JP2519249B2 - Ｘ線ｃｔ装置 - Google Patents
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
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- G—PHYSICS
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Description
【発明の詳細な説明】 ［発明の目的］ （産業上の利用分野） 本発明は、Ｘ線源から直線的に被検体を透過してきた
Ｘ線以外のその他のＸ線を検出する散乱線検出器を有す
るＸ線CT装置に関する。
Ｘ線以外のその他のＸ線を検出する散乱線検出器を有す
るＸ線CT装置に関する。
（従来の技術） 従来のＸ線CT装置として第６図及び第７図に示すよう
な構成のものが知られている。第６図は正面図、第７図
は側面図を示しており、Ｘ線管11と対向して複数のチャ
ンネルから成るＸ線の主検出器14が配置されると共に、
この主検出器14の長さ方向（回転方向）Ｚに沿った少な
くとも片側には近接して単一のチャンネルから成る複数
の散乱線検出器17が配置されている。主検出器14及び散
乱線検出器17は共に例えばシンチレータとフォトダイオ
ードとから成るシンチレーシヨン検出器によって構成さ
れる。
な構成のものが知られている。第６図は正面図、第７図
は側面図を示しており、Ｘ線管11と対向して複数のチャ
ンネルから成るＸ線の主検出器14が配置されると共に、
この主検出器14の長さ方向（回転方向）Ｚに沿った少な
くとも片側には近接して単一のチャンネルから成る複数
の散乱線検出器17が配置されている。主検出器14及び散
乱線検出器17は共に例えばシンチレータとフォトダイオ
ードとから成るシンチレーシヨン検出器によって構成さ
れる。
Ｘ線管11と主検出器14との間にはコリメータ12、被検
体13が配置され、Ｘ線管11、コリメータ12、主検出器14
及び散乱線検出器17は共に一体となって被検体12内の中
心軸Ｘを回転軸として被検体12の周囲を回転しながら、
被検体12に対しＸ線を曝射してスキャンを行う。Ｘ線管
11から出射されコリメータ12によって所望のスライス厚
さＷ及びファン角度θのビームに制御されたＸ線は、被
検体13を透過し主検出器14又は散乱線検出器17に入射す
る。ここで主検出器14はＸ線管11から直線的に被検体13
を透過してきたＸ線（主線）のみを検出し、この検出し
たＸ線吸収係数のデータに基づいて画像処理を行うこと
が望ましい。
体13が配置され、Ｘ線管11、コリメータ12、主検出器14
及び散乱線検出器17は共に一体となって被検体12内の中
心軸Ｘを回転軸として被検体12の周囲を回転しながら、
被検体12に対しＸ線を曝射してスキャンを行う。Ｘ線管
11から出射されコリメータ12によって所望のスライス厚
さＷ及びファン角度θのビームに制御されたＸ線は、被
検体13を透過し主検出器14又は散乱線検出器17に入射す
る。ここで主検出器14はＸ線管11から直線的に被検体13
を透過してきたＸ線（主線）のみを検出し、この検出し
たＸ線吸収係数のデータに基づいて画像処理を行うこと
が望ましい。
しかし実際には主検出器14に入射するＸ線は前記主線
以外にも、被検体13内で散乱されて到達してきたものや
被検体13を全く透過してこないで到達してきたもの（以
下これらを散乱線と称する）も含まれてしまう。従って
正確な画像処理を行うためにはこれら散乱線を考慮した
補正処理を行う必要があり、このために主検出器14に近
接して散乱線検出器17が配置されている。この散乱線検
出器17はスライス厚さＷのビームの通過経路の外側に配
置されているので、主線が入射することなく散乱線のみ
が入射するようになっている。
以外にも、被検体13内で散乱されて到達してきたものや
被検体13を全く透過してこないで到達してきたもの（以
下これらを散乱線と称する）も含まれてしまう。従って
正確な画像処理を行うためにはこれら散乱線を考慮した
補正処理を行う必要があり、このために主検出器14に近
接して散乱線検出器17が配置されている。この散乱線検
出器17はスライス厚さＷのビームの通過経路の外側に配
置されているので、主線が入射することなく散乱線のみ
が入射するようになっている。
またこれら散乱線検出器は主検出器のように稠密に配
置する必要はなく間隔をあけて配置しても目的を達成で
きるので、コストダウンが図れるという利点がある。こ
の場合散乱線検出器が配置されていない中間位置の検出
値は補間により推定される。
置する必要はなく間隔をあけて配置しても目的を達成で
きるので、コストダウンが図れるという利点がある。こ
の場合散乱線検出器が配置されていない中間位置の検出
値は補間により推定される。
ここで散乱線検出器17によって補正処理を行う場合、
散乱線検出器17によって検出される散乱線は主検出器14
によっても同様に検出されることが前提条件となる。も
し散乱線検出器によってのみ検出されるような散乱線が
存在しているとすると、誤った補正処理が行われること
になるので得られた画像にアーチファクトが発生するよ
うになる。
散乱線検出器17によって検出される散乱線は主検出器14
によっても同様に検出されることが前提条件となる。も
し散乱線検出器によってのみ検出されるような散乱線が
存在しているとすると、誤った補正処理が行われること
になるので得られた画像にアーチファクトが発生するよ
うになる。
ところで従来のＸ線CT装置において前記複数の散乱線
検出器17の配置は、第８図に示すようにＸ線管11と被検
体13のスキャン回転軸Ｘとを結ぶ直線Ｙを中心として、
この左右側の位置によって検出された散乱線量の分布が
第９図のようになったりすると、各17a乃至17c,17a′乃
至17c′上の対応する値Ma乃至Mc,Ma′乃至Mc′は各散乱
線検出器によって実測された値なので検出精度は高くな
る。しかし隣接する散乱線検出器間の値N1乃至N5は補間
による推定値が示されるので検出精度は低くなる。
検出器17の配置は、第８図に示すようにＸ線管11と被検
体13のスキャン回転軸Ｘとを結ぶ直線Ｙを中心として、
この左右側の位置によって検出された散乱線量の分布が
第９図のようになったりすると、各17a乃至17c,17a′乃
至17c′上の対応する値Ma乃至Mc,Ma′乃至Mc′は各散乱
線検出器によって実測された値なので検出精度は高くな
る。しかし隣接する散乱線検出器間の値N1乃至N5は補間
による推定値が示されるので検出精度は低くなる。
ここでＸ線管11と各散乱線検出器17a乃至17c,17a′乃
至17c′間に直線L1乃至L6を描き、スキャン回転軸Ｘを
中心としてＸ線管11及び散乱線検出器17a乃至17c,17a′
乃至17c′を例えば時計方向に回転し360゜回転したとす
ると、回転軸Ｘから各直線L1乃至L6に下した垂線の長さ
を半径とする６種類の円に外接するように前記直線L1乃
至L6は移動したことになる。実際には散乱線検出器17a
乃至17c及び17a′乃至17c′は直線Ｙの左右に対称的に
配置されているので、17a−17a′,17b−17b′,17c−17
c′の各組に対応したL1−L6,L2−L5,L3−L4の各組は同
一円に外接するので、第10図に示すように回転軸Ｘから
各直線L1乃至L3への垂線の長さR1,R2,R3を半径とする３
種類の円C1,C2,C3だけが存在することになる。この円は
散乱線検出器の総数をＮとすると、スキャンに基づいて
画像処理されたときN/2個だけ画像上に仮想的に存在す
る円となる。
至17c′間に直線L1乃至L6を描き、スキャン回転軸Ｘを
中心としてＸ線管11及び散乱線検出器17a乃至17c,17a′
乃至17c′を例えば時計方向に回転し360゜回転したとす
ると、回転軸Ｘから各直線L1乃至L6に下した垂線の長さ
を半径とする６種類の円に外接するように前記直線L1乃
至L6は移動したことになる。実際には散乱線検出器17a
乃至17c及び17a′乃至17c′は直線Ｙの左右に対称的に
配置されているので、17a−17a′,17b−17b′,17c−17
c′の各組に対応したL1−L6,L2−L5,L3−L4の各組は同
一円に外接するので、第10図に示すように回転軸Ｘから
各直線L1乃至L3への垂線の長さR1,R2,R3を半径とする３
種類の円C1,C2,C3だけが存在することになる。この円は
散乱線検出器の総数をＮとすると、スキャンに基づいて
画像処理されたときN/2個だけ画像上に仮想的に存在す
る円となる。
従ってＸ線管11と散乱線検出器17を一体的に回転して
スキャンを行ったとき、前記円C1,C2,C3上で実測された
散乱線量の検出精度は高くなる。
スキャンを行ったとき、前記円C1,C2,C3上で実測された
散乱線量の検出精度は高くなる。
ところがこれら円C1−C2間、C2−C3間、円C3内で示さ
れた散乱線量は、前述したように補間による推定値のた
め検出精度が低いので、誤差が比較的大きくなり散乱線
の正しい補正処理が行われなくなる。さらに、散乱検出
器が感度ドリフト等の特性変動をしたとき、かつその特
性変動が散乱線検出器相互間で度合が異なるときがあ
る。この結果として第10図のようにそれらの位置にリン
グ状のアーチファクトA1,A2,A3が発生する。
れた散乱線量は、前述したように補間による推定値のた
め検出精度が低いので、誤差が比較的大きくなり散乱線
の正しい補正処理が行われなくなる。さらに、散乱検出
器が感度ドリフト等の特性変動をしたとき、かつその特
性変動が散乱線検出器相互間で度合が異なるときがあ
る。この結果として第10図のようにそれらの位置にリン
グ状のアーチファクトA1,A2,A3が発生する。
（発明が解決しようとする問題点） 以上のように従来のＸ線CT装置においては散乱線の検
出精度が低下するためアーチファクトが生ずるという問
題があり、散乱線検出器の個数を増加させなければなら
ないという問題を有する。また、散乱線検出器を充分に
安定化させなければかえってアーチファクトを生む危険
がある。
出精度が低下するためアーチファクトが生ずるという問
題があり、散乱線検出器の個数を増加させなければなら
ないという問題を有する。また、散乱線検出器を充分に
安定化させなければかえってアーチファクトを生む危険
がある。
本発明は上記問題点を解決するためになされたもので
あり、散乱線検出器の数を増加させることなく散乱線の
検出精度を向上させ、アーチファクトの発生を防止する
ことのできるＸ線CT装置を提供することを目的とするも
のである。
あり、散乱線検出器の数を増加させることなく散乱線の
検出精度を向上させ、アーチファクトの発生を防止する
ことのできるＸ線CT装置を提供することを目的とするも
のである。
［発明の構成］ （問題点を解決するための手段） 前記目的を達成するために本発明は、Ｘ線源から直線
的に被検体を透過したきたＸ線を検出する主検出器と、
この主検出器の近傍に配置され主検出器に入射されない
Ｘ線を検出する少なくとも１個の散乱線検出器とを有す
るＸ線CT装置において、予め求めておいた散乱線の広が
り関数を記憶しておく手段と、前記主検出器出力と前記
散乱線広がり関数とのコンボリューションを行って散乱
線傾向曲線を求める手段と、スキャン時に得られる前記
散乱線検出器出力と前記散乱線傾向曲線中の一部のデー
タとの比率を求める手段と、前記比率に基づいて散乱線
傾向曲線を較正する手段とを有し、較正後の曲線を、補
正用データとしたことを特徴とする特徴とするものであ
る。
的に被検体を透過したきたＸ線を検出する主検出器と、
この主検出器の近傍に配置され主検出器に入射されない
Ｘ線を検出する少なくとも１個の散乱線検出器とを有す
るＸ線CT装置において、予め求めておいた散乱線の広が
り関数を記憶しておく手段と、前記主検出器出力と前記
散乱線広がり関数とのコンボリューションを行って散乱
線傾向曲線を求める手段と、スキャン時に得られる前記
散乱線検出器出力と前記散乱線傾向曲線中の一部のデー
タとの比率を求める手段と、前記比率に基づいて散乱線
傾向曲線を較正する手段とを有し、較正後の曲線を、補
正用データとしたことを特徴とする特徴とするものであ
る。
（作 用） 予め散乱線広がり関数を求め、この関数によって主検
出器の収集データのコンボリューションを行なって散乱
線の傾向を示す曲線を求め、更に主検出器データと散乱
線データとの比率を求め、この比率に基づいて前記散乱
線傾向線を較正させた補正デーテを作成することができ
る。
出器の収集データのコンボリューションを行なって散乱
線の傾向を示す曲線を求め、更に主検出器データと散乱
線データとの比率を求め、この比率に基づいて前記散乱
線傾向線を較正させた補正デーテを作成することができ
る。
（実施例） 以下図示の実施例により本発明を具体的に説明する。
第１図は本発明の一実施例を示す概略ブロック図であ
る。
る。
１はＸ線管であり、このＸ線管１に対しては被検体Ｐ
を挟んで対向する位置に複数の検出器２（１）〜2Nを備
えた主検出器２が配置されている。Ｘ線管１のＸ線放射
面にはコリメータCMが設けられ、主検出器２を含む広が
りと、幅を有するファン状ビームFBを形成するようにな
っている。前記主検出器２の一部の検出器２（N/2）の
近傍には散乱検出器３が設けられている。この散乱線検
出器３は前記ファンビームFBから外れた位置に配置さ
れ、散乱線を検出するようになっている。尚、この散乱
線検出器３が配置される直近の検出器２（N/2）はこの
実施例では全検出器Ｎ個のうち、中央の位置にあるもの
とする。これらＸ線管1,コリメータCM,主検出器2,散乱
線検出器３は被検体Ｐを中心として図示Ｍ方向に回転可
能になっている。
を挟んで対向する位置に複数の検出器２（１）〜2Nを備
えた主検出器２が配置されている。Ｘ線管１のＸ線放射
面にはコリメータCMが設けられ、主検出器２を含む広が
りと、幅を有するファン状ビームFBを形成するようにな
っている。前記主検出器２の一部の検出器２（N/2）の
近傍には散乱検出器３が設けられている。この散乱線検
出器３は前記ファンビームFBから外れた位置に配置さ
れ、散乱線を検出するようになっている。尚、この散乱
線検出器３が配置される直近の検出器２（N/2）はこの
実施例では全検出器Ｎ個のうち、中央の位置にあるもの
とする。これらＸ線管1,コリメータCM,主検出器2,散乱
線検出器３は被検体Ｐを中心として図示Ｍ方向に回転可
能になっている。
５は、前記主検出器２によって得られたデータ（以下
主データともいう）Rm（ｘ）を収集する増幅器等を含む
主データ収集部であり、４は前記散乱線検出器３から得
られたデータSmを増幅する増幅器を含む散乱線データ収
集部である。６は予め求められた散乱線広がり関数ｆ
（ｘ）と散乱線系数Ｋを格納している記憶手段である。
７は前記散乱線広がり関数ｆ（ｘ）と主データRm（ｘ）
とをコンボリューションしてコンボリューションデータ
Ｒ′ｍ（ｘ）を得るコンボルバである。８はコンボリュ
ーションデータＲ′ｍ（ｘ）と散乱線データSmとの比率
Ｘを求めるための乗除算器である。９は前記比率Ｘと前
記コンボリューションデータＲ′ｍ（ｘ）とを乗算して
補正用散乱線データＳ′ｍ（ｘ）を求める乗算器であ
り、10は主データRm（ｘ）から補正用データＳ′ｍ
（ｘ）を差し引いて真のデータを得る減算器である。
主データともいう）Rm（ｘ）を収集する増幅器等を含む
主データ収集部であり、４は前記散乱線検出器３から得
られたデータSmを増幅する増幅器を含む散乱線データ収
集部である。６は予め求められた散乱線広がり関数ｆ
（ｘ）と散乱線系数Ｋを格納している記憶手段である。
７は前記散乱線広がり関数ｆ（ｘ）と主データRm（ｘ）
とをコンボリューションしてコンボリューションデータ
Ｒ′ｍ（ｘ）を得るコンボルバである。８はコンボリュ
ーションデータＲ′ｍ（ｘ）と散乱線データSmとの比率
Ｘを求めるための乗除算器である。９は前記比率Ｘと前
記コンボリューションデータＲ′ｍ（ｘ）とを乗算して
補正用散乱線データＳ′ｍ（ｘ）を求める乗算器であ
り、10は主データRm（ｘ）から補正用データＳ′ｍ
（ｘ）を差し引いて真のデータを得る減算器である。
次に第２図乃至第４図をも参照して本発明の作用を説
明する。尚、以下の説明でサフィクスのｍはプロジェク
ション番号、ｘは主検出器０〜Ｎ迄の番号を示す。
明する。尚、以下の説明でサフィクスのｍはプロジェク
ション番号、ｘは主検出器０〜Ｎ迄の番号を示す。
（１） 先ずこの装置を使用する前（例えば装置の特性
試験時）に、散乱線広がり関数ｆ（ｘ）を求めておく。
これは第２図に示すように、ファントムＦを被検体とし
て配置すると共に、Ｘ線管１からのビームBMが１個の主
検出器の幅に較べ同等等以下の狭いビームとなるような
コリメータCMを使用する。どこでもよいが、仮にN/2に
この直接線があたるようにすれば、この結果主検出器で
得られる測定値は第３図の点の如き分布を示す。検出器
N/2の出力は直接線＋散乱線に由来するが、その他の検
出器出力は散乱線のみに由来する。第３図においてｇ
（ｘ）が主検出器（ｘ＝0,1,2…,N）出力であるとす
る。散乱線広がり関数ｆ（ｘ）は、例えば簡易な直線補
間を用いれば次のように求められる。
試験時）に、散乱線広がり関数ｆ（ｘ）を求めておく。
これは第２図に示すように、ファントムＦを被検体とし
て配置すると共に、Ｘ線管１からのビームBMが１個の主
検出器の幅に較べ同等等以下の狭いビームとなるような
コリメータCMを使用する。どこでもよいが、仮にN/2に
この直接線があたるようにすれば、この結果主検出器で
得られる測定値は第３図の点の如き分布を示す。検出器
N/2の出力は直接線＋散乱線に由来するが、その他の検
出器出力は散乱線のみに由来する。第３図においてｇ
（ｘ）が主検出器（ｘ＝0,1,2…,N）出力であるとす
る。散乱線広がり関数ｆ（ｘ）は、例えば簡易な直線補
間を用いれば次のように求められる。
このときの散乱線検出器３の出力がＨであったとする
と下記の定数Ｋを求めることができる。
と下記の定数Ｋを求めることができる。
Ｋ＝ｆ（ｘ）/H …（１） この定数Ｋは、散乱線検出器３にＨになる出力があれ
ば、主検出器２（N/2）の出力のうちＫ・Ｈが散乱線で
あるということを意味する定数である。
ば、主検出器２（N/2）の出力のうちＫ・Ｈが散乱線で
あるということを意味する定数である。
このようにして得られた散乱線広がり関数ｆ（ｘ）と
定数Ｋを記憶手段６に格納しておく。
定数Ｋを記憶手段６に格納しておく。
（２） 次に被検体Ｐを配置してスキャン（Ｘ線ビーム
走査）を行なう。スキャン時に主データRm（ｘ）、散乱
線データSmを得る。
走査）を行なう。スキャン時に主データRm（ｘ）、散乱
線データSmを得る。
前記主データRm（ｘ）と前記散乱線広がり関数ｆ
（ｘ）との関係でコンボルバ７により、次の如きコンボ
リューションを行ない、コンボリューションデータＲ′
ｍ（ｘ）を得る。
（ｘ）との関係でコンボルバ７により、次の如きコンボ
リューションを行ない、コンボリューションデータＲ′
ｍ（ｘ）を得る。
次に乗除算器８により下記の如き計算を行ない、前記
コンボリューションデータＲ′ｍ（ｘ）をシフトするた
めの比率Ｘを算出する。
コンボリューションデータＲ′ｍ（ｘ）をシフトするた
めの比率Ｘを算出する。
次に乗算器９によって、前記コンボリューションデー
タＲ′ｍ（ｘ）に上記比率Ｘを乗じて、補正用データ
Ｓ′ｍ（ｘ）を求める。
タＲ′ｍ（ｘ）に上記比率Ｘを乗じて、補正用データ
Ｓ′ｍ（ｘ）を求める。
Ｓ′ｍ（ｘ）＝Ｒ′ｍ（ｘ）・Ｘ …（４） 最後に減算器10で主検出器で得られたデータRm（ｘ）
から前記補正用データＳ′ｍ（ｘ）を差し引いて真のデ
ータ（補正されたデータ）Ｒ″ｍ（ｘ）を求める。
から前記補正用データＳ′ｍ（ｘ）を差し引いて真のデ
ータ（補正されたデータ）Ｒ″ｍ（ｘ）を求める。
Ｒ″ｍ（ｘ）＝Rm（ｘ）−Ｒ′ｍ（ｘ）・Ｘ …（５） 以上の関係を第４図の模式図を用いて説明する。実線
で示すのが主検出器から得られる主データRm（ｘ）であ
り、これを散乱線広がり関数ｆ（ｘ）でコンボリューシ
ョンしたデータ（上記（２）式）が一点鎖線で示すデー
タＲ′ｍ（ｘ）である。このデータＲ′ｍ（ｘ）は散乱
線の傾向を示す曲線となる。そして、前記（３）式で得
た比率Ｘによって前記コンボリューションデータＲ′ｍ
（ｘ）をシフトさせたデータが破線で示すＳ′ｍ（ｘ）
である。このＳ′ｍ（ｘ）が補正用データとなる。
で示すのが主検出器から得られる主データRm（ｘ）であ
り、これを散乱線広がり関数ｆ（ｘ）でコンボリューシ
ョンしたデータ（上記（２）式）が一点鎖線で示すデー
タＲ′ｍ（ｘ）である。このデータＲ′ｍ（ｘ）は散乱
線の傾向を示す曲線となる。そして、前記（３）式で得
た比率Ｘによって前記コンボリューションデータＲ′ｍ
（ｘ）をシフトさせたデータが破線で示すＳ′ｍ（ｘ）
である。このＳ′ｍ（ｘ）が補正用データとなる。
本発明は前記実施例に限定されず、種々の変形実施が
可能である。
可能である。
例えば前記実施例では散乱線検出器を１個のみとした
が、これに限らず、第５図（ａ）に示すように３個設け
てもよい。即ち、同図に示すように被検体Ｐ′の形状が
左右不均衡の場合にはより検出精度を高めるために複数
個設けることが好ましいが、従来例のように多数設ける
必要はない。
が、これに限らず、第５図（ａ）に示すように３個設け
てもよい。即ち、同図に示すように被検体Ｐ′の形状が
左右不均衡の場合にはより検出精度を高めるために複数
個設けることが好ましいが、従来例のように多数設ける
必要はない。
ところで、第５図（ａ）のように複数個の散乱線検出
器を設けると同図（ｂ）に示すように各データ間が不連
続となり、これによるアーチファクトを招くおそれがあ
るので、これらの荷重平均をとり、同図（ｃ）のような
連続性のあるデータとして加工しておくことが好まし
い。
器を設けると同図（ｂ）に示すように各データ間が不連
続となり、これによるアーチファクトを招くおそれがあ
るので、これらの荷重平均をとり、同図（ｃ）のような
連続性のあるデータとして加工しておくことが好まし
い。
前記実施例ではＸ線管と検出器が共に回転する方式
（Rotate/Rotate）について説明したが、検出器がリン
グ状に配置され、Ｘ線管が回転する方式（Stationary/R
otate）にも同様に適用できる。
（Rotate/Rotate）について説明したが、検出器がリン
グ状に配置され、Ｘ線管が回転する方式（Stationary/R
otate）にも同様に適用できる。
また、いずれの方式においても前記実施例とは異なり
散乱線検出器を部分的に固定配置し、各検出器に散乱線
が入射した場合だけデータ収集を行なうようにしてもよ
く、かかる場合でも従来装置のように多数個の検出器を
用いなくとも精度の良い検出が行える。
散乱線検出器を部分的に固定配置し、各検出器に散乱線
が入射した場合だけデータ収集を行なうようにしてもよ
く、かかる場合でも従来装置のように多数個の検出器を
用いなくとも精度の良い検出が行える。
ｆ（ｘ）として、前述の如くして求めたものはノイズ
等のためやや複雑な形状をしている可能性がある。実際
には散乱線は充分平滑な分布をし、かつ左右対象に近い
と考えられるので、ｆ（ｘ）として単純な形状の関数、
例えば台形分布で近似してもよい。さらには矩型の広が
りを持つ関数で近似することも考えられ、この場合はRm
（ｘ）＊ｆ（ｘ）のコンボリューションは極めて単純な
平滑化計算となり、実行速度が向上できる。
等のためやや複雑な形状をしている可能性がある。実際
には散乱線は充分平滑な分布をし、かつ左右対象に近い
と考えられるので、ｆ（ｘ）として単純な形状の関数、
例えば台形分布で近似してもよい。さらには矩型の広が
りを持つ関数で近似することも考えられ、この場合はRm
（ｘ）＊ｆ（ｘ）のコンボリューションは極めて単純な
平滑化計算となり、実行速度が向上できる。
［発明の効果］ 以上詳述した本発明よれば、一部の散乱線の広がり度
を算出し、これに基づいて散乱線補正データを作成する
という原理を用いているので散乱線検出器の数を増大さ
せることなく散乱線の検出器の検出精度を向上させるこ
とができ、アーチファクトの発生を防止できる。また、
使用する散乱線検出器の数が少なくて済むので、コスト
低減に寄与することになり、それに伴って処理回路の簡
易化をも図ることができる。
を算出し、これに基づいて散乱線補正データを作成する
という原理を用いているので散乱線検出器の数を増大さ
せることなく散乱線の検出器の検出精度を向上させるこ
とができ、アーチファクトの発生を防止できる。また、
使用する散乱線検出器の数が少なくて済むので、コスト
低減に寄与することになり、それに伴って処理回路の簡
易化をも図ることができる。
第１図は本発明の一実施例を示す概略ブロック図、第２
図は本発明の作用説明のための概略正面図、第３図及び
第４図は同じく本発明の作用説明のためのデータ特性
図、第５図（ａ）は本発明の他の実施例を示す概略正面
図、第５図（ｂ），（ｃ）は第５図（ａ）の作用説明の
ためのデータ特性図、第６図及び第７図は従来例を示す
正面図及び側面図、第８図乃至第10図はいずれも従来例
を示す配置図、特性図及び概略図である。 １……Ｘ線管、２……主検出器、３……散乱線検出器、
６……記憶手段、７……コンボルバ、８……乗除算器、
９……乗算器、10……減算器。
図は本発明の作用説明のための概略正面図、第３図及び
第４図は同じく本発明の作用説明のためのデータ特性
図、第５図（ａ）は本発明の他の実施例を示す概略正面
図、第５図（ｂ），（ｃ）は第５図（ａ）の作用説明の
ためのデータ特性図、第６図及び第７図は従来例を示す
正面図及び側面図、第８図乃至第10図はいずれも従来例
を示す配置図、特性図及び概略図である。 １……Ｘ線管、２……主検出器、３……散乱線検出器、
６……記憶手段、７……コンボルバ、８……乗除算器、
９……乗算器、10……減算器。
Claims (1)
- 【請求項１】Ｘ線源から直線的に被検体を透過したきた
Ｘ線を検出する主検出器と、この主検出器の近傍に配置
され主検出器に入射されないＸ線を検出する少なくとも
１個の散乱線検出器とを有するＸ線CT装置において、予
め散乱線の広がり関数を求める手段と、前記主検出器出
力と前記散乱線広がり関数とのコンボリューションを行
って散乱線傾向曲線を求める手段と、スキャン時に得ら
れる前記散乱線検出器出力と前記散乱線傾向曲線中の一
部のデータとの比率を求める手段と、前記比率に基づい
て散乱線傾向曲線を較正する手段とを有し、較正後の曲
線を、補正用データとしたことを特徴とするＸ線CT装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62139865A JP2519249B2 (ja) | 1987-06-05 | 1987-06-05 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62139865A JP2519249B2 (ja) | 1987-06-05 | 1987-06-05 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63305846A JPS63305846A (ja) | 1988-12-13 |
| JP2519249B2 true JP2519249B2 (ja) | 1996-07-31 |
Family
ID=15255348
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62139865A Expired - Fee Related JP2519249B2 (ja) | 1987-06-05 | 1987-06-05 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2519249B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3408848B2 (ja) * | 1993-11-02 | 2003-05-19 | 株式会社日立メディコ | 散乱ｘ線補正法及びｘ線ｃｔ装置並びに多チャンネルｘ線検出器 |
| WO2005034756A1 (en) * | 2003-10-14 | 2005-04-21 | Philips Intellectual Property & Standards Gmbh | Asymmetric csct |
| JP6741158B2 (ja) * | 2017-07-25 | 2020-08-19 | 株式会社島津製作所 | 散乱推定方法および画像処理装置 |
-
1987
- 1987-06-05 JP JP62139865A patent/JP2519249B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63305846A (ja) | 1988-12-13 |
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|---|---|---|---|
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