JPS6391539A - 薄板の透孔検査装置 - Google Patents
薄板の透孔検査装置Info
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- JPS6391539A JPS6391539A JP23761486A JP23761486A JPS6391539A JP S6391539 A JPS6391539 A JP S6391539A JP 23761486 A JP23761486 A JP 23761486A JP 23761486 A JP23761486 A JP 23761486A JP S6391539 A JPS6391539 A JP S6391539A
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Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は金属製薄板を加工し、食品容器となる缶を￥Ｊ
造する場合等において、金属薄板の加工上、透孔の発生
し易い箇所を集中的に検査する検査装置に関する。
造する場合等において、金属薄板の加工上、透孔の発生
し易い箇所を集中的に検査する検査装置に関する。
かん胴とかん蓋との結合は、一般にかん胴の端部を押し
拡げて形成されるフランジ部に、かん蓋を合せ、これを
巻きかしめて行われる。その際、かん胴を押し拡げると
きに溶接等による合せ部に欠陥が生じ易い。従ってかん
胴のフランジ部の欠陥を検査する必要があるが、そのた
め従来、例えば第４図に示すごとき方法が行われていた
。即ち、溶接部６を有するかんＷＡ５は端部が押し拡げ
られて７ランジ部７が形成されており、投光器９から発
射される光束１０がフランジ部に照射され、７ランジ部
の欠陥を透過する光が受光素子１１の受光面で検出され
て欠陥が検査される。また過流探傷法によりフランジ部
の欠陥を検査することも行われていた。
拡げて形成されるフランジ部に、かん蓋を合せ、これを
巻きかしめて行われる。その際、かん胴を押し拡げると
きに溶接等による合せ部に欠陥が生じ易い。従ってかん
胴のフランジ部の欠陥を検査する必要があるが、そのた
め従来、例えば第４図に示すごとき方法が行われていた
。即ち、溶接部６を有するかんＷＡ５は端部が押し拡げ
られて７ランジ部７が形成されており、投光器９から発
射される光束１０がフランジ部に照射され、７ランジ部
の欠陥を透過する光が受光素子１１の受光面で検出され
て欠陥が検査される。また過流探傷法によりフランジ部
の欠陥を検査することも行われていた。
また、かん蓋には開口用タブがかしめられることがある
が、この場合かん蓋の素材は大きく変形する部分があり
、この部分に透孔が発生し易い。
が、この場合かん蓋の素材は大きく変形する部分があり
、この部分に透孔が発生し易い。
かん蓋の微小道孔検査装置としては、かん蓋とかん蓋を
支持する中空円筒体とで［１８室を形成し、暗室の中に
受光装置を配置し、がん蓋に外部から光を照射し、かん
蓋の透孔を通過して暗室内に洩れ込む光を検出する透孔
検査装置が提案されている（特開昭５２−８３２７７）
。また、かん胴は一般に金属製薄板を円筒形に成形し、
向い相う縁を溶接または接着により接続して作られるが
、この接続部には透孔が発生し易い。このようなかん胴
の透孔に対しては、底付かん胴の開口側に受光装置をお
き、該受光装置を囲む室と缶内を連通して密閉室を形成
して暗室となし、かん胴外周囲とかん底の外側に光源を
おきかん胴壁の透孔を検出する方法が提案されている（
米国特許第３４５３０５４号）。
支持する中空円筒体とで［１８室を形成し、暗室の中に
受光装置を配置し、がん蓋に外部から光を照射し、かん
蓋の透孔を通過して暗室内に洩れ込む光を検出する透孔
検査装置が提案されている（特開昭５２−８３２７７）
。また、かん胴は一般に金属製薄板を円筒形に成形し、
向い相う縁を溶接または接着により接続して作られるが
、この接続部には透孔が発生し易い。このようなかん胴
の透孔に対しては、底付かん胴の開口側に受光装置をお
き、該受光装置を囲む室と缶内を連通して密閉室を形成
して暗室となし、かん胴外周囲とかん底の外側に光源を
おきかん胴壁の透孔を検出する方法が提案されている（
米国特許第３４５３０５４号）。
上述のかん胴のフランジ部の検査の方法には次のような
問題がある。即ち投光器からの光束を受光素子で受ける
方法においては、投光器及び受光素子の形状寸法により
これらをフランジ部に近づけられる距離が制限されるた
め検出の精度を高めることができない。何故なら投光器
の光源は一定の面積をもつものであり、これをレンズで
集光して光束を作ればその輪郭部には光が徐々に弱くな
る部分が存在し、フランジの端部近く迄強い光を照射し
ようとすると輪郭部の光は７ランジの端部を超えて受光
素子に達してノイズの原因となる。
問題がある。即ち投光器からの光束を受光素子で受ける
方法においては、投光器及び受光素子の形状寸法により
これらをフランジ部に近づけられる距離が制限されるた
め検出の精度を高めることができない。何故なら投光器
の光源は一定の面積をもつものであり、これをレンズで
集光して光束を作ればその輪郭部には光が徐々に弱くな
る部分が存在し、フランジの端部近く迄強い光を照射し
ようとすると輪郭部の光は７ランジの端部を超えて受光
素子に達してノイズの原因となる。
第４図に示すように遮蔽板１２を設けても、遮蔽板とフ
ランジとの隙間をなくすことは困難であるので上記問題
が生じる。また投光器、受光素子及び７ランジ部の相対
位置の精度を高めることが困難であるので、フランジの
端部を超える光が受光素子に達することもある。また欠
陥部を透過する光も、欠陥部で反射されて方向が変ると
、受光素子が遠いため受光素子に到達しない場合がある
。
ランジとの隙間をなくすことは困難であるので上記問題
が生じる。また投光器、受光素子及び７ランジ部の相対
位置の精度を高めることが困難であるので、フランジの
端部を超える光が受光素子に達することもある。また欠
陥部を透過する光も、欠陥部で反射されて方向が変ると
、受光素子が遠いため受光素子に到達しない場合がある
。
過流探傷法による場合は溶接ビード部又は重合せ継目部
で透磁率及び電気抵抗が不連続となりこれが出力に表わ
れ、欠陥による出力変化と区別し難いので継目無しのか
ん胴にしか適用できない。
で透磁率及び電気抵抗が不連続となりこれが出力に表わ
れ、欠陥による出力変化と区別し難いので継目無しのか
ん胴にしか適用できない。
また欠陥が小さい穴である場合も出力の変化が小さく検
出困難である。
出困難である。
また、上記かん蓋及び底付かん胴の検査方法（特開昭５
２−８３２７７、米国特許第３４５３０５４号）には、
次のような問題がある。即ち、かん蓋及びかん胴に発生
する透孔は極めて小さいものであり、このような透孔を
通過する光は微弱であり、これを検出するために受光装
置の検出感度を高めなければならない。−力受光装置の
検出感度を高めると、底付かん胴の開口部と受光装置を
囲む空との連通部等より洩れ込む光にも感応するように
なり検出の精度を高めることが困難である。更に、検出
すべき透孔と受光装置とが遠く離れているので、透光を
通過した光の一部しか受光装置に到達せず検出の精度を
高めることが一層困難となる。
２−８３２７７、米国特許第３４５３０５４号）には、
次のような問題がある。即ち、かん蓋及びかん胴に発生
する透孔は極めて小さいものであり、このような透孔を
通過する光は微弱であり、これを検出するために受光装
置の検出感度を高めなければならない。−力受光装置の
検出感度を高めると、底付かん胴の開口部と受光装置を
囲む空との連通部等より洩れ込む光にも感応するように
なり検出の精度を高めることが困難である。更に、検出
すべき透孔と受光装置とが遠く離れているので、透光を
通過した光の一部しか受光装置に到達せず検出の精度を
高めることが一層困難となる。
本発明は上述の問題点を解決するためになされたもので
、透孔の発生し易い所を集中的に検出することにより、
検出精度の高い薄板の透孔検査装置を提供することを目
的とする。
、透孔の発生し易い所を集中的に検出することにより、
検出精度の高い薄板の透孔検査装置を提供することを目
的とする。
発光源に接続された光ファイバーと、受光素子に接続さ
れた光ファイバーとを光軸が一致するようにして端面を
対峙させ、前記光ファイバーの端面間に形成される光束
を遮るように薄板の被検査部分を配置し、前記光束と薄
板の被検査部分を相対的に移動させ、被検査部分を透過
する光を光ファイバーを介して受光素子で受けて、受光
素子の出力値変化により被検査部分の透孔を検出する。
れた光ファイバーとを光軸が一致するようにして端面を
対峙させ、前記光ファイバーの端面間に形成される光束
を遮るように薄板の被検査部分を配置し、前記光束と薄
板の被検査部分を相対的に移動させ、被検査部分を透過
する光を光ファイバーを介して受光素子で受けて、受光
素子の出力値変化により被検査部分の透孔を検出する。
光ファイバーの端面が光軸と垂直であり、端面からの直
線部が比較的長い場合は前記端部より放出される光は光
ファイバーの直線部の向きの鋭い輪郭を有する平行光線
の光束となる。従ってこの光束に受光素子に接続された
光ファイバーを配置し、光束を被検査物で遮るようにす
れば、被検査物に穴、割れ等の欠陥があると、欠陥部を
透過した光は、光ファイバーを介して受光素子に到る。
線部が比較的長い場合は前記端部より放出される光は光
ファイバーの直線部の向きの鋭い輪郭を有する平行光線
の光束となる。従ってこの光束に受光素子に接続された
光ファイバーを配置し、光束を被検査物で遮るようにす
れば、被検査物に穴、割れ等の欠陥があると、欠陥部を
透過した光は、光ファイバーを介して受光素子に到る。
従って受光素子の出力値を監視することにより欠陥の有
無を知ることができる。
無を知ることができる。
以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。第１図
に示されるかん胴５は図示されてない把持器により把持
され、フランジ部７の図示の左側の部分の縁線と平行の
向きに往復動できるようになっている。発光源１に接続
されている光ファイバー２は端部がフランジ部７の面と
略垂直になるように、図示していない保持具により保持
されている。光ファイバー３はその端面がフランジ部７
の背面に光ファイバー２の端面と対峙するように保持さ
れておりまた受光素子４と接続されている。このように
して光ファイバー２と光ファイバー３との間の光束８が
フランジ部７により遮られる。このような検査装置にお
いて発光源１より光を発射させ、また受光素子４よりの
出力を監視しながら溶接部６を光束８の近傍で往復動じ
て、フランジ部の溶接ビードに発生する欠陥を検出する
ことができる。なお第１図に示された光ファイバーは１
対であるが、実際は７ランジの先端より１姻程度から、
肩の部分にわたり２対または３対の光ファイバーを配置
して欠陥の検出が行われた。
に示されるかん胴５は図示されてない把持器により把持
され、フランジ部７の図示の左側の部分の縁線と平行の
向きに往復動できるようになっている。発光源１に接続
されている光ファイバー２は端部がフランジ部７の面と
略垂直になるように、図示していない保持具により保持
されている。光ファイバー３はその端面がフランジ部７
の背面に光ファイバー２の端面と対峙するように保持さ
れておりまた受光素子４と接続されている。このように
して光ファイバー２と光ファイバー３との間の光束８が
フランジ部７により遮られる。このような検査装置にお
いて発光源１より光を発射させ、また受光素子４よりの
出力を監視しながら溶接部６を光束８の近傍で往復動じ
て、フランジ部の溶接ビードに発生する欠陥を検出する
ことができる。なお第１図に示された光ファイバーは１
対であるが、実際は７ランジの先端より１姻程度から、
肩の部分にわたり２対または３対の光ファイバーを配置
して欠陥の検出が行われた。
本実施例の場合、外径２ｍ光路断面直径１＃ｌＩＩの光
ファイバーをフランジ面に約３ＩＩｌｌ迄接近させて、
７ランジ先端の割れやフランジ肩付近の穴等すべて確実
に検出できた。
ファイバーをフランジ面に約３ＩＩｌｌ迄接近させて、
７ランジ先端の割れやフランジ肩付近の穴等すべて確実
に検出できた。
第２図に示す伯の実施例は本発明を重ね合ぐ継目を有す
るかん胴に適用した例であり、この場合フランジの縁線
と光ファイバーとで形成される角度（図示のα）を約３
０’として重ね合せ継目部に発生する欠陥も検出するこ
とかできた。
るかん胴に適用した例であり、この場合フランジの縁線
と光ファイバーとで形成される角度（図示のα）を約３
０’として重ね合せ継目部に発生する欠陥も検出するこ
とかできた。
第３図に示す本発明の他の実施例は本発明をかん胴の突
合せ溶接部の検査に応用した例を示し、特願昭６１−１
４６７３４号に開示されたようなチューブの製造装置の
後方に透孔検査装置が配置されている。
合せ溶接部の検査に応用した例を示し、特願昭６１−１
４６７３４号に開示されたようなチューブの製造装置の
後方に透孔検査装置が配置されている。
即ち、突合せ溶接部６を有するがん胴５は、チューブホ
ルダー１４でマンドレル１３に押し付けられ、マンドレ
ル１３の外周を滑りながら紙面の前方から背面の方向に
チューブホルダー１４により送られる（チューブホルダ
ーの駆動装置及びガイドは図示していない）が、チュー
ブホルダー１４とかん胴は強く圧接されているので相対
的なずれが発生せず、溶接部６の位置はマンドレル１３
０周方向で不変である。従って、溶接部６の通過する位
置に、光ファイバー２．３を配置して、溶接部に存在す
る透孔を検出することができる。
ルダー１４でマンドレル１３に押し付けられ、マンドレ
ル１３の外周を滑りながら紙面の前方から背面の方向に
チューブホルダー１４により送られる（チューブホルダ
ーの駆動装置及びガイドは図示していない）が、チュー
ブホルダー１４とかん胴は強く圧接されているので相対
的なずれが発生せず、溶接部６の位置はマンドレル１３
０周方向で不変である。従って、溶接部６の通過する位
置に、光ファイバー２．３を配置して、溶接部に存在す
る透孔を検出することができる。
々お光ファイバー２及び３は発光源及び受光素子に各々
接続されている。
接続されている。
本発明をかん蓋の検査装置に応用した例は図示していな
いが、透孔の発生し易い開口用タブのかしめ部分が一定
の位置を通過するようにかん蓋を送り、そのかしめ部分
の通過する位置に光フッイーバーを配置すればよい。こ
の場合、光ファイバーは透孔の発生する部分を充分カバ
ーするために必要な数だけ配置する。
いが、透孔の発生し易い開口用タブのかしめ部分が一定
の位置を通過するようにかん蓋を送り、そのかしめ部分
の通過する位置に光フッイーバーを配置すればよい。こ
の場合、光ファイバーは透孔の発生する部分を充分カバ
ーするために必要な数だけ配置する。
光ファイバーはその形状から、被検査部分に接近して配
置することができ、また鋭い輪郭を有する平行光線の光
束を得ることができるので、被検査部分の端部を超える
光や外乱光が受光側ファイバーに入ることがなく被検査
部分の透孔の検出の精度を高めることができる。
置することができ、また鋭い輪郭を有する平行光線の光
束を得ることができるので、被検査部分の端部を超える
光や外乱光が受光側ファイバーに入ることがなく被検査
部分の透孔の検出の精度を高めることができる。
また、かん胴のフランジ部の検査に応用した場合、フラ
ンジ部の端部を超える光が受光側ファイバーに入る恐れ
がないため、従来必要とされた遮蔽板が不要となり、検
査における生産性が高まる。
ンジ部の端部を超える光が受光側ファイバーに入る恐れ
がないため、従来必要とされた遮蔽板が不要となり、検
査における生産性が高まる。
更に、受光部における受光面積が小さいため、透孔を通
過した光が受光部に入る部分の面積と、受光面積との比
が大きく、検査の精度が高められる。
過した光が受光部に入る部分の面積と、受光面積との比
が大きく、検査の精度が高められる。
第１図は本発明の実施例におけるかん腸１のフランジ部
欠陥検査装置を示す斜視図、第２図は本発明の他の実施
例を示す部分図、第３図は本発明の更に他の実施例を示
す断面図、第４図ｔま従来の技術によるかん胴のフラン
ジ部欠陥検査装置を示す斜視図である。 １・・・発光源、２・・・光ファイバー、３・・・光フ
ァイバー、４・・・受光素子、５・・・かん胴、６・・
・溶接部、７・・・フランジ部、８・・・光束、９・・
・投光器、１０・・・光束、１１・・・受光素子、１２
・・・遮蔽板。 善 Ｉ 囚 羊 ２ 副 第３ 国 茶４ 回
欠陥検査装置を示す斜視図、第２図は本発明の他の実施
例を示す部分図、第３図は本発明の更に他の実施例を示
す断面図、第４図ｔま従来の技術によるかん胴のフラン
ジ部欠陥検査装置を示す斜視図である。 １・・・発光源、２・・・光ファイバー、３・・・光フ
ァイバー、４・・・受光素子、５・・・かん胴、６・・
・溶接部、７・・・フランジ部、８・・・光束、９・・
・投光器、１０・・・光束、１１・・・受光素子、１２
・・・遮蔽板。 善 Ｉ 囚 羊 ２ 副 第３ 国 茶４ 回
Claims (1)
- 発光源に接続された光ファイバーと、受光素子に接続さ
れた光ファイバーとを光軸が一致するようにして端面を
対峙させ、前記光ファイバーの端面間に形成される光束
を遮るように薄板の被検査部分を配置し、前記光束と薄
板の被検査部分を相対的に移動させ、薄板の被検査部分
を透過する光を検出することを特徴とする薄板の透孔検
査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23761486A JPS6391539A (ja) | 1986-10-06 | 1986-10-06 | 薄板の透孔検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23761486A JPS6391539A (ja) | 1986-10-06 | 1986-10-06 | 薄板の透孔検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6391539A true JPS6391539A (ja) | 1988-04-22 |
Family
ID=17017926
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23761486A Pending JPS6391539A (ja) | 1986-10-06 | 1986-10-06 | 薄板の透孔検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6391539A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010046679A (ja) * | 2008-08-20 | 2010-03-04 | Nissan Motor Co Ltd | レーザ溶接品質検査方法及び装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS519893A (ja) * | 1974-03-30 | 1976-01-26 | Fuijitoroniku Gereetebau Gmbh | Mitsupubunoketsukankashoosokuteisuruhohooyobisochi |
-
1986
- 1986-10-06 JP JP23761486A patent/JPS6391539A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS519893A (ja) * | 1974-03-30 | 1976-01-26 | Fuijitoroniku Gereetebau Gmbh | Mitsupubunoketsukankashoosokuteisuruhohooyobisochi |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010046679A (ja) * | 2008-08-20 | 2010-03-04 | Nissan Motor Co Ltd | レーザ溶接品質検査方法及び装置 |
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