JPS63299243A - プロ−ブカ−ドアダプタ - Google Patents
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- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims abstract description 78
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13460087A JPS63299243A (ja) | 1987-05-29 | 1987-05-29 | プロ−ブカ−ドアダプタ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13460087A JPS63299243A (ja) | 1987-05-29 | 1987-05-29 | プロ−ブカ−ドアダプタ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63299243A true JPS63299243A (ja) | 1988-12-06 |
JPH0575178B2 JPH0575178B2 (enrdf_load_stackoverflow) | 1993-10-20 |
Family
ID=15132190
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13460087A Granted JPS63299243A (ja) | 1987-05-29 | 1987-05-29 | プロ−ブカ−ドアダプタ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63299243A (enrdf_load_stackoverflow) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04276018A (ja) * | 1991-03-01 | 1992-10-01 | Kobe Steel Ltd | 圧壊特性に優れたドアガードバーの製造方法 |
JPH0513046U (ja) * | 1991-07-29 | 1993-02-19 | 山形日本電気株式会社 | 半導体プローブボードの検査装置 |
JP2005265658A (ja) * | 2004-03-19 | 2005-09-29 | Tokyo Electron Ltd | 複数種のテスタに対応可能なプローブ装置 |
KR100632032B1 (ko) * | 1999-07-14 | 2006-10-04 | 동부일렉트로닉스 주식회사 | 프로브 카드 분리 가이드를 구비한 dc 검사장비 |
JP2018523825A (ja) * | 2015-08-07 | 2018-08-23 | エクセラ・コーポレーションXcerra Corp. | 印刷された回路基板を検査するための並列検査装置用の位置決め装置、及び印刷された回路基板を検査するための並列検査装置 |
US10908180B2 (en) | 2012-11-22 | 2021-02-02 | Japan Electronic Materials Corp. | Probe card case and probe card transfer method |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0730887U (ja) * | 1993-11-30 | 1995-06-13 | 金一 新妻 | トイレットペーパーホルダー |
-
1987
- 1987-05-29 JP JP13460087A patent/JPS63299243A/ja active Granted
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US7323893B2 (en) | 2004-03-19 | 2008-01-29 | Tokyo Electron Limited | Probe device capable of being used for plural kinds of testers |
KR100845349B1 (ko) * | 2004-03-19 | 2008-07-09 | 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 | 복수종의 테스터에 대응 가능한 프로브 장치 |
CN100545666C (zh) | 2004-03-19 | 2009-09-30 | 东京毅力科创株式会社 | 能够对应多种测试器的探针装置 |
EP1736787A4 (en) * | 2004-03-19 | 2014-04-02 | Tokyo Electron Ltd | TEST DEVICE SUITABLE FOR A VARIETY OF DIFFERENT TESTERS |
US10908180B2 (en) | 2012-11-22 | 2021-02-02 | Japan Electronic Materials Corp. | Probe card case and probe card transfer method |
JP2018523825A (ja) * | 2015-08-07 | 2018-08-23 | エクセラ・コーポレーションXcerra Corp. | 印刷された回路基板を検査するための並列検査装置用の位置決め装置、及び印刷された回路基板を検査するための並列検査装置 |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0575178B2 (enrdf_load_stackoverflow) | 1993-10-20 |
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