JPS6379242A - 情報記録媒体 - Google Patents
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- JPS6379242A JPS6379242A JP61224514A JP22451486A JPS6379242A JP S6379242 A JPS6379242 A JP S6379242A JP 61224514 A JP61224514 A JP 61224514A JP 22451486 A JP22451486 A JP 22451486A JP S6379242 A JPS6379242 A JP S6379242A
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Landscapes
- Thermal Transfer Or Thermal Recording In General (AREA)
- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
この発明は、光ビームの照射により記録層に光学的特性
の変化を生じさせて情報を記録消去すると共に、この光
学的特性を検出して情報を再生するいわゆるイレーザブ
ル光ディスク等の情報記録媒体に関する。
の変化を生じさせて情報を記録消去すると共に、この光
学的特性を検出して情報を再生するいわゆるイレーザブ
ル光ディスク等の情報記録媒体に関する。
(従来の技術)
情報の記録再生に加えて、情報を消去することができる
相変化型の光記録媒体として、近時、インジウム(In
)−アンチモン(S b)合金が注目されている。例え
ば、特開昭60−177446号においては、sbを5
5乃至80重量%含有するI nSn合金に、Au、A
g。
相変化型の光記録媒体として、近時、インジウム(In
)−アンチモン(S b)合金が注目されている。例え
ば、特開昭60−177446号においては、sbを5
5乃至80重量%含有するI nSn合金に、Au、A
g。
Cu、Pd、Pt、Al、St、Ge、Ga。
Sn、Te、Se、及びBLから選択された少なくとも
一種の元素を20重量%以下含有する材料を使用し、I
nSb及びSbの混相と、準安定π相との間の相変化を
利用して情報を記録している。
一種の元素を20重量%以下含有する材料を使用し、I
nSb及びSbの混相と、準安定π相との間の相変化を
利用して情報を記録している。
一方、1 nsb金属間化合物について、結晶と非晶質
との間の相変化を利用した情報記録媒体も提案されてい
る。
との間の相変化を利用した情報記録媒体も提案されてい
る。
(発明が解決しようとする問題点)
しかしながら、1nsb合金を非晶質化するためには、
記録媒体をその励点(約530℃)以上に加熱すること
が必要であるので、レーザビームの出力を記録媒体の表
面上で十数mWの大出力にする必要がある。このため、
大出力の光源が必要であるという欠点がある。従って、
記録層における記録又は消去の高感度化が要望されてい
る。
記録媒体をその励点(約530℃)以上に加熱すること
が必要であるので、レーザビームの出力を記録媒体の表
面上で十数mWの大出力にする必要がある。このため、
大出力の光源が必要であるという欠点がある。従って、
記録層における記録又は消去の高感度化が要望されてい
る。
[発明の構成]
(問題点を解決するための手段)
この発明に係る情報記録媒体は、記録層に光ビームを照
射し、この記録層に結晶質と非晶質との間の相変化を生
じさせて情報を記録する情報記録媒体において、前記記
録層は、一般式(I n 1−z S b X ) 1
−y M yで現される組成(但し、Xは、In及びs
bにおけるSbの原子%、yは、I n 1−x S
b X合金及びMにおけるMの原子%、Mは、Zn、C
d、Tl、Pb、Po。
射し、この記録層に結晶質と非晶質との間の相変化を生
じさせて情報を記録する情報記録媒体において、前記記
録層は、一般式(I n 1−z S b X ) 1
−y M yで現される組成(但し、Xは、In及びs
bにおけるSbの原子%、yは、I n 1−x S
b X合金及びMにおけるMの原子%、Mは、Zn、C
d、Tl、Pb、Po。
Li及びHgから選択された少なくとも一種の元素を示
す)の合金で形成されており、このXは、40乃至80
原子%であり、yは、0より大きく30原子%以下であ
ることを特徴とする。
す)の合金で形成されており、このXは、40乃至80
原子%であり、yは、0より大きく30原子%以下であ
ることを特徴とする。
(作用)
Inl−xSbx合金に添加される元素Mは、Zn、C
d、Ti、Pb、Po、Li及びHgから選択された少
なくとも一種の元素であり、これらの元素は、いずれも
I nSb合金よりも融点が低い。これにより、この (L nl−x S bz ) 1−y M、合金は、
融点が低(、この合金を使用した情報記録媒体は、記録
及び消去の感度が高い。従って、低出力の光源を使用す
ることができる。
d、Ti、Pb、Po、Li及びHgから選択された少
なくとも一種の元素であり、これらの元素は、いずれも
I nSb合金よりも融点が低い。これにより、この (L nl−x S bz ) 1−y M、合金は、
融点が低(、この合金を使用した情報記録媒体は、記録
及び消去の感度が高い。従って、低出力の光源を使用す
ることができる。
(実施例)
以下、添附の図面を参照してこの発明の実施例について
説明する。第1図はこの発明の実施例に係る情報記録媒
体の断面図である。基板1は透明で材質上の経時変化が
少ない材料、例えば、ガラス、PMMA樹脂、ポリカー
ボネート(P C)樹脂、エポキシ樹脂又は石英等の材
料でつくられている。基板1上には、保Ult 眉2、
記録層3、保護層4、及び保護層5がこの順に形成され
ている。
説明する。第1図はこの発明の実施例に係る情報記録媒
体の断面図である。基板1は透明で材質上の経時変化が
少ない材料、例えば、ガラス、PMMA樹脂、ポリカー
ボネート(P C)樹脂、エポキシ樹脂又は石英等の材
料でつくられている。基板1上には、保Ult 眉2、
記録層3、保護層4、及び保護層5がこの順に形成され
ている。
保護層2.4は、記録層3を挟むようにして配設されて
おり、レーザビームの照射により記録層3が飛散したり
、穴が開いてしまうことを防止している。この保護層2
,4は5i02、SiO又はAIN等の誘電体を蒸着法
又はスパッタリング法等により成膜して形成することが
できる。この保護層2,4の厚さは、10人乃至10μ
mであることが好ましい。
おり、レーザビームの照射により記録層3が飛散したり
、穴が開いてしまうことを防止している。この保護層2
,4は5i02、SiO又はAIN等の誘電体を蒸着法
又はスパッタリング法等により成膜して形成することが
できる。この保護層2,4の厚さは、10人乃至10μ
mであることが好ましい。
保護層5は、光ディスクの取扱上、疵等の損傷が発生す
ることを防止するために配設され、保護層4との密着性
が良好な材料で形成される。例えば、保護層4の上に、
紫外線硬化樹脂を塗布し、この樹脂層に紫外線を照射し
て硬化させることにより形成することができる。
ることを防止するために配設され、保護層4との密着性
が良好な材料で形成される。例えば、保護層4の上に、
紫外線硬化樹脂を塗布し、この樹脂層に紫外線を照射し
て硬化させることにより形成することができる。
記録層3は、一般式
(I nL−x S bx) 1−y Myで現される
組成(但し、Xは、In及びsbにおけるSbの原子%
、yは、In1−1sb)(合金及びMにおける〜1の
原子%、Mは、Zn、Cd、Ti、Pb、Pa。
組成(但し、Xは、In及びsbにおけるSbの原子%
、yは、In1−1sb)(合金及びMにおける〜1の
原子%、Mは、Zn、Cd、Ti、Pb、Pa。
Li及びHgから選択された少なくとも一種の元素を示
す)の合金で形成されている。この場合に、Xは、40
乃至80原子%であり、yは、0より大きく30原子%
以下である。
す)の合金で形成されている。この場合に、Xは、40
乃至80原子%であり、yは、0より大きく30原子%
以下である。
つまり、記録層3は、sbを40乃至80原子%含有す
るIn−Sb合金に、元素MをこのIn−sb合金及び
Mの総量に対して30原子%以下の範囲で含有させた合
金で形成する。この元素Mは、下記第1表に示すように
、I nSb合金よりも融点が低い元素であり、この元
素をInSb合金に添加することにより、I nSb合
金の融点が低下し、レーザビームの照射による記録層の
溶融が容易になる。
るIn−Sb合金に、元素MをこのIn−sb合金及び
Mの総量に対して30原子%以下の範囲で含有させた合
金で形成する。この元素Mは、下記第1表に示すように
、I nSb合金よりも融点が低い元素であり、この元
素をInSb合金に添加することにより、I nSb合
金の融点が低下し、レーザビームの照射による記録層の
溶融が容易になる。
第1表
また、結晶化温度は融点の1/2乃至1/3であるから
、結晶化温度も低くなり、レーザビームの照射による記
録層の結晶化も容易である。従って、この記録層3にお
いては、記録及び消去の感度が高い。
、結晶化温度も低くなり、レーザビームの照射による記
録層の結晶化も容易である。従って、この記録層3にお
いては、記録及び消去の感度が高い。
記録層3の厚さは、10人乃至5μmであることが好ま
しい。Zn、Cd、Ti、Pb、Po。
しい。Zn、Cd、Ti、Pb、Po。
Li及びHgから選択された少なくとも一種の元素Mを
InSb合金に添加するには、In、Sb及びこれらの
元素Mの多元同時スパッタリング法又は多元同時蒸着法
等によればよい。
InSb合金に添加するには、In、Sb及びこれらの
元素Mの多元同時スパッタリング法又は多元同時蒸着法
等によればよい。
次ぎに、このように構成された光ディスクの動作につい
て説明する。この光ディスクにおいては、第1図に示す
ように、光ビーム8が集束レンズ7により集束されて基
板1側から記録層3に照射される。
て説明する。この光ディスクにおいては、第1図に示す
ように、光ビーム8が集束レンズ7により集束されて基
板1側から記録層3に照射される。
初期化
成膜後の記録層3は非晶質であるので、この光ディスク
を使用する前に、記録層3を結晶質にする。この記録層
3の結晶化による光ディスクの初期化は、ヒータにより
ディスクの全体を結晶化温度以上に加熱することにより
おこなってもよいし、また、光ビームを記録層3に順次
照射してこの光ビームにより記録層3を加熱することに
よりおこなってもよい。
を使用する前に、記録層3を結晶質にする。この記録層
3の結晶化による光ディスクの初期化は、ヒータにより
ディスクの全体を結晶化温度以上に加熱することにより
おこなってもよいし、また、光ビームを記録層3に順次
照射してこの光ビームにより記録層3を加熱することに
よりおこなってもよい。
記録
光ディスクに対する情報の記録においては、記録層3に
光ビーム8を短時間照射し、この照射領域6を一旦溶融
させた後急冷することにより非晶質に相変化させる。光
ビームとしては、10n秒乃至2μ秒の早いパルス状の
レーザビームを使用することが好ましい。また、このレ
ーザビームの出力は、例えば、その1パルスで記録ビッ
ト(照射領域6)を溶融させることができるものであれ
ばよいが、通常、半導体レーザを使用した場合には5乃
至39mWである。このように記録ビット(領域6)の
溶融急冷による非晶質化により、情報が記録層3に書込
まれる。
光ビーム8を短時間照射し、この照射領域6を一旦溶融
させた後急冷することにより非晶質に相変化させる。光
ビームとしては、10n秒乃至2μ秒の早いパルス状の
レーザビームを使用することが好ましい。また、このレ
ーザビームの出力は、例えば、その1パルスで記録ビッ
ト(照射領域6)を溶融させることができるものであれ
ばよいが、通常、半導体レーザを使用した場合には5乃
至39mWである。このように記録ビット(領域6)の
溶融急冷による非晶質化により、情報が記録層3に書込
まれる。
この発明においては、InSb合金に融点が低い元素M
を添加した合金を使用して記録層を形成しているから、
1nSb合金の記録層に比して、記録ビットが容易に溶
融するので、高速記録することができる。
を添加した合金を使用して記録層を形成しているから、
1nSb合金の記録層に比して、記録ビットが容易に溶
融するので、高速記録することができる。
再生
記録層3に書込まれた情報は、この記録ビット(照射領
域6)に光ビームを照射し、その反射光の強度を検出す
ることにより読取る。つまり、結晶相と非晶質相とで、
光ビームを照射したときの表面反射率が異なることを利
用し、反射光の強度を検出することにより、光ビームの
照射領域6が結晶相であるか、非晶質相であるかを判別
する。
域6)に光ビームを照射し、その反射光の強度を検出す
ることにより読取る。つまり、結晶相と非晶質相とで、
光ビームを照射したときの表面反射率が異なることを利
用し、反射光の強度を検出することにより、光ビームの
照射領域6が結晶相であるか、非晶質相であるかを判別
する。
消去
記録層3の記録ビット(領域6)に情報記録時の光ビー
ムの出力より小さな出力で光ビームを照射し、記録層3
を形成する合金の融点より低い温度であって、結晶化温
度より高い温度に記録層3を加熱する。これにより、記
録層の記録ビットは結晶化し、情報が消去される。
ムの出力より小さな出力で光ビームを照射し、記録層3
を形成する合金の融点より低い温度であって、結晶化温
度より高い温度に記録層3を加熱する。これにより、記
録層の記録ビットは結晶化し、情報が消去される。
この発明においては、前述の如<、InSb合金に融点
が低い元素Mを添加した合金を使用して゛記録層を形成
しているから、InSb合金の記録層に比して、記録層
3の結晶化温度が低い。このため、この記録層3は消去
の感0度が高いので、高速消去が可能である。なお、結
晶化温度が低いので、非晶質化した記録ビット(領域6
)の安定性が従来のInSb合金の記録層の場合よりも
多少低下するが、再生時の記録層の加熱温度は通常10
0℃以下であるので、結晶化温度をこの再生時の加熱温
度よりも高く維持することは容易であり、実用上問題が
ない。
が低い元素Mを添加した合金を使用して゛記録層を形成
しているから、InSb合金の記録層に比して、記録層
3の結晶化温度が低い。このため、この記録層3は消去
の感0度が高いので、高速消去が可能である。なお、結
晶化温度が低いので、非晶質化した記録ビット(領域6
)の安定性が従来のInSb合金の記録層の場合よりも
多少低下するが、再生時の記録層の加熱温度は通常10
0℃以下であるので、結晶化温度をこの再生時の加熱温
度よりも高く維持することは容易であり、実用上問題が
ない。
[発明の効果]
この発明によれば、記録層における記録及び消去の感度
が高(、高速記録及び消去が可能であると共に、低出力
の光源を使用するコニができる。
が高(、高速記録及び消去が可能であると共に、低出力
の光源を使用するコニができる。
第1図はこの発明の実施例に係る情報記録媒体の断面図
である。 1;基板、2.4.5;保護層、3;記録層、8;光ビ
ーム 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第1図
である。 1;基板、2.4.5;保護層、3;記録層、8;光ビ
ーム 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第1図
Claims (1)
- 記録層に光ビームを照射し、この記録層に結晶質と非晶
質との間の相変化を生じさせて情報を記録する情報記録
媒体において、前記記録層は、一般式(In_1_−_
xSb_x)_1_−_yM_yで現される組成(但し
、xは、In及びSbにおけるSbの原子%、yは、I
n_1_−_xSb_x合金及びMにおけるMの原子%
、Mは、Zn、Cd、Ti、Pb、Po、Li及びHg
から選択された少なくとも一種の元素を示す)の合金で
形成されており、このxは、40乃至80原子%であり
、yは、0より大きく30原子%以下であることを特徴
とする情報記録媒体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61224514A JPS6379242A (ja) | 1986-09-22 | 1986-09-22 | 情報記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61224514A JPS6379242A (ja) | 1986-09-22 | 1986-09-22 | 情報記録媒体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6379242A true JPS6379242A (ja) | 1988-04-09 |
Family
ID=16814985
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61224514A Pending JPS6379242A (ja) | 1986-09-22 | 1986-09-22 | 情報記録媒体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6379242A (ja) |
-
1986
- 1986-09-22 JP JP61224514A patent/JPS6379242A/ja active Pending
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