JPS6350002A - 高温サ−ミスタ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は温度センサ特にサーミスタに係り、とりわけ、
加熱調理器に使用される高温サーミスタに関するもので
ある。

従来の技術 従来、加熱調理器においては、室温附近の温度からオー
ブンの３ｏｏ℃附近の高温にわたる広範囲の温度を１個
で制御する為に高耐熱性でかつ高精度かつＢ定数の低い
ＳｉＣ薄膜サーミスタが使用されている。上記サーミス
タ６を第３図に示す。

センサベース１に貫通固定した２本の端子２の間にサー
ミスタチップ４を置きリードセン３で端子２との間に電
気的接触をとっている。更に第４図に示す如く機械的強
度確保するためアルミナセメント５でサーミスタチップ
４と端子２を固定している。第５図はサーミスタチップ
４の詳細図である。基板７上にスパッタ法によシ形成し
た薄膜状ＳｉＣ膜、更にその上に櫛型電極９および１゜
を形成する。櫛型電極９および１０にはリードセン３が
接続されている。更に第６図の如くサーミスタチップ４
はその表面をガラス材１１にてコーティングをほどこし
である。

さて、第６図はサーミスタ６を搭載したオープン機能付
電子レンジ１２を示す操作パネル１３によシオープン料
理を指定し、オーブン雰囲気温度を指定すると制御部１
４の指示によりヒータ１６が動作しサーミスタ６の信号
を受けつつ制御部１４は指定温度に庫内１６の雰囲気を
制御する。扉１７は食品１８を出し入れする為でありタ
ーンテーブル１９は食品１８を載置しかつ回転させ均一
加熱さす。ターンテーブルモータ２ｏがシャフトでター
ンテーブル１９に接続されている。電波で調理する際は
操作パネル１３よりメニ、−を例えば°゛あたため”キ
ーで指定すると操作部１４はマグネトロン２１を動作さ
せ電波を発射する。

食品が加熱されて発生する蒸気の量を湿度センサ２２が
キャッチし検知回路２３を通して制御部１４に伝える。

制御部１４は加熱の完了を判断してマグネトロン２１の
動作を停止する。ファンモータ２４はマグネトロン２１
を冷却すると共に庫内１６へ一部の風を送り食品１８か
らの蒸気がｆｉｉ１７に結露し扉１７の窓をくもらせる
のを防ぐため排気口２５より蒸気を放出させる。

発明が解決しようとする問題点 さて、サーミスタ６は上記のようにオーブン庫内に設置
され食品の蒸気をかぶる為蒸気の露結に対しては第７図
の如くガラス材１１をコーティングして万全を期してい
るがこれが完全でない事が判明した。第７図で基板７の
周辺部Ａにはガラス材１１が塗布され難く第５図で櫛型
電極９と１Ｑの対抗部Ｂ附近のガラス材１１が不足する
と水蒸気の露結により、異常の動作に到る。すなわち、
オーブン調理の際には庫内１６の温度よりも異常に高い
信号を発生し、制御部１４をしてヒータ１５の通電を停
止してしまう。゛また電波調理の場合には特に弱いパワ
ーで調理する解凍や茶碗むしの場合は庫内温度が高い場
合は調理の仕上りに悪影響をおよぼす為庫内１６の温度
が高いときは電波の発射を行なわない機能となっている
。従ってサーミスタが露結による異常により庫内１６温
度が高いと云う誤報を発生すると調理の開始ができない
ことになる。

本発明はかかる従来のサーミスタの欠点を除く考案の中
よりなされたものであり、食品の蒸気のみならず、厨房
室の如何なる環境下にても安定に動作するサーミスタを
提供する事にある。

本発明はこのような従来の問題点を解消するものであり
、結露した水分が櫛型電極９，１０におよびサーミスタ
の特性に悪影響を与えない構成をとり品質的に安定なサ
ーミスタを実現する事を目的とする。

問題点を解決するための手段 上記目的を達するため、本発明はサーミスタチップより
面積の大きい第２の絶縁体よりなる基板上にサーミスタ
チップを設置し、この第２の基板とガラス材とによりサ
ーミスタチップを完全に覆う構成である。

作　　用 この構成によりガラス材がサーミスタチップの周辺部分
を完全に被覆する事ができ、従って被覆が不完全なとき
に見られる櫛型電極の露出やピンホールの発生を完全に
抑えるという効果を生じ、使用装置の安定動作と安全性
を確保することができる。

実施例 以下本発明の実施例について図面に基づき説明する。第
１図でスパッタ法によりＳｉＣ薄膜８をアルミナ絶縁基
板７上に形成し、更に第５図と同様の櫛型電極９，１０
をＳｉＣ薄膜８上に形成し従来と同様のサーミスタチッ
プを準備する。

第２のアルミナ基板２６上に上記サーミスタチップを設
置し、ホウケイ酸ガラスよりなる被像１１でサーミスタ
チップ全体を搾う様に形成した。

ガラスの被覆は櫛型電極およびＳｉＣ薄膜を覆う部分お
よび周辺部分を含めてほぼ一様の厚さであり、従来の欠
点は解消されている事が確認された。

本実施例により作成したサーミスタに水を噴霧して後櫛
型電極間の抵抗値を測定した。室温で３０ＯＫΩ±３％
であり１０００個のテストでも不良は１件も見出されな
かった。従来の不良率０．１〜０．２％に比し品質の改
善が飛躍的に向上した事が確認できた。

次に他の実施例を示す。

第２図に示す様に第２のアルミナ基板２７にザ７、、− 一ミスタチップ４がほぼ収まる程度の溝を略中央部に形
成し、その溝に、サーミスタチップ４を設置し同様の実
験を行った。この目的はサーミスタチップの位置決めと
更にガラス被罹される、サーミスタチップ面と第２のア
ルミナ基板面とが略同−平面にある為、厚さが均一なガ
ラス被覆面１１が形成される。従ってサーミスタチップ
表面でのガラス被覆面の厚さは均一であり、櫛型電極の
露出の恐れや被覆の薄いことによるピンホール発生の恐
れも全くない。水噴霧後の抵抗測定に於ても全く異常品
は見出されなかった。

発明の効果 以上のように本発明によれば次の効果を得ることができ
る。

（１）露結条件の厳しい加熱調理器庫内に設置しても極
めて安定な動作をするサーミスタを供給できる。

（２）サーミスタの製造品質が極めて高い為、歩止まり
が向上し、安価なサーミスタを供給できる。

（３）加熱調理器の温度制御センサとしてよシ安全性を
向上できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係るサーミスタチップ部分の１例を示
す断面図、第２図はその他の例を示す断面図、第３図は
サーミスタの斜視図、第４図はサーミスタチップと端子
間の機械的保持を説明する斜視図、第５図はサーミスタ
チップの構成を示す斜視図、第６図は従来からある電子
レンジの構成を示すブロック図、第７図は従来のガラス
材塗布によるチップ構成を示す断面図である。 ４・・・・・・サーミスタチップ、７・・・・・・アル
ミナ絶縁基板、８・・・・・・ＳｉＣ薄膜、１１・・・
・・ガラス被覆面。 代理人の氏名　弁理士　中　尾　敏　男　ほか１名１＞
Ｑ）ぴ 区　　　　　　　　　　　　　　　区 −〇 塚　　　　　　　　　　　　　　　城 第４図 第５図 第　７　図

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）絶縁体基板上に温度特性をもつ抵抗体を形成して
   なるサーミスタチップと、上記絶縁体基板の熱膨張係数
   と略あるいは同一の絶縁体よりなり、かつ上記サーミス
   タチップより面積の大きい第２の基板よりなり、第２の
   基板上に上記サーミスタチップを設置し上記第２の基板
   と熱溶融性絶縁物とにより上記サーミスタチップを覆う
   よう塗布してなる高温サーミスタ。
2. （２）第２の基板の表面は、サーミスタチップが略収ま
   る範囲の形状の堀り込み穴を有する構造をもつ特許請求
   の範囲第１項記載の高温サーミスタ。