JPS6357263A - Ledアレイの発光ばらつき調整方法 - Google Patents
Ledアレイの発光ばらつき調整方法Info
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- JPS6357263A JPS6357263A JP61201260A JP20126086A JPS6357263A JP S6357263 A JPS6357263 A JP S6357263A JP 61201260 A JP61201260 A JP 61201260A JP 20126086 A JP20126086 A JP 20126086A JP S6357263 A JPS6357263 A JP S6357263A
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Landscapes
- Led Device Packages (AREA)
- Led Devices (AREA)
- Dot-Matrix Printers And Others (AREA)
- Printers Or Recording Devices Using Electromagnetic And Radiation Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、光書込み装置に使用するLED (発光ダイ
オード)アレイの発光ばらつきを強制劣化により調整す
る方法に関する。
オード)アレイの発光ばらつきを強制劣化により調整す
る方法に関する。
従来の技術
オフィスオートメーションの進行に併ない、高速・高画
質・低門音の特徴を牛かした電子写真式プリンターが注
目されてきている。レーザ゛−による光書込みを応用し
たレーザープリンターか広く実用化されているか、光書
込み部の人ぎいこと、ポリゴンミラーの信頼性か低いこ
と等の問題点から、L E Dアレイをこの分野に応用
することか捉察されている。
質・低門音の特徴を牛かした電子写真式プリンターが注
目されてきている。レーザ゛−による光書込みを応用し
たレーザープリンターか広く実用化されているか、光書
込み部の人ぎいこと、ポリゴンミラーの信頼性か低いこ
と等の問題点から、L E Dアレイをこの分野に応用
することか捉察されている。
)FDアレイとしてはGaASPか十に用いられている
が、GaASとGaAsPの格子定数の差により格子欠
陥が多く、ウェハの均一・性か操なわれ、結果として、
出来あがったLEDアレイに輝度のばらつきが大きく、
ひいては1フ率の低さ、電子写真プリンターに応用した
場合の潤度ムラ、線のざらつき等を招いていた。
が、GaASとGaAsPの格子定数の差により格子欠
陥が多く、ウェハの均一・性か操なわれ、結果として、
出来あがったLEDアレイに輝度のばらつきが大きく、
ひいては1フ率の低さ、電子写真プリンターに応用した
場合の潤度ムラ、線のざらつき等を招いていた。
この欠点を改善するものとして、特開昭59−1945
66公報、特開昭59−194875公報に開示されて
いるように、LED各素子の輝度を記憶手段に記憶させ
、[−「D素子に印加する電流、電圧又は駆動時間を各
素子ごとに独立に制御し、上記輝度のばらつぎを補正す
る方法が知られている。
66公報、特開昭59−194875公報に開示されて
いるように、LED各素子の輝度を記憶手段に記憶させ
、[−「D素子に印加する電流、電圧又は駆動時間を各
素子ごとに独立に制御し、上記輝度のばらつぎを補正す
る方法が知られている。
発明か解決しようとする問題点
しかしながら、上記従来の方法は、大容量の高速メモリ
を要すること、駆動回路が複雑になるために装置の高価
格化を招くという欠点を有していた。のみならず、電流
を各IFtつ索子毎に独立に制御するに(ユ、定電流駆
動を放棄しなくてはなら覆゛、かえって駆動回路による
輝度ばらつきを招き、十分41光最調整効果を得ること
ができなかった。
を要すること、駆動回路が複雑になるために装置の高価
格化を招くという欠点を有していた。のみならず、電流
を各IFtつ索子毎に独立に制御するに(ユ、定電流駆
動を放棄しなくてはなら覆゛、かえって駆動回路による
輝度ばらつきを招き、十分41光最調整効果を得ること
ができなかった。
また、電圧を各1.ED素子ごとに、独立に制御するに
は多値の電源を用意しなへてはならず、また、大型化、
高価格化することを容認するとしても、輝度補正のステ
ップ数、即ち、電源電圧の種類を多数にすることができ
ず、均一な補正を行なうことはできなかった。さらに、
各LED素子ごとに独立に駆動時間を制御するには、1
ラインの光書込みに多数回データの転送を行なわなくて
(よならないために、ビデオデータの処理が高速化し、
高価な高速素子を用いなCプればならないこと、「ヒD
の平均の発光時間を短かくしなくてはならず、実効的な
光1か下がること、データ転送を多数信号線で行なうこ
とにより高速化すると、画像処理装置から光書込み装置
への信号線数が増加し、高価格化、大型化、低信頼性化
すること、等の問題点を有していた。
は多値の電源を用意しなへてはならず、また、大型化、
高価格化することを容認するとしても、輝度補正のステ
ップ数、即ち、電源電圧の種類を多数にすることができ
ず、均一な補正を行なうことはできなかった。さらに、
各LED素子ごとに独立に駆動時間を制御するには、1
ラインの光書込みに多数回データの転送を行なわなくて
(よならないために、ビデオデータの処理が高速化し、
高価な高速素子を用いなCプればならないこと、「ヒD
の平均の発光時間を短かくしなくてはならず、実効的な
光1か下がること、データ転送を多数信号線で行なうこ
とにより高速化すると、画像処理装置から光書込み装置
への信号線数が増加し、高価格化、大型化、低信頼性化
すること、等の問題点を有していた。
したがって、これら従来の方法は装置が大型化、高価格
化するのみならず、高速プリンターには適応できないと
いう欠点を有していた。
化するのみならず、高速プリンターには適応できないと
いう欠点を有していた。
本発明は前記の問題点に鑑みなされたもので、装置か大
型化することがなく、低価格で実施することのできる高
精度で補正可能な新規なL F Dアレイ発光ばらつぎ
調整方法を提供づ−ることを目的とする。
型化することがなく、低価格で実施することのできる高
精度で補正可能な新規なL F Dアレイ発光ばらつぎ
調整方法を提供づ−ることを目的とする。
問題点を解決するための手段
本発明は、集束性ロートレンズアレイ(以下、「セルフ
ォックレンズ」という。)と組合わ−U、画像信号に応
じて明滅制御して感光体に光書込みを行うだめのLED
アレイの発光ばらつき調整方法に関するもので、 (イ)各1−E[つ素子の光量を測定する第一の工程、
及び (ロ)各LED素子の光量に応じてLED素子を選択的
に点灯し1−ED素子の強制劣化を行う第二の工程、 よりなることを特徴とする。
ォックレンズ」という。)と組合わ−U、画像信号に応
じて明滅制御して感光体に光書込みを行うだめのLED
アレイの発光ばらつき調整方法に関するもので、 (イ)各1−E[つ素子の光量を測定する第一の工程、
及び (ロ)各LED素子の光量に応じてLED素子を選択的
に点灯し1−ED素子の強制劣化を行う第二の工程、 よりなることを特徴とする。
以下、図面を用いて本発明の詳細な説明する。
1、EDアレイ1は、基板上にI−ED素子を並べ、ト
ライバICを装着し、ワイヤボンディング等により電気
的接続が為されて組立てが終了する。前記した理由によ
り、組立て後の1−「Dアレイには輝度(発光)ばらつ
きがある。このLEDアレイ1にセルフォックレンズ2
をブラケット3で固定した後、第1図に示すような装置
を用いて各LED素子の光量を測定する。
ライバICを装着し、ワイヤボンディング等により電気
的接続が為されて組立てが終了する。前記した理由によ
り、組立て後の1−「Dアレイには輝度(発光)ばらつ
きがある。このLEDアレイ1にセルフォックレンズ2
をブラケット3で固定した後、第1図に示すような装置
を用いて各LED素子の光量を測定する。
第1図は、光量の自動測定装置の例であり、駆動装置7
は制御装置6からの駆動制御信号11に−〇 − よって制御され、そして、L F Dアレイに、指定さ
れた1つの1.ED素子のみを発光せしめるような画像
信号とLEDアレイ駆動信号12を印加復る。また、駆
動装置は図示しない光学セン−リー移動装置を駆動し、
光学センサ4の位置を移動さける。
は制御装置6からの駆動制御信号11に−〇 − よって制御され、そして、L F Dアレイに、指定さ
れた1つの1.ED素子のみを発光せしめるような画像
信号とLEDアレイ駆動信号12を印加復る。また、駆
動装置は図示しない光学セン−リー移動装置を駆動し、
光学センサ4の位置を移動さける。
その際、LEDアレイの発光位置と光学セン1す1の位
置が略一致するように制御される。発光したLED素子
からの光は、セルフ寸ツクレンズ2を通じて光学センサ
4の受光面に達し、光電変換されて光量信号9となり、
光学パワーメーター5に人力される。光学パワーメータ
ーは、光量信号9を△/D変換して光量信号10と’+
’K L、制御S;¥胃6に送出する。制御装置は内蔵
する記憶手段に光量データを記憶する。そして、制御装
置6は、駆動装置7に、次に測定すべきl 「l)素子
の番号を送り、駆動装置7はこれに応じて1−「D)ア
レイを駆動し、また光学センサを移動させる。このよう
にして、LEDアレイ内の仝L F fつ素子の初期光
量か測定される。
置が略一致するように制御される。発光したLED素子
からの光は、セルフ寸ツクレンズ2を通じて光学センサ
4の受光面に達し、光電変換されて光量信号9となり、
光学パワーメーター5に人力される。光学パワーメータ
ーは、光量信号9を△/D変換して光量信号10と’+
’K L、制御S;¥胃6に送出する。制御装置は内蔵
する記憶手段に光量データを記憶する。そして、制御装
置6は、駆動装置7に、次に測定すべきl 「l)素子
の番号を送り、駆動装置7はこれに応じて1−「D)ア
レイを駆動し、また光学センサを移動させる。このよう
にして、LEDアレイ内の仝L F fつ素子の初期光
量か測定される。
この初期光量の測定をセルフ寸ツクレンズ2の取(=j
後に行なうと、発光しているLED素子と光量セン4)
の位置合わせの精度を緩和できると共に、セルフォック
レンズのムラも含めた光量ムラを測定することかできる
ので好ましい。
後に行なうと、発光しているLED素子と光量セン4)
の位置合わせの精度を緩和できると共に、セルフォック
レンズのムラも含めた光量ムラを測定することかできる
ので好ましい。
次に、測定した初期光量に応じて点灯による強制劣化を
行なう。第2図に示すように、初期光量データを保持し
た制御装置61.t、初期光量に応じて各LED素子毎
に強制劣化時間を計算する。それにはLEDアレイの劣
化特性か利用される。第3図は、LEDアレイの一例の
劣化特性を示すグラフでおる。第3図に示すように点灯
時間により光量が低下していくが、低下の割合は、L
F Dアレイに流づ一順方向電流か大ぎいほど大ぎく、
また、周囲温度か高い程光量低下が大きい。
行なう。第2図に示すように、初期光量データを保持し
た制御装置61.t、初期光量に応じて各LED素子毎
に強制劣化時間を計算する。それにはLEDアレイの劣
化特性か利用される。第3図は、LEDアレイの一例の
劣化特性を示すグラフでおる。第3図に示すように点灯
時間により光量が低下していくが、低下の割合は、L
F Dアレイに流づ一順方向電流か大ぎいほど大ぎく、
また、周囲温度か高い程光量低下が大きい。
初期光量ばらつきが比較的小さい時(5%以下)には、
室温で低電流で点灯させることによって、強制劣化させ
、各LED素子の光量をそろえることができる。初期光
量ばらつきが大ぎい場合(10%以上)には、より苛酷
な条件下で強制劣化を行うのか好ましい。即ち、光書込
み使用時に用いる順方向電流値以上の順方向電流により
L IE D素子を点灯することによって、あるいは、
光書込み使用時における雰囲気温度よりも高い温度で、
L E D索子を点灯することによって、強制劣化を行
うことか好ましい。なぜならば、その様な苛酷な条件下
で強制劣化を行うと、劣化時間を5re縮lることがで
きるからである。高温で強制劣化を施すためには、第2
図の恒温槽14が使用される。
室温で低電流で点灯させることによって、強制劣化させ
、各LED素子の光量をそろえることができる。初期光
量ばらつきが大ぎい場合(10%以上)には、より苛酷
な条件下で強制劣化を行うのか好ましい。即ち、光書込
み使用時に用いる順方向電流値以上の順方向電流により
L IE D素子を点灯することによって、あるいは、
光書込み使用時における雰囲気温度よりも高い温度で、
L E D索子を点灯することによって、強制劣化を行
うことか好ましい。なぜならば、その様な苛酷な条件下
で強制劣化を行うと、劣化時間を5re縮lることがで
きるからである。高温で強制劣化を施すためには、第2
図の恒温槽14が使用される。
劣化条件の決定には、FEDアレイの中で最も低輝度の
L F D素子の光量か、基準として使用される。即ち
、最も低輝度のLED素子に、他の1−ED素子の輝度
が一致するように劣化時間を決定し、強制劣化を行う。
L F D素子の光量か、基準として使用される。即ち
、最も低輝度のLED素子に、他の1−ED素子の輝度
が一致するように劣化時間を決定し、強制劣化を行う。
この方法によって大rlJに輝度ばらつきを改善するこ
とができる。
とができる。
このように初期的に光量がそろえられたL fE Dア
レイは、光書込み装置(例えば電子写真プリンタ)に組
込まれ光書込みに使用される。第4図に示すように光書
込み使用中の劣化の進行速度は、強制劣化を110えた
度合いにより異なる。即ら、強制劣化を受けた1−FD
素子はりでに劣化が進行し−〇 − でいるので、光書込み使用で劣化の進行が遅く、一方、
初期光量の小ざい1.ED索子、叩ち強制劣化を必より
受けていないLED素子は、光書込み使用初期における
劣化の進行が速い。従って、このまま使用すると、使用
中に再びばらつきが大きくなるという問題がある。
レイは、光書込み装置(例えば電子写真プリンタ)に組
込まれ光書込みに使用される。第4図に示すように光書
込み使用中の劣化の進行速度は、強制劣化を110えた
度合いにより異なる。即ら、強制劣化を受けた1−FD
素子はりでに劣化が進行し−〇 − でいるので、光書込み使用で劣化の進行が遅く、一方、
初期光量の小ざい1.ED索子、叩ち強制劣化を必より
受けていないLED素子は、光書込み使用初期における
劣化の進行が速い。従って、このまま使用すると、使用
中に再びばらつきが大きくなるという問題がある。
この問題を解決するための手段として、(1〉光書込み
装置に組込まれた後、光書込み使用中にもLEDアレイ
の劣化は進行するから、これを考慮に入れた劣化時間決
定法を採用し、強制劣化を行う方法、又は(2)光書込
み装置中で停止時に点灯さけて再強制劣化によりこの劣
化の進行差を補正する方法、を採用するのが好ましい。
装置に組込まれた後、光書込み使用中にもLEDアレイ
の劣化は進行するから、これを考慮に入れた劣化時間決
定法を採用し、強制劣化を行う方法、又は(2)光書込
み装置中で停止時に点灯さけて再強制劣化によりこの劣
化の進行差を補正する方法、を採用するのが好ましい。
(1〉の方法についで説明すると、第5図に示すごとく
、初期光量の最も低いLED素子は、強制劣化工程で点
灯されないから、光書込み使用時の劣化の進行が早い。
、初期光量の最も低いLED素子は、強制劣化工程で点
灯されないから、光書込み使用時の劣化の進行が早い。
それに対して強制劣化されたL E D素子は、光書込
み使用開始時にすでに劣化か進行しているから、それ以
後の劣化の進行か遅い。見込まれる光書込み点灯時間(
設訂寿命)を基に、光書込み使用中の劣化の進行度合を
予測できるから、設h1券命中の光量の平均値(時間平
均)を各LED素子ごとに一致させることが可能である
。
み使用開始時にすでに劣化か進行しているから、それ以
後の劣化の進行か遅い。見込まれる光書込み点灯時間(
設訂寿命)を基に、光書込み使用中の劣化の進行度合を
予測できるから、設h1券命中の光量の平均値(時間平
均)を各LED素子ごとに一致させることが可能である
。
従って、LEDアレイの中で最低の輝度の14トD発光
素子の初期光量aよりも高い初期光量を示すものについ
ては、設計寿命中の平均値において一致するように、L
EDアレイの中で最低の輝度のLED発光素子の初期光
量よりも低い光早すになるまで強制劣化を行う。
素子の初期光量aよりも高い初期光量を示すものについ
ては、設計寿命中の平均値において一致するように、L
EDアレイの中で最低の輝度のLED発光素子の初期光
量よりも低い光早すになるまで強制劣化を行う。
次に、(2)の方法について説明する。第6図に示すよ
うに組込む前の初期強制劣化データを、保持手段19に
書込/υ℃おき、光書込み使用時間(例えば累積印字ペ
ージ数)に応じて、予測される劣化進行の差分を、LE
Dアレイ制御装置18からの1.− F Dアレイ制御
信号20による装置内点灯によって強制劣化させて補正
する。この際、感光体に光が入射されて引起こされる副
作用(電子写真感光体の光疲労、銀塩フィルムの場合は
フィルムの無駄な消費)を避けるために、ILEDアレ
イユニット15と感光体17の間に、遮光板16を回転
又は移動可能に設ける。遮光板16は図示しない遮光板
駆動装置により遮光する位置と、しない位置に選択的に
位置せしめられる。遮光板駆動装置はLEDアレイ制御
装置18からの遮光板制御信号21により制御管理され
る。
うに組込む前の初期強制劣化データを、保持手段19に
書込/υ℃おき、光書込み使用時間(例えば累積印字ペ
ージ数)に応じて、予測される劣化進行の差分を、LE
Dアレイ制御装置18からの1.− F Dアレイ制御
信号20による装置内点灯によって強制劣化させて補正
する。この際、感光体に光が入射されて引起こされる副
作用(電子写真感光体の光疲労、銀塩フィルムの場合は
フィルムの無駄な消費)を避けるために、ILEDアレ
イユニット15と感光体17の間に、遮光板16を回転
又は移動可能に設ける。遮光板16は図示しない遮光板
駆動装置により遮光する位置と、しない位置に選択的に
位置せしめられる。遮光板駆動装置はLEDアレイ制御
装置18からの遮光板制御信号21により制御管理され
る。
実施例
GaAS基材上にGaASPエピタキシャル層を形成し
たGaAsP LED素子を用いて劣化特性を実験的
に求めたところ、第3図に示す結果が得られた。これは
実験式 %式%(1) によく一致する。aは定数、王は環境温度、iFはLE
D順方向電流、tは通算点灯時間、ΔFは光り量の低下
率である。
たGaAsP LED素子を用いて劣化特性を実験的
に求めたところ、第3図に示す結果が得られた。これは
実験式 %式%(1) によく一致する。aは定数、王は環境温度、iFはLE
D順方向電流、tは通算点灯時間、ΔFは光り量の低下
率である。
LEDアレイをネカ露光の電子写真プリンターに応用す
る場合、設計寿命は点灯時間にして200時間程度であ
る。
る場合、設計寿命は点灯時間にして200時間程度であ
る。
初期光量ばらつきが平均値に対して±20%のGaAS
P LEDアレイに対して、(1)式の劣化特性及び
上)小の設計庁命200時間を考慮して、各LED素子
に対する強制劣化時間を本発明の方法で決定し、順方向
電流20mA、恒温槽温度100’Cで強制劣化を施し
た後、順り向電流5mAの電子写真代LEDプリンター
に組込み、使用したところ、長期にわたってムラのない
良好な画像を得た。
P LEDアレイに対して、(1)式の劣化特性及び
上)小の設計庁命200時間を考慮して、各LED素子
に対する強制劣化時間を本発明の方法で決定し、順方向
電流20mA、恒温槽温度100’Cで強制劣化を施し
た後、順り向電流5mAの電子写真代LEDプリンター
に組込み、使用したところ、長期にわたってムラのない
良好な画像を得た。
本発明の他の実施例を示す。
初期光量ばらつきが平均値に対して二I= 20%の同
LEDアレイに対して、第3図の劣化特性を利用して、
環境温度100’C1順方向電流20mAで初期強制劣
化を行い、電子写真式]−トDプリンタに組込/υだと
ころ、濃度むらの殆どイ【い良好な画像を得た。また、
光書込み使用条件である環境温度25°C1順方向電流
5mAの劣化特性を利用して、印字10ページ毎に、プ
リンタを停止し、その間に再強制劣化を行った。この光
書込み装量は、LEDアレイ制御装置のソフトウ=「ア
により、装置内での再強制劣化操作中に印字要求のあっ
た場合は、印字を優先し、印字終了後、装置内再強制劣
化の残り分を継続するよう管理される構成のものであっ
た。この装置により3か月間、延へ3万枚の印字を行っ
たが、画像の劣化(l EDアレイ軸方向iii度むら
の増大、横線のざらつきの増大)は観察されなかった。
LEDアレイに対して、第3図の劣化特性を利用して、
環境温度100’C1順方向電流20mAで初期強制劣
化を行い、電子写真式]−トDプリンタに組込/υだと
ころ、濃度むらの殆どイ【い良好な画像を得た。また、
光書込み使用条件である環境温度25°C1順方向電流
5mAの劣化特性を利用して、印字10ページ毎に、プ
リンタを停止し、その間に再強制劣化を行った。この光
書込み装量は、LEDアレイ制御装置のソフトウ=「ア
により、装置内での再強制劣化操作中に印字要求のあっ
た場合は、印字を優先し、印字終了後、装置内再強制劣
化の残り分を継続するよう管理される構成のものであっ
た。この装置により3か月間、延へ3万枚の印字を行っ
たが、画像の劣化(l EDアレイ軸方向iii度むら
の増大、横線のざらつきの増大)は観察されなかった。
本発明はGaASP LEDアレイに限定されること
はなく、GaA I Asシングルへテロ構造L E
Dアレイ、GaA I AsダブルへテロLEDアレイ
、ダイオードレーザ−アレイにも適用可能である。
はなく、GaA I Asシングルへテロ構造L E
Dアレイ、GaA I AsダブルへテロLEDアレイ
、ダイオードレーザ−アレイにも適用可能である。
また、本発明にお【プるLED素子の光量の測定は、第
1図の初期光量測定装置によるものに限定されるもので
はなく、ライン型光量センサによる一括測定も可能であ
り、また−旦、被測定LEDアレイを用いて階調性の良
いフィルムに露光し、公知のスキVすにより、フィルム
の濃度を検出することによって行うことも可能である。
1図の初期光量測定装置によるものに限定されるもので
はなく、ライン型光量センサによる一括測定も可能であ
り、また−旦、被測定LEDアレイを用いて階調性の良
いフィルムに露光し、公知のスキVすにより、フィルム
の濃度を検出することによって行うことも可能である。
制御装置6は、フロッピーディスク装置を有する計測器
制御用マイコンでもよく、又、汎用大型コンピュータで
もにい。
制御用マイコンでもよく、又、汎用大型コンピュータで
もにい。
又、光書込み使用時にあける劣化の差1.:J:、本発
明の上記(2)の方法によって補正し、そして、平均光
量の低下分の補償は、駆動時間、即ら、1ライン書込み
時間巾を、予測される低下分に応じて、ソフトウェア的
に増加させることによって行うことができる。
明の上記(2)の方法によって補正し、そして、平均光
量の低下分の補償は、駆動時間、即ら、1ライン書込み
時間巾を、予測される低下分に応じて、ソフトウェア的
に増加させることによって行うことができる。
発明の効果
本発明の方法によれば、装置を人形化することなく、光
書込み装置には何らの変更を加えずに1−「Dアレイの
光間補正を行なうことかできる。
書込み装置には何らの変更を加えずに1−「Dアレイの
光間補正を行なうことかできる。
また、本発明においては、第1図及び第2図に示したよ
うな装置は、[「1つプリンター組立工程中に一つあれ
ばよく、高@度、高価な賛同を使用しても製品単価には
大ぎく響かないため、高精度の補正を低コストで実施す
ることが可能である。
うな装置は、[「1つプリンター組立工程中に一つあれ
ばよく、高@度、高価な賛同を使用しても製品単価には
大ぎく響かないため、高精度の補正を低コストで実施す
ることが可能である。
第1図は、本発明の初期光量測定工程に用いる装置を示
した概念図、第2図は、本発明の強制劣化工程に用いる
装置を示した概念図、第3図は、LEDアレイの一例の
劣化特性を表わづ一グラフ、第4図及び第5図は、それ
ぞれ本発明の強制劣化を説明する説明図、第6図は、光
書込み装置内で、本発明の強制劣化を行う装置のブロッ
ク図である。 1・・・LEDアレイ、2・・・セルフォックレンズ、
3・・・セルフオツクレンズブラケツ1〜.4・・・光
学センサ、5・・・光学パワーメーター、6・・・制御
装置、7・・・駆動装置、8・・・測定機制御信号、9
.10・・・光量信号、11・・・駆動装置制御信号、
12・・・LEDアレイ駆動信号、13・・何−FDユ
ニット、14・・・恒温AI、15・・・LEDアレイ
」ニット、16・・・遮光板、17・・・感光体、18
・・・LEDアレイ制御装置、19・・・初期強制劣化
データ保持装置、20・・・LEDアレイ制御信号、2
1・・・遮光板制御信号、A・・・センサ移動方向、B
・・・遮光板移動方向。 特許出願人 富士ゼロックス株式会社代理人
弁理士 洞部 剛 ゾ \ Qつ点汀詩間 篤3図 (%) 白、 火工 的 間 篤4図 1.1、が昨 間 %5閏
した概念図、第2図は、本発明の強制劣化工程に用いる
装置を示した概念図、第3図は、LEDアレイの一例の
劣化特性を表わづ一グラフ、第4図及び第5図は、それ
ぞれ本発明の強制劣化を説明する説明図、第6図は、光
書込み装置内で、本発明の強制劣化を行う装置のブロッ
ク図である。 1・・・LEDアレイ、2・・・セルフォックレンズ、
3・・・セルフオツクレンズブラケツ1〜.4・・・光
学センサ、5・・・光学パワーメーター、6・・・制御
装置、7・・・駆動装置、8・・・測定機制御信号、9
.10・・・光量信号、11・・・駆動装置制御信号、
12・・・LEDアレイ駆動信号、13・・何−FDユ
ニット、14・・・恒温AI、15・・・LEDアレイ
」ニット、16・・・遮光板、17・・・感光体、18
・・・LEDアレイ制御装置、19・・・初期強制劣化
データ保持装置、20・・・LEDアレイ制御信号、2
1・・・遮光板制御信号、A・・・センサ移動方向、B
・・・遮光板移動方向。 特許出願人 富士ゼロックス株式会社代理人
弁理士 洞部 剛 ゾ \ Qつ点汀詩間 篤3図 (%) 白、 火工 的 間 篤4図 1.1、が昨 間 %5閏
Claims (5)
- (1)下記の工程(イ)及び(ロ)よりなることを特徴
とする、集束性ロッドレンズアレイと組合わせ、画像信
号に応じて明滅制御して感光体に光書込みを行うための
LEDアレイの発光ばらつき調整方法。 (イ)各LED素子の光量を測定する第一の工程、及び (ロ)各LED素子の光量に応じてLED素子を選択的
に点灯しLED素子の強制劣化を行う第二の工程。 - (2)LEDアレイに集束性ロッドレイズアレイを取付
けて、集束性ロッドレンズアレイの像面上で、各LED
素子の光量を測定することを特徴とする特許請求の範囲
第1項に記載のLEDアレイの発光ばらつき調整方法。 - (3)光書込み使用時に用いる順方向電流値以上の順方
向電流によってLED素子を点灯し、強制劣化を行うこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載のLEDア
レイの発光ばらつき調整方法。 - (4)光書込み使用時における零囲気温度よりも高い温
度でLED素子を点灯し、強制劣化させることを特徴と
する特許請求の範囲第1項に記載のLEDアレイの発光
ばらつき調整方法。 - (5)予め光書込み使用時の各LED素子の輝度の低下
度合いを見込んで、LEDアレイの設計寿命中の各LE
D素子の平均輝度が一致するように強制劣化を行うこと
を特徴とする特許請求の範囲第1項に記載のLEDアレ
イの発光ばらつき調整方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61201260A JPS6357263A (ja) | 1986-08-29 | 1986-08-29 | Ledアレイの発光ばらつき調整方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61201260A JPS6357263A (ja) | 1986-08-29 | 1986-08-29 | Ledアレイの発光ばらつき調整方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6357263A true JPS6357263A (ja) | 1988-03-11 |
Family
ID=16437994
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61201260A Pending JPS6357263A (ja) | 1986-08-29 | 1986-08-29 | Ledアレイの発光ばらつき調整方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6357263A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2009138255A1 (en) * | 2008-02-06 | 2009-11-19 | Contex A/S | Measuring and compensating for light intensity in an optical scanner |
JP2010129681A (ja) * | 2008-11-26 | 2010-06-10 | Disco Abrasive Syst Ltd | 光デバイスの輝度調整方法 |
JP2016221707A (ja) * | 2015-05-27 | 2016-12-28 | コニカミノルタ株式会社 | 画像形成装置 |
-
1986
- 1986-08-29 JP JP61201260A patent/JPS6357263A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2009138255A1 (en) * | 2008-02-06 | 2009-11-19 | Contex A/S | Measuring and compensating for light intensity in an optical scanner |
US8686336B2 (en) | 2008-02-06 | 2014-04-01 | Contex A/S | Measuring and compensating for light intensity in an optical scanner |
JP2010129681A (ja) * | 2008-11-26 | 2010-06-10 | Disco Abrasive Syst Ltd | 光デバイスの輝度調整方法 |
JP2016221707A (ja) * | 2015-05-27 | 2016-12-28 | コニカミノルタ株式会社 | 画像形成装置 |
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