JPS6334832A - 含浸形カソ−ドの製造方法 - Google Patents
含浸形カソ−ドの製造方法Info
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- JPS6334832A JPS6334832A JP61177542A JP17754286A JPS6334832A JP S6334832 A JPS6334832 A JP S6334832A JP 61177542 A JP61177542 A JP 61177542A JP 17754286 A JP17754286 A JP 17754286A JP S6334832 A JPS6334832 A JP S6334832A
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Landscapes
- Solid Thermionic Cathode (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は高電流密度カソードとして電子管等に用いられ
る含浸形カソードの製造方法に関する。
る含浸形カソードの製造方法に関する。
従来この種の含浸形カソードは、タングステン(W)、
モリブデン(MO)等の高融点金属からなる多孔質性の
基体に、B a −Caアルミネート等の電子放出物質
を含浸させて構成されるが、さらに電子放出特性を向上
させるために、カソード表面に主として貴金属からなる
薄膜を付着させる場合があり、このような電子放出特性
の向上に有効な材料としてオスミウム(Os)、イリジ
ウム(Ir)。
モリブデン(MO)等の高融点金属からなる多孔質性の
基体に、B a −Caアルミネート等の電子放出物質
を含浸させて構成されるが、さらに電子放出特性を向上
させるために、カソード表面に主として貴金属からなる
薄膜を付着させる場合があり、このような電子放出特性
の向上に有効な材料としてオスミウム(Os)、イリジ
ウム(Ir)。
ルテニウム(Ru)、レニウム(Re)などが知られて
いる(バキューム第3巻第718頁(Vacuum。
いる(バキューム第3巻第718頁(Vacuum。
Vol、 3 (1983)、 P 718))。
これらの合金は、カソードの動作中に下地金属基体材料
と徐々に合金化して失われ、それに伴って電子放出特性
も劣化する。
と徐々に合金化して失われ、それに伴って電子放出特性
も劣化する。
したがって、良好な電子放出特性を長時間維持するため
には薄膜を十分厚く形成しておく必要がある。ところが
、このように薄膜の膜厚を大きくすると、一般にその゛
電子放出特性を向上させる効果が低下し、著しい場合に
はむしろ薄膜を形成しないものより低下することもある
。
には薄膜を十分厚く形成しておく必要がある。ところが
、このように薄膜の膜厚を大きくすると、一般にその゛
電子放出特性を向上させる効果が低下し、著しい場合に
はむしろ薄膜を形成しないものより低下することもある
。
これに対して、上記被膜にアルミナ、イツトリア、スカ
ンジウム・オキサイドなどを加えることにより、当該被
膜を、その電子放出特性向上の効果を落すことなく厚く
することができる。このため、良好な電子放出特性を長
時間にわたり安定して維持できる。
ンジウム・オキサイドなどを加えることにより、当該被
膜を、その電子放出特性向上の効果を落すことなく厚く
することができる。このため、良好な電子放出特性を長
時間にわたり安定して維持できる。
ところが、このような含浸形カソードはまれにではある
が、電子放出特性が極端に低いものが出てくるため、安
定性に乏しいという問題があった。
が、電子放出特性が極端に低いものが出てくるため、安
定性に乏しいという問題があった。
したがって本発明の目的は、長時間にわたって良好な電
子放出特性が得られる含浸形カソードを安定に供給でき
る製造方法を提供することにある。
子放出特性が得られる含浸形カソードを安定に供給でき
る製造方法を提供することにある。
このために本発明は、カソード材料表面に付着させる被
膜を、O8,I r、 Rut Re、 wl Moの
少なくとも1種またはそれらを主体とする合金と、アル
ミナ(A fl zOa) pイツトリア(YzOa)
*スカンジウム・オキサイド(SaxOs)の少なくと
も1種またはそれらを主体とする化合物との混合物を主
成分として構成した後、これを水素あるいは水素を含む
雰囲気中で加熱処理を行うものである。
膜を、O8,I r、 Rut Re、 wl Moの
少なくとも1種またはそれらを主体とする合金と、アル
ミナ(A fl zOa) pイツトリア(YzOa)
*スカンジウム・オキサイド(SaxOs)の少なくと
も1種またはそれらを主体とする化合物との混合物を主
成分として構成した後、これを水素あるいは水素を含む
雰囲気中で加熱処理を行うものである。
すなわち、前記電子放出特性が極端に低い原因は1例え
ばO5とA Q zO3との混合物からなる被膜を付着
させた含浸形カソードの場合、被膜付着時にO5がAQ
zOsの酸素を取り込むと、これが真空中で加熱された
ときにOsとカソード材料中の電子放出物質との反応が
起こり、この反応生成物が被膜中に形成されることによ
って電子放出特性の劣化が生じているものと推定された
。そこで。
ばO5とA Q zO3との混合物からなる被膜を付着
させた含浸形カソードの場合、被膜付着時にO5がAQ
zOsの酸素を取り込むと、これが真空中で加熱された
ときにOsとカソード材料中の電子放出物質との反応が
起こり、この反応生成物が被膜中に形成されることによ
って電子放出特性の劣化が生じているものと推定された
。そこで。
被膜付着後に水素雰囲気中で加熱処理を行ったところ、
電子放出特性が極端に低いカソードは見られなくなり、
電子放出特性の良好なカソードが安定に製造できるよう
になった。これは、水素雰囲気中で加熱処理を行うこと
しこより、カソード材料中の電子放出物質との望ましく
ない反応が抑止され、付着被膜が安定化されるためと考
えられる。
電子放出特性が極端に低いカソードは見られなくなり、
電子放出特性の良好なカソードが安定に製造できるよう
になった。これは、水素雰囲気中で加熱処理を行うこと
しこより、カソード材料中の電子放出物質との望ましく
ない反応が抑止され、付着被膜が安定化されるためと考
えられる。
第1図は本発明の一実施例を示す断面図である。
同図において、1はカソード材料としての、ペレットで
ある。このペレット1は、空孔率20−25%の高融点
金属(例えばタングステン)からなる多孔質基体11か
ら構成され、その空孔12中には電子放出物質となるB
a−Caアルミネートが含浸されている。そしてこのペ
レット1はモリブデン(Mo)製カップ2中に装着され
、レーザ溶接、あるいはろう付けにより固定配置されて
いる。
ある。このペレット1は、空孔率20−25%の高融点
金属(例えばタングステン)からなる多孔質基体11か
ら構成され、その空孔12中には電子放出物質となるB
a−Caアルミネートが含浸されている。そしてこのペ
レット1はモリブデン(Mo)製カップ2中に装着され
、レーザ溶接、あるいはろう付けにより固定配置されて
いる。
ここで、ペレット1の上には約4i+t%のA 12
zO3を含む0s−Aμzoal漠4が、スパッタリン
グにより約5ooo人の厚さに形成されている。
zO3を含む0s−Aμzoal漠4が、スパッタリン
グにより約5ooo人の厚さに形成されている。
そして、このOs −A Q zo 3M!144のス
パッタリング形成後に水素雰囲気中1200℃で約10
分間加熱処理が施されている。
パッタリング形成後に水素雰囲気中1200℃で約10
分間加熱処理が施されている。
さらに、モリブデンカップ2の外周にはタンタル(Ta
)製のスリーブ3がレーザ溶接により固定配置されてい
る。そして、ペレット1は、スリーブ3中に設けられた
W芯fi5Lをアルミナ被膜52で被覆してなるヒータ
5によって加熱されることにより熱電子を放射する。
)製のスリーブ3がレーザ溶接により固定配置されてい
る。そして、ペレット1は、スリーブ3中に設けられた
W芯fi5Lをアルミナ被膜52で被覆してなるヒータ
5によって加熱されることにより熱電子を放射する。
このような構成を有するカソードを用い、カソード・ア
ノード2極管方式でアノードにパルス幅約5μs2周波
数100 Hzの高電圧パルスを印加して飽和電流密度
を測定した。
ノード2極管方式でアノードにパルス幅約5μs2周波
数100 Hzの高電圧パルスを印加して飽和電流密度
を測定した。
その結果、本実施例のカソードの電子放出特性はOs
−A Q xos被膜の付着後に水素雰囲気中で加熱処
理を施さなかったカソードのうちの特性の良いものと比
較してほぼ同等であったが、水素雰囲気中で加熱処理を
施さなかったカソードの場合。
−A Q xos被膜の付着後に水素雰囲気中で加熱処
理を施さなかったカソードのうちの特性の良いものと比
較してほぼ同等であったが、水素雰囲気中で加熱処理を
施さなかったカソードの場合。
70ツトに10ット程度の割合で電子放出特性が極端に
低いカソードが見られたのに対して、水素雰囲気中で熱
処理を施したカソードの場合はそのような特性の低いも
のは皆無であった。
低いカソードが見られたのに対して、水素雰囲気中で熱
処理を施したカソードの場合はそのような特性の低いも
のは皆無であった。
以上、AQxOsを含むO5膜を付着した例について説
明したが、O8の代わりに従来同様の目的で使用されて
いるI r t Ru + Reを用いても良いし、あ
るいはこれらを主体とする合金、例えば0s−Ru、
Os −Ir、○s−W等を用いてもよく、さらには上
記金属膜として程度は低いが、W、MOを用いた場合に
も同様の効果が得られた。一方、Al220317)代
わlJにYzO3,5czos、Aるいはこれらを主体
とする化合物を用いても同様の結果が得られる。なお、
金属、すなわちAQ、Y、SCの状態で膜を形成し、そ
の後酸化物としたものでもよい。また、これらは電子放
出特性を十分に向上させるために、0.1wt%以上入
れることが望ましく、また、抵抗値の上昇を抑えるため
に20%it%程度以下とすることが望ましい。
明したが、O8の代わりに従来同様の目的で使用されて
いるI r t Ru + Reを用いても良いし、あ
るいはこれらを主体とする合金、例えば0s−Ru、
Os −Ir、○s−W等を用いてもよく、さらには上
記金属膜として程度は低いが、W、MOを用いた場合に
も同様の効果が得られた。一方、Al220317)代
わlJにYzO3,5czos、Aるいはこれらを主体
とする化合物を用いても同様の結果が得られる。なお、
金属、すなわちAQ、Y、SCの状態で膜を形成し、そ
の後酸化物としたものでもよい。また、これらは電子放
出特性を十分に向上させるために、0.1wt%以上入
れることが望ましく、また、抵抗値の上昇を抑えるため
に20%it%程度以下とすることが望ましい。
さらに、このような被膜の厚さは、必要な寿命によって
異なるが、厚すぎるとコストが上昇するとともに活性化
に長時間を要することもあり、2μm厚程度以下が望ま
しい。
異なるが、厚すぎるとコストが上昇するとともに活性化
に長時間を要することもあり、2μm厚程度以下が望ま
しい。
水素雰囲気中での熱処理温度は700℃以下では十分な
効果が得られる。1700℃を超えると電子放射物質の
溶融が起こるので700〜1700℃が良く、より望ま
しくは1000〜1400℃がよい。また、熱処理の雰
囲気は水素単独に限らず水素と窒素との混合雰囲気など
、いわゆる水素を含んだ雰囲気であればよい。
効果が得られる。1700℃を超えると電子放射物質の
溶融が起こるので700〜1700℃が良く、より望ま
しくは1000〜1400℃がよい。また、熱処理の雰
囲気は水素単独に限らず水素と窒素との混合雰囲気など
、いわゆる水素を含んだ雰囲気であればよい。
以上説明したように、本発明によれば長時間にわたって
良好な電子放出特性が得られる含浸形カソードを安定に
得ることができる。
良好な電子放出特性が得られる含浸形カソードを安定に
得ることができる。
第1図は本発明の一実施例を示す断面図である。
1・・・カソードペレット、4・・・0s−AQ208
膜、11・・・多孔質W基体、12・・・空孔。
膜、11・・・多孔質W基体、12・・・空孔。
Claims (1)
- 1、高融点金属からなる多孔質性の基体に電子放出物質
を含浸させた含浸形カソードにおいて、表面にオスミウ
ム、イリジウム、ルテニウム、レニウム、タングステン
、モリブデンの少なくとも1種またはそれらを主体とす
る合金と、アルミナ、イットリア、スカンジウム・オキ
サイドの少なくとも1種またはそれらを主体とする化合
物との混合物を主成分とする被膜を付着させ、しかる後
水素または水素を含む雰囲気中で加熱処理することを特
徴とする含浸形カソードの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61177542A JPS6334832A (ja) | 1986-07-30 | 1986-07-30 | 含浸形カソ−ドの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61177542A JPS6334832A (ja) | 1986-07-30 | 1986-07-30 | 含浸形カソ−ドの製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6334832A true JPS6334832A (ja) | 1988-02-15 |
Family
ID=16032766
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61177542A Pending JPS6334832A (ja) | 1986-07-30 | 1986-07-30 | 含浸形カソ−ドの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6334832A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02155139A (ja) * | 1988-12-07 | 1990-06-14 | Matsushita Electron Corp | 含浸型陰極 |
KR20000009399A (ko) * | 1998-07-24 | 2000-02-15 | 김영남 | 음극선관용 음극 및 그 제조방법 |
-
1986
- 1986-07-30 JP JP61177542A patent/JPS6334832A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02155139A (ja) * | 1988-12-07 | 1990-06-14 | Matsushita Electron Corp | 含浸型陰極 |
KR20000009399A (ko) * | 1998-07-24 | 2000-02-15 | 김영남 | 음극선관용 음극 및 그 제조방법 |
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