JPS6333815A - 気相成長方法 - Google Patents
気相成長方法Info
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- JPS6333815A JPS6333815A JP17702886A JP17702886A JPS6333815A JP S6333815 A JPS6333815 A JP S6333815A JP 17702886 A JP17702886 A JP 17702886A JP 17702886 A JP17702886 A JP 17702886A JP S6333815 A JPS6333815 A JP S6333815A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、たとえばモノシラン(St)14)のように
ウオール7jポを発生し易い分解温度の低い反応j比抵
抗値とも安定した気相成長が行なえる気相成長方法の改
良に関する。
ウオール7jポを発生し易い分解温度の低い反応j比抵
抗値とも安定した気相成長が行なえる気相成長方法の改
良に関する。
(従来技術)
従来、分解温度の低い反応〃ス5IH4による気相成長
では、反応室を構成する石英ベルジャに分解されたシリ
コンが付着する、いわゆるウオールデポが一面に発生す
るために、温度センサなどによってサセプタ温度を制御
することができない。したがってサセプタを加熱するた
めに必要な発振機出力は反応基状況に関係なく、出力値
を一定にする出力制御方式が採用されている。
では、反応室を構成する石英ベルジャに分解されたシリ
コンが付着する、いわゆるウオールデポが一面に発生す
るために、温度センサなどによってサセプタ温度を制御
することができない。したがってサセプタを加熱するた
めに必要な発振機出力は反応基状況に関係なく、出力値
を一定にする出力制御方式が採用されている。
(発明が解決しようとする問題点)
しかしながら、仁のような従来装置にあって瓜上記のよ
うに反英ペルジャー面にウオールデポが発生するため、
出力制御による気相成長を行なうと次のような問題を発
生する。
うに反英ペルジャー面にウオールデポが発生するため、
出力制御による気相成長を行なうと次のような問題を発
生する。
一定の発振機出力値でサセプタを加熱するため、反応に
必要なキャリヤガス量の変更、冷却水の変動、反応〃ス
蓋の変更などによってサセプタの温エバの温度が変動す
るため、単位時間当υの成長膜厚すなわち成長率が変る
ため希望する膜厚が得られない場合が多条発生する。
必要なキャリヤガス量の変更、冷却水の変動、反応〃ス
蓋の変更などによってサセプタの温エバの温度が変動す
るため、単位時間当υの成長膜厚すなわち成長率が変る
ため希望する膜厚が得られない場合が多条発生する。
また、ある一定の比抵抗値全必狭とする成長膜が欲しい
場合、成長層がN型の場合にはホスホイン(PH5)、
P型の場合にはジブラン(B2H6)とそれぞれドーパ
ントが成長中に反応室内に注入される。
場合、成長層がN型の場合にはホスホイン(PH5)、
P型の場合にはジブラン(B2H6)とそれぞれドーパ
ントが成長中に反応室内に注入される。
このドー・譬ントが気相成長層に侵入する度合いは、温
度値に左右されるのが経験的に分かつている。
度値に左右されるのが経験的に分かつている。
したがって、ウェハの温度変動があると、当然ながら、
比抵抗値も変動し、適正な比抵抗値がえられない。Si
H4ガスは成長温度が低く結晶欠陥であるスリップが発
生しにくい、流れがよいため均一な薄膜得られやすい、
塩素を含んでいないため反応室を構成する部材を腐食さ
せない、などの利点があるにもかかわらず、それほど多
く採用されていないのが実情である。
比抵抗値も変動し、適正な比抵抗値がえられない。Si
H4ガスは成長温度が低く結晶欠陥であるスリップが発
生しにくい、流れがよいため均一な薄膜得られやすい、
塩素を含んでいないため反応室を構成する部材を腐食さ
せない、などの利点があるにもかかわらず、それほど多
く採用されていないのが実情である。
本発明は、上記事情に基づきなされたもので、その目的
とするところは、ウオールデポさらにはSiH4などの
反応ガスの分解による反応室内の曇シによって、温度セ
ンサが間違った値を出力することを修正し、サセプタ温
度をよシ一定に保ち気相成長をよシ適確にコントロール
可能ならしめる気相成長方法を提供するものである。
とするところは、ウオールデポさらにはSiH4などの
反応ガスの分解による反応室内の曇シによって、温度セ
ンサが間違った値を出力することを修正し、サセプタ温
度をよシ一定に保ち気相成長をよシ適確にコントロール
可能ならしめる気相成長方法を提供するものである。
[発明の構成]
(問題点を解決するための手段)
本発明は、上記問題点を解決するために、サセプタ温度
を@度センサにて感知し、その出力1i!l:を発振機
に帰還して発振機出力を制御しつつ気相成長を行なう気
相成長方法において、反応ガスを供給する直前ないし直
後に発振機出力を固定し、所定時間経過後にその時の温
度センサの出力値全反応ガス供給開始時の出力値と比較
し、以後その差分だけ温度センサ出力値を補正して前記
発振機出力値を制御することKよシサセプタ温度を制御
しつつ気相成長を行なうようにしたものである。
を@度センサにて感知し、その出力1i!l:を発振機
に帰還して発振機出力を制御しつつ気相成長を行なう気
相成長方法において、反応ガスを供給する直前ないし直
後に発振機出力を固定し、所定時間経過後にその時の温
度センサの出力値全反応ガス供給開始時の出力値と比較
し、以後その差分だけ温度センサ出力値を補正して前記
発振機出力値を制御することKよシサセプタ温度を制御
しつつ気相成長を行なうようにしたものである。
(作用)
すなわち、本発明は、反応案内へ反応ガスを供給して気
相成長を開始する直前ないし直後に発振機の出力値を固
定し、ウオールデポによる温度センサの出力値の誤差が
安定する所定時間後に、その時の温度センサの出力値を
反応ガス供給開始時の出力値との差を検知し、温度セン
サの出力値の補正を行ない、その後は補正された温度セ
ンサの出力値で発振機の出力値を制御するようにしたか
ら、モノ7ランのようにウオール−rポを生じ易い気相
成長の場合にも基本的には温度センサによシサセグタの
温度制御が可能となるため、キャリヤガス量、冷却木葉
、室温等の変動あるいは変更によりてサセプタの温度は
変動しないので膜厚、比抵抗ともに均一な気相成長が行
なえる。このように、モノシランでの気相成長全簡単に
行なうことができれは、気相成長温度を他のガスの場合
に比べて低い約1030℃で済ませられるため、ウェハ
の大口径化によるスリップ発生、オートドープの発生な
どが抑制でき、その効果は大である。また、正確な温度
制御を実施することができるためウオールデポを最少限
に押えることが可能となる。
相成長を開始する直前ないし直後に発振機の出力値を固
定し、ウオールデポによる温度センサの出力値の誤差が
安定する所定時間後に、その時の温度センサの出力値を
反応ガス供給開始時の出力値との差を検知し、温度セン
サの出力値の補正を行ない、その後は補正された温度セ
ンサの出力値で発振機の出力値を制御するようにしたか
ら、モノ7ランのようにウオール−rポを生じ易い気相
成長の場合にも基本的には温度センサによシサセグタの
温度制御が可能となるため、キャリヤガス量、冷却木葉
、室温等の変動あるいは変更によりてサセプタの温度は
変動しないので膜厚、比抵抗ともに均一な気相成長が行
なえる。このように、モノシランでの気相成長全簡単に
行なうことができれは、気相成長温度を他のガスの場合
に比べて低い約1030℃で済ませられるため、ウェハ
の大口径化によるスリップ発生、オートドープの発生な
どが抑制でき、その効果は大である。また、正確な温度
制御を実施することができるためウオールデポを最少限
に押えることが可能となる。
(実施例)
以下、本発明の一実施態様を示す第1図ないし第2図に
従って説明する。その前に、気相成長装置の概略?説明
する。
従って説明する。その前に、気相成長装置の概略?説明
する。
第1図中1は反応室、2はノズル、3はサセプタ、4は
基板、5は高周波紡導コイル(以下RFコイルという)
、6は金属ベルジャ、7は石英ベルジャである。RFコ
イル5に高周波高電圧高電流を印加し、サセプタ3を誘
導加熱によって所定温度に加熱し、基板4を前記サセプ
タ3によって気相成長温度まで加熱し、しかる後ノズル
2によシ反応ガスをキャリヤガスとともに噴出させて気
相成長を行なうものである。なお、図中12はサセプタ
支持体であシ、その中をノズル2が通っている。13は
ガス導出管である。温度センサ8にてサセプタ温度を検
出し、その出力値を発振機9に帰還し、所定の高周波高
電圧高電流6arコイル5に印加し、常にサセプタ3の
温度が一定になるように制御するようになっている。ま
たノズル2から噴出したモノシラン5IH4が分解し、
石英ガラス製の石英ベルツヤ7にシリコンが付着しない
ように冷却ノズル10によシ冷却ガス11を局所的に吹
き付け、前記石英ベルジャ7を効果的に冷却するように
している。
基板、5は高周波紡導コイル(以下RFコイルという)
、6は金属ベルジャ、7は石英ベルジャである。RFコ
イル5に高周波高電圧高電流を印加し、サセプタ3を誘
導加熱によって所定温度に加熱し、基板4を前記サセプ
タ3によって気相成長温度まで加熱し、しかる後ノズル
2によシ反応ガスをキャリヤガスとともに噴出させて気
相成長を行なうものである。なお、図中12はサセプタ
支持体であシ、その中をノズル2が通っている。13は
ガス導出管である。温度センサ8にてサセプタ温度を検
出し、その出力値を発振機9に帰還し、所定の高周波高
電圧高電流6arコイル5に印加し、常にサセプタ3の
温度が一定になるように制御するようになっている。ま
たノズル2から噴出したモノシラン5IH4が分解し、
石英ガラス製の石英ベルツヤ7にシリコンが付着しない
ように冷却ノズル10によシ冷却ガス11を局所的に吹
き付け、前記石英ベルジャ7を効果的に冷却するように
している。
経験的に、気相成長温度を高くすると、例えはソースガ
スSiH4の場合、1000℃以上になると、ノズルか
ら噴出されるSiH4は一時期瞬間的に分解し、サセプ
タ3から発する赤外劇ヲさえぎることになシ、温度セン
サ8はあたかも低い温度を検出することになってしまう
、具体的には実験の結果によると8〜15℃の温度低下
が発生する。このような幣害が発生すると、発振機9の
出力はさらにあがることKなシ、サセプタ3の温度はさ
らにあがυ、5IH4は益々分解することになる。する
と、益々、赤外線をさえぎることになシ悪循壌が発生す
る。
スSiH4の場合、1000℃以上になると、ノズルか
ら噴出されるSiH4は一時期瞬間的に分解し、サセプ
タ3から発する赤外劇ヲさえぎることになシ、温度セン
サ8はあたかも低い温度を検出することになってしまう
、具体的には実験の結果によると8〜15℃の温度低下
が発生する。このような幣害が発生すると、発振機9の
出力はさらにあがることKなシ、サセプタ3の温度はさ
らにあがυ、5IH4は益々分解することになる。する
と、益々、赤外線をさえぎることになシ悪循壌が発生す
る。
このような問題を解決するのが、本発明の特徴とすると
ころで、以下、具体的に説明する。
ころで、以下、具体的に説明する。
第2図は時間経過に対する発振機9の出力とサセプタ3
の温度、それに温度センサ8の出力を示す。反応室内の
ガスが完全に水素ガスH2に置換された後、サセプタ3
はRFコイル5によりて気相成長に必要な温度まで加熱
される。この場合、気相成長温度の約80%温度値C点
までは発振機9の出力値は最大値がかかるが、その後は
発振@9の出力はPID制御によシ徐々に低下し、設定
温度値でほぼ一定の値に落ち漸く。
の温度、それに温度センサ8の出力を示す。反応室内の
ガスが完全に水素ガスH2に置換された後、サセプタ3
はRFコイル5によりて気相成長に必要な温度まで加熱
される。この場合、気相成長温度の約80%温度値C点
までは発振機9の出力値は最大値がかかるが、その後は
発振@9の出力はPID制御によシ徐々に低下し、設定
温度値でほぼ一定の値に落ち漸く。
気相成長開始、つまシノズル2からソースガスであるモ
ノシラン5IH4が噴出されると、若干、このSiH4
が分解し、シリコンStが遊離して、サセプタ3の上面
の輝度が阻害されるため温度センサ8の出力値の低下が
発生する。従来のサセプタ3の温度制御方法では、この
ように温度センサ8の出力値の低下(点線で示す)によ
り発振機9の出力はD点において、上昇嘔せるよう茄令
を受けるために一点鎖線に示す如く上昇する。当然サセ
プタ3の温度も追従して上昇する。温度が上昇すると、
モノシランSiH4の分解は益々激しくなり、したがっ
てサセプタ3の温度は加速度的に上昇し、温度センサ8
でサセプタ3の温度を制御できないのが実情である。
ノシラン5IH4が噴出されると、若干、このSiH4
が分解し、シリコンStが遊離して、サセプタ3の上面
の輝度が阻害されるため温度センサ8の出力値の低下が
発生する。従来のサセプタ3の温度制御方法では、この
ように温度センサ8の出力値の低下(点線で示す)によ
り発振機9の出力はD点において、上昇嘔せるよう茄令
を受けるために一点鎖線に示す如く上昇する。当然サセ
プタ3の温度も追従して上昇する。温度が上昇すると、
モノシランSiH4の分解は益々激しくなり、したがっ
てサセプタ3の温度は加速度的に上昇し、温度センサ8
でサセプタ3の温度を制御できないのが実情である。
また、温度センサ8によらない発振機9の出力を一定に
する出力制御では、前述の如く、キャリヤガス量、冷却
水温、ソースガス量等の変動あるいは変更によって、サ
セプタ3の温度が時々刻々変わる問題がある。本発明は
かかる問題を解決するもので、以下詳細に説明する。
する出力制御では、前述の如く、キャリヤガス量、冷却
水温、ソースガス量等の変動あるいは変更によって、サ
セプタ3の温度が時々刻々変わる問題がある。本発明は
かかる問題を解決するもので、以下詳細に説明する。
第2図において、ソースガスであるモノシランSiH4
が反応室11に噴出されるD点で、発振機9の出力は今
まで温度センサ8にて制御されていたが、タイマ「入」
と同時に温度センサ8からのフィードバックによらない
一定出力制御に切換えられる。
が反応室11に噴出されるD点で、発振機9の出力は今
まで温度センサ8にて制御されていたが、タイマ「入」
と同時に温度センサ8からのフィードバックによらない
一定出力制御に切換えられる。
また同時に、温度センサ8の出力は、前記気相成長開始
時(D点)との差をとり、その差分Δtだけ出力+i
ft補正し調整する。前記タイマは、ウオールデポの発
生による温度センサ8の出力の変化が安定する所定の時
間に定められている。タイマ「切」と同時に発振機9の
出力は補正された温度センサ8の出力値により再び制御
されサセプタ3の温度を制御する。
時(D点)との差をとり、その差分Δtだけ出力+i
ft補正し調整する。前記タイマは、ウオールデポの発
生による温度センサ8の出力の変化が安定する所定の時
間に定められている。タイマ「切」と同時に発振機9の
出力は補正された温度センサ8の出力値により再び制御
されサセプタ3の温度を制御する。
祝状、タイマ設定時間はほぼ2〜3分程度でよく、この
くらいの時間では発振機9の出力を一定出力制御で行な
っても、キャリヤ量、冷却水量、冷却水温などの変動が
おっても、サセプタ3の温度は変動せず、したがって、
気相成長層には品質的に何んら影響を与えないことが確
認されていも[発明の効果] 本発明は、以上説明したように、反応室内へ搬送ガスを
供給して気相成長を開始する直前ないし直後に発振機の
出力値を固定し、ウオールデポによる温度センサの出力
値の誤差が安定する所定時間後に、その時の温度センサ
の出力値を反応ガス供給開始時の出力値との差を検知し
、温度センサの出力値の補正を行ない、その後は補正さ
れた温度センサの出力値で発振機の出力を制御するよう
にしたため、モノシランのようにウオールデポを生じ易
い気相成長の場合にも基本的には温度センサによシサセ
プタの温度制御が可能となり、キャリヤガス量、冷却水
量、室温等の変動あるいは変更によるサセプタの温度変
動を制御することができ、膜厚、比抵抗ともに均一な気
相成長が行なえる。このように、モノシランでの気相成
長を簡単に行なうことができれは気相成長温度を他のガ
スの場合に比べて低い約1030℃で済ませられるため
、ウェハの大口径化によるスリラグ発生、オートドーグ
の発生などが抑制でき、その効果は犬である。また、正
確な温度側(la41を実施することができるためウオ
ールデポを最小限に押えることができるといった効果金
臭する。
くらいの時間では発振機9の出力を一定出力制御で行な
っても、キャリヤ量、冷却水量、冷却水温などの変動が
おっても、サセプタ3の温度は変動せず、したがって、
気相成長層には品質的に何んら影響を与えないことが確
認されていも[発明の効果] 本発明は、以上説明したように、反応室内へ搬送ガスを
供給して気相成長を開始する直前ないし直後に発振機の
出力値を固定し、ウオールデポによる温度センサの出力
値の誤差が安定する所定時間後に、その時の温度センサ
の出力値を反応ガス供給開始時の出力値との差を検知し
、温度センサの出力値の補正を行ない、その後は補正さ
れた温度センサの出力値で発振機の出力を制御するよう
にしたため、モノシランのようにウオールデポを生じ易
い気相成長の場合にも基本的には温度センサによシサセ
プタの温度制御が可能となり、キャリヤガス量、冷却水
量、室温等の変動あるいは変更によるサセプタの温度変
動を制御することができ、膜厚、比抵抗ともに均一な気
相成長が行なえる。このように、モノシランでの気相成
長を簡単に行なうことができれは気相成長温度を他のガ
スの場合に比べて低い約1030℃で済ませられるため
、ウェハの大口径化によるスリラグ発生、オートドーグ
の発生などが抑制でき、その効果は犬である。また、正
確な温度側(la41を実施することができるためウオ
ールデポを最小限に押えることができるといった効果金
臭する。
第1図は本発明の気相成長方法を適用し得る装置の構成
説明図、第2図は本発明によるサセプタ温度の制御方法
を示す説明図である。 1・・・反応室、3・・・サセプタ、4・・・基板、8
・・・温度セyす、9・・・発振機。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 套筒1図 第2図
説明図、第2図は本発明によるサセプタ温度の制御方法
を示す説明図である。 1・・・反応室、3・・・サセプタ、4・・・基板、8
・・・温度セyす、9・・・発振機。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 套筒1図 第2図
Claims (1)
- サセプタの温度を温度センサにて感知し、その出力値を
発振機に帰還して発振機の出力を制御しつつ気相成長を
行なう気相成長方法において、反応ガスを供給する直前
ないし直後に発振機の出力を固定し、所定時間経過後に
その時の温度センサの出力値を反応ガス供給開始時の出
力値と比較し、以後その差分だけ温度センサ出力値を補
正して前記発振機の出力値を制御することによりサセプ
タの温度を制御しつつ気相成長を行なうことを特徴とす
る気相成長方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17702886A JPS6333815A (ja) | 1986-07-28 | 1986-07-28 | 気相成長方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17702886A JPS6333815A (ja) | 1986-07-28 | 1986-07-28 | 気相成長方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6333815A true JPS6333815A (ja) | 1988-02-13 |
Family
ID=16023886
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP17702886A Pending JPS6333815A (ja) | 1986-07-28 | 1986-07-28 | 気相成長方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6333815A (ja) |
-
1986
- 1986-07-28 JP JP17702886A patent/JPS6333815A/ja active Pending
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