JPS63302584A - レ−ザダイオ−ドの温度制御装置 - Google Patents
レ−ザダイオ−ドの温度制御装置Info
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- JPS63302584A JPS63302584A JP13843287A JP13843287A JPS63302584A JP S63302584 A JPS63302584 A JP S63302584A JP 13843287 A JP13843287 A JP 13843287A JP 13843287 A JP13843287 A JP 13843287A JP S63302584 A JPS63302584 A JP S63302584A
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- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims abstract description 31
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 abstract description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 2
- 230000004043 responsiveness Effects 0.000 description 2
- 230000005679 Peltier effect Effects 0.000 description 1
- 206010038743 Restlessness Diseases 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/02—Structural details or components not essential to laser action
- H01S5/024—Arrangements for thermal management
- H01S5/02469—Passive cooling, e.g. where heat is removed by the housing as a whole or by a heat pipe without any active cooling element like a TEC
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
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- H01S5/02—Structural details or components not essential to laser action
- H01S5/024—Arrangements for thermal management
- H01S5/02407—Active cooling, e.g. the laser temperature is controlled by a thermo-electric cooler or water cooling
- H01S5/02415—Active cooling, e.g. the laser temperature is controlled by a thermo-electric cooler or water cooling by using a thermo-electric cooler [TEC], e.g. Peltier element
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Optics & Photonics (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(I!要〕
本発明はレーザダイオードの温度制御装置において、レ
ーザダイオードを電子冷熱素子上に設けてヒートパイプ
の一端に設けると共に、ヒートパイプの他端にも捌の電
子冷熱素子を設け、温度に応じて両方の電子冷熱集子を
吸熱及び発熱さゼることにより、レーずダイオードを頂
定の温度に支足に制御しうるようにしたものである。
ーザダイオードを電子冷熱素子上に設けてヒートパイプ
の一端に設けると共に、ヒートパイプの他端にも捌の電
子冷熱素子を設け、温度に応じて両方の電子冷熱集子を
吸熱及び発熱さゼることにより、レーずダイオードを頂
定の温度に支足に制御しうるようにしたものである。
(産業上の利用分野)
本発明はレーザダイオードのU度υ制御装置に関する。
レーザダイオードを安定に動作させるためには、この温
度を所定の温度に制御することが必要とされる。
度を所定の温度に制御することが必要とされる。
(従来の技術)
従来、電子冷熱素子(ペルチェ集子)を利用してレーザ
ダイオードを冷却する構成とした装置があった。
ダイオードを冷却する構成とした装置があった。
しかし、単にレーザダイオードのみを冷却するだけでは
、レーザダイオードを所定の温度に効率良く制御するこ
とはできず、冷却にある程度の時間を必要としていた。
、レーザダイオードを所定の温度に効率良く制御するこ
とはできず、冷却にある程度の時間を必要としていた。
従って、本発明の目的は、レーザダイオードを効率良く
冷却するための温度υ1!1112Fを提供することに
ある。
冷却するための温度υ1!1112Fを提供することに
ある。
(問題点を解決するための手段)
本発明のレーザダイオードの温度制m+装買は、その一
端を回路筐体の内11としその他端を該回路筐体の外部
に露出させて設置プたヒートパイプと、レーザダイオー
ドを支持し、上記ヒートパイプの上記一端に取付けられ
た第1の電子冷熱素子と、上記ヒートパイプの上記他端
に対向して設けた第2の電子冷熱素子と、 上記レーザダイオードの周囲の温度を検出する温度セン
サと、 上記のi度を設定した1度に昶持すべく、上記温度セン
サの出力に応じて、温度が設定温度より高いときには、
上記第1の電子冷熱素子のレー+7”ダイオード側が吸
熱しヒートパイプ側が発熱し、上記第2の電子冷熱素子
のヒートパイプ側が吸熱するように、温度が設定温度よ
り低いときには、上記第1の電子冷熱素子のレーザダイ
オード側が発熱しヒートパイプ側が吸熱し、上記第2の
電子冷熱素子のヒートパイプ側が発熱するように、上記
第1.第2の電子冷熱素子にffi流を流す温度制御回
路とよりなるものである。
端を回路筐体の内11としその他端を該回路筐体の外部
に露出させて設置プたヒートパイプと、レーザダイオー
ドを支持し、上記ヒートパイプの上記一端に取付けられ
た第1の電子冷熱素子と、上記ヒートパイプの上記他端
に対向して設けた第2の電子冷熱素子と、 上記レーザダイオードの周囲の温度を検出する温度セン
サと、 上記のi度を設定した1度に昶持すべく、上記温度セン
サの出力に応じて、温度が設定温度より高いときには、
上記第1の電子冷熱素子のレー+7”ダイオード側が吸
熱しヒートパイプ側が発熱し、上記第2の電子冷熱素子
のヒートパイプ側が吸熱するように、温度が設定温度よ
り低いときには、上記第1の電子冷熱素子のレーザダイ
オード側が発熱しヒートパイプ側が吸熱し、上記第2の
電子冷熱素子のヒートパイプ側が発熱するように、上記
第1.第2の電子冷熱素子にffi流を流す温度制御回
路とよりなるものである。
〔作用ン
レーザダイオードの冷W゛は、第1の素子による吸熱に
加えて、第1.第2の素子とヒートパイプとによる外部
への効率良い放熱により、効果的に行なわれる。
加えて、第1.第2の素子とヒートパイプとによる外部
への効率良い放熱により、効果的に行なわれる。
レーザダイオードの加熱は、第1の素子による発熱に加
えて、第1.第2の素子とヒートパイプとによるfj4
1の素子側よりの放熱により、効率良く行なわれる。
えて、第1.第2の素子とヒートパイプとによるfj4
1の素子側よりの放熱により、効率良く行なわれる。
これにより、レーザダイオードの温度は応答性良く制御
される。
される。
第1図は本発明の一実施例によるレーザダイオードの温
度制御回路H1を示す。
度制御回路H1を示す。
2はvSBレーザダイオードである。このレーザダイオ
ード2よりのレーザ3は光フ?イバ4を通して取り出さ
れる。5はモニタ用ホトダイオードである。
ード2よりのレーザ3は光フ?イバ4を通して取り出さ
れる。5はモニタ用ホトダイオードである。
6番ユ回路筐体であり、レーザダイオード2を含む回路
モジュールが収容されている。
モジュールが収容されている。
7はヒートバイブであり、一端(第1の端)7aを回路
筐体6の内部とし、他端(第2の端)7bを回路筐体6
の外部に露出させて設GJである。
筐体6の内部とし、他端(第2の端)7bを回路筐体6
の外部に露出させて設GJである。
8は第1の電子冷熱素子であり、ヒートバイブ7の第1
の端7aに取り付けである。この第1の電子冷熱素子8
の上面に上記のレーザダイオード2が実装しである。
の端7aに取り付けである。この第1の電子冷熱素子8
の上面に上記のレーザダイオード2が実装しである。
9は第2の電子冷熱素子であり、ヒートバイブ7の第2
の端7bに対向して、回路筐体6の外部に設けである。
の端7bに対向して、回路筐体6の外部に設けである。
、上記の第1.第2の電子冷熱素子8.9は共に、ペル
チェ効果を応用したものであり、上部接点8a、9bと
下部接点[)、9bとを右する。
チェ効果を応用したものであり、上部接点8a、9bと
下部接点[)、9bとを右する。
10は温度センサとしてのサーミスタであり、回路筐体
6の内部のうらレーザダイオード2の付近に設けてあり
、この部分のfA度を検出する。
6の内部のうらレーザダイオード2の付近に設けてあり
、この部分のfA度を検出する。
11は温度制御回路であり、第1の閾碩ムq定部12、
第2のvA値設定部13.及び差動アンプ14とよりな
る。
第2のvA値設定部13.及び差動アンプ14とよりな
る。
第1の閾値設定部12は上記素子8.9の特性に応じて
調整され、制御目標温度ioに対応した閾値TH+に設
定されている(第2図参照)。
調整され、制御目標温度ioに対応した閾値TH+に設
定されている(第2図参照)。
第2の閾値設定部13は差動アンプ14の特性及び上記
設定された閾値TH+に応じて調整され、闇値TH2に
設定されている(第3図参照)。
設定された閾値TH+に応じて調整され、闇値TH2に
設定されている(第3図参照)。
次に上記構成になる装置1の温度制御動作について説明
する。
する。
レーザダイオード2の温度が上がると、サーミスタ10
の抵抗値が下がり、素子8.9の一端の電圧v1は第1
図中実線で示すように変化し、差動アンプ14の非反転
入力端子の電圧v2は第1図中実線で示すように変化す
る。
の抵抗値が下がり、素子8.9の一端の電圧v1は第1
図中実線で示すように変化し、差動アンプ14の非反転
入力端子の電圧v2は第1図中実線で示すように変化す
る。
レーザダイオード2の温度が1.を越えてtlとなると
、電圧V+が闇値TH+を越え、素子8゜9には第1図
中実線の矢印で示す向きで電流11が流れる。
、電圧V+が闇値TH+を越え、素子8゜9には第1図
中実線の矢印で示す向きで電流11が流れる。
これにより、第4図に示すように、第1の素子8は、上
部接点8が冷却されて、熱を吸収する吸熱状態となり、
下部接点8bが発熱状態となる。
部接点8が冷却されて、熱を吸収する吸熱状態となり、
下部接点8bが発熱状態となる。
第2の素子9は、上部接点9aが冷却されて、熱を吸収
する吸熱状態となり、F部接点9bが発熱状態となる。
する吸熱状態となり、F部接点9bが発熱状態となる。
レーザダイオード2の熱は、第1の素子8の上部8aの
吸熱作用により当該上部接点8aに吸収されて冷却され
る。吸収された熱は、下部接点8bより発生した熱と共
に、ヒートパイプ7内を矢印15で示すように流れ、第
2の端7bより回路筐体6外に放熱される。
吸熱作用により当該上部接点8aに吸収されて冷却され
る。吸収された熱は、下部接点8bより発生した熱と共
に、ヒートパイプ7内を矢印15で示すように流れ、第
2の端7bより回路筐体6外に放熱される。
第2の端7bには、素子9のうち冷却されている上部接
点9aが対向している。このため、第1の端7aと第2
の端7bとの温度差は大きく、ヒートパイプ7内を流れ
る熱量はその分多くなり、熱は効率良く外部に放出され
る。
点9aが対向している。このため、第1の端7aと第2
の端7bとの温度差は大きく、ヒートパイプ7内を流れ
る熱量はその分多くなり、熱は効率良く外部に放出され
る。
これにより、レーザダイオード2は、第1には第1の素
子8により、第2には、第1の素子8とヒートパイプ7
と第2の素子9とにより、効率良く冷却され、温度は素
早<1+→toとされる。
子8により、第2には、第1の素子8とヒートパイプ7
と第2の素子9とにより、効率良く冷却され、温度は素
早<1+→toとされる。
上記とは逆に、レーザダイオード2の温度がt o6よ
り下がってt2°となると、第2図に示すように電圧■
1が閾値TH+より低くなり、素子8.9には第1図中
破線の矢印で示す向きで電流12が流れる。
り下がってt2°となると、第2図に示すように電圧■
1が閾値TH+より低くなり、素子8.9には第1図中
破線の矢印で示す向きで電流12が流れる。
これにより、第5図に示すように、第1の素子8は、上
部接点8aが発熱状態、F部接点8bが冷却されて吸熱
状態となる。
部接点8aが発熱状態、F部接点8bが冷却されて吸熱
状態となる。
第2の素子9も上部接点9bが発熱状態、F部接点9b
が吸熱状態となる。
が吸熱状態となる。
これにより、ヒートパイプ7の第2のQ 7 bの温度
が第1の端7aの温度より高くなり、ヒートパイプ7内
の熱の流れは上記の場合とは逆になり、熱はヒートパイ
プ7内を矢印16で示すように流れ、第1の端7aより
放出される。
が第1の端7aの温度より高くなり、ヒートパイプ7内
の熱の流れは上記の場合とは逆になり、熱はヒートパイ
プ7内を矢印16で示すように流れ、第1の端7aより
放出される。
これにより、レーザダイオード2は、第1には第1の素
子8の上部接点8aの発熱により、第2にはヒートパイ
プ7の第1の端7aよりの放熱により効率良く加熱され
、温度は素早<t2→t0とされる。
子8の上部接点8aの発熱により、第2にはヒートパイ
プ7の第1の端7aよりの放熱により効率良く加熱され
、温度は素早<t2→t0とされる。
これにより、レーザダイオード2の温度は所定の温度t
oに一定に応答性良く制御され、レーザダイオード2の
動作は安定に保たれる。
oに一定に応答性良く制御され、レーザダイオード2の
動作は安定に保たれる。
本発明によれば、レーザダイオードの温度を所定の温度
に効率良く制御することが出来るため、レーザダイオー
ドを継続して安定に動作させることができる。
に効率良く制御することが出来るため、レーザダイオー
ドを継続して安定に動作させることができる。
第1図は本発明の一実施例によるレーザダイオードの温
度制御装置を示す図、 第2図は温度と電圧V+ どの関係を示す図、第3図は
温度と電圧v2との関係を′示す図、第4図はレーザダ
イオードの温度が所定の温度より高くなったときの温r
t1t11制御を説明する図、第5図はレーデダイオー
ドの温度が所定の温度より低くなったときの温度制御を
説明する図である。 図において、 1はレーザダイオードのU度fbllt11装4.2は
レーザダイオード、 6は回路筐体、 7はヒートパイプ、 ↑ 8b、9bは下部接点、 1
チ 9は第2の電子冷熱素子、 6
10はサーミスタ、
−111は温度制御回路、 12は第1の閾値設定部、 13は第2の閾値設定部、 14は差動アンプ、 15.16は熱の流れを示す矢印である。 二部 峠 温度と電圧V1との関1季を示1図 第2図 温度と1L圧−V2との関イ料示寸図 第3図 プ′タイオードの温&γ7’lT定の獄より< ’J−
)r:ときの偶渡制徊躇暁明憚ろ図第4図 レーザ゛°り゛イオードの温度匠PfT定の月区度Xリ
イ氏(゛ブフたときの温皮散]#ぎお乙明]ろ因業5
図
度制御装置を示す図、 第2図は温度と電圧V+ どの関係を示す図、第3図は
温度と電圧v2との関係を′示す図、第4図はレーザダ
イオードの温度が所定の温度より高くなったときの温r
t1t11制御を説明する図、第5図はレーデダイオー
ドの温度が所定の温度より低くなったときの温度制御を
説明する図である。 図において、 1はレーザダイオードのU度fbllt11装4.2は
レーザダイオード、 6は回路筐体、 7はヒートパイプ、 ↑ 8b、9bは下部接点、 1
チ 9は第2の電子冷熱素子、 6
10はサーミスタ、
−111は温度制御回路、 12は第1の閾値設定部、 13は第2の閾値設定部、 14は差動アンプ、 15.16は熱の流れを示す矢印である。 二部 峠 温度と電圧V1との関1季を示1図 第2図 温度と1L圧−V2との関イ料示寸図 第3図 プ′タイオードの温&γ7’lT定の獄より< ’J−
)r:ときの偶渡制徊躇暁明憚ろ図第4図 レーザ゛°り゛イオードの温度匠PfT定の月区度Xリ
イ氏(゛ブフたときの温皮散]#ぎお乙明]ろ因業5
図
Claims (2)
- (1)一端(7a)を回路筐体(10)の内部、他端(
7b)を該回路筐体(10)の外部に露出させて設けた
ヒートパイプ(7)と、 レーザダイオード(2)を支持し、上記ヒートパイプ(
7)の上記一端(7a)に取付けられた第1の電子冷熱
素子(8)と、 上記ヒートパイプ(7)の上記他端(7b)に対向して
設けた第2の電子冷熱素子(9)と、上記レーザダイオ
ードの周囲の温度を検出する温度センサ(10)と、 上記の温度を設定した温度に維持すべく、上記温度セン
サ(10)の出力に応じて上記第1、第2の電子冷熱素
子を吸熱、発熱させる温度制御回路(11)とを備えた
レーザダイオードの温度制御装置。 - (2)前記温度制御回路(11)は上記温度センサによ
り検出した温度が設定温度より高いときには、上記第1
の電子冷熱素子のレーザダイオード側が吸熱しヒートパ
イプ側が発熱し、上記第2の電子冷熱素子のヒートパイ
プ側が吸熱するように、温度が設定温度より低いときに
は、上記第1の電子冷熱素子のレーザダイオード側が発
熱しヒートパイプ側が吸熱し、上記第2の電子冷熱素子
のヒートパイプ側が発熱するように、上記第1、第2の
電子冷熱素子に電流を流すことを特徴とする特許請求の
範囲第1項記載のレーザダイオードの温度制御装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13843287A JPS63302584A (ja) | 1987-06-02 | 1987-06-02 | レ−ザダイオ−ドの温度制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13843287A JPS63302584A (ja) | 1987-06-02 | 1987-06-02 | レ−ザダイオ−ドの温度制御装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63302584A true JPS63302584A (ja) | 1988-12-09 |
Family
ID=15221836
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13843287A Pending JPS63302584A (ja) | 1987-06-02 | 1987-06-02 | レ−ザダイオ−ドの温度制御装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63302584A (ja) |
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-
1987
- 1987-06-02 JP JP13843287A patent/JPS63302584A/ja active Pending
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