JPS6338145A - ワイヤの欠陥検出装置 - Google Patents
ワイヤの欠陥検出装置Info
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- JPS6338145A JPS6338145A JP18165486A JP18165486A JPS6338145A JP S6338145 A JPS6338145 A JP S6338145A JP 18165486 A JP18165486 A JP 18165486A JP 18165486 A JP18165486 A JP 18165486A JP S6338145 A JPS6338145 A JP S6338145A
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 24
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/952—Inspecting the exterior surface of cylindrical bodies or wires
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はワイヤの表面欠陥を検出するだめの装置に関す
る。
る。
伸線加工等により製造したワイヤ１には、第３図に示す
ような凸欠陥２や凹欠陥３等の表面欠陥が存在する場合
があり、この欠陥個所を確認し、必要な場合にはその個
所を不良品として取り除くことが行なわれている。尚、
被覆ワイヤについては被覆層の欠陥について同様の検査
が必要である。
ような凸欠陥２や凹欠陥３等の表面欠陥が存在する場合
があり、この欠陥個所を確認し、必要な場合にはその個
所を不良品として取り除くことが行なわれている。尚、
被覆ワイヤについては被覆層の欠陥について同様の検査
が必要である。
かかるワイヤ１の表面欠陥の確認には第４図に示すよう
な欠陥検出装置が使用されていた。従来のこの装置では
、被検出ワイヤ１を走行させながら、ワイヤ１の走行方
向に直角な方向から光源４の光をレンズ５により平行光
線にして照射し、その影を反対側に配置した平板状光セ
ンサ６により検知し、欠陥２又は３によるワイヤ１の影
の増減により、ワイヤの欠陥を検出するものである。
な欠陥検出装置が使用されていた。従来のこの装置では
、被検出ワイヤ１を走行させながら、ワイヤ１の走行方
向に直角な方向から光源４の光をレンズ５により平行光
線にして照射し、その影を反対側に配置した平板状光セ
ンサ６により検知し、欠陥２又は３によるワイヤ１の影
の増減により、ワイヤの欠陥を検出するものである。
しかし、ワイヤｌの欠陥はどの部分に存在するかわから
ないので、第４図の検出装置をワイヤ１の走行方向に位
置をずらせて且つワイヤ１の中心に対して角度を変えて
複数個（通常は６個程度）配置する必要があった。
ないので、第４図の検出装置をワイヤ１の走行方向に位
置をずらせて且つワイヤ１の中心に対して角度を変えて
複数個（通常は６個程度）配置する必要があった。
その為に、平板状光センサ６と検出回路が夫々複数個必
要であり、更にこれら複数個の検出装置を統合する回路
が必要である等、検出装置全体がコスト高になる欠点が
あった。また、ワイヤの走行方向に沿って複数の検出装
置を配置するスペースが必要であり、配置スペースが長
くなる程この間でワイヤ１がブして検出不能になったり
、ワイヤが捩れて欠陥がどの検出装置にも検知されずに
通過してしまう等の不都合があった。
要であり、更にこれら複数個の検出装置を統合する回路
が必要である等、検出装置全体がコスト高になる欠点が
あった。また、ワイヤの走行方向に沿って複数の検出装
置を配置するスペースが必要であり、配置スペースが長
くなる程この間でワイヤ１がブして検出不能になったり
、ワイヤが捩れて欠陥がどの検出装置にも検知されずに
通過してしまう等の不都合があった。
本発明は、ワイヤの走行方向における光センサの配置ス
ペース及び光センサの数を最小限にすることによって、
ワイヤのブレのない状態で且つワイヤの捩れに関係なく
欠陥を検出できる、簡単で安価なワイヤの欠陥検出装置
を提供することを目的とする。
ペース及び光センサの数を最小限にすることによって、
ワイヤのブレのない状態で且つワイヤの捩れに関係なく
欠陥を検出できる、簡単で安価なワイヤの欠陥検出装置
を提供することを目的とする。
本発明のワイヤの欠陥検出装置は、長さ方向に走行する
ワイヤのワイヤ長手方向の１つの位置の外周に沿う半円
上に配置した複数の光源と、各光源とワイヤの間に配置
され前記各光源からの光を夫々ワイヤの走行方向に直角
な平行光線にする複数のレンズと、これらの光源及びレ
ンズに対向してワイヤを挾んで反対側にワイヤの外周に
沿って半円状に配置した円弧状光センサとを具ている。
ワイヤのワイヤ長手方向の１つの位置の外周に沿う半円
上に配置した複数の光源と、各光源とワイヤの間に配置
され前記各光源からの光を夫々ワイヤの走行方向に直角
な平行光線にする複数のレンズと、これらの光源及びレ
ンズに対向してワイヤを挾んで反対側にワイヤの外周に
沿って半円状に配置した円弧状光センサとを具ている。
円弧状光センサとしてフレキシブルなものを使用すれば
、光源の数に応じて円弧状光センサの曲率を適宜変えて
配置できるので便利であり、また複数の円弧状光セ／す
を光源からの平行光線の範囲内でワイヤの走行方向にわ
ずかに位置をずらせて配置すれば、欠陥の検出を一層確
実にすることができる。
、光源の数に応じて円弧状光センサの曲率を適宜変えて
配置できるので便利であり、また複数の円弧状光セ／す
を光源からの平行光線の範囲内でワイヤの走行方向にわ
ずかに位置をずらせて配置すれば、欠陥の検出を一層確
実にすることができる。
走行する被検出ワイヤ１の同一外側円周上の左半分に等
間隔で（ワイヤ１の中心に対して６００の角度間隔で）
波長５６５韻のフォトダイオードからなる光源４を３個
配置し、各光源４とワイヤ１０間には光源４からの光を
ワイヤ１の走行方向に直角な平行光線にするレンズ５が
夫々配置しである。これらの光源４及びレンズ５に対し
てワイヤ１を挾んで反対側（右半分）にはワイヤｌの外
周に沿って半円状の円弧状光センサ７が配置しである。
間隔で（ワイヤ１の中心に対して６００の角度間隔で）
波長５６５韻のフォトダイオードからなる光源４を３個
配置し、各光源４とワイヤ１０間には光源４からの光を
ワイヤ１の走行方向に直角な平行光線にするレンズ５が
夫々配置しである。これらの光源４及びレンズ５に対し
てワイヤ１を挾んで反対側（右半分）にはワイヤｌの外
周に沿って半円状の円弧状光センサ７が配置しである。
円弧状光センサ７はフレキシブルで１．、 第２図に示
すように、ワイヤの走行方向に対して直角方向に細長く
２個形成してあり、その巾（Ｗ）は０、２ ｍｍで、長
さくＬ）は細長いセンサ７がワイヤ１の外周に沿うよう
に１８００の円弧に曲げたときその半径が１５朋となる
ように形成した。円弧状光センサ７の製造は通常の方法
に従って、ポリイミド基板８上にＣｒ電極９を形成し、
その上にＳ ＩＨ４ガス等を用いたプラズマＣＶＤ法に
よりＮＩＰ型ａ−８ｉ層１０をＮ層５００Ｘ、Ｉ層５０
００Ｘ及び２層２００Ｘの厚さに形成し、ａ−３ｉ層１
０を上記のごとく２本に・ξターン化し、その上に酸化
インジウム錫からなる透明電極１１を夫々パターン化し
て形成することにより、Ｃ「電極９／ａ−８ｉ層１０／
透明１！ｆｉｚからなる２個の光セ／すとした。
すように、ワイヤの走行方向に対して直角方向に細長く
２個形成してあり、その巾（Ｗ）は０、２ ｍｍで、長
さくＬ）は細長いセンサ７がワイヤ１の外周に沿うよう
に１８００の円弧に曲げたときその半径が１５朋となる
ように形成した。円弧状光センサ７の製造は通常の方法
に従って、ポリイミド基板８上にＣｒ電極９を形成し、
その上にＳ ＩＨ４ガス等を用いたプラズマＣＶＤ法に
よりＮＩＰ型ａ−８ｉ層１０をＮ層５００Ｘ、Ｉ層５０
００Ｘ及び２層２００Ｘの厚さに形成し、ａ−３ｉ層１
０を上記のごとく２本に・ξターン化し、その上に酸化
インジウム錫からなる透明電極１１を夫々パターン化し
て形成することにより、Ｃ「電極９／ａ−８ｉ層１０／
透明１！ｆｉｚからなる２個の光セ／すとした。
第１図の欠陥検出装置に被検出ワイヤ１として直径１ｍ
１！のエナメル線を秒速１０皿で走行させ、表面欠陥に
よる影の増減を２個の円弧状光センサ７の出力信号の差
をＣｒ電極９を接地して差動増幅させることにより検出
した。尚、光センサは１個でもよいが、２個用いること
によってコモンモードノイズに強く、温度や経時による
ドリフトの影響が少ない検出が可能となる利点がある。
１！のエナメル線を秒速１０皿で走行させ、表面欠陥に
よる影の増減を２個の円弧状光センサ７の出力信号の差
をＣｒ電極９を接地して差動増幅させることにより検出
した。尚、光センサは１個でもよいが、２個用いること
によってコモンモードノイズに強く、温度や経時による
ドリフトの影響が少ない検出が可能となる利点がある。
第１図の欠陥検出装置によシ、第４図のごとく平板状光
センサ６を６個直列にワイヤ１の走行方向に位置をずら
せ且つワイヤ１の中心に対して角度を変えて配置した従
来の欠陥検出装置と同等の精度で欠陥を検出することが
できた。
センサ６を６個直列にワイヤ１の走行方向に位置をずら
せ且つワイヤ１の中心に対して角度を変えて配置した従
来の欠陥検出装置と同等の精度で欠陥を検出することが
できた。
第１図に示すように、ワイヤ１のほぼ全表面を照射する
ために複数個の、好ましくは３個以上の光源４が必要で
あるが、円弧状光センサ７を用いればこれらの光源４を
ワイヤ１の同一円周上に配置できるので、走行方向にお
ける検出に要するス被−スが最小となる。従って、ワイ
ヤｌが捩れて走行しても欠陥の検出に影響がなく、また
検出スペースの前後でワイヤ１をガイドすればブレラ防
止でき、精度よい検出が可能となる。
ために複数個の、好ましくは３個以上の光源４が必要で
あるが、円弧状光センサ７を用いればこれらの光源４を
ワイヤ１の同一円周上に配置できるので、走行方向にお
ける検出に要するス被−スが最小となる。従って、ワイ
ヤｌが捩れて走行しても欠陥の検出に影響がなく、また
検出スペースの前後でワイヤ１をガイドすればブレラ防
止でき、精度よい検出が可能となる。
尚、ワイヤの欠陥には、絶縁被覆等の被覆層がある場合
の被覆層の欠陥が含まれ、この検出も本発明装置により
検出できることは勿論である。
の被覆層の欠陥が含まれ、この検出も本発明装置により
検出できることは勿論である。
本発明によれば、複数の光源に対して１個の円弧状光セ
ンサを使用すればよく、検出回路も簡単になり、装置全
体のコストが安くなる。また、ワイヤの走行方向におけ
る円弧状光センサの配置スペース即ち検出スペースを最
小限にできるので、ワイヤのゾレのない状態で且つワイ
ヤの捩れに関係なく欠陥を高い精度で検出できる。
ンサを使用すればよく、検出回路も簡単になり、装置全
体のコストが安くなる。また、ワイヤの走行方向におけ
る円弧状光センサの配置スペース即ち検出スペースを最
小限にできるので、ワイヤのゾレのない状態で且つワイ
ヤの捩れに関係なく欠陥を高い精度で検出できる。
第１図は本発明のワイヤの欠陥検出装置により欠陥を検
出する状態を示す断面図であり、第２図（ａ）は本発明
に用いる円弧状光センサの断面図及び第２図（ｂ）はそ
の平面図である。第３図はワイヤの欠陥を説明するだめ
のワイヤの側面図である。第４図は従来の欠陥検出装置
によりワイヤの欠陥を検出する状態を示す断面図である
。 １・・・ワイヤ、４・・・光源、５・・・レンズ、６・
・・平板状光センサ、７・・・円弧状光センサ、８・・
・基板、９・・・Ｃｒ電極、１０・・・ａ−８ｉ層、１
１・・・透明電極。
出する状態を示す断面図であり、第２図（ａ）は本発明
に用いる円弧状光センサの断面図及び第２図（ｂ）はそ
の平面図である。第３図はワイヤの欠陥を説明するだめ
のワイヤの側面図である。第４図は従来の欠陥検出装置
によりワイヤの欠陥を検出する状態を示す断面図である
。 １・・・ワイヤ、４・・・光源、５・・・レンズ、６・
・・平板状光センサ、７・・・円弧状光センサ、８・・
・基板、９・・・Ｃｒ電極、１０・・・ａ−８ｉ層、１
１・・・透明電極。
Claims (2)
- （１）長さ方向に走行するワイヤのワイヤ長手方向の１
つの位置の外周に沿う半円上に配置した複数の光源と、
各光源とワイヤの間に配置され前記各光源からの光を夫
々ワイヤの走行方向に直角な平行光線にする複数のレン
ズと、これらの光源及びレンズに対向してワイヤを挾ん
で反対側にワイヤの外周に沿つて半円状に配置した円弧
状光センサとを具えたワイヤの欠陥検出装置。 - （２）円弧状光センサがフレキシブルであることを特徴
とする、特許請求の範囲（１）記載のワイヤの欠陥検出
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18165486A JPS6338145A (ja) | 1986-08-01 | 1986-08-01 | ワイヤの欠陥検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18165486A JPS6338145A (ja) | 1986-08-01 | 1986-08-01 | ワイヤの欠陥検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6338145A true JPS6338145A (ja) | 1988-02-18 |
Family
ID=16104524
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18165486A Pending JPS6338145A (ja) | 1986-08-01 | 1986-08-01 | ワイヤの欠陥検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6338145A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20030026442A (ko) * | 2001-09-25 | 2003-04-03 | 엘지전선 주식회사 | 선재의 표면 결함 검사 장치 |
| JP2014137327A (ja) * | 2013-01-18 | 2014-07-28 | Shinsei Kagaku Kogyo Co Ltd | バリ検査装置及びバリ検査方法 |
-
1986
- 1986-08-01 JP JP18165486A patent/JPS6338145A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20030026442A (ko) * | 2001-09-25 | 2003-04-03 | 엘지전선 주식회사 | 선재의 표면 결함 검사 장치 |
| JP2014137327A (ja) * | 2013-01-18 | 2014-07-28 | Shinsei Kagaku Kogyo Co Ltd | バリ検査装置及びバリ検査方法 |
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