JPS6370186A - 放射性廃棄物選別装置 - Google Patents
放射性廃棄物選別装置Info
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- JPS6370186A JPS6370186A JP21486086A JP21486086A JPS6370186A JP S6370186 A JPS6370186 A JP S6370186A JP 21486086 A JP21486086 A JP 21486086A JP 21486086 A JP21486086 A JP 21486086A JP S6370186 A JPS6370186 A JP S6370186A
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- radioactive waste
- radioactive
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Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の目的コ
（産業上の利用分野）
本発明は、原子力発電所等の放射性物質取扱施設から発
生する放射性廃棄物を、表面汚染物と放射化物とに選別
する放射性廃棄物選別装置に関する。
生する放射性廃棄物を、表面汚染物と放射化物とに選別
する放射性廃棄物選別装置に関する。
（従来の技術）
従来から原子力発電所等の放射性物質取扱い施設から発
生する放射性廃棄物のうち、表面汚染物は除染剤等によ
り簡単に放射性物質を除去できるものが多く、このよう
な表面汚染物は除染して通常の廃棄物として簡単に処理
される。一方表面のみだけでなく内部まで放射化された
放射化物は、放射性物質を除去、または低減するための
種々の処理が行なわれた後、放射性廃棄物貯蔵庫等に保
管されている。
生する放射性廃棄物のうち、表面汚染物は除染剤等によ
り簡単に放射性物質を除去できるものが多く、このよう
な表面汚染物は除染して通常の廃棄物として簡単に処理
される。一方表面のみだけでなく内部まで放射化された
放射化物は、放射性物質を除去、または低減するための
種々の処理が行なわれた後、放射性廃棄物貯蔵庫等に保
管されている。
（発明が解決しようとする問題点）
ところで原子力発電ブランＩ・の廃炉等から生じる雑固
体等の放射性廃棄物は表面汚染物と放射化物の両方を含
むが、これらの放射性廃棄物を全て放射性廃棄物として
処理すると、処理量は大量となり、処理コスト、および
放射性廃棄物貯蔵スペースが多く必要になるという問題
があった。
体等の放射性廃棄物は表面汚染物と放射化物の両方を含
むが、これらの放射性廃棄物を全て放射性廃棄物として
処理すると、処理量は大量となり、処理コスト、および
放射性廃棄物貯蔵スペースが多く必要になるという問題
があった。
本発明はこのような問題点を解決するためになされたも
ので、放射性廃棄物を表面汚染物と放射化物とに判別し
て、放射性廃棄物の処理コスト、および放射性廃棄物貯
蔵スペースを低減することができる放射性廃棄物選別装
置を提供することを目的とする。
ので、放射性廃棄物を表面汚染物と放射化物とに判別し
て、放射性廃棄物の処理コスト、および放射性廃棄物貯
蔵スペースを低減することができる放射性廃棄物選別装
置を提供することを目的とする。
［発明の構成］
（問題点を解決するための手段）
本発明の放射性廃棄物選別装置は、同時計数法によりβ
線を検出するβ線検出器と７・線を検出するγ線検出器
とを備えた放射線検出部と、この放射線検出部で検出さ
れたβ線スベクＩ・ルとγ線スペクトルを測定するスペ
クトロメータと、このスペクトロメータで測定されたβ
線スペクトルとγ線スペクトルの比を基準値と比較して
前記放射性Ｆ３Ｆ、乗物が表面汚染物か放射化物かを判
別する判別装置とを有することを特徴とする。
線を検出するβ線検出器と７・線を検出するγ線検出器
とを備えた放射線検出部と、この放射線検出部で検出さ
れたβ線スベクＩ・ルとγ線スペクトルを測定するスペ
クトロメータと、このスペクトロメータで測定されたβ
線スペクトルとγ線スペクトルの比を基準値と比較して
前記放射性Ｆ３Ｆ、乗物が表面汚染物か放射化物かを判
別する判別装置とを有することを特徴とする。
（作用）
本発明の放射性廃棄物選別装こは、放射性廃棄物から放
出されるβ線およびγ線のスペクトルをβ−γ同時計数
法により測定して放射性廃棄物の選別を行なうが、β線
はγ線に比べて透過力が小さく、また放射化物の内部か
ら放出されるβ線は表面汚染物から放出されるβ線に比
ベエネルギーを多く失っているので、放射性廃棄物から
同時に放出されたβ線とγ線のスペクトル比の違いによ
り表面汚染物と放射化物とを区別することができる。
出されるβ線およびγ線のスペクトルをβ−γ同時計数
法により測定して放射性廃棄物の選別を行なうが、β線
はγ線に比べて透過力が小さく、また放射化物の内部か
ら放出されるβ線は表面汚染物から放出されるβ線に比
ベエネルギーを多く失っているので、放射性廃棄物から
同時に放出されたβ線とγ線のスペクトル比の違いによ
り表面汚染物と放射化物とを区別することができる。
したがって本発明装置を用いて放射性廃棄物から表面汚
染物を選別することができ、この表面汚染物は放射性物
質を簡単に除去することができるので、放射性廃棄物の
処理コスト、および放射性廃棄物貯蔵スペースを低減す
ることができる。
染物を選別することができ、この表面汚染物は放射性物
質を簡単に除去することができるので、放射性廃棄物の
処理コスト、および放射性廃棄物貯蔵スペースを低減す
ることができる。
（実施例）
次に本発明の実施例について図を用いて説明する。
第１図は本発明の一実施例の放射性廃棄物選別装置を概
略的に示す図である。
略的に示す図である。
この放射性廃棄物選別装置１は、β線およびγ線を検出
する放射線検出部２と、放射線検出部２で検出されたβ
線およびγ線のスペクトルを測定するスペクトロメータ
３と、スペクトロメータ３で測定されたβ線スペクトル
とγ線スペクトルの比を基準値と比較して放射性廃棄物
が表面汚染物か放射化物かを判別する判別装Ｗ ４とが
接続されてｔｉＩＩｊ、されている、なお放射線検出部
２は距雇センサ５により放射性廃棄物との距離を一定に
保つことができる移動式とされている。
する放射線検出部２と、放射線検出部２で検出されたβ
線およびγ線のスペクトルを測定するスペクトロメータ
３と、スペクトロメータ３で測定されたβ線スペクトル
とγ線スペクトルの比を基準値と比較して放射性廃棄物
が表面汚染物か放射化物かを判別する判別装Ｗ ４とが
接続されてｔｉＩＩｊ、されている、なお放射線検出部
２は距雇センサ５により放射性廃棄物との距離を一定に
保つことができる移動式とされている。
このように構成された放射性廃棄物選別装置を用いて、
たとえば原子力発電所の廃炉から発生ずる放射性廃棄物
のｊＨ別を行なう場合には、移送ラインにより送られた
放射性廃棄物６から同時に放出されたβ線およびγ線は
放射線検出部２で検出され、スペクトロメータ３でそれ
ぞれのスペクトルが測定される。そして判別装置４によ
りβ線スペクトルとγ線スペクトルの比が基準値と比較
されて、放射性廃棄物の選別が行なわれる。すなわちβ
線の透過力はγ線に比べて弱く、また放射化物から放出
されたβ線は表面汚染物から放出されたβ線に比べて放
射化物自体を透過する過程でエネルギーを多く失ってい
るので、放射性廃棄物から同時に放出されたβ線とγ線
のスペクトル比が相違するので、このスペクトル比を基
準値と比較することにより、表面汚染物と放射化物とを
区別することができる。
たとえば原子力発電所の廃炉から発生ずる放射性廃棄物
のｊＨ別を行なう場合には、移送ラインにより送られた
放射性廃棄物６から同時に放出されたβ線およびγ線は
放射線検出部２で検出され、スペクトロメータ３でそれ
ぞれのスペクトルが測定される。そして判別装置４によ
りβ線スペクトルとγ線スペクトルの比が基準値と比較
されて、放射性廃棄物の選別が行なわれる。すなわちβ
線の透過力はγ線に比べて弱く、また放射化物から放出
されたβ線は表面汚染物から放出されたβ線に比べて放
射化物自体を透過する過程でエネルギーを多く失ってい
るので、放射性廃棄物から同時に放出されたβ線とγ線
のスペクトル比が相違するので、このスペクトル比を基
準値と比較することにより、表面汚染物と放射化物とを
区別することができる。
第２図は、表面汚染物と放射化物の両方を含む放射性廃
棄物中の、β線とγ線のスペクトル比β／γと表面汚染
物と放射化物の占める割合の関係を示すグラフである。
棄物中の、β線とγ線のスペクトル比β／γと表面汚染
物と放射化物の占める割合の関係を示すグラフである。
このグラフからβ線とγ線のスペクトル比が大きくなる
ほど放射性廃棄物中の表面汚染物が占める割合が大きく
なることがわかる。
ほど放射性廃棄物中の表面汚染物が占める割合が大きく
なることがわかる。
したがって、この放射性廃棄物選別装置を用いて、放射
性物質の除去を簡単に行なうことのできる表面汚染物を
、放射性廃棄物から選別して取除くことができ、放射性
廃棄物の処理コスト、労働力、放射性廃棄物貯蔵スペー
スを低減することができる。
性物質の除去を簡単に行なうことのできる表面汚染物を
、放射性廃棄物から選別して取除くことができ、放射性
廃棄物の処理コスト、労働力、放射性廃棄物貯蔵スペー
スを低減することができる。
［発明の効果コ
以上説明したように、本発明の放射性廃棄物選別装置を
用いれば、放射性廃棄物を表面汚染物と放射化物とに選
別することができ、放射性廃棄物の処理コスト、放射性
廃棄物貯蔵スペースを低減することができる。
用いれば、放射性廃棄物を表面汚染物と放射化物とに選
別することができ、放射性廃棄物の処理コスト、放射性
廃棄物貯蔵スペースを低減することができる。
第１図は本発明の一実施例の放射性廃棄物選別装置を示
す概略図、第２図は表面汚染物と放射化物の放射能強度
比と、β線とγ線のスペクトル比との関係を示すグラフ
である。 １・・・・・・・・・放射性廃棄物選別装置２・・・・
・・・・・放射線検出部 ３・・・・・・・・・スペクトロメータ４・・・・・・
・・・判別装置 ５・・・・・・・・・距疏センサ ６・・・・・・・・・放射性廃棄物 出願人 日本原子力事業株式会社同
株式会辻 東芝 代理人 弁理士 須 山 佐 − 第１図 放射化物／表面乃様物 第２図
す概略図、第２図は表面汚染物と放射化物の放射能強度
比と、β線とγ線のスペクトル比との関係を示すグラフ
である。 １・・・・・・・・・放射性廃棄物選別装置２・・・・
・・・・・放射線検出部 ３・・・・・・・・・スペクトロメータ４・・・・・・
・・・判別装置 ５・・・・・・・・・距疏センサ ６・・・・・・・・・放射性廃棄物 出願人 日本原子力事業株式会社同
株式会辻 東芝 代理人 弁理士 須 山 佐 − 第１図 放射化物／表面乃様物 第２図
Claims (1)
- （１）同時計数法によりβ線を検出するβ線検出器とγ
線を検出するγ線検出器とを備えた放射線検出部と、こ
の放射線検出部で検出されたβ線スペクトルとγ線スペ
クトルを測定するスペクトロメータと、このスペクトロ
メータで測定されたβ線スペクトルとγ線スペクトルの
比を基準値と比較して前記放射性廃棄物が表面汚染物か
放射化物かを判別する判別装置とを有することを特徴と
する放射性廃棄物選別装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61214860A JP2565877B2 (ja) | 1986-09-11 | 1986-09-11 | 放射性廃棄物選別装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61214860A JP2565877B2 (ja) | 1986-09-11 | 1986-09-11 | 放射性廃棄物選別装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6370186A true JPS6370186A (ja) | 1988-03-30 |
| JP2565877B2 JP2565877B2 (ja) | 1996-12-18 |
Family
ID=16662753
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61214860A Expired - Lifetime JP2565877B2 (ja) | 1986-09-11 | 1986-09-11 | 放射性廃棄物選別装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2565877B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0534462A (ja) * | 1991-07-30 | 1993-02-09 | Toshiba Corp | 汚染／放射化放射能識別装置 |
| JPH0682559A (ja) * | 1991-08-26 | 1994-03-22 | Toshiba Corp | 放射性廃棄物の汚染／放射化放射能識別方法 |
| JP2008119494A (ja) * | 2007-12-28 | 2008-05-29 | Samii Kk | 遊技機のケーブル抜脱防止装置 |
| US9983316B2 (en) | 2014-05-28 | 2018-05-29 | Soletanche Freyssinet S.A.S. | Radioactive material assaying |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS586288U (ja) * | 1981-07-03 | 1983-01-14 | 株式会社東芝 | ホ−ルボデイカウンタ |
| JPS6345583A (ja) * | 1986-08-13 | 1988-02-26 | Hitachi Ltd | 表面汚染検査装置 |
-
1986
- 1986-09-11 JP JP61214860A patent/JP2565877B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS586288U (ja) * | 1981-07-03 | 1983-01-14 | 株式会社東芝 | ホ−ルボデイカウンタ |
| JPS6345583A (ja) * | 1986-08-13 | 1988-02-26 | Hitachi Ltd | 表面汚染検査装置 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0534462A (ja) * | 1991-07-30 | 1993-02-09 | Toshiba Corp | 汚染／放射化放射能識別装置 |
| JPH0682559A (ja) * | 1991-08-26 | 1994-03-22 | Toshiba Corp | 放射性廃棄物の汚染／放射化放射能識別方法 |
| JP2008119494A (ja) * | 2007-12-28 | 2008-05-29 | Samii Kk | 遊技機のケーブル抜脱防止装置 |
| US9983316B2 (en) | 2014-05-28 | 2018-05-29 | Soletanche Freyssinet S.A.S. | Radioactive material assaying |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2565877B2 (ja) | 1996-12-18 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |