JPS6344470B2 - - Google Patents
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- JPS6344470B2 JPS6344470B2 JP55093075A JP9307580A JPS6344470B2 JP S6344470 B2 JPS6344470 B2 JP S6344470B2 JP 55093075 A JP55093075 A JP 55093075A JP 9307580 A JP9307580 A JP 9307580A JP S6344470 B2 JPS6344470 B2 JP S6344470B2
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- 239000000463 material Substances 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 5
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- 238000010304 firing Methods 0.000 description 2
- 239000010953 base metal Substances 0.000 description 1
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Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K9/00—Arc welding or cutting
- B23K9/09—Arrangements or circuits for arc welding with pulsed current or voltage
- B23K9/091—Arrangements or circuits for arc welding with pulsed current or voltage characterised by the circuits
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Arc Welding Control (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明はパルスアーク溶接機に係り、特にそ
のベース電流の供給に関するものである。
のベース電流の供給に関するものである。
従来、この種の溶接機として、第1図に示すも
のがあつた。図において1はパルス電流供給源、
2はベース電流供給源で、各々は出力端を並列に
接続され、後述のアーク部に導かれる。3は消耗
電極ワイヤ、4は母材、5はワイヤ3と母材4の
間に発生にするアーク部である。
のがあつた。図において1はパルス電流供給源、
2はベース電流供給源で、各々は出力端を並列に
接続され、後述のアーク部に導かれる。3は消耗
電極ワイヤ、4は母材、5はワイヤ3と母材4の
間に発生にするアーク部である。
第2図は第1図の装置にて得られるアーク部5
の電流の概要を説明するためのものである。パル
ス電流供給源1より供給されるパルス電流は第2
図aに模型を示す形式のもので、波高値の高いこ
の電流により、パルス期間(第2図aのTp期間)
にワイヤ3の先端部を溶融離脱させて、母材4に
移行させ溶接を行うものであるが、パルス電流供
給源1のみの場合、休止期間(第2図aのTB期
間)では電流を供給しないため、アーク5の維持
が不可能となり、アーク切れを発生し溶接不良を
起す。それ故、休止期間中でもアークを持続させ
るため、アーク負荷すなわちアーク部5と並列に
ベース電流供給源2を接続し、常にアーク部5へ
ベース電流供給源2よりアークが持続するに足る
値以上のベース電流(第2図b)を供給してい
る。つまり第2図cに示すようにこのベース電流
にパルス電流を加える形で、パルス電流供給源1
より上述の波高値の高い電流を供給し、初期の目
的(ワイヤ3と母材4が接触することなくワイヤ
3の先端部を溶かして母材4へ移行させること)
を達成しようとしているものである。
の電流の概要を説明するためのものである。パル
ス電流供給源1より供給されるパルス電流は第2
図aに模型を示す形式のもので、波高値の高いこ
の電流により、パルス期間(第2図aのTp期間)
にワイヤ3の先端部を溶融離脱させて、母材4に
移行させ溶接を行うものであるが、パルス電流供
給源1のみの場合、休止期間(第2図aのTB期
間)では電流を供給しないため、アーク5の維持
が不可能となり、アーク切れを発生し溶接不良を
起す。それ故、休止期間中でもアークを持続させ
るため、アーク負荷すなわちアーク部5と並列に
ベース電流供給源2を接続し、常にアーク部5へ
ベース電流供給源2よりアークが持続するに足る
値以上のベース電流(第2図b)を供給してい
る。つまり第2図cに示すようにこのベース電流
にパルス電流を加える形で、パルス電流供給源1
より上述の波高値の高い電流を供給し、初期の目
的(ワイヤ3と母材4が接触することなくワイヤ
3の先端部を溶かして母材4へ移行させること)
を達成しようとしているものである。
第3図は第1図の従来のものをより具体的な回
路図で示したものである。この第3図において一
点鎖線で囲まれている部分1は第1図のパルス電
流供給源1と機能的に対応し、破線で囲まれてい
る部分2は第1図のベース電流供給源2と機能的
に対応する。また3〜5も同様に第1図のそれと
各々対応する。また、6は変圧器の一次巻線、7
は変圧器の絶縁された二次巻線、8〜10は二次
巻線7の平衡タツプに接続された位相制御素子、
11は二次巻線7の不平衡巻線に接続された位相
制御素子、12は電流の急激な変化を抑制するた
めのリアクトルとして作用するインダクタンス素
子である。従つて、位相制御素子8,9,10の
点弧位相を制御することにより、上述のベース電
流値を制御調整でき、同じく位相制御素子11の
点弧位相を制御することにより、上述のパルス電
流値を制御調整できるものである。
路図で示したものである。この第3図において一
点鎖線で囲まれている部分1は第1図のパルス電
流供給源1と機能的に対応し、破線で囲まれてい
る部分2は第1図のベース電流供給源2と機能的
に対応する。また3〜5も同様に第1図のそれと
各々対応する。また、6は変圧器の一次巻線、7
は変圧器の絶縁された二次巻線、8〜10は二次
巻線7の平衡タツプに接続された位相制御素子、
11は二次巻線7の不平衡巻線に接続された位相
制御素子、12は電流の急激な変化を抑制するた
めのリアクトルとして作用するインダクタンス素
子である。従つて、位相制御素子8,9,10の
点弧位相を制御することにより、上述のベース電
流値を制御調整でき、同じく位相制御素子11の
点弧位相を制御することにより、上述のパルス電
流値を制御調整できるものである。
しかしながら、これら第1図および第3図に示
す従来のものは、いずれもベース電流の供給のた
め、パルス電流供給源1とは独立した別個の電源
つまりベース電流供給源2が必要であることを示
しており、従来装置はその構成が複雑でかつ高価
となる欠点を有していた。
す従来のものは、いずれもベース電流の供給のた
め、パルス電流供給源1とは独立した別個の電源
つまりベース電流供給源2が必要であることを示
しており、従来装置はその構成が複雑でかつ高価
となる欠点を有していた。
この欠点を改善するため第4図に示すようなパ
ルスアーク溶接装置が提案されている(特公昭54
−40500号公報参照)。
ルスアーク溶接装置が提案されている(特公昭54
−40500号公報参照)。
この第4図に示すものは、1個の直流電源13
の出力回路の正側端子に直列にベース電流供給用
抵抗23を接続して、又この抵抗23にトランジ
スタ20とバランス抵抗21とのパルス電流供給
用直列体を並列接続し、もつて1個の直流電源1
3でパルス電流とベース電流とを得ることができ
るようにしたものである。なお第4図中、22は
トランジスタ20の制御回路である。
の出力回路の正側端子に直列にベース電流供給用
抵抗23を接続して、又この抵抗23にトランジ
スタ20とバランス抵抗21とのパルス電流供給
用直列体を並列接続し、もつて1個の直流電源1
3でパルス電流とベース電流とを得ることができ
るようにしたものである。なお第4図中、22は
トランジスタ20の制御回路である。
ところが、この第4図に示すものは、ベース電
流供給用抵抗23にてベース電流を生成するもの
であるので、その抵抗23として大電力用抵抗を
要し、いま仮に直流電源電圧を70V、ベース電流
を50Aとしたとき、その抵抗23で3.5KWの発熱
ロスとなつた。
流供給用抵抗23にてベース電流を生成するもの
であるので、その抵抗23として大電力用抵抗を
要し、いま仮に直流電源電圧を70V、ベース電流
を50Aとしたとき、その抵抗23で3.5KWの発熱
ロスとなつた。
又、垂下特性を示すので、アーク長変動が生じ
たとき、ベース電流が変動し、アーク切れを起こ
すおそれがあつた。
たとき、ベース電流が変動し、アーク切れを起こ
すおそれがあつた。
この発明は上述の欠点を改善するためになされ
たもので、1個の直流電源からパルス電流とベー
ス電流とを生成するものにおいて、大電力用抵抗
を用いることなくベース電流を生成できるパルス
アーク溶接機を提供しようとするものである。
たもので、1個の直流電源からパルス電流とベー
ス電流とを生成するものにおいて、大電力用抵抗
を用いることなくベース電流を生成できるパルス
アーク溶接機を提供しようとするものである。
第5図はこの発明の一実施例を示すものであり
図中13は直流電源、14,15は第1、第2の
スイツチング素子で、図示例ではトランジスタと
して示してある。16,17はこのスイツチング
素子14,15にそれぞれ接続された第1、第2
のインダクタンス素子で、電流の急激な変化を抑
えるためのものである。18,19はスイツチン
グ素子14,15の開放期間時に上記インダクタ
ンス素子16,17等のリアクタンス分により生
じる続流を環流するための第1、第2のダイオー
ドである。また、3は電極ワイヤ、4は母材、5
はアーク部で上記従来のそれと同一であり、また
この部分には第6図cに示すような電流が供給さ
れる。
図中13は直流電源、14,15は第1、第2の
スイツチング素子で、図示例ではトランジスタと
して示してある。16,17はこのスイツチング
素子14,15にそれぞれ接続された第1、第2
のインダクタンス素子で、電流の急激な変化を抑
えるためのものである。18,19はスイツチン
グ素子14,15の開放期間時に上記インダクタ
ンス素子16,17等のリアクタンス分により生
じる続流を環流するための第1、第2のダイオー
ドである。また、3は電極ワイヤ、4は母材、5
はアーク部で上記従来のそれと同一であり、また
この部分には第6図cに示すような電流が供給さ
れる。
なお、第6図aと第6図bとの電流立上り、立
下がり勾配より明らかなように、ベース電流を供
給する回路側に挿入されるインダクタンス素子1
7の値は、パルス電流を供給する回路側に挿入さ
れるインダクタンス素子16の値により大きなも
のとなつており、又その値は後述する如く、アー
ク維持が可能な大きな値となつている。
下がり勾配より明らかなように、ベース電流を供
給する回路側に挿入されるインダクタンス素子1
7の値は、パルス電流を供給する回路側に挿入さ
れるインダクタンス素子16の値により大きなも
のとなつており、又その値は後述する如く、アー
ク維持が可能な大きな値となつている。
このようにインダクタンス素子17とインダク
タンス素子16との値を異ならせるのは次の理由
による。
タンス素子16との値を異ならせるのは次の理由
による。
即ち、インダクタンス素子16の値を、インダ
クタンス素子17の値(アーク維持が可能な大き
な値)と同等にすると、パルス電流の立上り、立
下がり勾配がゆるやかなものとなり、所定時間内
に臨界電流(スプレー移行に必要な電流)以上に
ならなかつたり、所定時間内にベース電流値まで
低下しない(パルスアーク溶接とならず、一般の
アーク溶接となる)等の不都合を生じるからであ
る。
クタンス素子17の値(アーク維持が可能な大き
な値)と同等にすると、パルス電流の立上り、立
下がり勾配がゆるやかなものとなり、所定時間内
に臨界電流(スプレー移行に必要な電流)以上に
ならなかつたり、所定時間内にベース電流値まで
低下しない(パルスアーク溶接とならず、一般の
アーク溶接となる)等の不都合を生じるからであ
る。
次にその動作について説明すると、第5図にお
いて、直流電源13の出力端子間に接続されたス
イツチング素子14、インダクタンス素子16、
電極ワイヤ3、アーク部5、母材4およびスイツ
チング素子14に直列で、インダクタンス素子1
6、電極ワイヤ3、アーク部5、母材4に並列に
接続されたダイオード18にて構成される回路
は、パルス電流を供給するための回路であり、そ
の動作はスイツチング素子14を閉状態にするこ
とにより、電流は回路図中の符号で13−14−
16−3−5−4−13の経路で流れ、逆に、ス
イツチング素子14を開状態にすると、インダク
タンス素子16内の磁気エネルギー放出も含め、
回路中のリアクタンス分による続流が無くなるま
で、電流は16−3−5−4−18−16の経路
で流れる。従つて、スイツチング素子14の開閉
の結果、第6図aに模型的に示す電流がアーク部
5に供給される。尚、インダクタンス素子16は
パルス電流として急峻な尖頭電流波形を要求する
主旨から言えば、必ずしも必要ではなく省略して
も良いが、アーク長が急に伸びたとき(磁気吹
き、ワーク形状の影響等で発生する)、インダク
タンス素子に蓄積された電磁エネルギー(1/
2LI2)によりアーク電圧を高め、溶接電流が急
激に低下するのを防止してアーク切れを防止する
ためには、即ち実用上は必要なものである。
いて、直流電源13の出力端子間に接続されたス
イツチング素子14、インダクタンス素子16、
電極ワイヤ3、アーク部5、母材4およびスイツ
チング素子14に直列で、インダクタンス素子1
6、電極ワイヤ3、アーク部5、母材4に並列に
接続されたダイオード18にて構成される回路
は、パルス電流を供給するための回路であり、そ
の動作はスイツチング素子14を閉状態にするこ
とにより、電流は回路図中の符号で13−14−
16−3−5−4−13の経路で流れ、逆に、ス
イツチング素子14を開状態にすると、インダク
タンス素子16内の磁気エネルギー放出も含め、
回路中のリアクタンス分による続流が無くなるま
で、電流は16−3−5−4−18−16の経路
で流れる。従つて、スイツチング素子14の開閉
の結果、第6図aに模型的に示す電流がアーク部
5に供給される。尚、インダクタンス素子16は
パルス電流として急峻な尖頭電流波形を要求する
主旨から言えば、必ずしも必要ではなく省略して
も良いが、アーク長が急に伸びたとき(磁気吹
き、ワーク形状の影響等で発生する)、インダク
タンス素子に蓄積された電磁エネルギー(1/
2LI2)によりアーク電圧を高め、溶接電流が急
激に低下するのを防止してアーク切れを防止する
ためには、即ち実用上は必要なものである。
一方、直流電源13の出力端子間に接続された
スイツチング素子15、インダクタンス素子1
7、電極ワイヤ3、アーク部5、母材4、および
上記スイツチング素子15に直列で、インダクタ
ンス素子17、電極ワイヤ3、アーク部5、母材
4に並列に接続されたダイオード19にて構成さ
れる回路が、ベース電流供給回路となり、その基
本動作は上述のパルス電流回路の動作説明におい
て、スイツチング素子14を15に、インダクタ
ンス素子16を17に、ダイオード18を19に
置き換えたものと全く同一であるが、ベース電流
として要求される本来の目的、つまり電極ワイヤ
3を積極的に溶かすことなくアークを持続させる
ことを達成するために、スイツチング素子14の
閉路時間より短い閉路時間でスイツチング素子1
5を開閉している。その結果、第6図bに模型的
に示すように、ベース電流の波高値はピーク電流
の波高値より低く維持することが可能となる。こ
こで、インダクタンス素子17はスイツチング素
子15の動作遅れに起因する必要以上のベース電
流の脈動を防止するためにも必要なものである。
もし、インダクタンス素子17を除去するなら、
第7図に波形を例示するようになり、アークの安
定維持は不可能となる。たとえ、開閉周波数を上
げアークを持続させるようにしたとしてもその装
置は高価なものとなる。
スイツチング素子15、インダクタンス素子1
7、電極ワイヤ3、アーク部5、母材4、および
上記スイツチング素子15に直列で、インダクタ
ンス素子17、電極ワイヤ3、アーク部5、母材
4に並列に接続されたダイオード19にて構成さ
れる回路が、ベース電流供給回路となり、その基
本動作は上述のパルス電流回路の動作説明におい
て、スイツチング素子14を15に、インダクタ
ンス素子16を17に、ダイオード18を19に
置き換えたものと全く同一であるが、ベース電流
として要求される本来の目的、つまり電極ワイヤ
3を積極的に溶かすことなくアークを持続させる
ことを達成するために、スイツチング素子14の
閉路時間より短い閉路時間でスイツチング素子1
5を開閉している。その結果、第6図bに模型的
に示すように、ベース電流の波高値はピーク電流
の波高値より低く維持することが可能となる。こ
こで、インダクタンス素子17はスイツチング素
子15の動作遅れに起因する必要以上のベース電
流の脈動を防止するためにも必要なものである。
もし、インダクタンス素子17を除去するなら、
第7図に波形を例示するようになり、アークの安
定維持は不可能となる。たとえ、開閉周波数を上
げアークを持続させるようにしたとしてもその装
置は高価なものとなる。
なお、上記した実施例の説明では、ベース電流
として、一定周波数でスイツチング素子15を開
閉させることについて記したが、他の方法として
はベース電流値を検出し、その検出値が所定の上
限値に達した時スイツチング素子15を開状態、
逆に所定の下限値に達した時スイツチング素子1
5を閉状態とすることにより得てもよい。
として、一定周波数でスイツチング素子15を開
閉させることについて記したが、他の方法として
はベース電流値を検出し、その検出値が所定の上
限値に達した時スイツチング素子15を開状態、
逆に所定の下限値に達した時スイツチング素子1
5を閉状態とすることにより得てもよい。
又、上記実施例にあつては、パルス電流供給期
間中にスイツチング素子14のオンオフを1回行
うだけで所望のピーク値を持つパルス電流が得ら
れる場合について説明したが、1回のオンオフだ
けで所望のピーク値を持つパルス電流が得られな
い場合には、そのオンオフを繰返せば所望のピー
ク値を持つパルス電流を得ることができることは
云うまでもないない。勿論のことこの場合にあつ
ては、スイツチング素子14の閉時間とスイツチ
ング素子15の閉時間とが同等或いは上記実施例
と逆の関係になることもある。
間中にスイツチング素子14のオンオフを1回行
うだけで所望のピーク値を持つパルス電流が得ら
れる場合について説明したが、1回のオンオフだ
けで所望のピーク値を持つパルス電流が得られな
い場合には、そのオンオフを繰返せば所望のピー
ク値を持つパルス電流を得ることができることは
云うまでもないない。勿論のことこの場合にあつ
ては、スイツチング素子14の閉時間とスイツチ
ング素子15の閉時間とが同等或いは上記実施例
と逆の関係になることもある。
以上のようにこの発明によれば、パルス電流と
ベース電流とを交互にアーク部に供給するパルス
アーク溶接機において、1個の直流電源の1組の
出力端子間にアーク部と直列に接続された、パル
ス電流供給用スイツチング素子と第1のインダク
タンス素子との第1の直列体と、この第1の直列
体に並列接続された、ベース電流供給用スイツチ
ング素子と第2のインダクタンス素子との第2の
直列体と、上記第1のインダクタンス素子とアー
ク部と共に、閉回路を構成するように接続された
第1のダイオードと、上記第2のインダクタンス
素子とアーク部と共に閉回路を構成するように接
続された第2のダイオードとを備え、上記第2の
インダクタンス素子のインダクタンス値を、ベー
ス電流供給時にアーク維持可能であつて、上記第
1のインダクタンス素子のインダクタンス値より
大きな値とし、上記パルス電流供給用スイツチン
グ素子の開閉によりパルス電流を、上記ベース電
流供給用スイツチング素子の開閉によりベース電
流を上記アーク部に供給するように構成したので
1個の直流電源からパルス電流とベース電流とを
生成するものにあつても、大電力用抵抗を用いる
ことなくベース電流を生成でき、ひいては電力ロ
スが少なく、かつ安価で小形のパルスアーク溶接
機を得ることができる。
ベース電流とを交互にアーク部に供給するパルス
アーク溶接機において、1個の直流電源の1組の
出力端子間にアーク部と直列に接続された、パル
ス電流供給用スイツチング素子と第1のインダク
タンス素子との第1の直列体と、この第1の直列
体に並列接続された、ベース電流供給用スイツチ
ング素子と第2のインダクタンス素子との第2の
直列体と、上記第1のインダクタンス素子とアー
ク部と共に、閉回路を構成するように接続された
第1のダイオードと、上記第2のインダクタンス
素子とアーク部と共に閉回路を構成するように接
続された第2のダイオードとを備え、上記第2の
インダクタンス素子のインダクタンス値を、ベー
ス電流供給時にアーク維持可能であつて、上記第
1のインダクタンス素子のインダクタンス値より
大きな値とし、上記パルス電流供給用スイツチン
グ素子の開閉によりパルス電流を、上記ベース電
流供給用スイツチング素子の開閉によりベース電
流を上記アーク部に供給するように構成したので
1個の直流電源からパルス電流とベース電流とを
生成するものにあつても、大電力用抵抗を用いる
ことなくベース電流を生成でき、ひいては電力ロ
スが少なく、かつ安価で小形のパルスアーク溶接
機を得ることができる。
また、ベース電流を定電流特性のものとするこ
とができ、よつてアーク長が変動しても平均ベー
ス電流が変動しないものとすることができ、ひい
てはこれに起因するアーク切れを防止できる。
とができ、よつてアーク長が変動しても平均ベー
ス電流が変動しないものとすることができ、ひい
てはこれに起因するアーク切れを防止できる。
更に又、第2のインダクタンス素子のインダク
タンス値が、ベース電流供給時にアーク維持可能
な、第1のインダクタンス素子のインダクタンス
値より大きな値となつているので、第2のスイツ
チング素子の開閉により生じるベース電流の波形
のリツプルを小さいものとすることができ、ひい
てはベース電流供給時にアーク切れを起こすおそ
れがない。
タンス値が、ベース電流供給時にアーク維持可能
な、第1のインダクタンス素子のインダクタンス
値より大きな値となつているので、第2のスイツ
チング素子の開閉により生じるベース電流の波形
のリツプルを小さいものとすることができ、ひい
てはベース電流供給時にアーク切れを起こすおそ
れがない。
第1図は従来のパルスアーク溶接機を概念的に
示す説明図、第2図は第1図で得られる電流波形
を示す波形図、第3図は第1図の従来のものを具
体的に示す電源装置の説明図、第4図は他の従来
例を示す回路図、第5図はこの発明の一実施例を
示す回路図、第6図は第5図の電流波形を説明す
る波形図、第7図はベース電流において電流リツ
プルが大きく使用できないことを説明するベース
電流の波形図である。 なお、図中同一符号は同一または相当部分を示
し、3は消耗電極ワイヤ、4は母材、5はアーク
部、13は直流電源、14,15は第1、第2の
スイツチング素子、16,17は第1、第2のイ
ンダクタンス素子、18,19は第1、第2のダ
イオードである。
示す説明図、第2図は第1図で得られる電流波形
を示す波形図、第3図は第1図の従来のものを具
体的に示す電源装置の説明図、第4図は他の従来
例を示す回路図、第5図はこの発明の一実施例を
示す回路図、第6図は第5図の電流波形を説明す
る波形図、第7図はベース電流において電流リツ
プルが大きく使用できないことを説明するベース
電流の波形図である。 なお、図中同一符号は同一または相当部分を示
し、3は消耗電極ワイヤ、4は母材、5はアーク
部、13は直流電源、14,15は第1、第2の
スイツチング素子、16,17は第1、第2のイ
ンダクタンス素子、18,19は第1、第2のダ
イオードである。
Claims (1)
- 1 パルス電流とベース電流とを交互にアーク部
に供給するパルスアーク溶接機において、1個の
直流電源の1組の出力端子間にアーク部と直列に
接続された、パルス電流供給用スイツチング素子
と第1のインダクタンス素子との第1の直列体
と、この第1の直列体に並列接続された、ベース
電流供給用スイツチング素子と第2のインダクタ
ンス素子との第2の直列体と、上記第1のインダ
クタンス素子とアーク部と共に閉回路を構成する
ように接続された第1のダイオードと、上記第2
のインダクタンス素子とアーク部と共に閉回路を
構成するように接続された第2のダイオードとを
備え上記第2のインダクタンス素子のインダクタ
ンス値を、ベース電流供給時にアーク維持可能で
あつて、上記第1のインダクタンス素子のインダ
クタンス値より大きな値とし、上記パルス電流供
給用スイツチング素子の開閉によりパルス電流
を、上記ベース電流供給用スイツチング素子の開
閉によりベース電流を上記アーク部に供給するこ
とを特徴とするパルスアーク溶接機。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9307580A JPS5719168A (en) | 1980-07-08 | 1980-07-08 | Pulse arc welding machine |
US06/281,530 US4425493A (en) | 1980-07-08 | 1981-07-08 | Pulse arc welding machine |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9307580A JPS5719168A (en) | 1980-07-08 | 1980-07-08 | Pulse arc welding machine |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5719168A JPS5719168A (en) | 1982-02-01 |
JPS6344470B2 true JPS6344470B2 (ja) | 1988-09-05 |
Family
ID=14072387
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9307580A Granted JPS5719168A (en) | 1980-07-08 | 1980-07-08 | Pulse arc welding machine |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4425493A (ja) |
JP (1) | JPS5719168A (ja) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6195775A (ja) * | 1984-10-18 | 1986-05-14 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 消耗性電極溶接における突出長制御装置 |
DE3625394A1 (de) * | 1986-07-26 | 1988-02-04 | Utp Schweissmaterial | Vorrichtung und verfahren zum metall-impulslichtbogenschweissen |
DE8717257U1 (de) * | 1987-03-09 | 1989-01-05 | Castolin S.A., Lausanne-St. Sulpice, Waadt/Vaud | Vorrichtung zum Auftragschweißen sowie zur Instandhaltung metallischer Oberflächen |
JPH03240919A (ja) * | 1990-02-15 | 1991-10-28 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 伸線用鋼線材の製造方法 |
JP3387149B2 (ja) * | 1993-05-13 | 2003-03-17 | 住友金属工業株式会社 | 伸線強化高強度鋼線用線材およびその製造方法 |
US5660745A (en) | 1995-12-15 | 1997-08-26 | Illinois Tool Works Inc. | Method and apparatus for a contact start plasma cutting process |
US5811757A (en) * | 1996-02-29 | 1998-09-22 | The Esab Group, Inc. | Power source including parallel switching circuits and related methods for a welding or cutting system |
US6087626A (en) * | 1998-02-17 | 2000-07-11 | Illinois Tool Works Inc. | Method and apparatus for welding |
US7573000B2 (en) * | 2003-07-11 | 2009-08-11 | Lincoln Global, Inc. | Power source for plasma device |
RU2471004C1 (ru) * | 2011-12-16 | 2012-12-27 | Открытое акционерное общество "Магнитогорский метизно-калибровочный завод "ММК-МЕТИЗ" | Способ производства стальной высокопрочной наноструктурированной арматуры |
US20140021183A1 (en) * | 2012-07-19 | 2014-01-23 | Lincoln Global Inc. | Method and system for gas metal arc welding and a contact tip used for the same |
-
1980
- 1980-07-08 JP JP9307580A patent/JPS5719168A/ja active Granted
-
1981
- 1981-07-08 US US06/281,530 patent/US4425493A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4425493A (en) | 1984-01-10 |
JPS5719168A (en) | 1982-02-01 |
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