JPS6344732A - テ−プキヤリアの製造方法 - Google Patents

テ−プキヤリアの製造方法

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Publication number
JPS6344732A
JPS6344732A JP61188038A JP18803886A JPS6344732A JP S6344732 A JPS6344732 A JP S6344732A JP 61188038 A JP61188038 A JP 61188038A JP 18803886 A JP18803886 A JP 18803886A JP S6344732 A JPS6344732 A JP S6344732A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inner lead
tape carrier
pattern
dummy pattern
etching
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP61188038A
Other languages
English (en)
Inventor
Sadasumi Uchiyama
内山 貞住
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP61188038A priority Critical patent/JPS6344732A/ja
Publication of JPS6344732A publication Critical patent/JPS6344732A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/50Tape automated bonding [TAB] connectors, i.e. film carriers; Manufacturing methods related thereto

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はテープキャリアの製造方法に関する。
〔従来の技術〕
従来、インナーリードを有するテープキャリアの製造方
法としては、エツチングマスクとして第4図のようなマ
スクパターンを導体箔5上に形成し、またエツチングの
除虫ずるインナーリード幅のバラツキを抑制するため、
インナーリードパターン1に適当な補正蓋を付加してい
た。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかし従来技術では、インナーリードの間隙が不揃いで
ある場合は、エツチングの際のエツチング液の染み込み
や流れの違いによる各部分でのエツチング速度の相違を
考慮して個別にインナーリードパターン1の補正をする
ことは困難であり、その結果インナーリード幅に大きな
バラツキを生ずるという問題点があった。
そこで本発明はこのような問題点を解決するもので、そ
の目的はインナー−ナート幅のバラツキを極力少なくす
ることのできるテープキャリアの製造方法を提供すると
ころにあ・る。
〔問題点を解決するだめの手段〕
本発明は、樹j等からなる絶縁フィルムの開孔部に突出
するインナーリードを有するテープキャリアの製造方法
において、前記開孔部内にあってかつ隣接する前記イン
ナーリードとの間隙が全て等しくなるようなダミーパタ
ーンを形成すると共にそれを除去することを特徴とする
〔実施例〕
第1図及び第2図は本発明の一実施例におけろテープキ
ャリアの導体箔5上に形成するマスクパターンのインナ
ーリード部を示す図である。導体箔5は開孔部3を有す
る絶縁フィルム4上に貼付されている。ここではインナ
ーリードパターン1と隣接するパターンとの間隙を等し
くするため、ダミーパターン2が形成されている。また
このダミーパターン2は、インナーリード完成時には取
シ除かれるように、絶縁フィルム4の開孔部3の内側に
形成されている。通常これらのマスクパターンはフォト
工程によって得られ、この後図示しないが、裏面からの
エツチングを防ぐため開孔部3に保護レジストが塗布さ
れ、エツチング工程。
レジスト除去工程を経てインナーリードが形成されろ。
マスクパターンにこのようなダミーパターン2を設ける
ことによってインナーリードパターン1の周囲の間隙を
全て等しくすることにより、間隙の違いによるサイドエ
ッチ量の差(間隙の広い部分は狭い部分に比べてエツチ
ング液が染み込み易くまた液の循環も活発なため、エツ
チング速度が速く従りてサイドエッチ量も多い)を取、
!7除くことができ、インナーリード1福のバラツキを
小さくすることが可能である。
またダミーパターン2がない場合、インナーリードの先
端が開放されているためにエツチング液の流れがインナ
ーリードの先端に行く程活発になって先細りになり易か
ったものをダミーパターン2を設けてこれを防止するこ
とにより、インナーリードの形状を安定化することがで
きる。しかもこのダミーパターン2はレジスト除去工程
において除去されるため、後工程に何ら悪影響を及ぼす
ことはない。
尚、インナーリードパターン1とダミーパターン2との
間隙は、インナーリードパターン1間の間隙により適宜
に設定する。またダミーパターン2の形状は第1図に限
られるものではなく、第3図のように細分化するなど任
意の形状が可能である。
第5図、第6図は本発明のテープキャリア6を用いて、
半導体素子7をボンディングした半導体装置8の平面図
および組立断面図である。
〔発明の効果〕
以上述べたように本発明によれば、隣接するインナーリ
ードとの間隙を全て等しくなるようなダミーパターンを
形成することにより、インナーリードパターンの幅のバ
ラツキが少なく、形状の安定したテープキャリアが得ら
れ、更にそのテープキャリアを用いることにより半導体
素子との安定したボンディングが行なえるという効果を
有する
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のテープキャリアの製造方法におけるマ
スクパターンの一実施例を示す平面図、@2図は第1図
におけるA=A断面図、第3図は他の実施例を示す平面
図、第4図は従来のテープキャリアの製造方法におけろ
マスクパターンを示す平面図、第5図は本発明のテープ
キャリアを用いた半導体装置を示す平面図、第6図は同
組立断面図である。 1・・・・・・インナーリードパターン2・・・・・・
ダミーパターン 3・・・・・・開孔部 4・・・・・・絶縁フィルム 5・・・・・・導体箔 6・・・・・・テープキャリア 7・・・・・・半導体素子 8・・・・・・半導体装置 以  上 出願人 セイコーエプソン株式会社 弔う図 昂牛図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 樹脂等からなる絶縁フィルムの開孔部に突出するインナ
    ーリードを有するテープキャリアの製造方法において、
    前記開孔部内にあってかつ隣接する前記インナーリード
    との間隙が全て等しくなるようなダミーパターンを形成
    すると共にそれを除去することを特徴とするテープキャ
    リアの製造方法。
JP61188038A 1986-08-11 1986-08-11 テ−プキヤリアの製造方法 Pending JPS6344732A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03131047A (ja) * 1989-10-17 1991-06-04 Toshiba Corp Tabテープ
US6420660B1 (en) * 1998-04-09 2002-07-16 Koninklijke Philips Electronics Film used as a substrate for integrated circuits
JP2008091706A (ja) * 2006-10-03 2008-04-17 Hitachi Cable Ltd Tabテープの製造方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5416179A (en) * 1977-07-07 1979-02-06 Toshiba Corp Production of film carrier for integrated circuit elements

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