JPS63282200A - ダイヤモンドの化学気相成長方法 - Google Patents
ダイヤモンドの化学気相成長方法Info
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- JPS63282200A JPS63282200A JP11772187A JP11772187A JPS63282200A JP S63282200 A JPS63282200 A JP S63282200A JP 11772187 A JP11772187 A JP 11772187A JP 11772187 A JP11772187 A JP 11772187A JP S63282200 A JPS63282200 A JP S63282200A
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Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
ガスを高周波誘導加熱してプラズマジェットを作り、こ
の中にガス状の炭化水素を供給し、超高温で加熱してラ
ジカル化し、このガスを被処理基板に衝突させることに
より被処理基板上にダイヤモンドの薄膜を形成する方法
。
の中にガス状の炭化水素を供給し、超高温で加熱してラ
ジカル化し、このガスを被処理基板に衝突させることに
より被処理基板上にダイヤモンドの薄膜を形成する方法
。
本発明は高効率なダイヤモンドの化学気相成長方法に関
する。
する。
ダイヤモンドは炭素(C)の同素体であって所謂るダイ
ヤモンド構造を示し、モース(Mohs)硬度10と大
きく、また熱伝導度は100OW/+ kと他の材料よ
り格段に優れている。
ヤモンド構造を示し、モース(Mohs)硬度10と大
きく、また熱伝導度は100OW/+ kと他の材料よ
り格段に優れている。
また、この同素体に非晶質ではあるが透明で絶縁物であ
るダイヤモンド状炭素があり、このものはダイヤモンド
より劣るが高い熱伝導度と硬度をもっている。
るダイヤモンド状炭素があり、このものはダイヤモンド
より劣るが高い熱伝導度と硬度をもっている。
そのため、ダイヤモンドとダイヤモンド状炭素には各種
の用途が期待されている。
の用途が期待されている。
すなわち、熱伝導度が大きいのを利用して半導体集積回
路の搭載用基板の被覆材料として、また、硬度の大きい
の利用して工具などの被覆材として着目されている。
路の搭載用基板の被覆材料として、また、硬度の大きい
の利用して工具などの被覆材として着目されている。
また、現にダイヤモンド状炭素はチタン(Ti)金成板
の表面に被覆してスピーカの振動板として使用されてい
る。
の表面に被覆してスピーカの振動板として使用されてい
る。
ダイヤモンドやダイヤモンド状炭素の気相合成法として
化学気相成長法(Chemical Vapor De
position略して通称CVD法)、イオンブレー
ティング法。
化学気相成長法(Chemical Vapor De
position略して通称CVD法)、イオンブレー
ティング法。
イオン化蒸着法、スパッタリング法などが提案され研究
されている。
されている。
このうち、最も量産化の可能性の高いのはCVD法であ
るが、これは反応ガスの励起法により熱フイラメントC
VD法、マイクロ波プラズマCvD法。
るが、これは反応ガスの励起法により熱フイラメントC
VD法、マイクロ波プラズマCvD法。
電子線照射CVD法などに分けることができる。
このように各種の成長方法があり、それぞれダイヤモン
ドの成長が認められているもの\、ラマン分光法でダイ
ヤモンドのピークのみが検出されるような良質の薄膜の
成長速度は1μs/h以下と非常に遅い。
ドの成長が認められているもの\、ラマン分光法でダイ
ヤモンドのピークのみが検出されるような良質の薄膜の
成長速度は1μs/h以下と非常に遅い。
また、ダイヤモンド状炭素でも10μs/h程度と遅く
量産の点で問題である。
量産の点で問題である。
そのために成膜速度の速い成長方法の開発が要望されて
いる。
いる。
以上記したようにダイヤモンド薄膜の成長方法として各
種の方法が提案されて研究されているが、最良のCVD
法でもダイヤモンドの成長速度は1μs/h以下であり
、そのため成膜速度の速いCVD法を開発することが課
題である。
種の方法が提案されて研究されているが、最良のCVD
法でもダイヤモンドの成長速度は1μs/h以下であり
、そのため成膜速度の速いCVD法を開発することが課
題である。
上記の問題はガスを供給した水冷管を囲んで設けてある
誘導コイルに高周波電流を通じ、このガスを高温に加熱
してプラズマジェットを作り、このプラズマジェット中
に炭化水素ガスを導入してラジカル化し、このラジカル
化したプラズマジェットを被処理基板に衝突せしめ、被
処理基板上にダイヤモンド・の薄膜を形成するダイヤモ
ンドの化学気相成長方法により解決することができる。
誘導コイルに高周波電流を通じ、このガスを高温に加熱
してプラズマジェットを作り、このプラズマジェット中
に炭化水素ガスを導入してラジカル化し、このラジカル
化したプラズマジェットを被処理基板に衝突せしめ、被
処理基板上にダイヤモンド・の薄膜を形成するダイヤモ
ンドの化学気相成長方法により解決することができる。
(作用〕
本発明は高周波誘導加熱法により水素(H2)などの供
給ガスなどを10000℃程度にまで加熱してガスをプ
ラズマ化すると共に熱膨張させてプラズマ噴流をつくり
、このプラズマ噴流の中に炭化水素を供給し、活性化す
ることにより炭素ラジカルを作り、この炭素ラジカルを
被処理基板に衝突させることによりダイヤモンドを形成
するものである。
給ガスなどを10000℃程度にまで加熱してガスをプ
ラズマ化すると共に熱膨張させてプラズマ噴流をつくり
、このプラズマ噴流の中に炭化水素を供給し、活性化す
ることにより炭素ラジカルを作り、この炭素ラジカルを
被処理基板に衝突させることによりダイヤモンドを形成
するものである。
すなわち、ボンベなどから供給されたガスは高温加熱に
より体積が膨張し、またプラズマ化することにより高圧
の噴流となる。
より体積が膨張し、またプラズマ化することにより高圧
の噴流となる。
一方、導入管よりプラズマの中に供給された炭化水素は
急速に高温度にまで加熱され、またプラズマ化に伴って
発生する紫外線などにより活性化して密度の高いラジカ
ルを発生し、また体積が膨張してノズルから超高速のプ
ラズマジェットとなって噴出する。
急速に高温度にまで加熱され、またプラズマ化に伴って
発生する紫外線などにより活性化して密度の高いラジカ
ルを発生し、また体積が膨張してノズルから超高速のプ
ラズマジェットとなって噴出する。
第1図は本発明に係るインダクションプラズマCVDの
原理図であって、石英管などからなる水されており、高
周波電源3から高周波電流を供給して誘導加熱するよう
構成されている。
原理図であって、石英管などからなる水されており、高
周波電源3から高周波電流を供給して誘導加熱するよう
構成されている。
また、水冷管1にはボンベよりガスが供給されており、
誘導加熱により高温に加熱されてプラズマ噴流となり、
被処理基板5が載置しである設置台6が負にバイアスし
であるためにイオン化したガスは被処理基板5に向かっ
て噴出する。
誘導加熱により高温に加熱されてプラズマ噴流となり、
被処理基板5が載置しである設置台6が負にバイアスし
であるためにイオン化したガスは被処理基板5に向かっ
て噴出する。
次に、水冷管1の噴出口4の近くには炭化水素の導入管
7があり、プラズマ噴流の中に供給された炭化水素は分
解すると共に炭素ラジカルとなり、この状態で被処理基
板5に衝突することによりダイアモンド薄膜を形成する
ものである。
7があり、プラズマ噴流の中に供給された炭化水素は分
解すると共に炭素ラジカルとなり、この状態で被処理基
板5に衝突することによりダイアモンド薄膜を形成する
ものである。
本発明はこのようにプラズマジェットを被処理基板5に
衝突させることにより短寿命のラジカルの消滅以前に基
板上で効率の良いCVO反応を行わせて膜形成を行わせ
るもので、10000℃を越す高温のアークプラズマ中
で活性化させることにより従来に較べて逼かに高密度の
ラジカルを発生させると共に、これを速やかに被処理基
板上に導き、光励起と衝突のエネルギーをも与えてラジ
カル反応を起こさせこれにより効率的なダイヤモンド成
長を行うものである。
衝突させることにより短寿命のラジカルの消滅以前に基
板上で効率の良いCVO反応を行わせて膜形成を行わせ
るもので、10000℃を越す高温のアークプラズマ中
で活性化させることにより従来に較べて逼かに高密度の
ラジカルを発生させると共に、これを速やかに被処理基
板上に導き、光励起と衝突のエネルギーをも与えてラジ
カル反応を起こさせこれにより効率的なダイヤモンド成
長を行うものである。
第1図に示すプラズマ噴流形成部を構成する水冷管lと
して内径20fi、外径30龍の石英管を用い、を5タ
ーン設け、これに高周波電源3から出力が2KWで13
.57 M!lzO高周波電流を通じつ\外部から10
00 SCCM(Standard Cubic Ce
ntia+eter perMinuts)の流量で供
給されてくるH2ガスを10000℃以上にまで加熱し
てプラズマ化した。
して内径20fi、外径30龍の石英管を用い、を5タ
ーン設け、これに高周波電源3から出力が2KWで13
.57 M!lzO高周波電流を通じつ\外部から10
00 SCCM(Standard Cubic Ce
ntia+eter perMinuts)の流量で供
給されてくるH2ガスを10000℃以上にまで加熱し
てプラズマ化した。
次に導入管7からは炭化水素ガスとしてメタン(CH4
,)ガスを1005CCHの流量で供給し、ラジカル化
した。
,)ガスを1005CCHの流量で供給し、ラジカル化
した。
第2図は本発明を実施するインダクションプラズマCV
D装置の模式図であって、装置内にはプラズマ噴流形成
部10があり、プラズマ発生ガス供給管8と原料ガス供
給管9が備えられ、また高周波電源3から誘導コイル2
に配線されている。
D装置の模式図であって、装置内にはプラズマ噴流形成
部10があり、プラズマ発生ガス供給管8と原料ガス供
給管9が備えられ、また高周波電源3から誘導コイル2
に配線されている。
また、プラズマ噴流形成部10に対向して水冷基板ホル
ダ6がある。
ダ6がある。
本実施例においては被処理基板5として30鶴角のシリ
コン(St)基板を用い、プラズマ噴流形成部10の下
300uの位置にセットし、またバイアス電圧11を3
00■とした。
コン(St)基板を用い、プラズマ噴流形成部10の下
300uの位置にセットし、またバイアス電圧11を3
00■とした。
まず、装置内をI X 10− ” torrにまで排
気した後、プラズマ発生ガス供給管8および原料ガス供
給管9からそれぞれH2およびCH,を供給し、装置内
の真空度を100toorに保持しながらインダクショ
ンプラズマCVDを行った。
気した後、プラズマ発生ガス供給管8および原料ガス供
給管9からそれぞれH2およびCH,を供給し、装置内
の真空度を100toorに保持しながらインダクショ
ンプラズマCVDを行った。
その結果、Si基板の上には1時間で約10μmの厚さ
にダイヤモンドを成膜でき、X線回折とラマン分光で分
析したところダイヤモンドのみのピークを示した。
にダイヤモンドを成膜でき、X線回折とラマン分光で分
析したところダイヤモンドのみのピークを示した。
この成長速度は従来のCVDが1μm以下であるのに較
べ一桁以上優れている。
べ一桁以上優れている。
本発明によれば極めて高密度のラジカルを発生できるの
でダイヤモンドの薄膜を従来に較べて一桁以上の成長速
度で成膜することができ、これによりLSI搭載用基板
をはじめ各種の需要に応することができる。
でダイヤモンドの薄膜を従来に較べて一桁以上の成長速
度で成膜することができ、これによりLSI搭載用基板
をはじめ各種の需要に応することができる。
第1図はインダクションプラズマCVDの原理図、
第2図は本発明を実施するインダクションプラズマCV
Dの模式図、 である。 図において、 1は水冷管、 2は誘導コイル、3は高周波
電源、 4は噴出口、5は被処理基板、 7
は導入管、 8はプラズマ発生ガス供給管、 9は原料ガス供給管、 10はプラズマ噴流形成部、1
1はバイアス電源、 である。
Dの模式図、 である。 図において、 1は水冷管、 2は誘導コイル、3は高周波
電源、 4は噴出口、5は被処理基板、 7
は導入管、 8はプラズマ発生ガス供給管、 9は原料ガス供給管、 10はプラズマ噴流形成部、1
1はバイアス電源、 である。
Claims (1)
- プラズマ発生ガスを導入した水冷管を囲んで設けてあ
る誘導コイルに高周波電流を通じ、前記ガスを高温に加
熱してプラズマ噴流を作り、該プラズマ噴流中に炭化水
素ガスを導入してラジカル化し、該ラジカルを含むプラ
ズマ噴流を被処理基板に衝突せしめ、該被処理基板上に
ダイヤモンドの薄膜を形成することを特徴とするダイヤ
モンドの化学気相成長方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11772187A JPS63282200A (ja) | 1987-05-14 | 1987-05-14 | ダイヤモンドの化学気相成長方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11772187A JPS63282200A (ja) | 1987-05-14 | 1987-05-14 | ダイヤモンドの化学気相成長方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63282200A true JPS63282200A (ja) | 1988-11-18 |
Family
ID=14718647
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11772187A Pending JPS63282200A (ja) | 1987-05-14 | 1987-05-14 | ダイヤモンドの化学気相成長方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63282200A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5104634A (en) * | 1989-04-20 | 1992-04-14 | Hercules Incorporated | Process for forming diamond coating using a silent discharge plasma jet process |
US5164040A (en) * | 1989-08-21 | 1992-11-17 | Martin Marietta Energy Systems, Inc. | Method and apparatus for rapidly growing films on substrates using pulsed supersonic jets |
-
1987
- 1987-05-14 JP JP11772187A patent/JPS63282200A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5104634A (en) * | 1989-04-20 | 1992-04-14 | Hercules Incorporated | Process for forming diamond coating using a silent discharge plasma jet process |
US5164040A (en) * | 1989-08-21 | 1992-11-17 | Martin Marietta Energy Systems, Inc. | Method and apparatus for rapidly growing films on substrates using pulsed supersonic jets |
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