JPS633392A - 選択コ−ドリ−ダ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ３、発明の詳細な説明〕 （イ）利用分野 本発明は一般的に、還択コード読出し装置及び方法に関
し、より詳細には、キャリア上のコードを突き止め、次
にこのコードを読み出すための装置及び方法に関する。

（ロ）従来技術及びこの発明が解決しようとする問題点 本発明に関する多くの出願の中の１つは、容器上のバー
コードを突き止め、読み出すことである。

このバーコードは、容器の側壁に互いに実質的に平行に
配列されている一連の実質的に等間隔の短バー及び長バ
ーの形を取り得ろ。このコードは、容器が形成される時
に用いた型番のような多種の情報を含み得る。

斯かるバーコードを読み出すための１つのシステムは、
米国特許出願第６４８，２２９号に開示されている。こ
の特許出願は、本発明の一部として引用されている。こ
の特許出願に斯かるコード読出しシステムは、容器が回
転する時にコードを照明する光源、及び容器が回転する
時に各バーからの反射による長さ方向の照明のために位
置している直線配列の光学センサを含んでいる。これら
のセッサの任意の１つが、反射によって作動すると、測
定回路が作動して、反射によって同時に作動するこの配
列におけるセンサの合計数を計数する。

この数は、バー又は他の反射の源の長さを示す。

第１範囲内の計数値は、−方の二進レベルの長バーを示
すのに対して、第２範囲内の計数値は、他方の二進レベ
ルの短バーを示す。

しかしながら、しばしば、漂遊マーク、容器のキズ又は
レタリングが、コード領域の外側であってしかも光学セ
ンサの視覚の線内に存在して、バ−コードと混乱するよ
うな測定値を生じることがある。

従って、本発明の一般的な目的は、キャリア上のコード
を突き止め、これをキャリア上のレタリングあるいは他
のマークから区別することのできる選択コード読出し装
置及び方法を提供することにある。

本発明のより詳細な目的は、バーコードリーダと共動し
て、コードを読み出す前記の型の選択コード読出し装置
及び方法を提供することにある。

本発明の別の詳細な目的は、型によって長さが変化する
短バーエレメント及び長バーエレメントを有する異なっ
た型のバーコードを読み出すことができるバーコードリ
ーダを提供することにある。

（ハ）問題点を解決するための手段 本発明は、キャリア上の複数の実質的に等間隔に離間し
ているエレメントを含むコードを突き止め、次にこのコ
ードを読み出すための装置及び方法に関する。この装置
は、キャリアを走査して、コードを含む上記キャリア上
の領域を表わす第１部分及びキャリア上の他の領域を表
わす第２部分を有する電気信号を発生するためのスキャ
ナ、及び上記電気信号の上記第１部分に対応し且つ上記
コードのエレメント間のスペーシングに対応する基本周
波数を有する第１部分及び上記電気信号の第２部分に対
応し且つ上記コードのエレメント間のスペーシングに対
応する基本周波数を有していない第２部分を有する電気
波形を発生するためのプロセッサを含んでいる。この電
気波形の第１及び第２部分は、０波されて、上記電気波
形の第２部分を、上記第１部分に対して相対的に減衰せ
しめる。上記電気波形の第１部分は、口波後のそのより
高いエネルギによって区別され、これは、上記電気信号
及び上記コードデータの第１部分を示すＱ （ニ）実施例 第１図は、ガラス容器１１の側壁１０に配置されている
バーコード１２を示しており、このバーコードは、本発
明によって位置を突き止められ且つ読み出される。この
バーコードは、互いに実質的に平行であり且つ等間隔に
配置されている短エレメント１４．１４及び長エレメン
ト１６．１６を含んでいる。エレメント１４及び１６は
また、虚ベースライン１３に沿って登録されている。エ
レメント１４及び１６の長さは、それぞれの２進レベル
を示し、コード１２は、８ビツトの情報ヲ与える。第１
図はまた、バーコード１２と略Ｉｎの高さである側壁１
０に漂遊マーク４及びレタリング６．８及び９を示して
因る。

第２図は、光学走査ヘッド即ちアセンブリ２３が、コー
ド１２のレベルと肩を並べるようにするためにアセンブ
リ２３に隣接する走査位置に容器１１を支持するための
ベース２０を示している。

走査アセンブリ２３は、コードを照明する光源３１を含
んでいる。第２図に示すように、パーエレメント１４及
び１６は、側壁１１から外方に突出しており、これによ
り光学レフレクタを形成している。光は、コードによっ
て反射し、プリズム２５、第２レンズアセンブリ２７、
第２レンズアセンブリ２７を通って、次に読出し面２８
に至る。

読出し面は、直線アレイに配列されている複数のセクタ
３４．３４に分割されている。−例として示すと、１０
個の斯かるセクタが存在し、長バーエレメント１６及び
短バーエレメント１４からの反射が、読出し面２８に対
して縦になった時、長バーエレメント１６．１６は、斯
かるセクタ３４゜３４０７個にまたがり、−方短バーエ
レメント１４．１４は、斯かるセクタ３４．３４の３個
にまたがる。読出し面の斯かるセクタ３４．３４は、束
３０のグラスファイバ２９への入口によって形成されて
いる。各これらのグラスファイバの出口は、関連の光ダ
イオード３５．３５にインターフェースする。従って、
これらのパーの任意のパーあるいは容器１１の他の反射
領域からの反射が、光学読出し面２８に至ると、光は、
関連の光ダイオードに伝達され、これらの光ダイオード
を活性化する。

第２図はまた、光学走査アセンブリが、コード１２の各
パーを連続的に走査するようにするために容器１１に係
合して、これを軸２１を中心に回転せしめるベルト１９
を示している。これらの容器は、ペース２０の上に無作
為に角配向されるため、コード全体を確実に走査するべ
く３６０°以上回転される。３６０°回転することによ
ってまた、アセンブリ２３は、漂遊マーク４及びレタリ
ング６．８及び９を走査する。回転速度は、バーコード
が読み出されている間に実質的に一定であるかあるいは
走査プロセスの間モニタされており、これにより、バー
エレメントの走査の間の時間インタバルは、容器のバー
エレメント１４及ヒ１６の間の距離に相関するようにな
る。斯かる光学走査アセンブリの諸部分及び関連の読出
し技術の詳細については、米国特許筒４，５２４，２７
０号を参照にすることができる。

ここで本発明に焦点をあてる。第３図は、容器１１が回
転すると感光性ニレメン）３５．３５の出力を検知し、
コードの位置を突き止め、後に述べるようにコードの中
の情報を読み出す電子プロセッサ５０を示している。各
ダイオード３５（第３図には１個のみが示されている）
の入力は、直流電圧源に接続されており、出力は、ケー
ブル３８を経由してアナログ増幅器４０（第３図には１
個のみが示されている）Ｋ接続されている。前期の例て
おける１０個のセクタ３４．３４に対応させるために、
１０個の光ダイオード３５　＋　３５、各光ダイオード
に対して１つずつ即ち１０個の関連のコンダクタをケー
ブル３８内に、且つ１０個の増幅器チャンネルが存在す
る。しかしながら、ここで明確に理解すべきことは、必
要に応じて、これと異なった数のセクタ３４，３４、光
ダイオード３５ｙ　３５等を用いることができることで
ある。各増幅器の利得は、関連の光ダイオードの感度を
他方の光ダイオードに一致させるべく調節可能となって
いる。ケーブル３８における１１個目のコンダクタは、
直流電圧を、各光ダイオードの入力に与える。これら１
０個の増幅器チャンネルの出力は、これら増幅器出力の
各々をしきい値と比較させる１０個の比較器４２．４２
（１つのみが示されている）に個々に供給される。この
出力が、しきい値を越えると、バーエレメント１４゜１
６によって生じるレベルにおけるあるいはこのレベルの
上の反射を示す。しかしながら、漂遊マーク４及びレタ
リング６．８及び９はまた、このしきい値の上の反射を
引き起こす。

比較器４２．４２の諸量力は、１０ビツトラツチ４４の
諸式力に並列に供給される。−例を示すと、ラッチは「
Ｄ型」であり且つバッファ５０゜５０を経由してマイク
ロプロセッサ４８から出力４６によって与えられる抽出
クロック信号によって比較器出力を読み出すようにトリ
ガされる。マイクロプロセッサ４８が、回転センサ４９
が、あル容器が現在ベルト１９によって回転させられて
いることを示した後に斯かるクロック信号を発生するこ
とを開始する。また−例を示すと、ラッチ４４は、それ
が容器１１を支持してコードにおけルアルバーエレメン
トからコードにおける隣接のバーエレメントに光学走査
アセンブリ２３を通って回転せしめる間に周期的に８回
トリガされる。

その結果、８個のバーエレメントを有するコード１２の
全体の走査の間、ラッチ４４は、６４回トリガされ、こ
れにより６４の走査サンプルが得られる。また−例とし
てあげると、コード長は、・前記の抽出速度によって、
容器の３６０°回転当り６００個のサンプルを生じるよ
うな長さであり得る。光ダイオード３５．３５からのデ
ータは、増幅器４０．４０及び比較器４２．４２を経由
してラッチに並列に供給されるため、ラッチ４４の全体
の１０ビツトセンサ出力５２は、読出し面２８に現在反
射されている任意のエレメントの長さを瞬間的に示す。

ラッチ４４のセンサ出力５２は、時間の関数として第４
ａ図に示されており、特に、各クロックサンプルの間、
どの光ダイオード３５゜３５が作動しているかを示して
いる。この示された例において、第４ａ図のグラフにお
ける第１グループ５４の点は、パー１６ａの最初の１つ
を走査する時の光ダイオード３５．３５の応答を表わし
ている。パー１６ａは、長い方の種類のパーの１つであ
り、これから生じた反射は、各サンプルの間、読出し面
２８におけるセクタ３４．３４の７つに入っている。最
初の２つのサンプルの期間中、ダイオード１乃至７が作
動しており、最後の２つのサンプルの期間中、ダイオー
ド２乃至８が作動してＡる。このバーのオフセットは、
走査の期間中の容器の垂亘振動が原因である可能性があ
る。第４ａ図のグラフにおける第２グループ５６０点は
、バーニレメン）１４ａの第２の短い方の１つが走査さ
れている時の光ダイオードの応答を示す。これらの短い
バーは、読出しセクタ３４゜３４の約３個に反射する。

ここでまた銘記すべきことは、グループ５６は、バー１
４ａが読出し面に反射した３つのサンプルのみを含んで
いるのに対して、グループ５４は、４つのサンプルを含
んでいることである。これは、製造上の許容差によって
生じたバー１４ａ及び１６ａの間の幅の非均一性を示す
。サンプル番号５８までの第４ａ図のグラフにおける他
の点は、バーコードの残りを示し、−力点５９は、漂遊
マーク４からの反射を示し且つグラフにおける点のグル
ープ６６．６８及び６９は、光ダイオード３５．３５の
文字６，８及び９０部分に対する応答をそれぞれ示す。

ここで銘記すべきことは、第４ａ図のグラフにおけるバ
ーエレメントの表現は、だいたい周期的であり、即ち、
これらのバーは、およそ等しい時間インタバルでもって
存在するのに対し、漂遊マーク４及び文字６，８及び９
の表現は、等しい時間インタバルでもって存在しないと
いうことである。

第３図に戻る。ラッチ４４の並列出力５２は、ラッチ４
４の各サンプルに対して、作動する光ダイオードの数を
計数するコード化回路に供給される。回路７０は、第５
図により詳細に示されている。°しかしながら、コンピ
ュータにおける他の型式のハードウェア計数回路あるい
は計数ソフトウェアを用いることができることを了解す
べきである。第５図の回路において、ラッチ４４の出力
は、１０個のＡＮＤゲート７４．７４の第１人力に適用
される。パルスシーケンサ７８は、クロック信号出力４
６からのパルスを受け、これらのパルスをその出力８０
．８０に順次送る。これらの出力８０．８０は、ＡＮＤ
ゲート７４．７４の第２人力に供給され、これにより、
ラッチ４４の出力５２は、Ａ　Ｎ　Ｄゲート７４．７４
によって順次に読出されるようになっている。ＡＮＤゲ
ート７４゜７４の出力は、１０人力ＯＲゲート８２に供
給され、ＯＲゲート８２の出力は、カウンタ８４の計数
入力に供給され、これにより、パルスシーケンサ７８の
各サイクルの期間中、ラッチ４４の出力の各々が読み出
され、作動している光ダイオードを示す各出力によって
、ＯＲゲート８２はパルスを出力し、カウンタは１だけ
増分するようになっている。カウンタ８４の「強度」出
力９０は、各サンプルの期間中作動している光ダイオー
ドの数を示す４つのピットを含んでいる。この出力は、
時間又はサンプル数の関数として第４ｂ図に示されてい
る。第４ａ図のグループ５４におけるコロムの各々は、
７の計数を生じるのに対し、グループ５６におけるコロ
ムの各々は、３の計数を生じる。ピンのキズ４は、１の
計数を生じるのに対し、レタリング６．８及び９は、１
乃至６の計数を生じる。

再び第３図について説明する。「強度」出力９０は、記
憶されるためにマイクロプロセッサ１２５に直接供給さ
れ、またバッファ９２を通してデジタル比較器９４にも
供給される。計数値が、ゼロよりも大きい場合、比較器
は、＋１ボルトの「バー」値９５を出力し、計数出力は
、ゼロに等しい場合、比較器は、第４Ｃ図の「バー」グ
ラフに示されているように一１ボルトの「バー」値９５
を出力する。ここで銘記すべきことは、比較器９４によ
って行なわれる処理の後、バーコード１２は、バー１４
．１６が、読出し面２８に連続的に反射する速度に対応
する基本周波数を有する矩形波、即ち、回転の期間中の
容器１１の周速でバーの中心スペーシングを割った値に
等しい周期の矩形波を生じることである。漂遊マーク４
及びレタリング６．８及び９は、非均一性の幅を有する
非周期的パルスを生じる。

比較器９４の出力は、バーエレメント１４及び１６の前
期の基本周波数に中心を置かれている帯域通過フィルタ
１００に供給される。−例をあげると、好ましい帯域通
過フィルタが第６図に示されている。しかしながら、こ
こで了解すべきことは、他の型式の帯域通過フィルタ、
例えば、抵抗エレメント、容量エレメント及び誘導エレ
メントを用いるアナログフィルタも、所望に応じて用い
ることができることである。帯域通過フィルタ１００の
作動のモードは、第７ａ図及び第７ｂ図を参照すると理
解できる。これらの図は、「バー」矩形波の基本周波数
に等しい基本周波数を有する有限インパルス応答を示し
ている。第７ｂ図は、バーエレメントの走査の間の時間
が、有限インパルス応答の減衰正弦波の基本「周期」に
等しいことを示している。有限インパルス応答グラフに
おけろ各個別の点は、以下に論しられるように、ラッチ
４４のサンプルに対する乗数に対応しており、有限イン
パルス応答における個別点の値は、デジタルロ波を実行
するための「バー」波形による回旋作動に用いられる。

バー信号９５は、バッファ１２０を通してシフトレジス
タ１２１に入力され、シフトレジスタ１２１は、３つの
集枳回路１２２，１２４及び１２６を含んでおり、各々
の集積回路は、６個の個別Ｄフリップフロップを含んで
いる。各ＤフリップフロップのＱ出力は、次のＤフリッ
プフロップのＤ入力に順次に接続されている。この複合
シフトレジスタは、１８個のピント即ちＤフリップフロ
ップを有しているが、しかし、最初の１７個のフリップ
フロップ１２８〜１４４しか用いられていない。バー信
号９５は、バッファ１２０を経由してクリップフロップ
１２８に入力され、サンプル毎に、クロック信号出力４
６によって複合シフトレジスタを通して順次にクロック
される。クロック信号出力の各ストローク及び複合シフ
トレジスタ１２１を通るバー信号９５の対応の増分移動
に対して、前記の回旋作動は、デジタルロ波を実施する
ために実施される。有限インパルス応答グラフにおける
点１２８１〜１４４１は、それぞれフリップフロップ１
２８〜１４４のＱ出力に対応する。第７ａ図のグラフに
よって示されるように１点１２８　は、プラス１の係数
を示すため、フリップフロップ１２８の単純な非変更Ｑ
出力は、コンダクタ１４７を通してＥＰＲＯＭ　１６０
に供給され、これにより適当な加数を与える。有限イン
パルス応答グラフにおける点１２９　は、ゼロの係数を
示すため、対応のＱ出力１２９は、タップされない。同
様にして、有限インパルス応答グラフにおける点１３０
１は、ゼロの係数を示すため、対応のＱ出力１３０はタ
ップされない。点１３１１は、マイナス１の係数を示す
ため、対応のＱ出力１３０は、インバータ１５０によっ
て反転する。同様にして、点１３２１及び１３３１は、
マイナス１の係数を示す１こめ、対応のＱ出力１３２及
び１３３は、インバータ１５０，１５０によって反転す
る。他方のＱ出力は、プラス２の乗数１３６１は、Ｑ出
力１３６から発する２つのコンダクタ１４８，１４９に
よって与えられることを除いて、同じ方法により有限イ
ンパルス応答グラフによって示される対応の乗数によっ
て処理される。回旋プロセスの和は、ＥＰＲＯＭ　１６
０によって実行される。−例をあげると、ＥＰＲＯＭ１
６０は、２７３２Ａ型集積回路を含み且つその入力の各
々を合計するようにプログラムされており、これらの入
力は、適当な乗数を通してフリップフロップ１２８−１
４４のＱ出力によって供給される。ここで銘記すべきこ
とは、Ｑ出力１３６は、コンダクタ１４８及び１４９を
経由してＥＰＲＯＭ　１６　ｏの２つの入力１６２，１
６４に供給され、これにより有限インパルス応答グラ−
ｙの点１３６１によって示されるプラス２の乗数を与え
ることである。ＥＰＲＯＭ　１６０によって計数される
オ旧ま、４つの出力ボート１６６〜１６９を経由してデ
ジタル状で出力され、これにより４ピツト出力を与える
。斯かる出力はプロットされると、第４ｄ図に示される
バーロ波波形１７０を生じる。パーロ波波形１７０は、
帯域通過フィルタ１００及びコード１２のバーの間のス
ペーシングの基本周波数に対応する基本周波数を示し、
バーエレメント１４，１６に対応するバー信号９５が複
合シフトレジスタを通過する時に最大振幅の正弦波を生
じる。バーエレメントを表わす正弦波の最大振幅は、容
器のキズ４を表わすフィルタ応答及びレタリングを表わ
すフィルタ応答の最大振幅の両方よりも大きいが、これ
は、バーエレメントを表わすバー信号矩形波がそのエネ
ルギをフィルタの中心周波数に集中せしめているのに対
し、キズ４及びレタリング６．８及び９を表わすバー信
号が、かなりのエネルギを他の周波数に含んでいるから
である。ＥＰＲＯＭ　１６０の出力は、パーエレメント
１４，１６に対応するバーグラフ９５０部分が、パーエ
レメントのインパルス応答の正の作動部分への整合に対
応する位置において複合シフトレジスタに含まれる時に
瞬間最大振幅を示す。斯かる事象は、第７ｂ図及び第７
ａ図の重畳によって示される。ゼロよりも大きいかある
いはゼロに等しい有限インパルス応答グラフ状の点の全
ては、バー信号グラフ９５における正の点と−致し、ゼ
ロより小さいかあるいはゼロに等しい有限インパルス応
答グラフ状の点の全ては、バー信号グラフ９５における
負の点に−致し、これにより、斯かるバー信号点に、対
応の有限インパルス応答係数がかけられると、各部分和
及び回旋された出力は最大になる。示された例において
、斯かる最大の回旋出力１６９は、バー信号グラフ１７
０によって示されるようにプラス６である。

１クロック信号の後、バー信号９５は、有限インパルス
応答フィルタによって示される最適係数と整合しないた
め、ＥＰＲＯＩＶＩ　１６０の対応の回旋出力１７１は
、少なくなっており、示された例においてはプラス５で
しかない。前記の最大応答の４クロック信号後、複合シ
フトレジスタ１２１のバー信号９５は、有限インパルス
応答と１８０゜位相がずれており、従って、シフトレジ
スタ内のバー信号９５の正の点が、負の係数と並び、複
合シフトレジスタにおけるバー信号９５の負の点は、正
の係数と並ぶため、その結果生じろ瞬間的回旋出力１２
３は、最小となり、示された例においては、マイナス６
となる。容器１１における漂遊マーク４及びレタリング
６．８及び９に対応するバーロ波波形１７０は、パーエ
レメント１４．１６に対応する部分より小さなピークピ
ーク振幅を有しているが、これは、漂遊マーク及びレタ
リングに対応するバー信号グラフ９５の部分が、デジタ
ルフィルタ有限インパルス応答と同じ基本周波数を有し
ており、従ってそれによって減衰したからである。

次に、マイクロプロセッサ１３０は、進行して、第８図
のフローチャートによって示される方法でもって最大エ
ネルギの部分の位置を突き止めることによってバーロ波
波形のバーコード部分を突き止める。以下の説明によっ
て明らかとなる理由により、マイクロプロセッサ１２４
は先ず、ノくラメータＩ、＝６００（ステップ２３６）
及びｎ　＝　０（ステップ２３８）をセットする。パラ
メータＬは、３６０°の容器回転当りのサンプルの合計
数を表わし、ｎは、現在のサンプルを表わしている。

−例としてあげると、容器１１の各回転に対して６００
の斯かるサンプルが形成される。次に、マイクロプロセ
ッサは、現在の負のサンプルの各々を反転しくステップ
２４３）、サンプル数を増分しくステップ２４４）、６
００番目のサンプルまで（ステップ２４５）、残りの負
のサンプルに対する反転プロセスを反復する。次に、以
下に論じられる理由により、マイクロプロセッサは、パ
ラメータｎをゼロに等しくなるようにリセットしくステ
ップ２４６）、パラメータＥをゼロに等しくなるように
セットする（ステップ２４７）。次に、マイクロプロセ
ッサは、各サンプルｎに関連する「エネルギ」値を決定
する（ステップ２４９）０特定のサンプルｎに関連する
エネルギの１直は、ｎからｎプラス６３における符号補
正バーロ波サンプルの絶対値の和に等しい。各バーコー
ドは、８個のバー１４，１６を含み且つバーからバーて
は８個のサンプルがあるため、コード全体では、６４個
のサンプルが必要となる。従って、サンプ／Ｌ／　ｎ力
、バーコードの第１サンプルとなる時、ｎのサンプル及
び次の６３個のサンプルは、バーコードに対応するバー
フィルタグラフを定め、斯かるエネルギ値は、最大とな
るが、これは、６４個のサンプルに対応するバーロ波部
分が、最高の振幅を有するためである。これにより、マ
イクロプロセッサはコードの位置を突き止める。

容器のサンプリングは、容器上の無作為の位置から始ま
るため、−般的に、最初のサンプルは、バーコード１２
の開始に対応せず、従って、バーコードの最初のサンプ
ルを決定するために更に計算がなされなければならない
。この目的を達成するために、最初のサンプルに関連す
るエネルギ値がステップ２４９に従って計算された後、
エネルギ値は、前にゼロにセットされたパラメータＥと
比較される。エネルギ値がゼロより大きいと仮定すると
（ステップ２５２）、パラメータＥは、最初のエネルギ
値によりリセットされ（ステップ２５４）、パラメータ
Ｐが現在のパラメータＥのサンプル数にセットされ、こ
のサンプル数は、これまで突き止められた最大エネルギ
値のサンプル数を表わす。次に、サンプルｎは、１だけ
増分され（ステップ２６０）、サンプルｎは、まだ数６
００に達していないため（ステップ２６２）、次のサン
プルにおけるエネルギ値が決定される（ステップ２４９
）。ここで銘記すべきことは、これらのエネルギ値に対
してステップ２４９によって示される計算が、次の反復
式を用いることにより簡単になるということである。エ
ネルギ（ｎ）ニエネルギ（ｎ−１）＋ＡＢＳバーフィル
タ（ｎ＋６３））−ＡＢＳバーフィルタ（ｎ−１）］言
イ換えると、Ｅ（ｎ）の各値に対する計算は、エネルギ
の前の値に現在のエネルギ値の６３の加数に等しいＫを
足したものから前のエネルギ値のゼロの加数に等しいＫ
を引いたものに等しくなる。

次のエネルギ値Ｅ（ｎ）が計算された後、このエネルギ
値は、パラメータＥと比較され（ステップ２５２）、こ
れが、パラメータＥより大きい場合、パラメータＥは、
現在のエネルギ値Ｅ（ｎ）　　にリセットされ（ステッ
プ２５４）、パラメータＰは、現在のエネルギ値のサン
プル数にセットされる（ステップ２５６）。これらのス
テップ２４９−２６２は、合計６００回実行きれ、６０
０番目の繰り返しの後、パラメータＥは、最大エネルギ
値と等しくなり、パラメータＰは、対応のサンプル数に
セットされる。−般的に、パラメータＰに対する最終的
なセツティングは、バーロ波グラフ１７０のバーコード
部分の最初のサンプル数の近くになる。斯くして、コー
ド１２が突き止められる。サンプル数の関数としてのエ
ネルギは、第４ｅ図にプロットされている。

次に、マイクロプロセッサ１２５は進行して、マイクロ
プロセッサがコードを突き止めているために、このコー
ドを実際に読み出す。次の説明から明らかとなる理由に
より、マイクロプロセッサは、パラメータ「最大」をゼ
ロに等しくなるようにセットし、パラメータ「Ｒ」、１
に等しくなるようにセットする（ステップ２７０−２７
４）。

次に、マイクロプロセッサは、コードの最初のバーの最
初のサンプル、示された例においてはバーニレメン）１
６ａを正確に突き止めることを試みる。この目的を達成
するために、マイクロプロセッサは、サンプルＰにおけ
る強度値が、ゼロに等しいか否かを決定する（ステップ
２７６）。等しい場合、マイクロプロセッサは、バーを
表わす最初のサンプルをまだ突き止めておらず、進行し
て、１だけＰを増分せしめ（ステップ２７８）、新しい
サンプルＰにおける強度値が、ゼロに等しいか否かを決
定する（ステップ２７６）。マイクロプロセッサは、コ
ードにおける最初のバー１６ａを突き止めると、対応の
強度値は、ゼロよりも大きくなり、マイクロプロセッサ
は、進行して、この強度値を、ステップ２７０において
セットされた「最大」値と比較する（ステップ３００）
。それぞれの強度が、「最大」の初期値より大きいため
、マイクロプロセッサは進行して、このサンプルにおけ
る強度値をパラメータ最大と置き換える（ステップ３０
２）。次に、マイクロプロセッサは進行して、サンプル
数Ｐを更新する（ステップ３０４）。

次に１マイクロプロセツサは、現在の更新されたサンプ
ル数における強度値が、ゼロに等しいか否かを決定する
（ステップ３０６）。等しくない場合、これは、同じバ
ーにおける別のサンプルを示し、マイクロプロセッサは
ステップ３００に進行して、現在のサンプル点における
強度値が、前のサンプル点の強度値より大きいか否かを
決定する。大きい場合、マイクロプロセッサは進行して
、パラメータ最大を更新し、次のサンプル点に進行する
。大きくない場合、マイクロプロセッサは、パラメータ
最大を更新することなしに単に次のサンプル点に進行す
る。マイクロプロセッサは、大部分の光ダイオードが作
動していたサンプルを決定するために最初のバーのサン
プルの全てが分析されて、このサンプルの強度レベルが
、最初のバーに対する強度レベルを表わすためにパラメ
ータ最大として究極的に記憶されたレベルとなるまでル
ープステップ３００−３０６の中を継続する。

最初のバーに対する全てのサンプルが分析された後、次
のサンプルの強度値は、通常ゼロとなるため、ステップ
３０６は、ステップ３０８に至る。

ステップ３０８において、最初のバーの強度レベルは、
パラメータ最大に等しくなるようにセットされ、次に、
パラメータＲは、１だけ増分して、次のバーを示す（ス
テップ３１０）。次に、マイクロプロセッサは、増分し
たパラメータＲと数９を比較することにより、これらの
バーの全てが既に分析されているか否かを決定する。（
ステップ３１２）。これまで１つのバーだけが分析され
ているため、Ｒは、まだ９に等しくなく、従って、マイ
クロプロセッサは、ステップ３１３及び３１４に進ム。

ステップ３１３において、サンプル数は、１だけ増分し
、次てステップ３１４において、その強度値は、ゼロと
比較される。強度値がゼロと等しい場合、これは、第１
バーと第２バーの間のスペース内におけるサンプルを示
す。この場合、マイクロプロセッサは、ステップ３１３
に戻るようにループし、再び、サンプルパラメータＰを
増分する。ステップ３１３及び３１４は、第２バーの最
初のサンプルに達成して、この時、強度レベルがゼロを
越えて、コンピュータプログラムが、ステップ３０２〜
３０８に分枝して、第２バーのサンプルに対する最大強
度レベルを決定するまで反復する。

ステップ３００〜３１４によって定められるプロセスハ
、各バーの最大サンプル長Ｂ（１）−Ｂ（８）が決定さ
れるまで反復する（ステップ３０８　）、）次ニ、マイ
クロプロセッサは、各バーの最大サンプル長をしきい値
と比較する（ステップ３１５）。

ステップ３１５によって証明されるように、このしきい
値は、バーを表わす最長サンプル長さとバーを表わす最
短サンプル長さの間の途中にセットされる。次に、パラ
メータＲは、１にリセットされ（ステップ３１６）、第
１バーを表わすサンプル長は、しきい値と比較される（
ステップ３１８）。

サンプル長がしきい値を越えると、１の２進値は、第１
バーと関連しくステップ３２０）、越えない場合、ゼロ
の２進値は、第１バーと関連する（ステップ３２２）。

次に、マイクロプロセッサは、パラメータＲを増分しく
ステップ３２４）、これにより、次のバーのしきい値比
較を初期化し、次に、ステップ３１８〜３２２を通って
元にループし、これにより次のバーがしきい値より大き
いか小さいかを決定する。ステップ３１８〜３２４を通
る合計８個の斯かる反復が、完了し且つある２進レベル
がこれらのバーの各々と関連した後、パラメータＲは、
９と等しくなり、従って、コンビニ−タブログラムは、
ループを出て（ステップ３２６）、次にコード読出しプ
ロセスを完了する。

ここで銘記すべきことは、短いバーと長いバーとの間の
しきい値を決定するステップ３１５は、コードが少なく
とも１つの短いバー及び少なくとも１つの長いバーを含
み、従ってこの制限が、容器上のコードの形成に置かれ
ることを要求することである。しかしながら、必要に応
じて、このしきい値は、この制限を避けるように予めセ
ットされていてもよい。ここでまた銘記すべきことは、
しきい値は、各コードに対してあつらえているため、プ
ロセッサは、各コードの短バーエレメント及び長バーエ
レメントがコードによって長さが変化する多種のバーコ
ードを読み出すことができるということである。

コード全体が読み出されると、マイクロプロセッサ１２
５は、マイクロプロセッサ４８に合図するフリップフロ
ップ９７をセットする。マイクロプロセッサ４８はまた
、本発明が配置されている容器形成システムの全体の管
理手段としての役割を果たす。従って、容器上のコード
１２が、型番を示し、管理マイクロプロセッサ４８が、
ＩＪ連の型によって製造された容器が欠陥があると前に
知っていた場合、マイクロプロセッサ４８は、１シヨツ
ト３５２及びメリットステートリレー３５４によりレジ
エクタ３５０を作動させる。

マイクロプロセッサ４８はまた、処理回路５０の診断修
理にかかわっており、この目的のために、バッファ４０
１，４０１によりラッチ４４の出力を読み出す。

これまでの説明により、コードの突き止め及び読出し装
置及びプロセスが開示されて来た。しかしながら、本発
明の範囲から逸脱することなく、多くの１き正及び置換
を行うことができる。例えば、前記のハードウェア成分
はどれでも、ソフトウェアに置き換えることができるし
、この逆も同様である。また、第４ｃ図に示されている
バー信号を発生するために、コードコンバータ７０、バ
ッファ９２及び比較器９４を用いるかわりに、ラッチ４
４の出力にその入力が接１読されており且つ出力がバー
信号を与える１０人力ＯＲゲートを用いることができる
。この実施例においては、選択可能プラス及びマイナス
２進電圧レベルを生じるＣＭＯ８論理を用いることが好
ましい。また、パーフィルタ段階を通して処理されたコ
ードは、かなりのエネルギを基本周波数において生じる
という条件ならば、他の種類のコードを本発明によって
突き止めることができる。また、コードが突き止められ
た後、ステップ２７０−３２６に示されているコード読
出しアルゴリズム及び回路、ｆｌＪえば、前記の特許出
願第６４８，２２９号又は前記の米国特許第４，５２４
，２７０号に示されているアルゴリズム及び回路のかわ
りに、他の型のアルゴリズム及び回路を用いることがで
きる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明によって配置され且つ読み出され得る
バーコードを有する容器の下部の側面図。 第２図は、９０°回転して本発明に係る光学走査デバイ
スに対面する第１図の容器を示す略図。第３図は、プロ
セッサと及びキャリアにおけるコードの位置を突き止め
、読み出すためにこのプロセッサが本発明において用い
られる第２図の光学走査デバイスのブロック図。第４ａ
図乃至第４ｄ図は、種々の処理の段階の後の第３図のプ
ロセッサから得られる電気信号を示す図。第４ｅ図は、
第３図の回路の処理の結果を示す図。第５図は、第３図
の回路内の副回路の略図。第６図は、第３図の回路に用
いられているデジタル帯域通過フィルタの回路図。第７
ａ図及び第７ｂ図は、第６図のデジタル帯域通過フィル
タの作動を示すグラフ。 第８図は、第３図のプロセッサを用いる第１図のコード
の位置を突き止め且つ読み出すためのプロてスを示すフ
ローチャート。 １０・側　壁、　　１１・・・容　器、　　１２・・コ
ード、１４・長エレメント、　　１６・短エレメント、
４・・漂遊マーク、　　６．８．９・・・レタリング、
２０・・ベース、　　２３・・光学走査ヘッド、２５・
・プリズム、　　２６　・第２レンズアセンブリ、２７
・第２レンズアセンブリ、 ２８・・読出し面、　　２９・・グラスファイバ、３１
・・・光　源、　　３５・・・光ダイオード、１９・・
・ベルト、　　４８・・マイクロプロセッサ、・４９・
・・回転センサ、　　５０・・・バッファ。 （外４名） ヘ ｍ− 口。 ＦＩＧ、　５ ＦＩＧ、７ａ 申桑８ｂ−へ

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １）キャリア上のコードを読み出すための装置であつて
   、上記コードは、複数の実質的に等間隔に離間している
   コードエレメントを含んでおり、上記装置は、上記キャ
   リアを走査するための且つ上記コードエレメントに対応
   し且つほぼ等しい時間インタバルで存在する第１セット
   の波形信号及び上記キャリア上の他の領域に対応し且つ
   上記時間インタバルにおいて存在しない第２セットの波
   形信号を有する電気波形を発生するための手段を含む装
   置において、上記第１及び第２セットの波形信号の周波
   数分布に基づいて上記第１セットの波形信号を上記第２
   セットの波形信号から区別するための手段を特徴とする
   装置。 ２）上記の区別手段が、上記第１及び第２セットの波形
   信号をロ波して、上記第２セットの波形信号を上記第１
   セットの波形信号に対して相対的に減衰せしめるための
   手段を含むことを特徴とする特許請求の範囲第１項に記
   載の装置。 ３）上記ロ波手段が、上記の等しい時間インタバルに対
   応する基本周波数に中心を置かれた帯域通過フィルタを
   含むことを特徴とする特許請求の範囲第２項に記載の装
   置。 ４）上記区別手段が、ロ波の後の上記第１セットのエネ
   ルギをロ波の後の第２セットのエネルギと比較して、上
   記第１セットを上記第２セットから区別するための手段
   を含むことを特徴とする特許請求の範囲第３項に記載の
   装置。 ５）上記区別手段が、上記比較手段の出力を上記第１セ
   ットに相関せしめて、上記第１セットを突き止めるため
   の手段を含むことを特徴とする特許請求の範囲第４項に
   記載の装置。 ６）上記区別手段が、上記コードに対応する矩形波を発
   生するための手段を含み、上記矩形波が、上記走査手段
   がコードの反射部分を観視する時の瞬間に対応する一方
   の二進レベルを示し且つ上記走査手段は、コードの非反
   射部分を観視する時の他方の二進レベルを表わし、上記
   矩形波は、上記第１セットの波形信号を形成しているこ
   とを特許とする特許請求の範囲第４項に記載の装置。 ７）上記走査手段が、コードエレメント当り複数の走査
   サンプルを与え且つ直線配列の感光エレメントを含んで
   おり、各走査サンプルの期間中作動しているエレメント
   の数、上記コードエレメントの長さを示し、且つ上記ロ
   波手段は、上記計数手段の出力に接続されており且つ有
   限インパルス応答係数を上記計数のサンプル出力と共に
   回旋するように構成されているデジタル帯域通過フィル
   タを含むことを特徴とする特許請求の範囲第２項に記載
   の装置。 ８）上記区別手段が、上記第１及び第２セットの波形信
   号をロ波して、上記第２セットを上記第１セットに対し
   て相対的に減衰せしめるための手段を含むことを特徴と
   する特許請求の範囲第１項に記載の装置。 ９）ビンの周囲に配置されたコードを突き止めるための
   方法であつて、上記コードが、複数の実質的に等間隔に
   離間しているエレメントを含んでおり、上記方法が、上
   記ビンを回転せしめるステップ、及び上記コードを含む
   上記ビンの上のある領域を表わす第１部分及びビンの上
   の他の領域を表わす第２部分を有する電気信号を発生す
   るために上記ビンを走査するステップを含む方法におい
   て 上記電気信号を処理して、上記電気信号の上記第１部分
   に対応し且つ上記コードのエレメントからエレメントへ
   の距離に対応する基本周波数を有する第１波形部及び上
   記電気信号の上記第２部分に対応し且つ上記基本周波数
   を有していない第２波形部分を有する電気波形を発生せ
   しめるステップ、及び 上記電気波形をロ波して、上記第２部分を上記第１部分
   に対して相対的に減衰せしめ、これにより上記第１部分
   を識別するステップ を特徴とする方法。 １０）多数のインタバルにおけるロ波された電気波形の
   サンプルの絶対値を加算するステップ及びその結果得ら
   れる和が最大となるインタバルを決定するステップであ
   つて、上記最大のインタバルは、上記電気波形及び上記
   コードの上記最初の部分に対応する和を生じるステップ
   を特徴とする特許請求の範囲第９項に記載の方法。