JPS63281231A - 光ピックアップ装置の位置検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （イ）産業上の利用分野 この発明は、光学式情報記録再生装置に使用される光ピ
ックアップ装置の位置検出装置に関する。

（ロ）従来の技術 従来、光デイスクプレイヤのような光学式情報記録再生
装置においては、ディスク上の検索したい情報の位置に
光ピックアップをアクセスさせる場合に、ディスクに情
報信号と共に記録されているアドレスデータやトラック
ナンバ等の位置情報信号を光ピックアップで読取りなが
ら光ピックアツブ自身を移動させるようにしている。

しかしこのような場合には、位置情報を読みながら光ピ
ックアップを移動させるために、ディスク上の検索した
い情報の位置へ光ピックアップをアクセスするのに時間
がかかるという欠点がある。

そこでリニアスケールを用いて、光ピックアップのおお
まかな位置決めをした後、ディスク上の位置情報記録を
読み取って正確な位置検出を行うようにしたものが見ら
れる（例えば実開昭６０−１４６９６７号公報参照）。

（ハ）発明が解決しようとする問題点 しかしながら、リニアスケールを用いて位置検出を行な
った場合、その検出値のオーダが数十ミクロンと大きい
ため、光ピックアップをディスク上の検索したい情報位
置付近に移動させた債に、光ピックアップでディスク上
の位置情報信号を読み取りながらさらに詳細な検索を行
なう必要がある。

従ってリニアスケールを用いても、その位置検出の分解
能が低いため、精密な検索に結局時間を要するという問
題点がある。

さらにこのようなリニアスケールは一般に複数の光透過
部もしくは、光反射部を有する光学スケールと、その光
透過部又は光反射部を検出するための光検出部とから構
成されるが、その光学スケールと光検出部との間に、厳
しい位置精度が要求され、その位置関係の調整に手間を
要し装置の量産性を損うものである。

ここで、リニアスケールを用いた場合に位置精度が要求
される理由を第３図を用いて説明する。

同図（ａ）はリニアスケールの拡大図、同図＋ｂ＋はこ
のリニアスケールを読取る光学系の説明図である。

リニアスケール１では、透明ガラス板上に透明部１ａが
間隔ｄを有して設けられており、光検出部２ａの光源３
から放射される光束が集光レンズ４によってリニアスケ
ール１の上に集光され焦点スポット５が形成される。光
受光部２ｂはリニアスケール１を挾んで光放出部２ａと
対向する位置に設けられ、その内部にはリニアスケール
を透過する光を集光するレンズ７とその集光レンズ７か
らの光を検出する光検出器とが設けられている。光放出
部２ａ及び光検出部２ｂは光ピックアップに一体に取り
付けられ、光ピックアップの移動に伴なって矢印８ａの
方向に移動する。この時光検出器の検出する光の変化回
数を計数することによって、光ピックアップの位置を検
出するようになっている。従って、光放出部２ａ及び光
受光部２ｂとリニアスケール１との位置関係は、光ピッ
クアップがどのように移動しても焦点スポット５がリニ
アスケール１上に形成されている必要があるので、リニ
アスケール１と光放出部２ａと光受光部２ｂとが互いに
距離や角度を正確に設定される必要がある。

（ニ）問題点を解決するための手段 この発明は、螺旋状又は同心状の記録トラックが形成さ
れたディスク上を、レーザ光源から放射されるビームが
ビームスプリッタ−を透過して照射し、ディスクからの
反射光が更にそのビームスプリッタに反射されてビーム
検知器に入射するとき、そのビーム検知器の出力によっ
てディスク上の情報を検出するようにした光ピックアッ
プ装置の位置検出装置において、 （ａ）光ピックアップ装置をディスクの半径方向に移動
させる第１移動手段、 ｔｔｏ光ピックアップ装置と第１移動手段とを一体にデ
ィスクの半径方向に移動させる第２移動手段、（ｃ１光
ピックアップ装置の移動方向に平行に配置され、レーザ
光源から放射させるビームがディスクに向ってビームス
プリッタを透過する時に生ずる反射光を受光し、その受
光位置に対応して出力する半導体装置検出素子、 （中前記検出素子の出力と基準位置信号とを比較し、そ
れらが一致するように第２移動手段を駆動させる第１比
較手段、 （ｅ）前記基準位置信号と前記ビーム検知器が読み取っ
た位置信号とを比較し、それらが一致するように第１移
動手段を駆動させる第２比較手段から構成されてなる光
ピックアップ装置の位置検出装置である。

（ホ）作　用 レーザ光源から放射されたビームは、ビームスプリッタ
に反射されて半導体装置検出素子に入射すると、半導体
装置検出素子はそのビームの入射位置に対応する信号を
出力する。その出力と基準位置信号とが第１比較手段に
よって比較され第２移動手段が駆動してそれらが一致す
ると、第２移動手段は停止する。半導体装置検出素子の
検出能力は数ミクロンの性能であるので第２移動手段の
動作によって光ピックアップはデ、イスク上の希望する
トラックまでぼぼアクセスすることが可能である。その
時点でトラックが希望するトラックでない場合には、基
準位置信号とビーム検知器が読み取った信号とが第２比
較手段によって比較されそれらが一致するように移動手
段が駆動する。

このようにして、光ピックアップは希望するトラックに
アクセスさせられるが、半導体装置検出素子の位置検出
分解能が高いため、第２移動手段によってほとんど完全
に希望するトラックまで光ピックアップ手段が移動され
るので、第１移動手段の微調整時間を含めても全体の移
動時間が短縮される。

また半導体装置検出素子に照射されるビームは光ピック
アップ装置からディスクへ照射されるビーム源と同一で
あると共に、半導体装置検出素子の分解能は、その受光
面におけるビームスポットの大きさにあまり敏感ではな
く、さらにそのビーム強度が変化しても位置検出能力は
ほとんど影響を受けないため半導体装置検出素子と光ピ
ックアップの位置関係はリニアスケールを用いる場合は
どの高精度が要求されない。

（へ）実施例 以下、図面に示す実施例に基づいて、この発明を詳述す
る。なお、この発明はこれに限定されるものではない。

第１図はこの発明の一実施例の要部を示す斜視図である
。同図においてディスク９には情報信号と共にアドレス
データ及びトラックナンバの等の位置信号が記録されて
おり、ディスク９は矢印８ｂの方向に回転する。光ピッ
クアップ１０において半導体レーザ光源１１を出射した
レーザ光１２は、ビームスプリッタ１３において、透過
光１２ａと反射光１２ｂに分離される。このうち、透過
光１２ａはｈリメートレンズ１４で平行にされた後、対
物レンズ１５に入射し、ディスク９で入射光１２ａが反
射され、再び対物レンズ１５及びコリメートレンズ１４
を介してビームスプリッタ１３に入射する。この時反射
された光１２Ｇが、シリンドリカルレンズ１６及びスポ
ットレンズ１７によってホトディテクタ１８の受光面に
集光される。ディスク９上に記録された情報信号により
光１２Ｃの強度が変化することを利用して、ホトディテ
クタ１８はその情報信号を検出する。なお、ビームスプ
リッタ１３により分離されるレーザ光１２のうち反射光
１２１）は集光レンズ１９によって光ピックアップ１０
とは別に固定された半導体装置検出素子２０の受光面２
１上に集光される。

第２図はこの発明の一実施例の構成を示すブロック図で
あり、光ピックアップ１０を内蔵するヘッド１０ａはデ
ィスク９に対して矢印８０の方向に移動するようモータ
３２が設けられている。ヘッド１０ａが移動すると、半
導体装置検出素子（以下ＰＳＤと呼ぶ）２０の受光面に
２１に集光する光のスポット位置が変化し、ＰＳＤ２０
はその位置スポット位置に対応する光電流Ｉｔ　１２を
発生するので、それらが位置信号発生回路２２に入力さ
れ電流増幅部２３．２４で増幅された後、差電流形成部
２５と和電流形成部２６においてそれぞれｌｌ−１２と
１．＋ｌ、とが算出されると共に、アナログ割算器２７
においてそれらの比が取られ、位置信号電圧ｖｎに変換
され、信号電圧比較回路２８に入力される。そこで目標
位置信号ＴｏがＤ／Ａ変換器２９に入力されると、それ
に対応する目標位置信号電圧（アナログ電圧）ｖｇが出
力されて信号電圧比較回路２８に入力される。

信号電圧比較回路２８では入力された位置信号電圧Ｖｎ
と目標位置信号電圧Ｖｏとが比較されシステムコントロ
ーラ３０に入力される。ここで絶対値ｌ　Ｖｎ　−ＶＱ
　Ｉ　＞Ｏであればシステムコントローラ３０がモータ
ドライバ３１を作動させてヘツド１０ａをｌ　Ｖｎ　−
ＶＱ　＋　−０になるまで移動させる。ｌ　Ｖｎ　−Ｖ
ａ　ｌ　−０になるとシステムコントローラ３０はモー
タドライバ３１をＯＦＦにする。次に、光ピックアップ
１０はディスク９から位置信号Ｔｎを読み取り位置信号
比較回路３３に入力する。位置信号比較回路３３は目標
位置信号Ｔｇと位置信号７ｎとを比較して、その結果を
アクチェータ駆動回路３４に入力する。光ピックアップ
１０をヘッド１０ａの内部で矢印８０の方向に微Ｗ４竺
するアクチェータ（図示しない）がアクチェータ駆動回
路３４の出力によって微調整され、光ピックアップ１０
がディスク９の希望するトラックにアクセスされる。ま
た、光ピックアップ１０を微調整するアクチェータの構
造については、一般的によく知られているので、その詳
細な説明は省略した。

なお、この実施例における半導体装置検出素子（ＰＳＤ
）には、浜松フォトニクス（株）製の８１３５２型を使
用している。

このようにして光ピックアップのアクセス動作が行われ
るがＰＳＤの光検出位置精度が高いため、その移動時間
は従来に比べて充分に短縮される。

（ト）発明の効果 この発明によれば、半導体装置検出素子の光ピックアッ
プの移動方向に平行に設置して、その移動位置を検出す
ることにより、光ピックアップのアクセス時間が短縮さ
れると共に、半導体装置検出素子の高い位置精度が要求
されないので、装置の生産性が向上する。ざらに、半導
体装置検出素子に照射するビームに今まで不要光として
切り捨てられたビームスプリッタからの反射光が利用で
きるので構成が簡単になる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例の要部を示す斜視図、第２
図はこの発明の一実施例の構成を示すブロック図、第３
図（Ｊ及び第３図＋ｂ＞はそれぞれ従来例を示す説明図
である。 ９・・・・・・ディスク、１０・・・・・・光ピックア
ップ、１１・・・・・・半導体レーザ光源、 １３・・・・・・ビームスプリッタ、 １４・・・・・・コリメートレンズ、 １５・・・・・・対物レンズ、 １６・・・・・・シリンドリトルレンズ、１７・・・・
・・スポットレンズ、 １８・・・・・・ホトディテクタ、 １９・・・・・・集光レンズ、 ２０・・・・・・半導体装置検出素子、２１・・・・・
・受光面、 ２２・・・・・・位置信号発生回路、 ２３．２４・・・・・・電流増幅部、 ２５・・・・・・差ｌ！流影形成部 ２６・・・・・・和電流形成部、 ２７・・・・・・アナログ割算器、 ２８・・・・・・信号電圧比較回路、 ２９・・・・・・Ｄ斜線Ａ変換器、 ３０・・・・・・システムコントローラ、３１・・・・
・・モータドライバ、 ３２・・・・・・モータ、 ３３・・・・・・位置信号比較回路、 ３４・・・・・・アクチェーエータ駆動回路。 第１図 第３図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、螺旋状又は同心状の記録トラックが形成されたディ
   スク上を、レーザ光源から放射されるビームがビームス
   プリッタを透過して照射し、ディクスからの反射光が更
   にそのビームスプリッタに反射されてビーム検知器に入
   射するとき、そのビーム検知器の出力によってディスク
   上の情報を検出するようにした光ピックアップ装置の位
   置検出装置において、（ａ）光ピックアップ装置をディ
   スクの半径方向に移動させる第１移動手段、 （ｂ）光ピックアップ装置と第１移動手段とを一体にデ
   ィスクの半径方向に移動させる第２移動手段、 （ｃ）光ピックアップ装置の移動方向に平行に配置され
   、レーザー光源から放射させるビームがディスクに向っ
   てビームスプリッタを透過する時に生ずる反射光を受光
   し、その受光位置に対応して出力する半導体装置検出素
   子、 （ｄ）前記検出素子の出力と基準位置信号とを比較し、
   それらが一致するように第２移動手段を駆動させる第１
   比較手段、 （ｅ）前記基準位置信号と前記ビーム検知器が読み取つ
   た位置信号とを比較し、それらが一致するように第１移
   動手段を駆動させる第２比較手段から構成されてなる光
   ピックアップ装置の位置検出装置。