JPS636427A - 紫外可視分光光度計 - Google Patents
紫外可視分光光度計Info
- Publication number
- JPS636427A JPS636427A JP14953386A JP14953386A JPS636427A JP S636427 A JPS636427 A JP S636427A JP 14953386 A JP14953386 A JP 14953386A JP 14953386 A JP14953386 A JP 14953386A JP S636427 A JPS636427 A JP S636427A
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- light
- ultraviolet
- optical axis
- mirror
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- Pending
Links
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- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 15
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 claims abstract description 15
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- YZCKVEUIGOORGS-OUBTZVSYSA-N Deuterium Chemical compound [2H] YZCKVEUIGOORGS-OUBTZVSYSA-N 0.000 claims description 12
- 229910052805 deuterium Inorganic materials 0.000 claims description 12
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 claims 1
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
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Landscapes
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は紫外可視分光光度計に係り、特に紫外可視領域
測定に好適な光源光学系を備えた紫外可視分光光度計に
関するものである。
測定に好適な光源光学系を備えた紫外可視分光光度計に
関するものである。
従来の紫外可視分光光度計では、紫外波長域においては
重水素放電管を、可視波長域においてはタングステンラ
ンプを使用し、測定しようとする波長域によってどちら
かの光源に切り換えて使用するのが一般的であった6 第5図は従来の紫外可視分光光度計の機成図である0重
水素放電管1とタングステンランプ2とを固定位置で点
灯させ、凹面ミラー3を回転させることによってどちら
か−方の光源ランプ光を分光器部5への主光軸上に導入
させるようにしである。4は光源部を示す。
重水素放電管を、可視波長域においてはタングステンラ
ンプを使用し、測定しようとする波長域によってどちら
かの光源に切り換えて使用するのが一般的であった6 第5図は従来の紫外可視分光光度計の機成図である0重
水素放電管1とタングステンランプ2とを固定位置で点
灯させ、凹面ミラー3を回転させることによってどちら
か−方の光源ランプ光を分光器部5への主光軸上に導入
させるようにしである。4は光源部を示す。
分光器部5内では単色光となり、試料室光学系6へ入射
する。入射した光は光学系6内の試料室7を通過し、光
検出器8に照射される。光学系6は、試料室7付近で2
光束となっているいわゆるダブルビーム形光度計の例を
示しである。光検出器8からの出力は、増幅器9にて信
号増幅および信号処理が行われ、データが出力される。
する。入射した光は光学系6内の試料室7を通過し、光
検出器8に照射される。光学系6は、試料室7付近で2
光束となっているいわゆるダブルビーム形光度計の例を
示しである。光検出器8からの出力は、増幅器9にて信
号増幅および信号処理が行われ、データが出力される。
しかし、第5図の従来方式のものでは、光源切り換えの
ための切換位置検出手段、凹面ミラー3回転のためのモ
ータあるいはソレノイドの連結手段およびそれぞれに対
応した電気制御回路や電源が必要になる。また、性能上
、光源からの光の切換波長、例えば、340mm附近の
スキャンは、まず、切換波長の検出指令による切換波長
での波長スキャン停止、データ測定中であれば、データ
を保持し、光源切換が完了した後、スキャン再開と同時
に停止前のデータとつなぎ合わせるデータ処理技術が必
要であり、連続スキャン、繰り返しスキャンなどではタ
イムロスがあるなどの欠点があった。
ための切換位置検出手段、凹面ミラー3回転のためのモ
ータあるいはソレノイドの連結手段およびそれぞれに対
応した電気制御回路や電源が必要になる。また、性能上
、光源からの光の切換波長、例えば、340mm附近の
スキャンは、まず、切換波長の検出指令による切換波長
での波長スキャン停止、データ測定中であれば、データ
を保持し、光源切換が完了した後、スキャン再開と同時
に停止前のデータとつなぎ合わせるデータ処理技術が必
要であり、連続スキャン、繰り返しスキャンなどではタ
イムロスがあるなどの欠点があった。
また1手動により光源を切り換える方式の光度計では、
測定者が目的波長に応じて手動で切り換えるため、紫外
可視領域にかかる測定では切り換えがわずられしく、切
り換え忘れによるデータ再測定などの問題があった。こ
れら従来の分光光度計の光源切り換えについては、特開
昭59−176633号公報、特開昭59−27227
号公報に記載しである。
測定者が目的波長に応じて手動で切り換えるため、紫外
可視領域にかかる測定では切り換えがわずられしく、切
り換え忘れによるデータ再測定などの問題があった。こ
れら従来の分光光度計の光源切り換えについては、特開
昭59−176633号公報、特開昭59−27227
号公報に記載しである。
従来技術は、光源切り換え方式であるため、そのための
手段やそれに対応した電気制御回路および電源が必要で
あり、また、スキャン再開と同時に停止前のデータとつ
なぎ合わせるデータ処理技術が必要であり、しかも、タ
イムロスがあるという問題点があった。
手段やそれに対応した電気制御回路および電源が必要で
あり、また、スキャン再開と同時に停止前のデータとつ
なぎ合わせるデータ処理技術が必要であり、しかも、タ
イムロスがあるという問題点があった。
本発明の目的は、光源を切り換えることなしに紫外可視
領域の測定を行うことができる紫外可視分光光度計を提
供することにある。
領域の測定を行うことができる紫外可視分光光度計を提
供することにある。
上記目的は、光源切り換えなしに重水素放電管とタング
ステンランプとからの光を同一光軸として分光器部へ入
射させる光源光学系を具備した構成として達成するよう
にした。
ステンランプとからの光を同一光軸として分光器部へ入
射させる光源光学系を具備した構成として達成するよう
にした。
光源切り換えなしに重水素放電管とタングステンランプ
とからの光を同一光軸として分光器部へ入射させる光源
光学系を具備させたので、光源切り換えのための可動部
や駆動源が不要となり、また、紫外可視領域での波長ス
キャンの停止の必要がなく、スキャン時間の短縮をはか
ることができ。
とからの光を同一光軸として分光器部へ入射させる光源
光学系を具備させたので、光源切り換えのための可動部
や駆動源が不要となり、また、紫外可視領域での波長ス
キャンの停止の必要がなく、スキャン時間の短縮をはか
ることができ。
しかも、紫外可視領域の測定を行うことができる。
以下本発明を第1図〜第4図に示した実施例を用いて詳
細に説明する。
細に説明する。
本発明に係る紫外可視分光光度計の全体構成は第4図と
ほぼ同様であるが、従来のものと光源部が異なり、両光
源の光束の光軸を主光軸に合わせるようにしてあり、光
源切り換えを行わなくともよいようにしである。
ほぼ同様であるが、従来のものと光源部が異なり、両光
源の光束の光軸を主光軸に合わせるようにしてあり、光
源切り換えを行わなくともよいようにしである。
第1図は本発明の紫外可視分光光度計の光源部の一実施
例を示す構成説明図である。第1図において、1は重水
素放電管、2はタングステンランプで1重水素放電管1
とタングステンランプ2とは、それぞれからの光が直交
する位置に配置してあり、それぞれの光を図示のように
主光軸方向に対して45°となるように設置した半透過
ミラー10に入射させ、重水素放電管1からの光は半透
過ミラー10を透過し、タングステンランプ2からの光
は半透過ミラー10で反射されて、両方の光が主光軸1
1方向に進むようにしである6半透過ミラー1oは、ガ
ラス板の一方の面に反射面と透過面との比が50%:5
0%となるようにアルミニウムを蒸着して反射膜とした
ものである。この半透過ミラー10により、タングステ
ンランプ2からの光は反射膜によって50%反射されて
主光軸11に導かれ1重水素放電管1からの光は半透過
ミラー1oを50%透過して主光軸11に導かれる。こ
こで、それぞれの光束は、半透過ミラ−10により50
%だけ透過、反射のロスがあるので、従来の光源切り換
え方式のものに比べて光量が172となるが、光源切り
換えを行う必要がないので、光源切り換えにともなう諸
問題を廃除することができる。主光軸11からの光は第
5図の分光器部5に入射することは従来と同じである。
例を示す構成説明図である。第1図において、1は重水
素放電管、2はタングステンランプで1重水素放電管1
とタングステンランプ2とは、それぞれからの光が直交
する位置に配置してあり、それぞれの光を図示のように
主光軸方向に対して45°となるように設置した半透過
ミラー10に入射させ、重水素放電管1からの光は半透
過ミラー10を透過し、タングステンランプ2からの光
は半透過ミラー10で反射されて、両方の光が主光軸1
1方向に進むようにしである6半透過ミラー1oは、ガ
ラス板の一方の面に反射面と透過面との比が50%:5
0%となるようにアルミニウムを蒸着して反射膜とした
ものである。この半透過ミラー10により、タングステ
ンランプ2からの光は反射膜によって50%反射されて
主光軸11に導かれ1重水素放電管1からの光は半透過
ミラー1oを50%透過して主光軸11に導かれる。こ
こで、それぞれの光束は、半透過ミラ−10により50
%だけ透過、反射のロスがあるので、従来の光源切り換
え方式のものに比べて光量が172となるが、光源切り
換えを行う必要がないので、光源切り換えにともなう諸
問題を廃除することができる。主光軸11からの光は第
5図の分光器部5に入射することは従来と同じである。
なお、第1図においては、半透過ミラー10として平面
ミラーを用いたが、−般に光度計の光学系としてスリッ
トを用い光検出器位置では光束を絞り込む必要があるの
で、集光光束とするための光源部とした他の実施例につ
いて第2図を用いて説明する。第2図においては、凹面
ミラー3により重水素放電管1からの光を集束させて、
半透過凹面レンズ12を通過させて主光軸11に導き、
また、タングステンランプ2からの光は、半透過凹面レ
ンズ11上で反射させて主光軸11上に集束させる。こ
れに′より両光源光束を主光軸11上に集束させること
ができる。
ミラーを用いたが、−般に光度計の光学系としてスリッ
トを用い光検出器位置では光束を絞り込む必要があるの
で、集光光束とするための光源部とした他の実施例につ
いて第2図を用いて説明する。第2図においては、凹面
ミラー3により重水素放電管1からの光を集束させて、
半透過凹面レンズ12を通過させて主光軸11に導き、
また、タングステンランプ2からの光は、半透過凹面レ
ンズ11上で反射させて主光軸11上に集束させる。こ
れに′より両光源光束を主光軸11上に集束させること
ができる。
第3図は本発明のさらに他の実施例を示す第1図に相当
する構成説明で、第4図は第3図の平面図である。第3
@においては、重水素放電管1からの光は1円筒口面ミ
ラー13aにより反射されて主光軸11に集束され、ま
た、タングステンランプ2からの光は、同様な円筒凹面
ミラー13bにより反射されて主光軸11に集束される
。両光源1,2は、上面から見ると、第4図に示すよう
に1図の上下方向にずらして配置してあり、両光束は平
行光束として第5図の分光器部5に入射するようにしで
ある。そして、この平行光束は分光器部5内で集束処理
される。第3図によれば、半透過あるいは半反射による
光の損失をなくすことができるという新たな効果がある
。
する構成説明で、第4図は第3図の平面図である。第3
@においては、重水素放電管1からの光は1円筒口面ミ
ラー13aにより反射されて主光軸11に集束され、ま
た、タングステンランプ2からの光は、同様な円筒凹面
ミラー13bにより反射されて主光軸11に集束される
。両光源1,2は、上面から見ると、第4図に示すよう
に1図の上下方向にずらして配置してあり、両光束は平
行光束として第5図の分光器部5に入射するようにしで
ある。そして、この平行光束は分光器部5内で集束処理
される。第3図によれば、半透過あるいは半反射による
光の損失をなくすことができるという新たな効果がある
。
なお、第1図の半透過ミラー10を半透過凹面レンズに
置きかえ、−方の光束は透過させ、他方の光束は反射さ
せるようにしてもよい、また、半透過ミラー10や半透
過凹面レンズ12の透過率と反射率の比を任意に選び、
光g1,2および分光器部5の波長依存性を補正するよ
うにしてもよい。
置きかえ、−方の光束は透過させ、他方の光束は反射さ
せるようにしてもよい、また、半透過ミラー10や半透
過凹面レンズ12の透過率と反射率の比を任意に選び、
光g1,2および分光器部5の波長依存性を補正するよ
うにしてもよい。
さらに、第1図〜第3図の光学系を基本とし、光源1,
2の位置をずらし、それぞれの光源の光束の光軸方向を
操作するため、平面ミラーや凹面ミラーを追加し、同様
な機能を実現するようにしてもよい。
2の位置をずらし、それぞれの光源の光束の光軸方向を
操作するため、平面ミラーや凹面ミラーを追加し、同様
な機能を実現するようにしてもよい。
以上説明したように、本発明によれば、光源を切り換え
ることなしに紫外可視領域の測定を行うことができ、可
動部や駆動源が不要となり、また、紫外可視領域での波
長スキャンの停止の必要がなく、スキャン時間の短縮か
はかわるという効果がある。
ることなしに紫外可視領域の測定を行うことができ、可
動部や駆動源が不要となり、また、紫外可視領域での波
長スキャンの停止の必要がなく、スキャン時間の短縮か
はかわるという効果がある。
第1図は本発明の紫外可視分光光度計の光源部の一実施
例を示す構成説明図、第2図、第3図はそれぞれ本発明
の他の実施例を示す第1図に相当する構成説明図、第4
図は第3図の平面図、第5図は従来の紫外可視分光光度
計の構成図である。
例を示す構成説明図、第2図、第3図はそれぞれ本発明
の他の実施例を示す第1図に相当する構成説明図、第4
図は第3図の平面図、第5図は従来の紫外可視分光光度
計の構成図である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、重水素放電管とタングステンランプとを光源とする
紫外可視分光光度計において、光源切り換えなしに前記
重水素放電管と前記タングステンランプとからの光を同
一光軸として分光器部へ入射させる光源光学系を具備す
ることを特徴とする紫外可視分光光度計。 2、前記光源光学系は、少なくとも1個の半透過ミラー
を用いたものである特許請求の範囲第1項記載の紫外可
視分光光度計。 3、前記光源光学系は、少なくとも1個の半透過凹面レ
ンズを用いたものである特許請求の範囲第1項記載の紫
外可視分光光度計。 4、前記光源光学系は、少なくとも凹面ミラーと半透過
凹面レンズとを組み合わせたものである特許請求の範囲
第1項記載の紫外可視分光光度計。 5、前記光源光学系は、少なくとも凹面ミラーと半透過
ミラーとを組み合わせたものである特許請求の範囲第1
項記載の紫外可視分光光度計。 6、前記光源光学系は、少なくとも2個の凹面ミラーを
組み合わせたものである特許請求の範囲第1項記載の紫
外可視分光光度計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14953386A JPS636427A (ja) | 1986-06-27 | 1986-06-27 | 紫外可視分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14953386A JPS636427A (ja) | 1986-06-27 | 1986-06-27 | 紫外可視分光光度計 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS636427A true JPS636427A (ja) | 1988-01-12 |
Family
ID=15477217
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14953386A Pending JPS636427A (ja) | 1986-06-27 | 1986-06-27 | 紫外可視分光光度計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS636427A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63182530A (ja) * | 1987-01-26 | 1988-07-27 | Japan Spectroscopic Co | 分光光度計用光源 |
JPH03101431U (ja) * | 1990-01-31 | 1991-10-23 | ||
JP2002323726A (ja) * | 2001-04-25 | 2002-11-08 | Mac Science Co Ltd | 放射線画像読取装置 |
-
1986
- 1986-06-27 JP JP14953386A patent/JPS636427A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63182530A (ja) * | 1987-01-26 | 1988-07-27 | Japan Spectroscopic Co | 分光光度計用光源 |
JPH03101431U (ja) * | 1990-01-31 | 1991-10-23 | ||
JP2002323726A (ja) * | 2001-04-25 | 2002-11-08 | Mac Science Co Ltd | 放射線画像読取装置 |
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