
ード58、マイクロプロセツサ等の中央処理装置
(CPU)60、一時記憶装置としてのランダム・
アクセス・メモリ(RAM)62、及びCPU60
用のプログラムを記憶したリード・オンリ・メモ
リ(ROM)64を接続する。これら装置により
上述のクロツク周波数の設定、書込み又か読出し
モードの開始の制御を行なうと共に、後述の種々
の設定、制御及び演算を行なう。
The bus 20 includes a keyboard 58 as an input device, a central processing unit (CPU) 60 such as a microprocessor, and a random memory card as a temporary storage device.
Access memory (RAM) 62 and CPU 60
A read-only memory (ROM) 64 that stores programs for this purpose is connected. These devices control the above-mentioned setting of the clock frequency and start of the write or read mode, as well as various settings, controls and calculations to be described later.

第3図の表示は、第2図のアナログ入力信号A
を書込みクロツク信号Bに同期して記憶し、再生
した波形であるので、トリガ点TR(時点T2に
対応)を境にして時間軸が異なつている。(読出
しクロツク周波数は一定のため、TRより左側の
表示は水平方向に圧縮されている。)このように
トリガ点TRを境にして書込みクロツク周波数を
切替えることにより、必要な波形部分を詳細かつ
効率的に測定できる。
The display in Figure 3 is the analog input signal A in Figure 2.
Since the waveforms are stored and reproduced in synchronization with the write clock signal B, the time axes differ from the trigger point TR (corresponding to time T2). (Since the read clock frequency is constant, the display to the left of TR is compressed horizontally.) By switching the write clock frequency at the trigger point TR in this way, the necessary waveform portion can be displayed in detail and efficiently. Can be measured accurately.

ところで、再生された信号の所望の2点間の時
間差を測定する必要がある場合がある。この場
合、まず所望の2点を定めるために、キーボード
58で設定した所望の第1及び第2アドレスを
夫々第1及び第2レジスタ66及び68に夫々ロ
ードする。第1デジタル比較器70はレジスタ6
6の内容と読出しアドレスが一致したときに出力
パルスを発生し、オア・ゲート74を介して表示
器52の輝度を制御して第1カーソルC1を表示
する。同様に第2デジタル比較器72はレジスタ
68の内容と読出しアドレスが一致したときに出
力パルスを発生し、表示器52に第2カーソルC
2を表示する。よつて操作者は表示器52の表示
を観察しながら第1及び第2カーソル点を定める
ことができる。
Incidentally, there are cases where it is necessary to measure the time difference between two desired points of the reproduced signal. In this case, first, in order to determine two desired points, the desired first and second addresses set on the keyboard 58 are loaded into the first and second registers 66 and 68, respectively. The first digital comparator 70 is the register 6
When the contents of 6 and the read address match, an output pulse is generated, and the brightness of the display 52 is controlled via the OR gate 74 to display the first cursor C1. Similarly, the second digital comparator 72 generates an output pulse when the contents of the register 68 and the read address match, and displays the second cursor C on the display 52.
Display 2. Therefore, the operator can determine the first and second cursor points while observing the display on the display 52.

カーソルC1及びC2間の時間差を求めるに
は、ROM64のプログラによりCPU60が以下
の処理を行なう。まず、CPU60がC1のアド
レス及びC2のアドレスと、トリガ点のアドレス
との関係を判断する。トリガ・アドレスはラツチ
34に記憶されており、C1及びC2のアドレス
はレジスタ66及び68に夫々記憶されている。
C1及びC2アドレスが共にトリガ・アドレス前
ならば、C1及びC2アドレス差と低周波書込み
クロツク信号の周期との積を求め、時間差TPと
する。またC1及びC2アドレスが共にトリガ・
アドレス後ならば、C1及びC2アドレス差と高
周波書込みクロツク信号の周期との積を求め、時
間差TAとする。更に、トリガ・アドレスがC1
及びC2アドレス間にある場合は、C1アドレス
及びトリガ・アドレスの差と低周波書込みクロツ
ク信号の周期との積TPを求め、次にトリガ・ア
ドレス及びC2アドレスの差と高周波書込みクロ
ツク信号の周期との積TAを求め、更にTPとTA
の和を求めて時間差とする。これら演算結果は、
文字発生器等(図示せず)により表示器52に表
示する。なお、書込みクロツク信号の周期は
RAM62に記憶されている。
In order to find the time difference between cursors C1 and C2, the CPU 60 performs the following processing using the program in the ROM 64. First, the CPU 60 determines the relationship between the address of C1, the address of C2, and the address of the trigger point. The trigger address is stored in latch 34 and the addresses of C1 and C2 are stored in registers 66 and 68, respectively.
If the C1 and C2 addresses are both before the trigger address, the product of the C1 and C2 address difference and the period of the low frequency write clock signal is determined to be the time difference TP. Also, both C1 and C2 addresses are triggered.
If it is after the address, the product of the C1 and C2 address difference and the period of the high frequency write clock signal is calculated and used as the time difference TA. Furthermore, the trigger address is C1
and C2 address, calculate the product TP of the difference between the C1 address and trigger address and the period of the low frequency write clock signal, then calculate the product TP of the difference between the trigger address and C2 address and the period of the high frequency write clock signal. Find the product TA, and then calculate TP and TA
Find the sum and use it as the time difference. The results of these calculations are
The information is displayed on the display 52 using a character generator or the like (not shown). Note that the period of the write clock signal is
It is stored in RAM62.

ところで、書込みクロツク信号の周波数、即ち
周期をトリガ時点から切替える従来の方式には次
の2つがある。その1つは、第2図に示す如くト
リガ信号発生したら(時点T2)直ちに書込みク
ロツク信号周波数を切替える方式である。この方
式は、特に書込みクロツク信号を低周波から高周
波に切替える際に、トリガ時点以後の重要な部分
(トランジエント)を取損なうことがない利点を
有する。しかし、トリガ信号の発生は低周波書込
みクロツク信号と同期していないため、トリガ発
生直前のクロツク・パルス発生時点T1とトリガ
時点T2との間の時間が不確定となり、トリガ点
を含む2点間の時間測定が正確に行なえないとい
う欠点がある。この欠点は、第4図に示す如く書
込みクロツク信号を高周波から低周波に切替えた
場合も同様である。即ち、低周波クロツク信号B
は高周波クロツク信号Aを分周したものであるた
め、トリガ点T1と切替えられた低周波クロツク
信号の最初のパルス発生時点T2との間の時間が
不確定となる。
By the way, there are the following two conventional methods for switching the frequency, or period, of the write clock signal from the trigger point. One of them is a method of switching the write clock signal frequency immediately after the trigger signal is generated (time T2) as shown in FIG. This scheme has the advantage of not missing important parts (transients) after the trigger time, especially when switching the write clock signal from a low frequency to a high frequency. However, since the generation of the trigger signal is not synchronized with the low-frequency write clock signal, the time between the clock pulse generation time T1 immediately before the trigger generation and the trigger time T2 is uncertain, and the time between two points including the trigger point is uncertain. The disadvantage is that the time cannot be measured accurately. This drawback also applies when the write clock signal is switched from a high frequency to a low frequency as shown in FIG. That is, low frequency clock signal B
Since is a frequency-divided version of the high frequency clock signal A, the time between the trigger point T1 and the first pulse generation time T2 of the switched low frequency clock signal is uncertain.

他の従来の方式は、第5図に示す如く、トリガ
信号が時点T2で発生しても、直ちに書込みクロ
ツク周波数を切替えず、トリガ発生時点までの第
1クロツク信号に同期して周波数を切替えてい
る。即ち、トリガ時点T2後の第1クロツク信号
(低周波書込みクロツク信号)の最初のパルス発
生時点T3において、第2クロツク信号(高周波
書込みクロツク信号)に切替えている。よつて、
書込みクロツク信号はトリガ発生時点において不
確定なパルス周期を含まないので、トリガ点を含
む2点間の時間測定が正確に行なえるという利点
がある。しかし、トリガ時点T2及び時点T3間
に発生したトランジエントを測定できないという
欠点を有する。これら2つの方式をロジツク・ア
ナライザに適用しても、同様な欠点が生じる。
Other conventional methods, as shown in FIG. 5, do not immediately switch the write clock frequency even when a trigger signal occurs at time T2, but instead switch the frequency in synchronization with the first clock signal up to the time when the trigger occurs. There is. That is, at the time T3 when the first clock signal (low frequency write clock signal) generates the first pulse after the trigger time T2, the clock signal is switched to the second clock signal (high frequency write clock signal). Then,
Since the write clock signal does not include an uncertain pulse period at the time of trigger generation, it has the advantage that time measurement between two points including the trigger point can be performed accurately. However, it has the disadvantage that it cannot measure the transient that occurs between trigger time T2 and time T3. Similar drawbacks arise when these two approaches are applied to logic analyzers.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

したがつて、本発明の目的は、トリガ信号が発
生すると直ちに書込みクロツク信号周波数を切替
えると共に、トリガ点を間に含んだ2点間の正確
な時間を測定できる信号測定装置の提供にある。
SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, it is an object of the present invention to provide a signal measuring device that can switch the write clock signal frequency immediately upon generation of a trigger signal and can accurately measure the time between two points including the trigger point.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

本発明の信号測定装置は、切替手段によりトリ
ガ信号が発生すると書込みクロツク信号を第1ク
ロツク信号からこの第1クロツク信号と周波数の
異なる第2クロツク信号に切替えている。即ち、
トリガ信号が発生後書込みクロツク信号の周波数
を直ちに切替えているので、入力信号の重要な部
分、例えばトランジエントを測定し損なうことが
なく、正確な測定が行なえる。また、測定手段が
書込みクロツク信号における第1クロツク信号の
最後のパルスから第2クロツク信号の最初のパル
スまでの時間を測定している。よつて、トリガ信
号による書込みクロツク信号周波数切替に伴なう
不確定時間を測定できるので、トリガ点を間に含
む2点間の時間も正確に測定できる。
In the signal measuring device of the present invention, when a trigger signal is generated by the switching means, the write clock signal is switched from the first clock signal to the second clock signal having a frequency different from that of the first clock signal. That is,
Since the frequency of the write clock signal is switched immediately after the trigger signal is generated, accurate measurements can be made without missing important parts of the input signal, such as transients. Also, measuring means measures the time from the last pulse of the first clock signal to the first pulse of the second clock signal in the write clock signal. Therefore, it is possible to measure the uncertain time that accompanies the switching of the write clock signal frequency by the trigger signal, so that the time between two points including the trigger point can also be accurately measured.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

以下、添付図を参照して本発明の好適な実施例
について説明する。なお、本発明は第1図の信号
記憶装置を部分的に変更したものであるので、変
更した部分についてのみ説明する。第6図は本発
明の第1実施例の部分的ブロツク図である。第1
図と異なる点は、カウンタ76及びインバータ7
8を設けたことである。クロツク発生器18は上
述の如く、H端子に第1クロツク信号としての高
周波クロツク信号Aを発生し、L端子に第2クロ
ツク信号としての低周波クロツク信号Bを発生す
る。また時点T2において、比較器16がトリガ
信号を発生すると、ラツチ回路28の出力が
「低」レベルから「高」レベルに変化するので、
電子スイツチ(切替手段)21は端子Lから端子
Hを選択して、その出力を書込みクロツク信号と
して周波数を切替える。よつて、信号A,B及び
Cの関係は第7図のようになる。
Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. It should be noted that since the present invention is a partial modification of the signal storage device shown in FIG. 1, only the modified portions will be explained. FIG. 6 is a partial block diagram of a first embodiment of the invention. 1st
The difference from the diagram is that the counter 76 and the inverter 7
8 was established. As mentioned above, the clock generator 18 generates the high frequency clock signal A as the first clock signal at the H terminal and the low frequency clock signal B as the second clock signal at the L terminal. Also, at time T2, when the comparator 16 generates a trigger signal, the output of the latch circuit 28 changes from the "low" level to the "high" level.
An electronic switch (switching means) 21 selects terminals L to H, and uses the output as a write clock signal to switch the frequency. Therefore, the relationship between signals A, B and C is as shown in FIG.

カウンタ76はそのリセツト端子Rに低周波ク
ロツク信号Bを受け、クロツク端子Cに高周波ク
ロツク信号Aを受ける。インバータ78はラツチ
回路28の出力信号を反転してカウンタ76のイ
ネーブル端子Eに供給する。よつて、トリガ発生
時点以前において、カウンタ76はイネーブルさ
れて動作状態にあり、高周波クロツク信号Aを計
数すると共に、低周波クロツク信号Bのパルスが
発生する毎にリセツトされ、新たにクロツク信号
Aの計数を行なう。時点T2においてクロツク信
号が発生すると、カウンタ76のE端子は「高」
レベルから「低」レベルに変化するので、カウン
タ76は計数動作を停止する。このときのカウン
タ76の計数値は、トリガ発生時点T2以前の低
周波クロツク信号Bの最後のパルス発生時点T1
からトリガ発生時点T2までの間に発生した高周
波クロツク信号Aのパルス数である。このパルス
数と高周波クロツク周期の積を求めれば、時点T
1及びT2間の時間が求まる。したがつて、従来
では不確定とされた時点T1及びT2間の時間を
カウンタ76が測定したことになる。よつて、カ
ウンタ76は測定手段として動作する。トリガ点
を含む2点間の時間を測定する場合には、カウン
タ76の内容をCPU60が読取り、その値を考
慮すればよい。なお、この第6図の実施例は書込
みクロツク信号を低周波から高周波に切替える場
合に適用できる。
Counter 76 receives low frequency clock signal B at its reset terminal R and high frequency clock signal A at clock terminal C. Inverter 78 inverts the output signal of latch circuit 28 and supplies it to enable terminal E of counter 76. Therefore, before the trigger occurs, the counter 76 is enabled and in operation, counts the high frequency clock signal A, and is reset each time a pulse of the low frequency clock signal B occurs, and counts the clock signal A anew. Perform counting. When the clock signal occurs at time T2, the E terminal of counter 76 goes high.
Since the level changes from "low" level, the counter 76 stops counting operation. The count value of the counter 76 at this time is the time T1 when the last pulse of the low frequency clock signal B occurs before the trigger generation time T2.
This is the number of pulses of the high frequency clock signal A generated between T2 and the trigger generation time T2. If we calculate the product of this number of pulses and the high frequency clock period, we can find the product at time T.
1 and T2 is found. Therefore, the counter 76 measures the time between time points T1 and T2, which was conventionally considered to be uncertain. Therefore, counter 76 operates as a measuring means. When measuring the time between two points including the trigger point, the CPU 60 may read the contents of the counter 76 and take that value into consideration. The embodiment of FIG. 6 can be applied to the case where the write clock signal is switched from a low frequency to a high frequency.

第8図は本発明の第2実施例の部分的ブロツク
図である。クロツク発生器18はバス20からの
データに応じた高周波クロツク信号A及び低周波
クロツク信号Bを夫々端子H及びLに発生する。
ラツチ回路28の出力信号Cは直接又はインバー
タ80を介して電子スイツチ82に供給する。ラ
ツチ回路84はバス20からのデータをラツチ
し、スイツチ82を制御する。スイツチ82が選
択した信号はスイツチ21を制御する。アンド・
ゲート86は低周波クロツク信号B及びラツチ回
路28の出力信号Cを受ける。Dフリツプ・フロ
ツプ88はそのクロツク端子にアンド・ゲート8
6の出力信号を受け、D端子に「高」レベルを受
け、そのQ出力信号Dを排他的オア・ゲート90
に供給する。ゲート90は更にバツフア回路92
及び94を介してラツチ回路28の出力信号Cを
受ける。カウンタ76はそのイネーブル端子Eに
ゲート90の出力信号Eを受け、クロツク端子C
にバツフア回路96,98及び100を介して高
周波クロツク信号Aを受け、その計数出力をバス
20に転送する。ラツチ回路28、フリツプ・フ
ロツプ88及びカウンタ76は、書込みモードの
開始において、制御回路26によりリセツトされ
る。なお、バツフア回路92及び94はゲート9
0の2つの入力信号のタイミングを補償するもの
であり、バツフア回路96,98及び100はカ
ウンタ76のクロツク信号及びイネーブル信号の
タイミングを補償するものである。
FIG. 8 is a partial block diagram of a second embodiment of the invention. Clock generator 18 generates a high frequency clock signal A and a low frequency clock signal B responsive to data from bus 20 at terminals H and L, respectively.
The output signal C of the latch circuit 28 is applied directly or via an inverter 80 to an electronic switch 82. Latch circuit 84 latches data from bus 20 and controls switch 82. The signal selected by switch 82 controls switch 21. and·
Gate 86 receives low frequency clock signal B and output signal C of latch circuit 28. D flip-flop 88 has an AND gate 8 on its clock terminal.
6, receives a "high" level at the D terminal, and outputs the Q output signal D to the exclusive OR gate 90.
supply to. The gate 90 further includes a buffer circuit 92.
and 94 to receive the output signal C of the latch circuit 28. Counter 76 receives output signal E of gate 90 at its enable terminal E, and clocks at clock terminal C.
It receives high frequency clock signal A via buffer circuits 96, 98 and 100, and transfers its counting output to bus 20. Latch circuit 28, flip-flop 88 and counter 76 are reset by control circuit 26 at the beginning of the write mode. Note that the buffer circuits 92 and 94 are connected to the gate 9.
Buffer circuits 96, 98 and 100 compensate for the timing of the clock signal and enable signal of counter 76.

次に第9図の波形図を参照して第8図の動作を
説明する。なお、この波形図においては、各素子
の伝搬遅延時間は無視している。第1クロツク信
号が低周波で第2クロツク信号が高周波の場合
は、スイツチ82がラツチ回路28を選択するの
で、スイツチ21は初め低周波クロツク信号Bを
選択している。また、ラツチ回路28の出力信号
Cは「低」レベルなので、ゲート86はオフであ
り、フリツプ・フロツプ88はクロツクされず、
そのQ出力信号Dも「低」レベルである。一方、
ゲート90の2入力は共に「低」レベルなので、
その出力信号Eも「低」レベルであり、カウンタ
76はイネーブルされず、高速クロツク信号Aを
計数しない。
Next, the operation of FIG. 8 will be explained with reference to the waveform diagram of FIG. 9. Note that in this waveform diagram, the propagation delay time of each element is ignored. When the first clock signal is low frequency and the second clock signal is high frequency, switch 82 selects latch circuit 28, so switch 21 initially selects low frequency clock signal B. Also, since the output signal C of latch circuit 28 is at a "low" level, gate 86 is off and flip-flop 88 is not clocked.
Its Q output signal D is also at a "low" level. on the other hand,
Since the two inputs of gate 90 are both at "low" level,
Its output signal E is also at a "low" level and counter 76 is not enabled and does not count fast clock signal A.

時点T2において、比較器16がトリガ信号を
発生すると、ラツチ回路28の出力信号Cが
「高」レベルに変化する。よつてアンド・ゲート
86がオンになると共に、排他的オア・ゲート9
0の出力信号Eも「高」レベルに変化する。な
お、このとき信号Dは依然「低」レベルであるこ
とに注意されたい。一方、ラツチ回路28の出力
信号Cはスイツチ21の接続を切替え、その出力
である書込みクロツク信号Fを第1クロツク信号
から第2クロツク信号に、即ち低周波から高周波
に切替える。時点T2以後、カウンタ76はイネ
ーブルされるので、高周波クロツク信号Aの計数
を行なう。時点T2以後、低周波クロツク信号B
の最初のパルスが時点T3においてアンド・ゲー
ト86を通過して、Dフリツプ・フロツプをクロ
ツクすると、そのQ出力信号Dが「高」レベルに
変化する。よつて、排他的オア・ゲート90の出
力信号Eが「低」レベルに変化し、カウンタ76
は計数動作を停止する。したがつて、カウンタ7
6の計数値は、時点T2及びT3間における高周
波クロツク信号Aのパルス数である。
At time T2, when the comparator 16 generates a trigger signal, the output signal C of the latch circuit 28 changes to a "high" level. As a result, AND gate 86 is turned on, and exclusive OR gate 9 is turned on.
The output signal E of 0 also changes to the "high" level. Note that signal D is still at a "low" level at this time. On the other hand, the output signal C of the latch circuit 28 switches the connection of the switch 21, and the write clock signal F, which is its output, is switched from the first clock signal to the second clock signal, that is, from a low frequency to a high frequency. After time T2, the counter 76 is enabled and therefore counts the high frequency clock signal A. After time T2, low frequency clock signal B
The first pulse of Q passes through AND gate 86 at time T3 and clocks the D flip-flop, causing its Q output signal D to change to a "high" level. Therefore, the output signal E of exclusive-OR gate 90 changes to a "low" level and counter 76
stops counting operation. Therefore, counter 7
The count value of 6 is the number of pulses of the high frequency clock signal A between time points T2 and T3.

しかし書込みクロツク信号Fにおける不確定時
間は、時点T1及びT2間の時間なので、この時
間を求めなければならない。CPU60は高周波
クロツク信号A及び低周波クロツク信号Bの周波
数から、クロツク信号Bの1周期期間に発生する
クロツク信号Aのパルスの総数を計数する。時点
T1及びT3間はクロツク信号Bの1周期に対応
するので、CPU60は計数した総数からカウン
タ76の計数値を減算し、減算結果にクロツク信
号Aの周期を掛けて、時点T1及びT2間の時間
を求める。このように、この場合、カウンタ76
及び演算手段であるCPU60が、書込みクロツ
ク信号における第1クロツク信号の最後のパルス
から第2クロツク信号の最初のパルスまでの時間
を測定する測定手段として作用する。よつて、ト
リガ点を間に含む2点間の時間測定が正確に行な
える。
However, since the uncertain time in write clock signal F is the time between time points T1 and T2, this time must be determined. The CPU 60 counts the total number of pulses of the clock signal A that occur during one period of the clock signal B from the frequencies of the high frequency clock signal A and the low frequency clock signal B. Since the period between time points T1 and T3 corresponds to one period of clock signal B, the CPU 60 subtracts the count value of counter 76 from the counted total number, multiplies the subtraction result by the period of clock signal A, and calculates the period between time points T1 and T2. ask for time. Thus, in this case, the counter 76
The CPU 60, which is a calculation means, acts as a measuring means for measuring the time from the last pulse of the first clock signal to the first pulse of the second clock signal in the write clock signal. Therefore, the time between two points including the trigger point can be accurately measured.

また、第1クロツク信号が高周波で第2クロツ
ク信号が低周波の場合は、スイツチ82がインバ
ータ80を選択するので、スイツチ21は初め高
周波クロツク信号Aを選択しており、トリガ信号
が発生すると低周波クロツク信号Bを選択してい
る。よつて、書込みクロツク信号はGとなる。第
8図のその他の回路動作は上述の通りである。書
込みクロツク信号Gにおいて不確定時間は時点T
2及びT3間の時間であり、この時間はカウンタ
76の計数値に対応する。よつて、カウンタ76
が測定手段として作用する。
Further, when the first clock signal is high frequency and the second clock signal is low frequency, the switch 82 selects the inverter 80, so the switch 21 initially selects the high frequency clock signal A, and when the trigger signal is generated, the switch 82 selects the inverter 80. Frequency clock signal B is selected. Therefore, the write clock signal becomes G. The other circuit operations in FIG. 8 are as described above. In the write clock signal G, the uncertain time is at time T.
2 and T3, and this time corresponds to the count value of the counter 76. Therefore, counter 76
acts as a measuring means.

第10図は本発明の第3実施例の部分的ブロツ
ク図である。この実施例において、クロツク発生
器18は、高周波パルスを発生る水晶発振器の如
き基準クロツク発生器102と、この基準クロツ
ク発生器102からの基準クロツク信号を分周す
る適当なN進カウンタ(Nは任意の正の整数)1
04と、バス20からのデータに応じてこのカウ
ンタ104の複数の分周出力信号から所望の出力
信号を選択する、即ち複数ビツトの計数出力から
所望の出力ビツトを選択するマルチプレクサ
(MUX)106及び108とを含んでいる。な
お、マルチプレクサ106及び108はバス20
からのデータをラツチするラツチ部を具えてお
り、マルチプレクサ108の選択したクロツク信
号周波数は常にマルチプレクサ106の選択した
クロツク信号周波数よりも高い。よつて、端子H
及びLに高周波クロツク信号A及び低周波クロツ
ク信号Bが夫々発生し、ラツチ回路28の出力信
号Cに応じてスイツチ21がこれらクロツク信号
の一方を選択する。インバータ110はラツチ回
路28の出力信号Cを反転し、アンド・ゲート1
12は低周波クロツク信号B及びインバータ11
0の出力信号Dを受ける。ラツチ回路114はア
ンド・ゲート112の出力信号Eに応じてカウン
タ104の計数値をラツチし、ラツチ回路116
はラツチ回路28の出力信号Cに応じてカウンタ
104の計数値をラツチする。
FIG. 10 is a partial block diagram of a third embodiment of the present invention. In this embodiment, clock generator 18 includes a reference clock generator 102, such as a crystal oscillator, that generates high frequency pulses and a suitable N-ary counter (N is any positive integer) 1
04, a multiplexer (MUX) 106 which selects a desired output signal from a plurality of frequency-divided output signals of this counter 104 in accordance with data from the bus 20, that is, selects a desired output bit from a plurality of bit count outputs. 108. Note that the multiplexers 106 and 108 are connected to the bus 20.
The clock signal frequency selected by multiplexer 108 is always higher than the clock signal frequency selected by multiplexer 106. Therefore, terminal H
A high frequency clock signal A and a low frequency clock signal B are generated at the clock signals A and L, respectively, and the switch 21 selects one of these clock signals in response to the output signal C of the latch circuit 28. The inverter 110 inverts the output signal C of the latch circuit 28 and outputs the AND gate 1.
12 is a low frequency clock signal B and an inverter 11;
It receives an output signal D of 0. The latch circuit 114 latches the count value of the counter 104 according to the output signal E of the AND gate 112, and the latch circuit 116
latches the count value of the counter 104 in response to the output signal C of the latch circuit 28.

次に第11図の波形図を参照して第10図の動
作を説明する。初めにラツチ回路28は制御回路
26によりリセツトされるため、出力信号Cは
「低」レベルである。よつて、スイツチ21は低
周波クロツク信号Bを選択する。また、インバー
タ110の出力信号Dは「高」レベルのため、ア
ンド・ゲート112は低周波クロツク信号Bを通
過させる。ラツチ回路114は低周波クロツク信
号Bのパルスが発生する毎に、カウンタ104の
計数値をラツチする。時点T2において、比較器
16がトリガ信号を発生すると、ラツチ回路28
の出力信号Cが「高」レベルに変化し、インバー
タ110の出力信号Dが「低」レベルに変化す
る。よつて、スイツチ21は高周波クロツク信号
Aを選択する。また、アンド・ゲート112はオ
フとなり、ラツチ回路114にラツチされた計数
値は以後更新されない。即ち、ラツチ回路114
には、トリガ時点T2の直前に発生した低周波ク
ロツク信号Bのパルス(時点T1)によりラツチ
されたカウンタ104の計数値が保持されてい
る。また、パルスCの変化によりラツチ回路11
6は時点T2におけるカウンタ104の計数値を
ラツチする。CPU60はラツチ114及び11
6の内容を読取り、時点T2の計数値と時点T1
の計数値の差を求める。基準クロツク発生器10
2の発振周期は既知であるので、求めた計数値の
差にこの発振周期を掛けることにより、時点T1
及びT2間の時間が測定できる。よつて、ラツチ
回路114及び116並びに演算手段としての
CPU60が測定手段として作用する。この実施
例は書込みクロツク信号Fの第1クロツク信号が
低周波で第2クロツク信号が高周波の場合、即ち
低周波から高周波に切替える場合に適用できる。
Next, the operation of FIG. 10 will be explained with reference to the waveform diagram of FIG. 11. Initially, latch circuit 28 is reset by control circuit 26, so output signal C is at a "low" level. Therefore, switch 21 selects low frequency clock signal B. Also, since the output signal D of the inverter 110 is at a "high" level, the AND gate 112 passes the low frequency clock signal B. The latch circuit 114 latches the count value of the counter 104 every time a pulse of the low frequency clock signal B occurs. At time T2, when comparator 16 generates a trigger signal, latch circuit 28
The output signal C of the inverter 110 changes to a "high" level, and the output signal D of the inverter 110 changes to a "low" level. Therefore, switch 21 selects high frequency clock signal A. Also, AND gate 112 is turned off, and the count value latched in latch circuit 114 is no longer updated. That is, the latch circuit 114
holds the count value of the counter 104 latched by the pulse of the low frequency clock signal B (time T1) that occurred immediately before the trigger time T2. Also, due to the change in pulse C, the latch circuit 11
6 latches the count value of the counter 104 at time T2. CPU60 has latches 114 and 11
Read the contents of 6 and record the count value at time T2 and time T1.
Find the difference between the counted values. Reference clock generator 10
Since the oscillation period of 2 is known, by multiplying the difference between the calculated count values by this oscillation period, the time T1
and the time between T2 can be measured. Therefore, the latch circuits 114 and 116 and the calculation means
CPU 60 acts as a measuring means. This embodiment can be applied when the first clock signal of the write clock signal F has a low frequency and the second clock signal has a high frequency, that is, when switching from a low frequency to a high frequency.

第12図は本発明の第4実施例の郎分的ブロツ
ク図であり、第8図及び第10図の実施例を組合
せたものである。即ち、クロツク発生器18の構
成は第10図の実施例と同じであり、素子21,
28,80〜94の接続は第8図の実施例と同じ
である。ラツチ回路114は排他的オア・ゲート
90の出力信号Eの立上りに応じてカウンタ10
4の計数値をラツチする。またインバータ118
が出力信号Eを反転してラツチ回路116に加え
るので、ラツチ回路116は出力信号Eの立下り
に応じてカウンタ104の計数値をラツチする。
FIG. 12 is a schematic block diagram of a fourth embodiment of the present invention, which is a combination of the embodiments of FIGS. 8 and 10. That is, the configuration of the clock generator 18 is the same as that of the embodiment shown in FIG.
The connections 28, 80-94 are the same as in the embodiment of FIG. The latch circuit 114 outputs the counter 10 in response to the rising edge of the output signal E of the exclusive OR gate 90.
Latch the count value of 4. In addition, the inverter 118
inverts the output signal E and applies it to the latch circuit 116, so the latch circuit 116 latches the count value of the counter 104 in response to the fall of the output signal E.

次に第13図の波形図を参照して第12図の動
作を説明する。書込みモードにおいて、制御回路
26はラツチ回路28及びDフリツプ・フロツプ
88をリセツトする。第1クロツク信号が低周波
で第2クロツク信号が高周波の場合は、スイツチ
82がラツチ回路28を選択するので、スイツチ
21は初め低周波クロツク信号Bを選択してい
る。また、ラツチ回路28の出力信号Cは「低」
レベルなので、ゲート86はオフであり、フリツ
プ・フロツプ88はクロツクされず、そのQ出力
信号Dも「低」レベルである。一方、排他的オ
ア・ゲート90の2入力は共に「低」レベルなの
で、その出力信号Eも「低」レベルであり、ラツ
チ回路114及び116はカウンタ104の計数
値をラツチしない。
Next, the operation of FIG. 12 will be explained with reference to the waveform diagram of FIG. 13. In the write mode, control circuit 26 resets latch circuit 28 and D flip-flop 88. When the first clock signal is low frequency and the second clock signal is high frequency, switch 82 selects latch circuit 28, so switch 21 initially selects low frequency clock signal B. Also, the output signal C of the latch circuit 28 is "low".
Since it is at a low level, gate 86 is off, flip-flop 88 is not clocked, and its Q output signal D is also at a "low" level. On the other hand, since the two inputs of exclusive-OR gate 90 are both at a "low" level, its output signal E is also at a "low" level, and latch circuits 114 and 116 do not latch the count value of counter 104.

時点T2において、比較器16がトリガ信号を
発生すると、ラツチ回路28の出力信号Cが
「高」レベルに変化する。よつてアンド・ゲート
86がオンになると共に、排他的オア・ゲート9
0の出力信号Eも「高」レベルに変化する。よつ
て、ラツチ回路114は時点T2におけるカウン
タ104の計数値をラツチする。なお、このとき
信号Dは依然「低」レベルであることに注意され
たい。一方、ラツチ回路28の出力信号Cはスイ
ツチ21の接続を切替え、その出力である書込み
クロツク信号Fを第1クロツク信号から第2クロ
ツク信号に、即ち低周波から高周波に切替える。
時点T2以後、低周波クロツク信号Bの最初のパ
ルスが時点T3においてアンド・ゲート86を通
過して、Dフリツプ・フロツプをクロツクする
と、そのQ出力信号Dが「高」レベルに変化す
る。よつて、排他的オア・ゲート90の出力信号
Eが「低」レベルに変化し、ラツチ回路116は
時点T3におけるカウンタ104の計数値をラツ
チする。CPU60はラツチ回路114及び11
6にラツチされた計数値の差を求め、この差に基
準クロツク周期を掛けて時点T2及びT3間の時
間を演算する。
At time T2, when the comparator 16 generates a trigger signal, the output signal C of the latch circuit 28 changes to a "high" level. As a result, AND gate 86 is turned on, and exclusive OR gate 9 is turned on.
The output signal E of 0 also changes to the "high" level. Therefore, the latch circuit 114 latches the count value of the counter 104 at time T2. Note that signal D is still at a "low" level at this time. On the other hand, the output signal C of the latch circuit 28 switches the connection of the switch 21, and the write clock signal F, which is its output, is switched from the first clock signal to the second clock signal, that is, from a low frequency to a high frequency.
After time T2, the first pulse of low frequency clock signal B passes through AND gate 86 at time T3 and clocks the D flip-flop, causing its Q output signal D to change to a "high" level. Therefore, the output signal E of exclusive-OR gate 90 changes to a "low" level, and latch circuit 116 latches the count value of counter 104 at time T3. The CPU 60 has latch circuits 114 and 11
The difference between the count values latched at 6 is calculated, and this difference is multiplied by the reference clock period to calculate the time between times T2 and T3.

しかし書込みクロツク信号Fにおける不確定時
間は、時点T1及びT2間の時間なので、この時
間を求めなければならない。時点T1及びT3間
はクロツク信号Bの1周期に対応するので、
CPU60はこの1周期の時間から、求めた時点
T2及びT3間の時間を減算して、時点T1及び
T2間の時間を求める。このように、この場合、
ラツチ回路114及び116並びに演算手段であ
るCPU60が、測定手段として作用する。よつ
て、トリガ点を間に含む2点間の時間測定が正確
に行なえる。
However, since the uncertain time in write clock signal F is the time between time points T1 and T2, this time must be determined. Since the period between time points T1 and T3 corresponds to one cycle of clock signal B,
The CPU 60 subtracts the determined time between time points T2 and T3 from this one cycle time to determine the time period between time points T1 and T2. Thus, in this case,
The latch circuits 114 and 116 and the CPU 60 which is the calculation means act as the measurement means. Therefore, the time between two points including the trigger point can be accurately measured.

また、第1クロツク信号が高周波で第2クロツ
ク信号が低周波の場合は、スイツチ82がインバ
ータ80を選択するので、スイツチ21は初め高
周波クロツク信号Aを選択しており、トリガ信号
が発生すると低周波クロツク信号Bを選択してい
る。よつて、書込みクロツク信号はGとなる。第
12図のその他の回路動作は上述の通りである。
書込みクロツク信号Gにおいて不確定時間は時点
T2及びT3間の時間であり、この時間はラツチ
回路114及び116がラツチしたカウンタ10
4の計数値の差に対応する。
Further, when the first clock signal is high frequency and the second clock signal is low frequency, the switch 82 selects the inverter 80, so the switch 21 initially selects the high frequency clock signal A, and when the trigger signal is generated, the switch 82 selects the inverter 80. Frequency clock signal B is selected. Therefore, the write clock signal becomes G. The other circuit operations in FIG. 12 are as described above.
In write clock signal G, the uncertain time is the time between time points T2 and T3, which is the time when counter 10 is latched by latch circuits 114 and 116.
This corresponds to the difference in the count value of 4.

第14図は本発明の信号記憶装置により記憶し
た入力信号を再生し、所望の2点間の時間を測定
する流れ図である。この流れ図に基づいたプログ
ラムがROM64内に記憶されており、CPU60
の処理を制御する。ステツプ120において、操
作者はキーボード58により第1カーソルを設定
する。即ち第1カーソルのアドレスがRAM62
及びレジスタ66に記憶される。同様にステツプ
122において第2カーソルを設定し、そのアド
レスをRAM62及びレジスタ68に記憶する。
すると表示器52の表示は例えば第3図のように
なる。ステツプ124において、CPU60は第
1及び第2カーソルのアドレス並びにラツチ回路
34に記憶されたトリガ・アドレスを比較し、第
1及び第2アドレス間にトリガ・アドレスを含む
か否かを判断する。この判断結果が肯定の場合、
ステツプ126に進み、上述の如く書込みクロツ
ク信号における第1クロツク信号の最後のパルス
から第2クロツク信号の最初のパルスまでの時間
TCを計算する。ステツプ128では、第1カー
ソルのアドレスと、トリガ信号が発生する直前の
第1クロツク信号のパルスに対応するアドレスと
の差を求め、この差に第1クロツク信号の周期を
掛けて、第1カーソル点からトリガ信号発生直前
の第1クロツク信号のパルス発生時までの時間
TPを計算する。次のステツプ130では、トリ
ガ信号が発生後最初の第2クロツクのパルスに対
応するアドレスと、第2カーソルのアドレスとの
差を求め、この差に第2クロツク信号の周期を掛
けて時間TAを計算する。ステツプ132で、計
算した時間TC,TP及びTAの和を求めれば、第
1及び第2カーソル間の正確な時間が得られる。
次にステツプ134において、第1及び第2カー
ソル間の時間は、適当な文字発生器等を用いて表
示器52に表示する。
FIG. 14 is a flowchart for reproducing the input signal stored by the signal storage device of the present invention and measuring the time between two desired points. A program based on this flowchart is stored in the ROM 64, and the CPU 60
control the processing of At step 120, the operator uses the keyboard 58 to set the first cursor. In other words, the address of the first cursor is RAM62
and stored in register 66. Similarly, a second cursor is established at step 122 and its address is stored in RAM 62 and register 68.
Then, the display on the display 52 becomes as shown in FIG. 3, for example. At step 124, CPU 60 compares the addresses of the first and second cursors and the trigger address stored in latch circuit 34 to determine whether a trigger address is included between the first and second addresses. If this judgment result is positive,
Proceeding to step 126, the time from the last pulse of the first clock signal to the first pulse of the second clock signal in the write clock signal is determined as described above.
Calculate TC. In step 128, the difference between the address of the first cursor and the address corresponding to the pulse of the first clock signal immediately before the trigger signal is generated is determined, and this difference is multiplied by the period of the first clock signal to determine the address of the first cursor. time from point to the time when the first clock signal pulse occurs immediately before the trigger signal is generated
Calculate TP. In the next step 130, the difference between the address corresponding to the first pulse of the second clock after the trigger signal is generated and the address of the second cursor is calculated, and this difference is multiplied by the period of the second clock signal to calculate the time TA. calculate. In step 132, the calculated times TC, TP, and TA are summed to obtain the accurate time between the first and second cursors.
Next, in step 134, the time between the first and second cursors is displayed on display 52 using a suitable character generator or the like.

ステツプ124の判断結果が否定の場合は、ス
テツプ136に進み、第1及び第2カーソルがト
リガ点よりも前か否かを判断する。この判断結果
が肯定の場合、ステツプ138に進み、第1及び
第2カーソルのアドレスの差と第1クロツク信号
の周期との積を求め、第1及び第2カーソル間の
時間TPとする。またステツプ136の判断結果
が否定の場合はステツプ140に進み、第1及び
第2カーソルのアドレスの差と第2クロツク信号
の周期との積を求め、第1及び第2カーソル間の
時間TAとする。ステツプ138及び140はス
テツプ134に進む。
If the result of the determination at step 124 is negative, the process proceeds to step 136, where it is determined whether the first and second cursors are before the trigger point. If the result of this judgment is affirmative, the process proceeds to step 138, where the product of the difference between the addresses of the first and second cursors and the period of the first clock signal is determined, and the product is set as the time TP between the first and second cursors. If the judgment result at step 136 is negative, the process proceeds to step 140, where the product of the difference between the addresses of the first and second cursors and the period of the second clock signal is calculated, and the time TA between the first and second cursors is calculated. do. Steps 138 and 140 proceed to step 134.

上述は本発明の好適な実施例についてのみ説明
したが、当業者には本発明の要旨を逸脱すること
なく種々の変更が可能なことが明らかであろう。
例えば、第6図及び第8図の実施例において、カ
ウンタ76は設定した高周波クロツク信号よりも
高周波の所定の基準クロツク信号を計数してもよ
い。また本発明をロジツク・アナライザに適用す
る場合は、比較器16の代りにワード・リコグナ
イザによりトリガ信号を発生すればよい。
Although the foregoing has described only preferred embodiments of the invention, it will be apparent to those skilled in the art that various modifications can be made without departing from the spirit of the invention.
For example, in the embodiments of FIGS. 6 and 8, counter 76 may count a predetermined reference clock signal having a higher frequency than the set high frequency clock signal. Furthermore, when the present invention is applied to a logic analyzer, the trigger signal may be generated by a word recognizer instead of the comparator 16.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

上述の如く本発明の信号記憶装置によれば、記
憶回路に入力信号を記憶する際、トリガ信号の発
生に応じて書込みクロツク周波数を直ちに切替え
られるので、所望の入力信号部分を確実に記憶で
きる。また、書込みクロツク周波数の切替えの際
の書込みクロツク・パルス間に不確定時間が発生
するが、この時間を測定するので、再生信号の時
間測定が正確となる。
As described above, according to the signal storage device of the present invention, when storing an input signal in the storage circuit, the write clock frequency can be immediately switched in response to the generation of a trigger signal, so that a desired input signal portion can be reliably stored. Further, although an uncertain time occurs between write clock pulses when the write clock frequency is switched, since this time is measured, the time measurement of the reproduced signal becomes accurate.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は信号記憶装置の一例のブロツク図、第
2図は従来の信号記憶装置の動作を説明する波形
図、第3図は信号記憶装置の再生信号の表示を示
す図、第4図及び第5図は従来の信号記憶装置の
動作を説明する波形図、第6図は本発明の第1実
施例の部分的なブロツク図、第7図は第6図の動
作を説明する波形図、第8図は本発明の第2実施
例の部分的なブロツク図、第9図は第8図の動作
を説明する波形図、第10図は本発明の第3実施
例の部分的なブロツク図、第11図は第10図の
動作を説明する波形図、第12図は本発明の第4
実施例の部分的なブロツク図、第13図は第12
図の動作を説明する波形図、第14図は本発明を
用いた時間測定の流れ図である。 図において、18はクロツク発生器、21は切
替手段、22は記憶回路、60は演算手段、76
はカウンタ、102は基準クロツク発生器、10
4はカウンタ、114及び116はラツチ回路で
ある。
FIG. 1 is a block diagram of an example of a signal storage device, FIG. 2 is a waveform diagram explaining the operation of a conventional signal storage device, FIG. 3 is a diagram showing a display of a reproduced signal of the signal storage device, and FIGS. FIG. 5 is a waveform diagram explaining the operation of a conventional signal storage device, FIG. 6 is a partial block diagram of the first embodiment of the present invention, and FIG. 7 is a waveform diagram explaining the operation of FIG. 6. FIG. 8 is a partial block diagram of the second embodiment of the present invention, FIG. 9 is a waveform diagram explaining the operation of FIG. 8, and FIG. 10 is a partial block diagram of the third embodiment of the present invention. , FIG. 11 is a waveform diagram explaining the operation of FIG. 10, and FIG. 12 is a waveform diagram explaining the operation of FIG.
A partial block diagram of the embodiment, FIG.
FIG. 14 is a waveform diagram explaining the operation of FIG. 14, and FIG. 14 is a flowchart of time measurement using the present invention. In the figure, 18 is a clock generator, 21 is a switching means, 22 is a memory circuit, 60 is an arithmetic means, and 76 is a clock generator.
is a counter, 102 is a reference clock generator, 10
4 is a counter, and 114 and 116 are latch circuits.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 クロツク発生器からのクロツク信号に同期し
て入力信号を記憶回路に記憶する信号記憶装置に
おいて、トリガ信号が発生すると上記クロツク信
号を第1クロツク信号から該第1クロツク信号と
周波数の異なる第2クロツク信号に切替えて書込
みクロツク信号とする切替手段と、上記書込みク
ロツク信号における上記第1クロツク信号の最後
のパルスから上記第2クロツク信号の最初のパル
スまでの時間を測定する側定手段とを具えたこと
を特徴とする信号測定装置。 2 上記測定手段は上記書込みクロツク信号にお
ける上記第1クロツク信号の最後のパルスから上
記第2クロツク信号の最初のパルスまでの期間、
上記第1クロツク信号及び上記第2クロツク信号
の内の周波数の高い方を計数するカウンタである
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の信
号測定装置。 3 上記測定手段は上記書込みクロツク信号にお
ける上記第2クロツク信号の最初のパルスから上
記第1クロツク信号の最後のパルスの次のパルス
までの期間、上記第1クロツク信号及び上記第2
クロツク信号の内の周波数の高い方を計数するカ
ウンタと、上記第1クロツク信号及び上記第2ク
ロツク信号の周波数並びに上記カウンタの計数値
から上記書込みクロツク信号における上記第1ク
ロツク信号の最後のパルス及び上記第2クロツク
信号の最初のパルス間の時間を求める演算手段と
を有することを特徴とする特許請求の範囲第1項
記載の信号記憶装置。 4 上記クロツク発生器は基準クロツク信号を発
生する基準クロツク発生器と、上記基準クロツク
信号を分周して複数のクロツク信号を発生するカ
ウンタと、上記複数のクロツク信号を選択して上
記第1クロツク信号及び上記第2クロツク信号と
する選択手段とを有し、上記測定手段は上記書込
みクロツク信号における上記第1クロツク信号の
最後のパルスが発生したとき上記カウンタの計数
値をラツチする第1ラツチ回路と、上記書込みク
ロツク信号における上記第2クロツク信号の最初
のパルスが発生したときの上記カウンタの計数値
をラツチする第2ラツチ回路と、上記第1ラツチ
回路及び上記第2ラツチ回路にラツチされた計数
値の差を求める演算手段とを有することを特徴と
する特許請求の範囲第1項記載の信号記憶装置。 5 上記クロツク発生器は基準クロツク信号を発
生する基準クロツク発生器と、上記基準クロツク
信号を分周して複数のクロツク信号を発生するカ
ウンタと、上記複数のクロツク信号を選択して上
記第1クロツク信号及び上記第2クロツク信号と
する選択手段とを有し、上記測定手段は上記書込
みクロツク信号における上記第2クロツク信号の
最初のパルスが発生したとき上記カウンタの計数
値をラツチする第1ラツチ回路と、上記書込みク
ロツク信号における第1クロツク信号の最後のパ
ルスの次のパルスが発生したとき上記カウンタの
計数値をラツチする第2ラツチ回路と、上記第1
クロツク信号及び上記第2クロツク信号の周波数
並びに上記第1ラツチ回路及び上記第2ラツチ回
路にラツチされた計数値から上記書込みクロツク
信号における上記第1クロツク信号の最後のパル
ス及び上記第2クロツク信号の最初のパルス間の
時間を求める演算手段とを有することを特徴とす
る特許請求の範囲第1項記載の信号記憶装置。
[Scope of Claims] 1. In a signal storage device that stores an input signal in a storage circuit in synchronization with a clock signal from a clock generator, when a trigger signal is generated, the clock signal is changed from a first clock signal to the first clock signal. switching means for switching to a second clock signal having a different frequency from the second clock signal as a write clock signal; and measuring the time from the last pulse of the first clock signal to the first pulse of the second clock signal in the write clock signal. A signal measuring device characterized by comprising: a measuring means. 2. The measuring means measures the period from the last pulse of the first clock signal to the first pulse of the second clock signal in the write clock signal;
2. The signal measuring device according to claim 1, wherein the signal measuring device is a counter that counts the higher frequency of the first clock signal and the second clock signal. 3. The measuring means measures the first clock signal and the second clock signal during the period from the first pulse of the second clock signal to the last pulse of the first clock signal in the write clock signal.
a counter that counts the higher frequency of the clock signals; and a counter that counts the frequency of the first clock signal and the second clock signal and the last pulse of the first clock signal in the write clock signal based on the frequency of the first clock signal and the second clock signal and the count of the counter. 2. A signal storage device according to claim 1, further comprising calculation means for determining the time between first pulses of said second clock signal. 4. The clock generator includes a reference clock generator that generates a reference clock signal, a counter that divides the frequency of the reference clock signal to generate a plurality of clock signals, and selects the plurality of clock signals and outputs the first clock signal. a first latch circuit for latching the count value of the counter when the last pulse of the first clock signal in the write clock signal occurs. a second latch circuit that latches the counted value of the counter when the first pulse of the second clock signal in the write clock signal occurs; 2. The signal storage device according to claim 1, further comprising calculation means for calculating a difference between counted values. 5. The clock generator includes a reference clock generator that generates a reference clock signal, a counter that divides the frequency of the reference clock signal to generate a plurality of clock signals, and selects the plurality of clock signals and outputs the first clock signal. a first latch circuit for latching the count value of the counter when the first pulse of the second clock signal in the write clock signal occurs. a second latch circuit for latching the counted value of the counter when a pulse following the last pulse of the first clock signal in the write clock signal occurs;
From the frequencies of the clock signal and the second clock signal and the counts latched in the first latch circuit and the second latch circuit, the last pulse of the first clock signal and the second clock signal in the write clock signal are determined. 2. The signal storage device according to claim 1, further comprising calculation means for determining the time between first pulses.
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