JP2563341B2 - 汚染形態判別装置 - Google Patents
汚染形態判別装置Info
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- JP2563341B2 JP2563341B2 JP14479187A JP14479187A JP2563341B2 JP 2563341 B2 JP2563341 B2 JP 2563341B2 JP 14479187 A JP14479187 A JP 14479187A JP 14479187 A JP14479187 A JP 14479187A JP 2563341 B2 JP2563341 B2 JP 2563341B2
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Description
【発明の詳細な説明】 ［発明の目的］ （産業上の利用分野） 本発明は、原子力発電所等の放射性物質取扱施設から
発生する放射性廃棄物が、表面汚染物であるか放射化物
であるかを判別するための装置に関する。
発生する放射性廃棄物が、表面汚染物であるか放射化物
であるかを判別するための装置に関する。
（従来の技術） 一般に、原子力発電所等の放射性物質取扱施設から発
生する放射性廃棄物には、表面汚染物と放射化物とがあ
る。これらの放射性廃棄物のうち表面汚染物について
は、酸、合成洗剤等を用いた化学除染、あるいはサンド
ブラスト、ペースト状除去剤等を用いた機械除染等によ
り放射性物質を除去した後、通常の廃棄物として処理す
ることができる。一方、放射化物については、上述した
除染等を施してもいたずらに２次汚染あるいは２次廃棄
物を発生させるのみで、放射性物質を除去することは不
可能であるため、減容処理等を行った後、放射性廃棄物
貯蔵庫等に保管する必要がある。
生する放射性廃棄物には、表面汚染物と放射化物とがあ
る。これらの放射性廃棄物のうち表面汚染物について
は、酸、合成洗剤等を用いた化学除染、あるいはサンド
ブラスト、ペースト状除去剤等を用いた機械除染等によ
り放射性物質を除去した後、通常の廃棄物として処理す
ることができる。一方、放射化物については、上述した
除染等を施してもいたずらに２次汚染あるいは２次廃棄
物を発生させるのみで、放射性物質を除去することは不
可能であるため、減容処理等を行った後、放射性廃棄物
貯蔵庫等に保管する必要がある。
従来、放射性廃棄物が表面汚染物であるか放射化物で
あるかを判別する方法としては、対象となる放射性廃棄
物の発生場所から推測する方法がある。
あるかを判別する方法としては、対象となる放射性廃棄
物の発生場所から推測する方法がある。
（発明が解決しようとする問題点） しかしながら、上述の従来の方法では、表面汚染物と
放射化物を正確に判別することが困難である。したがっ
て、たとえば放射化物が誤って表面汚染物として処理さ
れ、２次汚染あるいは２次廃棄物を発生させる可能性が
ある。一方このような問題を避けるために、たとえば放
射性廃棄物を全て放射化物として処理すると、その処理
量は膨大となり、放射性廃棄物貯蔵スペースの確保が困
難になるという問題が発生する。
放射化物を正確に判別することが困難である。したがっ
て、たとえば放射化物が誤って表面汚染物として処理さ
れ、２次汚染あるいは２次廃棄物を発生させる可能性が
ある。一方このような問題を避けるために、たとえば放
射性廃棄物を全て放射化物として処理すると、その処理
量は膨大となり、放射性廃棄物貯蔵スペースの確保が困
難になるという問題が発生する。
本発明は、このような問題点を解決するためになされ
たものであり、放射性廃棄物の汚染形態が表面汚染物で
あるか放射化物であるかを正確に判別することのでき
る、汚染形態判別装置を提供することを目的とする。
たものであり、放射性廃棄物の汚染形態が表面汚染物で
あるか放射化物であるかを正確に判別することのでき
る、汚染形態判別装置を提供することを目的とする。
［発明の構成］ （問題点を解決するための手段） すなわち本発明の汚染形態判別装置は、被測定物が配
置可能な間隔を設けて配置されそれぞれβ線検出器およ
びγ線検出器を有する少なくとも１対の放射線測定手段
と、これらの放射線測定手段により同一方向から同時に
測定されたβ線測定値とγ線測定値の比をそれぞれの放
射線測定手段ごとに算出し、これらの比の差を基準値と
比較して、前記放射線測定手段の間に配置された被測定
物が表面汚染物であるか放射化物であるかを判別する演
算手段とを有することを特徴とする。
置可能な間隔を設けて配置されそれぞれβ線検出器およ
びγ線検出器を有する少なくとも１対の放射線測定手段
と、これらの放射線測定手段により同一方向から同時に
測定されたβ線測定値とγ線測定値の比をそれぞれの放
射線測定手段ごとに算出し、これらの比の差を基準値と
比較して、前記放射線測定手段の間に配置された被測定
物が表面汚染物であるか放射化物であるかを判別する演
算手段とを有することを特徴とする。
（作用） 本発明の汚染形態判別装置においては、対向配置され
た放射線測定手段によりこれらの放射線測定手段の間に
配置された被測定物から放出されるβ線およびγ線を測
定する。この測定結果は演算手段へ送られ、演算手段
は、放射線測定手段ごとのβ線測定値とγ線測定値の比
を算出し、対向する放射線測定手段で測定されたβ線測
定値とγ線測定値の比の差を算出し基準値と比較する。
た放射線測定手段によりこれらの放射線測定手段の間に
配置された被測定物から放出されるβ線およびγ線を測
定する。この測定結果は演算手段へ送られ、演算手段
は、放射線測定手段ごとのβ線測定値とγ線測定値の比
を算出し、対向する放射線測定手段で測定されたβ線測
定値とγ線測定値の比の差を算出し基準値と比較する。
ここで、β線はγ線に比べて透過力が小さくかつ自己
吸収が大きいため、被測定物が表面汚染物の場合には、
汚染面側の放射線測定手段で測定されたβ線測定値とγ
線測定値の比と、非汚染面側の放射線測定手段で測定さ
れたβ線測定値とγ線測定値の比との間には、大きな差
が生じる。これに対し被測定物が放射化物の場合には、
放射性廃棄物内部まで一様に汚染しているため、対向す
る放射線測定部で測定されたβ線測定値とγ線測定値の
比は、ほぼ等しくなる。
吸収が大きいため、被測定物が表面汚染物の場合には、
汚染面側の放射線測定手段で測定されたβ線測定値とγ
線測定値の比と、非汚染面側の放射線測定手段で測定さ
れたβ線測定値とγ線測定値の比との間には、大きな差
が生じる。これに対し被測定物が放射化物の場合には、
放射性廃棄物内部まで一様に汚染しているため、対向す
る放射線測定部で測定されたβ線測定値とγ線測定値の
比は、ほぼ等しくなる。
したがって、演算手段は、被測定物が配置可能な間隔
を設けて対向配置された少なくとも１対の放射線測定手
段から得られたβ線測定値とγ線測定値の比の差を基準
値と比較し、これらの差が基準値より大きければ表面汚
染物、基準値以下であれば放射化物であると判別する。
を設けて対向配置された少なくとも１対の放射線測定手
段から得られたβ線測定値とγ線測定値の比の差を基準
値と比較し、これらの差が基準値より大きければ表面汚
染物、基準値以下であれば放射化物であると判別する。
また同時に、表面汚染の際の汚染面をも同定すること
ができる。
ができる。
（実施例） 次に本発明の実施例について図を用いて説明する。
第１図は、本発明の汚染形態判別装置の一実施例の概
略図である。
略図である。
この実施例の汚染形態判別装置は、主に、被測定物１
が配置可能な間隔を設けて対向配置された２対の放射線
測定手段2a,2bおよび2c,2dと、測定されたβ線測定値お
よびγ線測定値の比を放射線測定手段2a,2b,2c,2dごと
に算出し、対向する放射線測定手段2a,2bおよび2c,2dで
得られたこの比の差を基準値と比較することにより、こ
の被測定物１が表面汚染物であるか放射化物であるかを
判別する演算手段３とから構成されている。
が配置可能な間隔を設けて対向配置された２対の放射線
測定手段2a,2bおよび2c,2dと、測定されたβ線測定値お
よびγ線測定値の比を放射線測定手段2a,2b,2c,2dごと
に算出し、対向する放射線測定手段2a,2bおよび2c,2dで
得られたこの比の差を基準値と比較することにより、こ
の被測定物１が表面汚染物であるか放射化物であるかを
判別する演算手段３とから構成されている。
なお、放射線測定手段2a〜2dは、それぞれたとえばガ
スフローカウンタ等からなるβ線検出器4a〜4dと、これ
らのβ線検出器4a〜4dの外側に配置された、たとえばプ
ラスチックシンチレーションカウンタ等からなるγ線検
出器5a〜5dを備えている。また、これらβ線検出器4a、
4b,4c,4dとγ線検出器5a,5b,5c,5dとの間には、いずれ
もγ線検出器5a,5b.5c,5dがβ線により感応するのを防
ぐため、アルミニウム製の境界板6a,6b,6c,6dが設けら
れている。
スフローカウンタ等からなるβ線検出器4a〜4dと、これ
らのβ線検出器4a〜4dの外側に配置された、たとえばプ
ラスチックシンチレーションカウンタ等からなるγ線検
出器5a〜5dを備えている。また、これらβ線検出器4a、
4b,4c,4dとγ線検出器5a,5b,5c,5dとの間には、いずれ
もγ線検出器5a,5b.5c,5dがβ線により感応するのを防
ぐため、アルミニウム製の境界板6a,6b,6c,6dが設けら
れている。
そして、この汚染形態判別装置により被測定物１の汚
染形態を判別するに際しては、第１図に示すように、ま
ず、移送ライン７により送られた被測定物１から放出さ
れるβ線およびγ線を、放射線測定手段2a,2b,2c,2d上
のβ線検出器4a,4b,4c,4dおよびγ線検出器5a,5b,5c,5d
によりそれぞれ測定する。次に、この測定結果は演算手
段３へ送られ、演算手段３は、放射線測定手段2a,2b,2
c,2dごとのβ線測定値とγ線測定値の比を算出し、対向
する放射線測定手段2a,2bおよび2c,2dで得られた比の差
を算出し、基準値と比較する。すなわち、対向する放射
線測定手段2a,2bおよび2c,2dで得られたβ線測定値とγ
線測定値の比の差の絶対値が基準値より大きければ表面
汚染物、基準値以下であれば放射化物であると判別す
る。
染形態を判別するに際しては、第１図に示すように、ま
ず、移送ライン７により送られた被測定物１から放出さ
れるβ線およびγ線を、放射線測定手段2a,2b,2c,2d上
のβ線検出器4a,4b,4c,4dおよびγ線検出器5a,5b,5c,5d
によりそれぞれ測定する。次に、この測定結果は演算手
段３へ送られ、演算手段３は、放射線測定手段2a,2b,2
c,2dごとのβ線測定値とγ線測定値の比を算出し、対向
する放射線測定手段2a,2bおよび2c,2dで得られた比の差
を算出し、基準値と比較する。すなわち、対向する放射
線測定手段2a,2bおよび2c,2dで得られたβ線測定値とγ
線測定値の比の差の絶対値が基準値より大きければ表面
汚染物、基準値以下であれば放射化物であると判別す
る。
このときの汚染形態の判別原理を、第２図、第３図お
よび第４図により説明する。
よび第４図により説明する。
第２図は、表面汚染物８の汚染面９側とそれに対向す
る非汚染面10側で、それぞれβ線およびγ線を測定した
場合を示す概略図である。
る非汚染面10側で、それぞれβ線およびγ線を測定した
場合を示す概略図である。
この図において、汚染面９側の放射線測定手段11aで
得られたβ線測定値とγ線測定値の比は、非汚染面10側
の放射線測定手段11bで得られたβ線測定値とγ線測定
値の比より大きくなる。これは、β線の透過力はγ線に
比べて小さく、かつ自己吸収が大きいため、非汚染面10
側の放射線測定手段11bではβ線がほとんど検出されな
いためである。
得られたβ線測定値とγ線測定値の比は、非汚染面10側
の放射線測定手段11bで得られたβ線測定値とγ線測定
値の比より大きくなる。これは、β線の透過力はγ線に
比べて小さく、かつ自己吸収が大きいため、非汚染面10
側の放射線測定手段11bではβ線がほとんど検出されな
いためである。
したがって、これらの比の差の絶対値も大きくなる。
第３図は、放射化物12の上面13側と下面14側で、それ
ぞれβ線およびγ線を測定した場合を示す概略図であ
る。
ぞれβ線およびγ線を測定した場合を示す概略図であ
る。
この図において、上面13側の放射線測定手段15aで得
られたβ線測定値とγ線測定値の比と、下面14側の放射
線測定手段15bで得られたβ線測定値とγ線測定値の比
は、近似した値をとる。これは、放射化物12中では放射
性物質がほとんど均一に分布しているため、放射線測定
手段15aおよび15bのどちらでも、ほぼ同量のβ線および
γ線が測定されるためである。
られたβ線測定値とγ線測定値の比と、下面14側の放射
線測定手段15bで得られたβ線測定値とγ線測定値の比
は、近似した値をとる。これは、放射化物12中では放射
性物質がほとんど均一に分布しているため、放射線測定
手段15aおよび15bのどちらでも、ほぼ同量のβ線および
γ線が測定されるためである。
したがって、これらの比の差の絶対値は小さくなる。
第４図は、対向配置された放射線測定手段で得られた
β線測定値とγ線測定値の比の差を、グラフ上に表した
例を示すものである。
β線測定値とγ線測定値の比の差を、グラフ上に表した
例を示すものである。
このグラフにおいて、対向配置された１対の放射線測
定手段で得られたβ線測定値とγ線測定値の比の一方を
x1、他方をy1としたとき、これらの比の差の絶対値｜xi
-yi｜が小さければ、たとえぱ座標成分（x1,y1）で表さ
れる点Ａのように、直線ｙ＝ｘ上またはその近傍に示さ
れる。これに対し、｜xi-yi｜が大きければ、たとえぱ
座標成分（x2,y2）で表される点Ｂのように、直線ｙ＝
ｘから離れた位置に示される。
定手段で得られたβ線測定値とγ線測定値の比の一方を
x1、他方をy1としたとき、これらの比の差の絶対値｜xi
-yi｜が小さければ、たとえぱ座標成分（x1,y1）で表さ
れる点Ａのように、直線ｙ＝ｘ上またはその近傍に示さ
れる。これに対し、｜xi-yi｜が大きければ、たとえぱ
座標成分（x2,y2）で表される点Ｂのように、直線ｙ＝
ｘから離れた位置に示される。
したがって、たとえば放射化物はグラフ中、斜線部で
示す領域Ｘ中に含まれる点として表すことができる。こ
の領域Ｘは、被測定物の形状、材質、検出器の検出効率
等により変化するが、領域Ｘの境界部が基準値となる。
示す領域Ｘ中に含まれる点として表すことができる。こ
の領域Ｘは、被測定物の形状、材質、検出器の検出効率
等により変化するが、領域Ｘの境界部が基準値となる。
演算手段３はこの原理に基づき、被測定物１が表面汚
染物であるか放射化物であるかを判別する。
染物であるか放射化物であるかを判別する。
なおこれらの判別は、放射線測定手段2a,2bおよび2c,
2dごとに行い、両方の判別結果から被測定物質１の判別
を行う。また、表面汚染物であった場合、β線測定値と
γ線測定値の比が最も大きい面が汚染面である。
2dごとに行い、両方の判別結果から被測定物質１の判別
を行う。また、表面汚染物であった場合、β線測定値と
γ線測定値の比が最も大きい面が汚染面である。
なお、本発明の汚染形態判別装置は第１図に示した実
施例に限定されるものではなく、例えば、β線検出器、
γ線検出器、境界板等は同様の機能を有するものであれ
ば、いかなるものを用いてもよい。また、放射線測定手
段は必ずしも２対である必要はなく、１対の放射線測定
手段により実なる２対向面以上を測定するようにしても
よいし、３対以上用いてもよい。
施例に限定されるものではなく、例えば、β線検出器、
γ線検出器、境界板等は同様の機能を有するものであれ
ば、いかなるものを用いてもよい。また、放射線測定手
段は必ずしも２対である必要はなく、１対の放射線測定
手段により実なる２対向面以上を測定するようにしても
よいし、３対以上用いてもよい。
さらに、各放射線測定手段と被測定物との距離は同一
であることが望ましく、この調整は、各放射線測定手段
に距離センサを設置して自動測距により行う等いかなる
方法を用いてもよい。
であることが望ましく、この調整は、各放射線測定手段
に距離センサを設置して自動測距により行う等いかなる
方法を用いてもよい。
［発明の効果］ 以上説明したように、本発明の汚染形態判別装置によ
れば、放射線廃棄物の汚染形態が表面汚染物であるか放
射化物であるかを正確に判別することができる。これに
より、表面汚染物に対しては除染工程、放射化物に対し
ては圧縮減容等、それぞれ最適な工程を選択することが
でき、放射性廃棄物の処理コストおよび放射性廃棄物の
貯蔵スぺースの低減並びに安全性の向上を図ることがで
きる。
れば、放射線廃棄物の汚染形態が表面汚染物であるか放
射化物であるかを正確に判別することができる。これに
より、表面汚染物に対しては除染工程、放射化物に対し
ては圧縮減容等、それぞれ最適な工程を選択することが
でき、放射性廃棄物の処理コストおよび放射性廃棄物の
貯蔵スぺースの低減並びに安全性の向上を図ることがで
きる。
第１図は本発明の汚染形態判別装置の一実施例の概略
図、第２図は表面汚染物の汚染面側とそれに対向する非
汚染面側から放出されるβ線およびγ線を測定した場合
を示す概略図、第３図は放射化物の上面側とそれに対向
する下面側から放出されるβ線およびγ線を測定した場
合を示す概略図、第４図は対向配置された放射線測定手
段で得られたβ線測定値とγ線測定値の比の差を示すグ
ラフである。 １……被測定物 2a〜2d……放射線測定手段 ３……演算手段 4a〜4d……β線検出器 5a〜5d……γ線検出器
図、第２図は表面汚染物の汚染面側とそれに対向する非
汚染面側から放出されるβ線およびγ線を測定した場合
を示す概略図、第３図は放射化物の上面側とそれに対向
する下面側から放出されるβ線およびγ線を測定した場
合を示す概略図、第４図は対向配置された放射線測定手
段で得られたβ線測定値とγ線測定値の比の差を示すグ
ラフである。 １……被測定物 2a〜2d……放射線測定手段 ３……演算手段 4a〜4d……β線検出器 5a〜5d……γ線検出器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 加藤 裕明 東京都千代田区内幸町１丁目１番７号 日本原子力事業株式会社内 (56)参考文献 特開 昭60−188869（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−161481（ＪＰ，Ａ)
Claims (1)
- 【請求項１】被測定物が配置可能な間隔を設けて配置さ
れそれぞれβ線検出器およびγ線検出器を有する少なく
とも１対の放射線測定手段と、これらの放射線測定手段
により同一方向から同時に測定されたβ線測定値とγ線
測定値の比をそれぞれの放射線測定手段ごとに算出し、
これらの比の差を基準値と比較して、前記放射線測定手
段の間に配置された被測定物が表面汚染物であるか放射
化物であるかを判別する演算手段とを有することを特徴
とする汚染形態判別装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14479187A JP2563341B2 (ja) | 1987-06-10 | 1987-06-10 | 汚染形態判別装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14479187A JP2563341B2 (ja) | 1987-06-10 | 1987-06-10 | 汚染形態判別装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63308590A JPS63308590A (ja) | 1988-12-15 |
| JP2563341B2 true JP2563341B2 (ja) | 1996-12-11 |
Family
ID=15370536
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14479187A Expired - Lifetime JP2563341B2 (ja) | 1987-06-10 | 1987-06-10 | 汚染形態判別装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2563341B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2736186B2 (ja) * | 1991-07-30 | 1998-04-02 | 株式会社東芝 | 汚染／放射化放射能識別装置 |
| JP2736189B2 (ja) * | 1991-08-26 | 1998-04-02 | 株式会社東芝 | 開口部を持つ放射性廃棄物の汚染／放射化放射能識別方法 |
| JP6238344B2 (ja) * | 2013-09-25 | 2017-11-29 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | 大立体角ガンマ線・ベータ線同時検出装置 |
| JP6366306B2 (ja) * | 2014-03-12 | 2018-08-01 | 日立造船株式会社 | 廃棄物用放射能測定装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61161481A (ja) * | 1985-01-11 | 1986-07-22 | Fuji Electric Co Ltd | 放射能測定装置 |
-
1987
- 1987-06-10 JP JP14479187A patent/JP2563341B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63308590A (ja) | 1988-12-15 |
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