JPS63307256A - 合金薄膜の製造方法 - Google Patents

合金薄膜の製造方法

Info

Publication number
JPS63307256A
JPS63307256A JP14038787A JP14038787A JPS63307256A JP S63307256 A JPS63307256 A JP S63307256A JP 14038787 A JP14038787 A JP 14038787A JP 14038787 A JP14038787 A JP 14038787A JP S63307256 A JPS63307256 A JP S63307256A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
target
alloy
film
sputtering
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP14038787A
Other languages
English (en)
Inventor
Tadatoshi Shimokawa
下川 渡聡
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP14038787A priority Critical patent/JPS63307256A/ja
Publication of JPS63307256A publication Critical patent/JPS63307256A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はスパッタリングによる合金薄膜の製造方法に関
する。
〔従来の技術〕
従来、光磁気記録媒体の記録膜のような2種以上の元素
を含有する合金薄膜を成膜するには、多くの場合スパッ
タリング法が用いられる。このようなスパッタリング法
においては、真空槽内に基板と、該基板に被着すべき成
分からなる合金ターゲットを配置し、真空槽内を十分に
排気した後、アルゴン(Ar)ガスのような不活性ガス
を真空槽内に導入し基板に対してターゲットが低い電位
になるように高電圧を印加することで、不活性ガスをイ
オン化し、イオンのターゲットへの衝突によってたたき
出されたターゲットの成分が基板上に付着する。ここで
、合金ターゲットとは、鋳造で作られた合金はもちろん
であるが、金属の焼結体のように真の意味では合金では
ないが、巨視的に見て均一なものもさしている。
第1図は、上述のスパッタ法に用いられるスパッタ装置
の概略図である。図1においてターゲット1からたたき
出されたターゲット成分がターゲット1に対向して基板
ホルダー3に支持された基板上に付着し合金薄膜が得ら
れる。ところが、このような構成のスパッタ装置で基板
2の上に得た合金薄膜は、基板の面積に比べてターゲッ
トの面積が十分に大きくない限り、膜厚、組成共に不均
一になってしまうという欠点を有している。そこで採用
されているのが、基板公転スパッタおよびインライン基
板移動スパッタである。第2図は基板公転スパッタに用
いるスパッタ装置の概略図である。ターゲットの中心か
らずれた位置にある回転軸7のまわりを基板ホルダー6
上に支持された基板5を回転させながら成膜するのがこ
の方法である。また第3図はインライン基板移動スパッ
タに用いられるスパッタ装置の概略を示したものである
。図においてターゲット8の直上を基板ホルダー10に
支持された基板9が矢印に添って通過する際に成膜が行
われる。このように改良された2つの方法を採用するこ
とにより、広い範囲にわたって均一な膜厚の薄膜が得ら
れることは良く知られるところである。
〔発明か解決しようとする問題点〕
ところが上述したような基板公転スパッタ及びインライ
ン基板移動スパッタを採用しても、薄膜の組成分布は十
分に改善されない。
一般に合金ターゲットのスパッタリングにおける、膜の
組成分布は次の2つのメカニズムによって生ずると考え
られている。すなわち、第1にはスパッタ粒子は、ター
ゲットから飛び出した後、基板に到達する過程でアルゴ
ンガス粒子との衝突によりエネルギーを失う。運動エネ
ルギーの伝達係数は、スパッタ粒子の質量をM1アルゴ
ン粒子の質量をmとすれば、4Mm/ (M+m)’と
表されるようにスパッタ粒子の質量に大きく依存する。
したがって、各スパッタ粒子の平均自由工程が同程度と
すれば、飛程距離によって基板に到達する確率が元素に
より異なるため、膜の組成分布が起こる。第2には、ス
パッタ粒子の数がターゲットからの放出角に大きく依存
し、かつその依存関係が元素によって異なる。したがっ
て基板上には、ある放出角における各元素のスパッタ粒
子数に比例した組成の膜が付くことになる。
以上のように合金ターゲットのスパッタによる合金膜の
成膜に際しては膜上に組成分布が生じることは避は難い
ことであった。一方、例えば光磁気記録媒体について記
述すれば、記録膜である非晶質希土類−遷移金属合金膜
の磁気特性はその組成によって大きく変わる。 したが
って記録膜にできた組成分布は記録・再生特性の不均一
さとなり、記録媒体の性能を著しく損なう致命的な欠陥
になる。このような欠点を解決するために、基板の公転
と併せて自転を成膜時に行う方法が採用されているが、
回転機構が複雑なことや、回転部分からの塵により真空
槽内を汚染するという欠点が生じてしまう。
そこで本発明は、このような問題点を解決するもので、
その目的とするところは、簡単な構成により、合金ター
ゲットのスパッタにおける合金薄膜や組成分布を低減す
ることにある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明の合金薄膜の製造方法は、二種以上の元素から構
成された合金スパッタターゲットから、同一チャンバー
内に設けた基板上に合金薄膜を成膜する合金薄膜の製造
方法において、該合金スパッタターゲットと該基板の間
に遮蔽物を設けることにより、該合金スパッタターゲッ
トから出射したスパッタ粒子のうち、該基板に到達する
スパッタ粒子を該スパッタターゲットからの出射角で制
限することを特徴とする。
〔実施例〕
以下実施例に基づき本発明の詳細な説明する。
光磁気記録媒体の記録層であるTbFe膜を成膜するた
めのTb*5Fett合金ターゲットを用いた。ターゲ
ットサイズは15cmX45cmX0.5cmtである
。第4図に本実施例に用いたスパッタ装置の概略図を示
す。 通常のインライン基板移動スパッタと同様にター
ゲット11の面に平行に基板12を基板ホルダー13に
セットし、 ターゲット11の長軸と直交する方向に、
即ち矢印の方向に基板を移動しなから成膜を行った。こ
こで基板とターゲット間の距離は10cmである。ただ
し、ここでは遮蔽物14をターゲットと基板の間にセッ
トしである。 遮蔽物14は第5図に示したごと(、幅
15cm1長さ45cm、高さ6cmのステンレス製の
枠15と、枠内に設けた幅15cm1高さ6cmの支切
板16から成る。ここで、遮蔽物としての本質は支切板
16にある。第6図はこのような構成の装置を用いて成
膜した膜の組成分布を支切板と間隔の関係を示したもの
で、横軸に基板ホルダー長軸方向の位置、縦軸にその位
置の膜中のTb含有量をとっである。図中の○、Δ、口
、・は各々支切板のないもの、支切板を等間隔に10枚
、15枚、20枚設置したものについて示している。本
実施例において支切板のないものは、従来のインライン
基板移動のスパッタに対応している。このように、支切
板を設けることにより成膜された膜の組成分布が著しく
向上する。このことは、次に述べる作用によって達成さ
れている。第°7図はこの作用を説明するための模式図
で17はターゲットを、18は基板を、19は支切板を
表している。図においてターゲットから飛び出したスパ
ッタ粒子は支切板19にさえぎられるため、例えば基板
18上の点Xには、ターゲット上のA点とB点にはさま
れた部分からしかスパッタ粒子が到達しない。即ちター
ゲツト法線とAXlBXが成す角を各々α、β(αく0
くβ)は共に小さいので、スパッタ粒子の飛程距離はほ
ぼ等しくなる。またスパッタ粒子の種類によって異なる
スパッタ粒子数の放出角依存性も無視できるほど小さく
なる。以上のような作用により本実施例において組成分
布を低減できた。
〔発明の効果〕
上述したように本発明によれば、合金スパッタターゲッ
トからスパッタ法にて合金薄膜を成膜する時、その組成
分布を著しく小さくすることができる。尚、実施例に示
した場合だけでなく、ターゲットと基板が平行に対向し
ていない場合や、基板を固定した場合についても同様な
効果が得られる。さらに、遮蔽物の形状や位置を変える
ことによってこの効果がさらに高まることは言うまでも
ない。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図および第3図は従来の合金成膜法に用い
られるスパッタ装置の模式図。第4図および第5図は各
々本発明を説明するためのスパッタ装置の模式図、およ
び遮蔽物の模式図である。 第6図は本発明を説明するために、基板上の位置と膜中
のTb含有量の関係の遮蔽物の形による影響を示す図。 また第7図は、本発明の詳細な説明するための図である
。 1.4.8.11.17・・・ターゲット2.5.9.
12.18・・・基板 3.8.10.13・・・基板ホルダー7・・・基板回
転軸 14・・・遮蔽物 15・・・枠 16.19・・・支切板 )ζ、Y・・・基板移動方向 Z・・・基板上の点 A、B・・・ターゲット上の点 α、β・・・ターゲツト法線とスパッタ粒子の飛程の成
す角 以  上

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 二種以上の元素から成る合金スパッタターゲットから、
    同一チャンバー内に設けた基板上に合金薄膜を成膜する
    合金薄膜の製造方法において、該合金スパッタターゲッ
    トと該基板の間に遮蔽物を設けることにより、該合金ス
    パッタターゲットから出射したスパッタ粒子のうち、該
    基板に到達するスパッタ粒子を該スパッタターゲットか
    らの出射角で制限することを特徴とする合金薄膜の製造
    方法。
JP14038787A 1987-06-04 1987-06-04 合金薄膜の製造方法 Pending JPS63307256A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14038787A JPS63307256A (ja) 1987-06-04 1987-06-04 合金薄膜の製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14038787A JPS63307256A (ja) 1987-06-04 1987-06-04 合金薄膜の製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS63307256A true JPS63307256A (ja) 1988-12-14

Family

ID=15267628

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP14038787A Pending JPS63307256A (ja) 1987-06-04 1987-06-04 合金薄膜の製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS63307256A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63310965A (ja) * 1987-06-11 1988-12-19 Anelva Corp スパッタリング装置
US5527438A (en) * 1994-12-16 1996-06-18 Applied Materials, Inc. Cylindrical sputtering shield

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63310965A (ja) * 1987-06-11 1988-12-19 Anelva Corp スパッタリング装置
US5527438A (en) * 1994-12-16 1996-06-18 Applied Materials, Inc. Cylindrical sputtering shield

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0319613B2 (ja)
JPS63307256A (ja) 合金薄膜の製造方法
JPS6151410B2 (ja)
JPS61235560A (ja) マグネトロンスパツタ装置
JPH04221061A (ja) 薄膜形成装置
JP2601358B2 (ja) スパッタリング方法
US6217723B1 (en) Method of manufacturing a multilayer film
Nyaiesh Target profile change during magnetron sputtering
JPS6361387B2 (ja)
JPS6233764A (ja) スパツタリング装置
JPS59208815A (ja) マグネトロンスパツタリング装置における埋め込み式複合タ−ゲツト
JPS62211374A (ja) スパツタリング装置
JP2755776B2 (ja) 高速成膜スパッタリング装置
JP2003138373A (ja) スパッタリング装置及びスパッタリング方法
JPH02173260A (ja) スパッタリング装置
JPH05339725A (ja) スパッタリング装置
JPH0194552A (ja) 光磁気記録媒体の製造方法
JPH01205071A (ja) 多層膜形成装置
JPS6277477A (ja) 薄膜形成装置
JPS60250624A (ja) 半導体素子の製造装置
JPH044531B2 (ja)
JPS5917896Y2 (ja) 高速スパツタ用タ−ゲツト電極
JPS60131967A (ja) スパツタ方法
JPS61170566A (ja) スパツタ装置
JPH02277768A (ja) スパッタリング方法