JPS6378617A - バイポ−ラ論理回路 - Google Patents
バイポ−ラ論理回路Info
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- JPS6378617A JPS6378617A JP61224328A JP22432886A JPS6378617A JP S6378617 A JPS6378617 A JP S6378617A JP 61224328 A JP61224328 A JP 61224328A JP 22432886 A JP22432886 A JP 22432886A JP S6378617 A JPS6378617 A JP S6378617A
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- 238000005336 cracking Methods 0.000 abstract description 4
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- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
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- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/01—Modifications for accelerating switching
- H03K19/013—Modifications for accelerating switching in bipolar transistor circuits
- H03K19/0136—Modifications for accelerating switching in bipolar transistor circuits by means of a pull-up or down element
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/02—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
- H03K19/08—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices
- H03K19/082—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using bipolar transistors
- H03K19/088—Transistor-transistor logic
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Logic Circuits (AREA)
- Bipolar Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明はバイポーラ論理回路に関し、特にその出力回
路に関するものである。
路に関するものである。
第2図は例えば「°84三菱半導体データブックバイポ
ーラディジタルIC<ALSTTL>績2−3頁」に示
された従来のバイポーラ論理回路の出力回路を示し、図
において、1は高電位電源用端子、2は低電位電源用端
子、3は内部信号を印加する入力信号ライン、4は出力
端子、5はベースが入力信号ライン3に、コレクタが抵
抗13を介して高電位電源用端子1に接続された第1の
トランジスタであるシッットキクランプドnpnトラン
ジスタ(以下5BDnpn)ランジスタと記す)、6は
ベースが第1のトランジスタ5のエミッタに、エミッタ
が低電位電源、用端子2に、コレクタが出力端子4に接
続された第2のトランジスタであるガードリングを有す
る5BDnpn)ランジスタ、7はベースおよびコレク
タがそれぞれ抵抗11.抵抗12を介して第2のトラン
ジスタ6のベースに、エミッタが低電位電源用端子2に
接続された第3のトランジスタである5BDnpn)ラ
ンジスタ、9はベースが第1のトランジスタ5のコレク
タに、コレクタが抵抗14を介して高電位電源用端子1
に接続された第4のトランジスタである5BDnpn)
ランジスタ、10はベースおよびコレクタがそれぞれ第
4のトランジスタ9のエミッタ及びコレクタに、エミッ
タが出力端子4に接続された第5のトランジスタである
npn)ランジスタである。
ーラディジタルIC<ALSTTL>績2−3頁」に示
された従来のバイポーラ論理回路の出力回路を示し、図
において、1は高電位電源用端子、2は低電位電源用端
子、3は内部信号を印加する入力信号ライン、4は出力
端子、5はベースが入力信号ライン3に、コレクタが抵
抗13を介して高電位電源用端子1に接続された第1の
トランジスタであるシッットキクランプドnpnトラン
ジスタ(以下5BDnpn)ランジスタと記す)、6は
ベースが第1のトランジスタ5のエミッタに、エミッタ
が低電位電源、用端子2に、コレクタが出力端子4に接
続された第2のトランジスタであるガードリングを有す
る5BDnpn)ランジスタ、7はベースおよびコレク
タがそれぞれ抵抗11.抵抗12を介して第2のトラン
ジスタ6のベースに、エミッタが低電位電源用端子2に
接続された第3のトランジスタである5BDnpn)ラ
ンジスタ、9はベースが第1のトランジスタ5のコレク
タに、コレクタが抵抗14を介して高電位電源用端子1
に接続された第4のトランジスタである5BDnpn)
ランジスタ、10はベースおよびコレクタがそれぞれ第
4のトランジスタ9のエミッタ及びコレクタに、エミッ
タが出力端子4に接続された第5のトランジスタである
npn)ランジスタである。
次に動作について説明する。
まず、入力信号ライン3にハイレベルの信号が印加され
ると、第1のトランジスタ5が導通し、その結果第2の
トランジスタ6が導通して出力端子4から電流を吸い込
むため出力端子4の電位はロウレベルとなる。この時、
第1のトランジスタ5が導通しているため、第4.第5
のトランジスタ9,10は非導通状態となっている。
ると、第1のトランジスタ5が導通し、その結果第2の
トランジスタ6が導通して出力端子4から電流を吸い込
むため出力端子4の電位はロウレベルとなる。この時、
第1のトランジスタ5が導通しているため、第4.第5
のトランジスタ9,10は非導通状態となっている。
次に入力信号ライン3にロウレベルの信号が印加される
と、第1.第2のトランジスタ5.6が非導通状態とな
る。そして第1のトランジスタ5が非導通になることに
より第4.第5のトランジスタ9.10が導通し、高電
位電源から抵抗14を介して出力端子4に電流が流れ、
出力端子4の電位はハイ状態となる。この時、第2のト
ランジスタ6にSBD付トランジスタを使用した場合、
SBDのリーク電流の一部が第2のトランジスタ6のベ
ース電流となり、電流増幅変倍されたコレクタ電流が出
力端子4から流れ込みリークする。
と、第1.第2のトランジスタ5.6が非導通状態とな
る。そして第1のトランジスタ5が非導通になることに
より第4.第5のトランジスタ9.10が導通し、高電
位電源から抵抗14を介して出力端子4に電流が流れ、
出力端子4の電位はハイ状態となる。この時、第2のト
ランジスタ6にSBD付トランジスタを使用した場合、
SBDのリーク電流の一部が第2のトランジスタ6のベ
ース電流となり、電流増幅変倍されたコレクタ電流が出
力端子4から流れ込みリークする。
また、このSBDのリーク電流を小さくするために第3
図に示すようにガードリング22を設けると第2のトラ
ンジスタ6のベース・コレクタ間の接合容量が大きくな
り、出力端子4がロウからハイ状態に変化するとき、こ
の容量により第2のトランジスタ6のベース電位がもち
上がり、第4図のCに示すようにロウからハイレベルの
出力の電圧波形に割れが生じる。
図に示すようにガードリング22を設けると第2のトラ
ンジスタ6のベース・コレクタ間の接合容量が大きくな
り、出力端子4がロウからハイ状態に変化するとき、こ
の容量により第2のトランジスタ6のベース電位がもち
上がり、第4図のCに示すようにロウからハイレベルの
出力の電圧波形に割れが生じる。
ここで、第3図は第2のトランジスタ6のガードリング
付SBDの構造を示し、図において、21はn形シリコ
ン、22はp+形シリコン(ガードリング)、23はn
°形シリコン、24は酸化膜、25はアルミ配線、26
はn“形シリコン、27は素子間酸化膜である。また第
4図は出力電圧波形を示し、図において、Aは入力信号
波形、Bはガードリング無しのSBD付出力出力トラン
ジスタ力波形、Cはガードリング有りのSBD付出力出
力トランジスタ力波形である。
付SBDの構造を示し、図において、21はn形シリコ
ン、22はp+形シリコン(ガードリング)、23はn
°形シリコン、24は酸化膜、25はアルミ配線、26
はn“形シリコン、27は素子間酸化膜である。また第
4図は出力電圧波形を示し、図において、Aは入力信号
波形、Bはガードリング無しのSBD付出力出力トラン
ジスタ力波形、Cはガードリング有りのSBD付出力出
力トランジスタ力波形である。
従来のバイポーラ論理回路は以上のように構成されてい
るので、第2のトランジスタが非導通の時、第2のトラ
ンジスタのベース・コレクタ間のリーク電流の一部が該
トランジスタのベース電流となり、電流増幅されたコレ
クタ電流分のリーク電流が生じることとなる。また、こ
れを防ぐために、上記第2のトランジスタのSBDにガ
ードリングを設けると、第2のトランジスタのベース・
コレクタ間容量が大きくなり、出力のロウからハイへの
変化により第2のトランジスタのベース電位がこの容量
によるコンデンサ結合でもち上がり、ロウからハイの出
力電圧波形に割れが生じるという問題点があった。
るので、第2のトランジスタが非導通の時、第2のトラ
ンジスタのベース・コレクタ間のリーク電流の一部が該
トランジスタのベース電流となり、電流増幅されたコレ
クタ電流分のリーク電流が生じることとなる。また、こ
れを防ぐために、上記第2のトランジスタのSBDにガ
ードリングを設けると、第2のトランジスタのベース・
コレクタ間容量が大きくなり、出力のロウからハイへの
変化により第2のトランジスタのベース電位がこの容量
によるコンデンサ結合でもち上がり、ロウからハイの出
力電圧波形に割れが生じるという問題点があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、非導通時の第2のトランジスタのベース・コ
レクタ間に生じるリーク電流がベース電流となるのを防
ぎ、かつロウからハイの出力波形の割れを防ぐことので
きるバイポーラ論理回路を得ることを目的とする。
たもので、非導通時の第2のトランジスタのベース・コ
レクタ間に生じるリーク電流がベース電流となるのを防
ぎ、かつロウからハイの出力波形の割れを防ぐことので
きるバイポーラ論理回路を得ることを目的とする。
この発明に係るバイポーラ論理回路は、アノードが第3
のトランジスタのコレクタに、カソードが低電位電源に
接続されたダイオードを設けたものである。
のトランジスタのコレクタに、カソードが低電位電源に
接続されたダイオードを設けたものである。
この発明においては、ダイオードをそのアノードを第3
のトランジスタのコレクタに、カソードを低電位電源に
接続して設けたので、非導通時の第2のトランジスタの
ベース・コレクタ間に生じるリーク電流を引き抜いて該
リーク電流がベース電流となるのを防ぎ、また出力端子
がロウからハイ状態に切替る時、第2のトランジスタの
ベース・コレクタ間の容量を引き抜いて該容量によるベ
ース電位のもち上げを防ぐことができる。
のトランジスタのコレクタに、カソードを低電位電源に
接続して設けたので、非導通時の第2のトランジスタの
ベース・コレクタ間に生じるリーク電流を引き抜いて該
リーク電流がベース電流となるのを防ぎ、また出力端子
がロウからハイ状態に切替る時、第2のトランジスタの
ベース・コレクタ間の容量を引き抜いて該容量によるベ
ース電位のもち上げを防ぐことができる。
以下、この発明の実施例を図について説明する。
第1図はこの発明の一実施例によるバイポーラ論理回路
を示し、図において、1〜7,9〜14は第2図と同じ
ものを示す。8はアノードが第3のトランジスタ7のコ
レクタに、カソードが低電位電源に接続されたショット
キバリアダイオード(S B D)である。
を示し、図において、1〜7,9〜14は第2図と同じ
ものを示す。8はアノードが第3のトランジスタ7のコ
レクタに、カソードが低電位電源に接続されたショット
キバリアダイオード(S B D)である。
次に動作について説明する。
まず、入力信号ライン3にハイレベルが印加されると、
第1.第2のトランジスタ5.6が導通して出力端子4
から電流を吸い込むため出力端子4の電位はロウ状態と
なる。
第1.第2のトランジスタ5.6が導通して出力端子4
から電流を吸い込むため出力端子4の電位はロウ状態と
なる。
次に入力信号ライン3にロウレベルが印加されると、第
1のトランジスタ5が非導通となり、第3のトランジス
タ7が過渡的に導通して、第2のトランジスタ6が非導
通となる。一方、第1のトランジスタ5が非導通になる
ことにより第4.第5のトランジスタ9.10が導通し
て高電位電源から抵抗14を介して出力端子4に電流が
流れ、出力端子はハイ状態となる。この時、第2のトラ
ンジスタ6のベース・コレクタ間のリーク電流は抵抗1
2を介してショットキバリアダイオード8で引き抜かれ
る。
1のトランジスタ5が非導通となり、第3のトランジス
タ7が過渡的に導通して、第2のトランジスタ6が非導
通となる。一方、第1のトランジスタ5が非導通になる
ことにより第4.第5のトランジスタ9.10が導通し
て高電位電源から抵抗14を介して出力端子4に電流が
流れ、出力端子はハイ状態となる。この時、第2のトラ
ンジスタ6のベース・コレクタ間のリーク電流は抵抗1
2を介してショットキバリアダイオード8で引き抜かれ
る。
このように、本実施例回路では、第2のトランジスタの
ベース・コレクタ間に生じるリーク電流がベース電流と
なるのを防ぐことができ、この結果、SBDのリーク電
流を小さくするためのガードリングを設けることを不要
として、第2のトランジスタ6のベース・コレクタ間容
量の増大を防ぎ、ロウからハイの出力の波形割れをなく
することができる。
ベース・コレクタ間に生じるリーク電流がベース電流と
なるのを防ぐことができ、この結果、SBDのリーク電
流を小さくするためのガードリングを設けることを不要
として、第2のトランジスタ6のベース・コレクタ間容
量の増大を防ぎ、ロウからハイの出力の波形割れをなく
することができる。
また、ガードリングを設けて第2のトランジスタ6のベ
ース・コレクタ間容量が大きくなっても、該容量を上記
ダイオード8により引き抜くことができるので、上記と
同じく出力波形割れをなくすることができる。
ース・コレクタ間容量が大きくなっても、該容量を上記
ダイオード8により引き抜くことができるので、上記と
同じく出力波形割れをなくすることができる。
以上のように、この発明のバイポーラ論理回路によれば
、アノードが第3のトランジスタのコレクタに、カソー
ドが低電位電源に接続されたダイオードを設けたので、
非導通時の第2のトランジスタのベース・コレクタ間の
リーク電流がベース電流となるのを防ぎ、さらに、ベー
ス・コレクタ間容量を小さくして、ロウからハイの出力
の波形割れをなくすことができる効果がある。
、アノードが第3のトランジスタのコレクタに、カソー
ドが低電位電源に接続されたダイオードを設けたので、
非導通時の第2のトランジスタのベース・コレクタ間の
リーク電流がベース電流となるのを防ぎ、さらに、ベー
ス・コレクタ間容量を小さくして、ロウからハイの出力
の波形割れをなくすことができる効果がある。
第1図はこの発明の一実施例によるバイポーラ論理回路
を示す回路図、第2図は従来のバイポーラ論理回路を示
す回路図、第3図はガードリング付SBDの構造を示す
断面図、第4図は出力電圧波形を示す図である。 図において、1は高電位電源用端子、2は低電位電源用
端子、3は入力信号ライン、5.6,7゜9.10は第
1.第2.第3.第4.第5のトランジスタ、8はショ
ットキバリアダイオード(SBD) 、11〜14は抵
抗、21はn形シリコン、22はp+形シリコン(ガー
ドリング)、23はn+形シリコン、24は酸化膜、2
5はアルミ配線、26はn゛形シリコン、27は素子間
酸化膜、Aは入力信号波形、Bはガードリング無しのS
BD付出力出力トランジスタ力波形、Cはガードリング
有りのSBD付出力出力トランジスタ力波形である。 なお図中同一符号は同−又は相当部分を示す。
を示す回路図、第2図は従来のバイポーラ論理回路を示
す回路図、第3図はガードリング付SBDの構造を示す
断面図、第4図は出力電圧波形を示す図である。 図において、1は高電位電源用端子、2は低電位電源用
端子、3は入力信号ライン、5.6,7゜9.10は第
1.第2.第3.第4.第5のトランジスタ、8はショ
ットキバリアダイオード(SBD) 、11〜14は抵
抗、21はn形シリコン、22はp+形シリコン(ガー
ドリング)、23はn+形シリコン、24は酸化膜、2
5はアルミ配線、26はn゛形シリコン、27は素子間
酸化膜、Aは入力信号波形、Bはガードリング無しのS
BD付出力出力トランジスタ力波形、Cはガードリング
有りのSBD付出力出力トランジスタ力波形である。 なお図中同一符号は同−又は相当部分を示す。
Claims (1)
- (1)高電位電源と低電位電源との間に直列に接続され
た出力ダーリントントランジスタ及び第2のトランジス
タと、 コレクタが上記出力ダーリントントランジスタのベース
に、かつ抵抗を介して高電位電源に接続され、エミッタ
が上記第2のトランジスタのベースに、ベースが入力信
号ラインに接続された第1のトランジスタと、 コレクタ及びベースがそれぞれ抵抗を介して上記第2の
トランジスタのベースに、エミッタが低電位電源に接続
された第3のトランジスタと、アノードが上記第3のト
ランジスタのコレクタに、カソードが低電位電源に接続
されたダイオードとを備えたことを特徴とするバイポー
ラ論理回路。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61224328A JPS6378617A (ja) | 1986-09-22 | 1986-09-22 | バイポ−ラ論理回路 |
US07/096,471 US4814645A (en) | 1986-09-22 | 1987-09-15 | TTL circuit having improved pulldown circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61224328A JPS6378617A (ja) | 1986-09-22 | 1986-09-22 | バイポ−ラ論理回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6378617A true JPS6378617A (ja) | 1988-04-08 |
JPH0553407B2 JPH0553407B2 (ja) | 1993-08-10 |
Family
ID=16812034
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61224328A Granted JPS6378617A (ja) | 1986-09-22 | 1986-09-22 | バイポ−ラ論理回路 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4814645A (ja) |
JP (1) | JPS6378617A (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4973862A (en) * | 1989-03-07 | 1990-11-27 | National Semiconductor Corporation | High speed sense amplifier |
US5159213A (en) * | 1990-06-07 | 1992-10-27 | North American Philips Corporation | Logic gate circuit with limited transient bounce in potential of the internal voltage supply lines |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3999080A (en) * | 1974-12-23 | 1976-12-21 | Texas Instruments Inc. | Transistor coupled logic circuit |
US4228371A (en) * | 1977-12-05 | 1980-10-14 | Rca Corporation | Logic circuit |
US4400635A (en) * | 1981-01-21 | 1983-08-23 | Rca Corporation | Wide temperature range switching circuit |
US4501976A (en) * | 1982-09-07 | 1985-02-26 | Signetics Corporation | Transistor-transistor logic circuit with hysteresis |
US4542331A (en) * | 1983-08-01 | 1985-09-17 | Signetics Corporation | Low-impedance voltage reference |
FR2589296B1 (fr) * | 1985-10-29 | 1987-11-27 | Thomson Csf | Circuit de commande en parallele d'un grand nombre de cellules logiques de type stl |
US4697103A (en) * | 1986-03-10 | 1987-09-29 | Quadic Systems, Inc. | Low power high current sinking TTL circuit |
-
1986
- 1986-09-22 JP JP61224328A patent/JPS6378617A/ja active Granted
-
1987
- 1987-09-15 US US07/096,471 patent/US4814645A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0553407B2 (ja) | 1993-08-10 |
US4814645A (en) | 1989-03-21 |
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