JPS6346135A - Ｘ線ｃｔ装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の目的］ （産業上の利用分野） 本発明は、Ｘ線源から直線的に被検体を透過してきたＸ
線以外のその他のＸ線を検出する散乱線検出器を有する
Ｘ線ＣＴ装置に関する。

（従来の技術） Ｘ線ＣＴ装置として第３図に示すような構成のものが知
られている。Ｘ線管１と対向して複数のチャンネルから
成るＸ線の主検出器４が配置され、この主検出器４は例
えばシンチレータ５とフォトダイオード６とから成るシ
ンチレーション検出器によって構成される。Ｘ線管１と
主検出器４との間にはコリメータ２、被検体３が配置さ
れ、また主検出器４に近接して単一のチャンネルから成
る散乱線検出器７が配置されこれは、主検出器４と同様
にシンチレータとフォトダイオードとから成るシンチレ
ーション検出器によって構成される。Ｘ線管１から出射
されコリメータ２によって所望のスライス厚さのビーム
に制御されたＸ線は被検体３を透過し主検出器４又は散
乱線検出器７に入射する。

ここで主検出器４はＸ線管１から直線的に被検体３を透
過してきたＸ線（主線）のみを検出し、この検出したＸ
線吸収係数のデータに基いて画像処理を行うことが望ま
しい。しかし実際には主検出器４に入射するＸ線は前記
主線以外にも、被検体３内で散乱されて到達してきたも
のや被検体３を全く透過してこないで到達してきたもの
（以下これらを散乱線と称する）も含まれてしまう。

従って正確な画＠処理を行うためにはこれら散乱線を考
慮した補正処理を行う必要がおり、主検出器３の出力デ
ータから散乱線検出器７の出力データを減算する処理が
行われる。散乱線検出器７はスライス厚さのビームの進
行経路の外側に配置されているので、主線が入射するこ
とはなく散乱線のみが入射するようになっている。

ところで散乱線検出器７によって散乱線を検出して前述
のような補正を行う場合、散乱線検出器７によって検出
される散乱線は主検出器４によっても同様に検出される
ことが前提条件となる。もし散乱線検出器７によっての
み検出されるような散乱線が存在していると、誤′つた
補正処理が行われることになるので得られた画像にアー
チファクトが発生するようになる。

このような主検出器４及び散乱線検出器７を有°　する
Ｘ線ＣＴ装置において、散乱線検出器７が故障したり経
時変化によってその感度が劣化してしまったような場合
には、新たなものと交換する必要があるが交換するにあ
たっては新たな散乱線検出器の感度の校正が行われる。

これは散乱線検出器の出力データによって誤りのない補
正処理を行う必要上、予め主検出器と散乱線検出器との
間に設定していた所定の感度比（出力比）ｋの値が散乱
線検出器の交換によってずれてきてしまうのでこれを元
に戻すために行われる。ここで感度比には、次式のよう
に示される。

ｋ＝ａ／ｅ　　　　　　　　　　　　・・・（１）ただ
し、ａ：散乱線検出器の出力。

ｅ：散乱線検出器に入射された散乱線 と同時に入射された散乱線による 主検出器の出力。

散乱線検出器の感度の構成は次のようなステップで行わ
れる。

■例えば鉛ビット法で前記（１）式のｋを測定した時、
同時に標準散乱体例えば水ファントムを用いてこれをス
キャンしく鉛ビットなしで）、このときの散乱線検出器
の出力をａｒｌ−１として記録しておく。

■散乱線検出器を交換するとき、再び同じ標準散乱体を
用い■と同様にスキャンして、このときの新たな散乱線
検出器の出力ａ１を得る。

■校正前の感度比ｋｒ）−１を次式で求める。

ｋ　ｎ−ｔ　＝　ａ　ｒｌ−１／　ｅ　　　　　　　　
　　・・（２）次に前記（１）、　（２）式に基いて新
たな散乱線検出器の感度比に１を次式で求め校正する。

ｋｌ　＝ａ１　／ｅ＝ａＩ　Ｘａｎ−ｘ／ｅＸ１／ａｎ
−ｔ＝　ａ１／　ａｎ−ｔＸ　ｋｎ−ｘ　　　　−（３
）このような校正を行うにあたり、前述のように従来の
Ｘ線ＣＴ装置においては標準散乱体を用いたスキャンが
必要となる。

ところでこのようなスキャンは第２図に示すように、標
準散乱体８をＸ線管１と主検出器４及び散乱線検出器７
との間に配置して行われるが、精度の良い校正を行うに
は標準散乱体８の正確な位Ａ決めが要求される。また標
準散乱体８を常に用意しておく必要がある。

さらに散乱線検出器７に対して入射される散乱線は、散
乱線検出器７ａ、７ｂ、７ｃの位置の違いによってその
量が異なり端部の検出器７ａ又は７Ｃはど多く、中央部
の検出器７ｂでは少なくなっている。

これは散乱線検出器７の特性が標準散乱体８の位置に敏
感に反応し易くなっているためであり、特に標準散乱体
８の端部から急峻な分布で入射してきた散乱線に強く反
応するためである。

（発明が解決しようとする問題点） このように従来のＸ線ＣＴ装置においては標準散乱体を
用いて散乱線検出器の校正を行うようにしているので、
精度の良い校正を行うのが困難であるという問題がある
。

本発明はこのような問題に対処してなされたもので、標
準散乱体を不要となして散乱線検出器の精度の良い校正
を行うＸ線ＣＴ装置を提供することを目的とするもので
ある。

［発明の構成］ （問題点を解決するための手段） 上記目的を達成するために本発明は、Ｘ線源にこれと一
体的に被検体の周囲を回転する上部散孔体を設け、この
上部散乱体は必要に応じてＸ線ビームの進路に進出可能
に構成したことを特徴としている。

（作　用） 上部散乱体をＸ線源に一体的に設けることにより、必要
に応じてＸ線ビームの進路に進出させることができるの
で、散乱線検出器の校正を行う場合Ｘ線ビームの進路に
容易に移動させることができる。また上部散乱体の形状
を任意に設定することにより散乱線検出器に対してなめ
らかな分布で散乱線を入射させることができる。従って
精度の良い散乱線検出器の校正を行うことができる。

（実施例） 配置され、主検出器１４に近接して散乱線検出器１７が
配置されている。これら主検出器１４及び散乱線検出器
１７は共に例えばシンチレータとフォトダイオードとか
ら成るシンチレーション検出器によって構成される。Ｘ
線管１１と主検出器１４との間にはコリメータ１２が配
置され、Ｘ線管１１から出射したＸ線はこのコリメータ
１２によって所望のスライス厚さのビームに制御される
。

上部散乱体１８が結合ｖａ構１９を介してＸ線管１１に
一体的に設けられ、上部散乱体１８と共に被検体（図示
せず）の周囲を回転するように配置される。この上部散
乱体１８は比較的Ｘ線吸収の少ない材料から構成され、
例えば厚さ２ｍのアルミニウム板から成っている。また
このアルミニウム板の幅寸法ＷはＸ線ビームのファン角
度θを十分にカバーするような値に泗ばれる。このよう
な上部散乱体１８は、通常はＸ線ビームの進路を遮蔽す
ることなくここから後退した位置に保持されており、必
要に応じて結合機構１９によってコリメータ１２の下方
の位置のＸ線ビームの進路に進出して進路を遮蔽するよ
うに配置されている。上部散乱体１８の進出する位置は
結合機構１９の動きにより正確に制御されるように構成
されている。

次に本実施例の作用を説明する。

従来のＸ線ＣＴ装置にあける散乱線検出器の感度校正を
行う場合のステップ■、■のように、散乱線検出器１７
の交換の前後において各々の散乱線検出器の出力を測定
しようとするとき、結合は構１９を働かせることにより
上部散乱体１８をＸ線ビームの通路に進出させる。次に
上部散乱体１Ｂをスキャンすることにより、前述のよう
に散乱線検出器の出力ａｒ）−１及びａｌを得ることが
できる。スキャン終了後は再び結合機構１９を動かせる
ことにより上部散乱体１８をＸ線ビームの通路から後退
させる。

来のように必要な都度位置決めすることは不要となり、
又標準散乱体のように常に用意しておく必要はなくなる
。ざらに上部散乱体１８として比較的Ｘ線吸収が少ない
材料を用い、Ｘ線ビームのファン角度を十分にカバーす
るような形状に構成することによって、散乱線検出器に
対してなめらかな分布で散乱線を入射させることができ
る。従って精度の良い散乱線検出器の校正を行うことが
できる。

［発明の効果］ 以上述べたように本発明によれば、Ｘ線源に一体的に上
部散乱体を設けるようにしたので、精度の良い散乱線検
出器の校正を行うことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明実施例のＸ線ＣＴ装置を示す正面図、第
２図は従来のＸ線ＣＴ装置を示す正面図、第３図は従来
のＸ線ＣＴ装置を示す斜視図で１７・・・散乱線検出器
、１８・・・上部散乱体、１９・・・結合機構。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. Ｘ線源から直線的に被検体を透過してきたＸ線を検出す
   る主検出器及びこれに近接して配置され前記Ｘ線以外の
   その他のＸ線を検出する散乱線検出器を有するＸ線ＣＴ
   装置において、Ｘ線源にこれと一体的に被検体の周囲を
   回転するように設けられた上部散乱体を備え、この上部
   散乱体は必要に応じてＸ線ビームの進路に進出可能に構
   成されたことを特徴とするＸ線ＣＴ装置。