JPS6369978A - 薄膜パタン形成方法 - Google Patents
薄膜パタン形成方法Info
- Publication number
- JPS6369978A JPS6369978A JP21397886A JP21397886A JPS6369978A JP S6369978 A JPS6369978 A JP S6369978A JP 21397886 A JP21397886 A JP 21397886A JP 21397886 A JP21397886 A JP 21397886A JP S6369978 A JPS6369978 A JP S6369978A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- substrate
- laser beam
- thin film
- film pattern
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims abstract description 25
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 title description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 31
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 14
- 238000006303 photolysis reaction Methods 0.000 claims description 9
- 230000015843 photosynthesis, light reaction Effects 0.000 claims description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 7
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 claims description 3
- 230000007261 regionalization Effects 0.000 claims 1
- 239000010408 film Substances 0.000 abstract description 14
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 13
- 239000002184 metal Substances 0.000 abstract description 12
- 229910021645 metal ion Inorganic materials 0.000 abstract description 11
- 230000005684 electric field Effects 0.000 abstract description 9
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 22
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 6
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 4
- 150000002902 organometallic compounds Chemical class 0.000 description 4
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 3
- -1 alkyl metal compound Chemical class 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 229910001111 Fine metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 1
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 238000002256 photodeposition Methods 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
- Electrodes Of Semiconductors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、光分解による化学気相成長により、マスクを
用いず、かつ、低温で微細な薄膜パタンを形成する方法
に関するものである。
用いず、かつ、低温で微細な薄膜パタンを形成する方法
に関するものである。
従来の光分解による薄膜パタン形成方法を第4回に示す
。第4図において、レーザ装置1から出射されたレーザ
ビーム2は集光レンズ3で集光され、反応槽4中のステ
ージ5に搭載されている基板6に照射される。ステージ
5には基板6を加熱するためのヒータ7が設置されてい
る。反応槽4には、膜構成原子等を含んだ材料ガスなど
を収容したボンベ8および排気管9が接続されており。
。第4図において、レーザ装置1から出射されたレーザ
ビーム2は集光レンズ3で集光され、反応槽4中のステ
ージ5に搭載されている基板6に照射される。ステージ
5には基板6を加熱するためのヒータ7が設置されてい
る。反応槽4には、膜構成原子等を含んだ材料ガスなど
を収容したボンベ8および排気管9が接続されており。
上記材料ガスはボンベ8から所望の濃度で反応槽4の中
に導入される。上記反応槽4に導入された材料ガスは、
レーザビーム2を吸収して光分解し。
に導入される。上記反応槽4に導入された材料ガスは、
レーザビーム2を吸収して光分解し。
膜構成原子等のラジカル等が生成され、基板6に付着し
てR膜パタンを形成する。(例えば、ジャーナル・オブ
・バキューム・サイエンス・アンド・テクノロジー(J
、 Vac、 Sci、丁achnol、 Vol 2
1゜NQI、 pp 23−32.1982)における
T、 F、 Deutsch氏らの論文、”Photo
deposition of metal fNmwi
th ultraviolet ]、aser lig
ht”等を参蕪。)〔発明が解決しようとする問題点〕 上記従来方法では、光分解により気相中で生成したラジ
カル等の飛程方向がランダムであり、基板上のレーザ照
射領域に比べ広範囲な領域にまでラジカル等が飛来して
基板に付着するため、基板に形成された薄膜パタンの裾
が拡がる。このため。
てR膜パタンを形成する。(例えば、ジャーナル・オブ
・バキューム・サイエンス・アンド・テクノロジー(J
、 Vac、 Sci、丁achnol、 Vol 2
1゜NQI、 pp 23−32.1982)における
T、 F、 Deutsch氏らの論文、”Photo
deposition of metal fNmwi
th ultraviolet ]、aser lig
ht”等を参蕪。)〔発明が解決しようとする問題点〕 上記従来方法では、光分解により気相中で生成したラジ
カル等の飛程方向がランダムであり、基板上のレーザ照
射領域に比べ広範囲な領域にまでラジカル等が飛来して
基板に付着するため、基板に形成された薄膜パタンの裾
が拡がる。このため。
例えば微細な配線導体、絶縁膜、あるいは半導体薄膜を
形成することができず、高密度な配線板や半導体装置等
の製作が困難である。
形成することができず、高密度な配線板や半導体装置等
の製作が困難である。
本発明の目的は、マスクを用いずに微細な薄膜パタンを
形成することにある。
形成することにある。
気相中の光分解を応用した光化学気相成長における一部
の光イオン化反応により生成したイオンの飛程方向を、
所望の分布を有する電界によって制御し、光分解により
生成した他のイオン化していないラジカルの拡がりを、
上記イオンにより抑制することによって、上記目的が達
成される。
の光イオン化反応により生成したイオンの飛程方向を、
所望の分布を有する電界によって制御し、光分解により
生成した他のイオン化していないラジカルの拡がりを、
上記イオンにより抑制することによって、上記目的が達
成される。
有機金属化合物ガスを材料ガスとして紫外光レーザビー
ム照射を行うと、上記有機金属化合物ガスは光分解して
金属ラジカルを生成するとともに、多光子吸収等によっ
て一部金属イオンを生成する。
ム照射を行うと、上記有機金属化合物ガスは光分解して
金属ラジカルを生成するとともに、多光子吸収等によっ
て一部金属イオンを生成する。
したがって、レーザビームを照射する際に、例えば基板
を搭載したステージと、該ステージ上に設けた電極との
間に、上記電極が電極となるように電流電圧を印加する
と、光イオン化反応により生成した金属イオンは基板に
引きつけられる。上記方向性を持った金属イオンにより
他の膜構成種である金属ラジカルの拡がりを抑制するこ
とができ。
を搭載したステージと、該ステージ上に設けた電極との
間に、上記電極が電極となるように電流電圧を印加する
と、光イオン化反応により生成した金属イオンは基板に
引きつけられる。上記方向性を持った金属イオンにより
他の膜構成種である金属ラジカルの拡がりを抑制するこ
とができ。
さらに電極が正電位であるため、電極に設けられたレー
ザビーム照射用開口部分の電界がレンズの作用をし、レ
ーザビーム中で生成される金属イオンが収束され、上記
金属イオンにより金属ラジカルもまた上記レーザビーム
内部に収束される。このように、電界により金属イオン
に方向性を持たせる作用を利用して、基板に堆積する金
属膜の拡がりを抑制し、微細なパタンを形成することが
できる。
ザビーム照射用開口部分の電界がレンズの作用をし、レ
ーザビーム中で生成される金属イオンが収束され、上記
金属イオンにより金属ラジカルもまた上記レーザビーム
内部に収束される。このように、電界により金属イオン
に方向性を持たせる作用を利用して、基板に堆積する金
属膜の拡がりを抑制し、微細なパタンを形成することが
できる。
つぎに本発明の実施例を図面とともに説明する。
第1図は本発明による薄膜パタン形成方法の一実施例を
示す装置の構成図、第2図は照射中心部からの相対距離
と膜厚との関係を示す図、第3図は微細な金属薄膜パタ
ンを形成するための電極部分の一例を示す図である。第
1図はレーザビーム照射用の開口を有する平行平板型電
極を用いた例を示す図で、基板に対して垂直方向に電圧
を印加する。第1図において、レーザ装置1から出射し
たレーザビーム2は集光レンズ3で集光され、反応槽4
中のステージ5上に搭載された基板6に照射される。こ
の際、上記集光レンズ3を透過したレーザビーム2は電
極10に設けられた開口部を通過する。ステージ5には
基板加熱用のヒータ7が設置されており、また、上記ス
テージ5は本実施例においては電極をも兼ねている。反
応槽4には、膜構造原子等を含んだ材料ガスなどを収容
したボンベ8、および排気管9が接続されており、材料
ガスはボンベ8から所望の濃度で上記反応槽4の中に導
入される。なお、電極10には電源11が接続され、上
記ステージ5との間には電極10が電極となるように直
流電圧が印加されるようになっている。
示す装置の構成図、第2図は照射中心部からの相対距離
と膜厚との関係を示す図、第3図は微細な金属薄膜パタ
ンを形成するための電極部分の一例を示す図である。第
1図はレーザビーム照射用の開口を有する平行平板型電
極を用いた例を示す図で、基板に対して垂直方向に電圧
を印加する。第1図において、レーザ装置1から出射し
たレーザビーム2は集光レンズ3で集光され、反応槽4
中のステージ5上に搭載された基板6に照射される。こ
の際、上記集光レンズ3を透過したレーザビーム2は電
極10に設けられた開口部を通過する。ステージ5には
基板加熱用のヒータ7が設置されており、また、上記ス
テージ5は本実施例においては電極をも兼ねている。反
応槽4には、膜構造原子等を含んだ材料ガスなどを収容
したボンベ8、および排気管9が接続されており、材料
ガスはボンベ8から所望の濃度で上記反応槽4の中に導
入される。なお、電極10には電源11が接続され、上
記ステージ5との間には電極10が電極となるように直
流電圧が印加されるようになっている。
レーザ装置1としてArFエキシマレーザ(波長193
nm)を用い、矩形状のパワー密度分布を有するレーザ
ビーム2を、荊の有機金属化合物であるAn(CH3)
3ガス中でSi半導体基板に照射し、このとき上記Si
基板上に堆積するM膜が、照射部中心から周辺に拡がる
状態を第2図に示す。ステージ5に対して電極10を電
極にした場合は、電圧を印加しない場合に比べてレーザ
ビーム照射部周辺への膜の拡がりを約1/1.4に抑制
できる。
nm)を用い、矩形状のパワー密度分布を有するレーザ
ビーム2を、荊の有機金属化合物であるAn(CH3)
3ガス中でSi半導体基板に照射し、このとき上記Si
基板上に堆積するM膜が、照射部中心から周辺に拡がる
状態を第2図に示す。ステージ5に対して電極10を電
極にした場合は、電圧を印加しない場合に比べてレーザ
ビーム照射部周辺への膜の拡がりを約1/1.4に抑制
できる。
また、逆に電極10を一極にした場合はレーザビーム照
射部周辺への膜の拡がりが約2倍以上に大きくなる。
射部周辺への膜の拡がりが約2倍以上に大きくなる。
第1図に示した本実施例は平行平板電極を用いた例であ
るが、適当な電界分布が形成できる構造の電極を気相中
に挿入することにより、所望の膜厚分布の金属薄膜パタ
ンを形成することができる。
るが、適当な電界分布が形成できる構造の電極を気相中
に挿入することにより、所望の膜厚分布の金属薄膜パタ
ンを形成することができる。
例えば第3図に示すように、材料ガスを自由に通過させ
ることができる金属メツシュで形成された。
ることができる金属メツシュで形成された。
断面形状が逆台形状の電極101を設置し、電界を基板
上のレーザ照射部分の1点に集中することにより、金属
イオンおよび金属ラジカルの飛程方向を1点に集中させ
ることができる。上記のような構造の電極では、レンズ
効果による金属イオンおよび金属ラジカルの収束作用も
大きく、微細な膜を形成することが可能である。また、
必ずしも反応槽内に電界形成用の電極を設置する必要は
なく。
上のレーザ照射部分の1点に集中することにより、金属
イオンおよび金属ラジカルの飛程方向を1点に集中させ
ることができる。上記のような構造の電極では、レンズ
効果による金属イオンおよび金属ラジカルの収束作用も
大きく、微細な膜を形成することが可能である。また、
必ずしも反応槽内に電界形成用の電極を設置する必要は
なく。
適当な電界が気相中に形成できれば1反応槽外部に電極
を設置してもよい。
を設置してもよい。
さらに第1図に示す実施例では、レーザ装置1から出射
するレーザビーム2をそのまま集光レンズ3により基板
6上に集光しているが、上記レーザ装置1と集光レンズ
3との間のレーザビーム2の光路上に、円形あるいは矩
形等の開口を有する光学的しぼりを挿入し、集光レンズ
3によりその開口面を基板6上に結像させるように照射
してもよい。
するレーザビーム2をそのまま集光レンズ3により基板
6上に集光しているが、上記レーザ装置1と集光レンズ
3との間のレーザビーム2の光路上に、円形あるいは矩
形等の開口を有する光学的しぼりを挿入し、集光レンズ
3によりその開口面を基板6上に結像させるように照射
してもよい。
材料ガスとしては1例えば配線や電極材料として用いら
れるAQを堆積させたい場合には、AiL(CH3)3
、A党(C:2H,)3等を用い、ドーパント等として
用いられるC+lZn等を堆積させたい場合には、Cd
(CHx )zやZnCH,等のアルキル金属化合物
を用いればよい。また、マスク材として用いられるCr
、Ni等を堆積させたい場合にはカルボニル金属化合物
等を用いる。
れるAQを堆積させたい場合には、AiL(CH3)3
、A党(C:2H,)3等を用い、ドーパント等として
用いられるC+lZn等を堆積させたい場合には、Cd
(CHx )zやZnCH,等のアルキル金属化合物
を用いればよい。また、マスク材として用いられるCr
、Ni等を堆積させたい場合にはカルボニル金属化合物
等を用いる。
金属薄膜パタンの形成について上記のように説明したが
、例えば有機金属化合物ガスとN20ガスとの光分解に
よる絶縁膜形成あるいは半導体薄膜形成等においても、
同様の効果が得られることは明らかである。
、例えば有機金属化合物ガスとN20ガスとの光分解に
よる絶縁膜形成あるいは半導体薄膜形成等においても、
同様の効果が得られることは明らかである。
上記のように本発明による薄膜パタン形成方法は、材料
ガス中に置かれた基板にレーザビームを照射し、上記材
料ガスの光分解による化学気相成長により、基板上のレ
ーザビーム照射部に所望の微細な薄膜パタンを形成する
薄膜パタン形成方法において、レーザビームの一部ある
いは全部を基板上に向けて通す電極を設け、上記電極を
基板に対して正電位に保持しながらレーザビーム照射を
行うことにより、光イオン化反応により気相中で生成さ
れた一部イオンの飛程方向を電界により制御できるため
、光分解により気相中で生成した他のラジカルの、レー
ザビーム照射領域からの拡がりを抑制することができ、
微細な薄膜パタンか形成できる。このため、本発明によ
り微細な配線導体および絶縁膜を形成し、高密度配線板
を形成することができる。また、微細な半導体薄膜の形
成も可能なことから、高密度な半導体装置等の製作も可
能になる。
ガス中に置かれた基板にレーザビームを照射し、上記材
料ガスの光分解による化学気相成長により、基板上のレ
ーザビーム照射部に所望の微細な薄膜パタンを形成する
薄膜パタン形成方法において、レーザビームの一部ある
いは全部を基板上に向けて通す電極を設け、上記電極を
基板に対して正電位に保持しながらレーザビーム照射を
行うことにより、光イオン化反応により気相中で生成さ
れた一部イオンの飛程方向を電界により制御できるため
、光分解により気相中で生成した他のラジカルの、レー
ザビーム照射領域からの拡がりを抑制することができ、
微細な薄膜パタンか形成できる。このため、本発明によ
り微細な配線導体および絶縁膜を形成し、高密度配線板
を形成することができる。また、微細な半導体薄膜の形
成も可能なことから、高密度な半導体装置等の製作も可
能になる。
第1図は本発明による薄膜パタン形成方法の一実施例を
示す装置の構成図、第2図は照射中心部からの相対距離
と薄膜との関係を示す図、第3図は微細な金属薄膜パタ
ンを形成するための電極部分の一例を示す図、第4図は
従来の薄膜パタン形成方法を示す装置の構成図である。 2・・・レーザビーム 6・・・基板8・・・材料
ガスボンベ 10・・・電極11・・・電源
示す装置の構成図、第2図は照射中心部からの相対距離
と薄膜との関係を示す図、第3図は微細な金属薄膜パタ
ンを形成するための電極部分の一例を示す図、第4図は
従来の薄膜パタン形成方法を示す装置の構成図である。 2・・・レーザビーム 6・・・基板8・・・材料
ガスボンベ 10・・・電極11・・・電源
Claims (1)
- 1、材料ガス中に置かれた基板にレーザビームを照射し
、上記材料ガスの光分解による化学気相成長により、基
板上のレーザビーム照射部に所望の微細な薄膜パタンを
形成する薄膜パタン形成方法において、レーザビームの
一部あるいは全部を基板上に向けて通す電極を設け、上
記電極を基板に対して正電位に保持しながら、レーザビ
ーム照射を行うことを特徴とする薄膜パタン形成方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21397886A JPS6369978A (ja) | 1986-09-12 | 1986-09-12 | 薄膜パタン形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21397886A JPS6369978A (ja) | 1986-09-12 | 1986-09-12 | 薄膜パタン形成方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6369978A true JPS6369978A (ja) | 1988-03-30 |
Family
ID=16648218
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP21397886A Pending JPS6369978A (ja) | 1986-09-12 | 1986-09-12 | 薄膜パタン形成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6369978A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014138106A (ja) * | 2013-01-17 | 2014-07-28 | Yamagata Univ | 電子デバイス及びその製造方法 |
CN111837074A (zh) * | 2018-03-02 | 2020-10-27 | Asml荷兰有限公司 | 形成图案化的材料层的方法和设备 |
-
1986
- 1986-09-12 JP JP21397886A patent/JPS6369978A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014138106A (ja) * | 2013-01-17 | 2014-07-28 | Yamagata Univ | 電子デバイス及びその製造方法 |
CN111837074A (zh) * | 2018-03-02 | 2020-10-27 | Asml荷兰有限公司 | 形成图案化的材料层的方法和设备 |
JP2021515264A (ja) * | 2018-03-02 | 2021-06-17 | エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. | 材料のパターン付き層を形成するための方法及び装置 |
CN111837074B (zh) * | 2018-03-02 | 2023-11-03 | Asml荷兰有限公司 | 形成图案化的材料层的方法和设备 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4615904A (en) | Maskless growth of patterned films | |
US4608117A (en) | Maskless growth of patterned films | |
JPS599164A (ja) | 耐火金属層を基板上に光沈着させる方法 | |
JPS60236219A (ja) | プラズマ生成したソースガスを用いた蒸着方法 | |
JPH02310363A (ja) | レーザ蒸着装置 | |
WO2013157359A1 (ja) | 有機膜をエッチングする方法及びプラズマエッチング装置 | |
JPS61278146A (ja) | 光処理方法 | |
JPS6369978A (ja) | 薄膜パタン形成方法 | |
JPS59144133A (ja) | プラズマドライ処理装置 | |
JPS6066896A (ja) | 基体に金属銅を付着するための方法 | |
JPS59165422A (ja) | ドライプロセス装置 | |
JP3168593B2 (ja) | 高輝度集束イオンビームを用いた化合物の薄膜パターン生成方法 | |
KR880005651A (ko) | 이온 빔 총 및 이온 빔 노출장치 | |
JP3218024B2 (ja) | 金属パターン膜の形成方法及びその装置 | |
JP3412780B2 (ja) | 回路パターンの製造装置 | |
US4368215A (en) | High resolution masking process for minimizing scattering and lateral deflection in collimated ion beams | |
JPH04285173A (ja) | 窓曇り除去機構を備えた光励起プロセス装置 | |
JPH0526329B2 (ja) | ||
JPS60211849A (ja) | 導電膜パタ−ンの形成方法 | |
RU2024645C1 (ru) | Способ изготовления проводящих микроструктур | |
JPS61161722A (ja) | 光励起エツチング方法及びエツチング装置 | |
JPS60211848A (ja) | 導電膜パタ−ンの形成方法 | |
JPS6047415A (ja) | 化合物薄膜の形成方法及び装置 | |
JPH0282616A (ja) | a−sic:H薄膜の形成方法 | |
JPH01207948A (ja) | パターニング装置 |