JPS63281237A - 情報の記録用媒体 - Google Patents
情報の記録用媒体Info
- Publication number
- JPS63281237A JPS63281237A JP62114616A JP11461687A JPS63281237A JP S63281237 A JPS63281237 A JP S63281237A JP 62114616 A JP62114616 A JP 62114616A JP 11461687 A JP11461687 A JP 11461687A JP S63281237 A JPS63281237 A JP S63281237A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- protective layer
- recording medium
- inorganic protective
- recording
- thickness
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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- Thermal Transfer Or Thermal Recording In General (AREA)
- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、光、電子線などのエネルギービーム照射によ
って情報の書き換えが可能な情報の記録用媒体に関する
ものであり、特に単一のレーザビームにより記録・消去
を行う書き換え可能な相変化型光ディスクに有効な情報
の記録用媒体に関するものである。
って情報の書き換えが可能な情報の記録用媒体に関する
ものであり、特に単一のレーザビームにより記録・消去
を行う書き換え可能な相変化型光ディスクに有効な情報
の記録用媒体に関するものである。
従来の相変化型光デイスク記録媒体における記録・消去
方法は、例えば特開昭59−71140号公報に示され
ている。この方法では、記録膜を結晶化させて既に記録
されていた情報を消去するには、トラック方向に長い長
円形光スポットを用いて比較的長時間結晶化可能な温度
に保つことによって行っていた。また、その後新しい情
報を記録するには、十分集光した円形光スポットのパワ
ーを、情報信号によって変調することによって行ってい
た。しかし、最近になって、本発明の発明者らは記録膜
に用いる材料を改良することにより、十分集光した円形
光スポットがディスク上の1点の上を通過する間に結晶
化することを可能にした。このため、円形光スポットで
ディスクの1回転でまず消去し、次の1回転でレーザパ
ワーを変調して照射することによって記録することが可
能となった。さらに、レーザパワーを結晶化パワーレベ
ルと非晶質化パワーレベルとの間で情報信号に従って変
調することにより、ディスクの1回転で情報の書き換え
を行うことも可能となった。
方法は、例えば特開昭59−71140号公報に示され
ている。この方法では、記録膜を結晶化させて既に記録
されていた情報を消去するには、トラック方向に長い長
円形光スポットを用いて比較的長時間結晶化可能な温度
に保つことによって行っていた。また、その後新しい情
報を記録するには、十分集光した円形光スポットのパワ
ーを、情報信号によって変調することによって行ってい
た。しかし、最近になって、本発明の発明者らは記録膜
に用いる材料を改良することにより、十分集光した円形
光スポットがディスク上の1点の上を通過する間に結晶
化することを可能にした。このため、円形光スポットで
ディスクの1回転でまず消去し、次の1回転でレーザパ
ワーを変調して照射することによって記録することが可
能となった。さらに、レーザパワーを結晶化パワーレベ
ルと非晶質化パワーレベルとの間で情報信号に従って変
調することにより、ディスクの1回転で情報の書き換え
を行うことも可能となった。
ところで、上述のような書き換え可能な光ディスクに於
ては、記録・消去時の記録膜の変形を防止するために保
N層が必要である。上記保護層としては無機物および有
機物が有るが、無機物保護層としては特公昭52−27
83号公報に開示されているように、5insなどが用
いられていた。
ては、記録・消去時の記録膜の変形を防止するために保
N層が必要である。上記保護層としては無機物および有
機物が有るが、無機物保護層としては特公昭52−27
83号公報に開示されているように、5insなどが用
いられていた。
しかしながら、上記の従来例では、無機保護層の熱伝導
率に関する配慮がなされていなかった。
率に関する配慮がなされていなかった。
熱伝導率が2J/m、s.k以下の無機保護層を用いる
と、ディスク上に照射したレーザ光により発生した熱が
蓄積する。そのため、ディスク中の案内溝を形成してい
る有機物層が変形し、ディスクノイズが増加したり、ト
ラッキングが不安定となる。
と、ディスク上に照射したレーザ光により発生した熱が
蓄積する。そのため、ディスク中の案内溝を形成してい
る有機物層が変形し、ディスクノイズが増加したり、ト
ラッキングが不安定となる。
また、情報の転送速度を大きくするためにディスクの回
転速度を上げた時、記録膜の原子配列変化(例えば結晶
化)速度を大きくする必要がある。
転速度を上げた時、記録膜の原子配列変化(例えば結晶
化)速度を大きくする必要がある。
この場合、上記のように熱の蓄積があると、レーザ光照
射によって結晶を融解しても、照射後の冷却速度が遅い
ので冷却量に再結晶化が起こってしまい、完全な非晶質
化を行うことができない。
射によって結晶を融解しても、照射後の冷却速度が遅い
ので冷却量に再結晶化が起こってしまい、完全な非晶質
化を行うことができない。
従って1本発明の目的は上記の従来技術の問題点を解決
し、ディスクノイズおよび情報書き換え時の信号の消え
残りが少なく、トラッキングが安定で、かつ、相変化速
度の大きな記録膜を用いても確実に可逆的な相変化を起
こさせることができる光ディスクを提供することにある
。
し、ディスクノイズおよび情報書き換え時の信号の消え
残りが少なく、トラッキングが安定で、かつ、相変化速
度の大きな記録膜を用いても確実に可逆的な相変化を起
こさせることができる光ディスクを提供することにある
。
c問題点を解決するための手段〕
上記の目的を達成するために1本発明の無機物保護層は
その熱伝導率が273Kに於いて、2.1/m、s.k
以上となるようにする。尚、記@膜の両面に保護層を設
ける場合、少なくともその一方の熱伝導率を上記範囲と
する。上記無機保護層はCab、MgO,BNなどの誘
電体でもよいし。
その熱伝導率が273Kに於いて、2.1/m、s.k
以上となるようにする。尚、記@膜の両面に保護層を設
ける場合、少なくともその一方の熱伝導率を上記範囲と
する。上記無機保護層はCab、MgO,BNなどの誘
電体でもよいし。
Sn、Ni、Pdなどの金属でもよくまた、Si。
Ge、Cなどの半導体でもよい。また、これらの無機保
護層は一層構造でもよいし、二層以上組み合わせた構造
でもよい、しかし、熱伝導率が大きくなり過ぎるとレー
ザ光によって与えられた熱の逃げが大きくなり過ぎて記
録感度が大きく劣化してしまう、従って、・上記無機保
護層の熱伝導率は273Kに於いて200 J /++
+、s.k以下であることが好ましい、273Kに於い
てこのように高い熱伝導率を持てば照射後の冷却中に常
に熱伝導率を保つ。また、記録時のディスクノイズ、情
報書き換え時の信号の消え残りおよび記録感度を考慮す
ると、上記無機保護層の熱伝導率は273Kに於いて、
10 J /m、s.k以上150 J /m、s.k
以下が好ましく、30 J /m、s.k以上100
J /m、s.k以下がより好ましい。
護層は一層構造でもよいし、二層以上組み合わせた構造
でもよい、しかし、熱伝導率が大きくなり過ぎるとレー
ザ光によって与えられた熱の逃げが大きくなり過ぎて記
録感度が大きく劣化してしまう、従って、・上記無機保
護層の熱伝導率は273Kに於いて200 J /++
+、s.k以下であることが好ましい、273Kに於い
てこのように高い熱伝導率を持てば照射後の冷却中に常
に熱伝導率を保つ。また、記録時のディスクノイズ、情
報書き換え時の信号の消え残りおよび記録感度を考慮す
ると、上記無機保護層の熱伝導率は273Kに於いて、
10 J /m、s.k以上150 J /m、s.k
以下が好ましく、30 J /m、s.k以上100
J /m、s.k以下がより好ましい。
また、上記無機保護層の熱拡散定数は2X10−2cd
/s以上が好ましく、6 X 10−”cd/ s以上
がより好ましく 2 X 10−”cxl/ s以上が
さらに好ましい。
/s以上が好ましく、6 X 10−”cd/ s以上
がより好ましく 2 X 10−”cxl/ s以上が
さらに好ましい。
本発明の記録媒体における記録膜の膜厚は1100人(
110nm)以上3000Å以下の時効果が大きく、1
300Å以上2500Å以下の時特に効果が大きい、光
入射側の保護層の膜厚は1100Å以上5000Å以下
の時効果が大きく、1300Å以上4000Å以下の時
特に好ましい0反対側の高熱伝導率保護層の厚さは任意
である(0も有り得る)が、300Å以上で、光入射側
保護層より100Å以上薄いのが好ましい、記録膜の膜
厚として上記の範囲が好ましいのは、膜のそれぞれの面
から反射する光の干渉によって再生信号強度が実用的な
大きさにできるからである。また、この膜厚範囲では記
録・消去時に記録膜内に発生する熱量が大きく、保護膜
に熱を逃がして冷却速度を上げることが特に必要である
。保護層の膜厚として上記の範囲が好ましいのは、膜厚
が薄過ぎると冷却速度向上の効果が不十分であり、厚過
ぎると記録感度が下がり過ぎるためである。記録膜、保
護層(光入射側と反対側)のうちの少なくとも一者が上
記の範囲内に有れば好ましいが、すべてが上記の範囲内
に有るのが特に好ましい。
110nm)以上3000Å以下の時効果が大きく、1
300Å以上2500Å以下の時特に効果が大きい、光
入射側の保護層の膜厚は1100Å以上5000Å以下
の時効果が大きく、1300Å以上4000Å以下の時
特に好ましい0反対側の高熱伝導率保護層の厚さは任意
である(0も有り得る)が、300Å以上で、光入射側
保護層より100Å以上薄いのが好ましい、記録膜の膜
厚として上記の範囲が好ましいのは、膜のそれぞれの面
から反射する光の干渉によって再生信号強度が実用的な
大きさにできるからである。また、この膜厚範囲では記
録・消去時に記録膜内に発生する熱量が大きく、保護膜
に熱を逃がして冷却速度を上げることが特に必要である
。保護層の膜厚として上記の範囲が好ましいのは、膜厚
が薄過ぎると冷却速度向上の効果が不十分であり、厚過
ぎると記録感度が下がり過ぎるためである。記録膜、保
護層(光入射側と反対側)のうちの少なくとも一者が上
記の範囲内に有れば好ましいが、すべてが上記の範囲内
に有るのが特に好ましい。
無機物保護層が金属あるいは半金属より成る時、記録膜
との界面に薄い酸化物、窒化物、硅化物。
との界面に薄い酸化物、窒化物、硅化物。
炭化物、セレン化物、硫化物、弗化物などの高融点化合
物層を設けて両者の相互拡散を防ぐあが好ましい。これ
らの層も本発明の保護層の熱伝導率範囲に含まれるもの
が好ましく、膜厚は30Å以上800Å以下が好ましい
。
物層を設けて両者の相互拡散を防ぐあが好ましい。これ
らの層も本発明の保護層の熱伝導率範囲に含まれるもの
が好ましく、膜厚は30Å以上800Å以下が好ましい
。
本発明を適用する記録媒体は結晶−非晶質間の相変化を
起こすものの他、他の原子配列変化を起こすものでもよ
い。たとえば一方の原子配列変化が急冷を要する結晶−
結晶間の原子配列変化あるいは非晶質−非晶質間の原子
配列変化にも有効である0本発明は原子配列の規則性の
変化を利用する記録媒体に特に有効である。
起こすものの他、他の原子配列変化を起こすものでもよ
い。たとえば一方の原子配列変化が急冷を要する結晶−
結晶間の原子配列変化あるいは非晶質−非晶質間の原子
配列変化にも有効である0本発明は原子配列の規則性の
変化を利用する記録媒体に特に有効である。
本発明はエネルギービームの種類によらず有効であり、
光、電子線、イオンビームなどが使用できる。ただし電
子線およびイオンビームの場合は、記録媒体の記録膜の
上に着ける保1iMは膜厚1μm以下が好ましく100
0Å以下がより好ましい。
光、電子線、イオンビームなどが使用できる。ただし電
子線およびイオンビームの場合は、記録媒体の記録膜の
上に着ける保1iMは膜厚1μm以下が好ましく100
0Å以下がより好ましい。
なお、本発明の記録媒体における保護層は、主成分が上
記の無機物であって、有機物を含有するものであっても
よい。
記の無機物であって、有機物を含有するものであっても
よい。
本発明の記録媒体における無機保護層に用いるWs誘電
体うち、273Kに於ける熱伝導率が2J/@、s.k
以上という点で、BN、ZnS、TiOzwCab、A
ltos、AQNe MgO,YzOa+NbzOII
、5iaN4.TiN、SiCr WCtM o C*
T i C、Z r C、W S i 、 M o
S i 。
体うち、273Kに於ける熱伝導率が2J/@、s.k
以上という点で、BN、ZnS、TiOzwCab、A
ltos、AQNe MgO,YzOa+NbzOII
、5iaN4.TiN、SiCr WCtM o C*
T i C、Z r C、W S i 、 M o
S i 。
Cen2.BzOg、TaN、ZnO*MgFzのうち
の少なくとも一者を主成分とするものが使用可能である
。上記誘電体無機保護層のうち、好ましいのは、SiC
,TiC,ZrC,MoSi。
の少なくとも一者を主成分とするものが使用可能である
。上記誘電体無機保護層のうち、好ましいのは、SiC
,TiC,ZrC,MoSi。
WC,WS i、MgF2のうちの少なくとも一者を主
成分とするものであり、特に好ましいものは。
成分とするものであり、特に好ましいものは。
BN、TiN、TaN、Cab、MgO,MoCのうち
の少なくとも一者を主成分とするものである。誘電体の
他、金属、半金属、半導体も使用可能である。これらの
例は、In、Pb、Sn。
の少なくとも一者を主成分とするものである。誘電体の
他、金属、半金属、半導体も使用可能である。これらの
例は、In、Pb、Sn。
P t T N ig CrT P d v Rh g
I r y W y A Q vAg、Sc、T、i
、V、Mn、Fe、Go、Cu。
I r y W y A Q vAg、Sc、T、i
、V、Mn、Fe、Go、Cu。
Zn、Y、Zr、Nb、Mo、Ru、Ta、Au。
Cd、Bi、C,Si、Geおよびsbのうちの少なく
とも一者を主成分とするものである。これらのうちで融
点が500℃以上のものが好ましい。
とも一者を主成分とするものである。これらのうちで融
点が500℃以上のものが好ましい。
また、安定性が高いものが好ましい、好ましいものは、
Pt、Ni、Cr、Pd、Rh、I r、W。
Pt、Ni、Cr、Pd、Rh、I r、W。
Ag、Tjt V+ Co、Nb、Mo、Ru、Ta。
Au、Si、Ge、およびsbのうちの少なくとも一元
素を主成分とするものである。
素を主成分とするものである。
本発明の情報記録媒体に用いる無機保護層は、273K
に於ける熱伝導率が2 J /m、s.k以上と大きい
ので、レーザ照射による記録媒体の熱の蓄積を抑制し、
情報の記録、lFき換え時のディスクノイズ及び信号の
消え残りが低減する。また、相変化速度の大きな記録膜
を用いても確実に可逆的な相変化を起こさせるように作
用する。
に於ける熱伝導率が2 J /m、s.k以上と大きい
ので、レーザ照射による記録媒体の熱の蓄積を抑制し、
情報の記録、lFき換え時のディスクノイズ及び信号の
消え残りが低減する。また、相変化速度の大きな記録膜
を用いても確実に可逆的な相変化を起こさせるように作
用する。
以下に1本発明を実施例によって詳細に説明する。
第1111に断面を示す如く、直径13個、厚さ1.1
−のディスク状化学強化ガラス板1の表面に紫外線硬化
樹脂2によってトラッキング用の溝を有するレプリカを
形成した。この基板上にスパッタリング法によって、厚
さ2000人のBN保護層3を形成した。この無機保護
層としてはBHの他に、MgO* Cab、5iaNa
など他の物質の検討も行った0次に、真空蒸着法により
、In。
−のディスク状化学強化ガラス板1の表面に紫外線硬化
樹脂2によってトラッキング用の溝を有するレプリカを
形成した。この基板上にスパッタリング法によって、厚
さ2000人のBN保護層3を形成した。この無機保護
層としてはBHの他に、MgO* Cab、5iaNa
など他の物質の検討も行った0次に、真空蒸着法により
、In。
Be、TQをそれぞれ独立に蒸発させ、Ina。
S eaoT Q toの組成の記録膜4を1000人
の厚さで形成した。続いて、再びスパッタリング法によ
ってBN保護層5を厚さ1500人で形成した。
の厚さで形成した。続いて、再びスパッタリング法によ
ってBN保護層5を厚さ1500人で形成した。
この無機保護層としてもBNの他に1M g O*Ca
O及びSn* Nx、Pdなど他の物質の検討を行った
。
O及びSn* Nx、Pdなど他の物質の検討を行った
。
上記のようにして作製したディスクには、ディスクを回
転させ、光ヘッドをディスクの半径方向に動かしながら
、ディスク基板越しに開口比0.5のレンズで集光した
半導体レーザ光(波長830nm)を溝と溝の間の記録
トラック上に照射して−たん膜を融解させ、記録膜4の
初期化を行った。
転させ、光ヘッドをディスクの半径方向に動かしながら
、ディスク基板越しに開口比0.5のレンズで集光した
半導体レーザ光(波長830nm)を溝と溝の間の記録
トラック上に照射して−たん膜を融解させ、記録膜4の
初期化を行った。
このディスクを1200rpmで回転させ、半導体レー
ザ光(波長830nm)を用いて、第2図に示した波形
でパワーを変化させ記録を行った。
ザ光(波長830nm)を用いて、第2図に示した波形
でパワーを変化させ記録を行った。
この波形は単一の光ビームの重ね書きによって書き換え
るオーバーライドが可能な波形である。この時の最小記
録レーザパワー(記録感度)や再生信号の波形歪み等を
測定した。
るオーバーライドが可能な波形である。この時の最小記
録レーザパワー(記録感度)や再生信号の波形歪み等を
測定した。
無機保護層3を5ins(273Kに於ける熱伝導率t
y xrsh = 1 、4 J /m、s、k)とし
て、無機保護M5の材料を種々検討した結果を第3図に
、無機保護層5を5iOzとして、無機保護層3の材料
を種々検討した結果を第4図に、無機保護層3及び5の
材料を同一として種々検討した結果を第5図に示す。こ
の無機保護層の材料に関しては、a 57ak> 2
J /m、s.kであるBNの他に、(12,78k<
2J/m、s.kの誘電体としては、S :l Oz
+ SiOtZrOz、Ge0zに近い組成のもの(1
2711に、≧−2J/m、s.kの誘電体としては、
Z n S 、 T x 0ssCab、AIAxOs
、AQN、Mg○e YzOs+NbzOs、 5i
sNi+ TiN、 SiC,WC。
y xrsh = 1 、4 J /m、s、k)とし
て、無機保護M5の材料を種々検討した結果を第3図に
、無機保護層5を5iOzとして、無機保護層3の材料
を種々検討した結果を第4図に、無機保護層3及び5の
材料を同一として種々検討した結果を第5図に示す。こ
の無機保護層の材料に関しては、a 57ak> 2
J /m、s.kであるBNの他に、(12,78k<
2J/m、s.kの誘電体としては、S :l Oz
+ SiOtZrOz、Ge0zに近い組成のもの(1
2711に、≧−2J/m、s.kの誘電体としては、
Z n S 、 T x 0ssCab、AIAxOs
、AQN、Mg○e YzOs+NbzOs、 5i
sNi+ TiN、 SiC,WC。
MoC,TiC,ZrC,WSi、MoSi。
Ce0z、BzOa、TaN、ZnO,MgFzに近い
組成のもの、金属としては、In、Pb、Sn。
組成のもの、金属としては、In、Pb、Sn。
Pt、Ni、Cr、Pd、Rh、I r、W、AQ。
Ag、Sc、Ti、V、Mn、Fe、Co、Cu。
Zn、Y、Zr、Nb、Mo、Ru、Ta、Au。
Cdを主成分とするもの、半導体、半金属としては、B
i、C,Si、Ge、Sbを主成分とするものを検討し
た。
i、C,Si、Ge、Sbを主成分とするものを検討し
た。
以上、第3図〜第5図に示すように、σ!78hが増加
するほど消え残りが減少するが、記録感度は劣化する。
するほど消え残りが減少するが、記録感度は劣化する。
特にtt xrsk> 200 (J /m、s、k
)では最小記録レーザパワーが25mW以上となり、実
用上問題がある。また、無機保護M3、無機保護層5を
共に高熱伝導率の材料とすると効果がより大きくなる。
)では最小記録レーザパワーが25mW以上となり、実
用上問題がある。また、無機保護M3、無機保護層5を
共に高熱伝導率の材料とすると効果がより大きくなる。
次に、上記のディスクを120Orpmで回転させ、デ
ユーティ50%* 1−77MHz の矩形信号を記
録した場合、照射後の冷却速度が遅いために非晶質化が
不十分で再生信号が記録信号から歪んでいる場合は再生
信号のスペクトルは高調波成分が大きくなる。一方、再
生信号が歪んでいない場合は1 、77 M Hz
での成分より15dB以上低下する。無機保護層3.5
のうち一方を5iftとし、他方の材料を種々検討した
ところ、σ27Rk<2 (J/+*、s、k)では低
下分は5dB以下、2(J /m−s、k) < cr
xtsh< 10 (J /m、g、k)では低下分
は5〜1OdB、10 (J/+*、s、k)<σzt
sk< 30 (J /+s、s、k)では低下分は1
0〜15dB、6 Z7Bk、≧−30(J/m、f4
.k)では低下分は15dB以上であった。また、無機
保護層3゜5の材料を同一として種々検討した結果、σ
278k< 2 (J / +m、s、k)では低下分
は5dB以下、2(J /m、s、k) < a tt
sk< 10 (J /m、s、k)では低下分は5〜
15dB、a z7sh> 10 (J /m、s、k
)では15dB以上であった。なお、無機物保護層が金
属または半金属の場合は、記録膜との間に厚さ約50人
のBNMを設けて相互拡散を防いだ。
ユーティ50%* 1−77MHz の矩形信号を記
録した場合、照射後の冷却速度が遅いために非晶質化が
不十分で再生信号が記録信号から歪んでいる場合は再生
信号のスペクトルは高調波成分が大きくなる。一方、再
生信号が歪んでいない場合は1 、77 M Hz
での成分より15dB以上低下する。無機保護層3.5
のうち一方を5iftとし、他方の材料を種々検討した
ところ、σ27Rk<2 (J/+*、s、k)では低
下分は5dB以下、2(J /m−s、k) < cr
xtsh< 10 (J /m、g、k)では低下分
は5〜1OdB、10 (J/+*、s、k)<σzt
sk< 30 (J /+s、s、k)では低下分は1
0〜15dB、6 Z7Bk、≧−30(J/m、f4
.k)では低下分は15dB以上であった。また、無機
保護層3゜5の材料を同一として種々検討した結果、σ
278k< 2 (J / +m、s、k)では低下分
は5dB以下、2(J /m、s、k) < a tt
sk< 10 (J /m、s、k)では低下分は5〜
15dB、a z7sh> 10 (J /m、s、k
)では15dB以上であった。なお、無機物保護層が金
属または半金属の場合は、記録膜との間に厚さ約50人
のBNMを設けて相互拡散を防いだ。
この層の膜厚は30Å以上800Å以下で相互拡散防止
効果が有り、かつ金属の熱伝導を有効に利用できた。
効果が有り、かつ金属の熱伝導を有効に利用できた。
記録膜の膜厚を変化させた時、エラーレートは次のよう
に変化した。
に変化した。
1000人:1.0X10−82000人:0.8X1
0−81100人:2.0X10″″8 2500人:
1.OX 10−”1200人:1.5X10−’
3000人:2.0X10−81300人:i、ox
to−a 3500人:1.0X10−’光入射側保
護膜の膜厚を変化させた時 第2高調波の基準波に対する電力比及び記録レーザパワ
ーは次のように変化した。
0−81100人:2.0X10″″8 2500人:
1.OX 10−”1200人:1.5X10−’
3000人:2.0X10−81300人:i、ox
to−a 3500人:1.0X10−’光入射側保
護膜の膜厚を変化させた時 第2高調波の基準波に対する電力比及び記録レーザパワ
ーは次のように変化した。
1000人ニー10dB、10mW 3000人ニー
20dB、15mVv’1100人ニー15dB、10
n+W 4000人ニー20dB、20mW1300
人ニー18dB、10mW 5000人: 20d
B、25mW1500人ニー19dB、12mW 6
000人ニー20dB、35+nW光入射側保護膜の膜
厚に対する反対側保rlI!膜の膜厚の大小を変化させ
た時。(反対側の方が薄い時−) 第2高調波との電力比 板対側薄膜厚:0(代’J4ニーS 1o21500人
) −10dB反対側膜厚を300人として、 消え残り(d B) 反対側の方がニー200人
10ニー100人 13同膜
厚 17
反対側の方が:+100人
20連続レーザ光で−たんトラック全体を結晶化させて
消去した後、読み出しパワーレベルと非晶質化パワーレ
ベルとの間でパワー変調されたレーザ光で記録する場合
も、同様に保m層の熱伝導率が高いことが要求される。
20dB、15mVv’1100人ニー15dB、10
n+W 4000人ニー20dB、20mW1300
人ニー18dB、10mW 5000人: 20d
B、25mW1500人ニー19dB、12mW 6
000人ニー20dB、35+nW光入射側保護膜の膜
厚に対する反対側保rlI!膜の膜厚の大小を変化させ
た時。(反対側の方が薄い時−) 第2高調波との電力比 板対側薄膜厚:0(代’J4ニーS 1o21500人
) −10dB反対側膜厚を300人として、 消え残り(d B) 反対側の方がニー200人
10ニー100人 13同膜
厚 17
反対側の方が:+100人
20連続レーザ光で−たんトラック全体を結晶化させて
消去した後、読み出しパワーレベルと非晶質化パワーレ
ベルとの間でパワー変調されたレーザ光で記録する場合
も、同様に保m層の熱伝導率が高いことが要求される。
しかし、この場合はパルスとパルスの間では常に読み出
しパワーレベルまでパワーを下げるのでもともと冷却速
度は大きい。
しパワーレベルまでパワーを下げるのでもともと冷却速
度は大きい。
従って効果は単一ビームオーバーライトの場合はど顕著
ではない。
ではない。
本実施例に於いて検討した誘電体の無機保護膜のうち、
記録膜との接着性が良いという点で。
記録膜との接着性が良いという点で。
SiC,Tie、ZrC,MoSi、WC,WSi。
M g F z 、 B N 、 T i N 、 T
a N 、 Ca O、M g O。
a N 、 Ca O、M g O。
M o Cが好ましい。また、上記保護膜のうち、形成
し易いという点から、B N 、 T i N 、 T
a N 。
し易いという点から、B N 、 T i N 、 T
a N 。
Ca O+ M g O* M o Cが特に好ましい
。金属。
。金属。
半金属、半導体のうちでは安定性(特に耐酸化性)の点
でPt、Ni、Cr、Pd、Rh、I rt W。
でPt、Ni、Cr、Pd、Rh、I rt W。
Ag、Ti、V、Co、Nb、Mo、Ru、TatAu
、Si、Ge、およびsbのうちの少なくとも一元素を
主成分とするものが好ましかった。また、光入射側の無
機保護層としてBおよびSiのうちの少なくとも一者と
Nを主成分とするもの、反対側の無機物層として酸化物
、特にZrやSiの酸化物を用いるのも膜厚方向の温度
分布の均一化のために好ましい。
、Si、Ge、およびsbのうちの少なくとも一元素を
主成分とするものが好ましかった。また、光入射側の無
機保護層としてBおよびSiのうちの少なくとも一者と
Nを主成分とするもの、反対側の無機物層として酸化物
、特にZrやSiの酸化物を用いるのも膜厚方向の温度
分布の均一化のために好ましい。
また、本実施例に於いて、レーザ光の照射部の温度は5
00”C以上になる。従って、無機保護層の融点は50
0℃以上であることが好ましい。
00”C以上になる。従って、無機保護層の融点は50
0℃以上であることが好ましい。
本発明によれば、高速原子配列変化が可能な記録膜を用
いても逆方向の原子配列変化が可能であるから、情報の
転送速度を大きくすることができ、しかも単一のレーザ
ビームによるオーバーライドも可能であるから、大量の
情報の記録および読み出しに極めて有利である。また、
ディスクノイズおよび情報書き換え時の信号の消え残り
が少なく、トラッキングが安定であるという効果がある
。
いても逆方向の原子配列変化が可能であるから、情報の
転送速度を大きくすることができ、しかも単一のレーザ
ビームによるオーバーライドも可能であるから、大量の
情報の記録および読み出しに極めて有利である。また、
ディスクノイズおよび情報書き換え時の信号の消え残り
が少なく、トラッキングが安定であるという効果がある
。
また5本発明によれば、情報の記録・消去時にディスク
レプリカ中の案内溝を形成している有機物層に何らの障
害を及ぼすことがないので、記録・消去時のディスクノ
イズや信号の消え残りを低減することができる。
レプリカ中の案内溝を形成している有機物層に何らの障
害を及ぼすことがないので、記録・消去時のディスクノ
イズや信号の消え残りを低減することができる。
第1図は本発明の一実施例における光ディスクの構造を
示す断面図である。第2図は単一ビームオーバーライト
に用いたレーザ光の波形を示す図である。第3図、第4
図及び第5図は273Kに於ける熱伝導率(σ57ab
)と消え残り及び最小記録レーザパワーとの関係を示す
図である。 1・・・ディスク状化学強化ガラス円板、2・・・紫外
線硬化樹脂層、3,5・・・無機保護層、4・・・記録
膜、■・・・再生パワーレベル、■・・・結晶化パワー
レベル。 ■・・・非晶質化パワーレベル。 1
.−第1図
示す断面図である。第2図は単一ビームオーバーライト
に用いたレーザ光の波形を示す図である。第3図、第4
図及び第5図は273Kに於ける熱伝導率(σ57ab
)と消え残り及び最小記録レーザパワーとの関係を示す
図である。 1・・・ディスク状化学強化ガラス円板、2・・・紫外
線硬化樹脂層、3,5・・・無機保護層、4・・・記録
膜、■・・・再生パワーレベル、■・・・結晶化パワー
レベル。 ■・・・非晶質化パワーレベル。 1
.−第1図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、エネルギービームの照射により原子配列が2つの異
なる状態間で変化する現象を利用した情報の記録用媒体
において、記録膜およびその記録膜の少なくとも片側に
無機保護層を有し、その無機保護膜の少なくとも一方の
273Kに於ける熱伝導率が2J/m.s.k以上であ
ることを特徴とする情報の記録用媒体。(ただしKは絶
対温度を示す) 2、前記熱伝導率が2J/m.s.k以上200J/m
.s.k以下であることを特徴とする特許請求の範囲第
1項記載の情報の記録用媒体。 3、前記無機保護層の厚さが300Å以上であることを
特徴とする特許請求の範囲第1項又は第2項記載の記録
用媒体。 4、前記無機保護層が記録膜の両側に形成されており、
エネルギービーム入射側に形成されている無機保護層の
厚さが、入射側と反対側に形成されている無機保護層の
厚さに比べて100Å以上厚いことを特徴とする特許請
求の範囲第1項、第2項又は第3項記載の情報の記録用
媒体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62114616A JP2511964B2 (ja) | 1987-05-13 | 1987-05-13 | 情報の記録用媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62114616A JP2511964B2 (ja) | 1987-05-13 | 1987-05-13 | 情報の記録用媒体 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63281237A true JPS63281237A (ja) | 1988-11-17 |
| JP2511964B2 JP2511964B2 (ja) | 1996-07-03 |
Family
ID=14642312
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62114616A Expired - Fee Related JP2511964B2 (ja) | 1987-05-13 | 1987-05-13 | 情報の記録用媒体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2511964B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6555196B2 (en) | 1995-03-08 | 2003-04-29 | Ricoh Company, Ltd. | Optical data recording medium and material for heat-resistant protection layer for the same |
-
1987
- 1987-05-13 JP JP62114616A patent/JP2511964B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6555196B2 (en) | 1995-03-08 | 2003-04-29 | Ricoh Company, Ltd. | Optical data recording medium and material for heat-resistant protection layer for the same |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2511964B2 (ja) | 1996-07-03 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |