JPS6358633A - 情報記録媒体 - Google Patents

情報記録媒体

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JPS6358633A
JPS6358633A JP61203342A JP20334286A JPS6358633A JP S6358633 A JPS6358633 A JP S6358633A JP 61203342 A JP61203342 A JP 61203342A JP 20334286 A JP20334286 A JP 20334286A JP S6358633 A JPS6358633 A JP S6358633A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
recording layer
atomic
alloy
recording
information
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP61203342A
Other languages
English (en)
Inventor
Tadashi Kobayashi
忠 小林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP61203342A priority Critical patent/JPS6358633A/ja
Publication of JPS6358633A publication Critical patent/JPS6358633A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Thermal Transfer Or Thermal Recording In General (AREA)
  • Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) この発明は、光ビームの照射により記録層に光学的特性
の変化を生じさせて情報を記録消去すると共に、この光
学的特性を検出して情報を再生するいわゆるイレーザブ
ル光ディスク等の情報記録媒体に関する。
(従来の技術) 情報の記録再生に加えて、情報を消去することができる
相変化型の光記録媒体として、近時、インジウム(In
)−アンチモン(S b)合金が注目されている。例え
ば、特開昭60−177446号においては、sbを5
5乃至80重量%含有するInSn合金に、Au、Ag
r  Cu+  ” d+Pt、AI、St、Ge、G
a、Sn、Te。
Se、及びBiから選択された少なくとも一種の元素を
20重量%以下含有する材料を使用し、InSb及びs
bの混相と、準安定π相との間の相変化を利用して情報
を記録している。
一方、InSb金属間化合物について、結晶と非晶質と
の間の相変化を利用した情報記録媒体も提案されている
(発明が解決しようとする問題点) しかしながら、InSb合金を非晶質化するためには、
高速度で急冷することが必要であり、このため、記録に
際してのレーザビームの照射条件が制約を受ける。また
、非晶質を目が安定に存在しないので、記録ビットが不
安定になる。
[発明の構成] (問題点を解決するための手段) この発明に係る情報記録媒体は、記録層に光ビームを照
射し、この記録層に結晶質と非晶質との間の相変化を生
じさせて情報を記録する情報記録媒体において、前記記
録層は、一般式100−X   x  100−y M
yで現される組成(In       Sb   ) (但し、Xは、In及びsbにおけるsbの原子%、y
は、In    Sb  合金及びMにおける100−
X   x N1の原子%、Mは、Ar、Kr、Xe、Rn。
Na、に、Rb、Cs、Ca、Sr、Ba、La。
Eu、Yb、Fr、Ra及びAcから選択された少なく
とも一種の元素を示す)の合金で形成されており、この
Xは、40乃至80原子%であり、yは、0より大きく
30原子%以下であることを特徴とする。
(作用) I n +oo−xS b  合金に添加すtL ル元
RM ハ、Ar、  Kr、  Xe、  Rn、  
Na、  K、  Rb、  Cs。
Ca、  Sr、  Ba、  La、  Eu、  
Yb、  Fr。
Ra及びAcから選択された少なくとも一種の元素であ
り、これらの元素は、いずれもIn及びsbよりも原子
半径が著しく大きい。これにより、この(In    
Sb  ) 100−x   x  100−y My金合金、非晶
質形成能が高く、この合金を使用した情報記録媒体は、
記録情報が安定に保持される。
(実施例) 以下、添附の図面を参照してこの発明の実施例について
説明する。第1図はこの発明の実施例に係る情報記録媒
体の断面図である。基板1は透明で材質上の経時変化が
少ない材料、例えば、ガラス、P M M A樹脂、ポ
リカーボネート(PC)樹脂、エポキシ樹脂又は石英等
の材料でつくられている。基板1上には、保護層2、記
録層3、保護層4、及び保護層5がこの順に形成されて
いる。
保護層2,4は、記録層3を挟むようにして配設されて
おり、レーザビームの照射により記録層3が飛散したり
、穴が開いてしまうことを防止している。この保護層2
.4は5i02、SiO又はAIN等の誘電体を蒸着法
又はスパッタリング法等により成膜して形成することが
できる。この保護層2.4の厚さは、10人乃至10μ
mであることが好ましい。
保護層5は、光ディスクの取扱上、疵等の損傷が発生す
ることを防止するために配設され、保護層4との密着性
が良好な材料で形成される。例えば、保護層4の上に、
紫外線硬化樹脂を塗布し、この樹脂層に紫外線を照射し
て硬化させることにより形成することができる。
記録層3は、一般式 %式%) 100−x   x  100−y Myで現される組
成(但し、Xは、In及びsbにおけるsbの原子%、
yは、In    Sb  合金及びMにおける100
−x   x Mの原子%、Mは、Ar、Kr、Xe、Rn。
Na、  K、  Rb、  Cs、  Ca、  S
r、  Ba、  La。
Eu、Yb、Fr、Ra及びAcから選択された少なく
とも一種の元素を示す)の合金で形成されている。この
場合に、Xは、40乃至80原子%であり、yは、0よ
り大きく30原子%以下である。
つまり、記録層3は、sbを40乃至80原子%含有す
るIn−Sb合金に、元素MをこのIn−sb合金及び
Mの総量に対して30原子%以下の範囲で含存させた合
金で形成する。この元素Mは、In及びsbよりも原子
半径が著しく大きな元素であり、この元素をIn−Sb
合金に添加することにより、原子配列に乱れが生じやす
くなり、原子が移動する際の粘性が高まると考えられる
このため、この合金においては、安定な非晶質相が得ら
れる。従って、この記録層3に、レーザビームを照射し
て加熱急冷することによって、非晶質相からなる記録ビ
ットを安定に形成することができる。
記録層3の厚さは、10人乃至5μmであることが好ま
しい。元素Mが、Na、に、Rb、Cs。
Ca、Sr、Ba、La、Eu、Yb、Fr。
Ra及びAcの場合には、I n −、S b及びこれ
らの元素Mの多元同時スパッタリング法又は多元同時蒸
着法等により、記録層3を形成することができる。元素
Mが、Ar、Kr、Xe、及びRnである場合には、I
n及びsbを2元同時スパッタリングする際に、又は所
定の組成のInSb合金を単一スパッタリングする際に
、これらの元素を含む不活性ガスを使用してスパッタリ
ングすることにより、この記録層の薄膜を形成すること
ができる。
次ぎに、このように構成された光ディスクの動作につい
て説明する。この光ディスクにおいては、第1図に示す
ように、光ビーム8が集束レンズ7により集束されて基
板1側から記録層3に照射される。
初期化 成膜後の記録層3は非晶質であるので、この光ディスク
を使用する前に、記録層3を結晶質にする。この記録層
3の結晶化による光ディスクの初期化は、ヒータにより
ディスクの全体を結晶化温度具」二に加熱することによ
りおこなってもよいし、また、光ビームを記録層3に順
次照射してこの光ビームにより記録層3を加熱すること
によりおこなってもよい。
記録 光ディスクに対する情報の記録においては、記録層3に
光ビーム8を短時間照射し、この照射領域6を一旦溶融
させた後急冷することにより非晶質に相変化させる。光
ビームとしては、10n秒乃至2μ秒の早いパルス状の
レーザビームを使用することが好ましい。また、このレ
ーザビームの出力は、例えば、その1パルスで記録ビッ
ト(照射領域6)を溶融させることができるものであれ
ばよいが、通常、半導体レーザを使用した場合には5乃
至30mWである。このように記録ビット(領域6)の
溶融急冷による非晶質化により、情報が記録層3に書込
まれる。
この発明においては、InSb合金に原子半径が著しく
大きな元素Mを添加した合金を使用して記録層を形成し
ているから、I nSb合金の記録層に比して、安定な
非晶質の記録ビットを容易に得ることができる。
再生 記録層3に書込まれた情報は、この記録ビット(照射領
域6)に光ビームを照射し、その反射光の強度を検出す
ることにより読取る。つまり、結晶相と非晶質相とで、
光ビームを照射したときの表面反射率が異なることを利
用し、反射光の強度を検出することにより、光ビームの
照射領域6が結晶相であるか、非晶質相であるかを判別
する。
消去 記録層3の記録ビットに情報記録時の光ビームの出力よ
り小さな出力で光ビームを照射し、記録層3を形成する
合金の融点より低い温度であって、結晶化温度より高い
温度に記録層3を加熱する。
これにより、記録層の記録ビットは結晶化し、情報が消
去される。
この発明においては、前述の如(、InSb合金に原子
半径が著しく大きな元素Mを添加した合金を使用して記
録層を形成しているから、I nSb合金の記録層に比
して、記録層3の結晶化;H度が添加元素Mの種類及び
添加量に応じて高くなり、非晶質相が安定に存在する。
このため、この記録ビットを消去するためには、InS
b合金の場合よりも若干大きな出力のレーザビームを使
用することが必要である。しかしながら、この発明に係
る情報記録媒体の記録層は、InSb金属間化合物の結
晶格子を構成する元素の格子位置を元素Mで置換した置
換型の合金となるので、基本的には、InSb金属間化
合物の結晶非晶質の相変化を利用する点で、InSb合
金からなる記録層の場合と違いがない。 また、非晶質
の金属間化合物が結晶化する速度は早いので、この発明
に係る情報記録媒体の記録層3においても、I nSb
合金の場合と同様に、高速消去が可能である。
[発明の効果コ この発明によれば、記録ビットの非晶質相を容易に得る
ことができると共に、この非晶質相として記録された記
録ビットは極めて安定であり、しかも、この記Mfi1
報を高速で消去することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の実施例に係る情報記録媒体の断面図
である。 1;基板、2,4,5.保護層、3;記録層、8;光ビ
ーム。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第1図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 記録層に光ビームを照射し、この記録層に結晶質と非晶
    質との間の相変化を生じさせて情報を記録する情報記録
    媒体において、前記記録層は、一般式(In_1_0_
    0_−_xSb_x)_1_0_0_−_yM_yで現
    される組成(但し、xは、In及びSbにおけるSbの
    原子%、yは、In_1_0_0_−_xSb_x合金
    及びMにおけるMの原子%、Mは、Ar、Kr、Xe、
    Rn、Na、K、Rb、Cs、Ca、Sr、Ba、La
    、Eu、Yb、Fr、Ra及びAcから選択された少な
    くとも一種の元素を示す)の合金で形成されており、こ
    のxは、40乃至80原子%であり、yは、0より大き
    く30原子%以下であることを特徴とする情報記録媒体
JP61203342A 1986-08-29 1986-08-29 情報記録媒体 Pending JPS6358633A (ja)

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JP61203342A JPS6358633A (ja) 1986-08-29 1986-08-29 情報記録媒体

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JP61203342A JPS6358633A (ja) 1986-08-29 1986-08-29 情報記録媒体

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JPS6358633A true JPS6358633A (ja) 1988-03-14

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6554972B1 (en) * 1998-06-26 2003-04-29 Kabushiki Kaisha Toshiba Information recording medium and its manufacturing method

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6554972B1 (en) * 1998-06-26 2003-04-29 Kabushiki Kaisha Toshiba Information recording medium and its manufacturing method
US7455951B2 (en) 1998-06-26 2008-11-25 Kabushiki Kaisha Toshiba Information recording medium and its manufacturing method

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