JPS6340535A - Ｘ線ｃｔ装置 - Google Patents
Ｘ線ｃｔ装置Info
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- JPS6340535A JPS6340535A JP61182651A JP18265186A JPS6340535A JP S6340535 A JPS6340535 A JP S6340535A JP 61182651 A JP61182651 A JP 61182651A JP 18265186 A JP18265186 A JP 18265186A JP S6340535 A JPS6340535 A JP S6340535A
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- ray
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- rays
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 30
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 11
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
（産業上の利用分野）
本発明は、Ｘ線源から直線的に被検体を透過してきたＸ
線以外のその他のＸ線を検出する散乱線検出器を有する
ＸＩ％ｌＣＴ装置に関する。
線以外のその他のＸ線を検出する散乱線検出器を有する
ＸＩ％ｌＣＴ装置に関する。
（従来の技術）
従来のＸ線ＣＴ装置として第５図及び第６図に示すよう
な構成のものが知られている。第５図は正面図、第６図
は側面図を示しており、Ｘ線管１と対向して複数のチャ
ンネルから成るＸ線の主検出器４が配置されると共に、
この主検出器４の長さ方向（回転方向）Ｚに沿った少な
くとも片側には近接して栄−のチャンネルから成る複数
の散乱線検出器７が配置されている。主検出器４及び散
乱線検出器７は共に例えばシンチレータとフォトダイオ
ードとから成るシンチレーシジン検出器によって構成さ
れる。
な構成のものが知られている。第５図は正面図、第６図
は側面図を示しており、Ｘ線管１と対向して複数のチャ
ンネルから成るＸ線の主検出器４が配置されると共に、
この主検出器４の長さ方向（回転方向）Ｚに沿った少な
くとも片側には近接して栄−のチャンネルから成る複数
の散乱線検出器７が配置されている。主検出器４及び散
乱線検出器７は共に例えばシンチレータとフォトダイオ
ードとから成るシンチレーシジン検出器によって構成さ
れる。
Ｘ線管１と主検出器４との間にはコリメータ２、被検体
３が配置され、Ｘ線管ｌ、コリメータ２、主検出器４及
び散乱線検出器７は共に一体となって被検体２内の中心
軸Ｘを回転軸として被検体２の周囲を回転しながら、被
検体２に対しＸ線を曝射してスキャンを行う。Ｘ線管１
から出射されコリメータ２によって所望のスライス厚さ
Ｗ及びファン角度θのビームに制御されたＸ線は、被検
体３を透過し主検出器４又は散乱線検出器７に入射する
。ここで主検出器４はＸ線管１から直線的に被検体３を
ｉｌｌ過してきたＸ線（主線）のみを検出し、この検出
したＸ線吸収係数のデータに基づいて画像処理を行うこ
とが望ましい。
３が配置され、Ｘ線管ｌ、コリメータ２、主検出器４及
び散乱線検出器７は共に一体となって被検体２内の中心
軸Ｘを回転軸として被検体２の周囲を回転しながら、被
検体２に対しＸ線を曝射してスキャンを行う。Ｘ線管１
から出射されコリメータ２によって所望のスライス厚さ
Ｗ及びファン角度θのビームに制御されたＸ線は、被検
体３を透過し主検出器４又は散乱線検出器７に入射する
。ここで主検出器４はＸ線管１から直線的に被検体３を
ｉｌｌ過してきたＸ線（主線）のみを検出し、この検出
したＸ線吸収係数のデータに基づいて画像処理を行うこ
とが望ましい。
しかし実際には主検出器４に入射するＸ線は前記主線以
外にも、被検体３内で散乱されて到達してきたものや被
検体３を全く透過してこないで到達してきたもの（以下
これらを散乱線と称する）も含まれてしまう。従って正
確な画像処理を行うためにはこれら散乱線を考慮した補
正処理を行う必要があり、このために主検出器４に近接
して散乱線検出器７が配置されている。この散乱線検出
器７はスライス厚さＷのビームの）ｍ過経路の外側に配
置されているので、主線が入射することはなく散乱線の
みが入射するようになっている。またこれら散乱線検出
器は主検出器のように稠密に配置する必要はなく間隔を
あけて配置しても目的を達成できるので、コストダウン
が図れるという利点がある。この場合散乱線検出器が配
置されていない中間位置の検出値は補間により推定され
る。
外にも、被検体３内で散乱されて到達してきたものや被
検体３を全く透過してこないで到達してきたもの（以下
これらを散乱線と称する）も含まれてしまう。従って正
確な画像処理を行うためにはこれら散乱線を考慮した補
正処理を行う必要があり、このために主検出器４に近接
して散乱線検出器７が配置されている。この散乱線検出
器７はスライス厚さＷのビームの）ｍ過経路の外側に配
置されているので、主線が入射することはなく散乱線の
みが入射するようになっている。またこれら散乱線検出
器は主検出器のように稠密に配置する必要はなく間隔を
あけて配置しても目的を達成できるので、コストダウン
が図れるという利点がある。この場合散乱線検出器が配
置されていない中間位置の検出値は補間により推定され
る。
ここで散乱線検出器７によって補正処理を行う場合、散
乱線検出器７によって検出される散乱線は主検出器４に
よっても同様に検出されることが前提条件となる。もし
散乱線検出器によってのみ検出されるような散乱線が存
在しているとすると、誤った補正処理が行われることに
なるので得られた画像にアーチファクトが発生ずるよう
になる。
乱線検出器７によって検出される散乱線は主検出器４に
よっても同様に検出されることが前提条件となる。もし
散乱線検出器によってのみ検出されるような散乱線が存
在しているとすると、誤った補正処理が行われることに
なるので得られた画像にアーチファクトが発生ずるよう
になる。
ところで従来のＸｖＡＣＴ装置において、前記複数の散
乱線検出器７の配置は、第７図に示すようにＸ線管１と
被検体３のスキャン回転軸Ｘとを結ぶ直線Ｙを中心とし
て、この左右側の位置に例えば３個ずつ７ａ、７ｂ、７
ｃ及び７ ｒ ａ、 ７１ ｂ。
乱線検出器７の配置は、第７図に示すようにＸ線管１と
被検体３のスキャン回転軸Ｘとを結ぶ直線Ｙを中心とし
て、この左右側の位置に例えば３個ずつ７ａ、７ｂ、７
ｃ及び７ ｒ ａ、 ７１ ｂ。
７’ｃが等間隔で配置されることが多い。
なお図では主検出器４に重なって配置されているが、実
際には第６図のように両検出器４，７は離れている。こ
れら散乱線検出器７ａ乃至７ｃ。
際には第６図のように両検出器４，７は離れている。こ
れら散乱線検出器７ａ乃至７ｃ。
７′ａ乃至７′ｃによって検出される散乱線量の分布は
第８図のようになる。各４ａＭ ａ乃至Ｍｃ。
第８図のようになる。各４ａＭ ａ乃至Ｍｃ。
Ｍ’ａ乃至Ｍ’ｃは再散乱線検出器７ａ乃至７ｃ。
７′ａ乃至７′Ｃによって実測された値なので検出精度
は高くなる。しかし隣接する散乱線検出器間の値Ｎ１乃
至Ｎ５は補間による推定値が示されるので、検出精度は
低くなる。
は高くなる。しかし隣接する散乱線検出器間の値Ｎ１乃
至Ｎ５は補間による推定値が示されるので、検出精度は
低くなる。
このようなＸ線ＣＴ装置において第７図のように被検体
３として前記直線Ｙに直交する方向の幅りの小さいもの
をスキャンする場合は、いずれの散乱線検出器もこの被
検体３の幅りに対応した位置に配置されていないために
、この被検体３を対象とした散乱線の補正は第８図のＡ
部分の補間値を利用して行われることになる。従って精
度の低い補正が行われる可能性が大きい。
３として前記直線Ｙに直交する方向の幅りの小さいもの
をスキャンする場合は、いずれの散乱線検出器もこの被
検体３の幅りに対応した位置に配置されていないために
、この被検体３を対象とした散乱線の補正は第８図のＡ
部分の補間値を利用して行われることになる。従って精
度の低い補正が行われる可能性が大きい。
（発明が解決しようとする問題点）
このように従来のＸ線ＣＴ装置においては、散乱線検出
器の配置間隔に比べて小さな幅の被検体をスキャンする
場合は、散乱線の補正が精度良く行われないという問題
がある。
器の配置間隔に比べて小さな幅の被検体をスキャンする
場合は、散乱線の補正が精度良く行われないという問題
がある。
本発明は以上の問題に対処してなされたもので、小さな
幅の被検体をスキャンする場合でも散乱線の補正が精度
良く行われるようにしたＸ線ＣＴ装置を提供することを
目的とするものである。
幅の被検体をスキャンする場合でも散乱線の補正が精度
良く行われるようにしたＸ線ＣＴ装置を提供することを
目的とするものである。
（問題点を解決するための手段）
上記］ヨ１的を達成するために本発明シ３１．１勺数の
ｊｌ（乱線検出器か、Ｘ線源と被検体のスキャン回転軸
とを結ぶ直線を中心として、外側方向に向か・う稈隣接
するもの同士の間隔が疎になるように配置したごとを特
徴としている。
ｊｌ（乱線検出器か、Ｘ線源と被検体のスキャン回転軸
とを結ぶ直線を中心として、外側方向に向か・う稈隣接
するもの同士の間隔が疎になるように配置したごとを特
徴としている。
（作 用）
複数の散乱線検出器が等間隔でなく、前記直線に近づく
稈密な間隔となるよ・うに配置されるので、とのよ・う
な小さな幅の被検体をスキャンする場合でもそれに対応
した位置に散乱線検出器を配置することかできる。これ
によって必ず実測値による補正が行われるので、精度の
高い補正を行うことができる。
稈密な間隔となるよ・うに配置されるので、とのよ・う
な小さな幅の被検体をスキャンする場合でもそれに対応
した位置に散乱線検出器を配置することかできる。これ
によって必ず実測値による補正が行われるので、精度の
高い補正を行うことができる。
（実施例）
第１図は本発明実施例のＸ線ＣＴ装置を示す正面図で、
Ｘ線管２１に対向して主検出器２４及び散乱線検出器２
７が配置される。Ｘ線管２１と両検出器２４．２７との
間にはコリメータ２２゜被検体２３か配置される。散乱
線検出器２７は、Ｘ線管２１と被検体２３のスキャン回
転軸Ｘとを結ぶ直線Ｙを中心として、この左右側の位置
に例えば３個ずつ２７ａ、２７ｂ、２７Ｃ及び２７’ａ
。
Ｘ線管２１に対向して主検出器２４及び散乱線検出器２
７が配置される。Ｘ線管２１と両検出器２４．２７との
間にはコリメータ２２゜被検体２３か配置される。散乱
線検出器２７は、Ｘ線管２１と被検体２３のスキャン回
転軸Ｘとを結ぶ直線Ｙを中心として、この左右側の位置
に例えば３個ずつ２７ａ、２７ｂ、２７Ｃ及び２７’ａ
。
２７’ｂ、２７’ｃが配置され、これらは図のように直
線Ｙから外側方向に向う程隣接するもの同士の間隔が疎
になるように配置される。すなわち、２７ｃｍ２７’ｃ
の間隔を１．１．２’ＦＣ２７ｂ及び２７’ｃ−２７’
ｂの間隔をＬｘ、２７ｂ ２７ａ及び２７’ｂ−２７
’ａの間隔を１−３としたとき、Ｌ＋ ＜ｔ、、 ＜１
，３の関係となるように各々が配置される。
線Ｙから外側方向に向う程隣接するもの同士の間隔が疎
になるように配置される。すなわち、２７ｃｍ２７’ｃ
の間隔を１．１．２’ＦＣ２７ｂ及び２７’ｃ−２７’
ｂの間隔をＬｘ、２７ｂ ２７ａ及び２７’ｂ−２７
’ａの間隔を１−３としたとき、Ｌ＋ ＜ｔ、、 ＜１
，３の関係となるように各々が配置される。
次に本実施例の作用を説明する。
Ｘ線管２１と主検出器２４及び散乱線検出器２７をスキ
ャン回転軸Ｘを中心として一体的に回転してスキャンを
行うことにより、第２図のような散乱線量の分布特性が
得られる。者数乱線検出器２７ａ乃至２７ｃ、２７’ａ
乃至２７′Ｃ上の対応する値ｍ、乃至ｍｃ、ｍ、’乃至
ｍｃ′は各散乱線検出器によって実測された値なので検
出精度は高くなる。また隣接する散乱線検出器間の値ｎ
１乃至ｎ５は補間による推定値である。このような本実
施例によれば、被検体２３として小さな幅のものを対象
とした場合でも、必ず散乱線検出器をそれに対応した位
置に配置することができ、例えば第２図で幅りの被検体
２３を対象としたとすると、２個の散乱線検出器２７ｃ
、２７’ｃを配置することができる。従ってそれら２７
ｃ、２７’ｃに対応した実測値ｍｃ、ｍｃ’によって補
正を行うことができるので、精度の高い補正を行うこと
ができる。
ャン回転軸Ｘを中心として一体的に回転してスキャンを
行うことにより、第２図のような散乱線量の分布特性が
得られる。者数乱線検出器２７ａ乃至２７ｃ、２７’ａ
乃至２７′Ｃ上の対応する値ｍ、乃至ｍｃ、ｍ、’乃至
ｍｃ′は各散乱線検出器によって実測された値なので検
出精度は高くなる。また隣接する散乱線検出器間の値ｎ
１乃至ｎ５は補間による推定値である。このような本実
施例によれば、被検体２３として小さな幅のものを対象
とした場合でも、必ず散乱線検出器をそれに対応した位
置に配置することができ、例えば第２図で幅りの被検体
２３を対象としたとすると、２個の散乱線検出器２７ｃ
、２７’ｃを配置することができる。従ってそれら２７
ｃ、２７’ｃに対応した実測値ｍｃ、ｍｃ’によって補
正を行うことができるので、精度の高い補正を行うこと
ができる。
第３図は本発明の他の実施例を示すもので、主検出器２
４を被検体２３の周囲に３６０°にわたってリング状に
配置し、この少なくとも片側に配置した散乱線検出器２
７ａ乃至２１Ｃ，２７’ａ乃至２７′ＣをＸ線管２１と
一体的に被検体２３の周囲を回転させてスキャンを行う
ようにしたいわゆる第４世代のＸ線ＣＴ装置に適用した
例を示すものである。散乱線検出器２７ａ乃至２７Ｃ２
２７′ａ 乃至２７′Ｃは第１図の実施例と同様な条件
で配置される。
４を被検体２３の周囲に３６０°にわたってリング状に
配置し、この少なくとも片側に配置した散乱線検出器２
７ａ乃至２１Ｃ，２７’ａ乃至２７′ＣをＸ線管２１と
一体的に被検体２３の周囲を回転させてスキャンを行う
ようにしたいわゆる第４世代のＸ線ＣＴ装置に適用した
例を示すものである。散乱線検出器２７ａ乃至２７Ｃ２
２７′ａ 乃至２７′Ｃは第１図の実施例と同様な条件
で配置される。
本実施例によっても前記実施例と同様な効果を得ること
ができる。
ができる。
以上の各実施例において被検体２３に対するファン角度
θの外側にも散乱線検出器例えば２７ａ。
θの外側にも散乱線検出器例えば２７ａ。
２７ｂ、２７’ａ、２７’ｂを配置することが望ましい
。これはスキャンの際ファン角度θの外側にも散乱線が
出射されるので、もしファン角度θに対応した位置のみ
に散乱線検出器を配置しただけではθの端部で正しい補
正が行われなくなるためである。前記のように散乱線検
出器２７ａ。
。これはスキャンの際ファン角度θの外側にも散乱線が
出射されるので、もしファン角度θに対応した位置のみ
に散乱線検出器を配置しただけではθの端部で正しい補
正が行われなくなるためである。前記のように散乱線検
出器２７ａ。
２７ｂ、２７’ａ、２７’ｂを配置した場合には第２図
のように、被検体２３の幅″Ｄの端部においでもＢ部分
及びＢ′部分によって正しい補正が行われるようになる
。
のように、被検体２３の幅″Ｄの端部においでもＢ部分
及びＢ′部分によって正しい補正が行われるようになる
。
また各実施例において散乱線検出器２７は、第４図に示
すようにその最大感度を示す方向をスキャン回転軸Ｘと
Ｘ線管２１とを結ぶ区間に向けて配置することが望まし
い。これによって、散乱線検出器２７の性能を最大に発
揮させることができる。
すようにその最大感度を示す方向をスキャン回転軸Ｘと
Ｘ線管２１とを結ぶ区間に向けて配置することが望まし
い。これによって、散乱線検出器２７の性能を最大に発
揮させることができる。
以上述べたように本発明によれは、複数の散乱線検出器
を基準線を中心として隣接間隔を外側に向う捏練に配置
したので、幅の小さな被検体に対しても散乱線の精度の
高い補正を行うことができる。
を基準線を中心として隣接間隔を外側に向う捏練に配置
したので、幅の小さな被検体に対しても散乱線の精度の
高い補正を行うことができる。
第１図は本発明実施例のＸ線ＣＴ装置を示す正面図、第
２図は本発明を説明するための特性図、第３図は本発明
の他の実施例を示す正面図、第４図は本発明を説明する
ための概略図、第５図及び第６図は従来例を示す正面図
及び側面図、第７図及び第８図は従来例を示す′正面図
及び特性図である。 ２１・・・Ｘ線管、２３・・・被検体、２７、 ２７ａ
、 ２７ｂ、、２７ｃ、 ２７’ａ。 ２７’ｂ、２７’ｃ・・・散乱線検出器、Ｘ・・・スキ
ャナ回転軸、Ｙ・・・スキャナ回転軸ＸとＸ線管２１と
を結ぶ直線。
２図は本発明を説明するための特性図、第３図は本発明
の他の実施例を示す正面図、第４図は本発明を説明する
ための概略図、第５図及び第６図は従来例を示す正面図
及び側面図、第７図及び第８図は従来例を示す′正面図
及び特性図である。 ２１・・・Ｘ線管、２３・・・被検体、２７、 ２７ａ
、 ２７ｂ、、２７ｃ、 ２７’ａ。 ２７’ｂ、２７’ｃ・・・散乱線検出器、Ｘ・・・スキ
ャナ回転軸、Ｙ・・・スキャナ回転軸ＸとＸ線管２１と
を結ぶ直線。
Claims (1)
- Ｘ線源から直線的に被検体を透過してきたＸ線を検出す
る主検出器及びこれに沿って複数個配置され前記Ｘ線以
外のその他のＸ線を検出する散乱線検出器を有するＸ線
ＣＴ装置において、複数の散乱線検出器が、Ｘ線源と被
検体のスキャン回転軸とを結ぶ直線を中心として、外側
方向に向う程隣接するもの同士の間隔が疎になるように
配置したことを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61182651A JPH0824675B2 (ja) | 1986-08-05 | 1986-08-05 | Ｘ線ｃｔ装置 |
| US07/078,969 US4881251A (en) | 1986-07-31 | 1987-07-29 | Computed tomograph apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61182651A JPH0824675B2 (ja) | 1986-08-05 | 1986-08-05 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6340535A true JPS6340535A (ja) | 1988-02-20 |
| JPH0824675B2 JPH0824675B2 (ja) | 1996-03-13 |
Family
ID=16122038
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61182651A Expired - Lifetime JPH0824675B2 (ja) | 1986-07-31 | 1986-08-05 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0824675B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04349U (ja) * | 1990-04-18 | 1992-01-06 | ||
| JP2013192950A (ja) * | 2012-03-22 | 2013-09-30 | Toshiba Corp | スペクトルｘ線コンピュータ断層撮影装置および画像発生方法 |
| US10443414B2 (en) | 2014-07-03 | 2019-10-15 | Mitsubishi Heavy Industries Engine & Turbocharger, Ltd. | Turbine casing, turbine, core for casting turbine casing, and method for producing turbine casing |
-
1986
- 1986-08-05 JP JP61182651A patent/JPH0824675B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04349U (ja) * | 1990-04-18 | 1992-01-06 | ||
| JP2013192950A (ja) * | 2012-03-22 | 2013-09-30 | Toshiba Corp | スペクトルｘ線コンピュータ断層撮影装置および画像発生方法 |
| US10443414B2 (en) | 2014-07-03 | 2019-10-15 | Mitsubishi Heavy Industries Engine & Turbocharger, Ltd. | Turbine casing, turbine, core for casting turbine casing, and method for producing turbine casing |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0824675B2 (ja) | 1996-03-13 |
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