JPS6342027A - 磁気記録媒体の製造方法 - Google Patents
磁気記録媒体の製造方法Info
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- JPS6342027A JPS6342027A JP18626286A JP18626286A JPS6342027A JP S6342027 A JPS6342027 A JP S6342027A JP 18626286 A JP18626286 A JP 18626286A JP 18626286 A JP18626286 A JP 18626286A JP S6342027 A JPS6342027 A JP S6342027A
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Landscapes
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
本発明は磁気記録装置に用いられる磁気記録媒体を製造
する方法に関する1、 〔従来技術とその問題点〕 近年、磁気記録装置に用いられる磁気ディスクなどの磁
気記録媒体はますます高記録密度となる傾向にあり、こ
れに伴い磁気記録媒体の磁性層の膜厚を便来の約1μm
程度から0.1μm以下まで薄くし、保持力(Hc)
もより高くする必要が生じている。そのため磁気記録
媒体の製造方法もサブミクロンオーダでは磁性層の膜厚
が不均一になるスピンコード法に代って、均一な薄膜を
容易に形成することが可能なスパッタ法やメツキ法が注
目されるとともに磁性層としてスパッタ法によって形成
されるCO系合金例えばCo−Ni合金磁性薄膜が使用
されるようになった。
する方法に関する1、 〔従来技術とその問題点〕 近年、磁気記録装置に用いられる磁気ディスクなどの磁
気記録媒体はますます高記録密度となる傾向にあり、こ
れに伴い磁気記録媒体の磁性層の膜厚を便来の約1μm
程度から0.1μm以下まで薄くし、保持力(Hc)
もより高くする必要が生じている。そのため磁気記録
媒体の製造方法もサブミクロンオーダでは磁性層の膜厚
が不均一になるスピンコード法に代って、均一な薄膜を
容易に形成することが可能なスパッタ法やメツキ法が注
目されるとともに磁性層としてスパッタ法によって形成
されるCO系合金例えばCo−Ni合金磁性薄膜が使用
されるようになった。
第5図にディスク状磁気記録媒体の要部構成断面図を示
す。第5図において磁気記録媒体は合金基板1上に非磁
性基体層2を被覆し、この非磁性基体層2の上にさらに
非磁性金属下地層3を介して磁性層4を被覆し、磁性層
4上に保護潤滑膜5を被覆したものである。
す。第5図において磁気記録媒体は合金基板1上に非磁
性基体層2を被覆し、この非磁性基体層2の上にさらに
非磁性金属下地層3を介して磁性層4を被覆し、磁性層
4上に保護潤滑膜5を被覆したものである。
このように構成された磁気記録媒体の合金基板1にはア
ルミニウム合金が多用されており、所定の面粗さ、平行
度および平面度に仕上げられる。
ルミニウム合金が多用されており、所定の面粗さ、平行
度および平面度に仕上げられる。
非磁性基体層2は例えばN1−P合金を無電解メツキし
た所定の硬さをもったものが用いられ表面は機械的研磨
により境面仕上げを行なう。非磁性金現下地層3は一般
にCrを用いてスパッタ法などにより形成する。
た所定の硬さをもったものが用いられ表面は機械的研磨
により境面仕上げを行なう。非磁性金現下地層3は一般
にCrを用いてスパッタ法などにより形成する。
この下地PA 3はCo系の合金薄膜磁性層4の保磁力
(Ha)や保磁力角形比(S”)を高める作用をもつも
のであり、下地層3の厚さによってもこれらの値が変化
する。しかしこのような磁気記録媒体は大きな保磁力を
得るために下地層3の膜厚を厚くすると、下地層3の膜
が大きくなるにつれて面方向の保磁力や保磁力角形比の
磁気異方性が顕著になり、そのために磁気ディスクの再
生出力のモジュレーションが発生するという問題がある
。
(Ha)や保磁力角形比(S”)を高める作用をもつも
のであり、下地層3の厚さによってもこれらの値が変化
する。しかしこのような磁気記録媒体は大きな保磁力を
得るために下地層3の膜厚を厚くすると、下地層3の膜
が大きくなるにつれて面方向の保磁力や保磁力角形比の
磁気異方性が顕著になり、そのために磁気ディスクの再
生出力のモジュレーションが発生するという問題がある
。
この点を以下に媒体の製造方法とともに説明する。第6
図はスパッタ装置におけるチャンバー内の部材配置と作
動を説明するための模屋的断面図である。第6図におい
てチャンバー6の外周に真空排気ロアとArガス導入口
8を備え、それぞれ図示してない真空排気系とArガス
ボンベに連通しておりいずれも操作バルブ9,9aを備
え、チャンバー6の内部には基板1aがとりつけられた
トレー10が配設され、基板1aと対向して基板1aを
昇温するヒーター11が置かれている。トレー10は基
板1aとともに矢印の方向に移動することができ、その
途中で下地層を形成するためのCrターゲット12とこ
の上に磁性層を形成するCo系磁性合金ターゲット13
から下地層とCO系磁性層がスパッタ形成される。
図はスパッタ装置におけるチャンバー内の部材配置と作
動を説明するための模屋的断面図である。第6図におい
てチャンバー6の外周に真空排気ロアとArガス導入口
8を備え、それぞれ図示してない真空排気系とArガス
ボンベに連通しておりいずれも操作バルブ9,9aを備
え、チャンバー6の内部には基板1aがとりつけられた
トレー10が配設され、基板1aと対向して基板1aを
昇温するヒーター11が置かれている。トレー10は基
板1aとともに矢印の方向に移動することができ、その
途中で下地層を形成するためのCrターゲット12とこ
の上に磁性層を形成するCo系磁性合金ターゲット13
から下地層とCO系磁性層がスパッタ形成される。
まず例えば直径3.5インチの円板状アルミニウム合金
板上にN1−Pメツキを均一に厚さ約15μm行ない、
これに平面ポリッシュにより表面蜆面刀口工を施したも
のをアルコール溶液で超音波法条。
板上にN1−Pメツキを均一に厚さ約15μm行ない、
これに平面ポリッシュにより表面蜆面刀口工を施したも
のをアルコール溶液で超音波法条。
クロン溶液の超音波洗条、蒸気洗条などを行なっり後、
チャンバー6内のトレー10にセットする。
チャンバー6内のトレー10にセットする。
次いでチャンバー6内を排気ロアから5X10−’ t
orrまで真空排気し、ヒーター11を用いて基板1a
を100℃に加熱保持しておき次にArガス導入口8か
らArガスを流量5 Q sccmでチャンバー6内に
流入させチャンバー6内の圧力を2X10−′torr
に設定する。この状態で基板1aを備えたトレーlOを
矢印方向に117 m/ramの速度で搬送し、Crタ
ーゲット12と磁性合金として用いたCo−308℃%
Ni−7.5at%Crターゲット13にそれぞれスパ
ッタパワーを印加することにより、基板1a上にCr下
地層とCo−30at % N i −7,5at%C
r磁性層がこの順に形成されるが、このときCr下地層
の膜厚の影響を調べるために0〜5000Aの範囲に変
化させ、磁性層は500A一定となるように各ターゲラ
) 12.13にパワーを印加する。
orrまで真空排気し、ヒーター11を用いて基板1a
を100℃に加熱保持しておき次にArガス導入口8か
らArガスを流量5 Q sccmでチャンバー6内に
流入させチャンバー6内の圧力を2X10−′torr
に設定する。この状態で基板1aを備えたトレーlOを
矢印方向に117 m/ramの速度で搬送し、Crタ
ーゲット12と磁性合金として用いたCo−308℃%
Ni−7.5at%Crターゲット13にそれぞれスパ
ッタパワーを印加することにより、基板1a上にCr下
地層とCo−30at % N i −7,5at%C
r磁性層がこの順に形成されるが、このときCr下地層
の膜厚の影響を調べるために0〜5000Aの範囲に変
化させ、磁性層は500A一定となるように各ターゲラ
) 12.13にパワーを印加する。
かくして作製されたディスクから8諺角の試料片を採取
し、試料振動型マグネットメーター(V8M)を用いて
その磁気特性を測定すると第1表の結果が得られる。
し、試料振動型マグネットメーター(V8M)を用いて
その磁気特性を測定すると第1表の結果が得られる。
第1表
第1表においてHc t 、 S zはそれぞれトレー
搬送方向の磁性層の保磁力および保磁力角形比を表わし
、Ha上、S上はそれぞれトレー搬送方向に直角な方向
の保磁力および保磁力角形比を表わすものである。第1
表かられかるように下地層の膜厚が大きくなるにつれて
磁性層の保磁力は磁化の方向に拘らず増加し、保磁力角
形比は減少するが、1−1c、とHa上との差およびS
*IとS*Lとの差は下地層の膜厚が厚くなる程大きく
なる。このことは磁性層の保持力を高めるためにはCr
下地)−の膜厚を厚くすることが有効であるが、その反
面に下地層の膜厚の増加とともに磁気異方性が顕著にな
ることを意味し、前述のようにして形成された記録媒体
を備えた磁気ディスクを用いると磁気異方性に起因する
再生出力のモジュレーションやエラービットを発生しや
すくなる。
搬送方向の磁性層の保磁力および保磁力角形比を表わし
、Ha上、S上はそれぞれトレー搬送方向に直角な方向
の保磁力および保磁力角形比を表わすものである。第1
表かられかるように下地層の膜厚が大きくなるにつれて
磁性層の保磁力は磁化の方向に拘らず増加し、保磁力角
形比は減少するが、1−1c、とHa上との差およびS
*IとS*Lとの差は下地層の膜厚が厚くなる程大きく
なる。このことは磁性層の保持力を高めるためにはCr
下地)−の膜厚を厚くすることが有効であるが、その反
面に下地層の膜厚の増加とともに磁気異方性が顕著にな
ることを意味し、前述のようにして形成された記録媒体
を備えた磁気ディスクを用いると磁気異方性に起因する
再生出力のモジュレーションやエラービットを発生しや
すくなる。
したがって磁気記録媒体としては、面方向の磁気異方性
がCr下地層の膜厚に依存することなく、所望の磁気特
性を有するものが望ましい。
がCr下地層の膜厚に依存することなく、所望の磁気特
性を有するものが望ましい。
本発明は上述の点に鑑みてなされたものであり、その目
的は高保磁力とするために下地層の膜厚を増したときも
、面方向に磁気異方性が発生することのない磁気記録媒
体の製造方法を提供することにある。
的は高保磁力とするために下地層の膜厚を増したときも
、面方向に磁気異方性が発生することのない磁気記録媒
体の製造方法を提供することにある。
本発明は1合金基板上に無電解めっきしたN1−P層の
表面にテープポリッシュによるテクスチャー加工を施し
て同心円状の多数の研磨痕を残し、このN i−P層の
上にCr下地層とCO系磁性層を連続的にスパッタ形成
することにより、Cr下地、n 膜厚の増加に伴なう磁
性層の面方向磁気異方性の発生を低減させた磁気記録媒
体としたものである。
表面にテープポリッシュによるテクスチャー加工を施し
て同心円状の多数の研磨痕を残し、このN i−P層の
上にCr下地層とCO系磁性層を連続的にスパッタ形成
することにより、Cr下地、n 膜厚の増加に伴なう磁
性層の面方向磁気異方性の発生を低減させた磁気記録媒
体としたものである。
以下本発明を実施例に基づき説明する。
第6図に示した磁気記録媒体の製造装置は連続的なスパ
ッタが可能であって量産に適したものであるが、成膜の
際各ターゲットから入射される粒子)ま基板に対して斜
め方向からスパッタされ、これは例えば磁気テープの場
合などに知られているように、磁気異方性が生ずる一つ
の原因は入射粒子の角度に起因するものと考えられ、磁
気テープなどでは寧3斜め蒸着効果により形成される磁
気異方性の大きな磁性薄膜を利用している。
ッタが可能であって量産に適したものであるが、成膜の
際各ターゲットから入射される粒子)ま基板に対して斜
め方向からスパッタされ、これは例えば磁気テープの場
合などに知られているように、磁気異方性が生ずる一つ
の原因は入射粒子の角度に起因するものと考えられ、磁
気テープなどでは寧3斜め蒸着効果により形成される磁
気異方性の大きな磁性薄膜を利用している。
しかし、本発明では磁気記録媒体の量産性は確保したま
ま、なお磁気特性の異方性を抑制しようというものであ
り、そのため非磁性基体j−のN1−Pめっき層の加工
表面を工夫している。すなわちCr下地層と磁性層を連
続スパッタする前に第1図に示すようなテープポリッシ
ュによるテクスチャー加工を施した点が従来と異なる。
ま、なお磁気特性の異方性を抑制しようというものであ
り、そのため非磁性基体j−のN1−Pめっき層の加工
表面を工夫している。すなわちCr下地層と磁性層を連
続スパッタする前に第1図に示すようなテープポリッシ
ュによるテクスチャー加工を施した点が従来と異なる。
第1図はテープポリンシュの概念図を示したものであり
、基板1bに設けられたN1−P42a上に粗さが÷2
000より細かい研磨材を固着したテープ14を配置し
、テープ14を折り曲げて形成した接触部16をカロ圧
しながら基、仮1bおよびテープ14をそれぞれ矢印方
向(こLg1転および運動させその速度を調整する。第
2図はこのポIJ ンンユにより基板1bのへ1−2層
2aの表面に形成される条痕を表わすための基板1bの
模型的な切断斜視図であり、このように研磨面は同心円
状の細かい多数の研磨成が残存するようになる。
、基板1bに設けられたN1−P42a上に粗さが÷2
000より細かい研磨材を固着したテープ14を配置し
、テープ14を折り曲げて形成した接触部16をカロ圧
しながら基、仮1bおよびテープ14をそれぞれ矢印方
向(こLg1転および運動させその速度を調整する。第
2図はこのポIJ ンンユにより基板1bのへ1−2層
2aの表面に形成される条痕を表わすための基板1bの
模型的な切断斜視図であり、このように研磨面は同心円
状の細かい多数の研磨成が残存するようになる。
本発明ではこのようにしてN1−2層2aの表面にテク
スチャー加工を施した基板1bを用いてCr下地層と磁
性層をスパッタにより積j−形成するものであるが、こ
れら薄膜の形成方法については前述したのと全く同様で
あるからその説明は省略する9゜ CO系磁性合金のターゲ7)として前述の場合と同様に
Co−3Qat%Ni−7.5at%Crを用いその他
も全く同じ条件でディスク状積層体を作製して磁気外性
を測定し第2表の結果を得た。
スチャー加工を施した基板1bを用いてCr下地層と磁
性層をスパッタにより積j−形成するものであるが、こ
れら薄膜の形成方法については前述したのと全く同様で
あるからその説明は省略する9゜ CO系磁性合金のターゲ7)として前述の場合と同様に
Co−3Qat%Ni−7.5at%Crを用いその他
も全く同じ条件でディスク状積層体を作製して磁気外性
を測定し第2表の結果を得た。
第2表
さらに第1表に示した従来の記録媒体における磁気特性
と第2表の本発明による磁気特性との比較を明らかにす
るために、両者を第3図、第4図にグラフとして表わし
た。すなわち第3図は下地層のCr膜厚に対するHcの
変化を示し、N4図は同じくS*の変化であり、いずれ
も第1表、第2表の値をプロットしたものである。なお
第3図。
と第2表の本発明による磁気特性との比較を明らかにす
るために、両者を第3図、第4図にグラフとして表わし
た。すなわち第3図は下地層のCr膜厚に対するHcの
変化を示し、N4図は同じくS*の変化であり、いずれ
も第1表、第2表の値をプロットしたものである。なお
第3図。
第4図とも本発明の特性値を×、従来の特性値を○で表
わし、第3図ではHclとHclの値の重なりを避ける
ため、Hclの方を対応する膜厚からややずらした位置
にプロットしてあり、第4図も同様にS*Lの方をやや
ずらしである。
わし、第3図ではHclとHclの値の重なりを避ける
ため、Hclの方を対応する膜厚からややずらした位置
にプロットしてあり、第4図も同様にS*Lの方をやや
ずらしである。
第3図においてCr膜厚の増加とともにHcが大きくな
るのは本発明も従来のものも同じであるが、各Cr膜厚
についてみれば本発明の万が従来よりHeは高い値を示
し、また各Cr膜厚におけるHc、とHclとの差は本
発明の方が小すく1例えばCr膜厚が500OAになっ
てもその差は従来のもののほぼ1/3程度にしかならな
い。同様のことは第4図のS についてもみられ、Cr
膜厚の増加とともにS*の減少する傾向は本発明も従来
のものも同じであるが各Cr膜厚についてS の減少の
しかたは本発明の方が小さく、またS*、とS*Lとの
差もCr膜厚が大きくなっても従来よりかなり小さい。
るのは本発明も従来のものも同じであるが、各Cr膜厚
についてみれば本発明の万が従来よりHeは高い値を示
し、また各Cr膜厚におけるHc、とHclとの差は本
発明の方が小すく1例えばCr膜厚が500OAになっ
てもその差は従来のもののほぼ1/3程度にしかならな
い。同様のことは第4図のS についてもみられ、Cr
膜厚の増加とともにS*の減少する傾向は本発明も従来
のものも同じであるが各Cr膜厚についてS の減少の
しかたは本発明の方が小さく、またS*、とS*Lとの
差もCr膜厚が大きくなっても従来よりかなり小さい。
このように本発明による磁気記録媒体の磁気異方性が小
さいのは、N1−P層の表面に接触して互に回転しなか
らN1−P層の表面を研磨することによりランダムな方
向に研磨機を生ずる従来のポリッシュと異なり、本発明
では前述のようにN1−P層表面には同心円状に研磨機
を残し、その上にCr下地層と磁性層がその微細な条痕
に追随して形成されるために、Cr下地層の厚さや磁性
層の入射粒子の角度に拘らず、磁性粒子の核の生成とそ
の成長が磁気的に等方性を付与するように進行するもの
と本発明者は推定している。
さいのは、N1−P層の表面に接触して互に回転しなか
らN1−P層の表面を研磨することによりランダムな方
向に研磨機を生ずる従来のポリッシュと異なり、本発明
では前述のようにN1−P層表面には同心円状に研磨機
を残し、その上にCr下地層と磁性層がその微細な条痕
に追随して形成されるために、Cr下地層の厚さや磁性
層の入射粒子の角度に拘らず、磁性粒子の核の生成とそ
の成長が磁気的に等方性を付与するように進行するもの
と本発明者は推定している。
不発明の方法が適用される磁気記録媒体は前述のように
各層の積層体であるが、磁気異方性を小さくするために
、と(にN1−P層にテクスチャー加工を施すのは次の
理由による。
各層の積層体であるが、磁気異方性を小さくするために
、と(にN1−P層にテクスチャー加工を施すのは次の
理由による。
例えば基板上にテクスチャー加工を行なうと、N1−p
層と下地jiの界面にテクスチャー加工の痕跡とは異な
る突起が生じ、この媒体使用時にはへノドとの隙間が0
.3μm程度と極めて小さいので、ヘッドクラッシュを
生じヘッドが突起に衝突して媒体表面を損傷する。一方
Cr下地層の表面にテクスチャーカロエを施すのは、媒
体製造過程におけるCrのスパッタからCO系合金のス
パッタに移る時間間隔は、3分以内に留めねばならず、
それ以上時間がかかると媒体のHcが低下するので、C
r下地層にテクスチャー加工を行なう余裕はない。切部
大気中の加工は不可能である。
層と下地jiの界面にテクスチャー加工の痕跡とは異な
る突起が生じ、この媒体使用時にはへノドとの隙間が0
.3μm程度と極めて小さいので、ヘッドクラッシュを
生じヘッドが突起に衝突して媒体表面を損傷する。一方
Cr下地層の表面にテクスチャーカロエを施すのは、媒
体製造過程におけるCrのスパッタからCO系合金のス
パッタに移る時間間隔は、3分以内に留めねばならず、
それ以上時間がかかると媒体のHcが低下するので、C
r下地層にテクスチャー加工を行なう余裕はない。切部
大気中の加工は不可能である。
さらに磁性層自体にテクスチャー加工するのは、磁性層
の厚さは通常500〜700Aであり、最大でも100
OAであるからこれも不可能である。これらのことを考
慮すると、本発明はN i −P層にテクスチャー加工
を施すことにより、はじめて達成されるものであること
がわかる。
の厚さは通常500〜700Aであり、最大でも100
OAであるからこれも不可能である。これらのことを考
慮すると、本発明はN i −P層にテクスチャー加工
を施すことにより、はじめて達成されるものであること
がわかる。
以上のことから、N i−Pめつき層にテープポリッシ
ュによるテクスチャー加工を行った後、Cr下地層とC
O系合金磁性ノーをこの順にスパッタ形成した本発明に
よる磁気記録媒体は高い保磁力が得られるとともに磁気
異方性の発生を抑制することができ、記録媒体として好
ましい磁気特性を備えたものとなる。
ュによるテクスチャー加工を行った後、Cr下地層とC
O系合金磁性ノーをこの順にスパッタ形成した本発明に
よる磁気記録媒体は高い保磁力が得られるとともに磁気
異方性の発生を抑制することができ、記録媒体として好
ましい磁気特性を備えたものとなる。
基板上に非磁性基体層(Ni−P)、下地層(Cr)、
磁性層(Co系合金)および表面保護膜をこの順に積層
形成した磁気記録媒体は磁気特性が下地層の膜厚に依存
し、下地層膜厚の増力口とともに保磁力は高くなるが磁
気異方性は顕著になるという問題があったのに対し、本
発明によれば実施例で述べたごと<、N1−P層の表面
研磨に関して、従来多用されているランダムな方向の研
磨機を発生する平面研磨盤による加工の代りに、研磨材
を固着したテープを走向させ、これに回転基板上のN
i−P層表面を押し当てテクスチャーカロエを施すこと
により、Ni−PM!表面に同心円状の細だい条痕を多
数形成させて、その上に下地層と磁性層を連続スパッタ
するようにしたため、N1−P層と下地層、下地層と磁
性層の両売面が下地層の厚さに拘らず磁気異方性が生ず
るのを抑制するように作用し、その結果下地層の厚さを
増し高い保磁力を付与させたときも磁気異方性の小さい
すぐれた磁気記録媒体を得ることができる。
磁性層(Co系合金)および表面保護膜をこの順に積層
形成した磁気記録媒体は磁気特性が下地層の膜厚に依存
し、下地層膜厚の増力口とともに保磁力は高くなるが磁
気異方性は顕著になるという問題があったのに対し、本
発明によれば実施例で述べたごと<、N1−P層の表面
研磨に関して、従来多用されているランダムな方向の研
磨機を発生する平面研磨盤による加工の代りに、研磨材
を固着したテープを走向させ、これに回転基板上のN
i−P層表面を押し当てテクスチャーカロエを施すこと
により、Ni−PM!表面に同心円状の細だい条痕を多
数形成させて、その上に下地層と磁性層を連続スパッタ
するようにしたため、N1−P層と下地層、下地層と磁
性層の両売面が下地層の厚さに拘らず磁気異方性が生ず
るのを抑制するように作用し、その結果下地層の厚さを
増し高い保磁力を付与させたときも磁気異方性の小さい
すぐれた磁気記録媒体を得ることができる。
第1図は本発明に適用されるテクスチャー加工の概念図
、第2図はテクスチャー加工により形成されるN1−P
層表面の研磨機を示した模型的な基板の切断斜視図、第
3図は本発明による磁気記録媒体におけるCr下地層の
厚さと保磁力の関係を従来の磁気記録媒体との比較で示
したグラフ、第4図は同じく保磁力角形比との関係を示
したグラフ、第5図は磁気記録媒体の構成を示す模型断
面図、第6図はスパッタ装置のチャンバー内の配置を示
した模型断面図である。 1、la、lb・・・基板、2,2a・・・非磁性基体
層(Ni−P)、3・・・非磁性金属下地層(Cr)、
4 ・磁性層(Co系合金)、5・・・保護潤滑膜、1
4・・・テー第1図 Cr J]iJ /j (xlo2)()第3図 Cr N4 (X102人)
、第2図はテクスチャー加工により形成されるN1−P
層表面の研磨機を示した模型的な基板の切断斜視図、第
3図は本発明による磁気記録媒体におけるCr下地層の
厚さと保磁力の関係を従来の磁気記録媒体との比較で示
したグラフ、第4図は同じく保磁力角形比との関係を示
したグラフ、第5図は磁気記録媒体の構成を示す模型断
面図、第6図はスパッタ装置のチャンバー内の配置を示
した模型断面図である。 1、la、lb・・・基板、2,2a・・・非磁性基体
層(Ni−P)、3・・・非磁性金属下地層(Cr)、
4 ・磁性層(Co系合金)、5・・・保護潤滑膜、1
4・・・テー第1図 Cr J]iJ /j (xlo2)()第3図 Cr N4 (X102人)
Claims (1)
- 1)基板上の主表面を被覆した非磁性基体層の上に、非
磁性金属下地層、磁性層および保護潤滑膜をこの順に連
続スパッタして積層形成する磁気記録媒体の製造方法に
おいて、前記非磁性基体層の表面にテクスチャー加工を
施し、該表面に円周方向の多数の研磨痕をつけた後、前
記非磁性金属下地層を形成することを特徴とする磁気記
録媒体の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18626286A JPS6342027A (ja) | 1986-08-08 | 1986-08-08 | 磁気記録媒体の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18626286A JPS6342027A (ja) | 1986-08-08 | 1986-08-08 | 磁気記録媒体の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6342027A true JPS6342027A (ja) | 1988-02-23 |
Family
ID=16185201
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18626286A Pending JPS6342027A (ja) | 1986-08-08 | 1986-08-08 | 磁気記録媒体の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6342027A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0371427A (ja) * | 1989-08-09 | 1991-03-27 | Fuji Electric Co Ltd | 磁気記録媒体及びその製造方法 |
US6335103B1 (en) | 1988-08-10 | 2002-01-01 | Hitachi, Ltd. | Magnetic recording media for longitudinal recording |
US6627253B2 (en) | 1988-08-10 | 2003-09-30 | Hitachi, Ltd. | Magnetic recording media for longitudinal recording, process for producing the same and magnetic memory apparatus |
-
1986
- 1986-08-08 JP JP18626286A patent/JPS6342027A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6335103B1 (en) | 1988-08-10 | 2002-01-01 | Hitachi, Ltd. | Magnetic recording media for longitudinal recording |
US6627253B2 (en) | 1988-08-10 | 2003-09-30 | Hitachi, Ltd. | Magnetic recording media for longitudinal recording, process for producing the same and magnetic memory apparatus |
JPH0371427A (ja) * | 1989-08-09 | 1991-03-27 | Fuji Electric Co Ltd | 磁気記録媒体及びその製造方法 |
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