JP2565877B2 - 放射性廃棄物選別装置 - Google Patents
放射性廃棄物選別装置Info
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- JP2565877B2 JP2565877B2 JP61214860A JP21486086A JP2565877B2 JP 2565877 B2 JP2565877 B2 JP 2565877B2 JP 61214860 A JP61214860 A JP 61214860A JP 21486086 A JP21486086 A JP 21486086A JP 2565877 B2 JP2565877 B2 JP 2565877B2
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- Japan
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- radioactive waste
- ray spectrum
- rays
- ray
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Description
【発明の詳細な説明】 ［発明の目的］ （産業上の利用分野） 本発明は、原子力発電所等の放射性物質取扱施設から
発生する放射性廃棄物を、表面汚染物と放射化物とに選
別する放射性廃棄物選別装置に関する。
発生する放射性廃棄物を、表面汚染物と放射化物とに選
別する放射性廃棄物選別装置に関する。
（従来の技術） 従来から原子力発電所等の放射性物質取扱い施設から
発生する放射性廃棄物のうち、表面汚染物は除染剤等に
より簡単に放射性物質を除去できるものが多く、このよ
うな表面汚染物は除染して通常の廃棄物として簡単に処
理される。一方表面のみだけでなく内部まで放射化され
た放射化物は、放射性物質を除去、または低減するため
の種々の処理が行なわれた後、放射性廃棄物貯蔵庫等に
保管されている。
発生する放射性廃棄物のうち、表面汚染物は除染剤等に
より簡単に放射性物質を除去できるものが多く、このよ
うな表面汚染物は除染して通常の廃棄物として簡単に処
理される。一方表面のみだけでなく内部まで放射化され
た放射化物は、放射性物質を除去、または低減するため
の種々の処理が行なわれた後、放射性廃棄物貯蔵庫等に
保管されている。
（発明が解決しようとする問題点） ところで原子力発電プラントの廃炉等から生じる雑固
体等の放射性廃棄物は表面汚染物と放射化物の両方を含
むが、これらの放射性廃棄物を全て放射性廃棄物として
処理すると、処理量は大量となり、処理コスト、および
放射性廃棄物貯蔵スペースが多く必要になるという問題
があった。
体等の放射性廃棄物は表面汚染物と放射化物の両方を含
むが、これらの放射性廃棄物を全て放射性廃棄物として
処理すると、処理量は大量となり、処理コスト、および
放射性廃棄物貯蔵スペースが多く必要になるという問題
があった。
本発明はこのような問題点を解決するためになされた
もので、放射性廃棄物を表面汚染物と放射化物とに判別
して、放射性廃棄物の処理コスト、および放射性廃棄物
貯蔵スペースを低減することができる放射性廃棄物選別
装置を提供することを目的とする。
もので、放射性廃棄物を表面汚染物と放射化物とに判別
して、放射性廃棄物の処理コスト、および放射性廃棄物
貯蔵スペースを低減することができる放射性廃棄物選別
装置を提供することを目的とする。
［発明の構成］ （問題点を解決するための手段） 本発明の放射性廃棄物選別装置は、同時計数法により
β線スペクトルを検出するβ線検出器とγ線スペクトル
を検出するγ線検出器とを備えた放射線検出器と、この
放射線検出部で検出されたβ線スペクトルとγ線スペク
トルを測定するスペクトロメータと、このスペクトロメ
ータで測定されたβ線スペクトルとγ線スペクトルの比
を表面汚染物と放射化物の放射能強度比との関係と比較
して前記放射性廃棄物が表面汚染物か放射化物かを判別
する判別装置とを有することを特徴とする。
β線スペクトルを検出するβ線検出器とγ線スペクトル
を検出するγ線検出器とを備えた放射線検出器と、この
放射線検出部で検出されたβ線スペクトルとγ線スペク
トルを測定するスペクトロメータと、このスペクトロメ
ータで測定されたβ線スペクトルとγ線スペクトルの比
を表面汚染物と放射化物の放射能強度比との関係と比較
して前記放射性廃棄物が表面汚染物か放射化物かを判別
する判別装置とを有することを特徴とする。
（作用） 本発明の放射性廃棄物選別装置は、放射性廃棄物から
放出されるβ線およびγ線のスペクトルをβ−γ同時計
数法により測定して放射性廃棄物の選別を行なうが、β
線はγ線に比べて透過力が小さく、また放射化物の内部
から放出されるβ線は表面汚染物から放出されるβ線に
比べエネルギーを多く失っているので、放射性廃棄物か
ら同時に放出されたβ線とγ線のスペクトル比の違いに
より表面汚染物と放射化物とを区別することができる。
放出されるβ線およびγ線のスペクトルをβ−γ同時計
数法により測定して放射性廃棄物の選別を行なうが、β
線はγ線に比べて透過力が小さく、また放射化物の内部
から放出されるβ線は表面汚染物から放出されるβ線に
比べエネルギーを多く失っているので、放射性廃棄物か
ら同時に放出されたβ線とγ線のスペクトル比の違いに
より表面汚染物と放射化物とを区別することができる。
したがって本発明装置を用いて放射性廃棄物から表面
汚染物を選別することができ、この表面汚染物は放射性
物質を簡単に除去することができるので、放射性廃棄物
の処理コスト、および放射性廃棄物貯蔵スペースを低減
することができる。
汚染物を選別することができ、この表面汚染物は放射性
物質を簡単に除去することができるので、放射性廃棄物
の処理コスト、および放射性廃棄物貯蔵スペースを低減
することができる。
（実施例） 次に本発明の実施例について図を用いて説明する。
第１図は本発明の一実施例の放射性廃棄物選別装置を
概略的に示す図である。
概略的に示す図である。
この放射性廃棄物選別装置１は、β線およびγ線を検
出する放射線検出部２と、放射線検出部２で検出された
β線およびγ線のスペクトルを測定するスペクトロメー
タ３と、スペクトロメータ３で測定されたβ線スペクト
ルとγ線スペクトルの比を基準値と比較して放射性廃棄
物が表面汚染物か放射化物かを判別する判別装置４とが
接続されて構成されている。なお放射線検出部２は距離
センサ５により放射性廃棄物との距離を一定に保つこと
ができる移動式とされている。
出する放射線検出部２と、放射線検出部２で検出された
β線およびγ線のスペクトルを測定するスペクトロメー
タ３と、スペクトロメータ３で測定されたβ線スペクト
ルとγ線スペクトルの比を基準値と比較して放射性廃棄
物が表面汚染物か放射化物かを判別する判別装置４とが
接続されて構成されている。なお放射線検出部２は距離
センサ５により放射性廃棄物との距離を一定に保つこと
ができる移動式とされている。
このように構成された放射性廃棄物選別装置を用い
て、たとえば原子力発電所の廃炉から発生する放射性廃
棄物の選別を行なう場合には、移送ラインにより送られ
た放射性廃棄物６から同時に放出されたβ線およびγ線
は放射線検出部２で検出され、スペクトロメータ３でそ
れぞれのスペクトルが測定される。そして判別装置４に
よりβ線スペクトルとγ線スペクトルの比が表面汚染物
と放射化物の放射能強度比との関係と比較されて、放射
性廃棄物の選別が行なわれる。すなわちβ線の透過力は
γ線に比べて弱く、また放射化物から放出されたβ線は
表面汚染物から放出されたβ線に比べて放射化物自体を
透過する過程でエネルギーを多く失っているので、放射
性廃棄物から同時に放出されたβ線とγ線のスペクトル
比が相違するので、このスペクトル比を表面汚染物と放
射化物の放射能強度比との関係と比較することにより、
表面汚染物と放射化物とを区別することができる。
て、たとえば原子力発電所の廃炉から発生する放射性廃
棄物の選別を行なう場合には、移送ラインにより送られ
た放射性廃棄物６から同時に放出されたβ線およびγ線
は放射線検出部２で検出され、スペクトロメータ３でそ
れぞれのスペクトルが測定される。そして判別装置４に
よりβ線スペクトルとγ線スペクトルの比が表面汚染物
と放射化物の放射能強度比との関係と比較されて、放射
性廃棄物の選別が行なわれる。すなわちβ線の透過力は
γ線に比べて弱く、また放射化物から放出されたβ線は
表面汚染物から放出されたβ線に比べて放射化物自体を
透過する過程でエネルギーを多く失っているので、放射
性廃棄物から同時に放出されたβ線とγ線のスペクトル
比が相違するので、このスペクトル比を表面汚染物と放
射化物の放射能強度比との関係と比較することにより、
表面汚染物と放射化物とを区別することができる。
第２図は表面汚染物のβ線スペクトルの１例であり、
第３図は放射化物のβ線スペクトルの１例である。第４
図は表面汚染物のγ線スペクトルの１例であり、第５図
は放射化物のγ線スペクトルの１例である。
第３図は放射化物のβ線スペクトルの１例である。第４
図は表面汚染物のγ線スペクトルの１例であり、第５図
は放射化物のγ線スペクトルの１例である。
第６図は表面汚染物と放射化物の両方を含む放射性廃
棄物中の、β線スペクトルとγ線スペクトルの比と、表
面汚染物と放射化物の放射能強度比との関係を示すグラ
フである。このグラフからβ線とγ線のスペクトル比が
大きくなるほど放射性廃棄物中に表面汚染物が占める割
合が大きくなることがわかる。
棄物中の、β線スペクトルとγ線スペクトルの比と、表
面汚染物と放射化物の放射能強度比との関係を示すグラ
フである。このグラフからβ線とγ線のスペクトル比が
大きくなるほど放射性廃棄物中に表面汚染物が占める割
合が大きくなることがわかる。
したがって、この放射性廃棄物選別装置を用いて、放
射性物質の除去を簡単に行なうことのできる表面汚染物
を、放射性廃棄物から選別して取除くことができ、放射
性廃棄物の処理コスト、労働力、放射性廃棄物貯蔵スペ
ースを低減することができる。
射性物質の除去を簡単に行なうことのできる表面汚染物
を、放射性廃棄物から選別して取除くことができ、放射
性廃棄物の処理コスト、労働力、放射性廃棄物貯蔵スペ
ースを低減することができる。
［発明の効果］ 以上説明したように、本発明の放射性廃棄物選別装置
を用いれば、放射性廃棄物を表面汚染物と放射化物とに
選別することができ、放射性廃棄物の処理コスト、放射
性廃棄物貯蔵スペースを低減することができる。
を用いれば、放射性廃棄物を表面汚染物と放射化物とに
選別することができ、放射性廃棄物の処理コスト、放射
性廃棄物貯蔵スペースを低減することができる。
第１図は本発明の一実施例の放射性廃棄物選別装置を示
す概略図、第２図は表面汚染物のβ線スペクトルの１例
を示す図、第３図は放射化物のβ線スペクトルの１例を
示す図、第４図は表面汚染物のγ線スペクトルの１例を
示す図、第５図は放射化物のγ線スペクトルの１例を示
す図、第６図は表面汚染物と放射化物の放射能強度比
と、β線とγ線のスペクトル比との関係を示すグラフで
ある。 １……放射性廃棄物選別装置 ２……放射線検出部 ３……スペクトロメータ ４……判別装置 ５……距離センサ ６……放射性廃棄物
す概略図、第２図は表面汚染物のβ線スペクトルの１例
を示す図、第３図は放射化物のβ線スペクトルの１例を
示す図、第４図は表面汚染物のγ線スペクトルの１例を
示す図、第５図は放射化物のγ線スペクトルの１例を示
す図、第６図は表面汚染物と放射化物の放射能強度比
と、β線とγ線のスペクトル比との関係を示すグラフで
ある。 １……放射性廃棄物選別装置 ２……放射線検出部 ３……スペクトロメータ ４……判別装置 ５……距離センサ ６……放射性廃棄物
Claims (1)
- 【請求項１】同時計数法によりβ線スペクトルを検出す
るβ線検出器とγ線スペクトルを検出するγ線検出器と
を備えた放射線検出部と、この放射線検出部で検出され
たβ線スペクトルとγ線スペクトルを測定するスペクト
ロメータと、このスペクトロメータで測定されたβ線ス
ペクトルとγ線スペクトルの比を表面汚染物と放射化物
の放射能強度比との関係と比較して前記放射性廃棄物が
表面汚染物か放射化物かを判別する判別装置とを有する
ことを特徴とする放射性廃棄物選別装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61214860A JP2565877B2 (ja) | 1986-09-11 | 1986-09-11 | 放射性廃棄物選別装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61214860A JP2565877B2 (ja) | 1986-09-11 | 1986-09-11 | 放射性廃棄物選別装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6370186A JPS6370186A (ja) | 1988-03-30 |
| JP2565877B2 true JP2565877B2 (ja) | 1996-12-18 |
Family
ID=16662753
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61214860A Expired - Lifetime JP2565877B2 (ja) | 1986-09-11 | 1986-09-11 | 放射性廃棄物選別装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2565877B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2736186B2 (ja) * | 1991-07-30 | 1998-04-02 | 株式会社東芝 | 汚染／放射化放射能識別装置 |
| JP2736189B2 (ja) * | 1991-08-26 | 1998-04-02 | 株式会社東芝 | 開口部を持つ放射性廃棄物の汚染／放射化放射能識別方法 |
| JP4726244B2 (ja) * | 2007-12-28 | 2011-07-20 | サミー株式会社 | 遊技機のケーブル抜脱防止装置 |
| GB2526578B (en) | 2014-05-28 | 2021-08-04 | Soletanche Freyssinet Sas | Radioactive material assaying |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS586288U (ja) * | 1981-07-03 | 1983-01-14 | 株式会社東芝 | ホ−ルボデイカウンタ |
| JPS6345583A (ja) * | 1986-08-13 | 1988-02-26 | Hitachi Ltd | 表面汚染検査装置 |
-
1986
- 1986-09-11 JP JP61214860A patent/JP2565877B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6370186A (ja) | 1988-03-30 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |