JPS6356499B2 - - Google Patents
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- JPS6356499B2 JPS6356499B2 JP57017121A JP1712182A JPS6356499B2 JP S6356499 B2 JPS6356499 B2 JP S6356499B2 JP 57017121 A JP57017121 A JP 57017121A JP 1712182 A JP1712182 A JP 1712182A JP S6356499 B2 JPS6356499 B2 JP S6356499B2
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Classifications
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
- G01N30/96—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation using ion-exchange
-
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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- Y10T436/00—Chemistry: analytical and immunological testing
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- Y10T436/25375—Liberation or purification of sample or separation of material from a sample [e.g., filtering, centrifuging, etc.]
- Y10T436/255—Liberation or purification of sample or separation of material from a sample [e.g., filtering, centrifuging, etc.] including use of a solid sorbent, semipermeable membrane, or liquid extraction
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はサンプル液に含まれる陰イオンをイオ
ンクロマトグラフイによつて分析する方法及びそ
の装置に関する。
ンクロマトグラフイによつて分析する方法及びそ
の装置に関する。
イオンクロマトグラフイとは、1975年H.Small
らによつて発表された主として無機イオンを分析
する高速液体クロマトグラフの呼称であり、すで
に実用化されて、環境試料分析等の各種微量分析
に広く利用されつつある。また、本願の発明者ら
は上記イオンクロマトグラフイとは全く独立に研
究し、上記イオンクロマトグラフイをはかるに凌
駕した独自のイオンクロマトグラフイ（以下単に
「IC」と略す）を開発して「サンプル液に含まれ
る陰イオンを分析する方法および装置」という名
称ですでに出願済である。（特願昭55−145352〔特
公昭61−36621号〕及び特願昭55−145353〔特公昭
61−37579号〕） 第１図は、従来例としての上記ICの構成説明
図であり、図中、１は例えば濃度が数mM／ｌ程
度のNa2CO3／NaHCO3の水溶液からなる溶離液
を貯留している溶離槽、２は該溶離液を後記サン
プル導入装置３等に圧送するポンプ、３はマイク
ロシリンジ等によつて所定量のサンプル液が注入
される（若しくは自動的に採取する）と共に該サ
ンプル液をポンプ２からの溶離液でもつて搬送す
るサンプル導入装置、４は陰イオン交換樹脂が充
填された分離カラム、５は例えばNafion
（DuPont社の商品名）のようなパーフルオロカー
ボンスルホン酸型陽イオン交換組成物でなる壁を
介して、分離カラム５からの溶出液が導かれて流
れる第１室と後記スキヤンベンジヤ液が導びかれ
て流れる第２室とが隣接して設けられている陽イ
オン除去装置、６は陽イオン除去装置５内の第１
室から溶出液が導びかれて流れると共に該溶出液
の電導度を検出する検出器、７は検出器６の出力
信号を受けて例えばクロマトグラムを描く記録
計、８は例えばドデシルベンゼンスルホン酸等の
所定の溶剤でなるスキヤベンジヤ液が貯留されて
いるスキヤベンジヤ液槽、９はスキヤベンジヤ液
槽８内のスキヤベンジヤ液を陽イオン除去装置５
内の上記第２室へ圧送するポンプ、１０は検出器
６から流出される測定済みの流体を貯留する槽、
１１は陽イオン除去装置５内の上記第２室から流
出するスキヤベンジヤ液を貯留する槽である。
尚、分離カラム４、陽イオン除去装置５、および
検出器６は、所定温度に調節された恒温槽１２内
に収納されることが多い。
らによつて発表された主として無機イオンを分析
する高速液体クロマトグラフの呼称であり、すで
に実用化されて、環境試料分析等の各種微量分析
に広く利用されつつある。また、本願の発明者ら
は上記イオンクロマトグラフイとは全く独立に研
究し、上記イオンクロマトグラフイをはかるに凌
駕した独自のイオンクロマトグラフイ（以下単に
「IC」と略す）を開発して「サンプル液に含まれ
る陰イオンを分析する方法および装置」という名
称ですでに出願済である。（特願昭55−145352〔特
公昭61−36621号〕及び特願昭55−145353〔特公昭
61−37579号〕） 第１図は、従来例としての上記ICの構成説明
図であり、図中、１は例えば濃度が数mM／ｌ程
度のNa2CO3／NaHCO3の水溶液からなる溶離液
を貯留している溶離槽、２は該溶離液を後記サン
プル導入装置３等に圧送するポンプ、３はマイク
ロシリンジ等によつて所定量のサンプル液が注入
される（若しくは自動的に採取する）と共に該サ
ンプル液をポンプ２からの溶離液でもつて搬送す
るサンプル導入装置、４は陰イオン交換樹脂が充
填された分離カラム、５は例えばNafion
（DuPont社の商品名）のようなパーフルオロカー
ボンスルホン酸型陽イオン交換組成物でなる壁を
介して、分離カラム５からの溶出液が導かれて流
れる第１室と後記スキヤンベンジヤ液が導びかれ
て流れる第２室とが隣接して設けられている陽イ
オン除去装置、６は陽イオン除去装置５内の第１
室から溶出液が導びかれて流れると共に該溶出液
の電導度を検出する検出器、７は検出器６の出力
信号を受けて例えばクロマトグラムを描く記録
計、８は例えばドデシルベンゼンスルホン酸等の
所定の溶剤でなるスキヤベンジヤ液が貯留されて
いるスキヤベンジヤ液槽、９はスキヤベンジヤ液
槽８内のスキヤベンジヤ液を陽イオン除去装置５
内の上記第２室へ圧送するポンプ、１０は検出器
６から流出される測定済みの流体を貯留する槽、
１１は陽イオン除去装置５内の上記第２室から流
出するスキヤベンジヤ液を貯留する槽である。
尚、分離カラム４、陽イオン除去装置５、および
検出器６は、所定温度に調節された恒温槽１２内
に収納されることが多い。
上記構成からなる従来例において、溶離槽１内
の上記溶離液Na2CO3／NaHCO3が、ポンプ２、
サンプル導入装置３、および分離カラム４を経由
して陽イオン除去装置５に導びかれると、該陽イ
オン除去装置５においてNa+がH+と陽イオン交
換されてH2CO3に変換される。また、該H2CO3
の水溶液は、下式(1)のような平衡状態を保ちある
程度の導電性をもつている。因みに、
4mMNa2CO3／4mMNaHCO3の溶離液の導電率
を、上記陽イオン除去装置５を通してから測定す
ると約20〜30μs／cmを示すようになる。
の上記溶離液Na2CO3／NaHCO3が、ポンプ２、
サンプル導入装置３、および分離カラム４を経由
して陽イオン除去装置５に導びかれると、該陽イ
オン除去装置５においてNa+がH+と陽イオン交
換されてH2CO3に変換される。また、該H2CO3
の水溶液は、下式(1)のような平衡状態を保ちある
程度の導電性をもつている。因みに、
4mMNa2CO3／4mMNaHCO3の溶離液の導電率
を、上記陽イオン除去装置５を通してから測定す
ると約20〜30μs／cmを示すようになる。
ところで、上記サンプル導入装置３から水が主
成分のサンプル液を注入すると、該サンプル液中
のイオン類は分離カラム４で所定時間保持される
が、上記水は分離カラム４で保持されることなく
分離カラム４を通過する。また、該水は陽イオン
除去装置５においても何ら変化を受けずに通過
し、上記サンプル液中で最も早く検出器６に到達
する。一方、陽イオン除去装置５から溶出する溶
離液は、上述の如く、炭酸を含んでいて約20〜
30μs／cmの電導率を有している。従つて、該溶離
液が検出器６に存在するときに記録計７でクロマ
トグラムのベースラインが描かれている場合、上
記水が検出器６に到達すると該水によつて電導率
が下がり上記クロマトグラムに負のピークが描か
れるようになる。該ピークは上記水によるもので
あり、上記現象はWaterDip（以下「ウオータデ
ツプ」という）と呼ばれている。因みに、水を主
成分としF-50ppb，Cl-100ppb，NO2 -150ppb，
PO4 3-300ppb，Br-100ppb，NO3 -300ppb，
SO4 2400ppbの陰イオンを含むンプル液（以下
「実験液」という）の100μlを上記サンプル導入装
置から注入して実験すると、記録計７には第２図
に示すようなクロマトグラムが得られる。即ち、
第２図において、F-やCl-は1ppbあたり0.002〜
0.003μs／cmの検出信号しか示さないのに上記水
のピークは0.8μs／cmもの検出信号を示してクロ
マトグラム上大きな影響力をもつている。また、
該水のピークはいわゆるテーリング現象を示して
おり、保持時間の小さい上記F-やCl-のピークが
上記水のピークの直後に溶出することと相まつ
て、上記F-やCl-の高感度測定が不可能となると
いう問題も出ている。更に、該問題を回避するた
め、上記サンプル液へ所定量のNa2CO3／
NaHCO3を事前に添加し該濃度と上記溶離液中
のNa2CO3／NaHCO3濃度をほぼ同一に保つこと
によつて、上記ウオータデツプを消滅させる手法
も採用されている。
成分のサンプル液を注入すると、該サンプル液中
のイオン類は分離カラム４で所定時間保持される
が、上記水は分離カラム４で保持されることなく
分離カラム４を通過する。また、該水は陽イオン
除去装置５においても何ら変化を受けずに通過
し、上記サンプル液中で最も早く検出器６に到達
する。一方、陽イオン除去装置５から溶出する溶
離液は、上述の如く、炭酸を含んでいて約20〜
30μs／cmの電導率を有している。従つて、該溶離
液が検出器６に存在するときに記録計７でクロマ
トグラムのベースラインが描かれている場合、上
記水が検出器６に到達すると該水によつて電導率
が下がり上記クロマトグラムに負のピークが描か
れるようになる。該ピークは上記水によるもので
あり、上記現象はWaterDip（以下「ウオータデ
ツプ」という）と呼ばれている。因みに、水を主
成分としF-50ppb，Cl-100ppb，NO2 -150ppb，
PO4 3-300ppb，Br-100ppb，NO3 -300ppb，
SO4 2400ppbの陰イオンを含むンプル液（以下
「実験液」という）の100μlを上記サンプル導入装
置から注入して実験すると、記録計７には第２図
に示すようなクロマトグラムが得られる。即ち、
第２図において、F-やCl-は1ppbあたり0.002〜
0.003μs／cmの検出信号しか示さないのに上記水
のピークは0.8μs／cmもの検出信号を示してクロ
マトグラム上大きな影響力をもつている。また、
該水のピークはいわゆるテーリング現象を示して
おり、保持時間の小さい上記F-やCl-のピークが
上記水のピークの直後に溶出することと相まつ
て、上記F-やCl-の高感度測定が不可能となると
いう問題も出ている。更に、該問題を回避するた
め、上記サンプル液へ所定量のNa2CO3／
NaHCO3を事前に添加し該濃度と上記溶離液中
のNa2CO3／NaHCO3濃度をほぼ同一に保つこと
によつて、上記ウオータデツプを消滅させる手法
も採用されている。
然し乍ら、上記手法においては、添加する
Na2CO3／NaHCO3試薬の純度を事前に検討しな
ければならない上、上記サンプル液の量も多量に
必要となる等の欠点があつた。また、多量のサン
プル液を注入して濃縮カラムに全ての陰イオンを
蓄積することによつて、通常の10〜100倍もの高
感度で該陰イオンの測定を行なういわゆる濃縮カ
ラム法においては、サンプル液に溶離液と同濃度
のNa2CO3／NaHCO3を添加すると測定対象の陰
イオンが上記濃縮カラムに保持されなくなるた
め、上記手法が採用できないという欠点があつ
た。更に、イオンクロマトグラフイの分析対象と
なるサンプル液の殆んど全てが水を主成分とする
ものであるため、上記ウオータデツプの問題解決
が強く望まれていた。
Na2CO3／NaHCO3試薬の純度を事前に検討しな
ければならない上、上記サンプル液の量も多量に
必要となる等の欠点があつた。また、多量のサン
プル液を注入して濃縮カラムに全ての陰イオンを
蓄積することによつて、通常の10〜100倍もの高
感度で該陰イオンの測定を行なういわゆる濃縮カ
ラム法においては、サンプル液に溶離液と同濃度
のNa2CO3／NaHCO3を添加すると測定対象の陰
イオンが上記濃縮カラムに保持されなくなるた
め、上記手法が採用できないという欠点があつ
た。更に、イオンクロマトグラフイの分析対象と
なるサンプル液の殆んど全てが水を主成分とする
ものであるため、上記ウオータデツプの問題解決
が強く望まれていた。
本発明は、かかる状況に鑑みてなされたもので
あり、その目的は、上記ウオータデツプを消滅若
しくは著しく減少させることによつて、水を主成
分とするサンプル液中の陰イオンを迅速且つ正確
に分析できるような陰イオン分析方法及びその装
置を提供することにある。
あり、その目的は、上記ウオータデツプを消滅若
しくは著しく減少させることによつて、水を主成
分とするサンプル液中の陰イオンを迅速且つ正確
に分析できるような陰イオン分析方法及びその装
置を提供することにある。
本発明の特徴は、サンプル液に含まれる陰イオ
ンをイオンクロマトグラフイによつて分析する方
法及びその装置において、所定量のサンプル液を
溶離液で搬送して分離カラムに注入し、該分離カ
ラムの溶出液から陽イオンを除去してのち、炭酸
ガス透過性若しくは炭酸透過性であつて陰イオン
不透過性の膜を用いて炭酸ガス若しくは炭酸を供
給し、その後、電導度を測定して前記サンプル液
に含まれる陰イオンを分析することにある。
ンをイオンクロマトグラフイによつて分析する方
法及びその装置において、所定量のサンプル液を
溶離液で搬送して分離カラムに注入し、該分離カ
ラムの溶出液から陽イオンを除去してのち、炭酸
ガス透過性若しくは炭酸透過性であつて陰イオン
不透過性の膜を用いて炭酸ガス若しくは炭酸を供
給し、その後、電導度を測定して前記サンプル液
に含まれる陰イオンを分析することにある。
以下、本発明について図を用いて詳細に説明す
る。第３図は本発明実施例の構成説明図であり、
図中、第１図と同一記号は同一意味をもたせて使
用し、ここでの重複説明は省略する。また、１３
は陽イオン除去装置５の前記第１室からの溶出液
が導びかれて流れる第３室および該第３室内の溶
出液とほぼ同濃度の炭酸ガス若しくは炭酸を含有
する所定の液が導びかれて流れる第４室が炭酸ガ
ス透過性若しくは炭酸透過性であつて陰イオン不
透過性の膜を介して隣接されてなるウオータデツ
プ除去装置である。更に、上記第３室からの溶出
液は検出器６に導びかれて電導度が検出されたの
ち、ウオータデツプ除去装置１３の上記第４室に
びかれて流れ、その後、槽１０へ排出されるよう
に構成されている。また、第４図は上記ウオータ
デツプ除去装置１３の軸方向断面図、第５図は第
４図のＡ−Ａ断面図であり、図中、１３１は例え
ばNafion（DuPont社の商品名）のような材料で
なりF-，Cl-等の陰イオン透過させず炭酸ガス透
過性若しくは炭酸透過性を有する細管状（好まし
くは内径0.5mm以下の細管）の膜、１３２は膜１
３１を内在し該膜１３１との間に適度の間隔を設
けて二重管を構成しているチユーブ、１３３，１
３４は膜１３１とチユーブ１３２で構成される二
重管の両端を閉塞し夫々独立した第３室１３５お
よび第４室１３６を形成せしめる蓋、１３５ａお
よび１３５ｂは夫々第３室１３５と外部を連通さ
せる導入口および導出口、１３６ａおよび１３６
ｂは夫々第４室１３６と外部を連通させる導入口
および導出口、１３７ａ，１３７ｂは前記陽イオ
ン除去装置５の第１室から導びかれて流れる溶出
液、１３８ａ，１３８ｂは上記検出器６から排出
されたのち導びかれて流れる溶出液である。尚、
膜１３１およびチユーブ１３２の形状は第５図に
示した細管状に限定されるものではなく種々の変
形が可能であり、例えば断面が長だ円形であつて
もよいものとする。また、ウオータデツプ除去装
置１３の第４室１３６へ導びかれる溶出液は、検
出器６から排出される液に限定されるものではな
く、上記第４室１３６へ他の流路（例えば専用の
単独流路等）から供給されるようにしてもよいも
のとする。
る。第３図は本発明実施例の構成説明図であり、
図中、第１図と同一記号は同一意味をもたせて使
用し、ここでの重複説明は省略する。また、１３
は陽イオン除去装置５の前記第１室からの溶出液
が導びかれて流れる第３室および該第３室内の溶
出液とほぼ同濃度の炭酸ガス若しくは炭酸を含有
する所定の液が導びかれて流れる第４室が炭酸ガ
ス透過性若しくは炭酸透過性であつて陰イオン不
透過性の膜を介して隣接されてなるウオータデツ
プ除去装置である。更に、上記第３室からの溶出
液は検出器６に導びかれて電導度が検出されたの
ち、ウオータデツプ除去装置１３の上記第４室に
びかれて流れ、その後、槽１０へ排出されるよう
に構成されている。また、第４図は上記ウオータ
デツプ除去装置１３の軸方向断面図、第５図は第
４図のＡ−Ａ断面図であり、図中、１３１は例え
ばNafion（DuPont社の商品名）のような材料で
なりF-，Cl-等の陰イオン透過させず炭酸ガス透
過性若しくは炭酸透過性を有する細管状（好まし
くは内径0.5mm以下の細管）の膜、１３２は膜１
３１を内在し該膜１３１との間に適度の間隔を設
けて二重管を構成しているチユーブ、１３３，１
３４は膜１３１とチユーブ１３２で構成される二
重管の両端を閉塞し夫々独立した第３室１３５お
よび第４室１３６を形成せしめる蓋、１３５ａお
よび１３５ｂは夫々第３室１３５と外部を連通さ
せる導入口および導出口、１３６ａおよび１３６
ｂは夫々第４室１３６と外部を連通させる導入口
および導出口、１３７ａ，１３７ｂは前記陽イオ
ン除去装置５の第１室から導びかれて流れる溶出
液、１３８ａ，１３８ｂは上記検出器６から排出
されたのち導びかれて流れる溶出液である。尚、
膜１３１およびチユーブ１３２の形状は第５図に
示した細管状に限定されるものではなく種々の変
形が可能であり、例えば断面が長だ円形であつて
もよいものとする。また、ウオータデツプ除去装
置１３の第４室１３６へ導びかれる溶出液は、検
出器６から排出される液に限定されるものではな
く、上記第４室１３６へ他の流路（例えば専用の
単独流路等）から供給されるようにしてもよいも
のとする。
以下、上記構成からなる本発明実施例の動作に
ついて説明する。第３図において、ポンプ２の駆
動によつて溶離槽１内の前記溶離液が約2.0ｍ／
minの流量で、サンプル導入装置３→分離カラム
４→陽イオン除去装置５内の第１室→ウオータデ
ツプ除去装置１３内の第３室１３５→検出器６→
ウオータデツプ除去装置１３内の第４室１３６→
槽１０へ流れる。また、ポンプ９が駆動すると、
スキヤベンジヤ液槽８内の前記スキヤベンジヤ液
が約２ml／minの流量で陽イオン除去装置５内の
第２室を経て槽１１へ流れる。この状態で、例え
ば前記実験液の100μlをサンプル液としてサンプ
ル導入装置３で採取すると、該サンプル液は上記
溶離液の流れの中に注入されて分離カラム４に搬
送される。該分離カラム４で上記サンプル液中の
各イオンが夫々所定の分離を受け、その後、陽イ
オン除去装置５よびウオータデツプ除去装置１３
を経由して検出器６へ導びかれる。従つて、第４
図の上記ウオータデツプ除去装置１３において
は、上記サンプル液中の水が第３室１３５に到達
したとき、検出器６から導びかれ炭酸ガス若しく
は炭酸を含む溶離液が第４室１３６を流れていて
濃度勾配を生じるため、該炭酸ガス若しくは炭酸
が膜１３１を透過して上記第３室１３５に至つて
濃度の均一化が図られるようになる。これに対
し、上記サンプル液に含まれるF-，Cl-等の陰イ
オン膜１３１を透過できないため、分離状態など
に影響を受けるようなことがない。而して、第３
図の検出器６へ到達する上記水にはウオータデツ
プ除去装置１３において炭酸ガス若しくは炭酸が
あらかじめ添加されているため、前記ウオータデ
ツプは完全に消滅させられるか若しくは所望の陰
イオン測定上支障のない程度まで著しく減少させ
られる。因みに、上記膜１３１としてて内径0.4
mm、外径0.55mmまで延伸された長さ５ｍの前記
Nafionを用いると共に、上記チユーブ１３２と
して内径１mmのテフロンチユーブを用いて上記ウ
オータデツプ除去装置１３を製造し、前記実験液
の100μlをサンプル液として上述の測定器操作を
行なわせたところ、上記記録計７で第６図に示す
ようなクロマトグラムが得られた。すなわち、同
一のサンプル液を用いて実験した前記従来例のク
ロマトグラム（第２図）と比較すれば明らかなよ
うに、H2Oのピークが著しく減少しており微量
のF-も充分測定可能となる程上記ウオータデツ
プが著しく減少させられている。尚、第６図にお
いて若干現われているH2Oのピークを完全に消
滅させるには膜１３１およびチユーブ１３２の長
さを充分長くすれば容易に達成できるが、測定対
象となる陰イオンの測定上支障がない程度にウオ
ータデツプを減少させるだけで実際上は充分であ
る。
ついて説明する。第３図において、ポンプ２の駆
動によつて溶離槽１内の前記溶離液が約2.0ｍ／
minの流量で、サンプル導入装置３→分離カラム
４→陽イオン除去装置５内の第１室→ウオータデ
ツプ除去装置１３内の第３室１３５→検出器６→
ウオータデツプ除去装置１３内の第４室１３６→
槽１０へ流れる。また、ポンプ９が駆動すると、
スキヤベンジヤ液槽８内の前記スキヤベンジヤ液
が約２ml／minの流量で陽イオン除去装置５内の
第２室を経て槽１１へ流れる。この状態で、例え
ば前記実験液の100μlをサンプル液としてサンプ
ル導入装置３で採取すると、該サンプル液は上記
溶離液の流れの中に注入されて分離カラム４に搬
送される。該分離カラム４で上記サンプル液中の
各イオンが夫々所定の分離を受け、その後、陽イ
オン除去装置５よびウオータデツプ除去装置１３
を経由して検出器６へ導びかれる。従つて、第４
図の上記ウオータデツプ除去装置１３において
は、上記サンプル液中の水が第３室１３５に到達
したとき、検出器６から導びかれ炭酸ガス若しく
は炭酸を含む溶離液が第４室１３６を流れていて
濃度勾配を生じるため、該炭酸ガス若しくは炭酸
が膜１３１を透過して上記第３室１３５に至つて
濃度の均一化が図られるようになる。これに対
し、上記サンプル液に含まれるF-，Cl-等の陰イ
オン膜１３１を透過できないため、分離状態など
に影響を受けるようなことがない。而して、第３
図の検出器６へ到達する上記水にはウオータデツ
プ除去装置１３において炭酸ガス若しくは炭酸が
あらかじめ添加されているため、前記ウオータデ
ツプは完全に消滅させられるか若しくは所望の陰
イオン測定上支障のない程度まで著しく減少させ
られる。因みに、上記膜１３１としてて内径0.4
mm、外径0.55mmまで延伸された長さ５ｍの前記
Nafionを用いると共に、上記チユーブ１３２と
して内径１mmのテフロンチユーブを用いて上記ウ
オータデツプ除去装置１３を製造し、前記実験液
の100μlをサンプル液として上述の測定器操作を
行なわせたところ、上記記録計７で第６図に示す
ようなクロマトグラムが得られた。すなわち、同
一のサンプル液を用いて実験した前記従来例のク
ロマトグラム（第２図）と比較すれば明らかなよ
うに、H2Oのピークが著しく減少しており微量
のF-も充分測定可能となる程上記ウオータデツ
プが著しく減少させられている。尚、第６図にお
いて若干現われているH2Oのピークを完全に消
滅させるには膜１３１およびチユーブ１３２の長
さを充分長くすれば容易に達成できるが、測定対
象となる陰イオンの測定上支障がない程度にウオ
ータデツプを減少させるだけで実際上は充分であ
る。
以上、詳しく説明したように本発明の実施例に
よれば、炭酸ガス透過性若しくは炭酸透過性の膜
を用いてウオータデツプの部分に炭酸ガス若しく
は炭酸を供給することにより、該ウオータデツプ
の大きさが著しく減少若しくは完全に消滅させら
れるため、前記従来例で測定困難だつたF-やC-
の微量分析が容易且つ迅速にできるという利点を
有する。また、ウオータデツプ除去装置内に上記
膜を設け、該膜を透過させてサンプル液中に炭酸
ガス若しくは炭酸を供給しているために、分離カ
ラムで分離された各イオンの分離状態ほとんど乱
すことがないという利点も有する。更に、ウオー
タデツプ除去装置１３の外室である第４室１３６
に導びかれる液は、該ウオータデツプ除去装置１
３の内室である第３室１３５を経て検出器６で電
導度検出されたのちの排液であるため、特別に送
液ポンプや貯留槽を設けることなく、上記ウオー
タデツプ除去装置１３の膜１３１の内と外におけ
る炭酸濃度を均一にすることができるという利点
も有する。更にまた、本発明実施例によれば、ウ
オータデツプの大きさが著しく減少若しくは完全
に消滅させられる為、いわゆる超純水中の微量陰
イオン分析等前記従来例において著しく困難若し
くは不可能とされていた分析が、容易且つ正確に
できるという大きな利点も有する。
よれば、炭酸ガス透過性若しくは炭酸透過性の膜
を用いてウオータデツプの部分に炭酸ガス若しく
は炭酸を供給することにより、該ウオータデツプ
の大きさが著しく減少若しくは完全に消滅させら
れるため、前記従来例で測定困難だつたF-やC-
の微量分析が容易且つ迅速にできるという利点を
有する。また、ウオータデツプ除去装置内に上記
膜を設け、該膜を透過させてサンプル液中に炭酸
ガス若しくは炭酸を供給しているために、分離カ
ラムで分離された各イオンの分離状態ほとんど乱
すことがないという利点も有する。更に、ウオー
タデツプ除去装置１３の外室である第４室１３６
に導びかれる液は、該ウオータデツプ除去装置１
３の内室である第３室１３５を経て検出器６で電
導度検出されたのちの排液であるため、特別に送
液ポンプや貯留槽を設けることなく、上記ウオー
タデツプ除去装置１３の膜１３１の内と外におけ
る炭酸濃度を均一にすることができるという利点
も有する。更にまた、本発明実施例によれば、ウ
オータデツプの大きさが著しく減少若しくは完全
に消滅させられる為、いわゆる超純水中の微量陰
イオン分析等前記従来例において著しく困難若し
くは不可能とされていた分析が、容易且つ正確に
できるという大きな利点も有する。
以上、陽イオン交換組成物でなる壁を共有する
第１室および第２室からなる陽イオン除去装置に
上記ウオータデツプ装置が接続されている場合に
ついて説明してきたが、いわゆる充填型サプレツ
サに上記ウオータデツプ装置を接続しても同様の
ことができる。
第１室および第２室からなる陽イオン除去装置に
上記ウオータデツプ装置が接続されている場合に
ついて説明してきたが、いわゆる充填型サプレツ
サに上記ウオータデツプ装置を接続しても同様の
ことができる。
第１図は従来例の構成説明図、第２図は従来例
を用いたクロマトグラム、第３図は本発明実施例
の構成説明図、第４図は炭酸補給装置の軸方向断
面図、第５図は第４図のＡ−Ａ断面図、第６図は
本発明実施例を用いたクロマトグラムである。 １，８，１０，１１……槽、２，９……ポン
プ、３……サンプル導入装置、４……分離カラ
ム、５……陽イオン除去装置、６……検出器、７
……記録計、１２……恒温槽、１３……ウオータ
デツプ除去装置、１３１……膜、１３２……チユ
ーブ、１３３，１３４……蓋、１３５，１３６…
…室。
を用いたクロマトグラム、第３図は本発明実施例
の構成説明図、第４図は炭酸補給装置の軸方向断
面図、第５図は第４図のＡ−Ａ断面図、第６図は
本発明実施例を用いたクロマトグラムである。 １，８，１０，１１……槽、２，９……ポン
プ、３……サンプル導入装置、４……分離カラ
ム、５……陽イオン除去装置、６……検出器、７
……記録計、１２……恒温槽、１３……ウオータ
デツプ除去装置、１３１……膜、１３２……チユ
ーブ、１３３，１３４……蓋、１３５，１３６…
…室。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 所定量のサンプル液を、溶離液で搬送して陰
イオン交換樹脂が充填された分離カラムに注入
し、該分離カラムから溶出する液に含まれる陽イ
オンを陽イオン交換組成物を用いて除去し、その
後、炭酸ガス透過性若しくは炭酸透過性であつて
陰イオン不透過性の膜を用いて前記液に炭酸ガス
若しくは炭酸を供給してのち、該液の電導度を測
定して前記サンプル液に含まれる微量の陰イオン
を分析する陰イオン分析方法。 ２ 前記炭酸ガス若しくは炭酸の供給は、前記電
導度測定後の液が導びかれ前記膜を介して行なわ
れることを特徴とする特許請求範囲第１項記載の
陰イオン分析方法。 ３ 前記膜は細管状であることを特徴とする特許
請求範囲第１項若しくは第２項記載の陰イオン分
析方法。 ４ 所定量のサンプル液を採取するサンプル導入
装置と、陰イオン交換樹脂が充填されると共に前
記サンプル導入装置から溶離液で搬送されてくる
前記サンプル液を分離する分離カラムと、該分離
カラムからの溶出液が導びかれて流れる第１室と
所定の溶剤でなるスキヤベンジヤ液が流れる第２
室とが陽イオン交換組成物でなる壁を共有してな
る陽イオン除去装置と、前記第１室からの溶出液
が導びかれて流れる第３室および該第３室内の溶
出液とほぼ同濃度の炭酸ガス若しくは炭酸を含有
する所定液が導びかれて流れる第４室が炭酸ガス
透過性若しくは炭酸透過性であつて陰イオン不透
過性の膜を介して隣接されてなるウオータデツプ
除去装置と、前記第３室から導びかれて流れる溶
出液の電導度を検出する検出器とを具備すること
を特徴とする陰イオン分析装置。 ５ 前記第４室へ導びかれる所定液は前記検出器
からの溶出液が供給されるように構成されてなる
特許請求範囲第３項記載の陰イオン分析装置。 ６ 前記膜は細管状膜であるとともに該細管状膜
の内側および外側が夫々前記第３室および４室で
あることを特徴とする特許請求範囲第４項若しく
は第５項記載の陰イオン分析装置。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57017121A JPS58135455A (ja) | 1982-02-05 | 1982-02-05 | 陰イオンの分析方法及びその装置 |
| US06/385,570 US4533518A (en) | 1982-02-05 | 1982-06-07 | Apparatus for analysis of anions |
| DE3229142A DE3229142C2 (de) | 1982-02-05 | 1982-08-04 | Verfahren und Vorrichtung zur chromatographischen Untersuchung einer Probenlösung auf Spurenmengen eines Anions |
| GB08225316A GB2115146B (en) | 1982-02-05 | 1982-09-06 | Method and apparatus for determination of anions |
| FR8300578A FR2521299B1 (fr) | 1982-02-05 | 1983-01-14 | Procede et appareil pour l'analyse par chromatographie ionique d'anions. |
| US06/701,996 US4584276A (en) | 1982-02-05 | 1985-02-15 | Method for analysis of anions |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57017121A JPS58135455A (ja) | 1982-02-05 | 1982-02-05 | 陰イオンの分析方法及びその装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58135455A JPS58135455A (ja) | 1983-08-12 |
| JPS6356499B2 true JPS6356499B2 (ja) | 1988-11-08 |
Family
ID=11935194
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57017121A Granted JPS58135455A (ja) | 1982-02-05 | 1982-02-05 | 陰イオンの分析方法及びその装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US4533518A (ja) |
| JP (1) | JPS58135455A (ja) |
| DE (1) | DE3229142C2 (ja) |
| FR (1) | FR2521299B1 (ja) |
| GB (1) | GB2115146B (ja) |
Families Citing this family (24)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CA1220053A (en) * | 1983-10-01 | 1987-04-07 | Toyo Soda Manufacturing Co., Ltd. | Method for chromatographic analysis and apparatus therefor |
| JPS60219554A (ja) * | 1984-04-16 | 1985-11-02 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | 多量成分中の微量成分を測定する方法およびその装置 |
| US4999098A (en) * | 1984-10-04 | 1991-03-12 | Dionex Corporation | Modified membrane suppressor and method for use |
| JPS61223556A (ja) * | 1985-03-28 | 1986-10-04 | Yokogawa Electric Corp | イオン種分析装置 |
| JPS61253461A (ja) * | 1985-05-02 | 1986-11-11 | Shimamura Keiki Seisakusho:Kk | 炭酸ナトリウムを含む溶離液を用いたイオンクロマトグラフイ−におけるウオ−タ−デイツプ減少方法および装置 |
| US4715217A (en) * | 1985-06-06 | 1987-12-29 | The Dow Chemical Company | Determining organic compounds using a membrane |
| US4696904A (en) * | 1986-03-24 | 1987-09-29 | The Dow Chemical Company | Apparatus and method for the determination of water by liquid chromatography |
| JPS62282260A (ja) * | 1986-05-31 | 1987-12-08 | Tosoh Corp | 陰イオン分析法 |
| US4806315A (en) * | 1987-07-02 | 1989-02-21 | The Dow Chemical Company | Water vapor addition for gas chromatography, and gas chromatographs |
| US4819478A (en) * | 1988-03-04 | 1989-04-11 | The Dow Chemical Company | Membrane assisted flow injection analysis |
| US4886965A (en) * | 1988-08-08 | 1989-12-12 | The Dow Chemical Company | Method for calibrating variable wavelength liquid chromatography detectors |
| EP0361234B1 (en) * | 1988-09-26 | 1995-05-10 | Waters Investments Limited | Process and apparatus for preparing samples for ion analysis |
| US5300442A (en) * | 1991-05-09 | 1994-04-05 | Orion Research, Inc. | Method and device for measuring chlorine concentrations with enhanced sensitivity |
| CA2087481C (en) * | 1992-02-10 | 2001-09-04 | John R. Stillian | Ion chromatography system using electrochemical suppression and detector effluent recycle |
| DE69322243T2 (de) * | 1992-07-27 | 1999-06-24 | Dionex Corp | Elektrochemische vorbehandlungsvorrichtung zur analyse von flüssigen proben |
| US5316630A (en) * | 1993-03-30 | 1994-05-31 | Dionex Corporation | Methods for chromatography analysis |
| DE59712520D1 (de) * | 1996-07-26 | 2006-01-19 | Metrohm Ag Herisau | Verfahren und Vorrichtung zur Probenvorbereitung |
| US6444475B1 (en) * | 1999-08-02 | 2002-09-03 | Alltech Associates, Inc. | Ion chromatography apparatus and method for removing gas prior to sample detection |
| US7144735B2 (en) * | 2003-09-05 | 2006-12-05 | Metara, Inc. | Electrodialysis method and apparatus for trace metal analysis |
| US7306720B2 (en) * | 2004-08-23 | 2007-12-11 | Dionex Corporation | Membrane based volatile component-removal devices for liquid chromatography |
| US20070184094A1 (en) * | 2006-02-08 | 2007-08-09 | Williams Thomas D | Method for producing a metallic temporary tattoo |
| JP2009026519A (ja) * | 2007-07-18 | 2009-02-05 | Toyota Motor Corp | 燃料電池および燃料電池搭載車両 |
| US11287403B2 (en) * | 2016-01-07 | 2022-03-29 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Ion chromatography system and methods utilizing a weak acid or weak base extraction device |
| CN110441412A (zh) * | 2019-07-16 | 2019-11-12 | 中国石油化工股份有限公司 | 一种临氢装置气相中微量氯化氢的检测方法及装置 |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3926559A (en) * | 1973-08-06 | 1975-12-16 | Dow Chemical Co | Method and apparatus for quantitative chromatographic analysis of cationic species |
| US4314823A (en) * | 1979-03-05 | 1982-02-09 | Dionex Corporation | Combination apparatus and method for chromatographic separation and quantitative analysis of multiple ionic species |
| GB2045638B (en) * | 1979-04-04 | 1983-03-16 | Ici Ltd | Quantitative analysis of jonic species |
| JPS5631432A (en) * | 1979-08-21 | 1981-03-30 | Ebara Infilco Co Ltd | Process for dissolving gas into liquid |
| CA1162416A (en) * | 1980-01-16 | 1984-02-21 | Timothy S. Stevens | Ion analysis method and apparatus |
| JPS5769251A (en) * | 1980-10-17 | 1982-04-27 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | Method and apparatus for analyzing anion in sample liquid |
| US4403039A (en) * | 1980-10-29 | 1983-09-06 | Yokogawa Hokushin Electric Works | Method and apparatus for analysis of ionic species |
-
1982
- 1982-02-05 JP JP57017121A patent/JPS58135455A/ja active Granted
- 1982-06-07 US US06/385,570 patent/US4533518A/en not_active Expired - Lifetime
- 1982-08-04 DE DE3229142A patent/DE3229142C2/de not_active Expired
- 1982-09-06 GB GB08225316A patent/GB2115146B/en not_active Expired
-
1983
- 1983-01-14 FR FR8300578A patent/FR2521299B1/fr not_active Expired
-
1985
- 1985-02-15 US US06/701,996 patent/US4584276A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4584276A (en) | 1986-04-22 |
| JPS58135455A (ja) | 1983-08-12 |
| DE3229142C2 (de) | 1986-02-27 |
| US4533518A (en) | 1985-08-06 |
| GB2115146B (en) | 1985-05-01 |
| FR2521299B1 (fr) | 1986-10-03 |
| DE3229142A1 (de) | 1983-08-18 |
| GB2115146A (en) | 1983-09-01 |
| FR2521299A1 (fr) | 1983-08-12 |
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