JPS63275057A - 光磁気情報検出装置 - Google Patents
光磁気情報検出装置Info
- Publication number
- JPS63275057A JPS63275057A JP10841887A JP10841887A JPS63275057A JP S63275057 A JPS63275057 A JP S63275057A JP 10841887 A JP10841887 A JP 10841887A JP 10841887 A JP10841887 A JP 10841887A JP S63275057 A JPS63275057 A JP S63275057A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- polarizing plate
- plate frame
- optical axis
- magneto
- optical
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
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- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 10
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 8
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、透過光によって光磁気情報の検出を行なう透
過型光磁気ディスク装置に関する。
過型光磁気ディスク装置に関する。
磁場内に透明な物質を置き、磁場の方向に平行に進む直
線偏光を通過させると直線偏光の偏光面が回転する。こ
の磁気光学効果に７１ラデー効果を呼ぶ、ファラデー効
果による偏光面の回転方向は磁界の方向だけに関係しで
いる。その回転角θは、透過物質の厚さをＬ１磁場の強
さを！■とする。
線偏光を通過させると直線偏光の偏光面が回転する。こ
の磁気光学効果に７１ラデー効果を呼ぶ、ファラデー効
果による偏光面の回転方向は磁界の方向だけに関係しで
いる。その回転角θは、透過物質の厚さをＬ１磁場の強
さを！■とする。
θ＝ＶＨＬ
と、あられされる、ここでＶはベルデ定数と呼ばれ、物
質の種類、光の波長、温度に依存する。
質の種類、光の波長、温度に依存する。
光磁気情報の読み出しは記録媒体の磁化方向を検出する
ことであるが、ファラデー効果を使った方式は記録媒体
を通過した光を調べる、即ち透過型である。透過光の偏
光面を調べるための検光子として、透過光を受光するセ
ンサの前面に偏光板を設置している。従来、この偏光板
は七／すの受光面に直接貼り行けていた。
ことであるが、ファラデー効果を使った方式は記録媒体
を通過した光を調べる、即ち透過型である。透過光の偏
光面を調べるための検光子として、透過光を受光するセ
ンサの前面に偏光板を設置している。従来、この偏光板
は七／すの受光面に直接貼り行けていた。
しかし前述の従来技術では、偏光板の接む位置が正確に
定まらず、さらにそれに伴って接着時の位置ずれがその
まま調整不可能として残ってしまうという問題点を有す
る。
定まらず、さらにそれに伴って接着時の位置ずれがその
まま調整不可能として残ってしまうという問題点を有す
る。
そこで本発明はそのような問題点を解決するためのもの
で、その目的とするところは、検光子としての偏光板を
正確な位置に容易にｌ１ｉｔ７することができ、さらに
実際に出力信号を見ながらの微調整を容易に行うことが
できる光磁気情報検出装置を提Ｃ１することにある。
で、その目的とするところは、検光子としての偏光板を
正確な位置に容易にｌ１ｉｔ７することができ、さらに
実際に出力信号を見ながらの微調整を容易に行うことが
できる光磁気情報検出装置を提Ｃ１することにある。
本発明の光磁気情報検出装置は半導体レーザ、透過型光
磁気ディスク、前記半導体レーｑからの出口１光を前記
透過型光磁気ディスクの情報記録面に集光するための光
学系、前記ディスクを透過した前記レーザ光より光磁気
情報を検出するためのセンサ、前記セ／すの前面に検光
子として設置される偏光板、前記偏光板を保持するため
の偏光板枠、前記偏光板枠を保持する偏光板枠ホルダを
備えた光磁気ディスク装置において、前記偏光板枠ホル
ダが光軸中心の円形をなす前記偏光板枠保持部を有し、
かつ前記偏光板枠が前記偏光板を光軸中心に位置決めす
る保持部を持ち、前記偏光板枠ホルダの円形保持部と２
点以上で接し、光軸と、垂直な平面内で光軸中心に微小
回転可能であり、回転方向以外はその平面内で動くこと
がないよう前記偏光板枠ホルダによって制限される形状
を持つことを特徴とする。
磁気ディスク、前記半導体レーｑからの出口１光を前記
透過型光磁気ディスクの情報記録面に集光するための光
学系、前記ディスクを透過した前記レーザ光より光磁気
情報を検出するためのセンサ、前記セ／すの前面に検光
子として設置される偏光板、前記偏光板を保持するため
の偏光板枠、前記偏光板枠を保持する偏光板枠ホルダを
備えた光磁気ディスク装置において、前記偏光板枠ホル
ダが光軸中心の円形をなす前記偏光板枠保持部を有し、
かつ前記偏光板枠が前記偏光板を光軸中心に位置決めす
る保持部を持ち、前記偏光板枠ホルダの円形保持部と２
点以上で接し、光軸と、垂直な平面内で光軸中心に微小
回転可能であり、回転方向以外はその平面内で動くこと
がないよう前記偏光板枠ホルダによって制限される形状
を持つことを特徴とする。
以下に、本発明の実施例について図面に基づいて詳細に
説明する。
説明する。
第１図（ａ）は本発明の一実施例における概略の上面図
、（ｂ）は下面図である。１は検光子である偏光板、２
は偏光板を保持するための偏光板枠、３は偏光板枠を保
持するための偏光板枠ホルダである。１の偏光板は、２
の偏光板枠の偏光板保持部に落とし込むことによって光
軸中心に位置決めされるよう、それぞれの形状が加工さ
れている。３の偏光板枠ホルダは円形の偏光板枠保持部
を［！トち、偏光板枠は、この保持部と接しながら光軸
と垂直な平面内で光軸中心に微小回転可能であり、かつ
回転方向以外には動くことがない形状をイｆしている。
、（ｂ）は下面図である。１は検光子である偏光板、２
は偏光板を保持するための偏光板枠、３は偏光板枠を保
持するための偏光板枠ホルダである。１の偏光板は、２
の偏光板枠の偏光板保持部に落とし込むことによって光
軸中心に位置決めされるよう、それぞれの形状が加工さ
れている。３の偏光板枠ホルダは円形の偏光板枠保持部
を［！トち、偏光板枠は、この保持部と接しながら光軸
と垂直な平面内で光軸中心に微小回転可能であり、かつ
回転方向以外には動くことがない形状をイｆしている。
第１図（Ｃ）は本発明の一実施例における偏光板枠の概
略図である。偏光板枠は、前述した条件に満足するので
あれば必ずしも図のような形状である必要はない。
略図である。偏光板枠は、前述した条件に満足するので
あれば必ずしも図のような形状である必要はない。
第１図（ｄ）は、本発明の一実施例における全体概略図
である。４は半導体レーザ、５は半導体レーザの出射光
を６の透過型光磁気ディスクの情報記録面に集光するた
めの光学系である。情報記録面に集光され、光磁気ディ
スクを透過してきたレーザ光は、ｌの偏光板を経て７の
センナに４かれる。８はコイルである。
である。４は半導体レーザ、５は半導体レーザの出射光
を６の透過型光磁気ディスクの情報記録面に集光するた
めの光学系である。情報記録面に集光され、光磁気ディ
スクを透過してきたレーザ光は、ｌの偏光板を経て７の
センナに４かれる。８はコイルである。
第２図（ａ）、（ｂ）、（ｃ）は本発明の実施例におい
て、光磁気情報を検出するためのセ／すに４分割１）Ｉ
Ｎフォトダイオードを用いた場合を示す概略図である。
て、光磁気情報を検出するためのセ／すに４分割１）Ｉ
Ｎフォトダイオードを用いた場合を示す概略図である。
ＩＴ２図（８Ｌ）は４分割ＰＩＮフォトダイオード、（
ｂ）は偏光板を偏光板枠に設置した軟融を示す概略図、
（Ｃ）は偏光板を設置した偏光板枠を４分子！！ＩＰＩ
Ｎフォトダイオードに接着した状儂を示す概略図である
６図中斜線は偏光板の透過軸の方向を示す。
ｂ）は偏光板を偏光板枠に設置した軟融を示す概略図、
（Ｃ）は偏光板を設置した偏光板枠を４分子！！ＩＰＩ
Ｎフォトダイオードに接着した状儂を示す概略図である
６図中斜線は偏光板の透過軸の方向を示す。
以上説明したきたように本発明によれば、まず第１に偏
光板の正確な接着がきわめて容易に行なえる。すなわち
、偏光板枠の偏光板保持部が偏光板を光軸中心に位置決
めするようにそれぞれの形状が加工されているため、偏
光板は保持部に落とし込むだけでいい。
光板の正確な接着がきわめて容易に行なえる。すなわち
、偏光板枠の偏光板保持部が偏光板を光軸中心に位置決
めするようにそれぞれの形状が加工されているため、偏
光板は保持部に落とし込むだけでいい。
第２に、２分割、あるいは４分割のセンサを用い、それ
に伴って複数枚（２枚または４枚）の偏光板を接着する
際には、センナの上に偏光板枠を萩せ、顕微鏡によりセ
／すの分割線を透かし児ながら偏光板のｔｊ？Ｈを行な
うことができるため、偏光板が複数枚であってもセンナ
と偏光板の相対位置を正確に設定できる。
に伴って複数枚（２枚または４枚）の偏光板を接着する
際には、センナの上に偏光板枠を萩せ、顕微鏡によりセ
／すの分割線を透かし児ながら偏光板のｔｊ？Ｈを行な
うことができるため、偏光板が複数枚であってもセンナ
と偏光板の相対位置を正確に設定できる。
第３に、偏光板を接行した偏光板枠センナの分割線（受
光部の境界線）と偏光板の境界線が一致していることを
顕微鏡で確認しながら、その位置で一瞭ンザに接４１す
ることにより、偏光板とセンナは光軸中心に正確に固定
することができる。
光部の境界線）と偏光板の境界線が一致していることを
顕微鏡で確認しながら、その位置で一瞭ンザに接４１す
ることにより、偏光板とセンナは光軸中心に正確に固定
することができる。
第４は、偏光板枠ホルダの偏光板砕保ｔ１部を光軸中心
の円型とし、偏光板枠がこの円型保持部と２点以上で接
し、光軸に垂直な平面内で光軸中心の微小回転可能な形
状を持っているため、実際にセンナの出力信号は見なが
らファラデー回転角θの変化が最も良く検出できるよう
に角度に、容易に微小回転調整することができる。
の円型とし、偏光板枠がこの円型保持部と２点以上で接
し、光軸に垂直な平面内で光軸中心の微小回転可能な形
状を持っているため、実際にセンナの出力信号は見なが
らファラデー回転角θの変化が最も良く検出できるよう
に角度に、容易に微小回転調整することができる。
第５に、微小回転調整をする際この平面内で回転方向以
外には動くことがないよう、偏光板枠ホルダが偏光板枠
を保持しているため、どのような角度に微小回転調整す
る時にも、光軸と偏光板、センナの中心がずれることは
ない。
外には動くことがないよう、偏光板枠ホルダが偏光板枠
を保持しているため、どのような角度に微小回転調整す
る時にも、光軸と偏光板、センナの中心がずれることは
ない。
第１図（ａ）は本発明の一実施例における概略下面図、
同図（ｂ）は概略下面図、同図（ｃ）は偏光板枠の概略
図、（ｄ）は装置の全体概略図。 第２図（ａ）は４分割ＰＩＮフォトダイオードを示す概
略図、同図（ｂ）は偏光板枠に４枚の偏光板を設置した
軟菌を示す概略図、同図（Ｃ）は本発明の一実施例にお
いて４分割１’ Ｉ Ｎ ｙオドタイオードを用いた際
の構成を示す概略図。 １．１１〜１４・・・偏光板 ２・・・偏光板枠 ３・・・偏光板枠ホルダ ４・・・半導体レーザ ６・・・透過型光磁気ディスク ７・・・セ／す ７１・・・４分割ＰＩＮフォトダイオード以 上 出願人 セイコーエプソン株式会社 第１図（ｂ） 第２図（ｂ）
同図（ｂ）は概略下面図、同図（ｃ）は偏光板枠の概略
図、（ｄ）は装置の全体概略図。 第２図（ａ）は４分割ＰＩＮフォトダイオードを示す概
略図、同図（ｂ）は偏光板枠に４枚の偏光板を設置した
軟菌を示す概略図、同図（Ｃ）は本発明の一実施例にお
いて４分割１’ Ｉ Ｎ ｙオドタイオードを用いた際
の構成を示す概略図。 １．１１〜１４・・・偏光板 ２・・・偏光板枠 ３・・・偏光板枠ホルダ ４・・・半導体レーザ ６・・・透過型光磁気ディスク ７・・・セ／す ７１・・・４分割ＰＩＮフォトダイオード以 上 出願人 セイコーエプソン株式会社 第１図（ｂ） 第２図（ｂ）
Claims (1)
- （１）半導体レーザ、透過型光磁気ディスク、前記半導
体レーザからの出射光を前記透過型光磁気ディスクの情
報記録面に集光するための光学系、前記ディスクを透過
した前記レーザ光より光磁気情報を検出するためのセン
サ、前記センサの前面に検光子として設置される偏光板
、前記偏光板を保持すめための偏光板枠、前記偏光板枠
を保持する偏光板枠ホルダを備えた光磁気ディスク装置
において、前記偏光板枠ホルダが光軸中心の円形をなす
前記偏光板保持部を有し、かつ前記偏光板枠が前記偏光
板を光軸中心に位置決めする保持部を持ち、前記偏光板
枠ホルダの円形保持部と２点以上で接し、光軸と垂直な
平面内で光軸中心に微小回転可能であり、回転方向以外
にはその平面内で動くことがないよう前記偏光板枠ホル
ダによって制限される形状を持つことを特徴とする光磁
気情報検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10841887A JPS63275057A (ja) | 1987-05-01 | 1987-05-01 | 光磁気情報検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10841887A JPS63275057A (ja) | 1987-05-01 | 1987-05-01 | 光磁気情報検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63275057A true JPS63275057A (ja) | 1988-11-11 |
Family
ID=14484260
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10841887A Pending JPS63275057A (ja) | 1987-05-01 | 1987-05-01 | 光磁気情報検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63275057A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0706179A2 (en) | 1994-09-27 | 1996-04-10 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Production process of optical information recording medium and production apparatus therefor |
-
1987
- 1987-05-01 JP JP10841887A patent/JPS63275057A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0706179A2 (en) | 1994-09-27 | 1996-04-10 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Production process of optical information recording medium and production apparatus therefor |
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