JPS6355184A - セラミツクスへの銅メタライズ法 - Google Patents
セラミツクスへの銅メタライズ法Info
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- JPS6355184A JPS6355184A JP19965786A JP19965786A JPS6355184A JP S6355184 A JPS6355184 A JP S6355184A JP 19965786 A JP19965786 A JP 19965786A JP 19965786 A JP19965786 A JP 19965786A JP S6355184 A JPS6355184 A JP S6355184A
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- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims description 35
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 title claims description 35
- 239000010949 copper Substances 0.000 title claims description 35
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 title claims description 24
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 title claims description 10
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 20
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 18
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 16
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 16
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 16
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 claims description 10
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 claims description 7
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 5
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 24
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 17
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 17
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 14
- 239000010408 film Substances 0.000 description 11
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 9
- 238000007788 roughening Methods 0.000 description 8
- QPLDLSVMHZLSFG-UHFFFAOYSA-N Copper oxide Chemical compound [Cu]=O QPLDLSVMHZLSFG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 6
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000005751 Copper oxide Substances 0.000 description 5
- 229910000431 copper oxide Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 4
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 4
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 4
- HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M Sodium hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+] HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- 238000010926 purge Methods 0.000 description 3
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 238000007772 electroless plating Methods 0.000 description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 239000012299 nitrogen atmosphere Substances 0.000 description 2
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 2
- 206010070834 Sensitisation Diseases 0.000 description 1
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 1
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 238000004873 anchoring Methods 0.000 description 1
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 230000001010 compromised effect Effects 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000005496 eutectics Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000002923 metal particle Substances 0.000 description 1
- 239000011104 metalized film Substances 0.000 description 1
- 230000008313 sensitization Effects 0.000 description 1
- 230000001235 sensitizing effect Effects 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005728 strengthening Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000007751 thermal spraying Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
この発明は、セラミックスへのメタライズについての技
術分野に属する。
術分野に属する。
従来より、セラミックスのメタライズ法として無電解め
っき法が実用化されているが、セラミックスとめっき膜
との密着力が十分ではないので、セラミックス表面をア
ルカリや酸を使用して粗面化した後、無電解めっき処理
を施すといった手段が用いられている。このような方法
は、たとえば特開昭60−16885号公報、特開昭5
7−196781号公報にも記載されている。
っき法が実用化されているが、セラミックスとめっき膜
との密着力が十分ではないので、セラミックス表面をア
ルカリや酸を使用して粗面化した後、無電解めっき処理
を施すといった手段が用いられている。このような方法
は、たとえば特開昭60−16885号公報、特開昭5
7−196781号公報にも記載されている。
然るに従来の方法によるセラミックスとめっき膜との密
着力は、粗化されたセラミックス表面に対するめっき金
属粒子のアンカー効果、つまり機械通接台でのみ保たれ
ているため、高温加熱処理が施された場合、セラミック
スとめっき金属との熱膨張率の違いや、めっき金属の結
晶粒成長等の要因により、密着力が著しく劣化するとい
った問題が生じた。
着力は、粗化されたセラミックス表面に対するめっき金
属粒子のアンカー効果、つまり機械通接台でのみ保たれ
ているため、高温加熱処理が施された場合、セラミック
スとめっき金属との熱膨張率の違いや、めっき金属の結
晶粒成長等の要因により、密着力が著しく劣化するとい
った問題が生じた。
なお、前記の高温加熱処理は、メタライズしたセラミッ
クスを回路板として使用する場合等において、抵抗ペー
スト等を焼付けて所定の用途に供するのであるが、この
際のペースト等の焼付に必要とされる処理であり、その
温度は通常500〜900°C程度である。
クスを回路板として使用する場合等において、抵抗ペー
スト等を焼付けて所定の用途に供するのであるが、この
際のペースト等の焼付に必要とされる処理であり、その
温度は通常500〜900°C程度である。
(発明の目的〕
この発明は、以上のような実情に鑑みてなされたもので
あって、高温加熱処理を行なっても密着強度が著しく劣
化することのない、セラミックスへの銅メタライズ法を
提供することを目的とする。
あって、高温加熱処理を行なっても密着強度が著しく劣
化することのない、セラミックスへの銅メタライズ法を
提供することを目的とする。
以上の目的を達成するため、この発明は、銅とセラミッ
クスがアンカ効果により接合されている銅メタライズ・
セラミックスを用意し、つぎに5〜11000PPの酸
素含有不活性ガス雰囲気下で150°C以上1065°
C未満の温度範囲まで昇温加熱処理した後、雰囲気を不
活性ガス雰囲気にして冷却を行なうことを特徴とするセ
ラミックスへの銅メタライズ法を提供するものである。
クスがアンカ効果により接合されている銅メタライズ・
セラミックスを用意し、つぎに5〜11000PPの酸
素含有不活性ガス雰囲気下で150°C以上1065°
C未満の温度範囲まで昇温加熱処理した後、雰囲気を不
活性ガス雰囲気にして冷却を行なうことを特徴とするセ
ラミックスへの銅メタライズ法を提供するものである。
以下、この発明をセラミックス材料としてアルミナを選
び、メタライズ法として無電解銅めっき法を選んだ場合
を例にとって詳しく説明する。
び、メタライズ法として無電解銅めっき法を選んだ場合
を例にとって詳しく説明する。
■ アルミナ基板の前処理として、アルカリあるいは酸
を用いて表面粗化処理を行なう。表面粗化処理はアルミ
ナ基板に対する無電解銅めっき膜の密着力を強化するた
めに行なうものであり、粗化の方法はアルカリあるいは
酸のどちらを用いる方法によっても良い。
を用いて表面粗化処理を行なう。表面粗化処理はアルミ
ナ基板に対する無電解銅めっき膜の密着力を強化するた
めに行なうものであり、粗化の方法はアルカリあるいは
酸のどちらを用いる方法によっても良い。
■ この基板に感受性化処理、活性化処理を行なった後
、無電解銅めっき処理を行なう。めっき銅膜は、表面粗
化処理が施されたアルミナ基板表面に対し、アンカ効果
によりに接合する。
、無電解銅めっき処理を行なう。めっき銅膜は、表面粗
化処理が施されたアルミナ基板表面に対し、アンカ効果
によりに接合する。
なお、この発明においてはセラミ・ノクス面へのメタラ
イズの方法については限定するものではなく、アンカ効
果により接合されるメタライズ法であれば良い。例えば
PVD法、溶射法等のメタライズ法が採用される。また
メタライズの膜厚についても特に限定はしない。
イズの方法については限定するものではなく、アンカ効
果により接合されるメタライズ法であれば良い。例えば
PVD法、溶射法等のメタライズ法が採用される。また
メタライズの膜厚についても特に限定はしない。
■ 上記の処理が施された基板を加熱炉に挿入し、加熱
炉内を500PPM〜11000PPの範囲で酸素を含
有する窒素雰囲気にする。
炉内を500PPM〜11000PPの範囲で酸素を含
有する窒素雰囲気にする。
酸素含有不活性ガス雰囲気下で加熱処理する理由は、メ
タライズ層の密着力を向上させるためであり、それによ
り密着力が向上する理由は、銅めっき膜の内部あるいは
銅めっき膜とセラミックスとの界面の一部に酸化銅が生
成するためと推定される。
タライズ層の密着力を向上させるためであり、それによ
り密着力が向上する理由は、銅めっき膜の内部あるいは
銅めっき膜とセラミックスとの界面の一部に酸化銅が生
成するためと推定される。
以上において酸素含有量が5PPM未満であると、酸化
銅の生成、固着が不十分であり、従ってこの発明の効果
が充分には得られない。また、11000PPを超える
と、酸化銅が過剰に生成し、めっき膜力q危くなり、ま
た導電率も悪くなってしまう。
銅の生成、固着が不十分であり、従ってこの発明の効果
が充分には得られない。また、11000PPを超える
と、酸化銅が過剰に生成し、めっき膜力q危くなり、ま
た導電率も悪くなってしまう。
■ 前記の加熱処理においては、加熱炉を150°C以
上1065°C未満まで昇温する。150°C未満では
酸化銅の生成、固着が不十分であり、従ってこの発明の
効果が充分には得られない。また、1065℃を超える
と、銅と酸素が共晶融液を生成するので、温度と雰囲気
ガス中の酸素濃度を極めて厳密にコントロールしないと
、めっき銅膜の原形を崩してしまう。
上1065°C未満まで昇温する。150°C未満では
酸化銅の生成、固着が不十分であり、従ってこの発明の
効果が充分には得られない。また、1065℃を超える
と、銅と酸素が共晶融液を生成するので、温度と雰囲気
ガス中の酸素濃度を極めて厳密にコントロールしないと
、めっき銅膜の原形を崩してしまう。
■ つぎに加熱炉内への酸素混入を止め、純窒素あるい
は純アルゴンのような不活性ガス雰囲気にして冷却する
。冷却を不活性ガス雰囲気中で行なうことにより発明の
効果が助長される理由は、めっき銅膜表面の余分な酸化
物層を還元させるためであると推定される。
は純アルゴンのような不活性ガス雰囲気にして冷却する
。冷却を不活性ガス雰囲気中で行なうことにより発明の
効果が助長される理由は、めっき銅膜表面の余分な酸化
物層を還元させるためであると推定される。
以上の様な方法により作成した銅メタライズ・アルミナ
基板は、たとえば窒素雰囲気中で950゛Cという高温
まで加熱処理しても、アルミナ基板とメッキ銅膜の密着
力が劣化しない。その理由については明確ではないが、
この発明により作成した銅メタライズ・アルミナ基板は
、めっき銅膜の内部、あるいはめっき銅膜とアルミナ基
板との界面の一部に酸化銅(Cu20、Cub)を固着
しているため、高温加熱時に、前述の酸化銅が基板のア
ルミナとCu11204等の化合物を生成することによ
って、銅とアルミナの結合が強化されるためと推定され
る。つまり、従来のセラミックスへの無電解銅めっき法
が、セラミックスとめっき膜との密着力を機械的接合に
のみ依存しているのに対し、本発明の方法によると、機
械的接合と化学的接合の両方に依存することになるので
、高温加熱時においても密着力が著しく劣化することが
ないのであろう。
基板は、たとえば窒素雰囲気中で950゛Cという高温
まで加熱処理しても、アルミナ基板とメッキ銅膜の密着
力が劣化しない。その理由については明確ではないが、
この発明により作成した銅メタライズ・アルミナ基板は
、めっき銅膜の内部、あるいはめっき銅膜とアルミナ基
板との界面の一部に酸化銅(Cu20、Cub)を固着
しているため、高温加熱時に、前述の酸化銅が基板のア
ルミナとCu11204等の化合物を生成することによ
って、銅とアルミナの結合が強化されるためと推定され
る。つまり、従来のセラミックスへの無電解銅めっき法
が、セラミックスとめっき膜との密着力を機械的接合に
のみ依存しているのに対し、本発明の方法によると、機
械的接合と化学的接合の両方に依存することになるので
、高温加熱時においても密着力が著しく劣化することが
ないのであろう。
つぎに、この発明に係る実施(〆りおよび比較例を説明
する。
する。
(実施例1)
5 Qn+X50+uXQ、635u厚の96%アルミ
ナ基板に、60%の水酸化ナトリウム水溶液を塗布し、
乾燥後450°Cで5分間熱処理を行なった後、水洗、
酸洗、水洗を2回繰り返した。
ナ基板に、60%の水酸化ナトリウム水溶液を塗布し、
乾燥後450°Cで5分間熱処理を行なった後、水洗、
酸洗、水洗を2回繰り返した。
このようにしてできたアルミナ基板は、表面が均質に粗
化されていた。
化されていた。
つぎにこの基板に所定の方法で、感受性化処理、活性化
処理を行なった後、無電解銅めっきを5μm施した。
処理を行なった後、無電解銅めっきを5μm施した。
つぎにこの基板を加熱炉に庫大して20PPMの酸素を
含有した窒素ガスを炉内に流入させ、炉内をパージした
後、オーバーフローさせながら、10℃/分の昇温スピ
ードで室温から800℃まで加熱し、a o o ’c
で2分間保持した。そして酸素の混入を止め、純窒素ガ
スをオーバーフローさせながら冷却した。
含有した窒素ガスを炉内に流入させ、炉内をパージした
後、オーバーフローさせながら、10℃/分の昇温スピ
ードで室温から800℃まで加熱し、a o o ’c
で2分間保持した。そして酸素の混入を止め、純窒素ガ
スをオーバーフローさせながら冷却した。
(実施例2)
実施例1と同様にして、アルカリ粗化を施した96%ア
ルミナ基板に無電解銅めっきを5μm施した。つぎにこ
の基板を加熱炉に挿入して1100PPの酸素を含有し
た窒素ガスを炉内に流入させ、炉内をパージした後、オ
ーバーフローさせながら、10°C/分の昇温スピード
で室温から600℃まで加熱し、600℃で2分間保持
した。つぎに酸素の混入を止め、純窒素ガスをオーバー
フローさせながら冷却した。
ルミナ基板に無電解銅めっきを5μm施した。つぎにこ
の基板を加熱炉に挿入して1100PPの酸素を含有し
た窒素ガスを炉内に流入させ、炉内をパージした後、オ
ーバーフローさせながら、10°C/分の昇温スピード
で室温から600℃まで加熱し、600℃で2分間保持
した。つぎに酸素の混入を止め、純窒素ガスをオーバー
フローさせながら冷却した。
つぎにこの基板に無電解銅めっきを2μm施した後、電
気銅めっきを10μm施して、層厚12μmの銅めっき
を形成した。
気銅めっきを10μm施して、層厚12μmの銅めっき
を形成した。
(実施例3)
実施例1と同様にして、アルカリ粗化を施した96%ア
ルミナ基板に、無電解銅めっきを5μm施した。つぎに
この基板を加熱炉に挿入して、800PPMの酸素を含
有させた窒素ガスを炉内に流入させ、炉内をパージした
後、オーバーフローさせながら、20℃/1分の昇温ス
ピードで室温から300℃まで加熱し、300 ’Cで
5分間保持した。そして酸素の混入を止め、純窒素ガス
をオーバーフローさせながら冷却した。
ルミナ基板に、無電解銅めっきを5μm施した。つぎに
この基板を加熱炉に挿入して、800PPMの酸素を含
有させた窒素ガスを炉内に流入させ、炉内をパージした
後、オーバーフローさせながら、20℃/1分の昇温ス
ピードで室温から300℃まで加熱し、300 ’Cで
5分間保持した。そして酸素の混入を止め、純窒素ガス
をオーバーフローさせながら冷却した。
(比較例1)
実施例1と同様にして、アルカリ粗化を施した96%ア
ルミナ基板に無電解銅めっきを5μm施した。
ルミナ基板に無電解銅めっきを5μm施した。
(比較例2)
実施例1において、加熱昇温時にオーバーフローさせる
雰囲気ガスとして20PPMの酸素含有窒素を使用せず
、純窒素を使用し、その他の条件は変更せずに銅メタラ
イズ・セラミックス基板を得た。
雰囲気ガスとして20PPMの酸素含有窒素を使用せず
、純窒素を使用し、その他の条件は変更せずに銅メタラ
イズ・セラミックス基板を得た。
(比較例3)
実施例3において、加熱条件を1°C/分の昇温スピー
ドで室温から130°Cまで昇温加熱し、130°Cで
10分間保持した。その他の条件は変更せずに銅メタラ
イズ・セラミックス基板を得た。
ドで室温から130°Cまで昇温加熱し、130°Cで
10分間保持した。その他の条件は変更せずに銅メタラ
イズ・セラミックス基板を得た。
以上の方法で作成した銅めっきアルミナ基板の緒特性を
測定した結果、第1表に示すような結果を得た。
測定した結果、第1表に示すような結果を得た。
[以下余白コ
第1表
第1表より明らかなように本発明により得られた銅めっ
きアルミナ基板は、窒素中において950℃で10分間
熱処理を加えても、密着力の劣化は小さく、また導体抵
抗、ハンダぬれ性共に、−般の無電解銅めっきと比較し
ても遜色なく、良好な値を示すことが判る。
きアルミナ基板は、窒素中において950℃で10分間
熱処理を加えても、密着力の劣化は小さく、また導体抵
抗、ハンダぬれ性共に、−般の無電解銅めっきと比較し
ても遜色なく、良好な値を示すことが判る。
この発明は、銅とセラミックスが接合されている銅メタ
ライズ・セラミックスを用意し、つぎにこれを5〜11
000PPの酸素含有不活性ガス雰囲気下において15
.0℃以上1065“C未満の温度範囲まで昇温加熱処
理した後、雰囲気を不活性雰囲気にして冷却を行なうこ
とを特徴とするので、高温加熱処理を行なっても密着強
度が著しく劣化することのない、セラミックスへの銅メ
タライズが行なえる効果がある。
ライズ・セラミックスを用意し、つぎにこれを5〜11
000PPの酸素含有不活性ガス雰囲気下において15
.0℃以上1065“C未満の温度範囲まで昇温加熱処
理した後、雰囲気を不活性雰囲気にして冷却を行なうこ
とを特徴とするので、高温加熱処理を行なっても密着強
度が著しく劣化することのない、セラミックスへの銅メ
タライズが行なえる効果がある。
Claims (1)
- (1)銅とセラミックスが接合されている銅メタライズ
・セラミックスを用意し、つぎにこれを5〜1000P
PMの酸素含有不活性ガス雰囲気下において150℃以
上1065℃未満の温度範囲まで昇温加熱処理した後、
雰囲気を不活性雰囲気にして冷却を行なうことを特徴と
するセラミックスへの銅メタライズ法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19965786A JPS6355184A (ja) | 1986-08-26 | 1986-08-26 | セラミツクスへの銅メタライズ法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19965786A JPS6355184A (ja) | 1986-08-26 | 1986-08-26 | セラミツクスへの銅メタライズ法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6355184A true JPS6355184A (ja) | 1988-03-09 |
Family
ID=16411472
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19965786A Pending JPS6355184A (ja) | 1986-08-26 | 1986-08-26 | セラミツクスへの銅メタライズ法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6355184A (ja) |
-
1986
- 1986-08-26 JP JP19965786A patent/JPS6355184A/ja active Pending
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