JPS6344014Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6344014Y2 JPS6344014Y2 JP1981043930U JP4393081U JPS6344014Y2 JP S6344014 Y2 JPS6344014 Y2 JP S6344014Y2 JP 1981043930 U JP1981043930 U JP 1981043930U JP 4393081 U JP4393081 U JP 4393081U JP S6344014 Y2 JPS6344014 Y2 JP S6344014Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- width
- collimator
- variable
- ray detector
- Prior art date
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- Expired
Links
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims description 16
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims description 16
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 4
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000013139 quantization Methods 0.000 description 1
- 238000003325 tomography Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
本考案は、Ｘ線幅可変型コリメータを備えたコ
ンピユータ使用のＸ線断層撮影装置（以下CT装
置という）に関するものである。 従来のCT装置は、第１図に示すように、Ｘ線
管１からのＸ線をコリメータ２で所定のＸ線幅に
制御して被写体３に照射し、Ｘ線検出器４に入射
しているため、Ｘ線検出器４は所定の幅を持たざ
るを得ない。その結果、小さな被写体では最終画
像がぼけてしまう。そこで、より高分解能の画像
を得るためには、Ｘ線コリメータ幅を狭めて断層
像を得ることが考えられるが、Ｘ線コリメータ幅
を狭めると、Ｘ線検出器４の出力信号が低下する
ため、Ｓ／Ｎの悪化、コントラスト分解能の低下
等の欠点があつた。また、Ｘ線出力を増加すれば
よいことが考えられるが、これもＸ線曝射時間待
ちの増加、Ｘ線管の寿命の低下等の欠点があつ
た。 本考案の目的は、前記欠点を除去し、能率的な
スキヤンと良好なCT像を得るCT装置を提供する
ことにある。 本考案の特徴は、Ｘ線幅可変型コリメータを設
け、このコリメータの幅に対応してＸ線検出器積
分出力の増幅コリメータの幅に対応してＸ線検出
器積分出力の増幅利得を変化させ、常にアナログ
デイジタル変換器の入力ダイナミツクレンジを一
定に保持するようにしたことにある。 以下、実施例により本考案を詳細に説明する。 第２図は、本考案の一実施例の構成を示す図で
ある。図中、１１はＸ線源、１２は複数種のＸ線
幅設定可能なＸ線幅可変型コリメータであり、例
えば、Ｘ線幅が10mm、５mm、３mm、１mm等が設定
できるものである。１３は被写体、１４は被写体
１３を透過したＸ線を検出するためのＸ線検出器
であり、多数の検出エレメントからなつている。
このＸ線検出器１４はＸ線源１１と対向して設け
られている。１５は前記Ｘ線検出器１４の各検出
エレメントの出力を積分するための積分器、１６
はマルチプレクサであり、前記Ｘ線検出器１４の
各検出エレメントの出力を順次送り出すためのも
のである。１７は積分器５の出力を増幅するため
の積分器出力増幅回路であり、１８は前記Ｘ線幅
可変型コリメータ１２のコリメータ幅設定とその
設定されたコリメータ幅に対応して積分器出力増
幅回路１７の増幅利得（ゲイン）を設定する増幅
利得制御回路、１９はアナログデイジタル
（AD）変換回路、２０は画像再生回路である。 ここで、前記Ｘ線幅可変型コリメータ１２のコ
リメータ幅、積分器出力増幅回路１７の増幅利
得、アナログデイジタル変換器１９の入力ダイナ
ミツクレンジの一実施例を示すと、
ンピユータ使用のＸ線断層撮影装置（以下CT装
置という）に関するものである。 従来のCT装置は、第１図に示すように、Ｘ線
管１からのＸ線をコリメータ２で所定のＸ線幅に
制御して被写体３に照射し、Ｘ線検出器４に入射
しているため、Ｘ線検出器４は所定の幅を持たざ
るを得ない。その結果、小さな被写体では最終画
像がぼけてしまう。そこで、より高分解能の画像
を得るためには、Ｘ線コリメータ幅を狭めて断層
像を得ることが考えられるが、Ｘ線コリメータ幅
を狭めると、Ｘ線検出器４の出力信号が低下する
ため、Ｓ／Ｎの悪化、コントラスト分解能の低下
等の欠点があつた。また、Ｘ線出力を増加すれば
よいことが考えられるが、これもＸ線曝射時間待
ちの増加、Ｘ線管の寿命の低下等の欠点があつ
た。 本考案の目的は、前記欠点を除去し、能率的な
スキヤンと良好なCT像を得るCT装置を提供する
ことにある。 本考案の特徴は、Ｘ線幅可変型コリメータを設
け、このコリメータの幅に対応してＸ線検出器積
分出力の増幅コリメータの幅に対応してＸ線検出
器積分出力の増幅利得を変化させ、常にアナログ
デイジタル変換器の入力ダイナミツクレンジを一
定に保持するようにしたことにある。 以下、実施例により本考案を詳細に説明する。 第２図は、本考案の一実施例の構成を示す図で
ある。図中、１１はＸ線源、１２は複数種のＸ線
幅設定可能なＸ線幅可変型コリメータであり、例
えば、Ｘ線幅が10mm、５mm、３mm、１mm等が設定
できるものである。１３は被写体、１４は被写体
１３を透過したＸ線を検出するためのＸ線検出器
であり、多数の検出エレメントからなつている。
このＸ線検出器１４はＸ線源１１と対向して設け
られている。１５は前記Ｘ線検出器１４の各検出
エレメントの出力を積分するための積分器、１６
はマルチプレクサであり、前記Ｘ線検出器１４の
各検出エレメントの出力を順次送り出すためのも
のである。１７は積分器５の出力を増幅するため
の積分器出力増幅回路であり、１８は前記Ｘ線幅
可変型コリメータ１２のコリメータ幅設定とその
設定されたコリメータ幅に対応して積分器出力増
幅回路１７の増幅利得（ゲイン）を設定する増幅
利得制御回路、１９はアナログデイジタル
（AD）変換回路、２０は画像再生回路である。 ここで、前記Ｘ線幅可変型コリメータ１２のコ
リメータ幅、積分器出力増幅回路１７の増幅利
得、アナログデイジタル変換器１９の入力ダイナ
ミツクレンジの一実施例を示すと、
【表】
次に、本実施例の動作を説明する。
Ｘ線源１１からＸ線を発生する前に、増幅利得
制御回路１８によつて、Ｘ線幅可変型コリメータ
１２のコリメータ幅を所定幅に設定し、この設定
されたコリメータ幅に対応して積分器出力増幅回
路１７の増幅利得を設定する。その後Ｘ線源１１
からＸ線を発生させて通常の測定を行う。この通
常の測定は従来のものと変わらないので、その説
明はここでは省略する。また、被写体１３の大き
さによつてＸ線幅を変えたときは、前記Ｘ線幅可
変型コリメータ１２のコリメータ幅を変えればよ
い。このコリメータ幅の変化に対応して積分器出
力増幅回路１７の増幅利得も変化する。 CT装置のＸ線検出回路系における総合ノイズ
NTは、回路ノイズをNe（回路ノイズNeは、アナ
ログ最終段であるサンプルホールド、アナログデ
イジタル変換でのノイズが主要をしめている）、
Ｘ線カンタムノイズをNcとすると、次式で表わ
される。 NT＝√2＋2 …(1) 例えば、Ｘ線幅を狭めてＸ線検出器出力が半分
になつた場合のＳ／Ｎは、次式で表わされる。 Ｓ／Ｎ＝Ｓ／２√2＋（2２）2…(2) この式(2)の場合に積分器出力増幅回路１７の増
幅利得を２倍にし、アナログデイジタル変換器１
９の入力ダイナミツクレンジを一定にすると、 〔Ｓ／Ｎ〕２倍＝Ｓ／√2＋2 ＝Ｓ／２√（２）2＋（２）2 となり、回路ノイズNeは実施前に比べて1/2、
Ｓ／Ｎにおける寄与率では１／√２倍改善され
る。即ち、回路ノイズNeは前記（ ）内に記載
したように、アナログ最終段であるサンプルホー
ルド、アナログデイジタル変換でのノイズが主要
であるから、本考案のように、Ｘ線幅に対応して
Ｘ線検出器積分出力増幅器の増幅利得を変化さ
せ、アナログデイジタル変換器の入力ダイナミツ
クレンジを常に一定に保持することにより、Ｘ線
曝射時間待ちの増加、Ｘ線管寿命の低下を生ずる
ことなく、アナログデイジタル変換量の量子化エ
ラーによるＳ／Ｎの悪化及び回路ノイズ対信号出
力におけるＳ／Ｎの悪化を除去することができ
る。 したがつて、能率的なスキヤンと良好なCT像
が得られるCT装置を提供することができる。
制御回路１８によつて、Ｘ線幅可変型コリメータ
１２のコリメータ幅を所定幅に設定し、この設定
されたコリメータ幅に対応して積分器出力増幅回
路１７の増幅利得を設定する。その後Ｘ線源１１
からＸ線を発生させて通常の測定を行う。この通
常の測定は従来のものと変わらないので、その説
明はここでは省略する。また、被写体１３の大き
さによつてＸ線幅を変えたときは、前記Ｘ線幅可
変型コリメータ１２のコリメータ幅を変えればよ
い。このコリメータ幅の変化に対応して積分器出
力増幅回路１７の増幅利得も変化する。 CT装置のＸ線検出回路系における総合ノイズ
NTは、回路ノイズをNe（回路ノイズNeは、アナ
ログ最終段であるサンプルホールド、アナログデ
イジタル変換でのノイズが主要をしめている）、
Ｘ線カンタムノイズをNcとすると、次式で表わ
される。 NT＝√2＋2 …(1) 例えば、Ｘ線幅を狭めてＸ線検出器出力が半分
になつた場合のＳ／Ｎは、次式で表わされる。 Ｓ／Ｎ＝Ｓ／２√2＋（2２）2…(2) この式(2)の場合に積分器出力増幅回路１７の増
幅利得を２倍にし、アナログデイジタル変換器１
９の入力ダイナミツクレンジを一定にすると、 〔Ｓ／Ｎ〕２倍＝Ｓ／√2＋2 ＝Ｓ／２√（２）2＋（２）2 となり、回路ノイズNeは実施前に比べて1/2、
Ｓ／Ｎにおける寄与率では１／√２倍改善され
る。即ち、回路ノイズNeは前記（ ）内に記載
したように、アナログ最終段であるサンプルホー
ルド、アナログデイジタル変換でのノイズが主要
であるから、本考案のように、Ｘ線幅に対応して
Ｘ線検出器積分出力増幅器の増幅利得を変化さ
せ、アナログデイジタル変換器の入力ダイナミツ
クレンジを常に一定に保持することにより、Ｘ線
曝射時間待ちの増加、Ｘ線管寿命の低下を生ずる
ことなく、アナログデイジタル変換量の量子化エ
ラーによるＳ／Ｎの悪化及び回路ノイズ対信号出
力におけるＳ／Ｎの悪化を除去することができ
る。 したがつて、能率的なスキヤンと良好なCT像
が得られるCT装置を提供することができる。
第１図は、従来のCT装置のＸ線コリメータと
Ｘ線検出器との関係を示す図、第２図は、本考案
の一実施例の構成を示す図である。 １１…Ｘ線源、１２…Ｘ線幅可変型コリメー
タ、１３…被写体、１４…Ｘ線検出器、１５…積
分器出力増幅回路、１６…マルチプレクサ、１７
…積分器出力増幅回路、１８…増幅利得制御回
路、１９…アナログデイジタル変換器、２０…画
像再生回路。
Ｘ線検出器との関係を示す図、第２図は、本考案
の一実施例の構成を示す図である。 １１…Ｘ線源、１２…Ｘ線幅可変型コリメー
タ、１３…被写体、１４…Ｘ線検出器、１５…積
分器出力増幅回路、１６…マルチプレクサ、１７
…積分器出力増幅回路、１８…増幅利得制御回
路、１９…アナログデイジタル変換器、２０…画
像再生回路。
Claims (1)
- Ｘ線源と、該Ｘ線源に対向して設けたＸ線検出
器と、Ｘ線源のＸ線照射方向の前に配設されたＸ
線幅可変型コリメータと、Ｘ線検出器積分出力増
幅器を有するCT装置であつて、前記Ｘ線幅可変
型コリメータのコリメータ幅に対応して前記Ｘ線
検出器積分出力増幅器の増幅利得を変化させる増
幅利得制御手段を備えたことを特徴とするＸ線幅
可変型コリメータ付CT装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1981043930U JPS6344014Y2 (ja) | 1981-03-28 | 1981-03-28 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1981043930U JPS6344014Y2 (ja) | 1981-03-28 | 1981-03-28 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57157309U JPS57157309U (ja) | 1982-10-02 |
| JPS6344014Y2 true JPS6344014Y2 (ja) | 1988-11-16 |
Family
ID=29840888
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1981043930U Expired JPS6344014Y2 (ja) | 1981-03-28 | 1981-03-28 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6344014Y2 (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5693300A (en) * | 1979-12-26 | 1981-07-28 | Toshiba Corp | Automatic diaphragm device |
-
1981
- 1981-03-28 JP JP1981043930U patent/JPS6344014Y2/ja not_active Expired
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5693300A (en) * | 1979-12-26 | 1981-07-28 | Toshiba Corp | Automatic diaphragm device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57157309U (ja) | 1982-10-02 |
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