JPS6391570A - Apparatus for observing logic signal - Google Patents
Apparatus for observing logic signalInfo
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- JPS6391570A JPS6391570A JP23715186A JP23715186A JPS6391570A JP S6391570 A JPS6391570 A JP S6391570A JP 23715186 A JP23715186 A JP 23715186A JP 23715186 A JP23715186 A JP 23715186A JP S6391570 A JPS6391570 A JP S6391570A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、通常ロジックアナライザと呼ばれるロジッ
ク信号観測装置に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a logic signal observation device commonly called a logic analyzer.
第3図は例えば特開昭56−74659号公報に示され
た従来のロジック信号観測装置を示すブロック図である
。図において、la、lb、lc。FIG. 3 is a block diagram showing a conventional logic signal observation device disclosed in, for example, Japanese Unexamined Patent Publication No. 56-74659. In the figure, la, lb, lc.
・・・r inは複数のロジック信号の入力端子、2
は基準電圧であるスレショルドレベルを発生するスレシ
ョルドレベル回路、3a、3b、3c、・・・。... r in is an input terminal for multiple logic signals, 2
are threshold level circuits 3a, 3b, 3c, . . . that generate threshold levels that are reference voltages.
3nはこのスレショルドレベル回路2で決定されたスレ
ショルドレベルと複数のディジタル人力信号とを比較し
て二進化ディジタル信号を形成するために設けられたコ
ンパレータ、4はクロック信号発生器、5 a、 5
b、5 C,・・・、5nはこのクロック信号発生器
4から供給されるクロック信号に基いて複数のコンパレ
ータ3a〜3nの出力をそれぞれサンプリングするため
のサンプリング回路、6a、6b、6c、 ・・・、5
nはクロック信号に基いてサンプリング信号を順次記憶
するメモリで、通常は半導体メモリで構成されている。3n is a comparator provided to compare the threshold level determined by the threshold level circuit 2 with a plurality of digital human input signals to form a binary digital signal; 4 is a clock signal generator; 5a, 5
b, 5C,..., 5n are sampling circuits for respectively sampling the outputs of the plurality of comparators 3a to 3n based on the clock signal supplied from the clock signal generator 4; 6a, 6b, 6c, ・..., 5
n is a memory that sequentially stores sampling signals based on a clock signal, and is usually composed of a semiconductor memory.
7はメモリ6a〜6nに対する信号を中止させるための
トリガ信号を発生するトリガ信号回路、8はこのトリガ
信号回路7から発生したトリガ信号をメモリ容量を考慮
して所定時間だけ遅延させ、メモ’J6a〜6nに対す
るデータの書込みを中止させる信号を発生する遅延回路
、9は表示信号形成回路、lOはCRT表示装置である
。Reference numeral 7 denotes a trigger signal circuit that generates a trigger signal for stopping signals to the memories 6a to 6n, and 8 delays the trigger signal generated from this trigger signal circuit 7 by a predetermined time in consideration of the memory capacity. 6n is a delay circuit that generates a signal to stop writing data, 9 is a display signal forming circuit, and 10 is a CRT display device.
次に動作について説明する。入力端子1a〜1nから入
力された複数のロジック信号はスレショルドレベル回路
2で設定されたスレショルドレベルと、コンパレータ3
a〜3nにおいて比較される。Next, the operation will be explained. A plurality of logic signals inputted from input terminals 1a to 1n are connected to a threshold level set by a threshold level circuit 2 and a comparator 3.
A to 3n are compared.
各々比較されたロジック信号は、スレショルドレベルよ
り大きい値であれば“1”、小さい値であれば“0”と
して変換され、各々、サンプリング回路53〜5nにお
いて、クロック信号発生器4から供給されるクロックに
よりサンプリングされ、メモリ6a〜6nに、順次記憶
される。この場合、遅延回路8はトリガ信号回路7から
発生したトリガ信号をメモリ容量を考慮して所定時間だ
け遅延させメモリ6a〜6nに対するデータの書き込み
を中止させる信号を発生する。しかるのち、複数のメモ
リ63〜6nから読み出された信号は、表示信号形成回
路9において、適当な形に変換され、CRT表示装置1
0によって表示される。The compared logic signals are converted to "1" if the value is larger than the threshold level, and "0" if the value is smaller than the threshold level, and are supplied from the clock signal generator 4 to the sampling circuits 53 to 5n. The data are sampled by the clock and sequentially stored in the memories 6a to 6n. In this case, the delay circuit 8 delays the trigger signal generated from the trigger signal circuit 7 by a predetermined period of time in consideration of the memory capacity, and generates a signal to stop writing data to the memories 6a to 6n. Thereafter, the signals read out from the plurality of memories 63 to 6n are converted into an appropriate form in the display signal forming circuit 9 and output to the CRT display device 1.
Displayed by 0.
従来のロジック信号観測装置は以上のように構成されて
おり、しかもメモリ6a〜6nの容量は有限であるため
、例えばメモリ容量が1つの信号に対してIKビットで
あれば、サンプリングするクロック信号を1周期Ion
sに設定すると、IonsX I K= 1μsの間し
か記憶できない(第4図(a)参照)、従って、測定し
たい期間が1μs以上であって、かつサブリングするク
ロック信号を1周期Ionsの細かさで行ないたい場合
には観測したい期間の全ロジック信号の観測ができず、
結局、サンプリングするクロック信号を第4図(b)に
示すように例えば1周期20nsというように設定し、
サンプリングが荒い状態で、観測したい期間を長くしな
ければならない。この場合、観測期間は2μs (2
0nsx I K)となるが、サンプリングが1周期2
0nsのクロック信号で行うため、20ns以下の入力
信号の変化を正確に測定できないという問題点があった
。The conventional logic signal observation device is configured as described above, and since the capacity of the memories 6a to 6n is limited, for example, if the memory capacity is IK bits for one signal, the clock signal to be sampled is 1 cycle Ion
If it is set to s, it is possible to memorize only IonsX I K = 1μs (see Figure 4 (a)). Therefore, if the period to be measured is 1μs or more, and the clock signal to be sub-ringed can be stored in one cycle with the precision of Ions. If you want to do this, you will not be able to observe all the logic signals during the period you want to observe.
In the end, the clock signal to be sampled is set to, for example, one period of 20 ns as shown in FIG. 4(b),
Sampling is rough, and the period you want to observe must be extended. In this case, the observation period is 2 μs (2
0nsx IK), but the sampling period is 2
Since this is performed using a clock signal of 0 ns, there is a problem in that changes in the input signal of 20 ns or less cannot be accurately measured.
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、メモリの容量を増やさずに、サンプリングク
ロックが小さい設定で、観測期間を長くできるロジック
観測装置を得ることを目的とする。This invention was made to solve the above-mentioned problems, and an object of the present invention is to obtain a logic observation device that can lengthen the observation period by setting a small sampling clock without increasing the memory capacity.
この発明に係るロジック信号観測装置はスレショルドレ
ベルと複数の入力端子からのロジック信号とを比較して
2植化を行う複数のコンパレータを設け、クロック信号
発生器から供給されるクロ7り信号に基いて2値化され
た信号をサンプリングするためのサンプリング回路を設
け、サンプリングされたデータの状態の変化を検出する
検出装置を設けると共に、1つの状態変化から次の状態
変化までの時間を計数するカウンタの計数値を記憶する
メモリを設け、このメモリから読出された信号に基いて
表示信号を形成するための表示信号形成回路を設け、こ
の表示信号形成回路から供給される表示信号に対応した
表示をする表示装置を設けたものであります。A logic signal observation device according to the present invention is provided with a plurality of comparators that compare a threshold level with logic signals from a plurality of input terminals and perform dual processing, and is based on a clock signal supplied from a clock signal generator. A sampling circuit is provided to sample a binary signal, a detection device is provided to detect a change in the state of the sampled data, and a counter is provided to count the time from one state change to the next state change. A display signal forming circuit is provided for forming a display signal based on the signal read from the memory, and a display corresponding to the display signal supplied from the display signal forming circuit is provided. It is equipped with a display device to display the information.
この発明におけるロジック信号観測装置は信号の変化点
を検出し、信号が変化しなければ変化するまでの時間を
計数し、その値を記憶することにより信号レベルが一定
の時にメモリが消費されることを防ぎ、必要最低限の情
報を記憶することによりメモリを有効に使いサンプリン
グするクロック信号の周期の細かさを保持したまま信号
観測期間を長くしたものである。The logic signal observation device of the present invention detects the change point of the signal, counts the time until the signal changes if it does not change, and stores the value, thereby reducing memory consumption when the signal level is constant. By storing the minimum necessary information, the signal observation period is lengthened while maintaining the fineness of the period of the clock signal to be sampled, using the memory effectively.
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図において、第3図と同一構成部分には同一符号を示し
てその説明を省略する。第1図において、lla、ll
b、llc、−、Ilnは状態変化を一時的に記録する
フリツプフロツプ(以下F/Fという)で、このF/F
11 a〜l 1 nははじめの状態変化でセットさ
れ、次の状態変化でリセットされるものである。12a
、12b、12C1・・・、12nはカウンタ回路で、
このカウンタ回路12a〜12nはF/Flla〜ll
nにより起動され、同一状態、例えば、“1゛が何回続
け!
てサンプリングされたかをカウントし、F/F 11
a〜llnのセットまたはリセットと同時にその内容を
メモリ6a〜6nに送出すると共に、選出後内容がクリ
アされ、新たに次のカウントを始める。また、メモリ6
a〜6nは、最初にサンプリングされた値を記録した後
は、カウンタ回路12a〜12nの内容を、F/Fll
a〜llnのセントまたはリセットの毎に順次記録して
行(。なお、カウンタ回路12a〜12nは最初にデー
タが入力された時もF/F 11 a〜llnの初期状
態の値に拘わらず状態変化と認められるようにしておく
。An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. 1st
In the figure, the same components as those in FIG. 3 are denoted by the same reference numerals, and the explanation thereof will be omitted. In Figure 1, lla, ll
b, llc, -, Iln are flip-flops (hereinafter referred to as F/F) that temporarily record state changes;
11a to l1n are set at the first state change and reset at the next state change. 12a
, 12b, 12C1..., 12n are counter circuits,
These counter circuits 12a to 12n are F/Flla to ll.
It is started by F/F 11 and counts how many times the same state, for example, "1" is sampled in succession.
Simultaneously with setting or resetting a to lln, the contents are sent to the memories 6a to 6n, and after selection, the contents are cleared and the next count starts anew. Also, memory 6
After recording the first sampled value, a to 6n store the contents of the counter circuits 12a to 12n in F/Fll.
The counter circuits 12a to 12n are sequentially recorded every cent or reset of a to lln (in addition, the counter circuits 12a to 12n are in a state regardless of the initial state value of the F/Fs 11a to 11n even when data is input for the first time. Make sure that it is recognized as a change.
次に動作について述べる。入力端子1a〜1nから入力
された複数のロジック信号はスレショルドレベル回路2
で設定されたスレショルドレベルとコンパレータ3a〜
3nにおいて比較される。Next, we will discuss the operation. A plurality of logic signals inputted from input terminals 1a to 1n are sent to a threshold level circuit 2.
The threshold level set in and comparator 3a~
3n.
そして、比較されたロジック信号がスレショルドレベル
より大きい値であれば“1”、小さい値であれば“0”
として変換され、各々サンプリング回路5a〜5nにお
いてクロック信号発生器4から供給されるクロック信号
に基いて各コンパレータ3a〜3nの出力をそれぞれサ
ンプリングする。If the compared logic signal has a value greater than the threshold level, it will be “1”, and if it is smaller, it will be “0”.
The sampling circuits 5a to 5n sample the outputs of the comparators 3a to 3n based on the clock signals supplied from the clock signal generator 4, respectively.
このようにして信号測定が開始され、最初にサンプリン
グ回路5a〜5nから送出されたサンプリングデータが
メモリ6a〜6nに記憶されると同時に、F/F 1
1 a〜llnは、セットされる。しかして、サンプリ
ングデータの状態が不変ならば、カウンタ回路12a〜
12nはサンプリングデータの数をカウントし続ける。In this way, signal measurement is started, and at the same time the sampling data sent out from the sampling circuits 5a to 5n is stored in the memories 6a to 6n, the F/F 1
1 a to lln are set. Therefore, if the state of the sampling data remains unchanged, the counter circuits 12a~
12n continues counting the number of sampling data.
またミサンプリングデータの状態が変化すると、F/F
11 a〜llnはリセットされると同時に、カウン
タ回路12a〜12nの内容のカウント値はメモリ6a
〜6nに書き込まれた後クリアされ、新たな状態の連続
数のカウントを始める。メモリ6a〜6nへのカウンタ
回路12a〜12nのカウント値の書込みは、F/F
11 aNl 1 nのセット、リセットの毎に行な
われる。第2図に、具体的な入力信号の応動を示すこの
例では、信号測定開始後、サンプリングデータとして1
”が49個9次に“O″が61個1次に“1”が5個あ
り、これを記録するために、予めカウンタ値を記録する
メモリを8ビツトに設定しておいて、全部で25ビツト
のメモリ容量を用いて記録を実現している。したがって
、従来のロジック信号観測装置であると、信号計測の期
間に必要とするクロックの数はこの場合49+61+5
=115ビツト必要であるが、本発明のロジック信号観
測装置は、はるかに少いメモリ容量で済むことがわかる
。メモリ6a〜6nに記録された内容は、各メモリ6a
〜6nから読出された信号に基づいて表示信号を形成す
るための表示信号形成回路9で変換され、CR7表示装
置10によって表示される。Also, when the state of missampling data changes, F/F
11a to lln are reset, and at the same time, the count values of the contents of the counter circuits 12a to 12n are stored in the memory 6a.
After being written to ~6n, it is cleared and starts counting the number of consecutive new states. The count values of the counter circuits 12a to 12n are written to the memories 6a to 6n using the F/F.
11 aNl 1 This is performed every time n is set or reset. In this example, which shows the response of a specific input signal in Figure 2, after starting the signal measurement, 1
”, 9th, 61 “O”, 1st, 5 “1”, and in order to record this, the memory for recording the counter value was set to 8 bits in advance, and the total Recording is achieved using a memory capacity of 25 bits.Therefore, with a conventional logic signal observation device, the number of clocks required during the signal measurement period is 49+61+5 in this case.
=115 bits, but it can be seen that the logic signal observation device of the present invention requires a much smaller memory capacity. The contents recorded in the memories 6a to 6n are stored in each memory 6a.
6n is converted by a display signal forming circuit 9 for forming a display signal based on the signal read from 6n, and displayed by a CR7 display device 10.
なお、上記実施例では、フリップフロップを用いて、状
態変化を一時記憶したものを示したが、−時記憶できる
ものであれば、単なるロジック回路で構成しても良い。In the above embodiment, a flip-flop was used to temporarily store state changes, but a simple logic circuit may be used as long as it can store -times.
また、状態変化を表わすビットを、カウンタ値とともに
毎回記録するようにしても良い。Further, a bit representing a state change may be recorded every time together with the counter value.
以上のようにこの発明によればロジック信号観測装置を
スレショルドレベルと複数の入力端子から入力された複
数のロジック信号とを比較して2値化を行う複数のコン
パレータと、この2値化された信号をクロック信号に基
いてサンプリングするサンプリング回路と、サンプリン
グされたデータの状態変化を一時記憶する検出装置と、
1つの状態から次の状態までの間のサンプリングデータ
の時間を計測するカウンタと、このカウンタの計測値を
格納するメモリと、このメモリから読出された信号に基
いて表示信号を形成するための表示信号形成回路と、こ
の表示信号形成回路から供給される表示信号に対応した
表示をする表示装置とより構成したので、メモリ効率が
大幅に向上し、サンプリング周期の細かさを保持したま
ま長期間の信号測定ができる効果がある。As described above, according to the present invention, a logic signal observation device includes a plurality of comparators that perform binarization by comparing a threshold level with a plurality of logic signals inputted from a plurality of input terminals, and a sampling circuit that samples signals based on a clock signal; a detection device that temporarily stores changes in the state of the sampled data;
A counter for measuring the time of sampling data from one state to the next, a memory for storing the measured value of this counter, and a display for forming a display signal based on the signal read from this memory. Since it is composed of a signal forming circuit and a display device that performs a display corresponding to the display signal supplied from the display signal forming circuit, memory efficiency is greatly improved, and it can be used for long periods while maintaining the fineness of the sampling period. This has the effect of being able to measure signals.
第1図はこの発明の一実施例によるロジック信号観測装
置を示すブロック図、第2図は、この発明の一実施例の
動作を説明するための波形図、第3図は従来のロジック
信号観測装置の一例を示すブロック図、第4図は従来の
ものの動作を説明するための波形図。
第1図において、3a〜3nはコンパレータ、5a〜5
nはサンプリング回路、6a〜6nはメモリ、9は表示
信号形成回路、lla〜llnはフリップフロップ、1
2a〜12nはカウンタ回路である。
なお、図中、同一符号は、同一、又は相当部分を示す。Fig. 1 is a block diagram showing a logic signal observation device according to an embodiment of the present invention, Fig. 2 is a waveform diagram for explaining the operation of an embodiment of the invention, and Fig. 3 is a conventional logic signal observation device. A block diagram showing an example of the device, and FIG. 4 is a waveform diagram for explaining the operation of the conventional device. In FIG. 1, 3a to 3n are comparators, 5a to 5
n is a sampling circuit, 6a to 6n are memories, 9 is a display signal forming circuit, lla to lln are flip-flops, 1
2a to 12n are counter circuits. In addition, in the figures, the same reference numerals indicate the same or equivalent parts.
Claims (1)
レショルドレベルと複数の入力端子から入力された複数
のロジック信号とを比較して2値化を行うために設けら
れた複数のコンパレータと、クロック信号発生器から供
給されるクロック信号に基いて上記コンパレータで2値
化された信号をサンプリングするサンプリング回路と、
このサンプリング回路によりサンプリングされたデータ
の状態変化を一時記憶する検出装置と、1つの状態から
次の状態まで状態変化する間の上記サンプリングされた
データの時間を計測するカウンタと、このカウンタの計
測値を格納するメモリと、このメモリから読出された信
号に基いて表示信号を形成するための表示信号形成回路
と、この表示信号形成回路から供給される表示信号に対
応した表示をする表示装置とを備えたロジック信号観測
装置。A plurality of comparators provided to perform binarization by comparing a threshold level, which is a reference voltage determined by a threshold level circuit, with a plurality of logic signals input from a plurality of input terminals, and a clock signal generator. a sampling circuit that samples the signal binarized by the comparator based on a clock signal supplied from the comparator;
a detection device that temporarily stores changes in the state of the data sampled by the sampling circuit; a counter that measures the time during which the sampled data changes from one state to the next; and a measured value of the counter. a display signal forming circuit for forming a display signal based on the signal read from the memory, and a display device for displaying a display corresponding to the display signal supplied from the display signal forming circuit. Logic signal observation device equipped with
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23715186A JPS6391570A (en) | 1986-10-07 | 1986-10-07 | Apparatus for observing logic signal |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23715186A JPS6391570A (en) | 1986-10-07 | 1986-10-07 | Apparatus for observing logic signal |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6391570A true JPS6391570A (en) | 1988-04-22 |
Family
ID=17011158
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23715186A Pending JPS6391570A (en) | 1986-10-07 | 1986-10-07 | Apparatus for observing logic signal |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6391570A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2007127635A (en) * | 2005-11-02 | 2007-05-24 | Tektronix Inc | Measuring instrument and processing method of digital logic signal |
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-
1986
- 1986-10-07 JP JP23715186A patent/JPS6391570A/en active Pending
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