JPS6381961A - Device for assembling semiconductor device - Google Patents

Device for assembling semiconductor device

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Publication number
JPS6381961A
JPS6381961A JP22605186A JP22605186A JPS6381961A JP S6381961 A JPS6381961 A JP S6381961A JP 22605186 A JP22605186 A JP 22605186A JP 22605186 A JP22605186 A JP 22605186A JP S6381961 A JPS6381961 A JP S6381961A
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JP
Japan
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lead frame
semiconductor device
guide
push
interlocking plate
Prior art date
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Pending
Application number
JP22605186A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takatoshi Hagiwara
孝俊 萩原
Toshikazu Oshino
押野 利和
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
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  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

PURPOSE:To remove the relative displacement of a semiconductor device and the outer frame of a lead frame, to prevent falling from the lead frame of the semiconductor device and to improve throughput in the assembly of the semiconductor device by interlocking and moving a push-up pin and a lead frame guide by an interlocking plate. CONSTITUTION:When a punch guide 15a is lowered, a lead frame guide 3 is pushed down to a lower section against the force of a spring 13 together with an interlocking plate 19 and a push-up pin 12. Punches 14 are brought down, and outer leads in a lead frame 2 are cut and bent and fabricated. The punches 14 are elevated, and the puch guide 15a is lifted. The interlocking plate 19 follows up to the punch guide 15a and rises until it is returned to a position where the interlocking plate 19 is brought into contact with the upper wall of an inserting hole 18 by the action of the spring 13 at that time, and is stopped. The lead frame guide 3 follows up to the punch guide 15a and elevates and is stopped. Large stress is not applied to a hanging head, thus preventing the cutting of the hanging lead, then obviating falling from the lead frame 2 of a semiconductor device 1.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ 本発明は、リードフレームを用いる半導体装置の組立て
に適用して特に有効な技術に関するもので、例えば、リ
ードフレームの外枠に支持された半導体装置に加工また
は処理を施す場合に利用して有効な技術に関する。
Detailed Description of the Invention [Field of Industrial Application] The present invention relates to a technique that is particularly effective when applied to the assembly of semiconductor devices using lead frames. It relates to techniques that are effective when processing or processing equipment.

[従来の技術] 例えば、D I P (Dual In1ine Pa
ckage)型またはP L CC(Plastic 
Loaded Chip Carrier)型の半導体
装置の組立てにおいては、一般に、リードフレームが用
いられ、半導体装置はこのリードフレームの外枠に支持
された状態で加工・処理される。また、上記のような半
導体装置においては、半導体チップ搭載領域を樹脂封止
した後に、リードフレームのタイバの切断や、外部リー
ドの折り曲げがなされる。
[Prior art] For example, DIP (Dual Inline Pa
ckage) type or P L CC (Plastic
In assembling a loaded chip carrier (loaded chip carrier) type semiconductor device, a lead frame is generally used, and the semiconductor device is processed and processed while being supported by the outer frame of the lead frame. Furthermore, in the above semiconductor device, after the semiconductor chip mounting area is sealed with resin, the tie bars of the lead frame are cut and the external leads are bent.

このうち第5図には折曲げ工程に用いられるリードフレ
ーム加工装置(半導体装置の組立て装置)が示されてい
る。この技術は公知とされた技術ではないが、本発明者
によって検討された技術であり、概要は次の通りである
Of these, FIG. 5 shows a lead frame processing apparatus (semiconductor device assembly apparatus) used in the bending process. Although this technique is not a publicly known technique, it is a technique studied by the present inventor, and the outline is as follows.

同図において、1はリードフレーム2の外枠の中央に複
数の吊りリードにて支持されたタブ(チップ載置部)に
樹脂モールドにより一体成形されることによってに形成
された半導体装置を表わしている。また、3はリードフ
レーム2の外枠をガイドし加工部まで上記半導体装Il
lを搬送するリードフレームガイドを表わしている。
In the figure, 1 represents a semiconductor device formed by integrally molding a tab (chip mounting part) with a resin mold at the center of the outer frame of a lead frame 2 supported by a plurality of hanging leads. There is. 3 guides the outer frame of the lead frame 2 to the processing section.
1 depicts a lead frame guide that conveys the l.

ここで、リードフレームガイド3下部には複数本のロッ
ド4が垂直に植設されており、このロッド4下部は下型
ヘッド5に穿設されたばね室6内に嵌入されている。そ
して、上記ロッド4はばね室6内に挿入されたばね7に
よって上方に付勢されている。
Here, a plurality of rods 4 are installed vertically in the lower part of the lead frame guide 3, and the lower part of the rods 4 is fitted into a spring chamber 6 bored in the lower die head 5. The rod 4 is urged upward by a spring 7 inserted into the spring chamber 6.

また、下型ヘッド5上にはダイホルダ8および曲げダイ
9がこの順に載設されており、これらによって下型が構
成されている。ここで、下型ヘッド5にはその中央部分
にばね室10が穿設されている。一方、ダイホルダ8お
よび曲げダイ9には上記ばね室10に連通するガイド孔
11が設けられている。そして、ばね室10およびガイ
ド孔11には押上げビン12が嵌入され、この押上げビ
ン12は上記ばね室10に挿入されたばね13によって
上方に付勢されている。
Furthermore, a die holder 8 and a bending die 9 are mounted in this order on the lower die head 5, and these constitute a lower die. Here, a spring chamber 10 is bored in the center of the lower die head 5. On the other hand, a guide hole 11 communicating with the spring chamber 10 is provided in the die holder 8 and the bending die 9. A push-up pin 12 is fitted into the spring chamber 10 and the guide hole 11, and the push-up pin 12 is urged upward by a spring 13 inserted into the spring chamber 10.

加えて、上記曲げダイ9上方には上型が設置されている
。この上型は、外部リードの折曲げを行なうパンチ14
と、このパンチ14を案内するパンチガイド15aと、
外部リードの折曲げの際にリードフレーム2を押えるた
めのノックアウト(knock out) 15 bと
から構成されている。
In addition, an upper die is installed above the bending die 9. This upper mold has a punch 14 for bending the external leads.
and a punch guide 15a that guides this punch 14,
It is comprised of a knockout (knock out) 15b for holding down the lead frame 2 when bending the external lead.

なお、第5図において、16はリード折曲げ用の型溝、
17は下型と上型の合せ部に形成される半導体装置の収
容部を表わしている。
In addition, in FIG. 5, 16 is a mold groove for lead bending;
Reference numeral 17 represents a housing portion for a semiconductor device formed at the joint portion of the lower mold and the upper mold.

次に、このリードフレーム加工装置の作用を説明する。Next, the operation of this lead frame processing device will be explained.

リードフレームガイド3によって型内位置まで半導体装
N1が搬送され、その位置決めがなされると、上型であ
るパンチガイド15aが下降する。
The semiconductor device N1 is transported to a position inside the mold by the lead frame guide 3, and when the semiconductor device N1 is positioned, the punch guide 15a, which is the upper mold, is lowered.

この場合、先ず、下降途中にパンチガイド15aがリー
ドフレームガイド3に当接される。このとき、同時に、
半導体装置1の背面もノックアウト15bの下面に当接
される。また、パンチガイド15aのさらなる下降より
、リードフレームガイド3がばね7に抗して下方へ押し
下げられる。そして、さらに、パンチガイド15aが下
降すると。
In this case, first, the punch guide 15a comes into contact with the lead frame guide 3 during its descent. At this time, at the same time,
The back surface of the semiconductor device 1 is also brought into contact with the lower surface of the knockout 15b. Furthermore, as the punch guide 15a further descends, the lead frame guide 3 is pushed down against the spring 7. Then, when the punch guide 15a further descends.

ノックアウト15bによって半導体装置1の腹面が押上
げビン12に押接され、押上げビン12がばね13に抗
して下方へ押し下げられる。そうして、パンチガイド1
5aと曲げダイ9との型締めがなされる。
The knockout 15b presses the bottom surface of the semiconductor device 1 against the push-up bottle 12, and the push-up bottle 12 is pushed down against the spring 13. Then punch guide 1
5a and the bending die 9 are clamped.

次いで、パンチ14が下降してリードフレーム2の外部
リードの折曲げ加工がなされる。
Next, the punch 14 is lowered to bend the external leads of the lead frame 2.

その後、パンチ14が上昇すると共に、パンチガイド1
5aが上昇する。このとき、リードフレームガイド3は
、ばね7の作用によって初期位置に戻るまで、パンチガ
イド15aに追従する。そして、パンチガイド15aが
初期位置まで戻った後には、パンチガイド15aのみが
所定位置まで上昇する。
Thereafter, as the punch 14 rises, the punch guide 1
5a rises. At this time, the lead frame guide 3 follows the punch guide 15a until it returns to the initial position due to the action of the spring 7. After the punch guide 15a returns to the initial position, only the punch guide 15a rises to a predetermined position.

なお、この装置では、リードフレーム2の曲げダイス9
への貼着によって半導体装置1がパンチガイド3の上昇
に追従できなくなった場合には、押上げビン13によっ
て半導体装置1が上方に押し上げられる。
Note that in this device, the bending die 9 of the lead frame 2 is
If the semiconductor device 1 is unable to follow the rise of the punch guide 3 due to adhesion to the punch guide 3, the push-up pin 13 pushes the semiconductor device 1 upward.

[発明が解決しようとする問題点コ しかし、このような加工装置によれば、次のような問題
点がある。
[Problems to be Solved by the Invention However, such a processing device has the following problems.

例えば、型締めの際、パンチガイド15aとリードフレ
ームガイド3とが当接したとき、同時に、半導体装置1
の背面もノックアウト15bの下面に当接されるように
ノックアウト15bの下面を形成しなければならない、
しかし型自体の寸法誤差や、半導体装illのパッケー
ジ等の寸法誤差があるため、実際には、パンチガイド1
5aとリードフレームガイド3とが当接したとき、半導
体装g11の背面がノックアウト15bの下面に当接さ
れないケースも少なくない。
For example, when the punch guide 15a and the lead frame guide 3 come into contact during mold clamping, the semiconductor device 1
The lower surface of the knockout 15b must be formed so that the rear surface of the knockout 15b also comes into contact with the lower surface of the knockout 15b.
However, due to dimensional errors in the mold itself and the package of the semiconductor device, in reality, the punch guide 1
5a and the lead frame guide 3, there are many cases in which the back surface of the semiconductor device g11 does not come into contact with the lower surface of the knockout 15b.

この場合には、パンチガイド15aがさらに下降して、
半導体装置1の腹面が押上げピン13に当接した際に、
ばね13の作用によって、半導体装[1の背面がノック
アウト15bの下面に押しつけられるようになるので、
リードフレーム2の外枠と半導体装置1との間に相対移
動を生じ、半導体装置1を外枠に支持する吊りリード(
タブを外枠によって支持している吊りリード)にストレ
スが加わる。そして、この場合、吊りリードが切れて、
リードフレーム2から半導体装置1が脱落してしまう危
険性がある。
In this case, the punch guide 15a further descends,
When the bottom surface of the semiconductor device 1 comes into contact with the push-up pin 13,
Due to the action of the spring 13, the back of the semiconductor device [1 is pressed against the lower surface of the knockout 15b, so that
Hanging leads (which cause relative movement between the outer frame of the lead frame 2 and the semiconductor device 1 and support the semiconductor device 1 on the outer frame)
Stress is applied to the suspension lead that supports the tab by the outer frame. In this case, the hanging lead breaks,
There is a risk that the semiconductor device 1 will fall off the lead frame 2.

特に、PLCC型半導体装置のリードフレームの外部リ
ードの折曲げ加工にあっては、第6図に示すような多数
の工程をもってリードの切断、折り曲加工を必要とする
ので、その危険性が大きい。
In particular, bending the external leads of a lead frame of a PLCC type semiconductor device involves cutting and bending the leads in multiple steps as shown in Figure 6, which poses a great risk. .

また、逆に、型締めの際、パンチガイド16aとリード
フレームガイド3との当接よりも先に、半導体装1i1
1の背面とノックアウト15bの下面との当接が起る場
合もある。この場合にも、リードフレーム2の外枠と半
導体装置1との間に相対移動が生じるので、上記問題点
が惹起される。
Conversely, when the mold is clamped, the semiconductor device 1i1 is
1 may come into contact with the lower surface of the knockout 15b. Also in this case, relative movement occurs between the outer frame of the lead frame 2 and the semiconductor device 1, causing the above-mentioned problem.

その結果、加工装置内部に半導体装置が残り、事後の成
形が行なえなくなったりするなどの問題があった。
As a result, there are problems such as the semiconductor device remaining inside the processing equipment, making it impossible to perform subsequent molding.

本発明は、かかる難点に鑑みなされたもので、半導体装
置のリードフレームからの脱落を防止し、半導体装置の
組立てにおけるスループットの向上を図ることができる
半導体装置の組立て装置を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of these difficulties, and an object of the present invention is to provide a semiconductor device assembly apparatus that can prevent semiconductor devices from falling off from lead frames and improve throughput in assembling semiconductor devices. do.

この発明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴に
ついては、本明細書の記述および添附図面から明らかに
なるであろう。
The above and other objects and novel features of the present invention will become apparent from the description of this specification and the accompanying drawings.

[問題点を解決するための手段] 本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を説明すれば、下記のとおりである。
[Means for Solving the Problems] Representative inventions disclosed in this application will be summarized as follows.

即ち、半導体装置を支持するリードフレームの外枠をガ
イドするリード、フレームガイドと、半導体装置を押し
上げる押上げピンとを連動させる連動板とを設けたもの
である。
That is, it is provided with an interlocking plate that interlocks leads and frame guides that guide the outer frame of a lead frame that supports a semiconductor device, and push-up pins that push up the semiconductor device.

[作用] 上記した手段によれば、連動板は、リードフレームガイ
ドに連動して押上ピンを上下動させ、半導体装置と外枠
との相対移動を生じさせないように働くので、半導体装
置を支持する吊りリードに大きなストレスがかからず、
したがって、吊りリードの切断に伴う半導体装置のリー
ドフレームからの脱落が防止され、半導体装置の組立て
におけるスループットの向上という上記目的を達成する
ことができる。
[Function] According to the above-described means, the interlocking plate moves the push-up pin up and down in conjunction with the lead frame guide, and works to prevent relative movement between the semiconductor device and the outer frame, thereby supporting the semiconductor device. No big stress is placed on the hanging lead,
Therefore, it is possible to prevent the semiconductor device from falling off the lead frame due to the cutting of the hanging leads, and it is possible to achieve the above object of improving the throughput in assembling the semiconductor device.

[実施例コ 第1図は本発明による半導体装置の組立て装置の一実施
例であるリードフレーム加工装置の概略構成断面図であ
る。
[Embodiment] FIG. 1 is a schematic cross-sectional view of a lead frame processing apparatus which is an embodiment of a semiconductor device assembly apparatus according to the present invention.

同図において1はリードフレーム2の外枠に支持された
半導体装置を表わしている。また、3はリードフレーム
2の外枠をガイドし加工部まで上記半導体装置1を搬送
するリードフレームガイドを表わしている。
In the figure, 1 represents a semiconductor device supported by the outer frame of a lead frame 2. As shown in FIG. Further, 3 represents a lead frame guide that guides the outer frame of the lead frame 2 and transports the semiconductor device 1 to the processing section.

ここで、リードフレームガイド3下方には、ばね力等に
よってリードフレームガイド3を上方に付勢する付勢手
段(図示せず)が設けられている。
Here, a biasing means (not shown) is provided below the lead frame guide 3 to bias the lead frame guide 3 upward by a spring force or the like.

また、リードフレームガイド3の下方に位置する下型ヘ
ッドS上にはダイホルダ8および曲げダイ9がこの順に
載設されており、これらによって下型が構成されている
。ここで、下型ヘッド5およびダイホルダ8の中央部分
には、下型ヘッド5からダイホルダ8に亘って延びるば
ね室10が穿設されている。一方、曲げダイ9には、該
曲げダイ9を水平方向に貫くと共に上記ばね室10に連
通する嵌入孔18が設けられている。また、曲げダイ9
には、嵌入孔18に連通するガイド孔11が設けられて
いる。そして、上記嵌入孔18には連動板19が嵌挿さ
れている。また、ばね室10およびガイド孔11には上
記連動板19と係合する押上げピン12が嵌入され、こ
の押上げピン12は上記ばね室10に挿入されたばね1
3によって上方に付勢されている。その結果、ばね13
によって上記連動板19も上方に付勢されることになる
Furthermore, a die holder 8 and a bending die 9 are mounted in this order on a lower die head S located below the lead frame guide 3, and these constitute a lower die. Here, a spring chamber 10 extending from the lower mold head 5 to the die holder 8 is bored in the center portion of the lower mold head 5 and the die holder 8 . On the other hand, the bending die 9 is provided with a fitting hole 18 that passes through the bending die 9 in the horizontal direction and communicates with the spring chamber 10 . Also, bending die 9
A guide hole 11 communicating with the insertion hole 18 is provided. An interlocking plate 19 is fitted into the fitting hole 18. Further, a push-up pin 12 that engages with the interlocking plate 19 is fitted into the spring chamber 10 and the guide hole 11.
3 is biased upward. As a result, spring 13
As a result, the interlocking plate 19 is also urged upward.

加えて、上記曲げダイ9上方には上型が設置されている
。この上型は、外部リードの折の外枠曲げを行なうパン
チ14と、このパンチ14を支持するパンチガイド15
aと、外部リードの折曲げの際にリードフレーム2を押
えるためのノックアウト15bとから構成されている。
In addition, an upper die is installed above the bending die 9. This upper mold includes a punch 14 for bending the outer frame of the external lead, and a punch guide 15 for supporting the punch 14.
a, and a knockout 15b for holding down the lead frame 2 when bending the external lead.

なお、第1図において、16はリード折曲げ用の型溝、
17は下型と上型の合せ部に形成される半導体装置の収
容部を表わしている。
In addition, in FIG. 1, 16 is a mold groove for lead bending;
Reference numeral 17 represents a housing portion for a semiconductor device formed at the joint portion of the lower mold and the upper mold.

また、上記リードフレーム加工装置には、第2図に示す
ように曲げダイ9を挟んだ位置に、例えば、レーザビー
ムを発する発光素子20と、それを受光する受光素子2
1とが設けられている。この場合1発光素子20と受光
素子21との間に形成されるレーザビームの光路は曲げ
ダイ9の上面とほぼ同一高さになるようになされている
。そうして、これら発光素子20と受光素子21からな
る光検出装置によってリードフレーム2の外枠からの半
導体装置1の脱落を検出できるようになっている。
Further, as shown in FIG. 2, the lead frame processing apparatus includes, for example, a light emitting element 20 that emits a laser beam and a light receiving element 2 that receives the laser beam at a position sandwiching the bending die 9.
1 is provided. In this case, the optical path of the laser beam formed between the first light emitting element 20 and the light receiving element 21 is made to be approximately at the same height as the upper surface of the bending die 9. In this way, it is possible to detect dropping of the semiconductor device 1 from the outer frame of the lead frame 2 by the photodetecting device composed of the light emitting element 20 and the light receiving element 21.

次に、このリードフレーム加工装置の作用を説明する。Next, the operation of this lead frame processing device will be explained.

リードフレームガイド3によって型内位置まで半導体装
置1が搬送され、その位置決めがなされると、上型であ
るパンチガイド15aが下降する。
When the semiconductor device 1 is transported to a position inside the mold by the lead frame guide 3 and positioned, the punch guide 15a, which is an upper mold, is lowered.

この場合、先ず、パンチガイド15aがリードフレーム
ガイド3に当接される。また、パンチガイド15aがさ
らに下降すると、リードフレームガイド3は連動板18
および押上げビン12と共にばね13に抗して下方へ押
し下げられる。そうして、パンチガイド15aと曲げダ
イ9との型締めがなされる。
In this case, first, the punch guide 15a is brought into contact with the lead frame guide 3. Further, when the punch guide 15a further descends, the lead frame guide 3 moves to the interlocking plate 18.
and is pushed down together with the push-up bottle 12 against the spring 13. In this way, the punch guide 15a and the bending die 9 are clamped together.

次いで、パンチ14が下降してリードフレーム2の外部
リードの切断、折曲げ成形加工がなされる。
Next, the punch 14 is lowered to cut and bend the external leads of the lead frame 2.

その後、パンチ14が上昇し7次いで、パンチガイド1
5aが上昇する。このとき、連動板19は、ばね13の
作用によって初期位置(嵌入孔18の土壁に連動板19
が当接する位置)に戻るまでパンチガイド15aに追従
し、初期位置に戻ったところで停止する。また、連動板
19が初期位置まで戻った後にも、パンチガイド15a
はさらに上昇する。このとき、リードフレームガイド3
は、図示しない付勢手段の作用によってパンチガイド1
5aに追従し、所定位置まで上昇して停止する。そこか
らさらに、パンチガイド15aは上昇し所定位置まで戻
った後停止する。
After that, the punch 14 rises and then the punch guide 1
5a rises. At this time, the interlocking plate 19 is moved to the initial position (the interlocking plate 19 is attached to the earthen wall of the insertion hole 18 by the action of the spring 13).
The punch guide 15a follows the punch guide 15a until it returns to the position where it abuts, and stops when it returns to the initial position. Furthermore, even after the interlocking plate 19 returns to the initial position, the punch guide 15a
will rise further. At this time, lead frame guide 3
The punch guide 1 is moved by the action of a biasing means (not shown).
5a, rises to a predetermined position, and stops. From there, the punch guide 15a further rises, returns to a predetermined position, and then stops.

このようにして、加工が終了したリードフレームは次工
程に送られる。このとき、発光素子20から受光素子2
1に向けてレーザビームが照射され、半導体装置の脱落
が検出され、脱落があった場合には、加工装置の駆動が
停止される。
The lead frame that has been processed in this way is sent to the next process. At this time, from the light emitting element 20 to the light receiving element 2
A laser beam is irradiated toward the semiconductor device 1, and dropping of the semiconductor device is detected. If the semiconductor device falls off, the driving of the processing device is stopped.

なお、この加工装置においては、パンチガイド15aと
リードフレームガイド3とが当接したとき、同時に半導
体装置1の背面がノックアウト15bに当接されること
は、必ずしも必要ではない。
Note that in this processing apparatus, when the punch guide 15a and the lead frame guide 3 come into contact with each other, it is not always necessary that the back surface of the semiconductor device 1 comes into contact with the knockout 15b at the same time.

なぜなら、本発明者によって検討された第5図の装置に
おいては、リードフレームガイド3が押し上げビン13
と連動しないので、リードフレームの加工の際に常に半
導体装Illを上方へ付勢しておく必要があったが、実
施例の装置では、リードフレームガイド3が押し上げピ
ン12と連動し、これにより半導体装置1の押上げが可
能となるので、半導体装置1を常に上方へ付勢しておく
必要がないからである。
This is because, in the device shown in FIG. 5 studied by the present inventor, the lead frame guide 3 is
Since the lead frame guide 3 does not work in conjunction with the push-up pin 12, it was necessary to always push the semiconductor device Ill upward during processing of the lead frame. This is because the semiconductor device 1 can be pushed up, so there is no need to always urge the semiconductor device 1 upward.

このような実施例のリードフレーム加工装置においては
1次のような効果を得ることができる。
In the lead frame processing apparatus of this embodiment, the following effects can be obtained.

即ち、連動板によって、押上げピンとリードフレームガ
イドとを連動して動かすようにしているので、リードフ
レームガイドの昇降の際に半導体装置1とそれを支持す
る外枠との相対移動がなく。
That is, since the push-up pin and the lead frame guide are moved in conjunction with each other by the interlocking plate, there is no relative movement between the semiconductor device 1 and the outer frame supporting it when the lead frame guide is raised or lowered.

吊りリードに大きなストレスが加わらないという作用に
より、吊りリードの切断が防止され、半導体装置1のリ
ードフレーム2からの脱落が防止されるという効果を得
ることができる。
The effect of not applying a large stress to the suspension lead prevents the suspension lead from being cut and prevents the semiconductor device 1 from falling off the lead frame 2.

また、検出装置を設けているので、半導体装置1の脱落
が生じたとしても、それを検出して即座に加工装置が停
止できるという作用により、加工装置の破損を防止でき
るという効果を得ることができる。
Further, since the detection device is provided, even if the semiconductor device 1 falls off, the processing equipment can be detected and immediately stopped, which has the effect of preventing damage to the processing equipment. can.

以上の作用の相乗によって、半導体装置の組立てにおけ
るスループットの向上を図ることが可能となる。
The synergy of the above effects makes it possible to improve the throughput in assembling semiconductor devices.

なお、上記実施例の発光素子2゛0および受光素子21
の設置位置は、第3図のように、その光路が、リードフ
レーム2の搬送路面(リードフレームガイド3の初期位
a> と略同−の高さとなるような位置であっても良い
Note that the light emitting element 2'0 and the light receiving element 21 of the above embodiment
As shown in FIG. 3, the installation position may be such that its optical path is at approximately the same height as the transport path surface of the lead frame 2 (initial position a of the lead frame guide 3).

また、上記実施例の発光素子20および受光素子21の
設置位置は、第4図に示すように、その光路が、リード
フレーム2の搬送路に対して斜めとなるような位置であ
っても良い。
Further, the installation positions of the light emitting element 20 and the light receiving element 21 in the above embodiment may be such that the optical path thereof is oblique to the conveyance path of the lead frame 2, as shown in FIG. .

以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は上記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない0例えば、連動板18を上
昇させるばねを複数設けても良い。
Although the invention made by the present inventor has been specifically explained above based on Examples, it goes without saying that the present invention is not limited to the above Examples and can be modified in various ways without departing from the gist thereof. For example, a plurality of springs for lifting the interlocking plate 18 may be provided.

以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその背景となった利用分野である外部リードの折曲げ
加工技術に適用した場合について説明したが、それに限
定されるものでなく、例えば、リードフレームのタイバ
の切断その他の半導加工を行なう場合にも利用できる。
In the above explanation, the invention made by the present inventor was mainly applied to the field of application, which is the field of application, which is the bending processing technology for external leads. However, the present invention is not limited thereto. It can also be used for cutting tie bars and other semiconductor processing.

[発明の効果コ 本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば下記のとおりである
[Effects of the Invention] The effects obtained by typical inventions disclosed in this application are briefly explained below.

連動板によって、押上げピンとリードフレームガイドと
を連動して動かすようにしているので。
The push-up pin and lead frame guide are moved in conjunction with each other by the interlocking plate.

リードフレームガイドの昇降の際に半導体装置とそれを
支持する外枠との相対移動がなく、吊りリードに大きな
ストレスが加わらないという作用により、吊りリードの
切断が防止され、半導体装置のリードフレームからの脱
落が防止される。
When the lead frame guide moves up and down, there is no relative movement between the semiconductor device and the outer frame that supports it, and no large stress is applied to the suspension leads, which prevents the suspension leads from breaking and prevents the semiconductor device's lead frame from moving. is prevented from falling off.

また、検出装置を設けているので、半導体装置の脱落が
生じたとしても、それを検出して即座に加工装置が停止
できるという作用により、加工装置の破損を防止できる
Further, since a detection device is provided, even if a semiconductor device falls off, the processing device can be detected and immediately stopped, thereby preventing damage to the processing device.

即ち、リードフレームの加工の際、半導体装置と該半導
体装置を支持するリードフレームの外枠との相対移動が
ないので、半導体装置のリードフレームからの脱落が防
止され、その結果、半導体装置の組立てにおけるスルー
プットの向上を図ることができる。
That is, when processing the lead frame, there is no relative movement between the semiconductor device and the outer frame of the lead frame that supports the semiconductor device, so the semiconductor device is prevented from falling off the lead frame, and as a result, the assembly of the semiconductor device is prevented. Throughput can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明による半導体装置の組立て装置の一実施
例の上型および下型部分の縦断面図、第2図は第1図中
の検出装置の側面図、第3図は検出装置の変形例の側面
図、 第4図は検出装置の他の変形例の側面図、第5図は本発
明者によって検討された組立て装置の断面図、 第6図はPLCC型半導体装置用の組立て装置の断面図
である。 1・・・・半導体装置、2・・・・リードフレーム、3
・・・・リードフレー ムガイド、5・・・・下型ヘッ
ド。 12・・・・押上げピン、13・・・・ばね、19・・
・・連動板、2o・・・・発光素子、21・・・・受光
素子。
FIG. 1 is a vertical sectional view of the upper and lower mold portions of an embodiment of the semiconductor device assembly apparatus according to the present invention, FIG. 2 is a side view of the detection device in FIG. 1, and FIG. 3 is a side view of the detection device. FIG. 4 is a side view of another modification of the detection device; FIG. 5 is a sectional view of an assembly device considered by the inventor; FIG. 6 is an assembly device for a PLCC type semiconductor device. FIG. 1... Semiconductor device, 2... Lead frame, 3
...Lead frame guide, 5...Lower die head. 12...Push-up pin, 13...Spring, 19...
... Interlocking plate, 2o... Light emitting element, 21... Light receiving element.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、半導体装置を支持するリードフレームの外枠をガイ
ドして加工部近傍まで上記半導体装置を搬送するリード
フレームガイドと、このリードフレームガイドによって
加工部近傍まで搬送されてきた半導体装置に加工を施す
上型および下型と、押上げピンによって加工部から離れ
る方向へ上記半導体装置を移動させると共に上記リード
フレームガイドによって加工部から離れる方向へ上記外
枠を移動させる付勢手段と、上記押上げピンと上記リー
ドフレームガイドとを連動させる連動板を具備すること
を特徴とする半導体装置の組立装置。 2、上記加工部の近傍にリードフレームからの半導体装
置の脱落を検出する検出手段を設けたことを特徴とする
特許請求の範囲第1項記載の半導体装置の組立装置。 3、上記付勢手段はばねからなることを特徴とする特許
請求の範囲第1項若しくは第2項記載の半導体装置の組
立装置。 4、上記検出手段は、加工部を挟んで対向配置された発
光素子と受光素子とから構成されていることを特徴とす
る特許請求の範囲第2項記載の半導体装置の組立装置。
[Claims] 1. A lead frame guide that guides the outer frame of a lead frame that supports a semiconductor device to transport the semiconductor device to the vicinity of the processing section, and a lead frame guide that transports the semiconductor device to the vicinity of the processing section by the lead frame guide. An upper die and a lower die for processing a semiconductor device, and a biasing means for moving the semiconductor device in a direction away from the processing section by a push-up pin and moving the outer frame in a direction away from the processing section by the lead frame guide. and an interlocking plate that interlocks the push-up pin and the lead frame guide. 2. The semiconductor device assembly apparatus according to claim 1, further comprising a detection means for detecting the falling of the semiconductor device from the lead frame in the vicinity of the processing section. 3. The semiconductor device assembly apparatus according to claim 1 or 2, wherein the biasing means comprises a spring. 4. The apparatus for assembling a semiconductor device according to claim 2, wherein the detecting means comprises a light emitting element and a light receiving element which are arranged opposite to each other with the processed portion interposed therebetween.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0258360A (en) * 1988-08-24 1990-02-27 Yamada Seisakusho:Kk Method of cutting support cut off notch of die-pad support of lead frame
US5093281A (en) * 1988-07-13 1992-03-03 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha method for manufacturing semiconductor devices

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